TWI681821B - 塗布裝置及塗布膜之製造方法 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種塗布裝置，其具有：塗布部，在相對性移動的片材上塗布含固化成分之塗布液，藉由該被塗布之塗布液被固化而形成塗布膜；送液部，將前述塗布液送至該塗布部；測量部，測量由前述送液部供給至前述塗布部之前述塗布液的質量流量；控制部，儲存有從預定算式算出之前述質量流量的基準值，而根據該基準值與前述測量部之測量結果以變更前述送液部之前述塗布液的質量流量。

Description

塗布裝置及塗布膜之製造方法 發明領域
本發明是有關於塗布裝置及塗布膜之製造方法。
發明背景
以往所使用的塗布裝置，具備了將含固化成分之塗布液塗布於片材上的塗布部與將塗布液送至該塗布部的送液部，並將塗布液塗布於片材上以形成塗布膜。因此在此類塗布裝置上，當來自塗布部之塗布液的噴出量變動時，所獲得之塗布膜的厚度會變動，塗布膜恐無法發揮所期望之性能。
鑒於此而提案有一種塗布裝置，其構成為控制被送至塗布部之塗布液的量，控制來自塗布部之塗布液的噴出量。
例如，提案有一種塗布裝置(參照專利文獻1、2)，其具有：送液部，將塗布液送至塗布部；測量部，裝設於送液部與塗布部之間以測量塗布液之送液量；控制部，根據測量部之測量結果以變更送液部之送液量。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本專利特開2007-330935號公報
專利文獻2：日本專利特開2011-194329號公報
發明概要
但是，上述專利文獻1、2中，雖是測量體積流量以作為塗布液之送液量，根據該體積流量之測量結果來調整塗布液之送液量(亦即體積流量)，但這些專利文獻的塗布裝置，有時並無法充分獲得具有所期望厚度的塗布膜。
另一方面，也測量形成在片材上之塗布膜厚度，根據該測量結果以變更塗布液之送液量。但是，此種調整，在送液部中被調整之塗布液，至被反映於塗布膜之測量結果為止，會比較花費距離及時間。因此，會有無法將塗布膜之厚度變動迅速地反映在塗布液之送液量變更上的疑慮，又，還會連帶造成塗布液的浪費。
本發明鑒於以上之問題，以提供一種較為迅速確實，並能在不造成浪費下抑制塗布膜之厚度變動之塗布裝置及塗布膜之製造方法為課題。
本發明之發明者們針對塗布液之送液量與所形成之塗布膜厚度的關係，進行了潛心的研究。其結果，得知塗布液之體積因為可能會因塗布裝置周圍環境溫度而變 動，故當把體積流量作為送液量指標時，上述體積變動可能會造成所獲得之塗布膜的厚度變動無法被充分抑制。然後，還根據這些見解而進行了更努力的研究。結果發現，藉由將質量流量作為送液量之指標，所獲得之塗布膜的厚度變動，更能夠受到抑制，而完成了本發明。
亦即，本發明之塗布裝置，是一種將含固化成分之塗布液塗布在片材上以形成塗布膜的塗布裝置，其具有：塗布部，在移動的片材上塗布前述塗布液，藉由該被塗布之塗布液被固化而形成塗布膜；送液部，將前述塗布液送至該塗布部；測量部，測量由前述送液部送至前述塗布部之前述塗布液的質量；控制部，儲存有前述質量流量之基準值，而根據該基準值與前述測量部之測量結果以變更前述送液部之前述塗布液的質量流量，前述基準值是根據以下算式(1)、(2)及(3)來決定。
Figure 105102361-A0202-12-0003-3
S：塗布液之質量流量的基準值(kg/min)
W：被塗布於片材上之塗布液的寬度的設定值(m)
U：片材對於塗布部之相對性移動速度(m/min)
t_ref：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的厚度的設定值(m)
ρ_s：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的密度(kg/m3)
B：塗布液中之固化成分的質量分率(-)
ρ_a：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的密度的暫時設定值(kg/m3)
t_ms：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的厚度的測量值(m)
ρ_L：塗布液之密度的測量值(kg/m3)
T：被塗布時之塗布液的溫度(℃)
P：被塗布時之塗布液的壓力(Pa)
Q：被塗布時之塗布液的質量流量(kg/min)
a、b、c、d、e：係數(-)
又，本發明之塗布膜之製造方法，是一種使用前述塗布裝置以形成塗布膜的塗布膜之製造方法，一邊藉由前述測量部，測量前述塗布液之前述質量流量，且一邊藉由前述控制部，根據前述基準值與前述測量部之測量結果變更前述送液部的前述送液速度，一邊藉由前述塗布部在前述片材上塗布前述塗布液以 形成塗布膜。
1‧‧‧塗布裝置
3、3a、3b、3c‧‧‧塗布液
5‧‧‧容納部
7‧‧‧泵
11‧‧‧片材
13‧‧‧塗布部
15‧‧‧配管
19‧‧‧支撐部
21‧‧‧測量部
23‧‧‧控制部
27‧‧‧固化部
40‧‧‧塗布膜
W、W1、W2、W3‧‧‧寬度
圖1為本發明之一實施形態的塗布裝置的概略構成圖。
圖2為一概略側面圖，表示由本實施形態之塗布裝置在片材上塗布塗布液的狀態之一例。
圖3為一概略側面圖，表示由本實施形態之塗布裝置在片材上塗布塗布液的狀態之一例。
圖4為一概略側面圖，表示由本實施形態之塗布裝置在片材上塗布塗布液的狀態之一例。
圖5為被使用於實施例之預備實驗中的裝置的概略構成圖。
用以實施發明之形態
以下邊參照圖式邊針對本發明之塗布裝置、使用了該塗布裝置之塗布膜的製造方法的實施形態來加以說明。
如圖1所示，本實施形態之塗布裝置1包含有以下部位：容納部5，容納含固化成分之塗布液3；泵7，作為將塗布液3從該容納部5送到下游側之送液部；塗布部13，將藉由泵7送來之塗布液3沿長邊方向在下游側(參照實線箭頭符號)於對塗布部13相對移動之帶狀片材11上依序塗布以形成塗布膜40；測量部21，配置於泵7與塗布部13之間，測量藉由泵7被送往塗布部13之塗布液3的質量流量；控制 部23，儲存有質量流量之基準值S，根據該基準值S與測量部21的測量結果D，對泵7變更質量流量；配管15，形成塗布液3之移動路線；支撐部19，支撐片材11。又，塗布裝置1具備有固化部27，使被塗布於片材11上之塗布液3固化。
前述塗布液3含有固化成分，其被塗布於片材11，而在該片材11上被固化。作為此種塗布液3，可舉聚合物溶液為例，而作為上述固化成分來使用之材料，可舉熱硬化性材料、紫外線硬化性材料、電子束硬化性材料等。
又，作為片材11可舉樹脂薄膜為例。圖1中，片材11雖顯示為具可撓性之長條狀態樣，但其他亦可採用單板狀態樣或具非可撓性之態樣。
容納部5是容納用以塗布於片材11上之塗布液3。而作為此類容納部5可舉金屬製的筒槽等為例。
泵7是將被容納於容納部5中之塗布液3從下游側送到塗布部13。而作為此類泵7可舉齒輪泵、隔膜泵、柱塞泵、蛇形泵等以往習知的泵為例。再者，此處是以泵7與配管15來構成送液部。
塗布部13是將從泵7輸送之塗布液3，依序塗布於例如一邊被滾筒等支撐部19支撐一邊對於該塗布部13而往下游側相對移動之帶狀片材11上。而作為此類塗布部13可舉模具塗布機等為例。
配管15在容納部5與泵7之間，以及泵7與塗布部13之間各自連接，從容納部5透過泵7，而形成使塗布液3往塗布部13移動的路線。
作為以上配管15，可舉金屬材料、混合樹脂與金屬之複合材料，或使用樹脂材料等而形成管狀的管子等。
支撐部19是將在長邊方向上移動之片材11從塗布部13的相反側支撐者。而作為此類支撐部19可舉滾筒等。
測量部21是測量藉由泵7而被送到塗布部13之塗布液3的質量流量。而此類測量部21是在泵7與塗布部13之間而被配置於配管15。此類測量部21測量塗布液3之質量流量，將測量結果D作為電子資料傳送至控制部23。又，測量部21可測量塗布液3之密度、溫度、壓力。
作為此種測量部21，可舉具流量計與壓力計者為例。該流量計雖並無特定限制，但可舉可測量塗布液3之質量流量、密度及溫度的流量計等為例。又，壓力計只要能測量塗布液3之壓力即可，並無特定限制。再者，測量部21也可備有可測量每一測量對象之測量器。
控制部23是將塗布液3之質量流量的基準值S以電子資料之形式儲存，接收從測量部21傳送過來之作為電子資料的測量結果D，根據基準值S與測量結果D，變更泵7之塗布液3的送液量(亦即質量流量)。
具體而言，控制部23具備了將接收之測量結果D與基準值S比較，當測量結果D比基準值S大時，即減少泵7之送液量(亦即質量流量)，當測量結果D比基準值S小時，即增加泵7之送液量(亦即質量流量)的功能。
又，其還具備有接收塗布液3的質量流量、密度、溫度及壓力，使用預先設定之a、b、c、d、e，以算式(3)算出B， 再使用此B與預先設定之ρ_s，以算式(1)決定基準值S的功能。
固化部27是使塗布液3固化的裝置。該固化部27視塗布液3種類而被適當地設定，可舉熱風式或紅外線(IR)照射式之乾燥裝置、紫外線(UV)照射裝置或電子束(EB)照射裝置等為例。具體而言，若塗布液3具有藉由加熱來硬化的材料時，可舉上述之加熱裝置，若塗布液3具有藉由紫外線照射來硬化的材料時，可舉紫外線照射裝置，若塗布液3具有藉由電子束來硬化的材料時，可舉上述電子束照射裝置。再者，本發明中，也可視塗布液3種類而採用塗布裝置不具固化部的構成。
本實施型態中，基準值S是根據被塗布於片材11上之塗布液3的固化成分的質量分率來決定。
像這樣，藉由基準值S根據被塗布於片材11上之塗布液3的固化成分的質量分率來決定，根據與塗布膜40之厚度有相關關係的塗布液3固化成分的質量分率，來設定基準值S。因此，可以更為適切地調整質量流量。
具體而言，基準值S是根據下述算式(1)、(2)及(3)來決定。
Figure 105102361-A0202-12-0008-4
B=a×ρ_L+b×T+c×P+d×Q+e…(3)
上述S是質量流量的基準值，是由上述算式(1)所計算出的值。
在上述算式(1)中，上述W為被塗布於片材11上之塗布液3寬度W的設定值，相當於塗布膜40的寬度。該W可以視所獲得之塗布膜40的種類而被預先做適當地設定。
再者，片材11上之塗布液3的形狀(亦即塗布膜40的形狀)並無特定限制。又，片材11上之塗布液3，例如可作為在片材11的移動方向上連續的1種塗布液3被塗布，也可作為間歇之複數種塗布液3被塗布。再者，片材11上之塗布液3，例如可作為在片材11寬邊方向(與移動方向垂直的方向)上連續的1種塗布液3被塗布，也可作為間歇之複數種塗布液3被塗布。
而此類塗布液3的寬度W，例如在寬邊方向上於片材11上被塗布1種塗布液3，且如圖2所示，該塗布液3之寬度比片材11窄時，寬度W為該塗布液3之寬度，若如圖3所示，該塗布液3之寬度與片材11之寬度相同時，則寬度W為片材11的寬度。又，如圖4所示，若在寬邊方向上，複數的塗布液3在片材11上互相保持間隔塗布時，被塗布於片材11上之塗布液3的寬度為各塗布液3之寬度的合計，例如在寬邊方向上保持間隔塗布3種塗布液3時，被塗布於片材11上之塗布液3的寬度為3種塗布液3a、3b、3c之寬度W1、W2、W3的合計(W=W1+W2+W3)。
上述的U為片材11相對於塗布部13之相對性移 動速度。又，該U可視所獲得之塗布膜40的種類等而被預先適當地設定。
上述t_ref是被塗布於片材11上，被固化而獲得之塗布膜40的厚度的設定值，該t_ref可視塗布膜40的種類等而被預先適當地設定。
上述B為塗布液3中之固化成分的質量分率。該B由算式(3)決定，可視塗布液3的種類等而被預先適當地設定，且可在塗布中被變更。
上述ρ_s是被塗布於片材11上，被固化之塗布膜40的密度，是由上述算式(2)所計算出的值。
在上述算式(2)中，前述ρ_a是被塗布於片材11上，被固化之塗布膜40的密度之暫時設定值，該ρ_a可視塗布液3的種類等而被預先作適當地設定。
上述t_ms是被塗布於片材11上，被固化之塗布膜40的厚度測量值。該t_ms，是在預備實驗等中將上述算式(1)中的ρ_s設定為上述該密度之暫時設定值ρ_a，而以此條件在片材11上塗布了塗布液3時，測量固化之塗布膜40的厚度所獲得的值。
基準值S，因其根據上述算式(1)及(2)來決定，當塗布液3的種類相同時，因即使改變W、U、t_ref、B，亦可使用相同的ρ_s，故具有只需1次預備實驗即可的優點。
上述基準值S可由以下方式獲得。亦即，在預備實驗等中，將塗布膜40之密度值設定為暫時設定值ρ_a，厚度設定為設定值t_ref，寬度設定為W，移動速度設定為 U，且如後述般獲得上述B，從上述算式(1)求暫時基準值S’，將塗布液3塗布於片材11上，而獲得固化之塗布膜。測量所獲得之塗布膜厚度，得到t_ms。然後，由上述算式(2)自t_ref、ρ_a、t_ms得到ρ_s。
然後，由上述算式(1)而從W、U、t_ref、ρ_s及B決定基準值S。
又，上述B是由上述算式(3)來決定。
在上述算式(3)中，上述ρ_L為塗布液3的密度測量值。
上述T為塗布時之塗布液3的溫度測量值。
上述P為塗布時之塗布液3的壓力(Pa)。更具體來說，是自泵7將塗布液3供給到塗布部13，從塗布部13塗布時由測量部21測量之值。再者，從此類測量部21測量可知，壓力為在片材11上塗布前之塗布液3的壓力。
上述Q為質量流量之測量值(kg/min)，是自泵7將塗布液3供給至塗布部13，並由塗布部13塗布時以測量部21測量之值。
上述a、b、c、d及e為係數，視塗布液3之種類而預先被適當地設定而獲得。
作為上述B，藉由使用根據上述算式(3)而決定之值，即使是在求出上述暫時基準值S’而得到ρ_s的實驗(預備實驗)，與進行基準值S的決定(計算)之實驗(基準值S的計算實驗)之間B變更時，僅將該B做設定變更即可，不需要變更其他參數。藉此，有可簡易地決定基準值S之優點。
又，決定基準值S後，就算使用已決定之基準值S而在 片材11上塗布塗布液3時B有所變動，但因為可因應該變動再度算出基準值S，故能更精密地進行塗布液3的塗布。
具體而言，在根據上述算式(3)而決定B之際，由事前之預備實驗等而先取得數組B、ρ_L、T、P、Q的資料，藉由反向計算B、ρ_L、T、P、Q，而算出係數a、b、c、d及e。
例如由以下方式來算出a、b、c、d及e。亦即，準備雖然塗布液3之種類相同，但塗布液3中之固化成分的質量分率B’互異之複數種塗布液3。此質量分率B’可由以下算式(4)或(5)算出。
Figure 105102361-A0202-12-0012-6
亦即，根據上述算式(4)決定上述B’時，由上述塗布液3的組成算出上述B’。
另一方面，根據上述算式(5)確定上述B’時，例如在片材11上塗布了塗布液3後，測量被固化前之質量(固化前的質量)與該塗布液3被固化後的質量(固化後的質量)，根據所獲得之固化前的質量與固化後的質量，算出上述B’。再者，上述B’是根據上述算式(5)而被決定時，塗布塗布液3的對象並不特別限定於上述帶狀片材11。而作為此類對象，其他可舉鋁杯、玻璃板、片材11的切斷片等為例。
這些固化前的質量與固化後的質量，是例如以電子天平等各自測量之值。
又，質量分率B’不同之塗布液3的數量雖並無特定限制，但例如可使用不同之3階段之質量分率的塗布液。就該複數種塗布液3之各塗布液3，一邊變更溫度T、壓力P、質量流量Q一邊測量密度ρ_L。
又，本實施型態中，是由測量部21來測量密度ρ_L、溫度T、壓力P、質量流量Q，作為此種測量部21，可舉具備壓力計、可測量密度、溫度及質量流量的流量計者為例。作為此種壓力計，可舉Valcom公司製的壓力計(VFM-A6)為例，作為流量計可舉Endress Hauser公司製的Coriolis式流量計(Promass 80F)為例。
然後，將所獲得之密度ρ_L、溫度T、壓力P、及質量流量Q、質量分率B’代入上述算式(3)，例如使用最小二乘法來算出係數a、b、c、d及e。
然後，將計算出之a、b、c、d及e與測量出之塗布液3的密度ρ_L、測量出之塗布液3的溫度T、測量出之塗布液3的壓力P與測量出之塗布液3的質量流量Q代入上述算式(3)，藉此算出實際於片材11上塗布塗布液3之際的上述B。又，在片材11上塗布塗布液3時，算出上述B。
上述B因為是藉由根據上述算式(3)來決定，並一邊在片材11上塗布塗布液3，一邊即時決定上述B，故可更高精度且更適當地決定上述B。
又，藉由在上述密度ρ_L及溫度T之外，又根據上述質 量流量Q及上述壓力P來算出上述B，相較於根據上述密度ρ_L及溫度T來算出上述B時，更能高精度且適當地決定上述B。
上述塗布裝置1是以泵7將塗布液3一邊藉由測量部21測量該塗布液3之質量流量，一邊送到塗布部13，將送來的塗布液3從塗布部13噴出到片材11以進行塗布。在塗布時，測量部21的測量結果D被傳送到控制部23，當控制部23判斷測量結果D比基準值S大時，會減少泵7中作為送液量之質量流量。另一方面，控制部23判斷測量結果D比基準值S小時，會增加泵7中作為送液量之質量流量。
像這樣，以控制部23一邊變更藉由泵7傳送來之塗布液3的質量流量，一邊以塗布部13將塗布液3塗布於片材11上，被塗布於片材11上之塗布液3藉由固化部27而被固化，以形成塗布膜40。
在此類塗布裝置1中，可由測量部21測量被泵(送液部)7送到塗布部13之塗布液3的送液量。藉由如此之測量，相較於測量塗布膜40之厚度的情況，更能快速且不浪費地抑制塗布膜40之厚度的變動。
而且，可採用質量流量作為塗布液3之送液量的指標，由測量部21進行塗布液3之質量流量的測量，再根據測量部21之測量結果D與質量流量之基準值S來調整塗布液3之送液量。藉由如此之變更，相較於將體積流量作為指標的情況更能確實抑制塗布膜40之厚度的變動。
又，藉由質量流量之基準值S是根據被塗布在片材11上 之塗布液3中的固化成分的質量分率B來決定，其會根據與塗布膜40之厚度有相關關係之塗布液3的固化成分的質量分率，來設定基準值S。因此，可以更高精度地變更質量流量。
再者，藉由在塗布液3之密度ρ_L及塗布液3之溫度T外，又根據塗布液3之壓力P及塗布液3之質量流量Q來決定上述固化成分之質量分率B，可以更高精度地變更質量流量。
因此，藉由上述構成之塗布裝置1，可以較為迅速且確實地，並且不浪費地抑制塗布膜40之厚度的變動。
又，在本實施型態中，控制部23宜將塗布液3之質量流量調整在基準值S的±10%以內，調整在±5%以內更佳。
像這樣，控制部23藉由將塗布液3之質量流量調整在基準值S的±10%以內，可以更確實地，且不浪費地抑制塗布膜40之厚度的變動。
又，本實施型態之塗布膜的製造方法是使用前述塗布裝置1，一邊藉由測量部21測量塗布液3之質量流量，且一邊藉由控制部23，根據基準值S與測量部21之測量結果D變更泵7的質量流量，一邊藉由塗布部13在片材11上塗布塗布液3，將被塗布之塗布液3以固化部27固化，形成塗布膜40。
根據此構成，其與上述一樣能較為迅速確實且不浪費地抑制塗布膜40之厚度的變動。
如上所述，根據本實施形態，提供一種塗布裝置1及塗布膜40之製造方法，可較為迅速確實且不浪費地抑制塗布膜40之厚度的變動。
本實施形態之塗布裝置及塗布膜之製造方法，雖如上所述，但本發明並不限於上述實施形態，其可在本發明之預期的範圍內做適當的設計變更。
實施例
以下會舉出實施例以更詳細地說明本發明，但本發明並不限定於此。
在本實施例中，顯示了實際從以上算式(3)來算出B之實驗以及檢討所算出之B的有效性的實驗。又，作為比較也一併顯示使用在上述算式(3)中不使用塗布前之塗布液壓力P及塗布液之質量流量Q來算出B之算式，即下述算式(6)，從下述算式(6)算出B的實驗、及檢討所算出之B的有效性的實驗。
【數4】B=a×ρ_L+b×T+c…(6)
在以上算式(6)中，B、ρ_L、T、a、b、c與上述算式(3)中所使用者相同。
(實驗1)
下述作業1~4中，從上述算式(3)、(6)各自算出B，接著使用算出之B而從上述算式(1)、(2)算出質量流量之的基準值S。
‧作業1(預備實驗)
為了算出上述算式(6)中所使用的係數a、b、c，而取得了塗布液之溫度T以及密度ρ_L。
具體而言，作為塗布液，使用了3種聚合物A溶液，其為將作為固化成分之聚合物成分A溶解於溶劑中而調製，且固化成分的質量分率相異的3種聚合物A溶液。
聚合物成分A是從含有重量平均分子量100萬之丙烯酸類聚合物的溶液(固化成分濃度10質量%)中所獲得的丙烯酸類黏著劑。
將塗布液中之固化成分相對於塗布液之全質量的質量分率(從上述算式(4)或(5)中所算出的質量分率B’)設定為如表1所示，以調製成質量分率B’相異的3種聚合物A溶液。
預備實驗中所使用的裝置如圖5所示。圖5中，與圖1共通的部分附上了共通的符號。此圖5之裝置中，以泵7通過配管15並從容納部5將塗布液3供給到測量部21，而被供給到測量部21之塗布液3被送回到容納部5。像這樣，塗布液3會被循環。又，通過測量部21之塗布液的配管15內的壓力，是由壓力調整閥來調整。又，其將容納部5加熱及冷卻而調整塗布液3之溫度。作為測量部21，使用了可測量通過該測量部21之塗布液3的溫度T、密度ρ_L及質量流量Q的Coriolis式流量計(Promass 80F，Endress Hauser公司製)以及可測量壓力P之壓力計(VFM-A6、Valcom公司製)。
使用此裝置，針對各質量分率B’之塗布液3，使塗布液3之質量流量Q及塗布液3的壓力P固定，並分3階段變更溫度T，使塗布液3循環，以測量部21來測量各塗布液3的密度ρ _L。將結果顯示於表1。
然後，從B’與所獲得之ρ_L及T，使用最小二乘法來加以反向計算，而算出a、b、c。將結果顯示於表2。
Figure 105102361-A0202-12-0018-7
Figure 105102361-A0202-12-0018-8
‧作業2(預備實驗)
為了算出上述算式(3)中所使用的係數a、b、c、d、e，而取得了塗布液之溫度T、密度ρ_L、塗布液的壓力P、塗布液之質量流量Q。
具體而言，使用與上述作業1相同之塗布液以及裝置，針對各質量分率B’的塗布液，3階段變更溫度T，接著，分別2階段變更塗布液之壓力P及塗布液之質量流量Q並使塗布液循環，以測量部21來測量各塗布液之密度ρ_L。將結果顯示於表3。
然後，從B’與所獲得之ρ_L、T、P及Q，使用最小二乘法來加以反向計算，而算出a、b、c、d、e。將結果顯示於表4。
Figure 105102361-A0202-12-0019-9
Figure 105102361-A0202-12-0020-10
Figure 105102361-A0202-12-0020-12
‧作業3(本實驗)
實驗例1~4
針對各塗布液，使用上述算式(6)算出B，接著，使用上述算式(1)、(2)算出質量流量之基準值S。
具體而言，將被塗布於片材上之塗布液的寬度W、片材相對於塗布部之相對性移動速度U、被固化之塗布膜厚度的設定值t_ref設定為如表5所示。又，將被塗布於片材上且被固化之塗布膜的密度的暫時設定值ρ_a設定為如表5所示。
然後，將上述獲得之a、b、c與測得之T及ρ_L代入上 述算式(6)而算出B。
在如此之設定條件下，使用圖1所示之塗布裝置，在作為片材之聚對苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜(MRF，三菱樹脂公司製)上塗布塗布液，使之固化以形成塗布膜，將形成之塗布膜的厚度t_ms使用接觸式位移計(線性規，尾崎製作所公司製)來測量。又，從算式(2)算出ρ_s。將結果顯示於表5。再者，從算式(1)算出之暫時的基準值S’也當作參考，顯示於表5。又，塗布液之溫度T也一併顯示於表5。
再者，表6所示之設定條件中，與上述相同，使用圖1所示之塗布裝置將塗布液塗布於PET薄膜上，使之固化形成塗布膜，並測量形成之塗布膜的厚度t_ms。
然後，將表5所設定之設定值t_ref相對於獲得之t_ms的比算出。將結果顯示於表6。又，從算式(1)算出之基準值S也一併顯示於表6。
如表6所示，在實驗例1中，由算式(6)算出之B(=0.120)與由上述算式(4)或(5)算出之B(=0.120)一致。又，厚度的測量值t_ms與厚度的設定值t_ref一致。
另一方面，實驗例2~4中，由算式(6)算出之B(=0.124、0.122、0.127)與由上述算式(4)或(5)算出之B(=0.120)不一致。又，厚度的測量值t_ms與厚度的設定值t_ref不一致。
如此可知，使用算式(6)時，從預定之設定值(實驗例1之設定值)變更為其他設定值(實驗例2~4)時，是無法抑制厚度之變動的。
‧作業4(本實驗)
實驗例5~8
針對各塗布液，使用上述算式(3)算出B，接著，使用上述算式(1)、(2)算出質量流量之基準值S。
具體而言，將被塗布於片材上之塗布液的寬度W、片材相對於塗布部之相對性移動速度U、被固化之塗布膜厚度的設定值t_ref，設定為如表5所示。又，將被塗布於片材上且被固化之塗布膜的密度的暫時設定值ρ_a，設定為如表5所示。
然後，將上述獲得之a、b、c、d、e與測得之T、ρ_L、P、Q代入上述算式(3)而算出B。
在如此之設定條件下，使用圖1所示之塗布裝置，在作為片材之聚對苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜(MRF，三菱樹脂公司製)上塗布塗布液，使之固化以形成塗布膜，將形成之塗布膜的厚度t_ms使用接觸式位移計(線性規，尾崎製作所公司製)來測量。又，從算式(2)算出ρ_s。將結果顯示於表5。再者，從算式(1)算出之暫時的基準值S’也當作參考，顯示於表5。又，塗布液之溫度T也一併顯示於表5。
然後，將表5所設定之設定值t_ref相對於獲得之t_ms的比算出。將結果顯示於表6。又，從算式(1)算出之基準值S也一併顯示於表6。
如表6所示，在實驗例5~8中，由算式(3)算出之B(=0.120)與由上述算式(4)或(5)算出之B(=0.120)一致。又，厚度的設定值t_ms與厚度的設定值t_ref一致。
如此可知，使用算式(3)時，從預定之設定值(從實驗例 5~8中被選出的1個設定值)變更為其他設定值(從實驗例5~8中被選出的其他設定值)時，是可以抑制厚度之變動的。
如上所述，可知與使用算式(6)算出B時相比較，使用算式(3)算出B時，即使U、W、Q、P變動，亦可高精度地求出B，其結果，可使用算式(1)、(2)高精度地求出基準值S。
由此可知，在塗布中邊測量ρ_L、T、P、Q邊使用算式(3)變更B，並基於此使用算式(1)變更基準值S的情況，相較於在塗布中邊測量ρ_L、T邊使用算式(6)變更B，並基於此使用算式(1)變更基準值S的情況，其所獲得之塗布膜的厚度變動，更能受到抑制。
Figure 105102361-A0202-12-0024-13
Figure 105102361-A0202-12-0025-14
1‧‧‧塗布裝置
3‧‧‧塗布液
5‧‧‧容納部
7‧‧‧泵
11‧‧‧片材
13‧‧‧塗布部
15‧‧‧配管
19‧‧‧支撐部
21‧‧‧測量部
23‧‧‧控制部
27‧‧‧固化部
40‧‧‧塗布膜

Claims (2)

  1. 一種塗布裝置，為在片材上塗布含固化成分之塗布液以形成塗布膜的塗布裝置，其具有：塗布部，在移動的片材上塗布前述塗布液，藉由該被塗布之塗布液被固化而形成塗布膜；送液部，將前述塗布液送至該塗布部；測量部，測量由前述送液部送至前述塗布部之前述塗布液的質量流量；及控制部，儲存有前述質量流量之基準值，而根據該基準值與前述測量部之測量結果以變更前述送液部之前述塗布液的質量流量，前述基準值是根據以下算式(1)、(2)及(3)來決定，且前述測量部更可測量前述塗布液的密度、被塗布時之前述塗布液的溫度、及被塗布時之前述塗布液的壓力，
    Figure 105102361-A0305-02-0029-1
     S：塗布液之質量流量的基準值(kg/min)，W：被塗布於片材上之塗布液的寬度的設定值(m)， U：片材對於塗布部之相對性移動速度(m/min)，t_ref：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的厚度的設定值(m)，ρ_s：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的密度(kg/m3)，B：塗布液中之固化成分的質量分率(-)，ρ_a：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的密度的暫時設定值(kg/m3)，t_ms：被塗布於片材上且被固化的塗布膜的厚度的測量值(m)，ρ_L：塗布液之密度的測量值(kg/m3)，T：被塗布時之塗布液的溫度(℃)，P：被塗布時之塗布液的壓力(Pa)，Q：被塗布時之塗布液的質量流量(kg/min)，a、b、c、d、e：係數。
  2. 一種塗布膜之製造方法，其為使用請求項1所記載之塗布裝置以形成塗布膜的塗布膜之製造方法，一邊藉由前述測量部，測量前述塗布液之前述質量流量，且一邊藉由前述控制部，根據前述基準值與前述測量部之測量結果變更前述送液部的前述質量流量，一邊藉由前述塗布部在前述片材上塗布前述塗布液以形成塗布膜。
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