JP5243946B2 - 同軸コネクタ - Google Patents

同軸コネクタ Download PDF

Info

Publication number
JP5243946B2
JP5243946B2 JP2008327309A JP2008327309A JP5243946B2 JP 5243946 B2 JP5243946 B2 JP 5243946B2 JP 2008327309 A JP2008327309 A JP 2008327309A JP 2008327309 A JP2008327309 A JP 2008327309A JP 5243946 B2 JP5243946 B2 JP 5243946B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
terminal
coaxial
cylindrical contact
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008327309A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010153082A (ja
JP2010153082A5 (ja
Inventor
亮 上坂
晶範 水村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Molex LLC
Original Assignee
Molex LLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Molex LLC filed Critical Molex LLC
Priority to JP2008327309A priority Critical patent/JP5243946B2/ja
Priority to US13/142,185 priority patent/US8333595B2/en
Priority to KR1020117017197A priority patent/KR20110097993A/ko
Priority to PCT/US2009/069001 priority patent/WO2010075285A1/en
Priority to CN200980156017.3A priority patent/CN102301539B/zh
Publication of JP2010153082A publication Critical patent/JP2010153082A/ja
Publication of JP2010153082A5 publication Critical patent/JP2010153082A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5243946B2 publication Critical patent/JP5243946B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/50Fixed connections
    • H01R12/51Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
    • H01R12/55Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals
    • H01R12/57Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals surface mounting terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06772High frequency probes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/50Fixed connections
    • H01R12/51Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R24/00Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
    • H01R24/38Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts
    • H01R24/40Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency
    • H01R24/50Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency mounted on a PCB [Printed Circuit Board]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/648Protective earth or shield arrangements on coupling devices, e.g. anti-static shielding  
    • H01R13/658High frequency shielding arrangements, e.g. against EMI [Electro-Magnetic Interference] or EMP [Electro-Magnetic Pulse]
    • H01R13/6591Specific features or arrangements of connection of shield to conductive members
    • H01R13/6592Specific features or arrangements of connection of shield to conductive members the conductive member being a shielded cable
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/648Protective earth or shield arrangements on coupling devices, e.g. anti-static shielding  
    • H01R13/658High frequency shielding arrangements, e.g. against EMI [Electro-Magnetic Interference] or EMP [Electro-Magnetic Pulse]
    • H01R13/6591Specific features or arrangements of connection of shield to conductive members
    • H01R13/6594Specific features or arrangements of connection of shield to conductive members the shield being mounted on a PCB and connected to conductive members
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2103/00Two poles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Description

本発明は、同軸コネクタに関する。
特許文献1は、図19に示すように、検査装置に用いる同軸型可動接触端子851を開示する。同軸型可動接触端子851は、中心導体852と、プレーンな筒形状を有し且つ中心導体852を囲む外部導体861とを含む。この端子851は、図20に示すように、検査対象のIC(Integrated Circuit)が装着された被検査基板801に対して可動する可動板802に保持される。また、端子851の一端には、同軸コネクタ(以下、同軸プラグという)961が接続される。同軸プラグ961は、同軸ケーブル962により、信号発生回路やコンパレータなどが実装された図示外の測定基板に接続される。そして、検査時には、被検査基板801に向けて可動板802を動かして、端子851の他端を被検査基板801に接触させる。このようにして端子851により同軸プラグ961と基板801とが電気的に接続されて、被検査基板801と測定基板とが電気的に接続される。
同軸型の端子851を用いると、端子において信号の高周波成分が減衰したり反射したりし難くなる。そのため、測定基板において信号発生回路が出力した入力信号は、その波形を好適に維持したまま、端子851を介して被検査基板801へ伝送される。また、被検査基板801において検査対象のICが出力した出力信号は、その波形を好適に維持したまま、端子851を介して測定基板へ伝送される。
しかしながら、特許文献1の同軸型可動接触端子851は、可動板802に形成されたキャビティ814に圧入されて、この可動板802を被検査基板801に向けて動かすことにより上下へ移動して被検査基板801と接触する。この場合、同軸型可動接触端子851は被検査基板801に下から圧接されるだけである。そのため、たとえば被検査基板801のランドの表面に酸化膜などが形成された場合にはこの酸化膜によって接触抵抗が大きくなり、同軸型可動接触端子851を通じて高周波信号が所望の波形で授受されなくなってしまう可能性がある。
特許文献2は、ICソケット用の可動コンタクトピン装置を開示する。この可動コンタクトピン装置にはICパッケージが装着される。そして、装着の際に、ICパッケージの接続端子に接触部材を弾圧的に接触させた後、この接触部材を、ひねり曲げれた他の構成部材によって回転させる。このように接続端子に接触させた状態で接触部材を回転してワイピングすることにより、接続端子および接触部材の表面から酸化膜などを削り取ることができて、接触抵抗の増加を抑制できる。
しかしながら、この特許文献2の接触回転機構では、ひねり曲げれた他の構成部材を用いて接触部材を回転させている。そのため、ひねり曲げれた他の構成部材は、接触部材の回転軸の位置に配設する必要がある。したがって、特許文献1の同軸型可動接触端子851において外部導体861を回転させようとした場合、外部導体861の回転軸の位置にひねり曲げれた他の構成部材を配設する必要がある。しかしながら、同軸型可動接触端子851では、外部導体861の中心に中心導体852を配設する必要がある。このように特許文献1の同軸型可動接触端子851では、外部導体861の回転軸の位置に特許文献2のひねり曲げれた他の構成部材を配設しようとしても、その位置に既に中心導体852が配設されているので、特許文献2のひねり曲げれた他の構成部材を配設できない。その結果、同軸型可動接触端子851では、ひねり曲げれた他の構成部材を用いて外部導体861を回転させてワイピングすることができないので、同軸型可動接触端子851の接触抵抗の増加を抑制できない。
実開昭60−123666号公報 特開平7−272810号公報
本発明の目的は、プローブなどの同軸構造の端子においてワイピングができる同軸コネクタを提供することにある。
本発明によれば、ランドを有する基板に取り付けられる同軸コネクタであって、中心端子およびそれを囲む筒形の外端子による同軸構造を有する同軸端子と、上記同軸端子を収容するハウジングと、上記外端子の軸方向に沿って移動可能で且つ上記ランドと接触される筒形コンタクトと、上記ハウジングから突出させるように上記筒形コンタクトを付勢する付勢部材と、上記付勢部材の付勢力に抗して上記筒形コンタクトが上記ハウジングへ押し込まれるときに上記筒形コンタクトを上記軸を中心に回転させる機構とを含機構とを含み、上記付勢部材は、上記同軸端子と同軸に配設されたコイルスプリングであり、上記筒形コンタクトを回転させる機構は、上記同軸端子または上記ハウジングに形成された固定部と、上記筒形コンタクトに形成されて上記固定部と係合する可動部と、上記筒形コンタクトに形成されて且つ上記コイルスプリングの一端が接触する突起を含み、上記筒形コンタクトが上記ハウジングへ押し込まれて上記固定部と上記可動部との係合が解除され、上記コイルスプリングの伸縮によって上記突起が引かれまたは押されることにより上記筒形コンタクトが回転する同軸コネクタが提供される。本願において「ランド」とは、コネクタの基板における接点を意味し、形状は問わない。例えばパッド等である。
このように付勢部材により筒形コンタクトを付勢してハウジングから突出させているので、同軸コネクタを基板に取り付けるとき、まず筒形コンタクトが基板のランドと接触する。その後、筒形コンタクトがハウジングへ押し込まれて、同軸コネクタが基板に取り付けられる。そして、同軸コネクタが基板に取り付けられるまでの間に、筒形コンタクトを軸を中心に回転させる機構により、基板のランドと接触した筒形コンタクトが回転する。
したがって、基板のランドと接触した状態にある筒形コンタクトが回転するので、筒形コンタクトとランドとを擦り合わせてこれらをワイピングができる。そして、ワイピングにより筒形コンタクトの接触部分およびランドの表面から酸化膜を削り取ったり又は筒形コンタクトとランドとの間に挟まった塵を取り除いたりできるので、外端子と基板との接触抵抗の増加を抑制できる。このように、この発明では同軸構造の端子においてワイピングができる。
また、付勢部材は、筒形コンタクトに対して、ハウジングから突出させる付勢力を常に作用させる。そのため、筒形コンタクトは、この付勢力によりランドに圧接された状態で回転する。したがって、ハウジングを基板に強く押付けたとしても、筒形コンタクトは付勢力以上の力でランドに圧接されないので、必要以上の力により圧接されたことによる筒形コンタクトやランドの破損を防止できる。しかも、付勢部材は、同軸コネクタを基板に取り付けた後にも筒形コンタクトをランドに圧接し続けるので、筒形コンタクトとランドとの接触抵抗を低減した状態に維持できる。
付勢部材としては、たとえばコイルスプリング、板バネなどの弾性変形可能な部材であればよい。そして、上記付勢部材が、上記同軸端子と同軸に配設されたコイルスプリングである場合には、上記筒形コンタクトを回転させる機構は、上記筒形コンタクトに形成されて且つ上記コイルスプリングの一端が接触する突起を含み、上記コイルスプリングの伸縮によって上記突起が引かれまたは押されることにより上記筒形コンタクトが回転してもよい。
このようにコイルスプリングの伸縮によって筒形コンタクトに形成した突起を引いたり押したりすることにより、付勢部材としてのコイルスプリングを、筒形コンタクトを回転させる機構において兼用できる。同軸端子の周囲に配設する部品数を削減し、端子構造の簡素化が図れる。しかも、このコイルスプリングは、たとえば外端子の周囲に巻き付けた状態で同軸端子と同軸に配設できる。その結果、ハウジングにおける各同軸端子の占有範囲を抑えて、コイルスプリングなどを持たない従来の同軸端子と同等のピッチで複数の同軸端子をハウジングに配設することができる。
また、この発明では、上記コイルスプリングは、圧縮された状態で上記突起と接してもよい。コイルスプリングが圧縮された状態で突起と接することで、筒形コンタクトを押して確実に回転させることができる。しかも、筒形コンタクトがハウジング内へ押し込まれてコイルスプリングがさらに圧縮されると、筒形コンタクトを押す力が増すので、筒形コンタクトがランドに引っ掛かったとしても筒形コンタクトを確実に回転させることができる。これに対して、伸長された状態のコイルスプリングにより突起を引く場合には、筒形コンタクトがハウジング内へ押し込まれることにより、コイルスプリングの伸長が抑えられて引く力が相殺されることになる。
また、この発明では、上記筒形コンタクトを回転させる機構は、さらに、上記同軸端子または上記ハウジングに形成された固定部と、上記筒形コンタクトに形成されて上記固定部と係合する可動部とを含み、上記筒形コンタクトが上記ハウジングへ押し込まれて上記固定部と上記可動部との係合が解除されることにより上記筒形コンタクトが回転を開始してもよい。
このように筒形コンタクトがハウジングへ押し込まれて固定部と可動部との係合が解除されることにより筒形コンタクトが回転を開始するので、筒形コンタクトがハウジングへ押し込まれないときには、筒形コンタクトが回転しないようにでき、且つ、付勢部材の付勢力に抗して筒形コンタクトがハウジングへ押し込まれたときには、筒形コンタクトを回転させることができる。
特に、付勢部材としてのコイルスプリングが筒形コンタクトに形成された突起と接触することで筒形コンタクトを回転させる機構である場合、筒形コンタクトがハウジングへ押し込まれて固定部と可動部との係合が解除されるときには、コイルスプリングが圧縮された状態になる。したがって、筒形コンタクトが回転を開始するときには、コイルスプリングが圧縮された状態で突起と接することになる。したがって、筒形コンタクトが回転を開始する前に筒形コンタクトがランドに引っ掛かったとしても、圧縮を開放する力で筒形コンタクトを確実に回転させることができる。
また、この発明では、上記筒形コンタクトを回転させる機構は、さらに、上記同軸端子または上記ハウジングに形成されて、上記固定部との係合が解除された上記可動部と係合する規制部を含んでもよい。このように固定部との係合が解除された可動部と係合する規制部を設けることで、筒形コンタクトが回転する範囲を、可動部が固定部から規制部へ移動する範囲に制限できる。すなわち、筒形コンタクトの回転量を制限して、ランド(基板)上のワイピングする範囲を規制できる。
また、この発明では、上記筒形コンタクトは、筒形に対して回転対称に突出して且つ上記ランドと接する複数の突起接点を有してもよい。この場合、筒形コンタクトの複数の突起接点において、筒形コンタクトをランドと確実に接触させることができ、しかも、ランドを確実にワイピングできる。しかも、基板に形成するランドは、複数の突出接点によりワイピングする範囲(複数の突出接点が接触する範囲)について形成すればよい。これに対して、複数の突出接点が形成されていない場合、筒形コンタクトによる基板の接触範囲が特定しきれなくなるので、ランドは、筒形コンタクトの筒形に対応したドーナッツ形状などで形成する必要が生じたり、または、筒形コンタクトが基板のランド以外の箇所を誤ってワイピングしてしまう可能性が生じたりする。
以上のように、本発明の同軸コネクタでは、プローブなどの同軸構造の端子においてワイピングができる。
以下、本発明の同軸コネクタの実施の形態を、図面を参照して説明する。なお、以下に述べる実施の形態は本発明の好適な形態の例であり、本発明はこれに限定されない。
図1は、実施の形態のコネクタ1を斜め上方から見た斜視図である。図1には、コネクタ1が取り付けられる基板2も図示されている。コネクタ1は、樹脂などの絶縁材料を用いて立方体形状に形成されたハウジング11と、ハウジングを上下方向に貫通した複数のキャビティ14と、中心端子52および外端子61による同軸構造を有して且つキャビティ14に収容された複数の同軸端子51とを含む。
図1に示すように、基板2には、複数のランド151が形成される。そして、ランド151には、図示されないスルーホールなどの電気配線が接続される。
なお、後述する図9(D)および図17に示すように、コネクタ1は、ハウジング11の下面12aにおいて基板2に取り付けられる。また、ハウジング11から下に突出した同軸端子51の中心端子52および外端子61は、基板2において一列に並べられた3つのランド151と接触して電気的に接続される。
図2は、ハウジング11の分解斜視図である。ハウジング11は、基板2と平行な面で上下に2分割された下ハウジング12および上ハウジング13を含む。下ハウジング12は、図1において上ハウジング13の下に位置して、基板2に直接取り付けられる。また、下ハウジング12の上面22には、上ハウジング13の下面23が接する。また、キャビティ14は、下ハウジング12に形成された下キャビティ24と、上ハウジング13に形成された上キャビティ25とで構成される。
また、下ハウジング12には、2つのアンカ圧入スリット19および2つの可動片スリット28が、下キャビティ24と連通して形成される。また、後述する図5に示すように、可動片スリット28の下端部が規制凹部27として機能し、且つ、この規制凹部27より下へ延びた溝により固定凹部26が形成される。なお、2つのアンカ圧入スリット19および2つの可動片スリット28はそれぞれ、円柱形状の下キャビティ24について回転対称となる配置で(すなわち180度毎の配置で)形成される。
図3および図4は、キャビティ14に収容される同軸端子51の分解図である。
同軸端子51は、中心端子52と、外端子61と、中心端子52を絶縁状態にて外端子61に保持させる絶縁体41とを含み、図2に示すようにハウジング11に形成されたキャビティ14に収容される。なお、中心端子52は、後述する図16に示す同軸プラグ161の軸端子162と嵌合され、外端子61は、同軸プラグ161の周端子163と嵌合される。
中心端子52は、図4に示すように、中心導体53、図示外の中心コイルスプリングおよび軸形コンタクト59を含み、これらは導電性材料を用いて形成される。中心導体53は略軸形状を有する。中心導体53の上部には、同軸プラグ161の軸端子162を挟む嵌合部55が形成される。また、軸形状の中心導体53の下面には中心穴56が形成され、この中心孔56に中心コイルスプリングおよび軸形コンタクト59の一端が挿入される。
絶縁体41は、図4に示すように同軸の大径部および小径部からなる円筒形状を有する。円筒形状の絶縁体41の中心には中心孔42が形成され、この中心孔42に中心端子52が挿入される。
外端子61は、図3および図4に示すように、外導体62、外コイルスプリング71および筒形コンタクト81を含み、これらは金属板などの導電性材料を用いて形成される。外導体62は、一対のアンカ63が突出した胴体部64と、胴体部64の上に形成された嵌合部66と、胴体部64の下に形成された細筒部67とを含み、その全体が略円筒形状に形成されている。嵌合部66は、4つの板バネ65により同軸プラグ161の周端子163を挟む構造を有する。細筒部67は胴体部64より細く形成されて、外コイルスプリング71および筒形コンタクト81に挿入される。
筒形コンタクト81は、図3に示すように、細筒部67が挿入できる円筒に形成されて、外端子61の軸方向に移動可能である。また、筒形コンタクト81には、突起部84と、2つの可動片85と、2つの突出接点83とが形成される。突起部84は、筒形コンタクト81の円筒の上縁部から突出して、円筒の上縁部に段差形状を形成する。可動片85は、筒形コンタクト81の円筒上部の外面から突出する。突出接点83は、円筒の下端から突出する。なお、2つの可動片85および2つの突出接点83はそれぞれ、筒形コンタクト81の円筒の外周面において回転対称となる配置で(すなわち180度毎の配置で)形成される。
そして、同軸端子51を組み立てる場合、まず絶縁体41の中心孔42に中心端子52を挿入し、さらに絶縁体41を外導体62に挿入する。これにより、図3に示すように、外導体62に中心端子52および絶縁体41が組み付けられる。以下、この中心端子52および絶縁体41が組み付けられた外導体62をサブアセンブリと呼ぶ。
次に、図5〜図8を参照しながら、図1のコネクタ1の組み立て工程を説明する。まず、図5に示すように筒形コンタクト81を下キャビティ24に挿入する。このとき、筒形コンタクト81の可動片85を、下ハウジング12の可動片スリット28に挿入する。これにより、可動片85は、可動片スリット28の下端部を構成する固定凹部26に収容される。
次に、図6に示すように外コイルスプリング71を下キャビティ24に挿入する。これにより、外コイルスプリング71は、下キャビティ24内で筒形コンタクト81の上に配置される。また、外コイルスプリング71についての下側にある巻線の一端は、筒形コンタクト81の突起部84に当接可能となる。
次に、図7に示すようにサブアセンブリを下キャビティ24に挿入する。このとき、一対のアンカ63を、下ハウジング12に形成された一対のアンカ圧入スリット19に圧入する。これにより、サブアセンブリは下ハウジング12に固定される。また、同軸端子51の中心端子52および外端子61は同軸構造となる。
また、一対のアンカ63をアンカ圧入スリット19に圧入した状態では、外コイルスプリング71は、外導体62と筒形コンタクト81との間に挟まれて圧縮される。そのため、外コイルスプリング71の巻線の下側の一端が筒形コンタクト81の突起部84に押付けられ、且つ、巻線の上側の他端が外導体62の固定片69に押付けられる。なお、サブアセンブリを捻り込みながら下キャビティ24に対して挿入することで、同様の押付け状態を生じさせるようにしてもよい。
そして、外導体62は一対のアンカ63がアンカ圧入スリット19に圧入されて下キャビティ24(キャビティ14)内で回転しない状態にあるので、圧縮された外コイルスプリング71が筒形コンタクト81の突起部84を押して、固定凹部26に挿入されていた可動片85は、固定凹部26内に位置決めされる。
その後、図8に示すように下ハウジング12に上ハウジング13を重ねる。これにより、同軸端子51が上キャビティ25および下キャビティ24からなるキャビティ14に収容されて、図1のコネクタ1が組み立てられる。このとき、外導体62と筒形コンタクト81とは、これらに圧接された外コイルスプリング71により常に電気的に導通する。
また、同軸端子51がキャビティ14に収容された状態では、外コイルスプリング71の下向きの付勢力により、筒形コンタクト81の下端は下ハウジング12の下面12aから突出する。この下ハウジング12の下面12aから突出した筒形コンタクト81の2つの突出接点83が図1の基板2のランド151と接する。筒形コンタクト81は細筒部67(外端子61)の軸方向に沿って移動可能であり、且つこの移動により下ハウジング12の下面12aからの突出量を変化できる。同様に、中心コイルスプリングの下向きの付勢力により、軸形コンタクト59の下端も下ハウジング12の下面12aから突出する。この下ハウジング12から突出した軸形コンタクト59が図1の基板2のランド151と接する。また、軸形コンタクト59も中心端子52の軸方向に沿って移動可能であり、且つこの移動により下ハウジング12の下面12aからの突出量を変化できる。
次に、図9〜図15を参照しながら、図1のコネクタ1を基板2に取り付ける方法を説明する。なお、図10〜図13の各状態は、図9(A)〜(D)の各状態と1対1に対応する。また、図14の底面図は図9(A)の状態に対応し、図15の底面図は図9(C)に対応する。
まず、図9(A)に示すように、筒形コンタクト81の一対の突出接点83および軸形コンタクト59を基板2のランド151に接触させる。このとき、図10に示すように、筒形コンタクト81の可動片85は、ハウジング11の固定凹部26と係合している。
次に、ハウジング11を基板2へ押し付ける。これにより、図9(B)〜(D)に示すように、筒形コンタクト81および軸形コンタクト59は、ハウジング11内へ押し込まれる。そして、図9(D)に示すように、ハウジング11の底面12aが基板2と接する。これにより、コネクタ1は基板2に取り付けられる。
このようにハウジング11を基板2へ押し付けることで、筒形コンタクト81は、ランド151に圧接されたまま、外コイルスプリング71の付勢力に抗してハウジング11内へ押し込まれる。また、図示していない中心コイルスプリングにより押下されている軸形コンタクト59も、ランド151に圧接されたまま、中心コイルスプリングの付勢力に抗してハウジング11内へ押し込まれる。
筒形コンタクト81がハウジング11内へ押し込まれることにより、可動片スリット28に挿入された可動片85は、図10〜図13に示すように可動片スリット28内を上へ向かって移動する。具体的には、図10のように固定凹部26と係合していた可動片85は、上へ向かって移動し始めると、図11に示すように固定凹部26との係合が解除されて、圧縮された状態にあるために伸長しようとする外コイルスプリング71の力によって筒形コンタクト81とともに回転し、図12に示すように規制凹部27と係合し、さらに、図13に示すように規制凹部27と係合したまま可動片スリット28内を上へ向かって移動する。なお、図14および図15の底面図に示すように、筒形コンタクト81は時計回りに回転する。
また、図11の状態から図12の状態へ変化する間に、外コイルスプリング71の力によって筒形コンタクト81が回転するので、図9(B)および図9(C)に示すように、突出接点83は、基板2のランド151と接したまま、ランド151上を移動する。また、この間においても、筒形コンタクト81には圧縮された外コイルスプリング71により下向きの力が作用しているので、突出接点83はランド151と擦りあわされる。これにより、一対の突出接点83およびランド151の表面の酸化膜を剥がしたり、これらの間に挟まった塵を取り除くことができる。
図16は、本実施の形態のコネクタ1に取り付けられるホルダ3を示す斜視図である。ホルダ3は、ホルダ121を含む。ホルダ121には、コネクタ1の複数の同軸端子51と対応する配置にて複数のキャビティ123が形成される。キャビティ123には同軸プラグ161が挿入される。同軸プラグ161は、軸端子162と、軸端子162を囲んで且つ軸端子162と同軸に配設された周端子163とを含む。
図17は、基板2に取り付けられたコネクタ1に対して、ホルダ3を嵌合した状態を示す断面図である。そして、この嵌合状態では、ホルダ3の同軸プラグ161は、コネクタ1の同軸端子51と嵌合する。具体的には、同軸プラグ161の軸端子162が中心導体53の嵌合部55に押し込まれる。これにより、同軸プラグ161の軸端子162は、中心端子52を介して確実に基板2のランド151と電気的に接続される。また、同軸プラグ161の周端子163が外導体62の嵌合部66の複数の板バネ65の間に押し込まれて、複数の板バネ65を押し広げる。これにより、同軸プラグ161の周端子163は、外端子61を介して確実に基板2のランド151と電気的に接続される。
以上のように、本実施の形態のコネクタ1は、図9(A)の接触状態にあるハウジング11を基板2に対して押し込むことにより、図10〜図13に示すように筒形コンタクト81がハウジング11に押し込まれながら回転し、図9(D)に示すように基板2に取り付けられる。そのため、図9(A)において基板2のランド151と接触した一対の突出接点83は、図9(B)の状態から図9(C)の状態へ変化するまでの間において、ランド151上を移動してランド151を擦る。これにより、一対の突出接点83およびランド151に対するワイピングを実施できる。
このように本実施の形態のコネクタ1では、コネクタ1の端子が同軸端子51であるにもかかわらず、コネクタ1を基板2に取り付ける際にワイピングを実施できる。そして、このワイピングにより、一対の突出接点83およびランド151の表面から酸化膜を削り取ったり、これらの間に挟まった塵を取り除いたりできるので、同軸端子51とランド151との接触抵抗の増加を防止できる。
また、外コイルスプリング71により筒形コンタクト81をランド151に圧接させているので、ハウジング11が基板2に取り付けられる前に一対の突出接点83をランド151に接触させたり、ワイピングの際に所望の圧接力で一対の突出接点83をランド151に圧接させたり、ハウジング11を基板2に取り付けた状態での一対の突出接点83とランド151との接触抵抗を減じたりできる。
また、一対の突出接点83は、筒形コンタクト81の円筒形状に対して回転対称となる位置に配置されている。これにより、筒形コンタクト81とランド151との接触箇所を一対の突出接点83に制限することができ、筒形コンタクト81を確実にランド151に接触させることができる。しかも、基板2に形成するランド151は、一対の突出接点83がワイピングする範囲について形成すれば良くなり、たとえば筒形コンタクト81の筒形に対応したドーナッツ形状などで形成する必要が無くなる。また、筒形コンタクト81は基板2のランド151以外の箇所を誤ってワイピングしないようにできる。
コネクタ1の端子を同軸端子51にしているので、複数の同軸端子51間のクロストークを抑えることができる。その結果、このコネクタ1では、信号の高周波成分を伝送するために十分な性能が得られる。そして、IC検査装置などにおいて、検査対象のICが装着された被検査基板と、信号発生回路やコンパレータなどが実装された測定基板とを、半田付けすることなく同軸ケーブルで接続するためにコネクタ1を使用できる。
なお、本実施の形態では、筒形コンタクト81に一対の突出接点83を形成しているが、突出接点83は1つであっても3つ以上であってもよい。また、筒形コンタクト81に複数の突出接点83を形成する場合に、その複数の突出接点83は筒形の筒形コンタクト81に対して回転対称以外の配置で配設されてもよい。
また、本実施の形態では、筒形コンタクト81の突起部84は圧縮された外コイルスプリング71により押されているが、伸長された外コイルスプリング71により突起部84を引くことにより、筒形コンタクト81を回転させるようにしてもよい。
また、本実施の形態では、筒形コンタクト81の可動片85と係合する固定凹部26および規制凹部27がハウジング11に形成されているが、固定凹部26および規制凹部27は、少なくともそのいずれか一方が同軸端子51についての筒形コンタクト81以外の部分(たとえば外導体62など)に形成されてもよい。また、固定凹部26および規制凹部27は、少なくともそのいずれか一方が固定凸部であってもよい。
図18に、変形例に係るコネクタ1の部分分解斜視図を示す。このコネクタ1の外端子61は、外導体62、外コイルスプリング71、筒形コンタクト81およびカバー225を含む。カバー225は、スプリング71および筒形コンタクト81の外形より大きい内径の円筒形状を有し、組み立てた状態では、その内部にスプリング71および筒形コンタクト81の上部が収容できる。また、カバー225は、その筒形の上縁に形成されたスリット228により固定片と係合され、回転しないように配設される。さらに、カバー225は、その筒形の下縁に固定凹部226および規制凹部227が形成され、これらに筒形コンタクト81の可動片85が収容される。この構成では、筒形コンタクト81がハウジング11の下面12aから突出した状態では、可動片85が固定凹部226と当たり、筒形コンタクト81は回転しない。そして、基板2に取り付ける際に筒形コンタクト81がハウジング11に押し込まれることで、可動片85が固定凹部226から規制凹部227へ移動し、外コイルスプリング71のバネ力により筒形コンタクト81が回転する。
また、本実施の形態では、筒形コンタクト81に対してハウジング11から突出させる力を作用させるために外コイルスプリング71を使用している。この他にもたとえば、板バネなどを使用して筒形コンタクト81に付勢力を作用させてもよい。また、この板バネは、たとえばハウジング11の一部を板バネ構造に形成すればよい。
本発明の同軸コネクタは、基板に取り付ける際に基板のランドと接触される筒形コンタクトを回転させてワイピングできる。したがって、筒形コンタクトと基板のランドとを低い接触抵抗により電気的に接続できる。そのため、本発明の同軸コネクタは、たとえばIC検査装置などにおいて、検査対象のICが装着された被検査基板と、信号発生回路やコンパレータなどが実装された測定基板とを同軸ケーブルで接続するためのコネクタなどで利用できる。
図1は、本発明の実施の形態のコネクタおよび基板の斜視図である。 図2は、図1のコネクタの部分分解斜視図である。 図3は、図2のハウジングおよび同軸端子の部分分解斜視図である(その1)。 図4は、図3の同軸端子の部分分解斜視図である(その2)。 図5は、図1のコネクタの部分組立工程図である(その1)。 は、図1のコネクタの部分組立工程図である(その2)。 は、図1のコネクタの部分組立工程図である(その3)。 は、図1のコネクタの部分組立工程図である(その4)。 図9(A)〜(D)は、図1のコネクタを基板に取り付けるときの状態説明図である。 図10は、図9(A)に対応したコネクタの部分透視斜視図である。 図11は、図9(B)に対応したコネクタの部分透視斜視図である。 図12は、図9(C)に対応したコネクタの部分透視斜視図である。 図13は、図9(D)に対応したコネクタの部分透視斜視図である。 図14は、図9(A)の状態のコネクタの部分底面図である。 図15は、図9(C)の状態のコネクタの部分底面図である。 図16は、図1のコネクタに接続されるホルダの斜視図である。 図17は、図16のホルダを図9(D)の状態のコネクタに接続した状態を示す縦断面図である。 図18は、本発明の変形例のコネクタのハウジングおよび同軸端子の部分分解斜視図である。 図19は、従来の同軸型可動接触端子を示す断面図である。 図20は、図19の同軸型可動接触端子の使用状態を示す図である。
符号の説明
1 コネクタ
11 ハウジング
12 下ハウジング
13 上ハウジング
14 キャビティ
19 アンカ圧入スリット
22 下ハウジングの合わせ面
23 上ハウジングの合わせ面
24 下キャビティ
25 上キャビティ
26 固定凹部(固定部)
27 規制凹部(規制部)
28 可動片スリット

41 絶縁体
42 中心孔

51 同軸端子

52 中心端子
53 中心導体
54 板バネ
55 嵌合部
56 中心穴
59 軸形コンタクト

61 外端子
62 外導体
63 アンカ
64 胴体部
65 板バネ
66 嵌合部
67 細筒部
68 加工孔
69 固定片
71 外コイルスプリング
81 筒形コンタクト
83 突出接点
84 突起部(突起)
85 可動片(可動部)

2 基板
111 貫通孔
151 ランド

225 カバー
226 固定凹部(固定部)
227 規制凹部(規制部)
228 スリット

3 ホルダ
121 ホルダ
123 キャビティ
161 同軸プラグ
162 軸端子
163 周端子

801 被検査基板
802 可動板
814 キャビティ
851 同軸型可動接触端子
852 中心導体
861 外部導体
961 同軸コネクタ(同軸プラグ)
962 同軸ケーブル

Claims (4)

  1. ランドを有する基板に取り付けられる同軸コネクタであって、
    中心端子およびそれを囲む筒形の外端子による同軸構造を有する同軸端子と、
    上記同軸端子を収容するハウジングと、
    上記外端子の軸方向に沿って移動可能で且つ上記ランドと接触される筒形コンタクトと、
    上記ハウジングから突出させるように上記筒形コンタクトを付勢する付勢部材と、
    上記付勢部材の付勢力に抗して上記筒形コンタクトが上記ハウジングへ押し込まれるときに上記筒形コンタクトを上記軸を中心に回転させる機構とを含み、
    上記付勢部材は、上記同軸端子と同軸に配設されたコイルスプリングであり、
    上記筒形コンタクトを回転させる機構は、上記同軸端子または上記ハウジングに形成された固定部と、上記筒形コンタクトに形成されて上記固定部と係合する可動部と、上記筒形コンタクトに形成されて且つ上記コイルスプリングの一端が接触する突起を含み、
    上記筒形コンタクトが上記ハウジングへ押し込まれて上記固定部と上記可動部との係合が解除され、上記コイルスプリングの伸縮によって上記突起が引かれまたは押されることにより上記筒形コンタクトが回転する同軸コネクタ。
  2. 上記コイルスプリングは、圧縮された状態で上記突起と接する請求項1記載の同軸コネクタ。
  3. 上記筒形コンタクトを回転させる機構は、さらに、
    上記同軸端子または上記ハウジングに形成されて、上記固定部との係合が解除された上記可動部と係合する規制部を含む請求項1又は2に記載の同軸コネクタ
  4. 上記筒形コンタクトは、筒形に対して回転対称に突出して且つ上記ランドと接する複数の突起接点を有する請求項1〜3のいずれか一項記載の同軸コネクタ。
JP2008327309A 2008-12-24 2008-12-24 同軸コネクタ Expired - Fee Related JP5243946B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008327309A JP5243946B2 (ja) 2008-12-24 2008-12-24 同軸コネクタ
US13/142,185 US8333595B2 (en) 2008-12-24 2009-12-21 Coaxial connector
KR1020117017197A KR20110097993A (ko) 2008-12-24 2009-12-21 동축 커넥터
PCT/US2009/069001 WO2010075285A1 (en) 2008-12-24 2009-12-21 Coaxial connector
CN200980156017.3A CN102301539B (zh) 2008-12-24 2009-12-21 同轴连接器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008327309A JP5243946B2 (ja) 2008-12-24 2008-12-24 同軸コネクタ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010153082A JP2010153082A (ja) 2010-07-08
JP2010153082A5 JP2010153082A5 (ja) 2011-12-08
JP5243946B2 true JP5243946B2 (ja) 2013-07-24

Family

ID=41820644

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008327309A Expired - Fee Related JP5243946B2 (ja) 2008-12-24 2008-12-24 同軸コネクタ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8333595B2 (ja)
JP (1) JP5243946B2 (ja)
KR (1) KR20110097993A (ja)
CN (1) CN102301539B (ja)
WO (1) WO2010075285A1 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5133196B2 (ja) * 2008-10-10 2013-01-30 モレックス インコーポレイテド プローブコネクタ
JP5243946B2 (ja) * 2008-12-24 2013-07-24 モレックス インコーポレイテド 同軸コネクタ
US8430675B2 (en) * 2011-06-24 2013-04-30 Tyco Electronics Corporation Edge mount electrical connector
JP5849185B2 (ja) * 2011-10-14 2016-01-27 パナソニックIpマネジメント株式会社 アンテナソケット
US9106035B2 (en) 2012-06-25 2015-08-11 Dish Network L.L.C. RF connector with push-on connection
US9246244B2 (en) * 2012-06-25 2016-01-26 Dish Network L.L.C. RF connector with push-on connection
DE202012010365U1 (de) * 2012-10-29 2012-11-13 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Kontaktelement und Kontaktvorrichtung
JP2015078931A (ja) * 2013-10-17 2015-04-23 富士通コンポーネント株式会社 コネクタ
JP6041107B2 (ja) * 2014-09-16 2016-12-07 Smk株式会社 フローティング機構付き同軸コネクタ
US10101363B2 (en) * 2015-04-12 2018-10-16 Keysight Technologies, Inc. Coaxial connector locking bracket
US9762007B2 (en) 2016-02-10 2017-09-12 Dish Network L.L.C. Push on connector
US10302676B2 (en) * 2016-03-18 2019-05-28 Tektronix, Inc. Flexible resistive tip cable assembly for differential probing
DE102016006923B4 (de) 2016-06-06 2022-05-05 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Koaxialsteckverbinder
WO2017223416A1 (en) * 2016-06-24 2017-12-28 Molex, Llc Power connector with terminal
KR101826838B1 (ko) * 2016-09-19 2018-02-08 주식회사 이너트론 커넥터 및 이를 포함하는 통신 컴포넌트
CN110088632B (zh) * 2016-12-22 2021-07-30 株式会社村田制作所 探测器构造
CN107317135A (zh) * 2017-07-28 2017-11-03 深圳市深台帏翔电子有限公司 终端设备及其集成连接器
KR101895012B1 (ko) * 2017-10-12 2018-09-05 심민섭 삽입형 고주파수 신호 전송커넥터 및 상기 삽입형 고주파수 신호 전송커넥터를 사용하는 프로브카드
CN112740473B (zh) 2018-06-12 2023-01-10 株式会社Kmw 空腔滤波器及包括于其的连接器
CN115842230A (zh) * 2018-06-12 2023-03-24 株式会社Kmw 空腔滤波器及包括于其的连接器
WO2019240489A1 (ko) 2018-06-12 2019-12-19 주식회사 케이엠더블유 캐비티 필터 및 이에 포함되는 커넥팅 구조체
JP7152328B2 (ja) * 2019-01-30 2022-10-12 ヒロセ電機株式会社 中継電気コネクタ及び電気コネクタ組立体
US20220102892A1 (en) * 2020-09-25 2022-03-31 Intel Corporation Dual-sided socket device with corrugation structures and shield structures

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5911326A (ja) 1982-07-12 1984-01-20 Shin Etsu Chem Co Ltd エポキシ−シリコ−ン樹脂の硬化方法
JPS60123666U (ja) 1984-01-30 1985-08-20 株式会社ヨコオ 回路基板等の検査装置
US5175493A (en) * 1991-10-11 1992-12-29 Interconnect Devices, Inc. Shielded electrical contact spring probe assembly
JPH05121125A (ja) * 1991-10-30 1993-05-18 Amp Japan Ltd 同軸ケーブル用コネクタ
CA2093754C (en) 1992-04-24 1996-08-13 David T. Green Valve assembly for introducing instruments into body cavities
JPH07272810A (ja) 1994-03-31 1995-10-20 Enplas Corp Icソケット用の可動コンタクトピン装置
FR2827085B1 (fr) 2001-07-05 2004-01-30 Cinch Connecteurs Sa Organe de contact electrique destine a cooperer avec un plot d'un circuit electrique et boitier destine a recevoir un tel organe
US7411405B2 (en) * 2004-11-03 2008-08-12 Panduit Corp. Method and apparatus for reliable network cable connectivity
CN101288206A (zh) * 2005-07-02 2008-10-15 泰瑞达公司 连接器到焊盘的印刷电路板传送器及其制造方法
US7946853B2 (en) 2005-07-02 2011-05-24 Teradyne, Inc. Compliant electro-mechanical device
CN201038516Y (zh) * 2007-03-26 2008-03-19 莫列斯公司 同轴连接器
KR100874190B1 (ko) * 2007-03-29 2008-12-15 (주)기가레인 동축접촉장치
US7597588B1 (en) * 2008-05-21 2009-10-06 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Coax connector with spring contacts
JP5243946B2 (ja) * 2008-12-24 2013-07-24 モレックス インコーポレイテド 同軸コネクタ

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010075285A1 (en) 2010-07-01
JP2010153082A (ja) 2010-07-08
KR20110097993A (ko) 2011-08-31
US20110312215A1 (en) 2011-12-22
CN102301539B (zh) 2014-04-30
US8333595B2 (en) 2012-12-18
CN102301539A (zh) 2011-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5243946B2 (ja) 同軸コネクタ
JP5209460B2 (ja) 同軸コネクタ
JP5133196B2 (ja) プローブコネクタ
JP4803743B2 (ja) コネクタ
KR101239309B1 (ko) 검사용 동축 커넥터 및 리셉터클
JP2010146949A5 (ja)
JP2012113983A (ja) コネクタ及びコネクタユニット
JP2017513028A (ja) 回転可能プランジャを有する電気プローブ
JP5258543B2 (ja) コネクタ
JP2012099246A (ja) 検査用同軸コネクタ及びプローブ
JP5071587B2 (ja) 検査用同軸コネクタ
JP5243947B2 (ja) コネクタ
JP5673366B2 (ja) 半導体素子用ソケット
KR101961281B1 (ko) 양방향 도전성 모듈
JP2001307811A (ja) 電気的接続装置および接続ユニット
WO2019123809A1 (ja) 治具
JP4806692B2 (ja) ジャック
CN111817055B (zh) 连接器构造
JP7397314B2 (ja) 検査用ソケット
JP3028914B2 (ja) 同軸コネクタ
JP2011023183A (ja) ジャック側コネクタ、及びコネクタ
KR101483767B1 (ko) 스위치
JPH05121125A (ja) 同軸ケーブル用コネクタ
JPH11214061A (ja) コネクタ
JP2006172869A (ja) プラグ

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111025

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111025

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121127

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130226

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130326

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130405

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160412

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees