CN106040513A - 涂布装置以及涂布膜的制造方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种涂布装置以及涂布膜的制造方法。涂布装置具备：涂布部，其在相对移动的片材上涂布含有固化成分的涂布液，通过所涂布的该涂布液被固化而形成涂布膜；送液部，其向该涂布部输送所述涂布液；测定部，其对通过所述送液部而被供给到所述涂布部的所述涂布液的质量流量进行测定；以及控制部，其保存有根据规定的数式计算的所述质量流量的基准值，并基于该基准值和所述测定部的测定结果来变更通过所述送液部输送的所述涂布液的质量流量。

Description

涂布装置以及涂布膜的制造方法

技术领域

本发明涉及一种涂布装置以及涂布膜的制造方法。

背景技术

以往，使用一种具备涂布部和送液部的涂布装置，在片材上涂布涂布液来形成涂布膜，其中，该涂布部用于将含有固化成分的涂布液涂布在片材上，该送液部用于向该涂布部输送涂布液。在该涂布装置中存在以下担忧：当从涂布部喷出的涂布液的喷出量变动时，所得到的涂布膜的厚度变动，涂布膜无法发挥期望的性能。

因此，提出了一种以如下方式构成的涂布装置：控制向涂布部输送的涂布液的量，来控制从涂布部喷出的涂布液的喷出量。

例如，提出了一种涂布装置，具备：送液部，其向涂布部输送涂布液；测定部，其配置于送液部与涂布部之间来测定涂布液的送液量；以及控制部，其基于测定部的测定结果来变更通过送液部输送的送液量(参照专利文献1、2)。

专利文献1：日本特开2007-330935号公报

专利文献2：日本特开2011-194329号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在上述专利文献1、2中，测定体积流量来作为涂布液的送液量，基于该体积流量的测定结果来调整涂布液的送液量(即体积流量)，但是在这些专利文献的涂布装置中，有时无法充分地得到具有期望的厚度的涂布膜。

另一方面，也考虑对在片材上形成的涂布膜的厚度进行测定，并基于该测定结果来变更涂布液的送液量。然而，在这样的调整中，直到由送液部调整后的涂布液被反映在涂布膜的测定结果中为止，比较花费距离和时间。因此，存在无法将涂布膜的厚度的变动迅速地反映到涂布液的送液量的变更的担忧，另外，还会导致产生涂布液的浪费。

本发明鉴于上述问题，将以下内容作为课题，提供一种能够比较迅速且可靠、并且没有浪费地抑制涂布膜的厚度的变动的涂布装置以及涂布膜的制造方法。

用于解决问题的方案

本发明人专门研究了涂布液的送液量与所形成的涂布膜的厚度之间的关系。其结果明确了，存在涂布液的体积由于涂布装置的周围的环境温度而发生变动的担忧，因此存在以下担忧：当将体积流量作为送液量的指标时，无法充分地抑制由于上述体积变动而引起的所得到的涂布膜的厚度的变动。然后，基于该见解进一步进行了专门研究。其结果发现，通过将质量流量作为送液量的指标，能够进一步抑制所得到的涂布膜的厚度的变动，从而完成了本发明。

即，本发明所涉及的涂布装置在片材上涂布含有固化成分的涂布液来形成涂布膜，该涂布装置具备：

涂布部，其在移动的片材上涂布所述涂布液，通过所涂布的该涂布液被固化而形成涂布膜；

送液部，其向该涂布部输送所述涂布液；

测定部，其对通过所述送液部而被输送到所述涂布部的所述涂布液的质量流量进行测定；以及

控制部，其保存有所述质量流量的基准值，并基于该基准值和所述测定部的测定结果来变更通过所述送液部输送的所述涂布液的质量流量，

其中，所述基准值是基于下述数式(1)、(2)以及(3)决定的，

$S=\frac{W\×U\×t\_ref\×\mathrm{\ρ}\_s}{B}...\left(1\right)$

$\mathrm{\ρ}\_s=\frac{t\_ref\×\mathrm{\ρ}\_a}{t\_ms}...\left(2\right)$

B＝a×ρ_L+b×T+c×P+d×Q+e …(3)

S：涂布液的质量流量的基准值(kg/min)

W：被涂布在片材上的涂布液的宽度的设定值(m)

U：片材相对于涂布部的相对移动速度(m/min)

t_ref：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的厚度的设定值(m)

ρ_s：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的密度(kg/m³)

B：涂布液中的固化成分的质量分数(-)

ρ_a：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的密度的临时设定值(kg/m³)

t_ms：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的厚度的测定值(m)

ρ_L：涂布液的密度的测定值(kg/m³)

T：涂布时的涂布液的温度(℃)

P：涂布时的涂布液的压力(Pa)

Q：涂布时的涂布液的质量流量(kg/min)

a、b、c、d、e：系数(-)。

另外，本发明的涂布膜的制造方法使用所述涂布装置来形成涂布膜，其中，

一边通过所述测定部测定所述涂布液的所述质量流量、且

一边通过所述控制部基于所述基准值和所述测定部的测定结果来变更通过所述送液部输送的所述涂布液的所述质量流量，

一边通过所述涂布部在所述片材上涂布所述涂布液来形成涂布膜。

附图说明

图1是本发明的一个实施方式所涉及的涂布装置的概要结构图，

图2是示出利用本实施方式的涂布装置在片材上涂布了涂布液的状态的一例的概要侧视图，

图3是示出利用本实施方式的涂布装置在片材上涂布了涂布液的状态的一例的概要侧视图，

图4是示出利用本实施方式的涂布装置在片材上涂布了涂布液的状态的一例的概要侧视图，

图5是在实施例中的预备实验中使用的装置的概要结构图。

附图标记说明

1：涂布装置；3：涂布液；5：容纳部；7：泵；11：片材；13：涂布部；15：配管；19：支承部；21：测定部；23：控制部；27：固化部；40：涂布膜。

具体实施方式

下面，参照附图来说明本发明所涉及的涂布装置、以及使用该涂布装置的涂布膜的制造方法的实施方式。

如图1所示，本实施方式的涂布装置1具备：容纳部5，其容纳有含有固化成分的涂布液3；作为送液部的泵7，其将涂布液3从该容纳部5向下游侧输送；涂布部13，其将通过泵7输送来的涂布液3依次涂布在带状的片材11上来形成涂布膜40，该片材11沿长度方向相对于涂布部13向下游侧(参照实线箭头)相对移动；测定部21，其配置于泵7与涂布部13之间，对通过泵7向涂布部13输送的涂布液3的质量流量进行测定；控制部23，其保存有质量流量的基准值S，并基于该基准值S和测定部21的测定结果D来使泵7变更质量流量；配管15，其形成涂布液3的移动路径；以及支承部19，其支承片材11。另外，涂布装置1还具备固化部27，该固化部27使被涂布在片材11上的涂布液3固化。

所述涂布液3含有固化成分，被涂布在片材11上并在该片材11上被固化。作为这样的涂布液3，例如能够列举出聚合物溶液，作为可用作上述固化成分的材料，能够列举出热固化性材料、紫外线固化性材料、电子射线固化性材料等。

另外，作为片材11，例如能够列举出树脂薄膜。在图1中，示出了片材11是具有挠性的纵长状片材的形态，但除此之外也能够采用片材11是单板状的形态或片材11具有非挠性的形态。

容纳部5用于容纳对片材11涂布所需的涂布液3。作为该容纳部5，例如能够列举出金属制的罐体等。

泵7用于将容纳在容纳部5中的涂布液3向下游侧输送到涂布部13。作为该泵7，例如能够列举出齿轮泵、隔膜泵、柱塞泵、蛇形泵这样的以往公知的泵。此外，在此，使用泵7和配管15构成了送液部。

涂布部13用于将从泵7输送来的涂布液3依次涂布在带状的片材11上，其中，该片材11被例如辊等支承部19支承且相对于该涂布部13向下游侧相对移动。作为该涂布部13，例如能够列举出模涂机等。

配管15分别连接于容纳部5与泵7之间、以及泵7与涂布部13之间，用于形成使涂布液3从容纳部5经由泵7向涂布部13移动的路径。

作为上述配管15，能够列举出使用金属材料、树脂和金属混合而成的复合材料、树脂材料等形成的管状的管等。

支承部19用于从涂布部13的相反侧支承沿长度方向移动的片材11。作为该支承部19，能够列举出辊等。

测定部21用于对通过泵7向涂布部13输送的涂布液3的质量流量进行测定。该测定部21配置于泵7与涂布部13之间的配管15。该测定部21测定涂布液3的质量流量，并将测定结果D作为电子数据发送到控制部23。另外，测定部21能够测定涂布液3的密度、温度、压力。

作为这样的测定部21，例如能够列举出具有流量计和压力计的装置。作为该流量计，并没有特别的限定，但是例如能够列举出能够测定涂布液3的质量流量、密度以及温度的流量计等。另外，压力计只要能够测定涂布液3的压力即可，并没有特别的限定。此外，测定部21也可以具备能够针对每个测定对象进行测定的测定器。

控制部23将涂布液3的质量流量的基准值S保存为电子数据，接收从测定部21发送来的作为电子数据的测定结果D，基于基准值S和测定结果D来变更通过泵7输送的涂布液3的送液量(即质量流量)。

具体地说，控制部23具有以下功能：将接收到的测定结果D与基准值S进行比较，在测定结果D大于基准值S的情况下，使通过泵7输送的送液量(即质量流量)减少，在测定结果D小于基准值S的情况下，使通过泵7输送的送液量(即质量流量)增加。

另外，还具有以下功能：接收涂布液3的质量流量、密度、温度以及压力，使用预先设定的a、b、c、d、e通过数式(3)来计算B，并且使用该B和预先决定的ρ_s通过数式(1)来决定基准值S。

固化部27是用于使涂布液3固化的装置。根据涂布液3的种类而适当设定该固化部27，例如能够列举出热风式或红外线(IR)照射式的干燥装置、紫外线(UV)照射装置、电子射线(EB)照射装置等。具体地说，在涂布液3具有通过加热而固化的材料的情况下，能够列举出上述加热装置，在涂布液3具有通过紫外线照射而固化的材料的情况下，能够列举出紫外线照射装置等，在涂布液3具有通过电子射线而固化的材料的情况下，能够列举出上述电子射线照射装置。此外，在本发明中，根据涂布液3的种类，涂布装置也可以采用不具有固化部的结构。

在本实施方式中，基于被涂布在片材11上的涂布液3的固化成分的质量分数来决定基准值S。

这样，基于被涂布在片材11上的涂布液3中的固化成分的质量分数来决定基准值S，由此基于与涂布膜40的厚度具有相关性的涂布液3的固化成分的质量分数来决定基准值S。因而，能够更加适当地调整质量流量。

具体地说，基于下述数式(1)、(2)以及(3)来决定基准值S。

$S=\frac{W\×U\×t\_ref\×\mathrm{\ρ}\_s}{B}...\left(1\right)$

$\mathrm{\ρ}\_s=\frac{t\_ref\×\mathrm{\ρ}\_a}{t\_ms}...\left(2\right)$

B＝a×ρ_L+b×T+c×P+d×Q+e …(3)

上述S是质量流量的基准值，是通过上述数式(1)计算的值。

在上述数式(1)中，上述W是被涂布在片材11上的涂布液3的宽度W的设定值，相当于涂布膜40的宽度。该W可根据所得到的涂布膜40的种类等预先适当设定。

此外，片材11上的涂布液3的形状(即涂布膜40的形状)并没有特别的限定。另外，对于片材11上的涂布液3，例如，既可以在片材11的移动方向上被涂布为连续的一个涂布液3，也可以被涂布为间歇的多个涂布液3。并且，对于片材11上的涂布液3，例如，既可以在片材11的宽度方向(与移动方向垂直的方向)上被涂布为连续的一个涂布液3，也可以被涂布为间歇的多个涂布液3。

关于该涂布液3的宽度W，例如，在片材11上沿宽度方向涂布一个涂布液3，在如图2所示那样该涂布液3的宽度比片材11窄的情况下，该宽度W是该涂布液3的宽度，在如图3所示那样该涂布液3的宽度与片材11的宽度相同的情况下，该宽度W是片材11的宽度。另外，在如图4所示那样在片材11上沿宽度方向相互隔开间隔地涂布多个涂布液3的情况下，被涂布在片材11上的涂布液3的宽度是各涂布液3的宽度的总和，例如，在沿宽度方向隔开间隔地涂布三个涂布液3的情况下，被涂布在片材11上的涂布液3的宽度是三个涂布液3a、3b、3c的宽度W1、W2以及W3的总和(W＝W1+W2+W3)。

上述U是片材11相对于涂布部13的相对移动速度。另外，该U可根据所得到的涂布膜40的种类等预先适当设定。

上述t_ref是被涂布在片材11上并被固化后的涂布膜40的厚度的设定值，该t_ref可根据涂布膜40的种类等预先适当设定。

上述B是涂布液3中的固化成分的质量分数。该B可通过数式(3)决定，可根据涂布液3的种类等预先适当设定，并且可在涂布中变更。

上述ρ_s是被涂布在片材11上并被固化后的涂布膜40的密度，是通过上述数式(2)计算的值。

在上述数式(2)中，所述ρ_a是被涂布在片材11上并被固化后的涂布膜40的密度的临时设定值，该ρ_a可根据涂布液3的种类等预先适当设定。

上述t_ms是被涂布在片材11上并被固化后的涂布膜40的厚度的测定值。该t_ms是在预备实验等中将上述数式(1)中的ρ_s设定为上述该密度的临时设定值ρ_a、在该条件下将涂布液3涂布在片材11上时对固化后的涂布膜40的厚度进行测定所得到的值。

基于上述数式(1)和(2)来决定基准值S，由此具有以下优点：在涂布液3的种类相同的情况下，即使改变W、U、t_ref、B，也能够使用相同的ρ_s，因此预备实验只进行一次即可。

如以下那样得到上述基准值S。即，在预备实验等中，将涂布膜40的密度的值设定为临时设定值ρ_a，将厚度设定为设定值t_ref，将宽度设定为W，将移动速度设定为U，并且如后述的那样得到上述B，根据上述数式(1)求出临时基准值S’，将涂布液3涂布在片材11上，得到固化后的涂布膜。测定所得到的涂布膜的厚度，来得到t_ms。然后，根据t_ref、ρ_a、t_ms并通过上述数式(2)来得到ρ_s。

然后，根据W、U、t_ref、ρ_s以及B并通过上述数式(1)来决定基准值S。

另外，通过上述数式(3)来决定上述B。

在上述数式(3)中，上述ρ_L是涂布液3的密度的测定值。

上述T是涂布时的涂布液3的温度的测定值。

上述P是涂布时的涂布液3的压力(Pa)。更具体地说，是在从泵7向涂布部13供给涂布液3并通过涂布部13涂布时由测定部21测定的值。此外，如通过由该测定部21测定可知的那样，压力是对片材11涂布之前的涂布液3的压力。

上述Q是质量流量的测定值(kg/min)，是在从泵7向涂布部13供给涂布液3并通过涂布部13涂布时由测定部21测定的值。

上述a、b、c、d以及e是系数，可根据涂布液3的种类预先适当设定。

通过将基于上述数式(3)决定的值用作上述B，即使在求出上述临时基准值S’从而得到ρ_s的实验(预备实验)与进行基准值S的决定(计算)的实验(基准值S的计算实验)之间变更了B的情况下，只对该B进行设定变更即可，无需变更其它的参数。由此，具有能够简便地决定基准值S这样的优点。

另外，在决定了基准值S之后，即使在使用已决定的基准值S来对片材11涂布涂布液3的过程中B发生变动，也能够与该变动相应地再次计算基准值S，因此能够更加高精度地进行涂布液3的涂布。

具体地说，在基于上述数式(3)来决定B时，通过事前的预备实验等预先获取数个模式的B、ρ_L、T、P、Q的数据，通过对这些B、ρ_L、T、P、Q进行逆运算来计算系数a、b、c、d以及e。

例如如以下那样来计算a、b、c、d以及e。即，准备多个涂布液3，该多个涂布液3的种类相同但涂布液3中的固化成分的质量分数B’互不相同。可根据下述数式(4)或(5)来计算该质量分数B’。

即，在基于上述数式(4)来决定上述B’的情况下，根据涂布液3的组成来计算上述B’。

另一方面，在基于上述数式(5)来决定上述B’的情况下，例如在片材11上涂布了涂布液3之后，测定被固化之前的质量(固化前的质量)和该涂布液3被固化之后的质量(固化后的质量)，基于所得到的固化前的质量和固化后的质量来计算上述B’。此外，在基于上述数式(5)来决定上述B’的情况下，被涂布涂布液3的对象并不特别限定于上述带状的片材11。作为该对象，除此之外例如能够列举出铝杯、玻璃板、片材11的切断片等。

这些固化前的质量和固化后的质量例如是通过电子天秤等分别测定的值。

另外，质量分数B’不同的涂布液3的数量并没有特别的限定，但是例如能够使用不同的3个等级的质量分数的涂布液。针对该多个涂布液3中的各涂布液3，一边变更温度T、压力P、质量流量Q一边测定密度ρ_L。

另外，在本实施方式中，由测定部21测定密度ρ_L、温度T、压力P以及质量流量Q，作为这样的测定部21，例如能够列举出具有压力计和能够测定密度、温度以及质量流量的流量计的装置。作为这样的压力计，例如能够列举出VALCOM(バルコム)公司制的压力计(VFM-A6)，作为流量计，能够列举出Endress+Hauser(エンドレスハウザー)公司制的科氏力(Coriolis)流量计(Promass 80F)。

然后，将所得到的密度ρ_L、温度T、压力P以及质量流量Q、质量分数B’代入到上述数式(3)中，例如使用最小二乘法来计算系数a、b、c、d以及e。

然后，通过将计算出a、b、c、d以及e、测定出的涂布液3的密度ρ_L、测定出的涂布液3的温度T、测定出的涂布液3的压力P、以及测定出的涂布液3的质量流量Q代入到上述数式(3)中，来实际地计算在片材11上涂布涂布液3时的上述B。另外，在将涂布液3涂布在片材11上的过程中计算上述B。

基于上述数式(3)来决定上述B，由此一边在片材11上涂布涂布液3，一边实时地决定上述B，因此能够更高精度且更适当地决定上述B。

另外，除了基于上述密度ρ_L和温度T以外，还基于上述质量流量Q和上述压力P来计算上述B，由此与基于上述密度ρ_L和温度T来计算上述B的情况相比，能够更高精度且更适当地决定上述B。

在上述的涂布装置1中，一边由测定部21测定涂布液3的质量流量，一边通过泵7将该涂布液3输送到涂布部13，将被输送来的涂布液3从涂布部13喷出到片材11上，由此来进行涂布。在该涂布的过程中，测定部21的测定结果D被发送到控制部23，控制部23在判断为测定结果D大于基准值S的情况下使泵7减少作为送液量的质量流量。另一方面，控制部23在判断为测定结果D小于基准值S的情况下使泵7增加作为送液量的质量流量。

这样，一边由控制部23变更通过泵7输送的涂布液3的质量流量，一边由涂布部13将涂布液3涂布到片材11上，并通过固化部27使被涂布在片材11上的涂布液3固化，从而形成涂布膜40。

根据该涂布装置1，能够由测定部21测定通过泵(送液部)7而被输送到涂布部13的涂布液3的送液量。通过进行这样的测定，与测定涂布膜40的厚度的情况相比，能够迅速且没有浪费地抑制涂布膜40的厚度的变动。

并且，能够将质量流量用作涂布液3的送液量的指标，由测定部21进行涂布液3的质量流量的测定，进一步基于测定部21的测定结果D和质量流量的基准值S来调整涂布液3的送液量。通过这样进行变更，与将体积流量作为指标的情况相比，能够可靠地抑制涂布膜40的厚度的变动。

另外，基于被涂布在片材11上的涂布液3中的固化成分的质量分数B来决定质量流量的基准值S，由此基于与涂布膜40的厚度具有相关性的涂布液3的固化成分的质量分数来设定基准值S。因而，能够更高精度地变更质量流量。

并且，除了基于涂布液3的密度ρ_L和涂布液3的温度T以外，还基于涂布液3的压力P和涂布液3的质量流量Q来决定上述固化成分的质量分数B，由此能够更高精度地变更质量流量。

因而，根据上述结构的涂布装置1，能够比较迅速且可靠地、并且没有浪费地抑制涂布膜40的厚度的变动。

另外，在本实施方式中，优选的是，控制部23将涂布液3的质量流量调整为基准值S的±10％以内，更加优选的是，调整为基准值S的±5％以内。

这样，通过由控制部23将涂布液3的质量流量调整为基准值S的±10％以内，能够更可靠且没有浪费地抑制涂布膜40的厚度的变动。

另外，在本实施方式的涂布膜的制造方法中，使用所述涂布装置1，一边由测定部21测定涂布液3的质量流量且由控制部23基于基准值S和测定部21的测定结果D来变更通过泵7输送的质量流量，一边由涂布部13将涂布液3涂布在片材11上，通过固化部27使所涂布的涂布液3固化，从而形成涂布膜40。

根据该结构，能够与上述同样地比较迅速且可靠地、并且没有浪费地抑制涂布膜40的厚度的变动。

如上所述，根据本实施方式，提供一种能够比较迅速且可靠地、并且没有浪费地抑制涂布膜40的厚度的变动的涂布装置1以及涂布膜40的制造方法。

本实施方式的涂布装置以及涂布膜的制造方法如上所述，但是本发明并不限定于上述实施方式，能够在本发明所意图的范围内进行适当的设计变更。

[实施例]

接着列举实施例来进一步详细地说明本发明，但本发明并不限定于这些实施例。

在本实施例中，示出根据上述数式(3)实际地计算出B的实验以及讨论了所计算出的B的有效性的实验。另外，作为比较，也一并示出使用下述数式(6)来根据下述数式(6)计算出B的实验、以及讨论了所计算出的B的有效性的实验，其中，下述数式(6)是在上述数式(3)中不使用涂布前的涂布液的压力P和涂布液的质量流量Q地计算B的数式。

B＝a×ρ_L+b×T+c …(6)

在上述数式(6)中，B、ρ_L、T、a、b、c与在上述数式(3)中所使用的相同。

(实验1)

通过下述作业1～4，分别根据上述数式(3)和(6)计算出B，并且使用所计算出的B、根据上述数式(1)和(2)计算出质量流量的基准值S。

·作业1(预备实验)

为了计算上述数式(6)中使用的系数a、b、c而获取到涂布液的温度T和密度ρ_L。

具体地说，作为涂布液，使用了使作为固化成分的聚合物成分A溶解于溶剂而调制出的、固化成分的质量分数不同的3种聚合物A溶液。

聚合物成分A是从含有重均分子量为100万的丙烯酸系聚合物的溶液(固化成分浓度10质量％)得到的丙烯酸系粘合剂。

如表1所示的那样设定相对于涂布液的全体质量的、涂布液中的固化成分的质量分数(根据上述数式(4)或(5)计算的质量分数B’)，从而调制出质量分数B’不同的3种聚合物A溶液。

图5示出在预备实验中使用的装置。在图5中，对与图1相同的部分标注相同的标记。在该图5的装置中，通过泵7从容纳部5经由配管15而向测定部21供给涂布液3，并将被供给到测定部21的涂布液3返送到容纳部5。这样，使涂布液3循环。另外，由压力调整阀来调整通过测定部21的涂布液在配管15内的压力。另外，对容纳部5进行加热和冷却来调整涂布液3的温度。作为测定部21，使用了能够对通过该测定部21的涂布液3的温度T、密度ρ_L以及质量流量Q进行测定的科氏力流量计(Promass 80F，Endress+Hauser公司制)以及能够对压力P进行测定的压力计(VFM-A6，VALCOM公司制)。该测定部21中的测定项目可以是涂布液的质量流量Q、涂布液的压力P、涂布液的密度ρ_L以及涂布液的温度T。

使用该装置，针对各质量分数B’的涂布液3，将涂布液3的质量流量Q和涂布液3的压力P设为固定，以3个等级变更温度T地使涂布液3循环，由测定部21测定出各涂布液3的密度ρ_L。将结果在表1中示出。

然后，根据B’和所得到的ρ_L以及T、使用最小二乘法来进行逆运算，由此计算出a、b、c。将结果在表2中示出。

[表1]

[表2]

·作业2(预备实验)

为了计算在上述数式(3)中使用的系数a、b、c、d、e而获取到涂布液的温度T、密度ρ_L、涂布液的压力P以及涂布液的质量流量Q。

具体地说，使用与上述作业1同样的涂布液和装置，针对各质量分数B’的涂布液，以3个等级变更温度T并且以2个等级分别变更涂布液的压力P和涂布液的质量流量Q地使涂布液循环，由测定部21测定出各涂布液的密度ρ_L。将结果在表3中示出。

然后，根据B’和所得到的ρ_L、T、P以及Q、使用最小二乘法来进行逆运算，由此计算出a、b、c、d、e。将结果在表4中示出。

[表3]

[表4]

·作业3(正式实验)

实验例1～4

针对各涂布液，使用上述数式(6)计算出B，并且使用上述数式(1)和(2)计算出质量流量的基准值S。

具体地说，如表5所示那样设定了被涂布在片材上的涂布液的宽度W、片材相对于涂布部的相对移动速度U、以及固化后的涂布膜的厚度的设定值t_ref。另外，如表5所示那样设定了被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的密度的临时设定值ρ_a。

然后，将上述所得到的a、b、c和测定出的T以及ρ_L代入到上述数式(6)中，从而计算出B。

以该设定条件，使用如图1所示的涂布装置，在作为片材的聚对苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜(MRF，三菱树脂公司制)上涂布涂布液并且使涂布液固化来形成涂布膜，使用接触式位移计(Linear Gauge，尾崎制作所公司制)测定出所形成的涂布膜的厚度t_ms。另外，根据数式(2)计算出ρ_s。将结果在表5中示出。此外，根据数式(1)计算出的临时的基准值S’也作为参考而在表5中示出。另外，涂布液的温度T也在表5中一并示出。

并且，以表6所示的设定条件，与上述同样地使用如图1所示的涂布装置来在PET薄膜上涂布涂布液并且使涂布液固化来形成涂布膜，测定出所形成的涂布膜的厚度t_ms。

然后，计算出在表5中设定的设定值t_ref与所得到的t_ms之比。将结果在表6中示出。另外，根据数式(1)计算出的基准值S也在表6中一并示出。

如表6所示，在实验例1中，根据数式(6)计算出的B(＝0.120)与根据上述数式(4)或(5)计算出的B(＝0.120)一致。另外，厚度的测定值t_ms与厚度的设定值t_ref一致。

另一方面，在实验例2～4中，根据数式(6)计算出的B(＝0.124、0.122、0.127)与根据上述数式(4)或(5)计算出的B(＝0.120)不一致。另外，厚度的测定值t_ms与厚度的设定值t_ref不一致。

由此可知，在使用数式(6)的情况下，在从规定的设定值(实验例1的设定值)变更为了不同的设定值(实验例2～4)时，无法抑制厚度的变动。

·作业4(正式实验)

实验例5～8

针对各涂布液，使用上述数式(3)计算出B，并且使用上述数式(1)和(2)计算出质量流量的基准值S。

具体地说，如表5所示那样设定了被涂布在片材上的涂布液的宽度W、片材相对于涂布部的相对移动速度U、以及被固化后的涂布膜的厚度的设定值t_ref。另外，如表5所示那样设定了被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的密度的临时设定值ρ_a。

然后，将上述所得到的a、b、c、d、e和测定出的T、ρ_L、P、Q代入到上述数式(3)中，从而计算出B。

以该设定条件，使用如图1所示的涂布装置，在作为片材的聚对苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜(MRF，三菱树脂公司制)上涂布涂布液并且使涂布液固化来形成涂布膜，使用接触式位移计(Linear Gauge，尾崎制作所公司制)测定出所形成的涂布膜的厚度t_ms。另外，根据数式(2)计算出ρ_s。将结果在表5中示出。此外，根据数式(1)计算出的临时的基准值S’也作为参考而在表5中示出。另外，涂布液的温度T也在表5中一并示出。

然后，计算出在表5中设定的设定值t_ref与所得到的t_ms之比。将结果在表6中示出。另外，根据数式(1)计算出的基准值S也在表6中一并示出。

如表6所示，在实验例5～8中，根据数式(3)计算出的B(＝0.120)与根据上述数式(4)或(5)计算出的B(＝0.120)一致。另外，厚度的测定值t_ms与厚度的设定值t_ref一致。

由此可知，在使用数式(3)的情况下，在从规定的设定值(从实验例5～8中选择出的一个设定值)变更为了不同的设定值(从实验例5～8中选择出的不同的设定值)时，能够抑制厚度的变动。

如上所述，可知与使用数式(6)计算出B的情况相比，在使用数式(3)计算出B的情况下，即使U、W、Q、P变动，也能够高精度地求出B，其结果，能够使用数式(1)和(2)高精度地求出基准值S。

由此可知，与在涂布中一边测定ρ_L、T一边使用数式(6)来变更B、并基于此使用数式(1)来变更基准值S的情况相比，在涂布中一边测定ρ_L、T、P、Q一边使用数式(3)来变更B、并基于此使用数式(1)来变更基准值S的情况下，能够进一步抑制所得到的涂布膜的厚度的变动。

[表5]

[表6]

Claims (2)

1.一种涂布装置，用于在片材上涂布含有固化成分的涂布液来形成涂布膜，该涂布装置具备：

涂布部，其在移动的片材上涂布所述涂布液，通过所涂布的该涂布液被固化而形成涂布膜；

送液部，其向该涂布部输送所述涂布液；

测定部，其对通过所述送液部而被输送到所述涂布部的所述涂布液的质量流量进行测定；以及

控制部，其保存有所述质量流量的基准值，并基于该基准值和所述测定部的测定结果来变更通过所述送液部输送的所述涂布液的质量流量，

其中，所述基准值是基于下述数式(1)、(2)以及(3)决定的，

$S=\frac{W\×U\×t\_ref\×\mathrm{\ρ}\_s}{B}...\left(1\right)$

$\mathrm{\ρ}\_s=\frac{t\_ref\×\mathrm{\ρ}\_a}{t\_ms}...\left(2\right)$

B＝a×ρ_L+b×T+c×P+d×Q+e ···(3)

S：涂布液的质量流量的基准值，其单位为kg/min，

W：被涂布在片材上的涂布液的宽度的设定值，其单位为m，

U：片材相对于涂布部的相对移动速度，其单位为m/min，

t_ref：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的厚度的设定值，其单位为m，

ρ_s：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的密度，其单位为kg/m³，

B：涂布液中的固化成分的质量分数，

ρ_a：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的密度的临时设定值，其单位为kg/m³，

t_ms：被涂布在片材上并被固化后的涂布膜的厚度的测定值，其单位为m，

ρ_L：涂布液的密度的测定值，其单位为kg/m³，

T：涂布时的涂布液的温度，其单位为℃，

P：涂布时的涂布液的压力，其单位为Pa，

Q：涂布时的涂布液的质量流量，其单位为kg/min，

a、b、c、d、e：系数。

2.一种涂布膜的制造方法，使用根据权利要求1所述的涂布装置来形成涂布膜，其中，

一边通过所述测定部测定所述涂布液的所述质量流量、且

一边通过所述控制部基于所述基准值和所述测定部的测定结果来变更通过所述送液部输送的所述涂布液的所述质量流量，

一边通过所述涂布部在所述片材上涂布所述涂布液来形成涂布膜。