CN204789633U - 一种ltcc滤波器测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种LTCC滤波器测试夹具，包括测试板为一长方形电路板，测试板上下两表面均镀有金属层，测试板电性连接至待测LTCC滤波器并用于测试待测LTCC滤波器的器件性能；直通校准板为一长方形电路板，直通校准板与测试板平行且前后相邻放置，直通校准板上下两表面均镀有与测试板上金属层等厚度的金属层，直通校准板用于校准测试板的测量值并减小测试板的测量误差；四个同轴转微带高频转接器分别焊接于测试板与直通校准板的左右两端，四个同轴转微带高频转接器的一端连接至同轴电缆，另一端连接至测试板与直通校准板表面的金属镀层，四个同轴转微带高频转接器用于将同轴模式信号转化为微带线模式信号。

Description

一种LTCC滤波器测试夹具

技术领域

本实用新型涉及电子器件测试领域，特别地，涉及一种LTCC滤波器测试夹具。

背景技术

近年来，随着电子系统高度集成化和元器件小型化的不断发展，LTCC滤波器以其体积小、性能优异、温度稳定性好等优点在电子系统中得到了广泛的应用。LTCC滤波器属于陶瓷介质滤波器，采用低温共烧陶瓷工艺加工而成，LTCC滤波器包含三个电极，两个端电极为滤波器的输入/输出端，一个中间电极为器件的接地端。LTCC滤波器尺寸普遍在毫米级别，输入/输出端电极、地电极的宽度最小不足1毫米，但其使用频段覆盖DC-9GHz，使得对LTCC滤波器测试的难度较大。当前对LTCC滤波器测试主要通过电路板焊接的方式实现，但焊接会对器件造成不必要的伤害，不符合元器件可靠性筛选与测试的要求。

针对目前LTCC滤波器测试方式对器件造成不必要的伤害，不符合元器件可靠性筛选与测试的要求的问题，目前尚未有有效的解决方案。

实用新型内容

针对现有技术中LTCC滤波器测试方式对器件造成不必要的伤害，不符合元器件可靠性筛选与测试的要求的问题，本实用新型的目的在于提出一种LTCC滤波器测试夹具，能够在不伤害器件的情况下对LTCC滤波器较精确的测试，满足元器件可靠性筛选与测试的要求。

基于上述目的，本实用新型提供的技术方案如下：

根据本实用新型的一个方面，提供了一种LTCC滤波器测试夹具。

该LTCC滤波器测试夹具包括测试板，测试板为一长方形电路板，测试板上下两表面均镀有金属层，测试板电性连接至待测LTCC滤波器并用于测试待测LTCC滤波器的器件性能；

直通校准板，直通校准板为一长方形电路板，直通校准板与测试板平行且前后相邻放置，直通校准板上下两表面均镀有与测试板上金属层等厚度的金属层，直通校准板用于校准测试板的测量值并减小测试板的测量误差；

四个同轴转微带高频转接器，四个同轴转微带高频转接器分别焊接于测试板与直通校准板的左右两端，四个同轴转微带高频转接器的一端连接至同轴电缆，另一端连接至测试板与直通校准板表面的金属镀层，四个同轴转微带高频转接器用于将同轴模式信号转化为微带线模式信号。

其中，测试板表面包括：

第一镀层，第一镀层镀覆于测试板上表面左侧的中间位置，第一镀层为一条形层，第一镀层一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端延伸到测试板的接近中间位置，第一镀层在测试过程中与LTCC滤波器的输入端电性连接；

第三镀层，第三镀层镀覆于测试板上表面右侧、与第一镀层对应的中间位置，第三镀层为一条形层，第三镀层一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端延伸到测试板的接近中间位置，第三镀层在测试过程中与LTCC滤波器的输出端电性连接；

第二镀层，第二镀层镀覆于测试板上表面的中间位置，第二镀层为一哑铃形层，第二镀层中间较薄的部分处于第一镀层与第三镀层接近中间位置的延伸端之间，第二镀层在测试过程中与LTCC滤波器的接地端电性连接；

测试板背层，测试板背层镀覆于测试板下表面并覆盖整个测试板下表面，测试板背层与第二镀层电性连接；

多个过孔，多个过孔均为垂直于测试板平面的通孔，多个过孔均位于第二镀层覆盖下的测试板上，多个过孔集中于第二镀层两端较厚的部分，多个过孔的内壁也都覆有金属镀层，测试板背层与第二镀层之间通过多个多个过孔电性连接。

其中，直通校准板表面包括：

第四镀层，第四镀层镀覆于测试板上表面的中间位置，第四镀层为一条形层，第四镀层一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的另一个，第一镀层在测试过程中与不与LTCC滤波器电性连接；

直通校准板背层，直通校准板背层镀覆于直通校准板下表面并覆盖整个直通校准板下表面。

LTCC滤波器测试夹具还包括固定板，固定板固定连接至测试板的上表面，在对LTCC滤波器进行测试时LTCC滤波器设置于固定板与测试板之间，固定板用于固定LTCC滤波器的水平位置并维持LTCC滤波器的三个电极与测试板表面的金属镀层电性连接稳定。

并且，固定板为聚四氟乙烯质地的工字型结构，固定板还包括固定槽与多个螺栓；固定槽设置于工字型结构中心，固定槽的形状大小取决于LTCC滤波器的形状大小，固定槽用于为LTCC滤波器提供空间位置；多个螺栓设置于工字型结构四角，多个螺栓将固定板螺旋固定于测试板上，维持固定板与测试板之间相对静止。

LTCC滤波器测试夹具该包括测试盖板，测试盖板为与固定板的工字型结构相对应的金属盖，测试盖板可将固定板完全遮罩在测试盖板与测试板形成的密闭环境之中，测试盖板用于屏蔽外界电磁信号。

并且，测试盖板上有弹性压接装置，弹性压接装置对LTCC滤波器有向下的压迫力，弹性压接装置用于固定LTCC滤波器的垂直位置并维持LTCC滤波器的三个电极与测试板表面的金属镀层电性连接稳定。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的技术方案通过使用测试板与直通校准板联合对LTCC滤波器进行测试的技术方案，避免了LTCC滤波器被焊接而造成伤害，能在不伤害器件的情况下对LTCC滤波器较精确的测试，满足元器件可靠性筛选与测试的要求。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为根据本实用新型实施例的LTCC滤波器测试夹具的结构图；

图2为根据本实用新型实施例的LTCC滤波器测试夹具中直通校准板与测试板的正反面金属镀层覆盖分布与过孔定位图；

图3为根据本实用新型实施例的LTCC滤波器测试夹具固定了固定板之后的结构图；

图4为根据本实用新型实施例的LTCC滤波器测试夹具中固定板的结构图；

图5为根据本实用新型实施例的LTCC滤波器测试夹具中测试盖板的结构图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进一步进行清楚、完整、详细地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

根据本实用新型的一个实施例，提供了一种LTCC滤波器测试夹具。

如图1所示，根据本实用新型的实施例提供的种LTCC滤波器测试夹具包括：

测试板1，测试板1为一长方形电路板，测试板1上下两表面均镀有金属层，测试板1电性连接至待测LTCC滤波器并用于测试待测LTCC滤波器的器件性能；

直通校准板2，直通校准板2为一长方形电路板，直通校准板2与测试板1平行且前后相邻放置，直通校准板2上下两表面均镀有与测试板1上金属层等厚度的金属层，直通校准板2用于校准测试板1的测量值并减小测试板1的测量误差；

四个同轴转微带高频转接器3，四个同轴转微带高频转接器3分别焊接于测试板1与直通校准板2的左右两端，四个同轴转微带高频转接器3的一端连接至同轴电缆，另一端连接至测试板1与直通校准板2表面的金属镀层，四个同轴转微带高频转接器3用于将同轴模式信号转化为微带线模式信号。

图2示出的是直通校准板2与测试板1的正反面金属镀层覆盖分布与过孔14定位图。如图2所示，测试板1表面包括：

第一镀层11，第一镀层11镀覆于测试板1上表面左侧的中间位置，第一镀层11为一条形层，第一镀层11一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器3中的一个，另一端延伸到测试板1的接近中间位置，第一镀层11在测试过程中与LTCC滤波器的输入端电性连接；

第三镀层13，第三镀层13镀覆于测试板1上表面右侧、与第一镀层11对应的中间位置，第三镀层13为一条形层，第三镀层13一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器3中的一个，另一端延伸到测试板1的接近中间位置，第三镀层13在测试过程中与LTCC滤波器的输出端电性连接；

第二镀层12，第二镀层12镀覆于测试板1上表面的中间位置，第二镀层12为一哑铃形层，第二镀层12中间较薄的部分处于第一镀层11与第三镀层13接近中间位置的延伸端之间，第二镀层12在测试过程中与LTCC滤波器的接地端电性连接；

测试板背层10，测试板背层10镀覆于测试板1下表面并覆盖整个测试板1下表面，测试板背层10与第二镀层12电性连接；

多个过孔14，多个过孔14均为垂直于测试板1平面的通孔，多个过孔14均位于第二镀层12覆盖下的测试板1上，多个过孔14集中于第二镀层12两端较厚的部分，多个过孔14的内壁也都覆有金属镀层，测试板背层10与第二镀层12之间通过多个多个过孔14电性连接。

同样如图2所示，直通校准板2表面包括：

第四镀层21，第四镀层21镀覆于测试板1上表面的中间位置，第四镀层21为一条形层，第四镀层21一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器3中的一个，另一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器3中的另一个，第一镀层11在测试过程中与不与LTCC滤波器电性连接；

直通校准板背层20，直通校准板背层20镀覆于直通校准板2下表面并覆盖整个直通校准板2下表面。

LTCC滤波器测试夹具还包括固定板4，图3示出的是LTCC滤波器测试夹具固定了固定板4之后的结构图。如图3所示，固定板4固定连接至测试板1的上表面，在对LTCC滤波器进行测试时LTCC滤波器设置于固定板4与测试板1之间，固定板4用于固定LTCC滤波器的水平位置并维持LTCC滤波器的三个电极与测试板1表面的金属镀层电性连接稳定。

图4示出的是固定板4的结构图。如图4所示，固定板4为聚四氟乙烯质地的工字型结构，固定板4还包括固定槽41与多个螺栓42；固定槽41设置于工字型结构中心，固定槽41的形状大小取决于LTCC滤波器的形状大小，固定槽41用于为LTCC滤波器提供空间位置；多个螺栓42设置于工字型结构四角，多个螺栓42将固定板4螺旋固定于测试板1上，维持固定板4与测试板1之间相对静止。

LTCC滤波器测试夹具该包括测试盖板5，图5示出的是测试盖板5的结构图。如图5所示，测试盖板5为与固定板4的工字型结构相对应的金属盖，测试盖板5可将固定板4完全遮罩在测试盖板1与测试板1形成的密闭环境之中，测试盖板5用于屏蔽外界电磁信号。

并且，如图5所示，测试盖板5上有弹性压接装置51，弹性压接装置51对LTCC滤波器有向下的压迫力，弹性压接装置51用于固定LTCC滤波器的垂直位置并维持LTCC滤波器的三个电极与测试板1表面的金属镀层电性连接稳定。

在对LTCC滤波器电性能参数进行测试时，主要用到的硬件设备为网络分析仪及相配套的测试电缆。测试时，首先将网络分析仪与测试电缆组成的系统进行校准，主要消除测试设备及测试电缆本身引入的测量误差；其次，将LTCC滤波器测试夹具的直通校准板部分接入网络分析仪和测试电缆组成的测试系统，较除测试夹具本身引入的测量误差；最后，将测试夹具的测试板部分接入测试系统，放置器件于测试电路板的相应位置，并盖紧测试盖板，即可实现对LTCC滤波器电性能参数的测试。

综上所述，借助于本实用新型的上述技术方案，通过使用测试板与直通校准板联合对LTCC滤波器进行测试的技术方案，避免了LTCC滤波器被焊接而造成伤害，能在不伤害器件的情况下对LTCC滤波器较精确的测试，满足元器件可靠性筛选与测试的要求；同时，联合使用固定板与测试盖板将LTCC滤波器固定在一个可以进行稳定测试的位置，消除了可能的外界扰动带来的误差；另外，LTCC滤波器被设置于测试盖板与测试板形成的密闭环境之中，测试盖板与测试板的金属壳与金属镀层制造了电磁屏蔽的效果，消除了外界高频噪声对测量结果的影响。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种LTCC滤波器测试夹具，其特征在于，包括：

测试板，所述测试板为一长方形电路板，所述测试板上下两表面均镀有金属层，所述测试板电性连接至待测LTCC滤波器并用于测试待测LTCC滤波器的器件性能；

直通校准板，所述直通校准板为一长方形电路板，所述直通校准板与所述测试板平行且前后相邻放置，所述直通校准板上下两表面均镀有与所述测试板上金属层等厚度的金属层，所述直通校准板用于校准所述测试板的测量值并减小所述测试板的测量误差；

四个同轴转微带高频转接器，所述四个同轴转微带高频转接器分别焊接于所述测试板与所述直通校准板的左右两端，所述四个同轴转微带高频转接器的一端连接至同轴电缆，另一端连接至所述测试板与所述直通校准板表面的金属镀层，所述四个同轴转微带高频转接器用于将同轴模式信号转化为微带线模式信号。

2.根据权利要求1所述的一种LTCC滤波器测试夹具，其特征在于，所述测试板表面包括：

第一镀层，所述第一镀层镀覆于所述测试板上表面左侧的中间位置，所述第一镀层为一条形层，所述第一镀层一端电性连接至所述四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端延伸到所述测试板的接近中间位置，所述第一镀层在测试过程中与LTCC滤波器的输入端电性连接；

第三镀层，所述第三镀层镀覆于所述测试板上表面右侧、与所述第一镀层对应的中间位置，所述第三镀层为一条形层，所述第三镀层一端电性连接至所述四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端延伸到所述测试板的接近中间位置，所述第三镀层在测试过程中与LTCC滤波器的输出端电性连接；

第二镀层，所述第二镀层镀覆于所述测试板上表面的中间位置，所述第二镀层为一哑铃形层，所述第二镀层中间较薄的部分处于所述第一镀层与所述第三镀层接近中间位置的延伸端之间，所述第二镀层在测试过程中与LTCC滤波器的接地端电性连接；

测试板背层，所述测试板背层镀覆于所述测试板下表面并覆盖整个测试板下表面，所述测试板背层与所述第二镀层电性连接；

多个过孔，所述多个过孔均为垂直于所述测试板平面的通孔，所述多个过孔均位于所述第二镀层覆盖下的所述测试板上，所述多个过孔集中于所述第二镀层两端较厚的部分，所述多个过孔的内壁也都覆有金属镀层，所述测试板背层与所述第二镀层之间通过多个所述多个过孔电性连接。

3.根据权利要求1所述的一种LTCC滤波器测试夹具，其特征在于，所述直通校准板表面包括：

第四镀层，所述第四镀层镀覆于所述测试板上表面的中间位置，所述第四镀层为一条形层，所述第四镀层一端电性连接至所述四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端电性连接至所述四个同轴转微带高频转接器中的另一个，所述第一镀层在测试过程中与不与LTCC滤波器电性连接；

直通校准板背层，所述直通校准板背层镀覆于所述直通校准板下表面并覆盖整个直通校准板下表面。

4.根据权利要求1所述的一种LTCC滤波器测试夹具，其特征在于，还包括固定板，所述固定板固定连接至所述测试板的上表面，在对LTCC滤波器进行测试时所述LTCC滤波器设置于所述固定板与所述测试板之间，所述固定板用于固定所述LTCC滤波器的水平位置并维持所述LTCC滤波器的三个电极与所述测试板表面的金属镀层电性连接稳定。

5.根据权利要求4所述的一种LTCC滤波器测试夹具，其特征在于，所述固定板为聚四氟乙烯质地的工字型结构，所述固定板还包括固定槽与多个螺栓；所述固定槽设置于工字型结构中心，所述固定槽的形状大小取决于所述LTCC滤波器的形状大小，所述固定槽用于为所述LTCC滤波器提供空间位置；所述多个螺栓设置于工字型结构四角，所述多个螺栓将所述固定板螺旋固定于所述测试板上，维持所述固定板与所述测试板之间相对静止。

6.根据权利要求1所述的一种LTCC滤波器测试夹具，其特征在于，该包括测试盖板，所述测试盖板为与所述固定板的工字型结构相对应的金属盖，所述测试盖板可将所述固定板完全遮罩在所述测试盖板与所述测试板形成的密闭环境之中，所述测试盖板用于屏蔽外界电磁信号。

7.根据权利要求6所述的一种LTCC滤波器测试夹具，其特征在于，所述测试盖板上有弹性压接装置，所述弹性压接装置对所述LTCC滤波器有向下的压迫力，所述弹性压接装置用于固定所述LTCC滤波器的垂直位置并维持所述LTCC滤波器的三个电极与所述测试板表面的金属镀层电性连接稳定。