CN104391199A - 一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法 - Google Patents

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李严
余奎
吴春艳
王春华
黄利花
余玉香
张曼
孙瑞
宿正昊
鲍志琴
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Abstract

本发明公开了一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法，其特征在于：将测试装置放置于屏蔽室中，未屏蔽电缆及屏蔽电缆的受试设备连接在测试装置上，利用天线接收受试设备的辐射电场，天线与待测电缆的距离为0.8-1.5m；本测试系统的测试频段为2MHz～18GHz；最后将天线接收到的辐射电场值通过测量接收机输入到计算机中存储并处理。本发明具有测试频段宽、效率高、费用低、精度高、易实现、方便测量等优点。

Description

一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法
技术领域
本发明涉及一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法，属于射频测试
技术领域。
背景技术
目前，对多束多芯电缆的测试方法有三种：
一、功率吸收钳法，缺点是由于此方法是一种开放式的测试方法，会受到周围电磁环境的影响，且测试频率受功率吸收钳的工作频率限制，测试频段比较窄；
二、混波室法，将两端分别连接匹配负载和信号接收机或频谱分析仪的电缆放置在混波室中，并且放置接收天线。向混波室通过发射天线输入特定的功率，分别测量电缆接收的信号功率和接收天线接收的信号功率，两个功率之比取对数即得到电缆的屏蔽效能。一方面混波室搭建成本高，测试环境复杂；另一方面此方法所需要测试仪器繁多，测试时间较长，测试费用较高；
三、线注入法，将扁平铜编织层的注入线包扎到受试电缆上，向注入线中注入信号，用接收机接收受试电缆耦合的信号。此方法受到注入线长度的限制，受试电缆长度不能太长，且测试精度不高。
发明内容
为了解决现有电缆屏蔽层屏蔽效能测试频段窄、测试时间长、测试精度不高、易受环境影响等问题，本发明目的在于提出了一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法，将测试装置放置于屏蔽室中，未屏蔽电缆及屏蔽电缆的受试设备连接在测试装置上，利用天线接收受试设备的辐射电场，天线与待测电缆的距离为0.8-1.5m；
所述天线与待测电缆的距离优选为1m。
本测试系统的测试频段为2MHz～18GHz；最后将天线接收到的辐射电场值通过测量接收机输入到计算机中存储并处理。
用信号源、测量接收机、天线及50Ω负载在屏蔽暗室中搭建测试系统，分别测量未屏蔽电缆和屏蔽电缆的的辐射电场值E1（dB）、E2（dB），从而得到屏蔽电缆层的屏蔽效能为：SE=E1-E2（dB）。
本发明的有益效果：
本发明具有测试频段宽、效率高、费用低、精度高、易实现、方便测量等优点。
附图说明
图1为本发明的测试系统框图。
具体实施方式
    下面结合附图1对本发明进行详细描述：
一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法，将测试装置放置于屏蔽室中，未屏蔽电缆及屏蔽电缆的受试设备连接在测试装置上，利用天线接收受试设备的辐射电场，天线与待测电缆的距离为1m；
本测试系统的测试频段为2MHz～18GHz；最后将天线接收到的辐射电场值通过测量接收机输入到计算机中存储并处理。
用信号源、测量接收机、天线及50Ω负载在屏蔽暗室中搭建测试系统，分别测量未屏蔽电缆和屏蔽电缆的的辐射电场值E1（dB）、E2（dB），从而得到屏蔽电缆层的屏蔽效能为：SE=E1-E2（dB）。
所述天线与待测电缆的距离为1m。

Claims (3)

1.一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法，其特征在于：将测试装置放置于屏蔽室中，未屏蔽电缆及屏蔽电缆的受试设备连接在测试装置上，利用天线接收受试设备的辐射电场，天线与待测电缆的距离为0.8-1.5m；
本测试系统的测试频段为2MHz～18GHz；最后将天线接收到的辐射电场值通过测量接收机输入到计算机中存储并处理。
2.根据权利要求1所述的电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法，其特征在于：用信号源、测量接收机、天线及50Ω负载在屏蔽暗室中搭建测试系统，分别测量未屏蔽电缆和屏蔽电缆的的辐射电场值E1（dB）、E2（dB），从而得到屏蔽电缆层的屏蔽效能为：SE=E1-E2（dB）。
3.一种电缆屏蔽层屏蔽效能的测试方法，其特征在于：所述天线与待测电缆的距离为1m。
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