TW200906875A - Organic insulating material, varnish for resin film using the same, resin film and semiconductor device - Google Patents
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- 239000002966 varnish Substances 0.000 title claims abstract description 53
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 52
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 52
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 title claims abstract description 42
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title abstract description 58
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 32
- 239000011203 carbon fibre reinforced carbon Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000005227 gel permeation chromatography Methods 0.000 claims abstract description 6
- ORILYTVJVMAKLC-UHFFFAOYSA-N adamantane Chemical group C1C(C2)CC3CC1CC2C3 ORILYTVJVMAKLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 75
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 56
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 claims description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 10
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 239000002689 soil Substances 0.000 claims description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims 1
- 238000010257 thawing Methods 0.000 claims 1
- -1 adamantane structure compound Chemical class 0.000 abstract description 124
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 abstract description 11
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 abstract description 4
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 abstract description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 3
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 39
- ZICQBHNGXDOVJF-UHFFFAOYSA-N diamantane Chemical group C1C2C3CC(C4)CC2C2C4C3CC1C2 ZICQBHNGXDOVJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 37
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 36
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 31
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 30
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 30
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 21
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 19
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 19
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 18
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 16
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 14
- BGTOWKSIORTVQH-UHFFFAOYSA-N cyclopentanone Chemical compound O=C1CCCC1 BGTOWKSIORTVQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 11
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 11
- 239000000047 product Substances 0.000 description 10
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 10
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 9
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 9
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 9
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 9
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 9
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 8
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 8
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N triphenylphosphine Chemical compound C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 7
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 7
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L Magnesium sulfate Chemical compound [Mg+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 5
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 5
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 5
- 239000012295 chemical reaction liquid Substances 0.000 description 5
- AMFOXYRZVYMNIR-UHFFFAOYSA-N ctk0i0750 Chemical group C12CC(C3)CC(C45)C1CC1C4CC4CC1C2C53C4 AMFOXYRZVYMNIR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 5
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 5
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 5
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RGSFGYAAUTVSQA-UHFFFAOYSA-N Cyclopentane Chemical compound C1CCCC1 RGSFGYAAUTVSQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 4
- QARVLSVVCXYDNA-UHFFFAOYSA-N bromobenzene Chemical compound BrC1=CC=CC=C1 QARVLSVVCXYDNA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 4
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 4
- MWKFXSUHUHTGQN-UHFFFAOYSA-N decan-1-ol Chemical compound CCCCCCCCCCO MWKFXSUHUHTGQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000003983 fluorenyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3CC12)* 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 4
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 4
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 4
- 125000003698 tetramethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 4
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 4
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 206010036790 Productive cough Diseases 0.000 description 3
- 150000001335 aliphatic alkanes Chemical class 0.000 description 3
- JFDZBHWFFUWGJE-UHFFFAOYSA-N benzonitrile Chemical compound N#CC1=CC=CC=C1 JFDZBHWFFUWGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BTANRVKWQNVYAZ-UHFFFAOYSA-N butan-2-ol Chemical compound CCC(C)O BTANRVKWQNVYAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OUFLLVQXSGGKOV-UHFFFAOYSA-N copper ruthenium Chemical compound [Cu].[Ru].[Ru].[Ru] OUFLLVQXSGGKOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012043 crude product Substances 0.000 description 3
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 3
- 210000003298 dental enamel Anatomy 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 229910052943 magnesium sulfate Inorganic materials 0.000 description 3
- 235000019341 magnesium sulphate Nutrition 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 3
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 3
- 210000003802 sputum Anatomy 0.000 description 3
- 208000024794 sputum Diseases 0.000 description 3
- DPZNOMCNRMUKPS-UHFFFAOYSA-N 1,3-Dimethoxybenzene Chemical compound COC1=CC=CC(OC)=C1 DPZNOMCNRMUKPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N Ethylamine Chemical compound CCN QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N Ethylbenzene Chemical compound CCC1=CC=CC=C1 YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241000282553 Macaca Species 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JGFFTJDJHXLDNJ-UHFFFAOYSA-L [O-]OOO[O-].[K+].[K+] Chemical compound [O-]OOO[O-].[K+].[K+] JGFFTJDJHXLDNJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- 125000005073 adamantyl group Chemical group C12(CC3CC(CC(C1)C3)C2)* 0.000 description 2
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 2
- RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N anisole Chemical compound COC1=CC=CC=C1 RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 125000001246 bromo group Chemical group Br* 0.000 description 2
- INLLPKCGLOXCIV-UHFFFAOYSA-N bromoethene Chemical compound BrC=C INLLPKCGLOXCIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GZUXJHMPEANEGY-UHFFFAOYSA-N bromomethane Chemical compound BrC GZUXJHMPEANEGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LLCSWKVOHICRDD-UHFFFAOYSA-N buta-1,3-diyne Chemical group C#CC#C LLCSWKVOHICRDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 238000002309 gasification Methods 0.000 description 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DMEGYFMYUHOHGS-UHFFFAOYSA-N heptamethylene Natural products C1CCCCCC1 DMEGYFMYUHOHGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004051 hexyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- NFHFRUOZVGFOOS-UHFFFAOYSA-N palladium;triphenylphosphane Chemical compound [Pd].C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 NFHFRUOZVGFOOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XNLICIUVMPYHGG-UHFFFAOYSA-N pentan-2-one Chemical compound CCCC(C)=O XNLICIUVMPYHGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003361 porogen Substances 0.000 description 2
- BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L potassium carbonate Chemical compound [K+].[K+].[O-]C([O-])=O BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 2
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012719 thermal polymerization Methods 0.000 description 2
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 2
- 125000002023 trifluoromethyl group Chemical group FC(F)(F)* 0.000 description 2
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 2
- DIIIISSCIXVANO-UHFFFAOYSA-N 1,2-Dimethylhydrazine Chemical compound CNNC DIIIISSCIXVANO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XEKCXJMLQJVHCX-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(prop-1-ynyl)benzene Chemical compound CC#CC1=CC=CC=C1C#CC XEKCXJMLQJVHCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VZXTWGWHSMCWGA-UHFFFAOYSA-N 1,3,5-triazine-2,4-diamine Chemical compound NC1=NC=NC(N)=N1 VZXTWGWHSMCWGA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 1,3-Diphenylbenzene Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC(C=2C=CC=CC=2)=C1 YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JSRLURSZEMLAFO-UHFFFAOYSA-N 1,3-dibromobenzene Chemical compound BrC1=CC=CC(Br)=C1 JSRLURSZEMLAFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNXLPYYXCOXPBM-UHFFFAOYSA-N 1,3-diethynylbenzene Chemical compound C#CC1=CC=CC(C#C)=C1 PNXLPYYXCOXPBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AZQWKYJCGOJGHM-UHFFFAOYSA-N 1,4-benzoquinone Chemical compound O=C1C=CC(=O)C=C1 AZQWKYJCGOJGHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MPXKIFWZOQVOLN-UHFFFAOYSA-N 1-(1-adamantyl)adamantane Chemical group C1C(C2)CC(C3)CC2CC13C(C1)(C2)CC3CC2CC1C3 MPXKIFWZOQVOLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SIDHPJNMYMAWJL-UHFFFAOYSA-N 1-(2-phenylethynyl)-9h-fluorene Chemical compound C=12CC3=CC=CC=C3C2=CC=CC=1C#CC1=CC=CC=C1 SIDHPJNMYMAWJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QUCXLVDIVQWYJR-UHFFFAOYSA-N 1-bromo-3,5-dimethyladamantane Chemical compound C1C(C2)CC3(C)CC1(C)CC2(Br)C3 QUCXLVDIVQWYJR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XNNLEMUSWLWGMY-UHFFFAOYSA-N 1-ethynyl-4-(4-ethynylphenoxy)benzene Chemical compound C1=CC(C#C)=CC=C1OC1=CC=C(C#C)C=C1 XNNLEMUSWLWGMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJNCIYYNPLWHDW-UHFFFAOYSA-N 1-ethynyladamantane Chemical group C1C(C2)CC3CC2CC1(C#C)C3 KJNCIYYNPLWHDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 1H-indene Natural products C1=CC=C2CC=CC2=C1 YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HGUFODBRKLSHSI-UHFFFAOYSA-N 2,3,7,8-tetrachloro-dibenzo-p-dioxin Chemical compound O1C2=CC(Cl)=C(Cl)C=C2OC2=C1C=C(Cl)C(Cl)=C2 HGUFODBRKLSHSI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FFLXOPFAPWKULC-UHFFFAOYSA-N 2-(2-adamantyl)adamantane Chemical group C1C(CC2C3)CC3CC1C2C1C(C2)CC3CC1CC2C3 FFLXOPFAPWKULC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RXXCIBALSKQCAE-UHFFFAOYSA-N 3-methylbutoxymethylbenzene Chemical compound CC(C)CCOCC1=CC=CC=C1 RXXCIBALSKQCAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004800 4-bromophenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C([H])=C1Br 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000191368 Chlorobi Species 0.000 description 1
- BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen disulfide Chemical compound SS BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010017711 Gangrene Diseases 0.000 description 1
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- KEAYESYHFKHZAL-UHFFFAOYSA-N Sodium Chemical compound [Na] KEAYESYHFKHZAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930182558 Sterol Natural products 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- KHKWHTCWOCAWME-UHFFFAOYSA-N acetylene benzene Chemical compound C#C.C1=CC=CC=C1.C#C KHKWHTCWOCAWME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K aluminium trichloride Chemical compound Cl[Al](Cl)Cl VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N aluminium(3+) Chemical compound [Al+3] REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002178 anthracenyl group Chemical group C1(=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C12)* 0.000 description 1
- YOKBFUOPNPIXQC-UHFFFAOYSA-N anti-tetramantane Chemical group C1C(CC2C3C45)CC6C2CC52CC5CC7C2C6C13CC7C4C5 YOKBFUOPNPIXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004760 aramid Substances 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229920003235 aromatic polyamide Polymers 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013040 bath agent Substances 0.000 description 1
- LJIPSDSHKKWWIF-UHFFFAOYSA-N benzene but-1-yne Chemical group C1=CC=CC=C1.C(C)C#C LJIPSDSHKKWWIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HFACYLZERDEVSX-UHFFFAOYSA-N benzidine Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1C1=CC=C(N)C=C1 HFACYLZERDEVSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 125000006267 biphenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000319 biphenyl-4-yl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C([H])C([H])=C1C1=C([H])C([H])=C([*])C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- YNHIGQDRGKUECZ-UHFFFAOYSA-L bis(triphenylphosphine)palladium(ii) dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Pd+2].C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 YNHIGQDRGKUECZ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 125000005998 bromoethyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- CREMABGTGYGIQB-UHFFFAOYSA-N carbon carbon Chemical compound C.C CREMABGTGYGIQB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000007810 chemical reaction solvent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229960001231 choline Drugs 0.000 description 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 1
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000000502 dialysis Methods 0.000 description 1
- MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N dichlorosilane Chemical compound Cl[SiH2]Cl MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004177 diethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- USIUVYZYUHIAEV-UHFFFAOYSA-N diphenyl ether Chemical compound C=1C=CC=CC=1OC1=CC=CC=C1 USIUVYZYUHIAEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GPAYUJZHTULNBE-UHFFFAOYSA-N diphenylphosphine Chemical compound C=1C=CC=CC=1PC1=CC=CC=C1 GPAYUJZHTULNBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- IPWGQHPFJOFAAC-UHFFFAOYSA-N ethyl acetate;heptan-2-one Chemical compound CCOC(C)=O.CCCCCC(C)=O IPWGQHPFJOFAAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZHOPKHNLYOLWLE-UHFFFAOYSA-N ethynethiol Chemical group SC#C ZHOPKHNLYOLWLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- RMBPEFMHABBEKP-UHFFFAOYSA-N fluorene Chemical compound C1=CC=C2C3=C[CH]C=CC3=CC2=C1 RMBPEFMHABBEKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 239000004088 foaming agent Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002343 gold Chemical class 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003187 heptyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 125000003454 indenyl group Chemical group C1(C=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 1
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000006193 liquid solution Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 1
- UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N methoxybenzene Substances CCCCOC=C UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940102396 methyl bromide Drugs 0.000 description 1
- 239000008267 milk Substances 0.000 description 1
- 210000004080 milk Anatomy 0.000 description 1
- 235000013336 milk Nutrition 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- VMGAPWLDMVPYIA-HIDZBRGKSA-N n'-amino-n-iminomethanimidamide Chemical compound N\N=C\N=N VMGAPWLDMVPYIA-HIDZBRGKSA-N 0.000 description 1
- 125000004998 naphthylethyl group Chemical group C1(=CC=CC2=CC=CC=C12)CC* 0.000 description 1
- NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N o-biphenylenemethane Natural products C1=CC=C2CC3=CC=CC=C3C2=C1 NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002347 octyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- MUJIDPITZJWBSW-UHFFFAOYSA-N palladium(2+) Chemical compound [Pd+2] MUJIDPITZJWBSW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FDPIMTJIUBPUKL-UHFFFAOYSA-N pentan-3-one Chemical compound CCC(=O)CC FDPIMTJIUBPUKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005561 phenanthryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000286 phenylethyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 150000003003 phosphines Chemical class 0.000 description 1
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-O phosphonium Chemical compound [PH4+] XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000002574 poison Substances 0.000 description 1
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229910000027 potassium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N propylene Natural products CC=C QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004805 propylene group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000002407 reforming Methods 0.000 description 1
- BOLDJAUMGUJJKM-LSDHHAIUSA-N renifolin D Natural products CC(=C)[C@@H]1Cc2c(O)c(O)ccc2[C@H]1CC(=O)c3ccc(O)cc3O BOLDJAUMGUJJKM-LSDHHAIUSA-N 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000007761 roller coating Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000013049 sediment Substances 0.000 description 1
- 239000002893 slag Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003432 sterols Chemical class 0.000 description 1
- 235000003702 sterols Nutrition 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- QZCHKAUWIRYEGK-UHFFFAOYSA-N tellanylidenecopper Chemical compound [Te]=[Cu] QZCHKAUWIRYEGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PUGUQINMNYINPK-UHFFFAOYSA-N tert-butyl 4-(2-chloroacetyl)piperazine-1-carboxylate Chemical compound CC(C)(C)OC(=O)N1CCN(C(=O)CCl)CC1 PUGUQINMNYINPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910021381 transition metal chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N tris Chemical compound OCC(N)(CO)CO LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ABDKAPXRBAPSQN-UHFFFAOYSA-N veratrole Chemical compound COC1=CC=CC=C1OC ABDKAPXRBAPSQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000052 vinegar Substances 0.000 description 1
- 235000021419 vinegar Nutrition 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F281/00—Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers of monomers having carbon-to-carbon triple bonds as defined in group C08F38/00
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Description
200906875 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 使用其之樹脂膜用清 本發明係關於一種有機絕緣材料 漆、樹脂膜以及半導體裝置。 【先前技術】
化近於電子材料領域中’隨著半導體裝置之高集成 =、向速化及高㈣化之發展,半導體集成電路之配線間 電阻增大或電容增大所造成之延遲時間成為較大問題。為 了減少該延遲時間,實現半導體裝置之進一步之高速化, 必須將低介電常數之絕緣臈用於電路中。 〇 為了實現絕緣膜之進—步之低介電t數化,進行有使材 料多孔質化之研究。作為多孔質化之方法,存在:藉由混 合或鍵結而導人熱分解性成分(孔原(p⑽㈣)),於絕緣膜 形成時之加熱燒成步驟中使孔原分解,從而於絕緣膜中形 成孔洞之方法等、然而’藉由上述方法進行多孔質化之膜 中存在之孔洞為數奈米至數十奈米之較大尺寸者,又,該 等孔洞並非獨立而是連接存在,因此材料強度必然下降, 亦指出於半導體製程中孔洞所引起之各種問題。作為解決 上述問題之方法,亦進行有導入封孔(p〇re seal)等製程之 研究,但擔心製造步驟增加,導致成本增加。 例如,如日本專利特開2001_332543號公報中所揭示, 已知樹脂結構之内部具有分子水平之多個孔洞的材料。根 據該先前技術,藉由鍵結第一交聯成分與第二交聯成分而 形成分子水平之孔洞,從而實現低介電常數化。然而,上 129701.doc 200906875 200906875 且合成時之 問題之非常 =枓係存在於合成樹料易於弓丨起凝膝化, Λ ^物之☆解性及作為清漆之保存性等不良等 難以處理的材料。 干,已列:,如曰本專利特軸侧號公報中所揭 材料,分子内具有㈣Η基之化合物之材料。上述 於為了獲得充分之機械強度而必須提高交聯密 :材rt内之飼基之比例殘存某程度以上。然而,由 人'、而形成之樹脂膜之介電常數不充分。 【發明内容】 而開發完成者,其目的在於提供 耐熱性及尚機械強度之有用的有 種使用其之半導體裝置。 本發明係鑒於上述情形 一種兼具低介電常數、高 機絕緣材料’進而提供一 即,本發明係藉由第⑴項至第⑴)項之本發明而達成。 ⑴一種有機絕緣材料,其係包含籠型結構化合物之預聚物 者’該籠型結構化合物具有含聚合性不飽和鍵之基及以金 剛烧結構為最小單元之籠型結構,上述預聚物之藉由凝膠 透層析法測疋之聚苯乙烯換算之數量平均分子量為 2,000以上且500,〇〇〇以下。 (:)如:⑴項之有機絕緣材料,其中上述以金剛烷結構為 最J單元之籠型結構係金剛烧㈤咖咖繼)結構、多金剛 烧(P〇iy⑽antane)結構、聚(多金剛院)(p〇iy(p〇iyamant議)) 結構或聚金剛烷(polyadamantane)結構。 (3)如第(1)項或第⑺項之有機絕緣材料,#中上述預聚物 具有.上述籠型結構化合物中之上述聚合性不飽和鍵相互 129701.doc 200906875 反應而生成之不餘和鍵’或上述聚合性不飽和鍵相互反應 而生成之不飽和鍵及未反應之上述聚合性不飽和鍵。 ⑷如第⑺項之有機絕緣材料’其中上述預聚物中之上述 未反應之聚合性不飽和鍵之殘存率為鳩以上且祕以 下。 ⑺如第⑴項至第(4)項中任一項之有機絕緣材料,其中上 述籠型結構化合物係以下述式⑴所表示之化合物。
X—W~^Y ⑴ (式⑴中,X及Y分別表示相同或不同之含聚合性不飽和鍵 之1或2以上之基。貨及2分別表示具有金剛烷或多金剛烷 結構之基,可相同或不同。nSO*】以上之整數。) ⑷如第⑴項至第⑺項中任—項之有機絕緣材料,其中上 述籠型結構化合物係以下述式(2)所表示之化合物。
Υι (2) (式中,分別表示含聚合性不飽和鍵之丨或2以上之 基,可相同或不同。〜义分別表示氫或有機|,可相同 或不同。η1係0或1以上之整數。) ⑺如第(1)項至第(6)項中任一項之有機絕緣材料,其中上 述聚合性不飽和鍵為碳_碳三鍵。 i29701.doc 200906875 ⑴項至第⑺項中任-項之有 速含聚合性不飽和鍵之基之至 機絕緣材料’其中上 或以式(4)所表示之基。 夕固係以式a)所表示之基 c: C—R 5
⑶ ⑷ (式_ 115及尺6分別獨立表示氫原 整數。) “子或有機基。m係I〜5之 ⑼-種樹脂臈用清漆,其包 項之有機絕緣材u芬女 ()項至第(8)項中任一 m緣材科及有機溶劑。 ⑽-種樹腊膜,其係使如第⑴ 機絕緣材料或如篦 、第(8)員中任一項之有 能量線照射、或加孰盒活…:“❹加熱、活性 得。 舌度此$線照射進行交聯反應而獲 (Η)一種半導體裝置,直 【實施方式】 備如弟(10)項之樹脂膜。 之==7工有機絕緣材料,其係包含籠型結構化合物 °Λ蘢型結構化合物具有含聚合性不飽和鍵之 :以金剛烷結構為最小單元之籠型結構,上述預聚物之 :由凝膠料層析法(以下,有時稱作” GPC”。)測定之聚 本乙:換算之數量平均分子量為2,000以上且500,_以 下精此’可獲得耐熱性、機械特性及電氣特性優異之樹 129701.doc 200906875 脂臈。 本發明之樹脂膜用清漆包含上述有機絕緣材料。 匕又,本s明之樹脂膜係使用i述有機絕緣材料或上述樹 =用清漆而獲得者,係使用上述有機絕緣材料甲之將具有 含聚合性不餘和鍵之基及以金剛院結構為最小單元之寵型 結構之籠型結構化合物進行聚合所得之預聚物,使該預聚 物進行交聯反應而獲得者,藉此,# 性及電氣特性優異之樹脂膜。 」 生機械特 又,本發明之半導體裝置具備上述樹脂膜。 τ先,就本發明之有機絕緣材料加以說明。 本發明之有機絕緣材料,包含使上述籠型結構化合物中 :含之聚合性不飽和鍵相互間之-部分或全部進行反應所 =之預聚物。該預聚物具有使上述不飽和鍵相互間之—部 分或全部進行反應而新生成之*飽和鍵,作為JL述聚合性 不飽和鍵相互間之反應部。 :本各月令,上述龍型結構化合物之預聚物可為寡聚 :’亦可為聚合物狀’作為其藉由Gpc敎之聚苯乙稀換 异之數量平均分子量’為2,000以上且500,000以下,更好 的疋5,〇〇〇以上且2〇〇,〇〇〇以下。若上述數量平均分子量低 ;2’000 ’則製作上述預聚物之塗佈膜時,可能會引起析 :物等所造成之塗佈膜之外觀不良。另一方面,若上述數 量平均分子量超過500,000,則可能會導致上述預聚物不 溶於有機溶劑。 並非有意束缚於特定理論,但對於本發明之上述籠型 129701.doc 10 200906875 結構化合物之預聚物而言, 2,000以上時,認為形成有以=上述數量平均分子量為 構,藉此抑制預聚物相互間產生结構為中心之分支結 本發明之預聚物溶解於有機溶劑聚。因此,於自將 成塗膜之情料,塗膜 &之樹脂膜用清漆形 得樹脂膜而使預聚物進行交聯時,,:了硬化乾燥塗膜獲 構’並且形成以籠型結構為中'、、述分子孔洞結 ^ . ’、 之分支父聯結構。因此, 將本發明之預聚物進行交聯 平均分子量未達2,_之預聚物、=曰膜,相比於將數量 M " 進仃父聯所得之樹脂臈, 形成更多孔徑為1〜3nm左右之分子孔洞結 =精此減少密度。其結果,所得之樹脂膜可實現低介電 ㊉數化。再者,上述分子孔徑可利用正電子消滅壽命測定 法,作為等價球體直徑而算出。 又,上述籠型結構化合物之預聚物,如上所述可為寡聚 物’但若提高預聚物中之高分子量體比例,則可增加分子 孔洞結構’提高預聚物中之高分子量體比例之方法有:利 用溶解性之差而除去低分子量體、利用截留等而將高分子 量體分離等。藉由增加分子孔洞結構,可實現低介電常數 化。然而’如上所述,若預聚物之分子量過大,則可能會 導致不溶於溶劑。 本發明中所使狀具有纟聚合性不飽和鍵之基及以金剛 烷結構為最小單元之籠型結構的籠型結構化合物中,作為 含聚合性不飽和鍵之基,可舉出具有乙炔鍵(碳_碳三鍵)之 129701.doc 200906875 基、具有乙烯鍵(碳-碳雙鍵)之基、氰基等。其中,較好的 是具有碳·碳三鍵之基。作為上述具有碳_碳三鍵之基,除 了奴-碳三鍵以外,亦可含有甲基及乙基等鏈狀脂肪族 基,或環己基及金剛烷基等環狀脂肪族基,苯基、萘基及 苐基專芳香族基。 作為上述具有碳-碳三鍵之基,較好的是以式所表示 之基及以式(4)所表示之基,較好的是含有一個以上之該 基。 ' ⑶ 5
c= c—R (4) (式中,Rs及R0分別獨立表示氫原子或有機基。m係卜5之 整數。) 作為上述有機基,可舉出:甲基、乙基、丙基及丁基等 鏈狀脂肪族基,環己基及金剛烧基等環狀脂肪族基,苯 基、萘基及苐基等芳香族基。 乍為上述具有&,二鍵之基之具體例,作為以上述式 (3)所表示之基,於R5為氫原子之情形時,為乙块基… 於心為有機基,上述有機基為上述鏈狀脂肪族基之情形 時’可舉絲、乙基^基、丙基乙炔基及丁基 块基等,於上述有機基為上述環狀脂肪族基之情形時, 可舉出金剛院基乙块基、環庚基乙炔基及環己基乙炔基 129701.doc -12· 200906875 等,於上述有機基為上述芳香族基之情形時,可舉出苯基 乙炔基、苯氧基苯基乙块基、萘基乙快基及苐基乙炔基 等。 又,作為以上述式(4)所表示之基,於R6為氫原子之情 形時,可舉出2·乙炔基苯基、3_乙块基苯基、4_乙快基苯 基、2,3-二乙炔基苯基、2,4_二乙炔基苯基、2,5二乙炔基 苯基、2,6-二乙炔基苯基、3,4二乙炔基苯基、3,5_二乙炔 基苯基、2,3,4-三乙炔基苯基、2,3,5_三乙炔基苯基、 2.3.6- 三乙炔基苯基、2,4 5_三乙炔基苯基、2,4,6_三乙炔 基苯基、3,4,5-三乙炔基苯基、2,3,4,5_四乙炔基苯基、 2.3.4.6- 四乙炔基苯基、2,3,5,6四乙炔基苯基及2 3,4,5,6_ 五乙炔基苯基等;於r0為有機基,上述有機基為上述鏈狀 脂肪族基之情形時,可舉出2-甲基乙炔基苯基、3_甲基乙 炔基苯基、4-甲基乙炔基苯基、2,3_雙(曱基乙炔基)苯 基、2,4-雙(曱基乙炔基)苯基、2,5雙(曱基乙炔基)苯基、 2.6- 雙(曱基乙炔基)苯基、3,4_雙(曱基乙炔基)苯基、3,5_ 雙(曱基乙炔基)苯基、2,3,4_三(曱基乙炔基)苯基、2,3,5_ 二(曱基乙炔基)苯基、2,3,6_三(曱基乙炔基)苯基、2,4,5_ 二(曱基乙炔基)苯基、2,4,6_三(f基乙炔基)苯基、3,4,5_ 三(甲基乙块基)苯基、2,3,4,5_四(曱基乙炔基)苯基、 2.3.4.6- 四(曱基乙炔基)苯基、2,3,5,6_四(甲基乙炔基)苯基 及2,3,4,5,6-五(曱基乙炔基)苯基等;於上述有機基為上述 環狀脂肪族基之情形時,可舉出2-(卜金剛烷基乙炔基)苯 基、3-(1-金剛烷基乙炔基)苯基、4_(1_金剛烷基乙炔基)苯 129701.doc -13- 200906875 基、2,3-雙(1-金剛烷基乙炔基)苯基、2,4_雙(丨_金剛烷基乙 炔基)苯基、2,5-雙(1-金剛烷基乙炔基)苯基、2,6_雙(1_金 剛烷基乙炔基)苯基、3,4-雙(1-金剛烷基乙炔基)苯基、 3,5-雙(1-金剛烷基乙炔基)苯基、2,3,4_三(1_金剛烷基乙炔 基)苯基、2,3,5-三(1-金剛烷基乙炔基)苯基、2,3,6_三(1_金 剛烷基乙炔基)苯基、2,4,5-三(1-金剛烷基乙炔基)苯基、 2,4,6-三(1-金剛烷基乙炔基)苯基、3,4,5_三(1_金剛烷基乙 炔基)苯基、2,3,4,5-四(1-金剛烷基乙炔基)苯基、2,3,4,6_ 四(1-金剛烧基乙快基)苯基、2,3,5,6-四(1-金剛烧基乙炔 基)苯基及2,3,4,5,6-五(1-金剛烷基乙炔基)苯基等;於上述 有機基為上述芳香族基之情形時,可舉出2_苯基乙炔基苯 基、3-笨基乙炔基苯基、4-苯基乙块基苯基、2,3_雙(苯基 乙炔基)苯基、2,4-雙(苯基乙炔基)苯基、2,5•雙(苯基乙炔 基)苯基、2,6-雙(苯基乙炔基)苯基、3,4_雙(苯基乙炔基)苯 基、3,5-雙(苯基乙炔基)苯基、2,3,‘三(苯基乙炔基)苯 基、2,3,5-三(苯基乙炔基)苯基、2,3,6三(苯基乙炔基)苯 基、2,4,5-三(苯基乙炔基)苯基、2,4,6_三(苯基乙炔基)苯 基3,4,5_二(苯基乙炔基)苯基、2,3,4,5-四(苯基乙炔基)苯 基2’3,4,6_四(笨基乙炔基)苯基、2,3,5,6-四(苯基乙炔基) 苯基及2,3,4,5,6-五(苯基乙炔基)苯基等。 6亥等之中,因預聚物於有機溶劑中之溶解性、製成樹脂 膜之情形之耐熱性優異,故較好的是乙炔基、‘乙炔基苯 基、3,5-二乙块基苯基、3,4•二乙快基苯基、心甲基乙块基 苯基、3,5-雙(甲基乙炔基)苯基、3,4_雙(甲基乙炔基)苯基 I29701.doc -14· 200906875 等,但並未限定於該等。再者,上述具有乙炔鍵之基中之 氫原子,亦可被氟原子、甲基、三氟甲基及苯基取代。 含有具有上述聚合性不飽和鍵之基及以金剛烷結構為最 小單元之籠型結構之籠型結構化合物,作為籠型結構,可 舉出金剛烷結構、多金剛烷結構、具有複數個金剛烷結構 連接而成之結構作為骨架的聚金剛烷結構、具有複數個上 述多金剛烷結構連接而成之結構作為骨架的聚(多金剛烷) 結構。 可舉出具有以式(1)所表示之結構作為上述結構之化合 物。 X——w
(1) (式⑴中’ X及Y分別表示相同或不同之含聚合性不飽和鍵 之1或2以上之基。胃及z分別表示具有金剛烷或多金剛烷 結構之基,可相同或不同。η係〇或丨以上之整數。)
具有以上述式⑴所表示之結構之化合物,其评及2係呈 有金岡以或多金剛院結構者,亦可具有上述金㈣及多: 剛烷結構之兩者。該等之中’作為式⑴中之具有金 剛,或多金剛烧結構者,就低介電常數方面而言,尤其好 的疋以下述式(2)所表示之聚金剛院化合物及以式⑹所表 不之聚(多金剛烷)化合物。 關於具有以式⑺所表示之結構之化合物 具有以式⑺所表示之結構者。 T+出 129701.doc 15 200906875
⑵ 鍵之1或2以U別表示相同或不同之含聚合性不飽和 和鍵之基。R二’作為具體例’其係上述含聚合性不飽 之η相同。、表示氯或有機*°nl與上述式U)中
同。又,η1與上述通式(1)中之η相 、Ri〜R4相 同
鍵之1或2以上之基,作為具體例,其係上述含聚合性 不飽 129701.doc -16- 200906875 和鍵之基。R7〜r1s分別表示氫或有機基。η2與上述通式(1) 中之η相同。) 對於4金剛院結構化合物、聚(多金剛烧)結構化合物而 言,上述式(1)中之η係表示金剛烷結構或多金剛烷結構之 數目’作為金剛烷或多金剛烷結構之數目η,為〇或1以 上,其上限數並無特別限定,就將聚金剛院結構或多金剛 烧結構化合物製成聚合物時之於溶劑中之溶解性方面而 言,較好的是4個以下,即,作為η之數,較好的是3以 下。 此處,作為多金剛烷結構,可舉出二金剛烷 (diamantane)環、三金剛烧(triamantane)環、四金剛烧 (tetramantane)環、五金剛烧(pentamantane)環及六金剛烧 (hexamantane)環等 ° 作為上述複數個金剛烷結構連接而成之金剛烷骨架之具 體例’可舉出:1,1’_雙金剛烧(biadamantane)骨架、2,2'-雙 金剛烷骨架及1,2'-雙金剛烷骨架等雙金剛烷骨架, 1,1’:3’,1”-三聚金剛烧(triadamantane)骨架、1,2’:5',1"-三聚 金剛烷骨架、1,2':4',1"-三聚金剛烷骨架及2,2,:4,,2"-三聚 金剛烷骨架等三聚金剛烷骨架,1,1|:3,,1":3|',1”'-四聚金剛 烷(tetraadamantane)骨架、1,2':5',1”:3”,1"’-四聚金剛烷骨 架、1,2’:4’,1":3",1'"-四聚金剛烷骨架、1,1':4,,1":4",1",-四 聚金剛烷骨架及1,厂:3',1”:3",2”’-四聚金剛烷骨架等四聚金 剛烷骨架及1,Γ:3',Γ':3",1”':3"·,1""-五聚金剛烷 (pentaadamantane)骨架、1,1’:4',1|':3”,1"’:3|'',1””-五聚金剛 129701.doc 200906875 烧骨架、l l,.& 」.4 ,1 ”:4”,1”,:3”',1””-五聚金剛烷骨架及 1 1 ’ : 3 ’ 1" · 4,,9 ” | c ,.,ι"'_五聚金剛烧骨架等五聚金剛烧骨架 毒八中考慮到於溶劑中之溶解性等方面,較好的是具 有雙金剛燒^骨力Ιρ +上^·人 兀月木之雙金剛烷化合物。進而,作為雙金剛烷 月木可舉出具有i,1'-雙金剛烧骨架、2,2·-雙金剛烷骨架 雙金岡j燒月架者,就獲得耐熱性更優異之有機絕緣 膜之方面而言,較好的是U'-雙金剛烷骨架,但更好的是 具有以上述式(2)所表示之結構者。
又,作為複數個多金剛烷結構連接而成之聚(多金剛烷) 骨架二具體例,可舉出雙(二金剛烷)骨架、三聚(二金剛 烷)月木四聚(二金剛烷)骨架及五聚(二金剛烷)骨架等複 數個一金剛烷結構連接而成之骨架,雙(三金剛烷)骨架、 :聚(―金剛烷)骨架 '四聚(三金剛烷)骨架及五聚(三金剛 烷)骨架等複數個三金剛烷結構連接而成之骨架,雙(四金 剛烷)骨架、三聚(四金剛烷)骨架、四聚(四金剛烷)骨架及 五聚(四金剛烷)骨架等複數個四金剛烷結構連接而成之骨 架等。 至於上述之具體例’作為具有二金剛烷骨架作為多金剛 烷、、Ό構者,可舉出4,4'·雙(二金剛烷)骨架、3,3,-雙(二金剛 烷)骨架及3,4’-雙(二金剛烷)骨架等雙(二金剛烷)骨架, 4,4 .9,4"_三聚(二金剛烷)骨架、4,3,:9\4”-三聚(二金剛烷) 月木、三聚(二金剛烷)骨架及3,3,:8,,3"_三聚(二 金剛烷)骨架等三聚(二金剛烷)骨架,4,4,: (一金剛烷)骨架、4,3,:9,,4”:9",4,,,_四聚(二金剛烷)骨架、 129701.doc 200906875 4’4.8,4”:8",4"’-四聚(二金剛烷)骨架及4,4,:9,,4":9",3",_四 聚(二金剛烷)骨架等四聚(二金剛烷)骨架等。其中,考慮 到於溶劑中之溶解性等方面,較好的是具有雙(二金剛烷) 月木之化合物。就獲得耐熱性更優異之絕緣膜之方面而 吕’較好的是4,4’-雙(二金剛烷)骨架。 含有上述聚合性不飽和鍵及以金剛烷結構為最小單元之 籠型結構的籠型結構化合物中之金剛烷或多金剛烷結構上 之氫’亦可具有碳數為1以上且2〇以下之烷基,作為上述 烷基,可舉出甲基、乙基、丙基、丁基、己基、庚基及辛 基等’其中,更好的是甲基及乙基。藉由於金剛烷或多金 剛院結構中導入烷基’可提高於有機溶劑中之溶解性及耐 熱性。 進而’對於聚金剛烷結構化合物及聚(多金剛烷μ吉構化 合物而言’可分別於金剛烷或多金剛烷結構之每個橋頭 位,具有相同或不同之取代基。具體而言,於上述式 中’ R〗〜R4相互獨立表示氫原子或有機基’該等可相同或 不同。進而,於η1為2以上之整數之情形時,尺3及r4分別 於每個金剛烧結構中相同或不同。關於聚(多金剛烷)結構 化合物’若列舉以式(6)所表示之化合物加以說明,則 汉7〜R〗8相互獨立表示氫原子或有機基,該等可相同或不 同。進而’於η2為2以上之整數之情形時,R13〜r18分別於 每個多金剛烷結構中相同或不同。 作為上述R^R4及r7〜Ri8所表示之有機基’可舉出脂肪 族基及芳香族基等。作為上述脂肪族基,可舉出鏈狀脂肪 129701.doc -19- 200906875 族基及環狀脂肪族A耸 、基4,作為上述鏈狀脂肪族基之具體 可基、乙基、丙基、丁基及己基等;作為上述 壞狀月旨肪族基之具體例,可舉出環己基、雙環[如]庚基 及金剛貌基等。作為上述芳香族基,可舉出苯基、举基、 基、菲基、芳香族環為4個以上之多環式芳香族基、第 基、,苯基第基及聯苯基等,但並未限定於該等。 該,之甲,右上述鏈狀腊肪族基例如為甲基、乙基,則 可提高於有機溶劑中之溶解性及耐熱性。上述有機基中之 氫原子,亦可被敗原子、甲基、甲氧基及三氟甲基等取 代。又,R,〜m7〜Rl8可為具有上述聚合性不飽和鍵之 基。 :為,有具有上述聚合性不飽和鍵之基及以金剛烧結構 為取小單元之籠型結構的籠型結構化合物之具體例,以式 ⑴所表示之化合物結構中’作為具有以上述式(3)所表^ 之含有碳·碳三鍵之基的具體例’作為具有氫原子作為& 者,例如可舉出:4,9_二乙块基二金岡,m、2,4,7,9_四乙炔 基二金剛烷、4,4i-二乙炔基九9,_雙(二金剛烷)、3,3,·二乙 快基雙金剛烷、3,3’,5,5,_四甲基_7,二乙块基]卜 雙金剛貌、3,5-二乙炔雙金剛院、广三以基_ 雙金剛烧、3,3|,5,5,·四乙块基十丨,·雙金剛炫\ 3,3',5,7-四乙炔基·丨,丨,-雙金剛烷、3,3,,5,5,,7_五乙炔其_ 雙金剛m5,5|,7,7’-六乙炔基十广雙金剛烧土、 苯基_7’7’_二乙快基_u’_雙金剛烧等;作為具 有上述有機基中之甲基作為者,例如可舉出:A,、雙(甲 129701.doc •20· 200906875 基乙炔基)二金剛烧、2,4,7,9-四(甲基乙块基)二金剛烧、 4,4'-雙(甲基乙快基)_9,9'_雙(二金剛院)、3,3'-雙(曱基乙快 基)-1,1’-雙金剛烷、3,3’,5,5’-四甲基-7,7'-雙(曱基乙炔基 1,1'-雙金剛烷、3,5-雙(曱基乙炔基)_;!/_雙金剛烷、 3,5,3-二(甲基乙炔基)_1,1’_雙金剛烧、3,3,,5,51_四(曱基乙 炔基雙金剛烷、3,3,,5,7-四(曱基乙炔基雙金剛 烧、3,3’,5,5,,7-五(曱基乙炔基)-1,1,-雙金剛烧、 3,3,5,5,7,7’-六(曱基乙快基)_ι,ι’_雙金剛烧、3,3,,5,5,_四 苯基-7,7'-雙(曱基乙炔基)_;!,广雙金剛烷等;作為具有上 述有機基中之本基作為Rs者,例如可舉出:4,9 —雙(苯基乙 炔基)二金剛烷、2,4,7,9-四(苯基乙炔基)二金剛烷、4,4,· 雙(苯基乙炔基)-9,9’-雙(二金剛烷)、3,31_雙(苯基乙炔基)_ 1,1’-雙金剛院、3,3,,5,5,-四甲基-7,7,-雙(苯基乙炔基 雙金剛烧、3,5-雙(苯基乙炔基)_1,丨1_雙金剛院、3,5,3,_三 (苯基乙炔基雙金剛烷、3,3,,5,5,-四(苯基乙炔基 1,1’_雙金剛烷、3,3,,5,7-四(苯基乙炔基)_丨,卜雙金剛烷、 3,3,5,5,7-五(本基乙快基)_ι,ι’_雙金剛烧、3,3、5,5' 7 7'-六 (苯基乙快基雙金剛烷、3,3,,5,5,·四苯基_7,7,_雙(苯 基乙炔基雙金剛烷等,但並未限定於該等。該等之 中,較好的是3,3’,5,5'-四曱基_7,7’_二乙炔基_1,1,_雙金剛 烷、3,3’,5,5’-四乙炔基·Lr雙金剛烷、3,3,,5,5,_四甲基_ 7,雙(甲基乙炔基)-U|_雙金岡、3,3,,5,5,_四甲基_7,7,_ 雙(苯基乙炔基Η,Γ雙金剛炫等,進而,就溶解性或耐熱 性之方面而f ’尤其好的是3,3,,5,5,_四甲基_7,7,_二乙炔 129701.doc -21 - 200906875 基雙金剛烷、3,3,,5,5i_四乙炔基_丨,广雙金剛烷等。 此處’具有含聚合性不飽和鍵之基及以金剛院結構為最小 單元之籠型結構的籠型結構化合物之具體<列巾,作為多金 剛烷結構,列舉二金剛烷化合物之情形,但並未限定於 此。又,作為聚金剛烷結構,列舉雙金剛烷化合物之情 形,但以上述式(1)所表示之化合物中,η為2以上之其他金 剛烷或多金剛烷化合物亦相同。 又,以上述式(1)所表示之化合物中,作為具有以式㈠) 所表不之含有碳-碳三鍵之基之具體例,作為具有氫原子 作為R6者,例如可舉出:4,9-雙(3,5-二乙炔基苯基)二金剛 烧2,4,7,9-四(3,5-一乙快基苯基)二金剛烧、4,4'-雙(3,5_ 二乙炔基苯基)_9,9'-雙(二金剛烷)、3,3'-雙(3,5-二乙炔基 苯基)-1,Γ-雙金剛烷、3,3i,5,5i_四曱基_7,7,_雙(3,5_二乙炔 基苯基)-1,Γ-雙金剛烷、3,5_雙(3,5_二乙炔基苯基卜丨,^雙 金剛燒、3,5,3’-三(3,5-二乙炔基苯基)_1,丨,_雙金剛燒、 3,3’,5,5’-四(3,5-二乙炔基苯基)-;[",_雙金剛烷、3,3,,5,7_四 (3,5_二乙炔基苯基)_1>Γ_雙金剛烷、3,3,,5,5,,7_五(3,5_二乙 快基苯基)-1,Γ-雙金剛烷、3,3,,5,5,,7,7'-六(3,5-二乙炔基 苯基)-1,1'-雙金剛烷、3,3,,5,5,-四苯基-7,7,-雙(3,5-二乙炔 基苯基)-1,Γ-雙金剛烷、3,3',5,5,-四甲基-7,7,-雙(4-乙炔基 苯基雙金剛烷、3,3,-雙(3,4-二乙炔基苯基)-ΐ,Γ_雙金 剛烧及3,3,-雙(2,3,5-三乙炔基苯基,-雙金剛烷等;作 為具有上述有機基中之曱基作為尺6者,例如可舉出:4 9_ 雙(3,5-一曱基乙炔基苯基)二金剛烧、2,4,7,9 -四(3,5-二甲 129701.doc -22- 200906875 基乙炔基苯基)二金剛烷、4,4'-雙(3,5-二曱基乙炔基苯基)_ 9,9'-雙(二金剛烷)、3,3'-雙(3,5-二曱基乙炔基苯基,-雙 金剛烷、3,3’,5,5'-四甲基-7,7'-雙(3,5-二甲基乙炔基苯基)_ 1,1'-雙金剛烷、3,5-雙(3,5-二曱基乙炔基苯基)-I,〗'-雙金剛 烧、3,5,3'-三(3,5-二曱基乙炔基苯基)-1,1'_雙金剛炫(、 3,3',5,5'-四(3,5-二曱基乙炔基苯基雙金剛烷、 3,3',5,7-四(3,5-二甲基乙炔基苯基)-1,1’_雙金剛烧、 3,3',5,5',7-五(3,5-二曱基乙炔基苯基)-ΐ,ι,_雙金剛烷、 3,3',5,5',7,7'-六(3,5-二曱基乙炔基苯基)_1,1’_雙金剛烧、 3,3',5,5·-四苯基-7,7·-雙(3,5-二甲基乙炔基苯基雙金 剛烷、3,3,,5,5·-四甲基-7,7,-雙(4-曱基乙炔基苯基)-U,-雙 金剛烷、3,3·-雙(3,4-二甲基乙炔基苯基)_U,-雙金剛烷及 3,3'-雙(2,3,5-三曱基乙炔基苯基)-1,1,_雙金剛烷等;作為 具有上述有機基中之苯基作為Re者,例如可舉出:4,9-雙 (3,5-二苯基乙炔基苯基)二金剛烷、2,4,7,9-四(3,5-二苯基 乙炔基苯基)二金剛烷、4,4'-雙(3,5-二苯基乙炔基苯基)_ 9,9’-雙(二金剛烷)、3,3'-雙(3,5-二苯基乙炔基苯基)_!,广雙 金剛烷、3,3’,5,5|-四曱基-7,7,-雙(3,5-二苯基乙炔基苯基)· 1,1’_雙金剛烷、3,5-雙(3,5-二苯基乙炔基苯基)_u,_雙金剛 烧、3,5,3’ -三(3,5-二苯基乙炔基苯基)_1,1'_雙金剛烧、 3,3 ,5,5 -四(3,5 -.一本基乙快基本基)-1,11 -雙金剛烧、 3,3,5,7-四(3,5-—本基乙快基本基)-1,1'-雙金剛烧、 3,3,5,5',7-五(3,5-二苯基乙快基苯基)_1,1|_雙金剛烧、 3,3,5,5|,7,7’-六(3,5-二苯基乙快基苯基)-1,1’_雙金剛烧、 129701.doc -23- 200906875 3,3',5,5'-四苯基-7,7'-雙(3,5-二苯基乙炔基苯基)雙金 剛烧、3,3'-雙(3,4-二苯基乙快基苯基)_ι,ι,_雙金剛烧及 3,3'-雙(2,3,5-三苯基乙炔基苯基)-ΐ,ι,_雙金剛烷等,但並 未限定於該等。該等之中,較好的是3,3',5,5'-四甲基-7 7'-雙(4-乙快基苯基)-1,1’-雙金剛烷、二乙炔基苯 基雙金剛烷、3,3',5,5’-四甲基_7,71_雙(3,5_二乙炔基
苯基)-1,1’-雙金剛烷、3,3',5,5’-四甲基_7,7'-雙(4-甲基乙快 基苯基)-1,Γ-雙金剛烷、3,3’-雙(3,4-二甲基乙炔基苯基)_ 1,1,-雙金剛烷、3,3’,5,5,-四甲基-7,7,_雙(3,5_二甲基乙快基 本基)-1,Γ-雙金剛烧、3,3',5,5’-四甲基-7,7^雙(3 5-二苯A 乙快基苯基)-1,1,-雙金剛烧等’進而,就溶解性或耐熱性 之方面而$,尤其好的是3,3',5,5'-四甲基_7,7,-雙(35-二乙 炔基苯基雙金剛烷、3,3’,5,5,_四甲基_7,7,_雙(3,5_二 苯基乙炔基苯基)-1,1·-雙金剛烷等。此處’具有含聚合性 不飽和鍵之基及以金剛烷結構為最小單元之籠型結構的蘢 型結構化合物之具體例中,作為多金剛烷結構,列舉二金 剛烧化合物之情形’但並未限定於此。又,作為聚金剛烧 結構,列舉雙金剛烷化合物之情形,但以上述式(1)所表示 之化合物中,η為2以上之其他金剛烷或多金剛烷化合物亦 相同。 於本發明中所使用之具有含聚合性不飽和鍵之基及以金 剛烷結構為最小單元之籠型結構的籠型結構化合物之預聚 物中,作為將具有含聚合性不飽和鍵之基及以金剛烧結構 為最小單S之蘢型結構之籠型結構化合物進行聚合的方 129701.doc -24- 200906875 方法了=使聚合性不飽和鍵進行反應之眾所周知之聚人 方法,例如可舉_使用過上 甲醯、第二丁基過虱化物及偶氮雙異 丰 =基聚合的方法;藉由使用光照射等之光自:=: 的方法;藉由使用二氯雙(三苯基膦)㈣υ、雙(苯甲= 二:)及四(三苯基鱗帅)等免觸媒聚合的方:;: 由之方ρ ϋ由使用乙酸銅⑼等過渡觸媒之聚合 方法/以及,猎由使用風化銷(ν)、氯化鱗(νι)及氯化组 (V)等過渡金屬氯化物之聚合方法等。 該等之中’因無需因觸媒等殘存而進行雜f之除去,因 此較好的是藉由熱聚合之方法。反應條件可根據具有含聚 合性不飽和鍵之基及以金剛燒結構為最小單元之籠型結構 的籠型結構化合物之結構,而適宜變更 據 合性不飽和鍵之結構而有所不同,但通常是50;= 5〇〇°C以下左右,作為有機溶劑中之籠型結構化合物之濃 度,通常是巧量%以上且50質量%以下左右。又,於進行 熱聚合時,較好的是籠型結構化合物溶解於有機溶劑中。 反應溫度及反應時之籠型結構化合物之濃度亦可為上述範 圍外,但若分別過高,則有分子量增加,導致不溶於有機 溶劑之虞。 該等聚合反應,通常是藉由使具有含聚合性不飽和鍵之 基及以金剛烷結構為最小單元之籠型結構的籠型結構化合 物中之不飽和鍵之一部分或全部進行反應而進行。 如此獲得之預聚物,較好的是具有上述籠型結構化合物 129701.doc -25- 200906875 或上述 應之聚 尹之聚合性不飽和鍵相互反應而生成之不飽和鍵, 聚合性不飽和鍵相互反應而生成之不飽和鍵及未反 合性不飽和鍵。 二乍為具體例,於以式⑴所表示之結構中,將含聚合性 不已和鍵之基設為碳_礙三鍵,將上述含聚合性不飽和鍵 之基以外設為γ,從而將將式⑴簡化為式⑺,則藉由聚合 ,應’以式⑴所表示之化合物之結構可獲得之結構,例如 可舉出式(8)所示之結構,但並未限定於此。 (7)
卜⑻
上述式(8)所示之你丨巾,主_ , 例中“以上述式⑴所表示之化合 物中之具有一個或兩個碳_碳= 反—鍵之基之奴-¼三鍵進行反 應之例子’但進而亦可爲呈女,毎& & λ山 碳三鍵進行反應 -八有複數個破-碳三鍵之基之碳_ 又,藉由上述聚合反應而 膜製造時之交聯反應而提高 獲得之預聚物,為 耐熱性、彈性率, 了藉由樹脂 又’為了提 129701.doc * 26 - 200906875 问於有機溶劑中之溶解性,更 -^ /V i * 的疋如式(8)中所示,殘存 口P刀未反應之碳_碳三鍵。作 之亨人祕丁糾4 作為上述預聚物中之未反應 之聚口性不飽和鍵之殘存率, 下。 更好的疋20%以上且80%以 此處,碳-碳三鍵之殘存率 ____ 丨如可利用紅外線吸收光碰 (IR光譜)分析或拉曼分光法加 ° 則更具體而言,根據 源自反應剛之具有含聚合性 ^ ^ X- - - 鲍#鍵之基之籠型結構化合 物之呶-¼三鍵的吸收光譜, f 汉你自預聚物之碳-碳三鍵之 吸收光譜之變化率,可算出 A 一鍵之殘存率。此時, 必須自預聚物去除未反應之籠型 ..„ m 龍生…構化合物,該去除方法 有.利用溶解性差之分離、或者 戎考利用截留等之分離。 於上述聚合反應中,作為;^ 甲作為反應溶劑可使用有機溶劑,作 為上述有機溶劑,並無特別限定,而例”醇 丙醇、1 - 丁醇及2- 丁醇等醇系溶南丨. 、 旰示,合剎,乙醯丙酮、甲基乙其 酮、甲基異丁基酮、環己酮、環戍 衣叹則、2-戊酮及2_庚酮等 嗣系溶劑’·乙酸乙醋、乙酸丙酉旨、乙酸丁酿、乙酸戊酿及 ,二醇單甲喊乙酸酉旨等醋系溶劑;二異丙喊、二丁喊、四 氫11夫喘、苯甲趟及13- - τ ι汉i,:i 一甲乳基本荨醚系溶劑丨笨、 苯、均三曱苯、乙基苯、-乙美笑芬 一乙基本及丙基笨等芳香族烴系 溶劑;N-甲基吡咯烷酮等醯胺系溶劑;等,因可自工:: 獲得,故作為溶劑較好,該等可單獨使用,亦可將2種、 上混合使用。 '種以 本發明之有機絕緣膜用材料’其係包含上述中獲得之具 有含聚合性不飽和鍵之基及以金剛烷結構為最小單元之二 129701.doc -27· 200906875 之預聚物,作為該化合物以外之 溶劑m —步含有下述樹脂 型結構的籠型結構化合物 成分,亦可含有上述有機 膜用清漆之添加劑。 亡:明之树脂膜用清漆’可藉由將本發明之有機絕緣材 ―二於適當有機溶劑中而獲得。上述有機絕緣材料可進 I乾w後溶解於有機溶劑中,製成樹脂 上述有機絕緣材料之製造而獲得之反應溶液直 ==二漆:可於反應溶液中混合其他有機溶劑。 T卜兩树月曰臈用清漆中所偵 吓便用之有機浴劑,若係可溶解 放上述有制緣材㈣,㈣,可舉出與上述聚 =反應中所使用之有機溶劑相同者。作為樹脂膜用清漆之 :度,可根據上述有機絕緣材料之結構或分子量而適宜決 2 ’較好的是樹脂臈用清漆中,上述有機絕緣材料為0.; W質量% ’更好的是〇5質量咖質量%。 又’相應需要可於上述樹脂膜用清漆中,添加界面活性 劑、以㈣偶合劑為代表之偶合劑、ϋ由加熱而產生氧自 土或仙自由基之自由基起始劑、二硫化物類等觸媒等各 種添加劑,而用作樹脂組合物。 _又」藉由於上述樹脂膜用清漆中添加作為感光劑之萘酉昆 - 2氮化物等’可用作具有感光性之表面保護膜。 又,可於上述樹脂臈用清漆中,添加形成奈米尺寸之微 孔之發泡劑(孔原、致孔劑)。 其次,就樹脂膜加以說明。 本發明之樹脂臈係使用上述有機絕緣材料或樹脂膜用清 129701.doc -28- 200906875 2獲得,例如可藉由將域t獲得之樹脂制清漆塗佈 ;,等支持體上’對其進行加熱或活性放射線照射等處 、製k又,亦可將上述中獲得之反應溶液直接塗佈, 或…/奋解有機絕緣材料後塗佈於支持體上而製造。 ,由進仃上述加熱或活性放射線照射等處理,使殘存於 預4物t之聚合性不飽和鍵進行交聯反應,藉此可提供— 種耐熱性、彈性率更優異之樹脂膜。 進而,s於本發明之樹脂膜之製造方法,t兒明使用上述 樹脂媒用清漆之情形之具體例:首先,將上述樹脂膜用清 漆塗佈於適當支持體上,例如塗佈於聚酯薄膜等有機基 材、銅落等金屬板、⑪晶圓或陶竟基板等半導體基板等基 材上’而形成塗膜。作為塗佈方法,可舉出使用旋轉器之 旋轉塗佈、使用噴塗器之喷霧塗佈、浸潰、印刷、報塗等 方法。其後’乾燥塗膜,進行加熱等處理,去除溶劑後, 利用藉由加熱之方法或照射活性能量線之方法、該等兩者 之方法等進行交聯反應,從而可製成機械特性優異之樹脂 膜。上述藉由加熱之方法中,例如以15〇〜425。〇\5分鐘〜24 小%進行加熱。作為上述活性能量線,可舉出可見光、紫 外光、紅外光及雷射光等活性能量光線,χ射線,電子束 以及微波等。 本發明之樹脂膜,可藉由上述方法直接塗佈於半導體基 板等基板上而形成,亦可藉由將形成於有機基材等支持體 上之樹脂膜自該支持體剝離,而用作乾膜。 又,為了提高與基板等支持體之密著性,亦可於基板上 129701.doc •29- 200906875 形成密著層後,於其上形成樹脂膜。 作為上述樹脂膜之用彳全 / 月曰膜之用途,例如可舉出半導體用層間絕緣 膜或表面保護臈、多層電路之層間絕緣膜、可撓性銅箱板 :面層、阻焊膜、液晶配向膜、蝕刻保護膜(蝕刻終止 層)、黏接劑等。該等之巾, 中可較好用作半導體用層間絕 緣膜及表面保護膜、蝕刻保護獏。 對此處使用之有機絕緣材料之玻璃轉移溫度並 y較好的是wc以上’尤其好的是42〇t以上最好的 疋450〜辑。若玻璃轉移溫度為上述範圍内,則可減低 上述樹脂膜之線膨脹係數, - j筏仵尺寸穩定性優異之樹脂 膜。 對上述樹脂膜之厚度並無特別限定,於半導體用層間絕 車乂好的疋0.01〜20 μηι,尤其好的是〇 〇5〜1() 阿,最好的是(Μ〜〇·7 μιηβ若厚度為上述範圍内 體之製造製程適合性優異。 、 於將上述樹脂膜用作半導體用層間絕緣臈之情形時,例 如將上述有機絕緣材料或上述樹脂用清漆,直接 :圓=基板等之特定位置,而形成塗膜。作為塗佈方 法’=出使用旋轉器之旋轉塗佈、使用噴塗器之噴霧塗 佈〜貝、印刷、報塗等方法。其後,乾燥塗模,去除 劑’以與上述相同之方式,利用藉由加熱之昭射: 性能量…法、使用該等兩者方法之方法等,進: =用=可製成層間絕緣膜。又’亦可預先使用上述樹 、β 〇、’製成乾膜’將其積層於特定位置。 129701.doc -30- 200906875 又亦於:上述樹脂臈用作上述半導體 %,亦以與上述半導體用層間絕緣臈相同之方式,將上= 有機絕緣材料或樹脂膜用 述 ^ ^ ^ 1接盒佈於矽晶圓或陶瓷 基板4之特定位置。作為塗 M ^ 复佈方法,可舉出使用旋轉器之 方疋轉塗佈、使用噴塗器之嘴 ^ 赁務主佈、次潰、印刷、輥塗等 方法。其後’乾燥塗膜,去 、 云除,合炤,以與上述相同之方 用藉由加熱之方法或照射活性能量線之方法、使用
該等兩者方法之方法等,進行交聯反應,從而可製成由上 述樹脂膜構成之保護膜。 對上述半導體用保護膜之厚度並無特別限定,較好的是 70 μηι,尤其好的是〇丨〜5〇 ^若厚度為上述範圍 内貝J半導體元件之保護特性及加工性之兩者特別優異。 人基於較好實施形態對本發明之半導體裝置加以說 明。 圖1係模式性表示本發明之半導體裝置之一例的剖面 圖。 半導體裝置100具備:形成有元件之半導體基板1,設置 於半導體基板1之上側(圖1上側)之氮化矽膜2,設置於氮化 石夕膜2上之層間絕緣膜3及由障壁層6覆蓋之銅配線層4。 層間絕緣膜3形成有與所需配線圖案相對應之凹部,於 該凹部内設置有銅配線層4。 又’於層間絕緣膜3與銅配線層4之間,設置有改質處理 層5 〇 又,於層間絕緣膜3之上側(與氮化矽膜2相反側面),形 129701.doc -31 - 200906875 成有硬掩膜層7。 作為層間絕緣膜3之形成方法,可於上述半導體基板1之 氮化石夕膜2上直接塗佈清漆而形成,亦可預先準備樹脂膜 之乾膜,將其以積層於半導體基板丨之氮化矽膜^上之方式 形成。更具體而言,可於上述半導體基板丨之氮化矽膜2 上,直接塗佈上述中獲得之包含有機絕緣材料之塗料清 漆,而形成塗膜,加熱及/或照射活性能量線進行硬化而 形成層間絕緣膜3。於使用乾膜之情形時,可預先使用上 述中獲得之包含有機絕緣材料之塗料⑽,於基材上形成 树知層,進行乾燥形成乾膜,將其積層於上述半導體基板 1之氮化矽膜2上,加熱及/或照射活性能量線進行硬化而 形成層間絕緣膜3。 於上述說明中,說明了形成於氮化矽膜2上之例子,但 形成樹脂膜之位置並未限定於此。 又,於本實施形態中,就使用層間絕緣膜3之半導體裝 置100加以說明,但本發明並未限定於此。 本發明之半導體裝置,由於使用如上所述之層間絕緣 膜,因此尺寸精度優異,可充分發揮絕緣性,藉此連接可 靠性優異。 又,如上所述之層間絕緣膜,由於介電特性優異,因此 可降低配線延遲。 實施例 以下’根據實施例及比較例,詳細說明本發明,但本發 明並未限定於此。 129701.doc -32- 200906875 (實施例1 ) (1)3,3',5,5'-四乙炔基-1,1'-雙金剛烷之合成 於具有溫度計、授拌機及迴流管之四口 1000 mL燒瓶 中’放入14 g(0.6 mol)之金屬鈉及600 ml之正辛烷,將内 ?卻至0 C。一面激烈授拌’ 一面緩慢滴加64.5 g(0.3 mol)之預先溶解於3〇〇 m丨之正辛烷中之卜溴金剛烷。滴加 k私中將内溫保持為〇°C〜5°C。滴加結束後,若溫度不 再上升’則接著持續反應1小時。其後,注入約丨5〇〇 之 冷尺中過;慮分離粗產物’以純水清洗,加以乾燥。進 而,將粗產物藉由熱己烷進行再結晶。藉由將所得之再結 晶物進行減壓乾燥,獲得32.6 g之產物。根據IR分析,汾 基之吸收(690-5 15 cm·1附近)消失,藉由質量分析得出之分 子畺為2 7 0,該結果表示產物為i f _雙金剛烧。 於具有溫度計、攪拌機及迴流管之四口 2〇〇〇 mL燒瓶 中,放入700 mL之四氣化碳及70 g(〇44 m〇1)之溴,一面 攪拌,一面一點點添加541 g(〇2 m〇1)之上述中獲得之 1,1’-雙金剛烷。添加過程中,將内溫保持為2(rc〜3〇t>c。添 加結束後,若溫度不再上升,則接著持續反應丨小時。其 後,注入約2000 mL之冷水中,過濾分離粗產物,以純水 清洗,加以乾燥。將粗產物藉由熱乙醇進行再結晶。藉由 將所得之再結晶物進行減壓乾燥,獲得65 〇 g之產物。根 據IR分析,於690〜515 cm·1處發現溴基之吸收,藉由質量 分析得出之分子量為586,該結果表示產物為3,3,,5,5|_四 溴-1,1匕雙金剛烷。 ’ 129701.doc -33- 200906875 於燒瓶内,使20 g(34 mmol)之上述中獲得之3,3,,5,5,-四 漠-1,Γ-雙金剛烧及18 ml(256 mmol)之溴乙浠溶解於120 ml之二氣甲烷中,於乾燥氮下、-15°C下滴加3.0 g(22 mmol)之氣化鋁(III),將其授拌1小時。進而,於_i5°c下滴 加20 ml之水後’返回至室溫,獲得反應液。於2〇〇 mi之 10%鹽酸水溶液中投入反應液,每次使用40 ml之二氯甲 烷,萃取3次,以40 ml水清洗後,以硫酸鎂乾燥,濃縮有 機層,獲得18.2 g之3,3',5,5'-四(二溴乙基)-ΐ,ι'_雙金剛 烷。 進而’將上述中獲得之3,3',5,5,-四(二溴乙基)_ι,ι'_雙金 剛烷’溶解於200 ml二甲亞颯中,於室溫下添加28 g(250 mmol)之第三丁氧化鉀,將其攪拌48小時。進而,於400 ml水中投入反應液,每次使用200 ml之二氣曱烷,萃取3 次,以200 ml水清洗後,以硫酸鎂乾燥,濃縮有機層,藉 此獲得Π.0 g之3,3',5,5'-四乙炔基-1,1’-雙金剛烧。 外觀:白色固體 MS(FD)(m/z) : 367(M+) 元素分析:理論值(/ °/〇)C : 91.75 ; Η : 8.25,實測值(/ %)C : 91.54 ; Η : 8.13 (2)3,3’,5,5’_四乙炔基-1,1’-雙金剛烷之聚合及有機絕緣膜 用清漆之製造 將5 g之上述實施例1(1)中獲得之3,31,5,5'-四乙炔基-1,1,-雙金剛烷’溶解於45 g之1,3-二曱氧基苯中,添加oj §之 雙(苯甲腈)二氯化鈀(II) ’於乾燥氮下、19〇。(:下反應6小 129701.doc 34- 200906875 時,將反應液滴入1〇倍體積之甲醇中,收集沈殿物後進行 乾燥,獲得預聚物。使用TOSOH股份有限公司製造之凝膠 透析層析儀(GPC) ’對所得之預聚物之分子量以聚苯乙烯 換算進行計算所得的數量平均分子量(Mn)為18,2〇〇。又, 根據源自反應前之聚金剛烷結構化合物之碳_碳三鍵之讯 光4 與源自預聚物之碳-碳三鍵之IR光譜之吸光度比, 算出預聚物之未反應不飽和鍵殘存率為61%。IR分析係使 用SHIMADZU製造之FTIR8900而測定。將所得之預聚物3 g,溶解於27 g之環戊酮中,利用特氟龍(註冊商標)過濾器 進行過濾,製成有機絕緣膜用清漆。 (3)層間絕緣膜及半導體裝置之製造 於半導體基板上形成氮化矽層,於該氮化矽層上塗佈上 述有機絕緣膜用清漆,4 0 0 °C下加熱處理1小時,形成厚度 為0.1 μιη之層間絕緣膜。 其次’於上述層間絕緣膜上,以形成特定圖案之方式形 成金屬配線,獲得半導體裝置。 (實施例2) (1)3,3’,5,5’_四甲基_7,7,_二乙炔基丄^雙金剛烷之合成 於實施例1(1)中,除了將64.5 g(0.3 mol)之1-溴金剛烧設 為72.9 g(〇.3 mol)之1-溴_3,5_二甲基金剛烷,將溴設為35 g(0.22 mol)以外,其餘全部以與實施例1(1)相同之方式進 行’獲得58 g之產物。根據ir分析,於69〇〜515 cm·1處發 現漠基之吸收,藉由質量分析得出之分子量為484,該結 果表示產物為3,3,,5,5,-四甲基-7,7,-二溴-1,1,-雙金剛燒。 129701.doc -35- 200906875 於實施例1(1)中’除了將2〇 g(34 mmol)之3,3,,5,5,-四溴_ 1,1’-雙金剛烷,設為50 g(l〇3 mmol)之上述中獲得之 3,3’,5,5'-四甲基-7,7’·二溴—u,-雙金剛烷’將 18 mi(256 mol)之漠乙烯设為 27.25 ml(387.5 mmol) ’ 將 3·0 g(22 mol) 之氣化I呂(III)設為4.55 g(33.3 mmol)以外,其餘全部以與 實施例1(1)相同之方式進行,藉此獲得31.5 g之3,3,,5,5,-四 曱基-7,7'-二乙炔基-1,1’_雙金剛烧。 外觀:白色固體
MS(FD)(m/z) : 374(M+) 元素分析:理論值(/ %)C : 89.78 ; Η : ι〇·22 ,實測值(/ %)C : 89.70 ; Η : 10.13 (2)3,3|,5,5’-四曱基-7,7'-二乙炔基-1,1|_雙金剛烷之聚合及 有機絕緣膜用清漆之製造 於實施例1(2)中,除了將5 g之3,3ι,5,5,_四乙炔基·^匕雙 金剛烷,設為5 g之上述實施例2(1)中獲得之3,3,,5,5,-四曱 基_7,7’-二乙炔基-雙金剛烷以外,其餘全部以與實施 例1(2)相同之方式,獲得預聚物。所得之預聚物之數量平 均分子量為2U00。又,未反應不飽和鍵殘存率為21%。 將所得之預聚物3 g,溶解於27 g之環戊_中 過濾’藉此製成有機絕緣膜用清漆。 (3)層間絕緣膜及半導體裝置之製造 利用過濾器 使用上述中獲得之有機絕緣膜用清漆,進行與實施例 1(3)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (實施例3) 129701.doc -36· 200906875 (1)4,9-二乙炔基二金剛烷之合成 除了將20 g(34 mmol)之合成實施例1(1)時獲得之 3,3',5,5'-四溴-1,1'-雙金剛烷,設為30§(87 111111〇1)之4,9-二 溴二金剛烧’將1 8 ml(256 mmol)之溴乙烯設為23.4 ml(326 mmol),將 3.0 g(22 mmol)之氯化鋁(III)設為 3·7 g(28 mmol)以外’其餘全部以與實施例1(1)相同之方式進行, 藉此獲得1 7 g之4,9-二乙炔基二金剛烷。 外觀:白色固體
MS(FD)(m/z) : 236(M+) 元素分析·理論值(/ %)C : 91.47 ; Η : 8.53,實測值 %)C : 91.38 ; Η : 8.49 (2) 4,9-一乙炔基二金剛烷之聚合及有機絕緣膜用清漆之製造 於實施例1(2)中,除了將5 g之3,3|,5,5,_四乙快基{广雙 金剛烧,設為5 g之上述實施例3⑴中獲得之4,9二乙块基 一金剛烷以外,其餘全部以與實施例丨(2)相同之方式,獲 得預聚物。所得之預聚物之數量平均分子量為36,5〇〇。 又’未反應不飽和鍵殘存率為25%。將所得之預聚物3 §, 溶解於27 g之環戊酮巾,去丨田 J f利用過濾器過濾,藉此製成有機 絕緣膜用清漆。 (3) 層間絕緣膜及半導體裝置之製造 使用上述中獲得之有機絕緣膜用清漆,進行與實施例 1(3)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (實施例4) ⑴3,3,,5,5,-四甲基_7,7、雙(苯基 129701.doc •37- 200906875 合成 於燒瓶内’使以與實施例2(1)相同之程序獲得之 3,3’,5,5|-四甲基-7,7'-二乙炔基_1,11_雙金剛烷1〇§(26.7 mmol)及溴苯12.5 g(79.6 mmol),溶解於40 ml之三乙胺及 20 ml之0比。定中,添加0.062 g(0.33 mmol)之姨化銅(II)及 0·24 g(0.91 mmol)之三苯基膦。進而,添加〇 〇58 g(〇 〇82 mmol)之二氣雙(三苯基膦)鈀(η),於乾燥氮環境下、u〇t 下反應5小時。反應後,餾去三乙胺及吡啶,添加5〇〇 ml 之2 mol/L鹽酸水溶液,藉此析出沈澱物。過濾沈澱物, 以5 00 ml水及500 ml曱醇進行清洗,使用真空乾燥機,於 60 C之環境中乾燥24小時’藉此獲得9·7 g之3,3',5,5'-四曱 基-7,7'-雙(苯基乙炔基)_ι,ι,_雙金剛烷。 外觀:白色固體 MS(FD)(m/z) : 526(M+) 元素分析:理論值(/ %) : C : 91.20 ; Η : 8·80,實測值(/ %) : C : 91.17 ; Η : 8.79 (2)3,3’,5,5,-四曱基-7,7,-雙(苯基乙炔基)-1,1,_雙金剛烷之 聚合及有機絕緣膜用清漆之製造 將5 g之上述中獲得之3,3,,5,5,-四曱基-7,7,-雙(苯基乙炔 基)-1,Γ-雙金剛烷,溶解於45 gii,%二曱氧基苯中,於乾 燥氮下、19 0 °C下反應6小時,將反應液滴入1 〇倍體積之曱 醇中’集中沈澱物進行乾燥,獲得預聚物。所得之預聚物 之數量平均分子量為32,100。又,未反應不飽和鍵殘存率 為23%。將所得之預聚物3 g,溶解於27 g之環戊酮中,利 12970I.doc -38- 200906875 用過濾器過濾,藉此製成有機絕緣膜用清漆。 (3)層間絕緣膜及半導體裝置之製造 使用上述中獲得之有機絕緣膜用清漆,進行與實施例 1(3)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (實施例5) (1)3,3,5,5,-四甲基-7,7’-雙(3 5- —7、比 « . 又乙炔基苯基)-1,1'-雙金剛 烧之合成 於燒瓶内,攪拌以與實施例2〇)相同之程序獲得之 3,3’,5,5·-四甲基 _7,7|_ 二演-U,-雙金剛烷 5〇 g(i〇32 _叫 及 1,3-二溴苯 1217 g(5I61.6 mmol),於乾燥氮下、25。〇下 一點點滴加24.8 g(93.0 mmol)之溴化鋁(ΙΠ)。將其升溫至 6〇°C,攪拌8小時後,返回至室溫,獲得反應液。於7〇〇ml 之5%鹽酸水溶液中投入反應液,加以攪拌。去除水層, 將有機層投入到2000 ml之丙酮中。過濾析出物,以1〇〇〇 ml之丙酮清洗3次,藉此獲得70 g之3,3',5,5,-四曱基-7,7,-雙(3,5-二溴苯基雙金剛烷。 、 其次,將50 g(62.9 mmol)之上述中獲得之3,3,,5,51_四甲 基-7,7'-雙(3,5-二溴苯基雙金剛烷、3.53 g(5.0 mmol) 之一亂雙(二苯基膦)Ιε、6.60 g(25.2 mmol)之三苯基膦、 4.79 g(25.2 mmol)之填化銅(II)、750 ml之三乙胺,添加至 燒瓶中’加以攪拌。將其升溫至75°C後,緩慢添加37」 g(377.7 mmol)之三曱基矽烷基乙炔。於75°C下將其搜拌7 小時後,升溫至120°C,餾去三乙胺。返回至室溫,將 1000 ml二氣曱烷添加至反應液中,攪拌20分鐘。藉由過 129701.doc -39- 200906875 濾去除析出物,於濾液中添加1000 ml之5%鹽酸水溶液進 行分液。將有機層以丨〇〇〇 ml之水清洗3次後,減壓去除有 機層之溶劑。將所得之化合物溶解於1500 ml之己烷中。 藉由過濾去除不溶物,減壓去除濾液成分中之己烷。於其 中投入1000 ml丙酮,將析出物以丙酮清洗3次,藉此獲得 43§之3,3’,5,5,-四〒基-7,7,-雙[3,5-雙(三甲基矽烷基乙炔 基)苯基]-1,1'-雙金剛烷。
進而,將39.8 g(53.5 mmol)之上述中獲得之3,3,,5,51_四 曱基-7,7’-雙[3,5·雙(三曱基矽烷基乙炔基)苯基]雙金 剛烷及1.46 g(l〇.6 mmol)2碳酸鉀,於6〇〇 ml四氫呋喃及 300 ml曱醇之混合溶劑中,於氮環境下、室溫下攪拌4小 枯。將其投入到1000…之1〇%鹽酸水溶液中,過濾析出 物將所彳于之析出物以1000 mi之水清洗,進而以1〇〇〇如 丙酉同清洗後’進行乾燥,藉此獲得21.2 g之3,3',5,5:四甲 基7,7-雙(3,5-二乙炔基苯基Η,Γ_雙金剛烷。 外觀:白色固體 MS(FD)(m/z) : 574(M+) -素刀析理娜值(/ %)c : 91 % ; Η : 8 〇7 ’實測 %)C : 91.87 ; Η : 8.00 (2 ) 3,3,5,5'-四甲基 _ 7 71 雔 ^ Ί ( ,又(3,5-二乙炔基苯基)-1,1丨-雙金剛 烧之聚合及有冑絕緣膜用清漆之製造 於實施例4(2)中,险了脸< 了將5 g之3,3',5,5,-四甲基-7,7丨-雙 (本基乙快基)_1 1丨·雔么 ,又金剛烷,設為5 g之上述實施例5(1)中 U付之3,3',5,5'-四甲基_7 7, ’ 又(3,5-二乙快基苯基)-1,1'__雙 129701.doc •40· 200906875 金剛烧以外,其餘全部以與實施例4⑺相同之方式,獲得 預聚物。所得之預聚物之數量平均分子量為46,_。又, 未反應不飽和鍵殘存率為45%。將所得之㈣物3 g,溶解 於27 g之環戊_中,利用過渡器過遽,藉此製成有機絕緣 膜用清漆。 ' (3)層間絕緣膜及半導體裝置之製造 - 使用上述中獲得之有機絕緣膜用清漆,進行與實施例 1(3)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (: (實施例6) (1) 4,9-雙(3,5-一乙炔基苯基)二金剛烧之合成 於實施例 5(1)中,除了將50 g〇〇32 mm〇1)之 3,3,,5,5,_四 甲基-7,7'_二溴_1,Γ-雙金剛烷,設為35.7 g(103.2 mmol)之 4,9-二溴二金剛烷以外,其餘全部以與實施例5(丨)相同之 方式進行,藉此獲得38 g之4,9-雙(3,5-二乙炔基苯基)二金 剛烧。 外觀:白色固體 I MS(FD)(m/z) : 436(M+) 元素分析:理論值(/ %)C : 93.54 ; Η : 6·46,實測值(/ %)C : 93.61 ; Η : 6.47 (2) 4,9-雙(3,5-二乙炔基苯基)二金剛烷之聚合及有機絕緣 膜用清漆之製造 於實施例4(2)中,除了將5 g之3,3',5,5'-四甲基_7,7,·雙 (苯基乙炔基雙金剛烷,設為5 g之上述實施例6(1)中 獲得之4,9-雙(3,5-二乙炔基苯基)二金剛烷以外,其餘全部 129701.doc •41 - 200906875 以與實施例4(2)相同之方式,獲得預聚物。所得之預聚物 之數量平均分子量為50,100。又,未反應不飽和鍵殘存率 為25%。將所得之預聚物3 g ,溶解於27 g之環戊酮中,利 用過濾器過濾,藉此製成有機絕緣膜用清漆。 (3)層間絕緣臈及半導體裝置之製造 使用上述中獲得之有機絕緣膜用清漆,進行與實施例 1 (3)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (實施例7) (1)9,9 -雙(3,5-二乙炔基苯基)_4,4,_雙二金剛烷之合成 於實施例1(1)中,除了將64.5 g(03 臭金剛烧設 為80.2 g(0.3 m〇i)之4-溴-二金剛烷,將溴設為乃以〇22 mol)以外,其餘全部以與實施例1(1)相同之方式進行,藉 此獲得70 g之產物。根據IR分析,於69〇〜S15 cm.,處發現 溴基之吸收,藉由質量分析得出之分子量為532,該結果 表示產物為9,9,-二溴-4,4,-雙(二金剛烷)。 於實施例 5(1)中,除了將50 g(l〇3.2 mmol)之 3,3,,5,5,-四 曱基-7,7’-二溴-ΐ,ι,_雙金剛烷,設為54·9 g(1〇3 2 之 上述中獲得之9,9’-二溴_4,4,-雙(二金剛烷)以外,其餘全部 以與實施例5(1)相同之方式進行,藉此獲得31 g之9,9,_雙 (3,5-二乙炔基苯基)_4,4,_雙(二金剛烷)。 外觀:白色固體 MS(FD)(m/z) : 622(M+) 元素分析:理論值(/ %广c : 92.56 ; Η : 7_44,實測值(/ %) : C : 92.12 ; Η : 7.30 129701.doc -42- 200906875 (2)9,9’-雙(3,5-二乙炔基苯基)_4,4, 有機絕緣膜用清漆之製造
雙(二金剛烷)之聚合及 二金剛烷)以 ’獲得預聚物。 所得之預聚物之數量平均分子量為67,2〇〇
漆。 (3)層間絕緣膜及半導體裝置之製造 使用上述中獲得之有機絕緣臈用清漆,進行與實施例 1(3)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (實施例8 ) (⑴一^亏’-四甲基巧^雙以-雙❻基乙炔基戌基]」,^ 雙金剛烷之合成 於實把例 4(1)中,除了將1〇 g(26,7 mmol)之 3,3,,5,5'-四 甲基-7,7-一乙快基-1,1'-雙金剛烧,設為1〇6邑(1341^爪〇1) 之合成實施例5(1)時獲得之3,3’,5,5’-四甲基-7,7'-雙(3,5-二 溴苯基)-1,1·-雙金剛烷,將12.5 g(79.6 mmol)之溴苯設為 8.1 g(79.6 mmol)之乙炔苯以外,其餘全部以與實施例4(工) 相同之方式,獲得11.6 g之3,3',5,5'-四甲基-7,7,-雙[3,5-雙 (本基乙块基)本基]-1,1’ -雙金剛院。 外觀:白色固體 I2970I.doc -43- 200906875 MS(FD)(m/z) : 878(M+) 元素分析:理論值(/ %)C : 92 89 ; H : 7·η,實測值(/ %)C : 92.95 ; H : 7.05 (2) 3,3’,5,5’_四甲基_7,7’_雙[3,5_雙(苯基乙炔基)苯基 雙金剛烷之聚合及有機絕緣胰用清漆之製造 於實施例4(2)中,除了將5 §之3,3,,5,5,_四甲基_7,7,_雙 (苯基乙炔基)-ι,ι·-雙金剛烷,設為5 §之3 3,,5,5,_四甲基_ 7,7’-雙[3,5-雙(苯基乙炔基)苯基]雙金剛烷以外,其 餘全部以與實施例4(2)相同之方式,獲得預聚物。所得之 預聚物之數量平均分子量為7〇,7〇(^又,未反應不飽和鍵 殘存率為36%。將所得之預聚物3 g ,溶解於27 g之環戊酮 中,利用過濾器過濾,藉此製成有機絕緣膜用清漆。 (3) 層間絕緣膜及半導體裝置之製造 使用上述中獲得之有機絕緣膜用清漆,進行與實施例 1(3)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (實施例9) (1)3,3"'_ 雙(甲基乙炔基)_5,7,5’,7',5',,7,,,5”,,7"’-八曱基- ι,Π,ιμ'ι”1-四聚金剛烷之合成 於燒瓶内’使55 g(68 mmol)之3,3'"-二漠- 5,7,5',7|,5",7”,5”’,7”|-八曱基-1,1’:3|,1”:3”,1”'-四聚金剛烷 及18 ml(256 mmol)之溴乙烯,溶解於240 ml二氯甲烷中, 於乾燥氮下、-15°C下滴加3.0 g(22 mmol)之氣化銘(III), 將其攪拌1小時。進而,於-15T:下滴加40 ml水後,返回至 室溫,獲得反應液。於400 ml之10%鹽酸水溶液中投入反 129701.doc -44- 200906875 應液’每次使用80 ml之二氯曱烷萃取3次,以80 mi水清洗 後,以硫酸鎮乾燥,濃縮有機層’獲得5 〇 · 2 g之3,3-雙 (溴乙基)二溴乙基-5,7,5,,7',5”,7”,5”,,7,,,-八甲基-1,1’:3',1’':3”,1”’-四聚金剛烷。 進而,將42 g(53 mmol)之上述中獲得之3,3Π,-雙(溴乙 基 八甲基-1,1,:3|,1”:3",1",-四聚金剛 烷’溶解於400 ml二甲亞砜中,於室溫下添加28 g(25〇 mmol)之第三丁氧化鉀,將其攪拌48小時。進而,於goo ml水中投入反應液,每次使用400 ml之二氣曱烷萃取3 次’以400 ml水清洗後’以硫酸鎂乾燥,濃縮有機層,獲 得 36.1 g 之 3,3"|-二乙炔基-5,7,5,,7,,5”,7",5,",7”,-八甲基-1,1':3',1":3",1",-四聚金剛烷。 使36.1 g之上述中獲得之3,3",-二乙炔基-5,<7,5’,7|,5",7",5”',7"|-八甲基-1,1’:3|,1”:3”,1”|_四聚金剛烷 及22.7 g( 160 mmol)之碘曱烷,溶解於8〇 mi三乙胺及40 ml 。比°定中’添加0.124 g(0_66 mmol)之蛾化銅(Π)及0.48 g(1.82 mm〇i)之三苯基膦。進而,添加〇 116 g(〇 164 mmol)之二氯雙(三苯基膦)鈀(π),於乾燥氮環境下、η〇^ 下反應5小時。反應後’餾去三乙胺及吡啶,添加丨〇〇〇 ml 之2 mol/L鹽酸水溶液’藉此析出沈澱物,過濾沈澱物, 以1000 ml水及1〇〇〇 ml甲醇清洗,使用真空乾燥機,於 60°C之環境中乾燥24小時,藉此獲得32.8 g之3,3",-雙(甲基 乙快基)-5,7,5|,7',5",7",5",,7”'-八曱基十^^丨^-四聚 金剛燒。 129701.doc 45- 200906875 外觀:白色固體 MS(FD)(m/z) : 727(M+) 元素分析:理論值(/邮:89」9 ,實測值(/ %)C : 89.16 ; Η : 10.76 (2) 3,3 -雙(甲基乙炔基八甲基_ ^^,”··”,广四聚金剛烷之聚合及有機絕緣臈用清漆之 製造 於實施例1 (2)中,η» & c _ _ . _ ^除了將5 g之3,3,,5,5,-四乙炔基十广 雙金剛烷’設為5 g之上述實施例9⑴中獲得之3,3”,_雙(甲 基乙快基)-5,7,5,,7,5"7,|;"11”1、《« ,),7,5 ,7”|_八曱基],四 聚金剛烧以外’其餘全部以與實施m⑺相同之方式,庐 得預聚物。所得之預聚物之數量平均分子量為13〇鄭 又’未反應不飽和鍵殘存率糸9卩。/ 硬%什手馮23 /。。將所得之預聚物3 g, 溶解於27 g之環戊酮中,利 扪用過濾益過濾,藉此製成有機 絕緣膜用清漆。 & (3) 層間絕緣膜及半導體裝置之製造 進行與實施例 使用上述中獲得之有機絕緣膜用清漆 1〇)相同之程序,藉此獲得半導體裝置。 (比較例1) 於實施例1(2)中,除了將5 3 gd·3,5,5 -四乙炔基-1,1,_雙 金剛烧,設為5 g之33,5V 田发1 S,;5,5 -四曱基 _7,7,_雙[3,5_ 炔基)苯基]-1,1,-雙金剛烷以外,其八土 .„ 、餘王〇P以與實施例1 (2) 相同之方式,獲得預聚物。所得 丁貝t物之數量平均分; 置為55〇,6〇〇。所得之預聚物不 刀千 衣戍_,無法製成有 129701.doc •46- 200906875 機絕緣膜用清漆。 (比較例2) :實施例4(2)中,除了將5 §之3,3|,5,5|_四甲基'?,·雙 (本基乙块基卜1,1'-雙金剛烧,設為5 g之3,3',5,5,-四甲義 7,7'-二乙炔基雙金剛烷以外,其餘全部以蛊二' 4⑺相曰同之方式’獲得預聚物。所得之預聚物之數量平均 分子量為1,600。將所得之預聚物3 g,溶解於巧 : . &〈壤戊 -5 ,利用過濾器過濾,藉此製成有機絕緣膜用清漆。將 该有機絕緣膜用清漆’以與實施例1(3)相同之程序實施塗 佈但因外觀不良而無法形層間絕緣膜。 、 (比較例3) 於燒瓶内,添加60 ml四氫呋喃、ι·73 g四(三笨爲膦) 叙、〇,72 g硬化銅(II)、1〇 m卜辰啶及54 7 g(12〇 之 ,,一破本。其次,添加 32.74 g( 1 50 mmol)之 4,4'-二乙 炔基二苯醚,於25。(:下反應20小時。將該反應液滴到i [ 之乙酸中,收集沈澱物進行乾燥,獲得預聚物。所得之預 ⑮物之數量平均分子量為22,_。又,未反應不飽和鍵殘 存率為28%。將所得之預聚物3 g’溶解於27 g之苯甲醚 中引用過攄器過濾,藉此製成有機絕緣膜用清漆。將該 有機絕緣膜用清漆,進行與實施例1(3)相同之程序,形成 層間絕緣膜,獲得半導體裝置。 對於實施例1〜9及比較例3中獲得之層間絕緣膜及半導體 裝置,進行以下評價。評價項目與方法一同表示。將所得 之結果示於表1。 129701.doc -47- 200906875 1.彈性率 對於上述中獲得之絕緣膜,使用Elionix公司製造之超微 小硬度計ENT-1100,於最大荷重10 mg、負荷速度i mg/sec下,進行測定。 2·相對介電常數 依據JIS-K691 1 ’以頻率100 kHz,使用惠普(HewleU_
Packard)公司製造之hP_4284A Precision LCR meter,測定 上述中獲得之絕緣膜之電容,根據下述計算式算出相對介 電常數。 相對介電常數=(電容測定值x薄膜之厚度)/(真空之介電 常數X測定面積) 3.耐熱性 耐熱性係以玻璃轉移溫度及熱分解溫度進行評價。玻璃 轉移溫度係以如下方式測定:對於所得之絕緣膜,利用動 悲黏彈性測疋裝置(Seiko化价㈣⑶匕股份有限公司制 DMS6 1 00),於氮氣為3〇〇 mL/mjn.之流速下、升溫速产 3°C/mm·、頻率為! Hz之條件下進行測定,將之峰頂 溫度設為玻璃轉移溫度。 又,熱分解溫度係以如下方式測定:對於所得之絕緣 膜,使用TG/DTA測定裝置(Seik〇 ^職咖股份有限公 司製造之TG/DTAMO),於氮氣為2〇〇 mL/min之流迷下、 升溫速度IGt/min.之條件下進行測定,將f量減少達到 5 %之溫度設為熱分解溫度。 129701.doc •48· 200906875 表1
根據表1,管尬^ " — . 、η 1〜9中之任一者相比於比較例3,彈性 率均更高’機械特性更優 文馒吳又,可知實施例1〜9中之任
一者相比於比較例3,相對介 仲s了 ;丨冤吊數均更低’介電特性更
優異。進而,可知奢始彳λ I 知只施例1〜9中之任一者相比於比較例3, 熱分解溫度均更高,耐熱性更優異。 其次,對所得之半導體裝置,評價配線延遲速度。 皆使用實施例1〜9之層間絕緣膜而獲得之半導體裝置與
八有” °亥半導體裝置相同之構成且具有Si02絕緣膜之半導 置的配線延遲程度進行比較。評價標準採用自環形振 盪态之發送頻率換算而得之信號延遲時間。比較兩者之結 本發月中獲得之半導體裝置之配線延遲少於具有8丨〇2 緣膜之半導體裝置’確認有平均約25%之速度提高。 產業上之可利用性 士根據本發明,可提供一種兼具低介電常數、高耐熱性、 『機械強度之有機絕緣材料及樹脂膜用清漆。自上述有機 、、、邑緣材料及樹脂膜用清漆獲得之樹脂膜,其耐熱性、機械 129701,d〇c -49- 200906875 特性及電氣特性優異,介電常數特別低,因此使用其之半 導體裝置可減低配線延遲。 【圖式簡單說明】 圖1係模式性表示本發明之半導體裝置之一例的剖面 圖。 【主要元件符號說明】 1 半導體基板 2 氮化矽膜 3 層間絕緣膜 4 銅配線層 5 改質處理層 6 障壁層 7 硬掩膜層 100 半導體裝置 129701.doc -50-
Claims (1)
- 200906875 十、申請專利範圍: 1. 一種有機絕緣材料,其係包含籠型結構化合物之預聚物 者,該籠型結構化合物具有含聚合性不飽和鍵之基及以 金剛烷(adamantane)結構為最小單元之籠型結構,上述 預聚物之藉由凝膠滲透層析法測定之聚苯乙烯換算之數 量平均分子量為2,0〇〇以上、5〇〇,〇〇〇以下。 2. 如請求項!之有機、絕緣材料,丨中上述以金剛烧結構為 最小單元之籠型結構係金剛烷結構、多金剛烷 (polyamantane)結構、聚(多金剛烧咖⑽叫麵以繼)) 結構或聚金剛烧(P〇lya(Janiantane)結構。 3,如請求項1或2之有機絕緣材料,其令上述預聚物具有: 上述籠型、结構化合4勿中之上述聚合性不飽和鍵相互反應 而生成之不飽和鍵,或上述聚合性不飽和鍵相互反應而 生成之不飽和鍵及未反應之上述聚合性不飽和鍵。 4. 如明求項3之有機絕緣材料,其中上述預聚物中上述未 反應之聚合性不飽和鍵之殘存率為20¾以上、80%以 下。 5. 如請求項丨之有機絕緣材料,其中上述籠型結構化合物 係以下述式(1)所表示之化合物; x—w~(ziY (1) (弋(1)中,X及γ分別表示相同或不同之1或2個以上含聚 合性不飽和鍵之基;评及2分別表示具有金剛烷或多金 1燒.、’《構之基,可相同或不同;η係〇或丄以上之整數)。 129701.doc 200906875 6.如請求们之有機絕緣材料,其中上述蘢型結構化合物 係以下述式(2)所表示之化合物;Κ·2 、R4 ’η1 (式中’ X〗&Yl分別表示J 或2個以上含聚合性不飽和鍵之 土’可相同或不同;R r分 一 ^ .. 4刀別表不虱或有機基,可相 同或不同;η1係0或1以上之整數)。 7.如請求項1之有機絕緣材料,其中上 為碳-碳三鍵。 述聚合性不飽和鍵 8·如請求項1之有機絕緣材料,其中 鍵之基之至少一者 、 不之基; 係以式(3)所表 上述含聚合性不飽和 示之基或以式(4)所表 C^c一R 5 ©© (式中,115及 之整數)。 m 分別獨立表示氫原 子或有機基;m係1 9. -種樹脂臈用清漆,其 至8中任一項之有 機絕緣材料及有_^ 3 1求項1 129701.doc 200906875 10. 一種樹脂臈,其係使 材料或如請、、 請求項1至8中任一項之有機絕緣 量線 得 11 · 一種半導 量線照射、十項之知丨脂獏用清漆,藉由加熱、活性能 ' -、加熱與活性能吾 月匕里線照射進行交聯反應而獲 m 體裝置’其具備如請求項10之樹脂 129701.doc
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007073129 | 2007-03-20 | ||
JP2007250230 | 2007-09-26 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200906875A true TW200906875A (en) | 2009-02-16 |
Family
ID=39765813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW097109338A TW200906875A (en) | 2007-03-20 | 2008-03-17 | Organic insulating material, varnish for resin film using the same, resin film and semiconductor device |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20100004379A1 (zh) |
EP (1) | EP2157107B1 (zh) |
JP (1) | JPWO2008114705A1 (zh) |
KR (1) | KR101145555B1 (zh) |
CN (1) | CN101646697B (zh) |
TW (1) | TW200906875A (zh) |
WO (1) | WO2008114705A1 (zh) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101932618A (zh) * | 2007-07-30 | 2010-12-29 | 住友电木株式会社 | 绝缘膜形成用聚合物、绝缘膜形成用组合物、绝缘膜及具有该绝缘膜的电子器件 |
JP2010077395A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-04-08 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 絶縁膜用重合体及びその重合方法、絶縁膜ならびに電子デバイス |
JP2010215819A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 膜形成用組成物、絶縁膜および半導体装置 |
JP5915452B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2016-05-11 | Jsr株式会社 | レジスト下層膜形成用組成物、レジスト下層膜及びその形成方法、並びにパターン形成方法 |
US10307562B2 (en) * | 2012-04-13 | 2019-06-04 | Fresca Medical, Inc. | Auto-feedback valve for a sleep apnea device |
US10179220B2 (en) * | 2015-08-06 | 2019-01-15 | Rebecca G. Canaday | Animal respiratory treatment masks and system |
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JP4769595B2 (ja) * | 2005-08-12 | 2011-09-07 | 富士フイルム株式会社 | 重合体、該重合体を含有する膜形成用組成物、該組成物を用いて形成した絶縁膜及び電子デバイス |
JP2007254551A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Fujifilm Corp | 膜形成用組成物 |
US7612155B2 (en) * | 2006-04-26 | 2009-11-03 | Fujifilm Corporation | Film forming composition, insulating film formed by use of the composition, and electronic device |
US8728453B2 (en) * | 2011-02-28 | 2014-05-20 | Innovotech, Llc | Combinatorial polymeric compositions for drug delivery |
-
2008
- 2008-03-07 JP JP2009505183A patent/JPWO2008114705A1/ja active Pending
- 2008-03-07 CN CN2008800083685A patent/CN101646697B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-03-07 WO PCT/JP2008/054690 patent/WO2008114705A1/ja active Application Filing
- 2008-03-07 EP EP08722087.7A patent/EP2157107B1/en not_active Not-in-force
- 2008-03-07 KR KR1020097019582A patent/KR101145555B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2008-03-17 TW TW097109338A patent/TW200906875A/zh unknown
-
2009
- 2009-09-11 US US12/557,530 patent/US20100004379A1/en not_active Abandoned
-
2011
- 2011-03-18 US US13/050,943 patent/US8524847B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2157107B1 (en) | 2013-05-08 |
JPWO2008114705A1 (ja) | 2010-07-01 |
US20110172351A1 (en) | 2011-07-14 |
EP2157107A1 (en) | 2010-02-24 |
WO2008114705A1 (ja) | 2008-09-25 |
KR20090122957A (ko) | 2009-12-01 |
US20100004379A1 (en) | 2010-01-07 |
KR101145555B1 (ko) | 2012-05-15 |
CN101646697A (zh) | 2010-02-10 |
CN101646697B (zh) | 2012-07-04 |
EP2157107A4 (en) | 2010-12-22 |
US8524847B2 (en) | 2013-09-03 |
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