TW201524618A - 塗布裝置及塗布膜之製造方法 - Google Patents

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Abstract

本發明之塗布裝置包含有塗布部、送液部、測定部及控制部，該塗布部將含有固化成分之塗布液塗布於相對地移動之片體上，藉將該所塗布之塗布液固化而形成塗布膜；該送液部將前述塗布液輸送至該塗布部；該測定部配置於前述送液部與前述塗布部之間，測定前述塗布液之質量流量；該控制部儲存有前述質量流量之基準值，依據該基準值與前述測定部之測定結果，使前述送液部之前述塗布液之質量流量變更。

Description

塗布裝置及塗布膜之製造方法 發明領域
本發明是有關於塗布裝置及塗布膜之製造方法。
發明背景
迄今，使用一種塗布裝置，該塗布裝置包含有將含有固化成分之塗布液塗布於片體上之塗布部及將塗布液輸送至該塗布部之送液部，以將塗布液塗布於片體而形成塗布膜。在此塗布裝置，當從塗布部之塗布液的吐出量變動時，所得之塗布膜之厚度變動，而有塗布膜無法發揮所期之性能之虞。
是故，提出有一種塗布裝置，該塗布裝置構造成控制輸送至塗布部之塗布液之量，而控制從塗布部之塗布液的吐出量。
舉例言之，提出有一種塗布裝置，該塗布裝置包含有將塗布液輸送至塗布部之送液部、配置於送液部與塗布部之間以測定塗布液之送液量的測定部、及依據在測定部之測定結果而使送液部之送液量變更的控制部(參照專 利文獻1、2)。
先行技術文獻 專利文獻
專利文獻1日本專利公開公報2007-330935號
專利文獻2日本專利公開公報2011-194329號
發明概要
然而，在上述專利文獻1、2中，測定體積流量作為塗布液之送液量，依該體積流量之測定結果，調整了塗布液之送液量(即，體積流量)，在該等專利文獻之塗布裝置中，有無法充分獲得具有所期厚度之塗布膜之情形。
另一方面，亦考慮測定形成於片體上之塗布膜之厚度，依該測定結果，變更塗布液之送液量。然而，在此調整中，以送液部所調整之塗布液反映在塗布膜之測定結果前，比較耗費距離及時間，故有無法將塗布膜之厚度之變動迅速地反映於塗布液之送液量之變更之虞，又，亦與產生塗布液之浪費相關。
本發明鑑於上述問題點，以提供可比較迅速且確實而且不浪費地抑制塗布膜之厚度之變動的塗布裝置及塗布膜之製造方法為課題。
本案發明人等對塗布液之送液量與所形成之塗布膜之厚度的關係致力研究，結果，判明由於有塗布液之 體積因塗布裝置之周圍之環境溫度而變動之虞，故當以體積流量為送液量之指標時，因上述體積變動，而有無法完全抑制所得之塗布膜之厚度的變動之虞。又，依此見解，本案發明人等進一步致力進行研究，發現藉以質量流量作為送液量之指標，可更抑制所得之塗布膜之厚度的變動，而完成了本發明。
即，本發明之塗布裝置包含有塗布部、送液部、測定部及控制部，該塗布部將含有固化成分之塗布液塗布於相對地移動之片體上，藉將該所塗布之塗布液固化而形成塗布膜；該送液部將前述塗布液輸送至該塗布部；該測定部配置於前述送液部與前述塗布部之間，測定前述塗布液之質量流量；該控制部儲存有前述質量流量之基準值，依據該基準值與前述測定部之測定結果，使前述送液部之前述塗布液之質量流量變更。
根據此種結構，由於可以配置於送液部與塗布部之間之測定部，測定塗布液之送液量，故相較於測定塗布膜之厚度之情形，可更迅速且不浪費地抑制塗布膜之厚度之變動。
而且，由於採用質量流量作為塗布液之送液量之指標，以測定部，進行塗布液之質量流量之測定，進一步，依測定部之測定結果與質量流量之基準值，可使塗布液之流量變更，故相較於以體積流量作為指標之情形，可更確實地抑制塗布膜之厚度之變動。
因而，根據上述結構之塗布裝置，可較迅速且確實而 且不浪費地抑制塗布膜之厚度之變動。
又，在上述結構之塗布裝置中，前述基準值宜依塗布於前述片體上之塗布液中之固化成分的質量分率來決定。
根據此種結構，藉基準值依塗布於片體上之塗布液中之固化成分的質量分率來決定，而依據在與塗布膜之厚度之間具有相關關係之塗布液之固化成分的質量分率，設定基準值。因而，可使質量流量更適切地變更。
又，在上述結構之塗布裝置中，前述基準值宜依下述算式(1)及(2)決定。
S：質量流量之基準值(kg/min)
W：塗布於片體上之塗布液之寬度的設定值(m)
U：片體對塗布部之相對移動速度(m/min)
t_ref：塗布於片體上而固化之塗布膜之厚度的設定值(m)
ρ_s：塗布於片體上而固化之塗布膜之密度(kg/m3)
B：塗布液中之固化成分之質量分率(-)
ρ_a：塗布於片體上而固化之塗布膜之密度的暫時設定值(kg/m3)
t_ms：塗布於片體上而固化之塗布膜之厚度的測定值(m)
又，在上述結構之塗布裝置中，前述B宜以下述算式(3)~(5)中之任一個決定。
ρ_L：塗布液之密度之測定值(kg/m3)
T：塗布時之塗布液的溫度(℃)
a、b、c：係數(-)
又，本發明之塗布膜之製造方法使用前述塗布裝置，以前述測定部，測定前述塗布液之前述質量流量，並且以前述控制部，依據前述前述基準值與前述測定部之測定結果，使前述送液部之前述質量流量變更，而且以前述塗布部，將前述塗布液塗布於前述片體上而形成塗布膜。
1‧‧‧塗布裝置
3，3a-3c‧‧‧塗布液
5‧‧‧收容部
7‧‧‧泵
11‧‧‧片體
13‧‧‧塗布部
15‧‧‧配管
19‧‧‧支撐部
21‧‧‧測定部
23‧‧‧控制部
27‧‧‧固化部
40‧‧‧塗布膜
D‧‧‧測定結果
S‧‧‧基準值
W，W1-W3‧‧‧塗布液之寬度
圖1是本發明一實施形態之塗布裝置之概略結構圖。
圖2是顯示以本實施形態之塗布裝置將塗布液塗布於片體之狀態之一例的概略側視圖。
圖3是顯示以本實施形態之塗布裝置將塗布液塗布於 片體之狀態之一例的概略側視圖。
圖4是顯示以本實施形態之塗布裝置將塗布液塗布於片體之狀態之一例的概略側視圖。
用以實施發明之形態
以下，就本發明之塗布裝置、使用該塗布裝置之塗布膜之製造方法的實施形態，一面參照圖式，一面說明。
如圖1所示，本實施形態之塗布裝置1包含有收容有含有固化成分之塗布液3之收容部5、作為將塗布液3從該收容部5往下游側輸送之送液部的泵7、將以泵7輸送之塗布液3依序塗布於沿著長向往下游側(參照實線箭號)相對地移動之帶狀片體11而形成塗布膜40的塗布部13、配設於泵7與塗布部13之間而測定以泵7往塗布部13輸送之塗布液3的質量流量之測定部21、儲存有基準值S而依據該基準值S與測定部21之測定結果D而使泵7變更質量流量的控制部23、形成塗布液3之移動路徑之配管15、支撐片體11之支撐部19。又，塗布裝置1包含有使塗布於片體11上之塗布液3固化之固化部27。
前述塗布液3是含有固化成分以塗布於片體11而在該片體11上固化的塗布液。此種塗布液3可舉例如聚合物溶液為例，使用作為上述固化成分之材料可舉熱硬化性材料、紫外線硬化材料、電子束硬化性材料等為例。
又，片體11可舉例如樹脂薄膜為例。在圖1中，顯示片體11為具有可撓性之長形片體的態樣，其他亦可採用片體 11為單板狀之態樣或具有非可撓性之態樣。
收容部5是收容用於塗布於片體11之塗布液3的構造。此收容部5可舉例如金屬製槽等為例。
泵7是將收容於收容部5之塗布液3往下游側送往塗布部13的構造。此泵7可舉例如齒輪泵、膜片泵、柱塞泵、蠕動泵等習知眾所皆知之泵為例。
塗布部13將從泵7所輸送之塗布液3依序塗布於帶狀片體11，該帶狀片體一面以例如輥等支撐部19支撐，一面對該塗布部13相對地往下游側移移動。此塗布部13可舉模塗布機等為例。
配管15分別連接於收容部5與泵7之間、及泵7與塗布部13之間，而形成使塗布液3從收容部5經由泵7往塗布部13移動之路徑。
上述配管15可舉金屬材料、混合有樹脂與金屬之複合材料、使用樹脂材料等來形成管狀之管等為例。
支撐部19是從塗布部13之反側支撐於長向移動之片體11的構造。此支撐部19可舉輥等為例。
測定部21是測定以泵7往塗布部13輸送之塗布液3之質量流量的構造。此測定部21在泵7與塗布部13之間配設於配管15。此測定部21測定塗布液3之質量流量，將測定結果D作為電子資料而發送至控制部23。
此種測定部21可舉流量計為例，該流量計只要可測定質量流量即可，未特別限定。此流量計可舉容積式、面積式、渦輪式、差壓式、電磁式、渦流式、超音波式、科氏 力式、熱式流量計等為例。
控制部23儲存有塗布液3之質量流量之基準值S作為電子資料，接收從測定部21發送之作為電子資料的測定結果D，依據基準值S與測定結果D，使泵7之塗布液3之送液量(即，質量流量)變更。
具體言之，控制部23具有下述功能，前述功能是將所接收之測定結果D與基準值S比較，當測定結果D大於基準值S時，使泵7之送液量(即，質量流量)減少，當測定結果D小於基準值S時，則使泵7之送液量(即，質量流量)增加。
固化部27是用以使塗布液3固化之裝置。該固化部27按塗布液3之種類適宜設定，可舉例如熱風式或紅外線(IR)照射式乾燥裝置、紫外線(UV)照射裝置、電子束(EB)照射裝置等為例。具體言之，塗布液3具有以加熱而硬化之材料時，可舉上述加熱裝置為例，塗布液3具有以紫外線照射而硬化之材料時，可舉上述紫外線照射裝置等為例，塗布液3具有以電子束而硬化之材料時，可舉上述電子束照射裝置為例。此外，在本發明中，亦可根據塗布液3之種類，採用塗布裝置不具有固化部之結構。
在本實施形態中，基準值S依據塗布於片體11上之塗布液3之固化成分之質量分率決定。
如此，藉基準值S依據塗布於片體11上之塗布液3中之固化成分之質量分率決定，可依據在與塗布膜40之厚度之間具有相關關係之塗布液3之固化成分的質量分率，設定基準值。因而，可更適當地調整質量流量。
具體言之，基準值S依據下述算式(1)、(2)決定。
S：質量流量之基準值(kg/min)
W：塗布於片體上之塗布液之寬度的設定值(m)
U：片體對塗布部之相對移動速度(m/min)
t_ref：塗布於片體上而固化之塗布膜之厚度的設定值(m)
ρ_s：塗布於片體上而固化之塗布膜之密度(kg/m3)
B：塗布液中之固化成分之質量分率(-)
ρ_a：塗布於片體上而固化之塗布膜之密度的暫時設定值(kg/m3)
t_ms：塗布於片體上而固化之塗布膜之厚度的測定值(m)
上述S是質量流量之基準值，是以上述算式(1)算出之值。
在上述算式(1)中，前述W是塗布於片體11上之塗布液3之寬度W的設定值，相當於塗布膜40之寬度。該W可按所得之塗布膜40之種類等，適宜設定。
此外，片體11上之塗布液3之形狀(即，塗布膜40之形狀)非特別限定。又，片體11上之塗布液3可作為例如在片體11之移動方向連續之1個塗布液3來塗布，亦可作為間歇之複數個塗布液3來塗布。再者，片體11上之塗布液3可作為例如在片體11之寬度方向(與移動方向垂直之方向)連續 之1個塗布液3來塗布，亦可作為間歇之複數個塗布液3來塗布。
此塗布液3之寬度W以例如在寬度方向將1個塗布液3塗布於片體11上，如圖2所示，當該塗布液3之寬度窄於片體11時，便為該塗布液3之寬度，如圖3所示，該塗布液3之寬度與片體11之寬度相同時，則為片體11之寬度。又，如圖4所示，在寬度方向於片體11上複數個塗布液3相互隔開間隔而塗布時，塗布於片體11上之塗布液3之寬度為各塗布液3之寬度之總和，舉例言之，於寬度方向隔開間隔塗布3個塗布液3時，塗布於片體11上之塗布液3之寬度為3個塗布液3a、3b、3c之寬度W1、W2及W3之總和(W=W1+W2+W3)。
上述U是片體11對塗布部13之相對移動速度。又，該U可按所得之塗布膜40之種類等，預先適宜設定。
上述t_ref是塗布於片體11上固化而得之塗布膜40之厚度的設定值，該t_ref可按塗布膜40之種類等，預先適宜設定。
上述B是塗布液3中之固化成分之質量分率。該B可按塗布液3之種類等，預先適宜設定。該B可以例如後述算式(3)~(5)之任一個算出。
上述ρ_s是塗布於片體11上而固化之塗布膜40之密度，是以上述算式(2)算出之值。
在上述算式(2)中，前述ρ_a是塗布於片體11上而固化之塗布膜40之密度的暫時設定值，該ρ_a可按塗布液3之種類等，預先適宜設定。
上述t_ms是塗布於片體11上而固化之塗布膜40之厚度的測定值，該t_ms為下述值，前述值是在預備實驗等，將上述算式(1)中之ρ_s設定為上述該密度之暫時設定值ρ_a，以此條件將塗布液3塗布於片體11上時，測定所固化之塗布膜40之厚度而得。
藉基準值S依上述算式(1)及(2)決定，當塗布液3之種類相同時，即使改變W、U、t_ref、B，亦可使用相同之ρ_s，故有預備實驗1次即可之優點。
上述基準值S如以下決定。即，在預備實驗等，將塗布膜40之密度之值設定為暫時設定值ρ_a。又，將厚度設定為設定值t_ref，將寬度設定為W，將移動速度設定為U，進一步如後述進行，而獲得上述B，從上述算式(1)，求出暫時基準值S’。然後，以此設定條件，將塗布液3塗布於片體11，而獲得固化之塗布膜。測定所得之塗布膜之厚度，獲得t_ms。之後，從t_ref、ρ_a、t_ms，以上述算式(2)，獲得ρ_s。
之後，從W、U、t_ref、ρ_s及B，以上述算式(1)決定基準值S。
又，在本實施形態中，上述B以下述算式(3)~(5)之任一個決定。
數4
ρ_L：塗布液之密度之測定值(kg/m3)
T：塗布時之塗布液的溫度(℃)
a、b、c：係數(-)
上述ρ_L是塗布液3之密度之測定值。
上述T是塗布時之塗布液3之溫度的測定值。
上述a、b及c是係數，可按塗布液3之種類，預先適宜設定。
藉上述B使用依據上述算式(3)~(5)任一個決定之數，即使在求出上述暫時基準值S’而獲得ρ_s之實驗(預備實驗)與進行基準值S之決定(算出)之實驗(基準值S之算出實驗)之間變更B時，亦可僅設定變更該B即可，不需變更其他參數，故具有可簡便地決定基準值S之優點。
特別是使用上述算式(5)來算出B時，決定基準值S後，使用所決定之基準值S，將塗布液塗布於片體11之期間，即使B變動，亦可按其變動，再算出基準值S，故可以更良好之精確度進行塗布液3之塗布。
上述B依據上述算式(3)決定時，可從塗布液3之 組成，算出上述B。
此B可於開始塗布液3在片體11之塗布前算出。
上述B依據上述算式(4)決定時，將塗布液3塗布於例如片體11上後，測定固化前之質量(固化前質量)與該塗布液3固化後之質量(固化後質量)，依據所得之固化前質量與固化後質量，算出上述B。此外，在上述B依據上述算式(4)決定之際之實驗中，塗布塗布液3之對象非特別限定於上述帶狀片體11。此種對象可舉其他例如鋁杯、玻璃板、片體11之切斷片等為例。
此種B可於開始塗布液3塗布在片體11前算出。
該等固化前質量與固化後質量是以例如電子度量等分別測定之值。
上述B依據上述算式(5)決定時，可以事先之預備實驗等，取得B、ρ_L及T之資料數個模式，從所得之B、ρ_L及T逆算，藉此，算出a、b、c。
具體言之，如以下進行，算出a、b及c。即，準備塗布液3之種類相同而塗布液3中之固化成分之質量分率相互不同之複數個塗布液3。該等塗布液之質量分率可從上述算式(3)或(4)算出。又，質量分率不同之塗布液3之數量非特別限定，舉例言之，可使用不同之3階段之質量分率的塗布液。接著，就該複數個塗布液3，分別一面變更溫度T，一面測定密度ρ_L。用於測定密度之密度計非特別限定，可舉習知眾所皆知之密度計為例。將所得之密度ρ_L、溫度T及上述質量分率代入上述算式(5)，而使用例如最小平方法，算出 係數a、b及c。
然後，依據所算出之a、b及c、所測定之塗布液3之密度ρ_L、所測定之塗布液3之溫度T，算出上述B。
由於藉上述B依據上述算式(5)決定，可一面進行塗布液3在片體11上之塗布，一面即時決定上述B，故可更適當地決定上述B。
上述塗布裝置1一面以測定部21測定該塗布液3之質量流量，一面以泵7將塗布液3輸送至塗布部13，從塗布部13將所輸送之塗布液3吐出至片體11上而塗布。在此塗布之期間，將測定部21之測定結果D發送至控制部23，控制部23判斷測定結果D大於基準值S時，使泵7減少作為送液量之質量流量。另一方面，控制部23判斷測定結果D小於基準值S時，使泵7增加作為送液量之質量流量。
如此進行，藉控制部23，一面變更以泵7輸送之塗布液3之質量流量，一面以塗布部13將塗布液3塗布於片體11上，以固化部27將塗布於片體11上之塗布液3固化，而形成塗布膜40。
根據此塗布裝置1，由於可以配置於泵(送液部)7與塗布部13之間之測定部21測定塗布液3之送液量，故相較於測定塗布膜40之厚度之情形，可更迅速且不浪費地抑制塗布膜40之厚度之變動。
而且，採用質量流量作為塗布液3之送液量之指標，以測定部21進行塗布液3之質量流量的測定，進一步，依據測定部21之測定結果D與質量流量之基準值S，可調整塗布液3 之送液量，故相較於以體積流量作為指標之情形，可確實地抑制塗布膜40之厚度之變動。
因而，根據上述結構之塗布裝置1，可較迅速且確實地而且不浪費地抑制塗布膜40之厚度的變動。
又，在本實施形態中，控制部23宜將塗布液3之質量流量調整成在基準值S之±10%以內，以調整成在±5%以內為更佳。
如此，控制部23藉將塗布液3之質量流量調整成在基準值S之±10%以內，可更確實且不浪費地抑制塗布膜40之厚度之變動。
又，本實施形態之塗布膜之製造方法使用前述塗布裝置1，一面以測定部21測定塗布液3之質量流量，且一面以控制部23，依據基準值S與測定部21之測定結果D，使泵7之質量流量變更，並且以塗布部13將塗布液3塗布於片體11上，以固化部27將所塗布之塗布液3固化，而形成塗布膜40。
根據此種結構，與上述同樣地，可較迅速且確實而且不浪費地抑制塗布膜40之厚度之變動。
本實施形態之塗布裝置及塗布膜之製造方法如上述，本發明不限於上述實施形態，在本發明之謀求之範圍內，可適宜變更設計。
實施例
接著，舉實施例為例，更詳細地說明本發明，本發明不限於該等。
在本實施例中，顯示實際地從上述算式(3)~(5)算出B之實驗及檢討了所算出之B之有效性的實驗。
實驗1
以下述作業1~4，使用從上述算式(3)或(4)所算出之B，而從上述算式(1)、(2)算出質量流量之基準值S。
˙作業1(預備實驗)
從上述算式(3)或上述算式(4)算出B。
具體言之，使用聚合物成分M(從含有重量平均分子量220萬之丙烯酸系聚合物之溶液(固化成分濃度30質量%)而得之丙烯酸系黏著劑)、及聚合物成分N(從含有重量平均分子量165萬之丙烯酸系聚合物之溶液(固化成分濃度30質量%)而得之丙烯酸系黏著劑)2種類作為塗布液含有之固化成分，準備溶劑作為溶媒。此外，將含有聚合物成分M之塗布液顯現為聚合物M溶液，將含有聚合物成分N之塗布液顯現為聚合物N溶液。
然後，塗布液中之聚合物成分的質量對塗布液之全質量(質量分率B)從各塗布液之成分比，如下述表1所示算出。即，從上述算式(3)或上述算式(4)所算出之B之值如下述表1所示。
˙作業2(預備實驗)
對各塗布液，使用上述算式(1)、(2)，算出質量流量之暫時基準值S’。
具體言之，將塗布於片體上之塗布液之寬度W、片體對塗布部之相對之移動速度U、塗布於片體上而固化之塗布 膜之厚度的設定值t_ref設定成如表1所示。又，將塗布於片體上而固化之塗布膜之密度的暫時設定值ρ_a設定成如表1所示。此外，將該等值代入上述算式(1)所算出之質量流量之暫時基準值S’作為參考值而顯示於表1。
以此設定條件，使用圖1所示之塗布裝置，於作為片體之聚對苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜(MRF38、三菱樹脂公司製)上塗布塗布液並使其固化而形成了塗布膜。
此外，於表1亦一併顯示使用之塗布液之溫度T之測定值。
˙作業3(預備實驗)
使用接觸式變位計(線性計，尾崎製作所公司製)，測定了在上述作業2形成之塗布膜之厚度t_ms。
然後，將所得之t_ms與上述各設定值t_ref、ρ_a代入至算式(2)，而算出塗布於片體上而固化之塗布膜之密度ρ_s。將結果顯示於表1。
˙作業4(質量流量之基準值S之算出)
使用在上述作業3所算出之ρ_s取代暫時設定值ρ_a，使用在上述算式(3)或(4)所算出之B，進一步，將W、U及t_ref如表2般設定，代入至上述算式(1)，算出質量流量之基準值S。然後，與上述作業2同樣地，形成了塗布膜。
又，測定所形成之塗布膜之厚度t_ms，與設定值t_ref比較。當測定值t_ms對設定值t_ref之差(t_ms-t_ref)對設定值t_ref超過-10%而不到+10%時，以「￮」表示質量流量之基準值S適當地設定，當脫離此範圍時(上述差對設定值 t_ref為-10%以下或+10%以上時)，以「×」表示質量流量之基準值S未適當地設定。
將結果顯示於表2。
在表2，在實驗例6未適當地設定S之理由是雖然實際之塗布液之質量分率B為0.15，但誤將0.12代入上述算式(1)所致。是故，將正確之質量比率0.15代入上述算式(1)，結果，如實驗例7所示，適當地設定了S。
在實施例8未適當地設定S之理由是雖然塗布於實際之片體而固化之塗布液之密度ρ_s為1250，但誤將1111代入上述算式(1)所致。是故，代入正確之ρ_s之值1250，結果，如實驗例9所示，適當地設定了S。
實驗2
以上述作業1~4，使用從上述算式(5)所算出之B，而從算式(1)、(2)算出質量流量之基準值S。
˙作業1(預備實驗)
為用於上述算式(5)，測定了塗布液之溫度T及密度ρ_L。
具體言之，使用與在上述實驗1所使用之塗布液同種且塗布液中之固化成分之質量對塗布液之全質量(質量分率：從上述算式(3)或(4)算出)如表3所示的3種塗布液。此外，如上述，將具有聚合物成分M(聚合物M)之塗布液顯現為聚合物M溶液，將具有聚合物成分N(聚合物N)之塗布液顯現為聚合物N溶液。
然後，對各種類及質量分率之塗布液，使溫度3階段變更，使用密度計(密度比重計、京都電子工業公司製)，測定了各塗布液之溫度T與密度ρ_L。
將結果顯示於表3。
˙作業2(預備實驗)
為用於上述算式(5)，算出了係數a、b、c。
具體言之，按塗布液中之聚合物成分之種類，如上述作業1所示，取得以事前之實驗所測定之B、ρ_L及T之資料數個模式，從所得之B、ρ_L及T，使用最小平方法來逆算，藉此，算出了a、b、c。
將結果顯示於表4。
˙作業3(預備實驗)
對各塗布液，使用上述算式(1)、(2)，算出了質量流量之基準值S。
具體言之，將塗布於片體上之塗布液之寬度W、片體對塗布部之相對移動速度U、固化之塗布膜之厚度的設定值t_ref設定成如表5所示。又，將塗布於片體上而固化之塗布膜之密度的暫時設定值ρ_a設定成如表5所示。又，將在上述所得之a、b、c、所測定之T及ρ_L代入上述算式(5)而算出B。此外，將該等值代入上述算式(1)所算出之質量流量之暫時基準值S’作為參考值而顯示於表5。
以此設定條件，使用圖1所示之塗布裝置，於作為片體之聚對苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜(MRF、三菱樹脂公司製)上塗布塗布液並使其固化而形成了塗布膜。此外，塗布液之溫度T亦一併顯示於表5。
˙作業4(預備實驗)
使用接觸式變位計(線性計，尾崎製作所公司製)，測定了在上述作業3所形成之塗布膜之厚度t_ms。
然後，將所得之t_ms與上述各設定值t_ref、ρ_a代入至算式(2)，而算出塗布於片體上之片體塗布膜之密度ρ_s。將結果顯示於表5。
˙作業5(質量流量之基準值S之算出)
使用在上述作業4所算出之ρ_s取代暫時設定值ρ_a。又，測定塗布液之溫度T與密度ρ_L，使用從該等與在上述作業2所算出之a、b、c以上述算式(5)所算出之B，進一步，將W、U及t_ref如表6般設定。將該等值代入上述算式(1)， 算出質量流量之基準值S。然後，與上述作業3同樣地，形成了塗布膜。
又，測定所形成之塗布膜之厚度t_ms，與設定值t_ref比較。當測定值t_ms對設定值t_ref之差(t_ms-t_ref)對設定值t_ref超過-10%而不到+10%時，以「￮」表示質量流量之基準值S適當地設定，當脫離此範圍時(上述差對設定值t_ref為-10%以下或+10%以上時)，以「×」表示質量流量之基準值S未適當地設定。
將結果顯示於表6。
在實驗例13未適當地設定S之理由是因將與實際之係數a、b、c不同之各值誤代入上述算式(5)而算出B所致。是故，將正確之係數a、b、c各值代入，結果，如實驗例14所示，適當地設定了S。
1‧‧‧塗布裝置
3‧‧‧塗布液
5‧‧‧收容部
7‧‧‧泵
11‧‧‧片體
13‧‧‧塗布部
15‧‧‧配管
19‧‧‧支撐部
21‧‧‧測定部
23‧‧‧控制部
27‧‧‧固化部
40‧‧‧塗布膜

Claims (5)

  1. 一種塗布裝置，包含有：塗布部，將含有固化成分之塗布液塗布於相對地移動之片體上，藉該所塗布之塗布液固化而形成塗布膜；送液部，將前述塗布液輸送至該塗布部；測定部，配置於前述送液部與前述塗布部之間，測定前述塗布液之質量流量；及控制部，儲存有前述質量流量之基準值，依據該基準值與前述測定部之測定結果，使前述送液部之前述塗布液之質量流量變更。
  2. 如請求項1之塗布裝置，其中前述基準值依塗布於前述片體上之塗布液中之固化成分的質量分率來決定。
  3. 如請求項2之塗布裝置，其中前述基準值依下述算式(1)及(2)決定， S：質量流量之基準值(kg/min)W：塗布於片體上之塗布液之寬度的設定值(m)U：片體對塗布部之相對移動速度(m/min)t_ref：塗布於片體上而固化之塗布膜之厚度的設定值 (m)ρ_s：塗布於片體上而固化之塗布膜之密度(kg/m3)B：塗布液中之固化成分之質量分率(-)ρ_a：塗布於片體上而固化之塗布膜之密度的暫時設定值(kg/m3)t_ms：塗布於片體上而固化之塗布膜之厚度的測定值(m)。
  4. 如請求項3之塗布裝置，其中前述B以下述算式(3)~(5)中之任一個決定， ρ_L：塗布液之密度之測定值(kg/m3)T：塗布時之塗布液的溫度(℃)a、b、c：係數(-)。
  5. 一種塗布膜之製造方法，使用請求項1記載之塗布裝置，以前述測定部，測定前述塗布液之前述質量流量，並且以前述控制部，依據前述基準值與前述測定部之測定結果，使前述送液部之前述質量流量變更，而且以前述塗布部，將前述塗布液塗布於前述片體上而形成塗布膜。
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