JP7201129B2 - プローブおよび該プローブを備えるコネクタ検査装置 - Google Patents
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Description
この発明は、プローブおよび該プローブを備えるコネクタ検査装置に関する。
例えば、特許文献１は、マイクロ波解析機器用またはマイクロ波測定機器用の較正装置を開示する。特許文献１の較正装置では、標準導波管フランジおよび較正器コネクタ要素（以下、フランジという。）が、ねじやボルトの固定手段によって接合されている。上記フランジには、固定手段用孔および位置決めピン用孔が形成されている。
接合されたフランジにおいて、固定手段用孔は、厚み方向から見て、導電性の固定部材によって塞がれている。これに対して、位置決めピン用孔は、挿通される位置決めピンと係合するものの、位置決めピン用孔は、厚み方向から見て、何らかの部材で塞がれる構成になっていない。
従来の位置決めピン用孔は、その開口部の全周が閉じられた形状を有するとともに塞がれていないスロットとみなすことができる。そのため、高周波信号がケーブルに流れるとき、従来の位置決めピン用孔は、信号線路から放射される高周波の電磁波と共振する共振構造（例えば、半波長共振のスロットアンテナ）として振る舞う。位置決めピン用孔で共振した高周波の電磁波は、信号線路に放射されて、ノイズとして高周波信号に重畳される。したがって、従来の位置決めピン用孔は、ノイズの発生源になる。フランジにおける位置決めピン用孔の開口部サイズは、通常、ミリオーダーであるので、当該サイズの位置決めピン用孔は、マイクロ波帯域の高周波と共振しやすく、特性検査を精度良く行うことを妨げる。
したがって、この発明の解決すべき技術的課題は、コネクタの特性検査を精度良く行うプローブおよび該プローブを備えるコネクタ検査装置を提供することである。
上記技術的課題を解決するために、この発明によれば、以下のプローブが提供される。
すなわち、この発明に係るプローブは、
信号線路が挿通されるハウジングと、
前記信号線路が接続されてコネクタの特性検査を行うための測定端を有するプランジャと、
導電性の検査台に固定される導電性のフランジとを備え、
前記フランジは、前記ハウジングが挿通される線路用貫通孔と、前記線路用貫通孔に対して対向配置されて導電性の固定部材が挿通される少なくとも１つの固定用貫通孔とを有し、
前記フランジは、前記固定部材によって、前記検査台に対して電気的に接続されるとともに固定され、
前記固定用貫通孔が、前記フランジの厚み方向から見て前記固定部材のヘッド部によって塞がれ、
前記検査台に立設された少なくとも１つの位置決めピンに係合する少なくとも１つの切り欠きが、前記フランジの外縁に形成されることを特徴とする。
信号線路が挿通されるハウジングと、
前記信号線路が接続されてコネクタの特性検査を行うための測定端を有するプランジャと、
導電性の検査台に固定される導電性のフランジとを備え、
前記フランジは、前記ハウジングが挿通される線路用貫通孔と、前記線路用貫通孔に対して対向配置されて導電性の固定部材が挿通される少なくとも１つの固定用貫通孔とを有し、
前記フランジは、前記固定部材によって、前記検査台に対して電気的に接続されるとともに固定され、
前記固定用貫通孔が、前記フランジの厚み方向から見て前記固定部材のヘッド部によって塞がれ、
前記検査台に立設された少なくとも１つの位置決めピンに係合する少なくとも１つの切り欠きが、前記フランジの外縁に形成されることを特徴とする。
この発明によれば、フランジの位置決め構造における不要な共振が抑制されるので、コネクタの特性検査を精度良く行うことができる。
以下、この発明に係る、コネクタ６の特性検査を行うためのプローブ１の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
〔第１実施形態〕
図１～図６を参照しながら、一実施形態に係るプローブ１を説明する。図１は、この発明の一実施形態に係るプローブ１の分解斜視図である。図２は、図１に示したプローブ１を検査台５０に取り付ける様子を説明する斜視図である。図３は、図１に示したプローブ１を備えるコネクタ検査装置１００の斜視図である。図４は、第１実施例に係るフランジ１０を上方から見た斜視図である。図５は、図４に示したフランジ１０の上面図である。図６は、図４に示したフランジ１０の下面図である。
図１～図６を参照しながら、一実施形態に係るプローブ１を説明する。図１は、この発明の一実施形態に係るプローブ１の分解斜視図である。図２は、図１に示したプローブ１を検査台５０に取り付ける様子を説明する斜視図である。図３は、図１に示したプローブ１を備えるコネクタ検査装置１００の斜視図である。図４は、第１実施例に係るフランジ１０を上方から見た斜視図である。図５は、図４に示したフランジ１０の上面図である。図６は、図４に示したフランジ１０の下面図である。
図１～図３に示すように、プローブ１は、フランジ１０と、プランジャ２０と、コイルバネ３６と、ハウジング４０と、バレル支持板４６と、同軸ケーブル７０とを備える。
フランジ１０は、プローブ１を、図２および図３に示す検査台５０に取り付けるための部材である。図４～図６に示すように、フランジ１０は、外縁１８が例えば２つの長辺（第１辺）１６，１６および２つの短辺（第２辺）１７，１７を有する長円形状の板体である。長辺１６は、第１方向Ｘに直線状に延在するベースラインを有する。短辺１７は、外方に突出してわずかに湾曲して延在するベースラインを有する。フランジ１０は、導電性部材、例えば金属材料である。短辺１７の曲率半径が大きいので、フランジ１０は、正確には長円形状を有するが、広義の意味で四角形状を有する。したがって、この開示において、フランジ１０が四角形状を有するという文言は、上記長円形状を含んでいる。
フランジ１０には、フランジ１０の厚み方向Ｚに貫通して延在する線路用貫通孔１２および２つの固定用貫通孔１３，１３がそれぞれ形成されている。線路用貫通孔１２は、ハウジング４０を介して、信号線路として働く同軸ケーブル７０を挿通するための貫通孔である。線路用貫通孔１２は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て円形状の開口を有して、フランジ１０の中央部に形成されている。図４および図５に示すように、フランジ１０の上面側には、線路用貫通孔１２を囲む嵌合凹部２７が形成されている。嵌合凹部２７は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て四角形状を有し、ハウジング４０の一端部４２と嵌合するための凹部である。図６に示すように、フランジ１０の下面側には、線路用貫通孔１２を囲む受け凹部２８が形成されている。受け凹部２８は、コイルバネ３６の上端部を収容するとともに受け止めるための凹部である。
２つの固定用貫通孔１３，１３は、線路用貫通孔１２に対して対向配置され、言い換えると、線路用貫通孔１２を挟むように線路用貫通孔１２の径方向外方に形成されている。２つの固定用貫通孔１３，１３は、固定部材として働くねじ３０の雄ねじ部３２を挿通することによって、フランジ１０を固定するための貫通孔である。各固定用貫通孔１３の開口部１３ｃの開口径は、例えば、ミリオーダーである。当該開口部サイズを有する固定用貫通孔１３は、マイクロ波帯域の高周波と共振しやすくなっているが、後述するねじ３０のヘッド部３１によって共振が防止されている。
ハウジング４０は、プローブ１の上側に位置する一端部４２と、プローブ１の下側に位置する他端部４４とを有する。一端部４２は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て例えば四角形状を有しており、フランジ１０の嵌合凹部２７と嵌合する。他端部４４は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て円形状を有して、フランジ１０の線路用貫通孔１２に挿通される。ハウジング４０は、導電性部材、例えば金属材料である。他端部４４が線路用貫通孔１２に挿通されるとき、導電性の一端部４２は、厚み方向Ｚから見て、線路用貫通孔１２の開口を覆って塞いでいる。
ねじ３０は、フランジ１０を検査台５０に固定するための固定部材として働き、ヘッド部３１および雄ねじ部３２を有する。ねじ３０は、導電性部材、例えば金属材料である。雄ねじ部３２は、検査台５０のねじ穴５２に螺合する。ヘッド部３１の外径は、固定用貫通孔１３を挿通不可であるように固定用貫通孔１３の穴径よりも大きく構成されている。導電性のヘッド部３１は、厚み方向Ｚから見て、固定用貫通孔１３の開口部１３ｃを覆って塞いでいる。これにより、固定用貫通孔１３がノイズ（例えば、マイクロ波帯域の高周波ノイズ）の発生源になることを防止できる。また、検査台５０は、グランドに電気的に接続されている。これにより、高周波ノイズが除去される。
図４および図５に示すように、２つの固定用貫通孔１３，１３は、一方の固定用貫通孔１３ａと他方の固定用貫通孔１３ｂとを有する。そして、図５に示すように、一方の固定用貫通孔１３ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円形状の開口部１３ｃを有し、他方の固定用貫通孔１３ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば長円形状の開口部１３ｃを有する。一方の固定用貫通孔１３ａの開口部１３ｃおよび他方の固定用貫通孔１３ｂの開口部１３ｃは、それぞれ、その周縁が閉じられた形状を有する。
雄ねじ部３２が、固定用貫通孔１３に対して、すなわち一方の固定用貫通孔１３ａおよび他方の固定用貫通孔１３ｂに対して挿通可能であるように、雄ねじ部３２の外径は、固定用貫通孔１３の穴径よりも小さい。したがって、固定用貫通孔１３およびねじ３０を用いた固定構造は、フランジ１０を検査台５０にねじ３０で固定するときの、位置決め用の調整代を有するように構成されている。そして、長円形状を有する他方の固定用貫通孔１３ｂは、円形状を有する一方の固定用貫通孔１３ａよりも、より多くの位置決め用の調整代を有する。
図２に示すように、検査台５０には、ねじ３０でフランジ１０を固定するための雌ねじの２つのねじ穴５２，５２が形成されている。２つのねじ穴５２，５２は、検査台５０に形成されたプランジャ用貫通孔を挟むように、プランジャ用貫通孔に対して対向配置されている。検査台５０には、フランジ１０を位置決めするための２つの位置決めピン５４，５４が立設されている。２つの位置決めピン５４，５４は、例えば円柱形状を有し、２つのねじ穴５２，５２よりも第１方向Ｘでの外方に配置されている。プランジャ用貫通孔と、２つのねじ穴５２，５２と、２つの位置決めピン５４，５４とは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば一直線上に位置する。検査台５０は、導電性部材、例えば金属材料である。導電性のフランジ１０は、導電性のねじ３０によって、導電性の検査台５０に固定されるので、フランジ１０が検査台５０に電気的に接続される。
プランジャ２０は、プローブピン７２をフランジ１０に対して弾性的に進退可能に保持するための部材である。プローブピン７２は、測定端として働き、同軸ケーブル７０の先端に配設されている。プランジャ２０は、例えば筒状部２２および突出部２４を有する。プランジャ２０は、導電性部材、例えば金属材料である。突出部２４の先端側には、嵌合部２６と、同軸ケーブル７０のプローブピン７２とが配設されている。嵌合部２６は、検査対象物であるコネクタ６（例えば、複数の内部端子を有する多極コネクタ）と嵌合する。同軸ケーブル７０のプローブピン７２は、コネクタ６の内部端子（図示せず）と電気的に接続される。
プランジャ２０の筒状部２２には、圧入穴と、ピン挿入孔と、収容部とが形成されている。圧入穴は、ハウジング４０の他端部４４を圧入するための穴である。ピン挿入孔は、同軸ケーブル７０のプローブピン７２を挿入して固定するための貫通孔である。収容部は、弾性部材であるコイルバネ３６の下端部を収容するとともに受け止めるための凹部である。
コイルバネ３６は、ハウジング４０の他端部４４が挿通された状態で、フランジ１０とプランジャ２０との間に配設されている。コイルバネ３６の上端部は、フランジ１０の受け凹部２８に収容され、コイルバネ３６の下端部は、プランジャ２０の収容部に収容される。コイルバネ３６は、フランジ１０の厚み方向Ｚに延在して螺旋状を有する導電性の弾性体であり、例えば金属材料である。コイルバネ３６は、フランジ１０に対してプランジャ２０を付勢している。これにより、プランジャ２０に取り付けられた同軸ケーブル７０のプローブピン７２は、フランジ１０の厚み方向Ｚに弾性的に進退可能になる。
プローブ１には、複数の同軸ケーブル７０が配設されている。同軸ケーブル７０は、信号線路として働く。同軸ケーブル７０は、導電性の芯線と、芯線を覆う電気絶縁性の絶縁体と、絶縁体を覆う外導体と、外導体を覆う電気絶縁性の外皮とを有する。同軸ケーブル７０の芯線の下端部は、バレル７４のプローブピン７２に電気的に接続されている。同軸ケーブル７０の芯線の上端部は、接続コネクタ（例えば、ＳＭＡコネクタ）９０に電気的に接続されている。複数の同軸ケーブル７０におけるバレル７４は、複数の溝を有するバレル支持板４６によって、束ねられるとともに支持されている。接続コネクタ９０は、測定器（例えばネットワーク・アナライザ）８０の接続端子８２に接続される。
プローブ１における複数のプローブピン７２の各先端が、コネクタ６における測定対象の複数の内部端子に対して正確に接触するように、以下に説明するフランジ１０の位置決め構造によって、プローブ１が検査台５０に取り付けられる。これにより、複数のプローブ１のプローブピン７２が、コネクタ６の複数の内部端子に対して同時に接触するので、コネクタ６における各内部端子の特性検査を同時に行うことができる。
〔第１実施例〕
図４～図６に示すように、フランジ１０の外縁１８は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、２つの長辺１６，１６と２つの短辺１７，１７とを有する。２つの長辺１６，１６は、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂである。第１辺としての長辺１６は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、フランジ１０の第１方向Ｘ（線路用貫通孔１２および２つの固定用貫通孔１３，１３の並び方向であり、例えば、長手方向）に直線状に延在する。２つの短辺１７，１７は、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂである。第２辺としての短辺１７は、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する第２方向Ｙ（例えば、短手方向）に湾曲しながら延在する。
図４～図６に示すように、フランジ１０の外縁１８は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、２つの長辺１６，１６と２つの短辺１７，１７とを有する。２つの長辺１６，１６は、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂである。第１辺としての長辺１６は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、フランジ１０の第１方向Ｘ（線路用貫通孔１２および２つの固定用貫通孔１３，１３の並び方向であり、例えば、長手方向）に直線状に延在する。２つの短辺１７，１７は、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂである。第２辺としての短辺１７は、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する第２方向Ｙ（例えば、短手方向）に湾曲しながら延在する。
一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂのそれぞれには、対応する位置決めピン５４に係合する切り欠き１４が形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、一方の切り欠き１４ａおよび他方の切り欠き１４ｂである。一方の切り欠き１４ａおよび他方の切り欠き１４ｂは、それぞれ、ベースラインに対して内側に凹むことにより、その開口部の周縁が部分的に開いた形状を有する。例えば、一方の短辺１７ａの中央部には、一方の切り欠き１４ａが形成されて、他方の短辺１７ｂの中央部には、他方の切り欠き１４ｂが形成されている。線路用貫通孔１２と、一方の固定用貫通孔１３ａおよび他方の固定用貫通孔１３ｂと、一方の切り欠き１４ａおよび他方の切り欠き１４ｂとは、例えば、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、フランジ１０の第１方向Ｘに一列に配置される。これにより、フランジ１０の第２方向Ｙの長さ、すなわち短辺１７の長さを短くできるので、フランジ１０をコンパクトにでき、プローブ１をコンパクトにできる。
一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有して、一方の位置決めピン５４に係合する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有し、他方の位置決めピン５４に係合する。これにより、位置決め精度の確保と位置決めの容易さとを両立できる。
半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂの切り欠き長さは、円弧形状（例えば、半円形状）を有する一方の切り欠き１４ａの切り欠き長さよりも長くなっている。すなわち、２つの切り欠き１４，１４のうちの少なくとも一方が、例えば、他方の切り欠き１４ｂが、半長円形状を有するとともに、線路用貫通孔１２に対するフランジ１０の回転を規制する切り欠き長さを有する。これにより、線路用貫通孔１２に対するフランジ１０の回転が規制される。
一方の切り欠き１４ａおよび他方の切り欠き１４ｂが、それぞれに対応する一方の位置決めピン５４および他方の位置決めピン５４を基準にして位置決めされ、２つのねじ３０，３０によってフランジ１０が検査台５０に取り付けられる。これにより、プローブ１が検査台５０に固定される。
フランジ１０の外縁１８には、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに係合する２つの切り欠き１４，１４が形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、それぞれ、その開口部の周縁が部分的に開いた形状を有する。すなわち、２つの切り欠き１４，１４は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していない。これにより、フランジ１０からノイズが発生することが防止される。なお、この開示において、「２つの位置決めピン５４，５４に係合する２つの切り欠き１４，１４」とは、２つの位置決めピン５４，５４との接触によって、フランジ１０の動きを規制する２つの切り欠き１４，１４のことを意図している。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０の位置決め構造における不要な共振が抑制されるので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。なお、位置決めピン５４に係合する切り欠き１４の開口部サイズが、ミリオーダーであっても、マイクロ波帯域の高周波と共振することがないので、マイクロ波帯域の高周波においてもコネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する一方の切り欠き１４ａが短辺１７に配置されるとともに半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂがフランジ１０のコーナー部１９に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第２実施例〕
図７に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、長辺１６および短辺１７が交わる２つのコーナー部１９，１９のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２に対して対角をなす位置に配設される。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば４分の１の円形状（四分円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
図７に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、長辺１６および短辺１７が交わる２つのコーナー部１９，１９のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２に対して対角をなす位置に配設される。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば４分の１の円形状（四分円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０の対角に位置する２つのコーナー部１９，１９にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、四分円形状を有する一方の切り欠き１４ａと半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂとが、フランジ１０の対角に位置する２つのコーナー部１９，１９に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第３実施例〕
図８に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、長辺１６および短辺１７が交わる２つのコーナー部１９，１９のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２に対して対角をなすとともに、線路用貫通孔１２を中心にして点対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
図８に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、長辺１６および短辺１７が交わる２つのコーナー部１９，１９のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２に対して対角をなすとともに、線路用貫通孔１２を中心にして点対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０のコーナー部１９，１９にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、半長円形状を有する２つの切り欠き１４，１４がフランジ１０の対角に位置する２つのコーナー部１９，１９に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第４実施例〕
図９に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａであって、一方の長辺１６ａと一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂとが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。すなわち、２つの切り欠き１４，１４は、線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。
図９に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａであって、一方の長辺１６ａと一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂとが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。すなわち、２つの切り欠き１４，１４は、線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０のコーナー部１９の近傍にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、半長円形状を有する２つの切り欠き１４，１４がフランジ１０の長辺１６に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進と、線路用貫通孔１２を中心にした回転とが規制される。
〔第５実施例〕
図１０に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９と、該コーナー部１９の対角にするコーナー部１９の近傍に位置する他方の短辺１７ｂとに形成されている。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば４分の１の円形状（四分円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
図１０に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９と、該コーナー部１９の対角にするコーナー部１９の近傍に位置する他方の短辺１７ｂとに形成されている。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば４分の１の円形状（四分円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０のコーナー部１９と該コーナー部１９の対角にあるコーナー部１９の近傍にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂがフランジ１０の短辺１７に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第６実施例〕
図１１に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａであって線路用貫通孔１２に寄った位置のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、一方の長辺１６ａにおいて線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置され、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。
図１１に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａであって線路用貫通孔１２に寄った位置のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、一方の長辺１６ａにおいて線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置され、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０の線路用貫通孔１２に寄った位置にあり、且つ、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する２つの切り欠き１４，１４がフランジ１０の長辺１６に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進と、線路用貫通孔１２を中心にした回転とが規制される。
〔第７実施例〕
図１２に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２に寄った位置に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
図１２に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２に寄った位置に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０の線路用貫通孔１２に寄った位置にあり、且つ、固定用貫通孔１３から離れた位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、斜めに延在する半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂがフランジ１０の長辺１６に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第８実施例〕
図１３に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａと一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂとが交わるコーナー部１９に寄った位置に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
図１３に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａと一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂとが交わるコーナー部１９に寄った位置に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、コーナー部１９に寄った位置にあり、且つ、固定用貫通孔１３から離れた位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する一方の切り欠き１４ａと半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂとが、フランジ１０の２つの短辺１７，１７のそれぞれに配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第９実施例〕
図１４に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９に寄った位置と、他方の長辺１６ｂおよび他方の短辺１７ｂが交わるコーナー部１９に寄った位置とに配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
図１４に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９に寄った位置と、他方の長辺１６ｂおよび他方の短辺１７ｂが交わるコーナー部１９に寄った位置とに配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、コーナー部１９に寄った位置にあり、且つ、固定用貫通孔１３から離れた位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する一方の切り欠き１４ａと半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂとが、フランジ１０の２つの短辺１７，１７のそれぞれに配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第１０実施例〕
図１５に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａであって線路用貫通孔１２に寄った位置のそれぞれに形成されている。すなわち、２つの切り欠き１４，１４は、一方の長辺１６ａにおいて線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
図１５に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａであって線路用貫通孔１２に寄った位置のそれぞれに形成されている。すなわち、２つの切り欠き１４，１４は、一方の長辺１６ａにおいて線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０の線路用貫通孔１２に寄った位置にあり、且つ、固定用貫通孔１３から離れた位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する一方の切り欠き１４ａと斜めに延在する半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂとが、フランジ１０の長辺１６に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第１１実施例〕
図１６に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の短辺１７ａおよび他方の長辺１６ｂのそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９に寄った位置と、他方の長辺１６ｂおよび他方の短辺１７ｂが交わるコーナー部１９に寄った位置とに配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。
図１６に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の短辺１７ａおよび他方の長辺１６ｂのそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９に寄った位置と、他方の長辺１６ｂおよび他方の短辺１７ｂが交わるコーナー部１９に寄った位置とに配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、コーナー部１９に寄った位置にあり、且つ、固定用貫通孔１３から離れた位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する一方の切り欠き１４ａと半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂとがフランジ１０の長辺１６および短辺１７のそれぞれに配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第１２実施例〕
図１７に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の長辺１６ａおよび他方の短辺１７ｂのそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９に寄った位置と、他方の長辺１６ｂおよび他方の短辺１７ｂが交わるコーナー部１９に寄った位置とに配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
図１７に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、一方の長辺１６ａおよび他方の短辺１７ｂのそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、一方の長辺１６ａおよび一方の短辺１７ａが交わるコーナー部１９に寄った位置と、他方の長辺１６ｂおよび他方の短辺１７ｂが交わるコーナー部１９に寄った位置とに配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４が、厚み方向Ｚから見て、例えば、線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、コーナー部１９に寄った位置にあり、且つ、固定用貫通孔１３から離れた位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する一方の切り欠き１４ａと半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂとがフランジ１０の長辺１６および短辺１７のそれぞれに配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第１３実施例〕
図１８に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、他方の短辺１７ｂであって、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂと他方の短辺１７ｂとが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍のそれぞれに形成されている。すなわち、２つの切り欠き１４，１４は、他方の短辺１７ｂにおいて他方の固定用貫通孔１３ｂに対向するように一側および他側に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。
図１８に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、他方の短辺１７ｂであって、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂと他方の短辺１７ｂとが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍のそれぞれに形成されている。すなわち、２つの切り欠き１４，１４は、他方の短辺１７ｂにおいて他方の固定用貫通孔１３ｂに対向するように一側および他側に配置される。そして、２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば円弧形状（例えば、半円形状）を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０のコーナー部１９の近傍にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、円弧形状（例えば、半円形状）を有する２つの切り欠き１４，１４がフランジ１０の短辺１７に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進と、線路用貫通孔１２を中心にした回転とが規制される。
〔第１４実施例〕
図１９に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂと一方の短辺１７ａとが交わる２つのコーナー部１９，１９のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
図１９に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂと一方の短辺１７ａとが交わる２つのコーナー部１９，１９のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０のコーナー部１９にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、斜めに延在する半長円形状を有する２つの切り欠き１４，１４が対角に位置する２つのコーナー部１９，１９に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第１５実施例〕
図２０に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、他方の短辺１７ｂであり、且つ、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂと他方の短辺１７ｂが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、他方の短辺１７ｂにおいて他方の固定用貫通孔１３ｂに対して対向するように一側および他側に配置され、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
図２０に示すように、２つの位置決めピン５４，５４のそれぞれに対応する２つの切り欠き１４，１４が、例えば、他方の短辺１７ｂであり、且つ、一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂと他方の短辺１７ｂが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍のそれぞれに形成されている。２つの切り欠き１４，１４は、他方の短辺１７ｂにおいて他方の固定用貫通孔１３ｂに対して対向するように一側および他側に配置され、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４，１４のそれぞれが、フランジ１０のコーナー部１９にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、斜めに延在する半長円形状を有する２つの切り欠き１４，１４がコーナー部１９の近傍に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
〔第１６実施例〕
図２１に示すように、複数のプローブ１が検査台５０に取り付けられている。図２１は、上述した第１実施例のプローブ１を、例えば、第１方向Ｘに４個×第２方向Ｙに５個の合計２０個で整列配置している場合を示している。
図２１に示すように、複数のプローブ１が検査台５０に取り付けられている。図２１は、上述した第１実施例のプローブ１を、例えば、第１方向Ｘに４個×第２方向Ｙに５個の合計２０個で整列配置している場合を示している。
上述した第１実施例のプローブ１では、２つの切り欠き１４，１４が短辺１７の中央部にあって、線路用貫通孔１２と２つの固定用貫通孔１３，１３と２つの切り欠き１４，１４とが、フランジ１０の第１方向Ｘに一列に配置されている。これにより、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する方向の長さ、すなわち第２方向Ｙの長さを短くできるので、フランジ１０をコンパクトにでき、プローブ１をコンパクトにできる。プローブ１のコンパクト化によって、複数のプローブ１を検査台５０に設置できるので、複数のプローブ１を用いて複数のコネクタ６の検査を同時に行うことができる。また、複数のフランジ１０が同じ検査台５０に配列されるので、フランジ１０同士が同電位になり、複数のフランジ１０の間での不要な電位差が生じることを防止できる。
〔第１７実施例〕
図２２に示すように、３つの位置決めピン５４，５４，５４のそれぞれに対応する３つの切り欠き１４ａ，１４ｂ，１４ａが、形成されている。２つの切り欠き１４ａ，１４ｂが、それぞれ、例えば、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂと一方の長辺１６ａとが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍に形成される。１つの切り欠き１４ａが、他方の長辺１６ｂにおいて一方の短辺１７ａの側に寄って形成されている。コーナー部１９の近傍に形成される２つの切り欠き１４ａ，１４ｂは、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。コーナー部１９の近傍に形成される一方の切り欠き１４ａおよび他方の切り欠き１４ｂは、それぞれ、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。また、他方の長辺１６ｂに形成される切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。
図２２に示すように、３つの位置決めピン５４，５４，５４のそれぞれに対応する３つの切り欠き１４ａ，１４ｂ，１４ａが、形成されている。２つの切り欠き１４ａ，１４ｂが、それぞれ、例えば、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂと一方の長辺１６ａとが交わる２つのコーナー部１９，１９の近傍に形成される。１つの切り欠き１４ａが、他方の長辺１６ｂにおいて一方の短辺１７ａの側に寄って形成されている。コーナー部１９の近傍に形成される２つの切り欠き１４ａ，１４ｂは、例えば、線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。コーナー部１９の近傍に形成される一方の切り欠き１４ａおよび他方の切り欠き１４ｂは、それぞれ、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有する。また、他方の長辺１６ｂに形成される切り欠き１４ａは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第２方向Ｙに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、２つの切り欠き１４ａ，１４ｂのそれぞれが、フランジ１０のコーナー部１９の近傍にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度が向上する。また、半長円形状を有する２つの切り欠き１４ａ，１４ｂがフランジ１０の短辺１７に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。１つの切り欠き１４ａが、他方の長辺１６ｂにおいて、一方の短辺１７ａの側に寄って形成されているので、位置決め精度がさらに向上するとともに、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときの誤装着を防止できる。
〔第１８実施例〕
図２３に示すように、４つの位置決めピン５４，５４，５４，５４のそれぞれに対応する４つの切り欠き１４ａ，１４ａ，１４ｂ，１４ｂが、形成されている。４つの切り欠き１４ａ，１４ａ，１４ｂ，１４ｂが、それぞれ、例えば、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂと一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂとが交わる４つのコーナー部１９，１９，１９，１９に形成される。コーナー部１９に形成される２対の切り欠き１４ａ，１４ｂおよび１４ａ，１４ｂは、例えば、線路用貫通孔１２に対して対角をなすとともに、線路用貫通孔１２を中心にして点対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の長辺１６ａの側に位置する２つの切り欠き１４ａ，１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の長辺１６ｂの側に位置する２つの切り欠き１４ａ，１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
図２３に示すように、４つの位置決めピン５４，５４，５４，５４のそれぞれに対応する４つの切り欠き１４ａ，１４ａ，１４ｂ，１４ｂが、形成されている。４つの切り欠き１４ａ，１４ａ，１４ｂ，１４ｂが、それぞれ、例えば、一方の短辺１７ａおよび他方の短辺１７ｂと一方の長辺１６ａおよび他方の長辺１６ｂとが交わる４つのコーナー部１９，１９，１９，１９に形成される。コーナー部１９に形成される２対の切り欠き１４ａ，１４ｂおよび１４ａ，１４ｂは、例えば、線路用貫通孔１２に対して対角をなすとともに、線路用貫通孔１２を中心にして点対称に配置される。これにより、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。一方の長辺１６ａの側に位置する２つの切り欠き１４ａ，１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が他方の長辺１６ｂに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。他方の長辺１６ｂの側に位置する２つの切り欠き１４ａ，１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部が一方の長辺１６ａに向けて斜めに延在する半長円形状を有する。
したがって、上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、４つの切り欠き１４ａ，１４ａ，１４ｂ，１４ｂのそれぞれが、フランジ１０の４つのコーナー部１９，１９，１９，１９にあって、固定用貫通孔１３から離間した位置にあるので、フランジ１０の位置決め精度がさらに向上する。また、半長円形状を有する２対の切り欠き１４ａ，１４ｂおよび１４ａ，１４ｂがフランジ１０の対角に位置する各コーナー部１９，１９，１９，１９に配置されているので、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
なお、４つの切り欠き１４ａ，１４ａ，１４ｂ，１４ｂによって十分な位置決め精度が得られるので、図２３に示すように、固定用貫通孔１３として、１つの、円形状を有する一方の固定用貫通孔１３ａは配設されるが、長円形状を有する他方の固定用貫通孔１３ｂは配設されていない。
〔第１９実施例〕
図２４に示すように、１つの位置決めピン５４に対応する１つの他方の切り欠き１４ｂが、例えば、他方の短辺１７ｂの中央部に形成されている。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有し、位置決めピン５４に係合する。図２４に示すように、固定用貫通孔１３として、１つの、円形状を有する一方の固定用貫通孔１３ａは配設されるが、長円形状を有する他方の固定用貫通孔１３ｂは配設されていない。これにより、位置決め精度の確保と構成の簡易化とを両立できる。
図２４に示すように、１つの位置決めピン５４に対応する１つの他方の切り欠き１４ｂが、例えば、他方の短辺１７ｂの中央部に形成されている。他方の切り欠き１４ｂは、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、円弧部（例えば、半円部）に連なって対向する２つのストレート部がフランジ１０の第１方向Ｘに延在する半長円形状を有し、位置決めピン５４に係合する。図２４に示すように、固定用貫通孔１３として、１つの、円形状を有する一方の固定用貫通孔１３ａは配設されるが、長円形状を有する他方の固定用貫通孔１３ｂは配設されていない。これにより、位置決め精度の確保と構成の簡易化とを両立できる。
上記構成によれば、フランジ１０は、その開口部の全周が閉じられた形状を有していないので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、他方の短辺１７ｂの中央部における半長円形状を有する他方の切り欠き１４ｂと一方の固定用貫通孔１３ａとが協働することにより、フランジ１０の第１方向Ｘの直進、フランジ１０の第２方向Ｙの直進、および、線路用貫通孔１２を中心にした回転が規制される。
なお、この開示において、切り欠き１４がフランジ１０の外縁１８に形成されているという記載は、切り欠き１４の開口部が外縁１８のベースラインに対して凹んでいることにより、検査台５０の位置決めピン５４と係合する部分が外縁１８のベースラインと重なる態様と、検査台５０の位置決めピン５４と係合する部分が外縁１８のベースラインよりも内側に位置する態様とを含む。
この発明の具体的な実施の形態について説明したが、この発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の範囲内で種々変更して実施することができる。
上記実施の態様では、フランジ１０は、正確には、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、直線状の長辺１６およびわずかに湾曲した短辺１７を有する長円形状を有するが、この開示では、当該長円形状も、広義の意味で四角形状であると規定される。すなわち、この開示において、フランジ１０が四角形状を有するという文言は、上記長円形状に加えて、４つの辺がわずかに湾曲している楕円形状と、４つの辺が直線状である四角形状と、４つのコーナー部が丸みを持った角丸四角形状とを含む広い概念を有する。さらに、フランジ１０は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、正方形状、台形状、平行四辺形状、円形状あるいは卵形状などの様々な形状を有することができる。
上記実施の態様では、切り欠き１４は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、半円や四分円のような円弧形状を有して、切り欠き１４と位置決めピン５４とが周状に当接して係合するが、他の態様にすることができる。切り欠き１４は、フランジ１０の厚み方向Ｚから見て、例えば、三角形状や四角形状などの多角形状を有することができる。これにより、切り欠き１４と位置決めピン５４とが複数箇所で当接して係合する。
上記実施の態様では、少なくとも１つの切り欠き１４が、固定用貫通孔１３から離間した位置に配置されるが、複数の切り欠き１４のうちの少なくとも一つを、固定用貫通孔１３から離間した位置に配置することができる。これにより、フランジ１０の位置決め精度が向上する。
この発明および実施形態をまとめると、次のようになる。
この発明の一態様に係る、コネクタ測定用のプローブ１は、
信号線路７０が挿通されるハウジング４０と、
前記信号線路７０が接続されてコネクタ６の特性検査を行うための測定端７２を有するプランジャ２０と、
導電性の検査台５０に固定される導電性のフランジ１０とを備え、
前記フランジ１０は、前記ハウジング４０が挿通される線路用貫通孔１２と、前記線路用貫通孔１２に対して対向配置されて導電性の固定部材３０が挿通される少なくとも１つの固定用貫通孔１３とを有し、
前記フランジ１０は、前記固定部材３０によって、前記検査台５０に対して電気的に接続されるとともに固定され、
前記固定用貫通孔１３が、前記フランジ１０の厚み方向Ｚから見て前記固定部材３０のヘッド部３１によって塞がれ、
前記検査台５０に立設された少なくとも１つの位置決めピン５４に係合する少なくとも１つの切り欠き１４が、前記フランジ１０の外縁１８に形成されることを特徴とする。
信号線路７０が挿通されるハウジング４０と、
前記信号線路７０が接続されてコネクタ６の特性検査を行うための測定端７２を有するプランジャ２０と、
導電性の検査台５０に固定される導電性のフランジ１０とを備え、
前記フランジ１０は、前記ハウジング４０が挿通される線路用貫通孔１２と、前記線路用貫通孔１２に対して対向配置されて導電性の固定部材３０が挿通される少なくとも１つの固定用貫通孔１３とを有し、
前記フランジ１０は、前記固定部材３０によって、前記検査台５０に対して電気的に接続されるとともに固定され、
前記固定用貫通孔１３が、前記フランジ１０の厚み方向Ｚから見て前記固定部材３０のヘッド部３１によって塞がれ、
前記検査台５０に立設された少なくとも１つの位置決めピン５４に係合する少なくとも１つの切り欠き１４が、前記フランジ１０の外縁１８に形成されることを特徴とする。
上記構成によれば、フランジ１０の位置決め構造における不要な共振が抑制されるので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記切り欠き１４，１４は、２つ以上である。
前記切り欠き１４，１４は、２つ以上である。
上記実施形態によれば、フランジ１０の位置決め精度がさらに向上する。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記固定用貫通孔１３，１３は、２つである。
前記固定用貫通孔１３，１３は、２つである。
上記実施形態によれば、位置決めの調整を可能にする。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記切り欠き１４は、前記固定用貫通孔１３から離間した位置に配置される。
前記切り欠き１４は、前記固定用貫通孔１３から離間した位置に配置される。
上記実施形態によれば、フランジ１０の位置決め精度が向上する。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記切り欠き１４，１４は、前記厚み方向Ｚから見て、前記線路用貫通孔１２の中心に対して点対称に配置される。
前記切り欠き１４，１４は、前記厚み方向Ｚから見て、前記線路用貫通孔１２の中心に対して点対称に配置される。
上記実施形態によれば、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記切り欠き１４，１４は、前記厚み方向Ｚから見て、前記線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。
前記切り欠き１４，１４は、前記厚み方向Ｚから見て、前記線路用貫通孔１２の中心を通る線分に対して線対称に配置される。
上記実施形態によれば、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、装着作業が容易になる。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記切り欠き１４，１４が、前記厚み方向Ｚから見て、前記線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。
前記切り欠き１４，１４が、前記厚み方向Ｚから見て、前記線路用貫通孔１２の中心に対して非対称に配置される。
上記実施形態によれば、プローブ１のフランジ１０を検査台５０に装着するときに、誤装着を防止できる。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記切り欠き１４，１４のうちの少なくとも一方が、円弧部に連なって対向する２つのストレート部が延在する半長円形状を有するとともに、前記線路用貫通孔１２に対する前記フランジ１０の回転を規制する切り欠き長さを有する。
前記切り欠き１４，１４のうちの少なくとも一方が、円弧部に連なって対向する２つのストレート部が延在する半長円形状を有するとともに、前記線路用貫通孔１２に対する前記フランジ１０の回転を規制する切り欠き長さを有する。
上記実施形態によれば、線路用貫通孔１２に対するフランジ１０の回転が規制される。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記切り欠き１４，１４のうちの一方が、円弧形状を有し、前記切り欠き１４，１４のうちの他方が、円弧部に連なって対向する２つのストレート部が延在する半長円形状を有する。
前記切り欠き１４，１４のうちの一方が、円弧形状を有し、前記切り欠き１４，１４のうちの他方が、円弧部に連なって対向する２つのストレート部が延在する半長円形状を有する。
上記実施形態によれば、位置決め精度の確保と位置決めの容易さとを両立できる。
また、一実施形態のプローブ１は、
前記線路用貫通孔１２と、前記固定用貫通孔１３と、前記切り欠き１４とが、前記厚み方向Ｚから見て、前記厚み方向Ｚに直交する第１方向Ｘに一列に配置される。
前記線路用貫通孔１２と、前記固定用貫通孔１３と、前記切り欠き１４とが、前記厚み方向Ｚから見て、前記厚み方向Ｚに直交する第１方向Ｘに一列に配置される。
上記実施形態によれば、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する方向の長さ、すなわち第２方向Ｙの長さを短くできるので、フランジ１０をコンパクトにでき、プローブ１をコンパクトにできる。
また、一実施形態のプローブ１は、
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４が、前記フランジ１０の対角に配置される。
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４が、前記フランジ１０の対角に配置される。
上記実施形態によれば、フランジ１０の第１方向Ｘの直進と、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する方向（すなわち第２方向Ｙ）の直進と、前記線路用貫通孔１２を中心にした回転とが規制される。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４のうちの一方が、前記フランジ１０の長辺１６に配置され、前記２つの切り欠き１４，１４のうちの他方が、前記フランジ１０の短辺１７に配置される。
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４のうちの一方が、前記フランジ１０の長辺１６に配置され、前記２つの切り欠き１４，１４のうちの他方が、前記フランジ１０の短辺１７に配置される。
上記実施形態によれば、フランジ１０の第１方向Ｘの直進と、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する方向（すなわち第２方向Ｙ）の直進と、前記線路用貫通孔１２を中心にした回転とが規制される。
また、一実施形態のプローブ１は、
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４のうちの一方が、前記フランジ１０の一方の長辺１６ａに配置され、前記切り欠き１４，１４のうちの他方が、前記フランジ１０の他方の長辺１６ｂに配置される。
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４のうちの一方が、前記フランジ１０の一方の長辺１６ａに配置され、前記切り欠き１４，１４のうちの他方が、前記フランジ１０の他方の長辺１６ｂに配置される。
上記実施形態によれば、少なくとも、フランジ１０の第１方向Ｘの直進と、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する方向（すなわち第２方向Ｙ）の直進とが規制される。
また、一実施形態のプローブ１は、
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４が、前記フランジのいずれか一方の長辺１６において線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置される。
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４が、前記フランジのいずれか一方の長辺１６において線路用貫通孔１２に対して対向するように一側および他側に配置される。
上記実施形態によれば、少なくとも、フランジ１０の第１方向Ｘの直進と、線路用貫通孔１２を中心にした回転とが規制される。
また、一実施形態のプローブ１は、
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４が、前記フランジ１０のいずれか一方の短辺１７において前記固定用貫通孔１３，１３のいずれか一方に対して対向するように一側および他側に配置される。
前記フランジ１０が四角形状を有するとき、前記切り欠き１４，１４が、前記フランジ１０のいずれか一方の短辺１７において前記固定用貫通孔１３，１３のいずれか一方に対して対向するように一側および他側に配置される。
上記実施形態によれば、少なくとも、フランジ１０の第１方向Ｘに直交する方向（すなわち第２方向Ｙ）の直進と、線路用貫通孔１２を中心にした回転とが規制される。
また、一実施形態のプローブ１では、
前記検査台５０が、グランドに電気的に接続されている。
前記検査台５０が、グランドに電気的に接続されている。
上記実施形態によれば、高周波ノイズが除去される。
この発明の別の局面に係るコネクタ検査装置１００は、
上述したプローブ１を備えることを特徴とする。
上述したプローブ１を備えることを特徴とする。
上記構成によれば、フランジ１０の位置決め構造における不要な共振が抑制されるので、コネクタ６の特性検査を精度良く行うことができる。
また、一実施形態のコネクタ検査装置１００は、
前記フランジ１０が、前記検査台５０に対して複数で整列配置される。
前記フランジ１０が、前記検査台５０に対して複数で整列配置される。
上記実施形態によれば、複数のフランジ１０が同じ検査台５０に配列されるので、フランジ１０同士が同電位になり、複数のフランジ１０の間での不要な電位差が生じることを防止できる。
また、一実施形態のコネクタ検査装置１００は、
前記フランジ１０が、四角形状を有して、前記検査台５０に対して複数で整列配置される。
前記フランジ１０が、四角形状を有して、前記検査台５０に対して複数で整列配置される。
上記実施形態によれば、複数のプローブ１を用いて複数のコネクタ６の検査を同時に行うことができる。
１：プローブ
６：コネクタ（検査対象物）
１０：フランジ
１２：線路用貫通孔
１３：固定用貫通孔
１３ａ：一方の固定用貫通孔
１３ｂ：他方の固定用貫通孔
１３ｃ：開口部
１４：切り欠き
１４ａ：一方の切り欠き
１４ｂ：他方の切り欠き
１６：長辺（第１辺）
１６ａ：一方の長辺（第１辺）
１６ｂ：他方の長辺（第１辺）
１７：短辺（第２辺）
１７ａ：一方の短辺（第２辺）
１７ｂ：他方の短辺（第２辺）
１８：外縁
１９：コーナー部
２０：プランジャ
２２：筒状部
２４：突出部
２６：嵌合部
２７：嵌合凹部
２８：受け凹部
３０：ねじ（固定部材）
３１：ヘッド部
３２：雄ねじ部
３６：コイルバネ（弾性部材）
４０：ハウジング
４２：一端部
４４：他端部
４６：バレル支持板
５０：検査台
５２：ねじ穴
５４：位置決めピン
７０：同軸ケーブル（信号線路）
７２：プローブピン（測定端）
７４：バレル
８０：測定器
８２：接続端子
９０：接続コネクタ
１００：コネクタ検査装置
Ｘ：第１方向
Ｙ：第２方向
Ｚ：厚み方向
６：コネクタ（検査対象物）
１０：フランジ
１２：線路用貫通孔
１３：固定用貫通孔
１３ａ：一方の固定用貫通孔
１３ｂ：他方の固定用貫通孔
１３ｃ：開口部
１４：切り欠き
１４ａ：一方の切り欠き
１４ｂ：他方の切り欠き
１６：長辺（第１辺）
１６ａ：一方の長辺（第１辺）
１６ｂ：他方の長辺（第１辺）
１７：短辺（第２辺）
１７ａ：一方の短辺（第２辺）
１７ｂ：他方の短辺（第２辺）
１８：外縁
１９：コーナー部
２０：プランジャ
２２：筒状部
２４：突出部
２６：嵌合部
２７：嵌合凹部
２８：受け凹部
３０：ねじ（固定部材）
３１：ヘッド部
３２：雄ねじ部
３６：コイルバネ（弾性部材）
４０：ハウジング
４２：一端部
４４：他端部
４６：バレル支持板
５０：検査台
５２：ねじ穴
５４：位置決めピン
７０：同軸ケーブル（信号線路）
７２：プローブピン（測定端）
７４：バレル
８０：測定器
８２：接続端子
９０：接続コネクタ
１００：コネクタ検査装置
Ｘ：第１方向
Ｙ：第２方向
Ｚ：厚み方向
Claims (19)
- 信号線路が挿通されるハウジングと、
前記信号線路が接続されてコネクタの特性検査を行うための測定端を有するプランジャと、
導電性の検査台に固定される導電性のフランジとを備え、
前記フランジは、前記ハウジングが挿通される線路用貫通孔と、前記線路用貫通孔に対して対向配置されて導電性の固定部材が挿通される少なくとも１つの固定用貫通孔とを有し、
前記フランジは、前記固定部材によって、前記検査台に対して電気的に接続されるとともに固定され、
前記固定用貫通孔が、前記フランジの厚み方向から見て前記固定部材のヘッド部によって塞がれ、
前記検査台に立設された少なくとも１つの位置決めピンに係合する少なくとも１つの切り欠きが、前記フランジの外縁に形成される、コネクタ測定用のプローブ。 - 前記切り欠きは、２つ以上である、請求項１に記載のプローブ。
- 前記固定用貫通孔は、２つである、請求項１または請求項２に記載のプローブ。
- 前記切り欠きは、前記固定用貫通孔から離間した位置に配置される、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記切り欠きは、前記厚み方向から見て、前記線路用貫通孔の中心に対して点対称に配置される、請求項２から請求項４のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記切り欠きは、前記厚み方向から見て、前記線路用貫通孔の中心を通る線分に対して線対称に配置される、請求項２から請求項４のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記切り欠きが、前記厚み方向から見て、前記線路用貫通孔の中心に対して非対称に配置される、請求項２から請求項４のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記切り欠きが、円弧部に連なって対向する２つのストレート部が延在する半長円形状を有するとともに、前記線路用貫通孔の中心に対する前記フランジの回転を規制する切り欠き長さを有する、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記切り欠きのうちの一方が、円弧形状を有し、前記切り欠きのうちの他方が、円弧部に連なって対向する２つのストレート部が延在する半長円形状を有する、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記線路用貫通孔と、前記固定用貫通孔と、前記切り欠きとが、前記厚み方向から見て、前記厚み方向に直交する第１方向に一列に配置される、請求項１、請求項８または請求項９のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記フランジが四角形状を有するとき、前記切り欠きが、前記フランジの対角に配置される、請求項２、請求項８または請求項９のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記フランジが四角形状を有するとき、前記切り欠きのうちの一方が、前記フランジの長辺に配置され、前記切り欠きのうちの他方が、前記フランジの短辺に配置される、請求項２、請求項８または請求項９のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記フランジが四角形状を有するとき、前記切り欠きのうちの一方が、前記フランジの一方の長辺に配置され、前記切り欠きのうちの他方が、前記フランジの他方の長辺に配置される、請求項２、請求項８または請求項９のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記フランジが四角形状を有するとき、前記切り欠きが、前記フランジのいずれか一方の長辺において前記線路用貫通孔に対して対向するように一側および他側に配置される、請求項２、請求項８または請求項９のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記フランジが四角形状を有するとき、前記切り欠きが、前記フランジのいずれか一方の短辺において前記固定用貫通孔のいずれか一方に対して一側および他側に配置される、請求項２、請求項８または請求項９のいずれか１項に記載のプローブ。
- 前記検査台が、グランドに電気的に接続されている、請求項１から請求項１５のいずれか１項に記載のプローブ。
- 請求項１から請求項１６のいずれか１項に記載の前記プローブを備える、コネクタ検査装置。
- 前記フランジが、前記検査台に対して複数で整列配置される、請求項１７に記載のコネクタ検査装置。
- 前記フランジが、四角形状を有して、前記検査台に対して複数で整列配置される、請求項１７に記載のコネクタ検査装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020093583 | 2020-05-28 | ||
| JP2020093583 | 2020-05-28 | ||
| PCT/JP2021/018076 WO2021241232A1 (ja) | 2020-05-28 | 2021-05-12 | プローブおよび該プローブを備えるコネクタ検査装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2021241232A1 JPWO2021241232A1 (ja) | 2021-12-02 |
| JP7201129B2 true JP7201129B2 (ja) | 2023-01-10 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022526867A Active JP7201129B2 (ja) | 2020-05-28 | 2021-05-12 | プローブおよび該プローブを備えるコネクタ検査装置 |
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|---|---|
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Citations (5)
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|---|---|---|---|---|
| US5524281A (en) | 1988-03-31 | 1996-06-04 | Wiltron Company | Apparatus and method for measuring the phase and magnitude of microwave signals |
| US20170003317A1 (en) | 2013-11-26 | 2017-01-05 | Tyco Electronics Uk Ltd. | Balunless test fixture |
| JP2018511058A (ja) | 2015-04-08 | 2018-04-19 | ギャップウェーブス アーベー | マイクロ波解析機器またはマイクロ波測定機器用の較正装置 |
| WO2019069576A1 (ja) | 2017-10-06 | 2019-04-11 | 株式会社村田製作所 | プローブ |
| JP2019138768A (ja) | 2018-02-09 | 2019-08-22 | 株式会社村田製作所 | プローブ |
-
2021
- 2021-05-12 JP JP2022526867A patent/JP7201129B2/ja active Active
- 2021-05-12 WO PCT/JP2021/018076 patent/WO2021241232A1/ja active Application Filing
- 2021-05-27 CN CN202121164117.5U patent/CN215833461U/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5524281A (en) | 1988-03-31 | 1996-06-04 | Wiltron Company | Apparatus and method for measuring the phase and magnitude of microwave signals |
| US20170003317A1 (en) | 2013-11-26 | 2017-01-05 | Tyco Electronics Uk Ltd. | Balunless test fixture |
| JP2018511058A (ja) | 2015-04-08 | 2018-04-19 | ギャップウェーブス アーベー | マイクロ波解析機器またはマイクロ波測定機器用の較正装置 |
| WO2019069576A1 (ja) | 2017-10-06 | 2019-04-11 | 株式会社村田製作所 | プローブ |
| JP2019138768A (ja) | 2018-02-09 | 2019-08-22 | 株式会社村田製作所 | プローブ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN215833461U (zh) | 2022-02-15 |
| WO2021241232A1 (ja) | 2021-12-02 |
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