CN201699689U - 一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出了一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统，属于电子技术领域。本实用新型实施例通过设置一个接口电路，所述接口电路包括天线连接接口以及测试设备接口；所述天线连接接口与所述测试设备接口电性导通。这样测试设备可以通过被测设备的天线连接接口与被测设备的射频电路导通，以对射频电路进行测试。这样就无需每一被测电路都设置一个射频连接器，既可以实现对被测电路的射频电路进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及通讯领域，特别涉及一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统。
背景技术
对于具有射频功能的电路，生产加工时需要对射频性能进行测试。现有的射频测试系统如图1所示，包括被测电路1和测试设备2。其中被测电路1包括射频电路及匹配电路11、射频连接器12、天线匹配电路13和天线连接接口14，天线连接接口14连接天线15。其中，射频连接器12通过天线匹配电路13连接天线连接接口14。其中测试设备2通过测试电缆21电连接射频连接器12。当测试电缆21的插头插入射频连接器12时，射频连接器12将射频电路及匹配电路11与天线匹配电路13之间断路，并将射频电路及匹配电路11与测试设备2之间电性导通。当从测试电缆21的插头被拔出之后，射频连接器12将射频电路及匹配电路11与天线连接接口14导通。
在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：
现有技术中的射频测试系统和装置，需要在被测电路中内置一个射频连接器12，而射频连接器12在测试完成后就失去作用了，这样导致产品的成本增加。
实用新型内容
为了解决现有技术中需要为了对射频进行测试而必须在被测电路增设一个射频连接器导致成本增加问题，本实用新型实施例提供了一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统。所述技术方案如下：
本实用新型实施例提出了一种射频测试接口装置，包括：接口电路，所述接口电路包括天线连接接口以及测试设备接口；所述天线连接接口与所述测试设备接口电性导通。
本实用新型实施例还提出了一种射频测试系统，包括测试设备和接口电路；所述接口电路包括天线连接接口以及测试设备接口；所述天线连接接口与所述测试设备接口导通；所述测试设备连接电所述测试设备接口。
本实用新型实施例还提出了一种射频电路，包括射频电路及匹配电路、天线匹配电路、天线连接接口；所述射频电路及匹配电路连接所述天线匹配电路，所述天线匹配电路连接所述天线连接接口；所述天线连接接口通过接口电路连接连接测试设备。
本实用新型实施例提供的技术方案的有益效果是：本实用新型实施例的射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统，通过设置接口电路与被测电路的天线连接接口电连接，以通过被测电路的天线连接接口对射频电路进行测试。这样就无需每一被测电路都设置一个射频连接器，既可以实现对被测电路的射频电路进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面所列附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是现有技术中射频测试系统的结构示意图；
图2是本实用新型第一实施例的射频测试接口装置的结构示意图；
图3是本实用新型第二实施例的射频测试接口装置的结构示意图；
图4是本实用新型第三实施例的射频测试系统的结构示意图；
图5是本实用新型第四实施例的射频测试系统的结构示意图；
图6是本实用新型的射频测试接口装置或射频测试系统与被测电路连接时的结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。
实施例1
本实用新型实施例提出了一种射频测试接口装置，其结构如图2所示，包括：接口电路100，接口电路100包括天线连接接口101以及测试设备接口102；天线连接接口101与测试设备接口102电性导通。
本实用新型实施例的射频测试接口装置，通过设置接口电路与被测电路的天线连接接口电连接，以通过被测电路的天线连接接口对射频电路进行测试。这样就无需每一被测电路都设置一个射频连接器，既可以实现对被测电路的射频电路进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。
实施例2
本实用新型第二实施例提出了一种射频测试接口装置，包括：接口电路100，接口电路100包括天线连接接口101以及测试设备接口102；天线连接接口101与测试设备接口102电性导通。
参考图6所示的，天线连接接口101可以通过连接电缆105连接被测电路的天线连接接口14。由于被测电路可能会存在不同结构的天线连接接口14。采用连接电缆的形式，可以通过设置多条具有相应接口的连接电缆，在连接不同结构的天线连接接口时只需要更换连接电缆即可。
当然，还可以采用接口电路100的天线连接接口101的结构与被测电路的天线连接接口相适配的方式，使接口电路100的天线连接接口101直接与被测电路的天线连接接口连通。
现有的被测电路的天线连接接口一般是电路板上焊接的金属弹片或者电路板上预留的金属触点。本实用新型实施例中，如果被测电路的天线连接接口为金属弹片形式，则本实用新型实施例中的天线连接接口101就为与金属弹片相适配的金属触点。如果被测电路的天线连接接口为金属触点，则本实用新型实施例中的天线连接接口101为金属弹片。
如图3所示，测试设备接口102为射频连接器103。射频连接器103可以为现有的射频连接器，也可以为其他任何结构的射频连接器，只需能够实现在测试时使被测电路与测试设备导通即可。参考图6所示的，测试设备可以通过测试电缆106连接射频连接器103。而测试电缆可以采用现有的测试电缆，当然也可以采用其他任何结构的射频连接器，只要能够实现在测试时使被测设备与测试设备导通即可。
如图3所示，其中，接口电路100还包括阻抗匹配电路104，阻抗匹配电路104串联天线连接接口101及测试设备接口102，以使测试设备的阻抗与被测电路的阻抗相匹配。
实施例3
本实用新型第三实施例提出了一种射频测试系统，其结构如图4所示，包括：测试设备200，还包括：接口电路100包括天线连接接口101以及测试设备接口102；天线连接接口101与测试设备接口102电性导通。
本实用新型实施例的射频测试接口装置，通过设置接口电路与被测电路的天线连接接口电连接，以通过被测电路的天线连接接口对射频电路进行测试。这样就无需每一被测电路都设置一个射频连接器，既可以实现对被测电路的射频电路进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。
实施例4
本实用新型第四实施例提出了一种射频测试系统，包括：测试设备200，还包括：接口电路100包括天线连接接口101以及测试设备接口102；天线连接接口101与测试设备接口102电性导通。
参考图6所示的，天线连接接口101可以通过连接电缆105连接被测电路的天线连接接口14。由于被测电路可能会存在不同结构的天线连接接口14。采用连接电缆的形式，可以通过设置多条具有相应接口的连接电缆，在连接不同结构的天线连接接口时只需要更换连接电缆即可。
当然，还可以采用接口电路100的天线连接接口101的结构与被测电路的天线连接接口相适配的方式，使接口电路100的天线连接接口101直接与被测电路的天线连接接口连通。
现有的被测电路的天线连接接口一般是电路板上焊接的金属弹片或者电路板上预留的金属触点。本实用新型实施例中，如果被测电路的天线连接接口为金属弹片形式，则本实用新型实施例中的天线连接接口101就为与金属弹片相适配的金属触点。如果被测电路的天线连接接口为金属触点，则本实用新型实施例中的天线连接接口101为金属弹片。
如图5所示，测试设备接口102为射频连接器103。射频连接器103可以为现有的射频连接器，也可以为其他任何结构的射频连接器，只需能够实现在测试时使被测电路与测试设备导通即可。参考图6所示的，测试设备可以通过测试电缆106连接射频连接器103。而测试电缆可以采用现有的测试电缆，当然也可以采用其他任何结构的射频连接器，只要能够实现在测试时使被测设备与测试设备导通即可。
如图5所示，其中，接口电路100还包括阻抗匹配电路104，阻抗匹配电路104串联天线连接接口101及测试设备接口102，以使测试设备的阻抗与被测电路的阻抗相匹配。
如图6所示，被测设备1包括射频电路及匹配电路11、天线匹配电路13、天线连接接口14；射频电路及匹配电路11连接天线匹配电路13，天线匹配电路13连接天线连接接口14；天线连接接口14通过接口电路100，连接连接测试设备200。
如图6所示，为本实用新型实施例的射频测试接口装置和射频测试系统连接被测电路1时的结构示意图。其中被测电路1包括射频电路及匹配电路11、天线匹配电路13和天线连接接口14。在进行测试时，本实用新型实施例的射频测试接口装置和射频测试系统通过天线连接接口101以及连接电缆105，连接被测电路1的天线连接接口14，从而将被测电路1的射频电路及匹配电路11与测试设备200电性导通。当然，这只是举例说明，本实用新型实施例并不对被测设备1的结构进行限定。
利用本实用新型实施例的测试设备200对被测设备1进行测试方法可以具体为：测试电路200和被测设备1首先实现阻抗匹配；被测设备1通过接口电路100实现和测试设备200连接。在进行测试时，测试设备200预设一个被测设备1反馈信号判断门限值。测试设备200模拟通信的主设备进行信号的发送和接收，测试设备200根据接收到的被测设备1反馈信号，并将该反馈信号与判断门限进行比较，以判断测试电路工作是否正常。
实施例5
本实用新型第五实施例提出了一种射频电路，其结构为如图6所示的被测电路1，包括射频电路及匹配电路11、天线匹配电路13、天线连接接口14。如图6所示的，射频电路及匹配电路11连接天线匹配电路13，天线匹配电路13连接天线连接接口14；所述天线连接接口14通过接口电路100连接测试设备200。
本实用新型实施例的射频电路，也就是前述实施例中的被测设备。本实用新型实施例的射频电路可通过接口电路100连接测试设备200，这样相比较如图1所示的现有的射频电路无需增加射频连接器。本实用新型实施例的射频电路既可以实现与测试设备200连接以进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。
通过以上实施例可以看出，本实用新型实施例的射频测试接口装置及射频测试系统，本实用新型实施例的射频测试接口装置，通过设置接口电路与被测电路的天线连接接口电连接，以通过被测电路的天线连接接口对射频电路进行测试。这样就无需每一被测电路都设置一个射频连接器，既可以实现对被测电路的射频电路进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。
由于被测电路可能会存在不同结构的天线连接接口。采用连接电缆的形式，可以通过设置多条具有相应接口的连接电缆，在连接不同结构的天线连接接口时只需要更换连接电缆即可，这样可以进一步节省设备的开支，只需设置多条连接电缆就可以了。当然，还可以采用接口电路的天线连接接口的结构与被测电路的天线连接接口相适配，使接口电路的天线连接接口直接与被测电路的天线连接接口连通。其中，测试设备接口可以为现有的射频连接器，这样不需要再单独开发其他的射频连接器，以节省成本。还包括阻抗匹配电路，以使测试设备的阻抗与被测电路的阻抗相匹配。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (12)
1.一种射频测试接口装置，其特征在于，包括：接口电路，所述接口电路包括天线连接接口以及测试设备接口；所述天线连接接口与所述测试设备接口电性导通。
2.根据权利要求1所述的射频测试接口装置，其特征在于，所述天线连接接口与被测电路的天线连接接口相适配。
3.根据权利要求1所述的射频测试接口装置，其特征在于，还包括天线连接电缆，所述天线连接电缆一端连接所述接口电路的天线连接接口；所述天线连接电缆的另一端具有与所述被测电路的天线连接接口相适配的接口以连接被测电路的天线连接接口。
4.根据权利要求1所述的射频测试接口装置，其特征在于，所述测试设备接口为射频连接器；所述射频连接器通过测试电缆连接测试设备。
5.根据权利要求1-4任一项所述的射频测试接口装置，其特征在于，还包括阻抗匹配电路，阻抗匹配电路串联所述天线连接接口及所述测试设备接口。
6.一种射频测试系统，其特征在于，包括测试设备和接口电路；所述接口电路包括天线连接接口以及测试设备接口；所述天线连接接口与所述测试设备接口导通；所述测试设备连接电所述测试设备接口。
7.根据权利要求6所述的射频测试接口装置，其特征在于，所述天线连接接口与被测电路的天线连接接口相适配。
8.根据权利要求6所述的射频测试接口装置，其特征在于，还包括天线连接电缆，所述天线连接电缆一端连接所述接口电路的天线连接接口；所述天线连接电缆的另一端具有与所述被测电路的天线连接接口相适配的接口以连接被测电路的天线连接接口。
9.根据权利要求6所述的射频测试接口装置，其特征在于，所述测试设备接口为射频连接器；所述射频连接器通过测试电缆连接测试设备。
10.根据权利要求6任一项所述的射频测试系统，其特征在于，还包括阻抗匹配电路，所述阻抗匹配电路串联所述天线连接接口及所述测试设备接口。
11.根据权利要求6-10所述的射频测试系统，其特征在于，所述系统还包括被测电路，所述被测电路包括射频电路及匹配电路、天线匹配电路、天线连接接口；所述射频电路及匹配电路连接所述天线匹配电路，所述天线匹配电路连接所述天线连接接口；所述天线连接接口通过连接电缆连接所述接口电路的天线连接接口。
12.一种射频电路，包括射频电路及匹配电路、天线匹配电路、天线连接接口；其特征在于，所述射频电路及匹配电路连接所述天线匹配电路，所述天线匹配电路连接所述天线连接接口；所述天线连接接口通过接口电路连接连接测试设备。
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