CN111194410B - 探测器 - Google Patents
探测器 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111194410B CN111194410B CN201880064857.6A CN201880064857A CN111194410B CN 111194410 B CN111194410 B CN 111194410B CN 201880064857 A CN201880064857 A CN 201880064857A CN 111194410 B CN111194410 B CN 111194410B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- elastic body
- plunger
- probe
- fixed
- movable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本发明提供能够精度更好地进行连接器的端子的特性检查的探测器。用于进行连接器的特性检查的探测器具备凸缘、壳体、固定柱塞、第1弹性体、可动柱塞以及第2弹性体,在可动柱塞的前端部形成有凹部,在凹部形成有供与同轴电缆电连接的探针通过的开口部,可动柱塞能在使探针的前端从开口部突出的第1位置、以及将探针的前端配置于比开口部更靠基端部侧的第2位置之间移动,第2弹性体的弹力设定得大于第1弹性体的弹力。
Description
技术领域
本发明涉及用于进行连接器的特性检查的探测器。
背景技术
以往公开有进行作为被检查体的连接器的特性检查的探测器(例如参照专利文献1)。
专利文献1的探测器是用于进行同轴连接器的特性检查的探测器,特别是进行设置有多个端子以便流通多个信号的多极连接器的特性检查。专利文献1的探测器具备能够对多极连接器的多个端子同时接触的多个中心导体。
专利文献1:国际公开第2016/072193号公报
在连接器的探测器中,寻求使端子的特性检查的精度提高。在如专利文献1的探测器那样,对多个端子使多个中心导体同时接触的情况下,容易产生端子与中心导体的位置偏移,而特性检查的精度降低。包含专利文献1中公开的那样的探测器在内,寻求能够精度更好地进行端子的特性检查的技术的开发。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供能够精度更好地进行连接器的端子的特性检查的探测器。
为了实现上述目的,本发明的探测器是用于进行连接器的特性检查的探测器,具备:凸缘,用于将所述探测器安装于设备;壳体,具有一方侧的端部亦即基端部与另一方侧的端部亦即前端部,将同轴电缆内包且沿轴向延伸;固定柱塞,固定于所述壳体的比所述基端部更靠所述前端部侧;第1弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述固定柱塞以及所述凸缘向相互远离的方向施力,可动柱塞,在比所述固定柱塞更靠所述前端部侧,在能相对于所述固定柱塞相对移动的状态下被保持;以及第2弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述可动柱塞向远离所述固定柱塞的方向施力,在所述可动柱塞的前端部形成有凹部,在所述凹部形成有供与所述同轴电缆电连接的探针通过的开口部,所述可动柱塞能在第1位置和第2位置之间移动,在所述第1位置使所述探针的前端从所述开口部突出,在所述第2位置将所述探针的前端配置于比所述开口部更靠所述基端部侧,所述第2弹性体的弹力被设定得大于所述第1弹性体的弹力。
根据本发明的探测器,能够精度更好地进行连接器的端子的特性检查。
附图说明
本发明的这些形式与特征通过与附加的附图有关的优选实施方式相关的接下来的记述而变得清楚。
图1是实施方式1中的探测器的概略立体图。
图2是示出探测器的一部分的概略立体图。
图3是探测器的概略剖视图。
图4是探针的前端部周边的概略纵剖视图。
图5是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图6A是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图6B是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图7A是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图7B是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图8是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图9是示出实施方式2的探测器中的固定柱塞与可动柱塞的周边结构的概略纵剖视图。
图10是示出实施方式3的探测器的概略纵剖视图。
图11是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图12是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图13是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图14是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
具体实施方式
根据本发明的第1方面,提供了用于进行连接器的特性检查的探测器,具备:凸缘,用于将所述探测器安装于设备;壳体,具有一方侧的端部亦即基端部与另一方侧的端部亦即前端部,将同轴电缆内包且沿轴向延伸;固定柱塞,固定于所述壳体的比所述基端部更靠所述前端部侧;第1弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述固定柱塞以及所述凸缘向相互远离的方向施力,可动柱塞,在比所述固定柱塞更靠所述前端部侧,在能相对于所述固定柱塞相对移动的状态下被保持;以及第2弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述可动柱塞向远离所述固定柱塞的方向施力,在所述可动柱塞的前端部形成有凹部,在所述凹部形成有供与所述同轴电缆电连接的探针通过的开口部,所述可动柱塞能在第1位置和第2位置之间移动,在所述第1位置使所述探针的前端从所述开口部突出,在所述第2位置将所述探针的前端配置于比所述开口部更靠所述基端部侧,所述第2弹性体的弹力被设定得大于所述第1弹性体的弹力。
根据这样的结构,能够使第2弹性体的压缩相对于第1弹性体的压缩延迟,且延迟探针从可动柱塞的开口部突出的定时。由此,能够抑制连接器的端子与探针的位置偏移,而能够抑制在连接器的引导时因与连接器的接触而探针错误地受损,而能够精度更好地进行连接器的端子的特性检查。
根据第1方面提供的探测器,在本发明的第2方面中,所述凸缘具备供所述壳体通插的贯通孔,且能在所述壳体的所述基端部与所述固定柱塞之间移动。根据这样的结构,壳体以及其周围的部件能够根据连接器的位置来变更姿势。
根据第1方面或第2方面提供的探测器,在本发明的第3方面中,所述第1弹性体的弹性系数被设定得大于所述第2弹性体的弹性系数。根据这样的结构,在第2弹性体的压缩开始之后,能够使第2弹性体的压缩相对于第1弹性体的压缩优先产生。
根据第1方面至第3方面中任一方面提供的探测器,在本发明的第4方面中,所述第1弹性体以及所述第2弹性体均是弹簧。根据这样的结构,由于若为弹簧则容易进行弹簧载荷以及长度的调节,因此设计的自由度较高。
根据第4方面提供的探测器,在本发明的第5方面中,在所述固定柱塞的前端部设置有外侧突出部,所述外侧突出部向与所述轴向交叉的方向亦即横向的外侧突出,在所述可动柱塞的基端部设置有内侧突出部,所述内侧突出部向所述横向的内侧突出且从所述固定柱塞的基端部侧与所述固定柱塞的所述外侧突出部抵接,所述第2弹性体配置在所述固定柱塞的周围且配置为与所述可动柱塞的所述内侧突出部抵接而从所述可动柱塞承载压缩力。根据这样的结构,通过由固定柱塞的外侧突出部来限制可动柱塞的内侧突出部的移动,从而能够防止可动柱塞的脱落。
根据第4方面提供的探测器,在本发明的第6方面中,在所述固定柱塞的前端部设置有内侧突出部,所述内侧突出部向与所述轴向交叉的方向亦即横向的内侧突出,在所述可动柱塞的基端部设置有外侧突出部,所述外侧突出部向所述横向的外侧突出且从所述固定柱塞的基端部侧与所述固定柱塞的所述内侧突出部抵接,所述第2弹性体配置为与所述可动柱塞的所述外侧突出部抵接而从所述可动柱塞承载压缩力。根据这样的结构,通过由固定柱塞的内侧突出部来限制可动柱塞的外侧突出部的移动,从而能够防止可动柱塞的脱落。
根据第1方面至第3方面中任一方面提供的探测器,在本发明的第7方面中,所述第1弹性体是弹簧,所述第2弹性体是弹性橡胶。根据这样的结构,由于弹性橡胶与弹簧相比能够缩短轴向的长度,因此能够实现小型化。另一方面,通过将第1弹性体设为弹簧,从而能够使与壳体整体的滑动有关的行程较长。
根据第7方面提供的探测器,在本发明的第8方面中,所述固定柱塞具备:第1固定柱塞部,具有向与所述轴向交叉的方向亦即横向的外侧突出以便承载所述第1弹性体的外侧突出部;以及第2固定柱塞部,固定于所述外侧突出部且延伸为将所述第2弹性体以及所述可动柱塞内包,具有向所述横向的内侧突出且与所述可动柱塞的前端面抵接的内侧突出部。根据这样的结构,通过由内侧突出部来限制可动柱塞的移动,从而能够防止可动柱塞的脱落。另外,通过设置第2固定柱塞部以便将第2弹性体包围,从而能够抑制第2弹性体亦即弹性橡胶的随时间劣化。
根据第1方面至第8方面中任一方面提供的探测器,在本发明的第9方面中,在所述可动柱塞位于所述第2位置的状态下,所述第1弹性体以及所述第2弹性体处于压缩得比各自的自然长度短的状态。根据这样的结构,通过将各个弹性体设为压缩状态,从而与第1弹性体以及第2弹性体中的任一个为自然长度的情况相比,能够将第1弹性体以及第2弹性体保持在精度较好地定位后的状态。
在以下,基于附图,对本发明所涉及的实施方式详细地进行说明。
(实施方式1)
图1~图3是示出实施方式1中的探测器2的概略结构的图。图1是示出探测器2的概略立体图,图2是示出探测器2的一部分的概略立体图,图3是探测器2的概略纵剖视图。
探测器2是进行具有多个端子的连接器(多极连接器)3的特性检查的检查器具。探测器2具备柱塞4、同轴电缆6、凸缘8、壳体9、第1弹性体10、第2弹性体12以及测定连接器13。
柱塞4是用于嵌合于连接器3并对连接器3定位的部件。柱塞4具备固定柱塞14和可动柱塞16。
如图3所示,固定柱塞14是固定于壳体9的外周部的部件。固定柱塞14被压入固定于壳体9的前端部21。固定柱塞14具备筒状的主体部14A、以及突出为从主体部14A向径向外侧拓展的第1外侧突出部14B以及第2外侧突出部14C。所谓径向外侧是指与轴向A交叉的方向亦即横向(在本实施方式1中是与轴向A正交的方向)的外侧。第1外侧突出部14B设置于主体部14A的基端侧,第2外侧突出部14C设置于主体部14A的前端部。
在比固定柱塞14更靠轴向A的前端侧,可动柱塞16是以能够相对于固定柱塞14相对移动的状态被保持的部件。可动柱塞16具备筒状的主体部16A、以及突出为从主体部16A的基端部向径向内侧拓展的内侧突出部16B。所谓径向内侧是指与轴向A交叉的方向亦即横向(在本实施方式1中是与轴向A正交的方向)的内侧。
设置于主体部16A的基端部的内侧突出部16B从基端侧(即从固定柱塞14的基端部侧)接触上述固定柱塞14的第2外侧突出部14C。另一方面,在主体部16A的前端部形成有用于使连接器3嵌合的凹部17(图2、图3)。凹部17周边的详细的结构在后叙述。
在固定柱塞14的主体部14A的内侧通插有多个同轴电缆6。在本实施方式1中,例示设置有2根同轴电缆6的形态,但根数不限于此。
同轴电缆6是与上述测定连接器13电连接的棒状的部件。同轴电缆6也与后述探针18电连接,且具有流通探针18与测定连接器13之间的信号的功能。
凸缘8是用于将探测器2安装于规定的设备(未图示)的部件。作为设备例如存在用于基于连接器3的特性检查的结果将安装有连接器3的印刷电路基板进行分选的分选机等,但不限于此。如图3所示,凸缘8通过被壳体9通插而嵌合。具体而言,在凸缘8形成有基于倾斜为朝着下方向内侧收窄的倾斜面的贯通孔20,壳体9的基端部22嵌合于贯通孔20。
壳体9是通插而嵌合于凸缘8的贯通孔20且保持上述固定柱塞14等的部件。壳体9形成为将同轴电缆6内包且沿轴向A延伸的筒状,具备基端部22与筒状部24。
基端部22是通插而嵌合于上述凸缘8的贯通孔20的部分。基端部22具有根据形成贯通孔20的凸缘8的倾斜面而倾斜为朝着下方向内侧收窄的外表面。
筒状部24是延伸至比基端部22靠前端侧的部分。在筒状部24的外周部安装有第1弹性体10、第2弹性体12、固定柱塞14、可动柱塞16以及环25。筒状部24的前端构成壳体9的前端部21。
如图1、图3等所示,第1弹性体10是设置于凸缘8与固定柱塞14之间的弹性体。第1弹性体10将凸缘8与固定柱塞14向相互远离的方向(轴向A)施力。本实施方式1中的第1弹性体10在图3所示的状态中处于在轴向A上被压缩的状态,变得比自然长度短。处于压缩状态的第1弹性体10具有趋向于朝着自然长度延伸的弹力F1。弹力F1作为将凸缘8与固定柱塞14向相互远离的方向施力的作用力而发挥作用。
本实施方式1中的第1弹性体10被设置为与环25和固定柱塞14的第1外侧突出部14B接触,该环25被设置为与凸缘8的下表面接触。
第2弹性体12是设置于固定柱塞14与可动柱塞16之间的弹性体。第2弹性体12将可动柱塞16向远离固定柱塞14的方向(轴向A)施力。与第1弹性体10相同地,第2弹性体12在图3所示的状态下在轴向A上被压缩,而变得比自然长度短。处于压缩状态的第2弹性体12具有趋向于朝着自然长度延伸的弹力F2,弹力F2作为将可动柱塞16向远离固定柱塞14的方向施力的作用力而发挥作用。
本实施方式1中的第2弹性体12被设置为与固定柱塞14的第1外侧突出部14B、和可动柱塞16的内侧突出部16B接触。
本实施方式1中的第1弹性体10以及第2弹性体12均是螺旋状的弹簧。第1弹性体10以及第2弹性体12均分别具有弹性系数k1、k2,而在图3所示的嵌合状态下,比自然长度收缩了收缩量x1、x2。上述第1弹性体10的弹力F1能够概算为将弹性系数k1与收缩量x1相乘而得到的值,第2弹性体12的弹力F2能够概算为将弹性系数k2与收缩量x2相乘而得到的值。此外,弹性系数也可以称为“弹性率”、“弹性常数”。第1弹性体10的弹力F1以及第2弹性体12的弹力F2的大小例如能够通过对第1弹性体10以及第2弹性体12缓缓地施加载荷,而看哪一方先位移来判定。例如,在第1弹性体10先位移了的情况下,能够判定为第1弹性体10的弹力F1比第2弹性体12的弹力F2小。
在本实施方式1中,第1弹性体10以及第2弹性体12均由弹簧构成,由于若为弹簧则容易进行弹力以及长度的调节,因此设计的自由度较高而能够使便利性提高。此外,在弹簧的情况下,弹性系数也能够通过“弹簧常数”代替。
特别地,在本实施方式1中,第1弹性体10的弹力F1设定为比第2弹性体12的弹力F2小。具体而言,设定第1弹性体10的弹性系数k1、收缩量x1以及第2弹性体12的弹性系数k2、收缩量x2,使得弹力F1比弹力F2小。根据这样的设定,在后述的那样将连接器3在凹部17配置而引导时,能够先使第1弹性体10压缩来使壳体9整体滑动,之后延迟地使第2弹性体12的压缩产生。由此,能够延迟探针18与连接器3接触的定时,能够抑制探针18因在连接器3的引导中与连接器3的接触而错误地损伤。详细内容在后叙述。
探针18是与连接器3的端子接触而电导通的针状的部件。探针18配置于固定柱塞14的主体部14A的内侧以及可动柱塞16的内侧。探针18被未图示的周围的树脂固定。在本实施方式1中设置有3根以上的探针18,但根数不限于此。
探针18的一方侧的端部与基板26接触。基板26是使探针18与同轴电缆6电导通的部件。基板26具有用于在同轴电缆6的间距、根数与探针18的间距、根数不同的情况下将两者电连接的布线,同轴电缆6以及探针18连接于该布线。在同轴电缆6的间距、根数与探针18的间距、根数相同的情况等下,也可以不设置基板26,而使同轴电缆6与探针18直接接触。
探针18的另一方侧的端部(前端)配置于开口部28的附近,该开口部28设置于位于可动柱塞16的前端部32的凹部17。开口部28是设置于可动柱塞16的前端部32的开口。在图3所示的嵌合状态下,探针18的前端配置于开口部28的内侧,而不从开口部28向外侧露出。
上述可动柱塞16被保持为能够沿轴向A移动的状态,能够在使探针18的前端从开口部28突出的第1位置、以及将探针18的前端配置于比开口部28靠内侧(基端部22侧)的第2位置之间移动。
如图3所示,在同轴电缆6的内部设置有沿轴向A延伸的弹簧30。弹簧30是在连接器3从下方接触探针18时发挥使从探针18向同轴电缆6传导的载荷缓和的功能的弹性体。作为与弹簧30不同的弹性体,设置上述第1弹性体10以及第2弹性体12。
图1所示的测定连接器13是用于将同轴电缆6连接于外部的测定器(未图示)的连接器。在本实施方式1中,与2个同轴电缆6分别对应而设置有2个测定连接器13。
接下来,使用图4,对探针18与连接器3的端子的关系进行说明。图4是探针18的前端部周边的概略纵剖视图,与图3所示的那样的壳体9的基端部22嵌合于凸缘8的贯通孔20的嵌合状态(初始状态)对应。
如图4所示,在连接器3设置有多个端子3a。即,实施方式1的连接器3是具有多个端子3a的多极连接器。设定探针18的位置,以便在连接器3配置于凹部17时,探针18的前端能够与端子3a接触。由此,能够同时使多个探针18与连接器3的多个端子3a接触,而同时进行各个端子3a的特性检查。在图4所示的初始状态下,探针18的前端位于退回至开口部28的内侧的退回位置(第2位置)。
如图4所示,在可动柱塞16的前端部32形成有用于使连接器3嵌合的凹部17。因凹部17而可动柱塞16的前端部32具有向内侧凹陷的外形。
本实施方式1的凹部17由可动柱塞16的底壁34、第1侧壁36以及第2侧壁38形成。底壁34是构成凹部17的底面的可动柱塞16的壁部。第1侧壁36是从底壁34的周围上升以便相对于底壁34正交的侧壁。第2侧壁38是从第1侧壁36的周围上升的侧壁。本实施方式1中的第2侧壁38延展以便朝着从第1侧壁36远离的方向放射状地向外侧拓展。具有这样的形状的第2侧壁38作为将连接器3向凹部17的内侧引导的引导部而发挥功能。
接下来,使用图5~图8,对将连接器3配置于凹部17来进行端子3a的特性检查的方法进行说明。图5~图8是示出将连接器3配置于凹部17的动作的概略纵剖视图。
如图5所示,首先,将连接器3接近凹部17(箭头B)。这之后,如图6A所示,连接器3开始与可动柱塞16的第2侧壁38的接触(图中左侧)。
如上所述,第2侧壁38具有倾斜为向内侧收窄的锥形形状。由此,与第2侧壁38接触的连接器3被朝着凹部17的内侧引导(箭头C)。
此时,因与连接器3的接触,而向上方的外力Fp作用于可动柱塞16。外力Fp作为将与可动柱塞16的基端部亦即内侧突出部16B接触的第2弹性体12进一步压缩的力发挥作用,并且作为将与固定柱塞14接触的第1弹性体10(图3)进一步压缩的力同时发挥作用。
在这里,第1弹性体10以及第2弹性体12均在被压缩的状态下分别具有弹力F1、F2。在上述外力Fp变得比弹力F1与弹力F2的任意一个大时,第1弹性体10与第2弹性体12的任意一方开始进一步压缩。如上所述,在本实施方式1中,第1弹性体10的弹力F1被设定得比第2弹性体12的弹力F2小。因此,第1弹性体10比第2弹性体12先开始压缩。
在图6B中示出第1弹性体10已压缩的状态。如图6B所示,由于凸缘8被固定于设备而静止,因此若第1弹性体10被压缩,则固定柱塞14、壳体9以及可动柱塞16等部件一体上升(箭头D)。
因壳体9上升,则壳体9的基端部22与凸缘8的贯通孔20的嵌合被解除。由此,壳体9及其周围的部件能够根据连接器3的位置来变更姿势。具体而言,壳体9以及其周围的部件能够在以轴向A为中心的周向R上旋转。
另一方面,在上述外力Fp比第1弹性体10的弹力F1大但比第2弹性体12的弹力F2小的阶段,如图6B所示,不产生第2弹性体12的压缩。因此,被保持为能够相对于固定柱塞14移动的可动柱塞16不移动,而维持在可动柱塞16的内侧突出部16B与固定柱塞14的第2外侧突出部14C接触的状态。
此时,可动柱塞16相对于固定柱塞14位于第2位置。即,探针18配置于上述凹部17的开口部28的内侧,而不向开口部28的外侧突出。由此,探针18的前端处于不能够与连接器3的端子3a接触的状态。通过这样的结构,能够在凹部17中的连接器3的引导中,防止探针18因与连接器3的接触而损伤。
最后,如图7A所示,连接器3被定位至凹部17的规定的测定位置。更具体而言,连接器3配置于由图4所示的底壁34以及第1侧壁36围起的位置,而与开口部28邻接。
若在该状态下将连接器3相对于可动柱塞16进一步向上方挤压,则上述外力Fp进一步变大,超过第2弹性体12的弹力F2。由此,第2弹性体12的压缩开始。
在图7B中示出第2弹性体12被压缩的状态。如图7B所示,若第2弹性体12被压缩,则可动柱塞16在轴向A上移动、上升以便相对于固定于壳体9的固定柱塞14接近(箭头E)。由此,可动柱塞16的内侧突出部16B向上方移动以便远离固定柱塞14的第2外侧突出部14C。
相对于可动柱塞16的上升,探针18与基板26一同和壳体9以及固定柱塞14一体地被保持,其上下位置被维持。可动柱塞16从将探针18的前端配置于比开口部28靠内侧的第2位置朝着使探针18的前端从开口部28突出的第1位置移动。
最后,成为图8所示的那样的状态。具体而言,因可动柱塞16的上升,而探针18的前端从凹部17的开口部28露出,并且与连接器3的端子3a抵接。通过像这样探针18与连接器3的端子3a接触,从而同轴电缆6经由探针18而与连接器3的多个端子3a导通,而能够同时进行各个端子3a的特性检查。
像这样,通过对连接器3的多个端子3a使多个探针18同时接触,从而能够同时实施多个端子3a的特性检查。由此,能够同时测定多个信号。
特别地,在本实施方式1中,将第1弹性体10的弹性系数k1设定得比第2弹性体12的弹性系数k2大。根据这样的设定,在第2弹性体12的压缩开始之后,弹性系数k2的值小的第2弹性体12与弹性系数k1的值大的第1弹性体10相比优先被压缩。像这样,能够使第2弹性体12的压缩相对于第1弹性体10的压缩优先产生,而能够更可靠地使探针18与连接器3的端子3a接触。
另外,如上述的那样,通过使可动柱塞16的内侧突出部16B从基端侧(即,从固定柱塞14的基端部侧)对固定柱塞14的第2外侧突出部14C接触,从而能够防止可动柱塞16的脱落,并且使第1弹性体10以及第2弹性体12收缩。
如上述的那样,本实施方式1的探测器2具备凸缘8、壳体9、第1弹性体1、第2弹性体12、固定柱塞14以及可动柱塞16。在这样的结构中,在可动柱塞16的前端部32形成有用于配置连接器3的凹部17。另外,在凹部17形成有供与同轴电缆6电连接的探针18通过的开口部28。并且,可动柱塞16能够在使探针18的前端从开口部28突出的第1位置、与将探针18的前端配置于比开口部28靠内侧的第2位置之间在轴向A上移动。并且,在将连接器3配置于可动柱塞16的凹部17之前的状态(壳体9与凸缘8的嵌合状态)下,可动柱塞16位于第2位置,并且,第2弹性体12的弹力F2被设定得比第1弹性体10的弹力F1大。
根据这样的结构,通过将第2弹性体12的弹力F2设定为比第1弹性体10的弹力F1大,从而若在可动柱塞16的凹部17配置连接器3而挤压可动柱塞16,则第1弹性体10先被压缩。由此,壳体9与凸缘8的嵌合被解除,而能够使壳体9接近所希望的姿势并将连接器3导向凹部17的内侧。若将连接器3相对于可动柱塞16进一步挤压,则第2弹性体12的压缩开始。通过因第2弹性体12的压缩而可动柱塞16接近固定柱塞14,从而探针18接近可动柱塞16的开口部28而与连接器3的端子3a首次接触。像这样,通过相对于第1弹性体10的压缩而延迟第2弹性体12的压缩,从而延迟探针18与连接器3的端子3a接触的定时。由此,与不设置第2弹性体12而使探针18从最初开始就突出为能够与端子3a接触的情况相比较,能够抑制连接器3的端子3a与探针18的位置偏移,并且防止在连接器3的引导时因与连接器3的接触而探针18错误地受损。由此,能够精度更好地进行连接器3的端子3a的特性检查。
(实施方式2)
使用图9,对本发明所涉及的实施方式2的探测器40进行说明。此外,在实施方式2中,主要对与实施方式1不同的点进行说明。另外,相同或者同等的结构标记相同的附图标记而省略说明。
图9是示出实施方式2的探测器40中的固定柱塞42与可动柱塞44的周边结构的概略纵剖视图。在图9中,省略凸缘8等的图示。
对实施方式2的探测器40而言,固定柱塞42被分成第1固定柱塞42A以及第2固定柱塞42B这2个部件,其之间保持有可动柱塞44以及第2弹性体50这点与实施方式1的探测器2不同。
如图9所示,在壳体46的周围配置有第1弹性体48。第1弹性体48设置于未图示的凸缘8与固定柱塞42的外侧突出部43之间。第1弹性体48将凸缘8与固定柱塞42向轴向A上相互远离的方向施力。第1弹性体48具有弹性系数k3以及收缩量x3,使弹力F3产生。
固定柱塞42具备第1固定柱塞42A、与第2固定柱塞42B。第1固定柱塞42A以及第2固定柱塞42B均压入固定于壳体46的前端部。第1固定柱塞42A设置于比第2固定柱塞42B靠径向外侧。第1固定柱塞42A具有与第1弹性体48接触的外侧突出部43。外侧突出部43是承载第1弹性体48的弹力F3的部分。第1固定柱塞42A进一步在其前端部具有向径向内侧突出的内侧突出部45。内侧突出部45是用于防止可动柱塞44的脱落的部分。
在第1固定柱塞42A与第2固定柱塞42B之间保持有可动柱塞44以及第2弹性体50。
可动柱塞44在第1固定柱塞42A与第2固定柱塞42B之间以能相对于这些固定柱塞42在轴向A上移动的状态被保持。在可动柱塞44的基端部设置有向径向外侧扩大的外侧突出部52。外侧突出部52与上述第1固定柱塞42A的内侧突出部45在轴向A上接触。
配置有第2弹性体50以与该外侧突出部52接触。第2弹性体50在轴向A上设置于第2固定柱塞42B、与可动柱塞44的外侧突出部52之间。第2弹性体50对可动柱塞44向远离第2固定柱塞42B的方向亦即下方在轴向A上施力。第2弹性体50具有弹性系数k4以及收缩量x4,使弹力F4产生。
本实施方式2中的第1弹性体48以及第2弹性体50是与实施方式1相同地被保持为在轴向A上被压缩的状态的弹簧。
在可动柱塞44的前端部形成有用于配置连接器3的凹部53。在凹部53形成有供探针18通过的开口部54。
与实施方式1相同地,可动柱塞44在使探针18从开口部54突出的第1位置、以及将探针18配置在比开口部54靠内侧的第2位置之间被保持为能在轴向A上移动。在图9中,例示了可动柱塞44位于第1位置,而探针18能够与连接器3接触的状态。
在这样的结构中,与实施方式1相同地,在将连接器3配置于可动柱塞44的凹部53之前的状态下,可动柱塞44位于第2位置,并且第2弹性体50的弹力F4设定得比第1弹性体48的弹力F3大。具体而言,设定第1弹性体48的弹性系数k3、收缩量x3以及第2弹性体50的弹性系数k4、收缩量x4,使得第2弹性体50的弹力F4比第1弹性体48的弹力F3大。根据这样的结构,与实施方式1相同地,能够相对于第1弹性体48的压缩而延迟第2弹性体50的压缩,而延迟探针18从可动柱塞44的开口部54突出的定时。由此,能够抑制在连接器3的引导时因与连接器3的接触而探针18错误地受损,而能够精度更好地进行连接器3的端子3a的特性检查。
如上述的那样,根据本实施方式1的探测器40,在固定柱塞42的前端部设置有内侧突出部45,而在可动柱塞44的基端部设置有外侧突出部52。另外,第2弹性体50配置为与可动柱塞44的外侧突出部52抵接而从可动柱塞44承载压缩力。根据这样的结构,通过由内侧突出部45来限制外侧突出部52的移动,从而能够防止可动柱塞44的脱落,并且使得第2弹性体50可以被可动柱塞44压缩。
(实施方式3)
使用图10~14,对本发明所涉及的实施方式3的探测器60进行说明。此外,在实施方式3中,主要对与实施方式1不同的点进行说明。另外,相同或者同等的结构标记相同的附图标记而省略说明。
图10是示出实施方式3的探测器60的概略纵剖视图。
对实施方式3的探测器60而言,第2弹性体68不是弹簧而是弹性橡胶,并且第2弹性体68被固定柱塞62以及可动柱塞64密封于内部这点与实施方式1不同。
如图10所示,实施方式3的探测器60具备凸缘8、壳体9、固定柱塞62、可动柱塞64、第1弹性体66、以及第2弹性体68。
固定柱塞62是固定于壳体9的前端部的部件,具备第1固定柱塞62A以及第2固定柱塞62B。
第1固定柱塞62A配置于比第2固定柱塞62B靠径向内侧,被直接压入固定于壳体9的前端部。第1固定柱塞62A具有向径向外侧突出以便与第1弹性体66接触的外侧突出部70。
第2固定柱塞62B固定于上述第1固定柱塞62A的外侧突出部70,并且向前端侧延伸以便将第2弹性体68以及可动柱塞64内包。第2固定柱塞62B在其前端部具有向径向内侧突出而与可动柱塞64的前端面抵接的内侧突出部72。内侧突出部72限制可动柱塞64的移动而防止可动柱塞64的脱落。
第1弹性体66是配置于凸缘8与第1固定柱塞62A之间的弹性体。另一方面,第2弹性体68是配置于第1固定柱塞62A与可动柱塞64之间的弹性体。相对于第1弹性体66与实施方式1相同地是弹簧,第2弹性体68是与实施方式1不同的弹性橡胶。更具体而言,圆形剖面的O型环被用作第2弹性体68。
由于第2弹性体68所使用的弹性橡胶与弹簧相比能够缩短轴向A的长度,因此能够实现探测器60的小型化。另一方面,由于第1弹性体66所使用的弹簧容易进行弹簧载荷以及长度的调节,因此设计的自由度较高,而能够使与壳体9整体的滑动有关的上下行程较长。
第2弹性体68被固定柱塞62以及可动柱塞64围起周围,而不向外侧露出。像这样,通过设置固定柱塞62以及可动柱塞64以便包围第2弹性体68,从而能够抑制第2弹性体68亦即弹性橡胶的随时间劣化。
在可动柱塞64的前端部形成有用于配置连接器3的凹部73。在凹部73形成有供探针18通过的开口部74。
与实施方式1、2相同地,可动柱塞64能够在使探针18从开口部74突出的第1位置、以及将探针18配置于比开口部74靠内侧的第2位置之间在轴向A上移动。在图10中,示出可动柱塞64位于第2位置,而探针18不能够与连接器3接触的状态。
在这样的结构中,与实施方式1、2相同地,在将连接器3配置于可动柱塞64的凹部73之前的状态下,可动柱塞64位于第2位置,而第2弹性体68的弹力F6设定得比第1弹性体66的弹力F5大。具体而言,设定第1弹性体66的弹性系数k5、收缩量x5以及第2弹性体68的弹性系数k6、收缩量x6使得第2弹性体68的弹力F6比第1弹性体66的弹力F5大。根据这样的设定,能够相对于第1弹性体66的压缩而延迟第2弹性体68的压缩,而延迟探针18从可动柱塞64的开口部74突出的定时。由此,能够抑制在连接器3的引导时因与连接器3的接触而探针18错误地受损,而能够精度更好地进行连接器3的端子3a的特性检查。
使用图11~图14,对使用上述的探测器60而将连接器3配置于凹部73来进行端子3a的特性检查的方法进行说明。图11~图14是示出将连接器3配置于凹部73的动作的概略纵剖视图。
如图11所示,首先,将连接器3接近凹部73。这之后,如图12所示,连接器3开始与构成可动柱塞16的凹部73的侧壁的接触(图中左侧)。
此时,因与连接器3的接触而向上方的外力Fq施加于可动柱塞64。如上述的那样,由于将第2弹性体68的弹力F6设定得比第1弹性体66的弹力F5大,因此第1弹性体66比第2弹性体68先开始压缩。第1弹性体66的压缩状态由于与实施方式1、2相同因此省略图示。最后,如图13所示,连接器3被定位至凹部73的规定的测定位置。
若在该状态下将连接器3相对于可动柱塞64向上方挤压,则上述外力Fq进一步变大而超过第2弹性体68的弹力F6,第2弹性体68的压缩开始。
在图14中示出第2弹性体68被压缩的状态。如图14所示,通过第2弹性体68在轴向A上被压缩,从而可动柱塞64上升,探针18的前端从凹部73的开口部74露出。由此,探针18的前端与连接器3的端子3a接触,而能够同时进行各个端子3a的特性检查。
在图14所示的状态下,因可动柱塞64的上升,从而第2固定柱塞62B的内侧突出部72从可动柱塞64的前端面远离而不接触。
以上,举出上述的实施方式1~3来对本发明进行了说明,但本发明不限定于上述的实施方式1~3。例如,在上述实施方式1~3中,对设置多个探针18来同时实施连接器3的对应的端子3a的特性检查的情况进行了说明,但不限于这样的情况。也可以根据在连接器3中希望进行特性检查的端子3a的个数,来设置与实施方式1~3不同个数的探针18。对于连接器3也并不限于具有多个端子3a的多极连接器,也可以是只具有一个端子的单极连接器。即,在与连接器3中的端子3a中的至少一个对应的位置配置探针18即可。在这样的情况下也能够起到与实施方式1~3相同的效果。
另外,在上述实施方式1中,如通过图4进行了说明的那样,对在凹部17中,第1侧壁36相对于底壁34铅直地延伸,而第2侧壁38是倾斜为朝着内侧收窄的倾斜面的情况进行了说明,但不限于这样的情况。例如,也可以第2侧壁38那样的倾斜面。在这样的情况下也能够将连接器3配置于凹部17的规定的测定位置来实施端子3a的特性检查。但是,通过如实施方式1的那样设置基于倾斜面的第2侧壁38,能够将连接器3容易地引导至规定的测定位置,能够使端子3a的特性检查中的可靠性提高。
另外,在上述实施方式1中,对第1弹性体10的弹性系数k1设定得比第2弹性体的弹性系数k2大的情况进行了说明,但不限于这样的情况。若第1弹性体10的弹力F1比第2弹性体12的弹力F2小,则也可以第1弹性体10的弹性系数k1以及第2弹性体的弹性系数k2设定为任意的值。但是,对将第1弹性体10的弹性系数k1设定得比第2弹性体的弹性系数k2大而言,在第2弹性体12的压缩开始之后,能够使第2弹性体12的压缩相对于第1弹性体10的压缩优先产生。对于实施方式2、3而言也相同。
另外,在上述实施方式1~3中,对第1弹性体10、48、66是弹簧的情况进行了说明,但并不限于这样的情况,也可以是弹簧以外的任意的弹性体。但是,由于若为弹簧则容易进行弹簧载荷以及长度的调节,因此设计的自由度较高。另外,与弹性橡胶相比较,由于能够使滑动距离较大,因此能够使与壳体9整体的滑动有关的行程较长。另外,在实施方式1、2中,对第2弹性体12、50是弹簧,在实施方式3中,对第2弹性体68是弹性橡胶的情况进行了说明,但并不限于这样的情况,也可以是任意的弹性体。此外,在如实施方式3那样将第2弹性体68设为弹性橡胶的情况下,能够减小第2弹性体68的特别是轴向A的尺寸,能够实现探测器60的小型化。
另外,在上述实施方式1中,对在固定柱塞14的前端部设置第2外侧突出部14C而在可动柱塞16的基端部设置内侧突出部16B来防止可动柱塞16的脱落的情况进行了说明,但不限于这样的情况。若是能够防止可动柱塞16的脱落的机构,则也可以采用任意的机构。但是,在固定柱塞14的前端部设置第2外侧突出部14C而在可动柱塞16的基端部设置内侧突出部16B能够通过简易的结构来防止可动柱塞16的脱落。对于实施方式2、3也相同。
另外,在上述实施方式1中,对第1弹性体10以及第2弹性体12在连接器3配置于可动柱塞16的凹部17之前的状态下处于被压缩得比各自的自然长度短的状态的情况进行了说明,但不限于这样的情况。若第1弹性体10的弹力F1比第2弹性体12的弹力F2小,则也可以是第1弹性体10与第2弹性体12各自为自然长度而未被压缩的状态。但是,将每个弹性体都设为压缩状态与第1弹性体10以及第2弹性体12的任意一个为自然长度的情况相比较,能够将第1弹性体10以及第2弹性体12保持在精度较好地定位后的状态。对于实施方式2、3也相同。
本发明虽然参照附图并结合优选实施方式充分地进行了记载,但对熟练掌握该技术的人们而言各种的变形、修正是显而易见的。这样的变形、修正只要不脱离基于所附的本发明的保护范围,就应该被理解为包含于其中。另外,各实施方式中的要素的组合、顺序的变化可以不脱离本发明的范围以及思想地实现。
此外,通过将上述各种实施方式1~3以及变形例中的任意的实施方式或者变形例适当地组合,能够起到各自所具有的效果。
产业上的可利用性
只要是进行连接器的特性检查的探测器就能够应用本发明。
附图标记说明:
2...探测器;3...连接器;3a...端子;4...柱塞;6...同轴电缆;8...凸缘;9...壳体;10...第1弹性体;12...第2弹性体;13...测定连接器;14...固定柱塞;14A...主体部;14B...第1外侧突出部;14C...第2外侧突出部;16...可动柱塞;16A...主体部;16B...内侧突出部;17...凹部;18...探针;20...贯通孔;21...前端部;22...基端部;24...筒状部;25...环;26...基板;28...开口部;30...弹簧;32...前端部;34...底壁;36...第1侧壁;38...第2侧壁;40...探测器;42...固定柱塞;42A...第1固定柱塞;42B...第2固定柱塞;43...外侧突出部;44...可动柱塞;45...内侧突出部;46...壳体;48...第1弹性体;50...第2弹性体;52...外侧突出部;53...凹部;54...开口部;60...探测器;62...固定柱塞;62A...第1固定柱塞;62B...第2固定柱塞;64...可动柱塞;66...第1弹性体;68...第2弹性体;70...外侧突出部;72...内侧突出部;73...凹部;74...开口部;k1、k2、k3、k4、k5、k6...弹性系数;x1、x2、x3、x4、x5、x6...收缩量;F1、F2、F3、F4、F5、F6...弹力;Fp、Fq...外力。
Claims (9)
1.一种探测器,用于进行连接器的特性检查,
所述探测器具备:
凸缘,用于将所述探测器安装于设备;
壳体,具有一方侧的端部亦即基端部与另一方侧的端部亦即前端部,将同轴电缆内包且沿轴向延伸;
固定柱塞,固定于所述壳体的比所述基端部更靠所述前端部侧;
第1弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述固定柱塞以及所述凸缘向相互远离的方向施力;
可动柱塞,在比所述固定柱塞更靠所述前端部侧,在能相对于所述固定柱塞相对移动的状态下被保持;以及
第2弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述可动柱塞向远离所述固定柱塞的方向施力,
在所述可动柱塞的前端部形成有凹部,在所述凹部形成有供与所述同轴电缆电连接的探针通过的开口部,
所述可动柱塞能在第1位置和第2位置之间移动,在所述第1位置使所述探针的前端从所述开口部突出,在所述第2位置将所述探针的前端配置于比所述开口部更靠所述基端部侧,
所述第2弹性体的弹力被设定得大于所述第1弹性体的弹力。
2.根据权利要求1所述的探测器,其中,
所述凸缘具备供所述壳体通插的贯通孔,且能在所述壳体的所述基端部与所述固定柱塞之间移动。
3.根据权利要求1或2所述的探测器,其中,
所述第1弹性体的弹性系数被设定得大于所述第2弹性体的弹性系数。
4.根据权利要求1或2所述的探测器,其中,
所述第1弹性体以及所述第2弹性体均是弹簧。
5.根据权利要求4所述的探测器,其中,
在所述固定柱塞的前端部设置有外侧突出部,所述外侧突出部向与所述轴向交叉的方向亦即横向的外侧突出,
在所述可动柱塞的基端部设置有内侧突出部,所述内侧突出部向所述横向的内侧突出且从所述固定柱塞的基端部侧与所述固定柱塞的所述外侧突出部抵接,
所述第2弹性体配置在所述固定柱塞的周围且配置为与所述可动柱塞的所述内侧突出部抵接而从所述可动柱塞承载压缩力。
6.根据权利要求4所述的探测器,其中,
在所述固定柱塞的前端部设置有内侧突出部,所述内侧突出部向与所述轴向交叉的方向亦即横向的内侧突出,
在所述可动柱塞的基端部设置有外侧突出部,所述外侧突出部向所述横向的外侧突出且从所述固定柱塞的基端部侧与所述固定柱塞的所述内侧突出部抵接,
所述第2弹性体配置为与所述可动柱塞的所述外侧突出部抵接而从所述可动柱塞承载压缩力。
7.根据权利要求1或2所述的探测器,其中,
所述第1弹性体是弹簧,所述第2弹性体是弹性橡胶。
8.根据权利要求7所述的探测器,其中,
所述固定柱塞具备:第1固定柱塞部,具有向与所述轴向交叉的方向亦即横向的外侧突出以便承载所述第1弹性体的外侧突出部;以及第2固定柱塞部,固定于所述外侧突出部且延伸为将所述第2弹性体以及所述可动柱塞内包,具有向所述横向的内侧突出且与所述可动柱塞的前端面抵接的内侧突出部。
9.根据权利要求1或2所述的探测器,其中,
在所述可动柱塞位于所述第2位置的状态下,所述第1弹性体以及所述第2弹性体处于压缩得比各自的自然长度短的状态。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017196356 | 2017-10-06 | ||
JP2017-196356 | 2017-10-06 | ||
PCT/JP2018/031021 WO2019069576A1 (ja) | 2017-10-06 | 2018-08-22 | プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111194410A CN111194410A (zh) | 2020-05-22 |
CN111194410B true CN111194410B (zh) | 2022-04-01 |
Family
ID=65995168
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201880064857.6A Active CN111194410B (zh) | 2017-10-06 | 2018-08-22 | 探测器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6711469B2 (zh) |
CN (1) | CN111194410B (zh) |
TW (1) | TWI686612B (zh) |
WO (1) | WO2019069576A1 (zh) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113039442B (zh) | 2018-11-19 | 2024-10-01 | 株式会社村田制作所 | 探头 |
CN113167817B (zh) * | 2018-12-13 | 2024-04-23 | 株式会社村田制作所 | 探针 |
JP2020191170A (ja) * | 2019-05-20 | 2020-11-26 | 日本航空電子工業株式会社 | コネクタ検査装置、コネクタモジュール |
CN114223098B (zh) * | 2019-10-04 | 2024-04-12 | 株式会社村田制作所 | 探头 |
JP7327659B2 (ja) * | 2020-04-22 | 2023-08-16 | 株式会社村田製作所 | 検査用コネクタ及び検査用ユニット |
JP7201129B2 (ja) * | 2020-05-28 | 2023-01-10 | 株式会社村田製作所 | プローブおよび該プローブを備えるコネクタ検査装置 |
JP7453891B2 (ja) | 2020-10-06 | 2024-03-21 | 日本航空電子工業株式会社 | 電気部品検査器具 |
JP2022085474A (ja) * | 2020-11-27 | 2022-06-08 | I-Pex株式会社 | プローブ |
JP7521614B2 (ja) | 2021-01-29 | 2024-07-24 | 株式会社村田製作所 | プローブ装置 |
CN113848515B (zh) * | 2021-05-17 | 2023-06-20 | 昆山德普福电子科技有限公司 | 探测器 |
DE102022106991A1 (de) * | 2022-03-24 | 2023-09-28 | Ingun Prüfmittelbau Gmbh | Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001296314A (ja) * | 2000-04-14 | 2001-10-26 | Nidec-Read Corp | 同軸型コンタクトプローブ |
TW201043965A (en) * | 2009-03-31 | 2010-12-16 | Nihon Micronics Kk | Semiconductor inspection device with alignment function and alignment method |
CN102110946A (zh) * | 2009-12-25 | 2011-06-29 | Smk株式会社 | 插座与接触探测器的嵌合方法及用于该方法的接触探测器 |
TW201229519A (en) * | 2010-11-17 | 2012-07-16 | Nhk Spring Co Ltd | Contact probe and probe unit |
CN102959406A (zh) * | 2010-06-25 | 2013-03-06 | 日本发条株式会社 | 接触探针及探针单元 |
CN103238077A (zh) * | 2010-11-29 | 2013-08-07 | 株式会社精研 | 接触检查用工具 |
JP2015007555A (ja) * | 2013-06-25 | 2015-01-15 | 日置電機株式会社 | プローブユニットおよび基板検査装置 |
CN107148575A (zh) * | 2014-11-07 | 2017-09-08 | 株式会社村田制作所 | 探针 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003123910A (ja) * | 2001-10-12 | 2003-04-25 | Murata Mfg Co Ltd | コンタクトプローブ及びこれを用いた通信装置の測定装置 |
JP2004247494A (ja) * | 2003-02-13 | 2004-09-02 | Tdk Corp | プローブ装置およびこれを用いた検査装置 |
JP4873559B2 (ja) * | 2007-02-07 | 2012-02-08 | 日置電機株式会社 | コンタクトプローブ |
JP5378273B2 (ja) * | 2010-03-12 | 2013-12-25 | 株式会社アドバンテスト | コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法 |
US8641446B1 (en) * | 2012-07-27 | 2014-02-04 | Chin Nan Precision Electronics Co., Ltd. | Coaxial probe |
JP6251912B2 (ja) * | 2014-12-26 | 2017-12-27 | ヒロセ電機株式会社 | 同軸プローブ |
-
2018
- 2018-08-22 JP JP2019546565A patent/JP6711469B2/ja active Active
- 2018-08-22 WO PCT/JP2018/031021 patent/WO2019069576A1/ja active Application Filing
- 2018-08-22 CN CN201880064857.6A patent/CN111194410B/zh active Active
- 2018-09-26 TW TW107133733A patent/TWI686612B/zh active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001296314A (ja) * | 2000-04-14 | 2001-10-26 | Nidec-Read Corp | 同軸型コンタクトプローブ |
TW201043965A (en) * | 2009-03-31 | 2010-12-16 | Nihon Micronics Kk | Semiconductor inspection device with alignment function and alignment method |
CN102110946A (zh) * | 2009-12-25 | 2011-06-29 | Smk株式会社 | 插座与接触探测器的嵌合方法及用于该方法的接触探测器 |
CN102959406A (zh) * | 2010-06-25 | 2013-03-06 | 日本发条株式会社 | 接触探针及探针单元 |
TW201229519A (en) * | 2010-11-17 | 2012-07-16 | Nhk Spring Co Ltd | Contact probe and probe unit |
CN103238077A (zh) * | 2010-11-29 | 2013-08-07 | 株式会社精研 | 接触检查用工具 |
JP2015007555A (ja) * | 2013-06-25 | 2015-01-15 | 日置電機株式会社 | プローブユニットおよび基板検査装置 |
CN107148575A (zh) * | 2014-11-07 | 2017-09-08 | 株式会社村田制作所 | 探针 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2019069576A1 (ja) | 2020-05-28 |
TWI686612B (zh) | 2020-03-01 |
TW201923355A (zh) | 2019-06-16 |
CN111194410A (zh) | 2020-05-22 |
WO2019069576A1 (ja) | 2019-04-11 |
JP6711469B2 (ja) | 2020-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111194410B (zh) | 探测器 | |
CN113167817B (zh) | 探针 | |
CN110088632B (zh) | 探测器构造 | |
US10197598B2 (en) | Probe | |
KR101894965B1 (ko) | 프로브 핀 및 ic 소켓 | |
WO2011096067A1 (ja) | 接触子及び電気的接続装置 | |
US10948519B2 (en) | Probe | |
US20070018666A1 (en) | Spring contact pin for an IC chip tester | |
US10317430B2 (en) | Contactor with a plurality of springs and contact point portions urged by the springs | |
KR100640626B1 (ko) | 포고 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓 | |
KR101591013B1 (ko) | 셀프결합형 프로브 핀 | |
CN113167813B (zh) | 探针嵌合构造以及探针 | |
KR101627172B1 (ko) | 하나의 절연성 몸체로 구성되는 소켓 | |
KR101183809B1 (ko) | 검사용 동축 커넥터 | |
KR101471652B1 (ko) | 인서트 및 이를 포함하는 반도체 패키지 테스트 장치 | |
KR101906575B1 (ko) | 카메라모듈 검사장치 | |
CN113273035B (zh) | 电连接器和该电连接器的检查方法 | |
KR20100095142A (ko) | 검사용 소켓 | |
CN217425649U (zh) | 探测器 | |
CN218788053U (zh) | 探头 | |
CN114223098B (zh) | 探头 | |
KR200484885Y1 (ko) | 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터 | |
CN115877169A (zh) | 用于半导体集成电路的具有阶梯环的测试插座和探针 | |
KR101476826B1 (ko) | 접속핀 및 이를 포함하는 반도체 소자 검사장치 | |
KR20170119514A (ko) | 반도체 패키지 테스트용 소켓 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |