CN206060771U - 一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪 - Google Patents
一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪 Download PDFInfo
- Publication number
- CN206060771U CN206060771U CN201621032736.8U CN201621032736U CN206060771U CN 206060771 U CN206060771 U CN 206060771U CN 201621032736 U CN201621032736 U CN 201621032736U CN 206060771 U CN206060771 U CN 206060771U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- radio frequency
- frequency testing
- coaxial line
- earthing rod
- head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本实用新型实施例提供了本实用新型实施例提供的一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪，所述射频测试头结构包括同轴线，同轴线包括内芯线和屏蔽导电层，其中，所述同轴线一侧还设置有接地柱，接地柱与所述屏蔽导电层电连接，所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，接地柱的顶端与所述内芯线的顶端径向处于同一水平位置。所述射频测试头，通过同轴线与接地柱紧密连接，大大缩小了同轴线的内芯线与地端的距离，使射频测试头能适用于元器件密集的线路板；同时使用时需将所述射频测试头与线路板垂直接触，即固定了使用该射频测试头时测试头与线路板的角度，提高了测试精度，无需对同轴线进行焊接，使用方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及通讯领域，特别涉及一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪。
背景技术
传统测量板载射频信号的方法是在板上焊接同轴线，同轴线包括同轴线包括内芯线和屏蔽导电层，测试时，所述内芯线与需测试的测试点焊接在一起，所述屏蔽导电层需与电路板上的地端连接，由于同轴线的尺寸较大，芯线连接处与同轴地连接处的间隔通常在3mm以上，而且每次焊接很难保证同轴线与PCB的倾角一致，使射频信号的测量精度大打折扣，传统的测试方法精度有限无法满足高频段射频信号的测量。再加上现在的电路板尺寸越来越小，元器件的封装也越来越小、越来越密，板上需要测试的射频信号也越来越多，同轴线的焊接点占用面积大，焊接也越来越困难，因此对板上的信号进行测试也越来越难。有一些重要的射频测试点采用专用射频测试座，但射频测试座面积较大而且测试点固定，不能根据需要任意选择测试点进行测试。
实用新型内容
本实用新型实施例提供了一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪，能适用于元器件小、布局密集的线路板，测试精度高，使用方便。
本实用新型实施例提供的一种射频测试头结构，包括同轴线，同轴线包括内芯线和屏蔽导电层，其中，所述同轴线一侧还设置有接地柱，所述接地柱与所述屏蔽导电层电连接，所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，所述接地柱的顶端与所述内芯线的顶端径向处于同一平面上。
所述射频测试头，通过在同轴线一侧设置接地柱，所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，所述接地柱的顶端与所述内芯线的顶端径向处于同一平面上；同轴线与接地柱紧密连接，大大缩小了同轴线的内芯线与地端的距离，使射频测试头能适用于元器件密集的线路板；同时使用时需将所述射频测试头与线路板垂直接触，即固定了使用该射频测试头时测试头与线路板的角度，提高了测试精度，无需对同轴线进行焊接，使用方便。
一种射频测试仪，包括测试头，其特征在于，所述测试头为上述所述测试头结构。
通过对射频测试头的结构进行改良，提高了射频测试仪的测试准确性，适合大批量生产使用。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例的附图，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例一提供的射频测试头在常态下的结构示意图；
图2是本实用新型实施例一提供的射频测试头在压缩状态的结构示意图。
具体实施方式：
为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例一：
图1是本实用新型实施例提供的射频测试头在常态下的结构示意图；图2是本实用新型实施例提供的射频测试头在压缩状态的结构示意图。
如图1和图2所示，本实施例一提供的一种射频测试头结构，包括同轴线1，同轴线1包括内芯线11和屏蔽导电层12，其中，所述同轴线1一侧还设置有接地柱2，接地柱2与所述屏蔽导电层12电连接，射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，接地柱2的顶端与所述内芯线11的顶端径向处于同一水平面上。
所述射频测试头，通过在同轴线1一侧设置接地柱2，所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，所述接地柱2的顶端与所述内芯线11的顶端径向处于同一平面上；同轴线1与接地柱2紧密连接，大大缩小了同轴线1的内芯线11与地端的距离，使射频测试头能适用于元器件密集的线路板；同时使用时需将所述射频测试头与线路板垂直接触，即固定了使用该射频测试头时测试头与线路板的角度，提高了测试精度，无需对同轴线1进行焊接，使用方便。
上述所述接地柱2设有弹性活动部21，所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，所述弹性活动部21处于压缩状态，弹性活动部21的顶端与所述内芯线11的顶端径向处于同一水平位置。弹性活动部21的弹力保证了所述射频测试头的内芯线12、弹性活动部21同时与测试点之间接触良好。
上述所述弹性活动部21为弹簧。
上述所述接地柱2为弹簧针，所述弹性活动部21为弹簧针的针头。弹簧针的外壳与所述同轴线的屏蔽导电层12相连，这样弹簧针与同轴线的距离约0.4mm，使本实施例所述的射频测试头可以测量0201(0.6mm×0.3mm)封装的贴片电阻，若对弹簧针的针头稍作处理还可以测量更小封装的元件。
实施例二：
一种射频测试仪，包括测试头，其中，所述测试头为实施例一所述测试头结构。通过对射频测试头结构进行改良，提高了射频测试仪的测试准确性，适合大批量生产使用。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实实用新型的限制。
以上所揭露的仅为本实用新型一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本实用新型权利要求所作的等同变化，仍属于实用新型所涵盖的范围。
Claims (5)
1.一种射频测试头结构，包括同轴线，同轴线包括内芯线和屏蔽导电层，其特征在于，所述同轴线一侧还设置有接地柱，所述接地柱与所述屏蔽导电层电连接，所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，所述接地柱的顶端与所述内芯线的顶端径向处于同一平面上。
2.根据权利要求1所述的结构，其特征在于，所述接地柱设有弹性活动部，所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时，所述弹性活动部处于压缩状态，弹性活动部的顶端与所述内芯线的顶端径向处于同一平面上。
3.根据权利要求2所述的结构，其特征在于，所述弹性活动部为弹簧。
4.根据权利要求2所述的结构，其特征在于，所述接地柱为弹簧针，所述弹性活动部为弹簧针的针头。
5.一种射频测试仪，包括测试头，其特征在于，所述测试头为权利要求1到4任意一项所述测试头结构。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621032736.8U CN206060771U (zh) | 2016-08-31 | 2016-08-31 | 一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621032736.8U CN206060771U (zh) | 2016-08-31 | 2016-08-31 | 一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN206060771U true CN206060771U (zh) | 2017-03-29 |
Family
ID=58375012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201621032736.8U Active CN206060771U (zh) | 2016-08-31 | 2016-08-31 | 一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN206060771U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109088676A (zh) * | 2018-07-02 | 2018-12-25 | 四川斐讯信息技术有限公司 | 一种射频测试头及射频测试仪 |
| WO2019179499A1 (zh) * | 2018-03-22 | 2019-09-26 | 中兴通讯股份有限公司 | 射频测试探头、射频测试系统及方法 |
-
2016
- 2016-08-31 CN CN201621032736.8U patent/CN206060771U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019179499A1 (zh) * | 2018-03-22 | 2019-09-26 | 中兴通讯股份有限公司 | 射频测试探头、射频测试系统及方法 |
| CN109088676A (zh) * | 2018-07-02 | 2018-12-25 | 四川斐讯信息技术有限公司 | 一种射频测试头及射频测试仪 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW201435348A (zh) | 探針卡、探針結構及其製造方法 | |
| CN206060771U (zh) | 一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪 | |
| CN205941717U (zh) | 一种射频测试电路 | |
| CN108120853A (zh) | 芯片测试夹具 | |
| US9470716B2 (en) | Probe module | |
| CN201707425U (zh) | 用于集成电路测试的探测装置 | |
| CN201654080U (zh) | 改良的检测探针结构 | |
| JP3878578B2 (ja) | コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置 | |
| TW201522980A (zh) | 探針模組（二） | |
| CN104764909A (zh) | 可用于极低温测量的便捷芯片测试座 | |
| CN106534435A (zh) | 用于移动终端的pcb、移动终端及测试系统 | |
| CN205643569U (zh) | 一种测试手机卡信号的装置 | |
| CN106405362B (zh) | 一种雪崩二极管低频参数测试装置 | |
| CN205015374U (zh) | 同轴探针 | |
| CN212514903U (zh) | 一种芯片测试装置 | |
| CN214427506U (zh) | 一种pcb级电流传感器 | |
| CN203365488U (zh) | 探针式连接器检测装置 | |
| US9261534B2 (en) | Shield pin arrangement | |
| CN201508399U (zh) | 用于测试线路板专用测试机的测试治具 | |
| CN217360012U (zh) | 一种高密度晶圆测试的探针卡 | |
| CN109088676A (zh) | 一种射频测试头及射频测试仪 | |
| CN201037848Y (zh) | 一种绝缘测试探针 | |
| CN205643421U (zh) | 一种测试端子的辅助装置 | |
| CN109270362A (zh) | 一种稳定且相关性好的rf测试装置 | |
| CN217180969U (zh) | 一种微同轴射频探针卡 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |