CN205374533U - 一种微波毫米波直流偏置探针 - Google Patents

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CN205374533U CN201620064574.XU CN201620064574U CN205374533U CN 205374533 U CN205374533 U CN 205374533U CN 201620064574 U CN201620064574 U CN 201620064574U CN 205374533 U CN205374533 U CN 205374533U
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魏碧华
蔡道民
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Abstract

本实用新型公开了一种微波毫米波直流偏置探针,属于微波毫米波放大器电路在片测试技术领域。包括探针、探针座和电容;所述探针设置有2个,分别固定于环氧树脂基板上,环氧树脂基板固定安装于探针座上;探针前端固定有探针前端电容,探针中间部位固定有探针中部电容,探针尾部固定有探针尾部电容,探针前端电容、探针中部电容和探针尾部电容容值大小不同。本实用新型提供一种微波毫米波直流偏置探针,体积小、简单灵活、通用性好、去耦良好、节省成本、有效消除测试自激和震荡等潜在问题。

Description

一种微波毫米波直流偏置探针
技术领域
本实用新型涉及微波毫米波放大器电路在片测试技术领域。
背景技术
随着通信和雷达等技术的不断发展,极大的牵引着微波毫米波技术的发展,尤其是固态微波功率放大器和低噪声放大器等有源器件的发展,进而带动了相关产业链的发展,比如微波组装、微波在片测试等领域。
微波毫米波在片测试是微波放大器和低噪声放大器等有源器件研制和生产的关键技术之一,更是制约生产的主要瓶颈所在。通常,微波毫米波芯片在应用之前必须进行测试、筛选,以确保提供给系统的电路是完好的,尤其是对功率合成系统和收发多功能通道来说,数十只甚至上百只功率芯片在同一通道,如果有缺陷,排查将是一个繁重、费时的过程,因此在片测试必须快速、准确和有效,真实表征电路的功能作用。
在片测试是对晶圆级微波毫米波电路进行微波性能自动筛选测试。目前,通用步骤如下:首先把晶圆片放置在探针台中间,通过真空吸附固定;然后通过微波探针供给微波信号,通过直流探针实现偏置上电;最后利用相关微波仪器测试其相关性能。在这系列条件中,直流加电的偏置探针起到非常关键的作用,如果配置不恰当,去耦不良,将导致严重后果,比如自激和振荡,严重的会烧毁芯片以及探针等。
目前,常用的直流偏置探针采用屏蔽线供电,其芯为加电线,连接至探针头,而外层包裹线直接连接探针座,进而接地。由于接地线距离芯片真正的地比较远,加之工作频率较高,即使一段较短的电线,其寄生的感性量将可能导致其在低频或高频某处振荡和自激,进而影响测试准确性,更严重的是无法正常测试,烧毁芯片和损害探针。为了解决此类问题,常常采用制作排针(探针卡),如CASCADE和GGB公司,即在排针之间,连接去耦电容,目的是缩短与芯片真正的地之间的距离,较少寄生参量,同时辅之合理的去耦电容,避免单探针测试所带来上述潜在的问题,但是由于排针本身面积较大,加之芯片面积大小、放大器级数以及版图布局等不同,导致探针卡使用没有通用性,给测试带来诸多不便。
针对上述问题,需要一种不仅使用简单、灵活,通用,而且去耦良好,有效避免自激的微波毫米波用直流偏置探针。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足,提供一种微波毫米波直流偏置探针,体积小、简单灵活、通用性好、去耦良好、节省成本、有效消除测试自激和震荡等潜在问题。
为解决上述技术问题,本实用新型所采取的技术方案是:一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于包括探针、探针座和电容;所述探针设置有2个,分别固定于环氧树脂基板上,环氧树脂基板固定安装于探针座上;探针前端固定有探针前端电容,探针中间部位固定有探针中部电容,探针尾部固定有探针尾部电容,探针前端电容、探针中部电容和探针尾部电容容值大小不同。
作为优选,所述2个探针呈并列排列。
作为优选,所述探针固定在环氧树脂基板上的方式为焊接,环氧树脂基板上的2条金属微带线分别焊接于2条探针尾部,一根用于直流上电,另一根用于接地。
作为优选,所述2个探针间距可调节,以满足通用微波毫米波PAD间距要求。
作为优选,所述探针前端电容、探针中部电容和探针尾部电容的容值按照从小到大排列。
作为优选,所述探针前端电容、探针中部电容和探针尾部电容的容值可根据不同测试电路进行微调。
作为优选,所述探针前端电容、探针中部电容和探针尾部电容固定在探针上的方式为焊接。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本实用新型提供一种微波毫米波直流偏置探针,体积小、简单灵活、通用性好、去耦良好、节省成本、有效消除测试自激和震荡等潜在问题。
首先,能有效消除自激和振荡,通过采用双直流探针并列排列,双探针尾部焊接于微型或小型的环氧版上的两条金属微带线上,一探针用于接地,另一探针用于直流加电;在其针前端和中间部位焊接不同容值的电容,在其尾部焊接大容值去耦电容,缩减了到芯片真正地之间的距离,进而降低寄生参量影响,消除自激和振荡。
其次,通用性好,两探针之间的距离可以根据实际需要,进行不同程度的微调,匹配满足通用芯片焊盘间距,涵盖大多数微波毫米波电路测试。
再次,体积小,使用灵活,由于只采用两探针并列,相比于探针卡,不仅体积小,而且移动和使用方便;
最后,节省成本,本探针仅比单探针多用了一根探针和几只去耦电容,相比于排针和探针卡制作,费用大大降低。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图中:1、探针;2、环氧树脂基板;3、探针座;4、探针前端电容;5、探针中部电容;6、探针尾部电容。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
实施例1
一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于包括探针1、探针座3和电容;所述探针1设置有2个,分别固定于环氧树脂基板2上,环氧树脂基板2固定安装于探针座3上;探针1前端固定有探针前端电容4,探针1中间部位固定有探针中部电容5,探针1尾部固定有探针尾部电容6,探针前端电容4、探针中部电容5和探针尾部电容6容值大小不同。
进一步的技术方案,所述2个探针1呈并列排列。
进一步的技术方案,所述探针1固定在环氧树脂基板2上的方式为焊接,环氧树脂基板2上的2条金属微带线分别焊接于2条探针1尾部,一根用于直流上电,另一根用于接地。
进一步的技术方案,所述2个探针1间距可调节,以满足通用微波毫米波PAD间距要求。
进一步的技术方案,所述探针前端电容4、探针中部电容5和探针尾部电容6的容值按照从小到大排列。
进一步的技术方案,所述探针前端电容4、探针中部电容5和探针尾部电容6的容值可根据不同测试电路进行微调。
进一步的技术方案,所述探针前端电容4、探针中部电容5和探针尾部电容6固定在探针1上的方式为焊接。
本实用新型提供一种微波毫米波直流偏置探针,体积小、简单灵活、通用性好、去耦良好、节省成本、有效消除测试自激和震荡等潜在问题。
首先,能有效消除自激和振荡,通过采用双直流探针并列排列,双探针尾部焊接于微型或小型的环氧版上的两条金属微带线上,一探针用于接地,另一探针用于直流加电;在其针前端和中间部位焊接不同容值的电容,在其尾部焊接大容值去耦电容,缩减了到芯片真正地之间的距离,进而降低寄生参量影响,消除自激和振荡。
其次,通用性好,两探针之间的距离可以根据实际需要,进行不同程度的微调,匹配满足通用芯片焊盘间距,涵盖大多数微波毫米波电路测试。
再次,体积小,使用灵活,由于只采用两探针并列,相比于探针卡,不仅体积小,而且移动和使用方便;
最后,节省成本,本探针仅比单探针多用了一根探针和几只去耦电容,相比于排针和探针卡制作,费用大大降低。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型,对本实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本领域技术人员根据本实用新型的原理设计出其他结构的产品,均属于本实用新型的保护范围,本实用新型将不会被限制于本文所示的实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于包括探针(1)、探针座(3)和电容;所述探针(1)设置有2个,分别固定于环氧树脂基板(2)上,环氧树脂基板(2)固定安装于探针座(3)上;探针(1)前端固定有探针前端电容(4),探针(1)中间部位固定有探针中部电容(5),探针(1)尾部固定有探针尾部电容(6),探针前端电容(4)、探针中部电容(5)和探针尾部电容(6)容值大小不同。
2.根据权利要求1所述的一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于所述2个探针(1)呈并列排列。
3.根据权利要求1所述的一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于所述探针(1)固定在环氧树脂基板(2)上的方式为焊接,环氧树脂基板(2)上的2条金属微带线分别焊接于2条探针(1)尾部,一根用于直流上电,另一根用于接地。
4.根据权利要求1所述的一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于所述2个探针(1)间距可调节,以满足通用微波毫米波PAD间距要求。
5.根据权利要求1所述的一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于所述探针前端电容(4)、探针中部电容(5)和探针尾部电容(6)的容值按照从小到大排列。
6.根据权利要求1所述的一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于所述探针前端电容(4)、探针中部电容(5)和探针尾部电容(6)的容值可根据不同测试电路进行微调。
7.根据权利要求1所述的一种微波毫米波直流偏置探针,其特征在于所述探针前端电容(4)、探针中部电容(5)和探针尾部电容(6)固定在探针(1)上的方式为焊接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107305217A (zh) * 2016-04-22 2017-10-31 新特系统股份有限公司 探针卡
CN108766900A (zh) * 2018-04-12 2018-11-06 中国电子科技集团公司第五十五研究所 一种在片测试直流探针卡

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