CN201436589U - 测试探针 - Google Patents

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李冠兴
高合助
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Huanxu Electronics Co., Ltd.
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HUANXU ELECTRONICS CO Ltd
Universal Scientific Industrial Co Ltd
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Abstract

本实用新型是一种测试探针，包括接地件、信号针与电介质隔离层。接地件包括接地本体、接地套筒与第一弹性件。接地套筒具有凹槽，其具有底部开口、内侧表面与外部开口。底部开口与外部开口彼此相对，且内侧表面所环绕的范围以远离底部开口且朝向外部开口的方向而逐渐增加。第一弹性件连接接地本体与接地套筒。信号针包括第一信号针体、第二信号针体与第二弹性件。第一与第二信号针体分别至少部分地配置于接地本体内与接地套筒内。至少部分第二信号针体由底部开口延伸而出而位于凹槽内。第二弹性件连接第一与第二信号针体。电介质隔离层隔离信号针与接地件。

Description

测试探针
技术领域
本实用新型有关一种测试探针，且特别是有关一种测试连接器的测试探针。
背景技术
射频连接器(radio frequency connector，RF connector)在各种电子装置中至为重要，其用以作为电子装置与外界装置彼此传输电性信号(electrical signal)的媒介。近年来，随着各种微型电子装置技术的高速发展，射频连接器应用于各种通讯设备(例如手机)上已相当普遍。
当射频连接器借助表面接合技术(surface mount technology，SMT)配置于且电性连接于一电路板上后，测试人员必须借助一测试探针对射频连接器进行电性测试。然而，由于射频连接器的种类繁多而具有许多不同的尺寸，所以测试探针针对不同种类的射频连接器作测试也必须具有不同的尺寸。因此，现有技术中，测试不同尺寸的射频连接器的过程的测试成本较高。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种测试探针，其可适于测试不同尺寸的连接器。
本实用新型提出一种测试探针，包括一接地件、一信号针与一电介质隔离层。接地件包括一接地本体、一接地套筒与一第一弹性件。接地套筒具有一凹槽。凹槽具有一底部开口、一内侧表面与一外部开口。底部开口与外部开口彼此相对，且内侧表面所环绕的范围以远离底部开口且朝向外部开口的方向而逐渐增加。第一弹性件连接接地本体与接地套筒，使得接地套筒适于相对于接地本体作移动。
信号针包括一第一信号针体、一第二信号针体与一第二弹性件。第一信号针体至少部分地配置于接地本体内，且第二信号针体至少部分地配置于接地套筒内。至少部分第二信号针体由底部开口延伸而出而位于凹槽内。第二弹性件连接第一信号针体与第二信号针体，使得第二信号针体适于相对于第一信号针体作移动。电介质隔离层隔离信号针与接地件。
在本实用新型的一实施例中，上述测试探针还包括一支撑套筒，环绕接地套筒且连接至接地本体。
在本实用新型的一实施例中，上述第一弹性件套设于电介质隔离层。
在本实用新型的一实施例中，上述第一弹性件为一压缩弹簧。
在本实用新型的一实施例中，上述第二弹性件为一压缩弹簧。
本实用新型的有益技术效果是：由于测试探针具有第一弹性件与第二弹性件，且接地套筒的凹槽的内侧表面所环绕的范围以远离底部开口且朝向外部开口的方向而逐渐增加，所以与现有技术相比较，本实施例的测试探针可测试不同尺寸的连接器。因此，采用本实用新型的测试探针，测试不同尺寸的连接器的过程的测试成本较低。
附图说明
为让本实用新型的上述目的、特点和优点能更明显易懂，下面将配合附图对本实用新型的较佳实施例作详细说明，其中：
图1绘示本实用新型一实施例的一种测试探针的剖面示意图。
图2绘示图1的接地套筒的立体示意图。
图3绘示图1的测试探针测试一种连接器的示意图。
图4绘示图1的测试探针测试另一种连接器的示意图。
具体实施方式
图1绘示本实用新型一实施例的一种测试探针的剖面示意图，图2绘示图1的接地套筒的立体示意图。请参考图1与图2，本实施例的测试探针200包括一接地件210、一信号针220与一电介质隔离层230。接地件210包括一接地本体212、一接地套筒214与一第一弹性件216。第一弹性件216(例如为一压缩弹簧)连接接地本体212与接地套筒214，使得接地套筒214适于相对于接地本体212作移动。
接地套筒214具有一凹槽214a。凹槽214a具有一底部开口B1、一内侧表面S1与一外部开口O1。底部开口B 1与外部开口O1彼此相对，且内侧表面S1所环绕的范围以远离底部开口B1且朝向外部开口O1的方向D1而逐渐增加。在本实施例中，方向D1是平行信号针220的一轴线A1。具体说，在本实施例中，多个垂直信号针220的轴线A1的假想截面S2与凹槽214a的内侧表面S1相交而形成多个圆C1，且这些圆C1的圆周以沿着方向D1而逐渐增加。本实施例的凹槽214a的内侧表面S1的外形为一圆锥平截头体(conical frustum)的圆锥面。必须说明的是，在另一实施例中，凹槽214a的内侧表面S1的外形可为一碗内面或一喇叭出口处的内表面，但是并未以图面绘示。
信号针220包括一第一信号针体222、一第二信号针体224与一第二弹性件226。第一信号针体222至少部分地配置于接地件210的接地本体212内，且第二信号针体224至少部分地配置于接地件210的接地套筒214内。至少部分第二信号针体224由接地套筒214的凹槽214a的底部开口B1延伸而出而位于凹槽214a内。第二弹性件226(例如为一压缩弹簧)连接第一信号针体222与第二信号针体224，使得第二信号针体224适于相对于第一信号针体222作移动。此外，电介质隔离层230隔离信号针220与接地件210。在本实施例中，接地件210的第一弹性件216套设于电介质隔离层230。
值得注意的是，本实施例的测试探针200还包括一支撑套筒240，环绕接地件210的接地套筒214且连接至接地本体212。
以下对于利用本实施例的测试探针以测试多种连接器的过程作说明。图3绘示图1的测试探针测试一种连接器的示意图，图4绘示图1的测试探针测试另一种连接器的示意图。请先参考图1与图3，连接器20例如为射频连接器，其配置于且电性连接至一电路板30。在测试连接器之前，测试探针200会先与测试仪器的传输线(未绘示)电性连接。在本实施例中，接地件210的接地本体212可螺接于传输线的一接头。
当测试探针200测试一连接器20时，信号针220的第二信号针体224接触且电性连接至连接器20的一中心端子22，并且第二弹性件226产生弹性变形。此时，接地件210的接地套筒214的凹槽214a的内侧表面S1接触且电性连接至连接器20的一金属环体24，并且第一弹性件216亦产生弹性变形。此外，支撑套筒240抵靠电路板30，使得第二信号针体224不会过度施压于中心端子22以及接地套筒214不会过度施压于金属环体24。因此，连接器20不会被测试探针200所施加的压力作用而产生损坏。
请参考图1与图4，当测试探针200测试另一连接器20’(其尺寸大于连接器20)时，测试过程则如同上述，故于此不再赘述。值得注意的是，由于测试探针200具有第一弹性件216与第二弹性件226，且接地套筒214的凹槽214a的内侧表面S1所环绕的范围以远离底部开口B 1且朝向外部开口O1的方向D1而逐渐增加，所以于现有技术相比较，本实施例的测试探针200可测试不同尺寸的连接器20与20’。
综上所述，本实用新型的实施例的测试探针至少具有以下其中之一或其它优点：
一、由于测试探针具有第一弹性件与第二弹性件，且接地套筒的凹槽的内侧表面所环绕的范围以远离底部开口且朝向外部开口的方向而逐渐增加，所以与现有技术相比较，本实施例的测试探针可测试不同尺寸的连接器。因此，采用本实用新型的实施例的测试探针，测试不同尺寸的连接器的过程的测试成本较低。
二、由于在测试过程中，测试探针的支撑套筒抵靠电路板，所以待测试的连接器不会被测试探针所施加的压力作用而产生损坏，测试探针本身也比较不会磨耗减少寿命。
虽然本实用新型已以实施例揭露如上，然而其并非用以限定本实用新型，任何熟悉此技术者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作出种种等同的改变或替换，因此本实用新型的保护范围当视后附的本申请权利要求范围所界定的为准。

Claims (5)

1.一种测试探针，其特征在于，包括：
一接地件，包括：
一接地本体；
一接地套筒，具有一凹槽，其中该凹槽具有一底部开口、一内侧表面与一外部开口，该底部开口与该外部开口彼此相对，且该内侧表面所环绕的范围以远离该底部开口且朝向该外部开口的方向而逐渐增加；以及
一第一弹性件，连接该接地本体与该接地套筒，使得该接地套筒适于相对于该接地本体作移动；
一信号针，包括：
一第一信号针体，至少部分地配置于该接地本体内；
一第二信号针体，至少部分地配置于该接地套筒内，其中至少部分该第二信号针体由该底部开口延伸而出而位于该凹槽内，以及
一第二弹性件，连接该第一信号针体与该第二信号针体，使得该第二信号针体适于相对于该第一信号针体作移动；以及
一电介质隔离层，隔离该信号针与该接地件。
2.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，还包括一支撑套筒，环绕该接地套筒且连接至该接地本体。
3.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，该第一弹性件套设于该电介质隔离层。
4.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，该第一弹性件为一压缩弹簧。
5.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，该第二弹性件为一压缩弹簧。
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Patentee before: Huanxu Electronics Co., Ltd.

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