JP7220109B2 - プローブユニット - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施の形態にかかるプローブユニットの構成を示す斜視図である。図2は、本発明の一実施の形態にかかるプローブユニットの構成を示す上面図である。図3は、本発明の一実施の形態にかかるプローブユニットの構成を示す分解斜視図である。プローブユニット1は、検査対象物である半導体集積回路の電気特性検査を行う際に使用する装置であって、半導体集積回路と半導体集積回路へ検査用信号を出力する回路基板との間を電気的に接続する装置である。
また、プローブホルダ3には、案内部材5を支持するコイルばね6と、案内部材5の配置を決める位置決めピン7とが設けられている。
案内部材5は、PEEKやPESなどの樹脂を用いて形成される。
また、枠部51および底部52によって本体部を構成する。
第1可撓部53および第2可撓部54は、樹脂の種別によって荷重(ばね定数)が調整される。また、第1可撓部53および第2可撓部54は、例えば直線部53a、54aの厚さや幅を調整することによって、荷重(ばね定数)を調整可能である。
第1可撓部53および第2可撓部54は、C字状をなして、端部が枠部51に連なっている。第1可撓部53および第2可撓部54は、例えば、外部から枠部51に向かう荷重F(図6参照)が加わると、枠部51側に撓む。
図8は、本発明の実施の形態の変形例1にかかるプローブユニットが備える案内部材の構成を示す図である。変形例1にかかるプローブユニットは、上述した案内部材5に代えて案内部材5Aを備える。そのほかの構成についてはプローブユニット1と同じ構成であるため、説明を省略する。
底部52Aには、プローブ2の配設領域に応じた開口を形成する開口部521が形成されている。開口部521の開口領域は、上述した貫通孔52aの形成領域よりも大きければよい。
図9は、本発明の実施の形態の変形例2にかかるプローブユニットの構成を示す上面図である。変形例2にかかるプローブユニットは、上述したベース部材4に代えてベース部材4Aを備える。そのほかの構成についてはプローブユニット1と同じ構成であるため、説明を省略する。
図10は、本発明の実施の形態の変形例3にかかるプローブユニットの構成を示す上面図である。変形例3にかかるプローブユニットは、上述したベース部材4および案内部材5に代えてベース部材4Bおよび案内部材5Bを備える。そのほかの構成についてはプローブユニット1と同じ構成であるため、説明を省略する。
図11は、本発明の実施の形態の変形例4にかかるプローブユニットが備える案内部材の構成を示す図である。変形例4にかかるプローブユニットは、上述した案内部材5に代えて案内部材5Cを備える。そのほかの構成についてはプローブユニット1と同じ構成であるため、説明を省略する。
案内部材5Cは、枠部51によって半導体集積回路のベース部材4に対する位置を案内する。検査時のプローブ2の挙動は、底部52を挿通していないこと以外は、上述した実施の形態と同じである。
2 コンタクトプローブ
3 プローブホルダ
4、4A、4B ベース部材
5、5A~5C 案内部材
41 収容部
42~45 爪部
51 枠部
52 底部
53 第1可撓部
54 第2可撓部
Claims (6)
- 接触対象の電極と接触するコンタクトプローブと、
前記コンタクトプローブを保持するプローブホルダと、
前記プローブホルダに積層されて前記電極を有する部材を案内する本体部、および、前記本体部から延出し、外部からの荷重に応じて撓む少なくとも一つの可撓部を有する案内部材と、
前記案内部材を収容して保持する収容部、および、前記プローブホルダに積層された前記案内部材において前記可撓部に係止する少なくとも一つの爪部を有するベース部材と、
を備え、
前記本体部は、
前記電極を有する部材を案内する枠部であって、前記接触対象の外縁に応じて形成される枠部と、
前記枠部内に設けられ、前記接触対象の電極とコンタクトプローブとを接触可能に前記接触対象を載置する載置部と、
を有し、
前記可撓部は、前記爪部に係止し、弾性変形可能であって、その端部が前記枠部の側面に連なっており、
前記ベース部材の前記爪部は、前記収容部の内部側に向けて突出して前記可撓部に係止する凸形状をなす
ことを特徴とするプローブユニット。 - 前記載置部は、前記プローブホルダに積層されて前記プローブホルダから延出するコンタクトプローブの一端が貫通する底部である、
ことを特徴とする請求項1に記載のプローブユニット。 - 前記案内部材は、
前記本体部は、前記枠部の開口の貫通方向からみた外縁が矩形をなし、
前記本体部の側面のうち、対向する側面にそれぞれ前記可撓部が設けられる
ことを特徴とする請求項1または2に記載のプローブユニット。 - 前記プローブホルダから一部が延出し、該延出した先端において前記案内部材を支持するコイルばねであって、線材を巻回してなり、所定のピッチで巻回されるばね部と、前記ばね部の一端に設けられ、前記ばね部の外周の径よりも大きい径の外周を有する基端部とを有するコイルばね、
をさらに備え、
前記プローブホルダには、当該プローブホルダの端面に開口を有し、前記ばね部の一部が挿通される小径部と、該小径部よりも直径が大きく、前記コイルばねの前記基端部が収容される大径部とからなる保持孔が形成される
ことを特徴とする請求項1~3のいずれか一つに記載のプローブユニット。 - 前記可撓部は、
前記爪部に係止する係止部と、
前記係止部の一端から延びて前記枠部の側面に連なる第1接続部と、
前記係止部の他端から延び、前記枠部の側面の、前記第1接続部が接続する側面と同一の側面かつ該第1接続部とは異なる部分に連なる第2接続部と、
を有することを特徴とする請求項1~4のいずれか一つに記載のプローブユニット。 - 前記枠部は、前記電極を有する部材の外縁に応じた開口を有し、該開口に前記電極を有する部材を収容して該部材の配設位置を案内し、
前記載置部と、前記プローブホルダに積層されて前記プローブホルダから延出するコンタクトプローブの一端が貫通する底部であり、
前記可撓部は、帯状をなし、各端部が前記枠部の前記開口の形成面側とは反対側の側面にそれぞれ連なり、
前記爪部は、前記案内部材が前記収容部に収容された場合に、自然状態における前記可撓部の前記ベース部材側と反対側の面に係止し、前記可撓部が枠部側に凸となるように変形した際に当該可撓部との係止状態が解除される
ことを特徴とする請求項1に記載のプローブユニット。
Priority Applications (1)
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JP2019057104A JP7220109B2 (ja) | 2019-03-25 | 2019-03-25 | プローブユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2019057104A JP7220109B2 (ja) | 2019-03-25 | 2019-03-25 | プローブユニット |
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JP2020159760A JP2020159760A (ja) | 2020-10-01 |
JP7220109B2 true JP7220109B2 (ja) | 2023-02-09 |
Family
ID=72642809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2019057104A Active JP7220109B2 (ja) | 2019-03-25 | 2019-03-25 | プローブユニット |
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JP (1) | JP7220109B2 (ja) |
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JP2002203653A (ja) | 2000-10-25 | 2002-07-19 | Texas Instr Japan Ltd | ソケット及びこれを備えた電子部品装着装置 |
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JPH10177038A (ja) * | 1996-12-19 | 1998-06-30 | Sony Corp | 電子部品の試験用の電気的接続装置 |
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2019
- 2019-03-25 JP JP2019057104A patent/JP7220109B2/ja active Active
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