CN109270362A - 一种稳定且相关性好的rf测试装置 - Google Patents

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赵凡凡
余奎
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Shenzhen Sunway Communication Co Ltd
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Shenzhen Sunway Communication Co Ltd
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    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
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Abstract

本发明公开了一种稳定且相关性好的RF测试装置，所述金属底座上方一侧通过螺栓固定有气缸，所述气缸的活塞杆通过螺栓固定在下模上，所述金属上盖设置在下模上方，所述金属上盖两侧通过螺栓固定有十二组不对称分布的射频转接头，其中四组所述射频转接头之间的一端设有装馈地探针的金属块，所述金属块的一侧设有A射频转接头，所述A射频转接头通过螺栓固定在金属上盖上，所述射频转接头还包括B射频转接头，所述B射频转接头的下方设有耦合探针，所述金属块的下方设有馈地探针，所述A射频转接头的下方设有馈电探针，本发明不需要PCB板，治具为铁制的框架，金属上盖和下金属底座的作用是屏蔽外界电磁波对被测产品的干扰。

Description

一种稳定且相关性好的RF测试装置
技术领域
本发明属于射频技术领域，具体涉及一种稳定且相关性好的RF测试装置。
背景技术
在生产过程中，传统的手机天线RF测试有2种测试方式：第一种是直接馈电，采用PCB板，将信号通过网络分析仪的射频连接线连接到PCB板的测试头上，使用测试探针一端接触到PCB板的焊盘位置，一端接触到天线的馈电位置进行测试；第二种是耦合馈电，采用铁治具，不使用PCB板，网络分析仪的射频连接线没有连接到天线的馈电位置，通过耦合可以测试天线的性能。
这两种测试方式都有缺点。第一种是测试治具不稳定，测试结果容易受到人体，测试手法的影响。第二种测试治具与原始治具相关性不好，一些天线枝节变化检测不出来，这种测试有可能会导致不良流出，有很大风险。
因此，需要设计一种稳定性好，与原始治具相关性好的测试方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种稳定且相关性好的RF测试装置，简单可实现的测试装置，减少了人体对产品RF性能的影响，既保证测试的稳定性，又能提高与原始治具的相关性，使测试更准确，并且不需要PCB板，降低了成本。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种稳定且相关性好的RF测试装置，包括金属上盖、下模和金属底座，所述金属底座上方一侧通过螺栓固定有气缸，所述气缸的活塞杆通过螺栓固定在下模上，所述金属上盖设置在下模上方，所述金属上盖两侧通过螺栓固定有十二组不对称分布的射频转接头，其中四组所述射频转接头之间的一端设有装馈地探针的金属块，所述金属块通过螺栓固定在金属上盖上，所述金属块的一侧设有A射频转接头，所述A射频转接头通过螺栓固定在金属上盖上，所述射频转接头还包括B射频转接头，所述B射频转接头的下方设有耦合探针，所述金属块的下方设有馈地探针，所述A射频转接头的下方设有馈电探针。
优选的，所述耦合探针通过螺栓固定在金属上盖的底部，所述馈地探针通过螺栓固定在金属上盖的底部，所述馈电探针通过螺栓固定在金属上盖的底部，所述馈电探针的内侧设有压块。
优选的，所述馈电探针下方设有产品的馈电位置，所述馈地探针的下方设有产品的馈地位置。
优选的，所述金属上盖的四个拐角处分别对称设有螺丝孔，所述金属上盖的中间设有螺丝孔。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本发明不需要PCB板，治具为铁制的框架。
2、金属上盖和金属底座的作用是屏蔽外界电磁波对被测产品的干扰。
3、B射频转接头的位置有十二个位置可选，通过位置选择找到最佳测试位置。
此测试装置具有测试稳定的优点，与原始治具相关性好，提高了RF测试的准确性减少了PCB的使用，节约生产成本，提高了产能。
附图说明
图1为本发明的整体图；
图2为本发明的金属上盖正面图；
图3为本发明的RF测试局部结构图；
图4为本发明的RF测试局部结构图。
图中：1、金属上盖；2、下模；3、金属底座；4、射频转接头；401、A射频转接头；402、B射频转接头；5、金属块；6、螺丝孔；7、馈电探针；8、馈地探针；9、耦合探针；10、压块；11、馈电位置；12、馈地位置；13、气缸。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，本发明提供一种技术方案：一种稳定且相关性好的RF测试装置，包括金属上盖1、下模2和金属底座3，所述金属底座3上方一侧通过螺栓固定有气缸13，所述气缸13的活塞杆通过螺栓固定在下模2上，所述金属上盖1设置在下模2上方，所述金属上盖1两侧通过螺栓固定有十二组不对称分布的射频转接头4，其中四组所述射频转接头4之间的一端设有装馈地探针的金属块5，所述金属上盖1和下模2之间放置有被测产品，所述金属块5通过螺栓固定在金属上盖1上，所述金属块5的一侧设有A射频转接头401，所述A射频转接头401通过螺栓固定在金属上盖1上，所述射频转接头4还包括B射频转接头402，所述B射频转接头402的下方设有耦合探针9，所述金属块5的下方设有馈地探针8，所述A射频转接头401的下方设有馈电探针7。
具体的，所述耦合探针9通过螺栓固定在金属上盖1的底部，所述馈地探针8通过螺栓固定在金属上盖1的底部，所述馈电探针7通过螺栓固定在金属上盖1的底部，所述馈电探针7的内侧设有压块10。
具体的，所述馈电探针7下方设有产品的馈电位置11，所述馈地探针8的下方设有产品的馈地位置12。
具体的，所述金属上盖1的四个拐角处分别对称设有螺丝孔6，所述金属上盖1的中间设有螺丝孔6。
工作原理：A射频转接头401一端连接网络分析仪1端口，B射频转接头402一端连接网络分析仪2端口，被测产品放在下模2上，通过汽缸13下模2向上移动，测试时金属底座3与金属上盖1形成一个封闭的空间，通过测试S21的参数，1端口到2端口的传输的参数，网络分析仪上显示测试结果。
这种测量方式可以测试产品的RF性能，并且能实现不敏感位置的尺寸检测，和原始治具有很大的相关性，具有很大实用价值。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种稳定且相关性好的RF测试装置，包括金属上盖(1)、下模(2)和金属底座(3)，其特征在于：所述金属底座(3)上方一侧通过螺栓固定有气缸(13)，所述气缸(13)的活塞杆通过螺栓固定在下模(2)上，所述金属上盖(1)设置在下模(2)上方，所述金属上盖(1)两侧通过螺栓固定有十二组不对称分布的射频转接头(4)，其中四组所述射频转接头(4)之间的一端设有装馈地探针的金属块(5)，所述金属块(5)通过螺栓固定在金属上盖(1)上，所述金属块(5)的一侧设有A射频转接头(401)，所述A射频转接头(401)通过螺栓固定在金属上盖(1)上，所述射频转接头(4)还包括B射频转接头(402)，所述B射频转接头(402)的下方设有耦合探针(9)，所述金属块(5)的下方设有馈地探针(8)，所述A射频转接头(401)的下方设有馈电探针(7)。
2.根据权利要求1所述的一种稳定且相关性好的RF测试装置，其特征在于：所述耦合探针(9)通过螺栓固定在金属上盖(1)的底部，所述馈地探针(8)通过螺栓固定在金属上盖(1)的底部，所述馈电探针(7)通过螺栓固定在金属上盖(1)的底部，所述馈电探针(7)的内侧设有压块(10)。
3.根据权利要求1所述的一种稳定且相关性好的RF测试装置，其特征在于：所述馈电探针(7)下方设有产品的馈电位置(11)，所述馈地探针(8)的下方设有产品的馈地位置(12)。
4.根据权利要求1所述的一种稳定且相关性好的RF测试装置，其特征在于：所述金属上盖(1)的四个拐角处分别对称设有螺丝孔(6)，所述金属上盖(1)的中间设有螺丝孔(6)。
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