TW200844194A - Semiconductor interlayer-insulating film forming composition, preparation method thereof, film forming method, and semiconductor device - Google Patents

Semiconductor interlayer-insulating film forming composition, preparation method thereof, film forming method, and semiconductor device Download PDF

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TW200844194A
TW200844194A TW97105148A TW97105148A TW200844194A TW 200844194 A TW200844194 A TW 200844194A TW 97105148 A TW97105148 A TW 97105148A TW 97105148 A TW97105148 A TW 97105148A TW 200844194 A TW200844194 A TW 200844194A
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TW
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fine particles
composition
porous film
film
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TW97105148A
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Fujio Yagihashi
Yoshitaka Hamada
Takeshi Asano
Tsutomu Ogihara
Motoaki Iwabuchi
Hideo Nakagawa
Masaru Sasago
Original Assignee
Shinetsu Chemical Co
Matsushita Electric Ind Co Ltd
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Publication date
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Description

200844194 九、發明說明： 【考务明所屬之^支彳标領域^】 發明領域 本發明有關-可提供在敎介電性質及機械強度之 5多孔膜的膜形成組成物，一形成多孔膜的方法，因此形 • 成的多孔膜，及一具有此多孔膜的半導體裝置。 、 【关支冬好】 _ 發明背景 在半導體積體電路的製造中，因為積集程度變的更 w高’致使互連體電容的增加，此為在金屬互連體間的寄 生電容，故在互連體延遲時間的增加阻止了性能提昇。此 互連體延遲時間稱為RC延遲，其與金屬互連體之電阻及 互連體間靜態電容之產物成比例。金屬互連體之電阻的 降低或互連體間電容的降低為減少此互連體延遲時間所 15必須的。互連體金屬之電阻或互連體電容的降低可預防一 % 鬲積集度半導體裝置引起的互連體延遲，故能使半導體裝 置最小化及高速操作，且可減少能量消耗。 、 為降低金屬互連體的阻抗，近來在半導體裝置結構 ^ 中鋼互連體已經取代傳統的鋁互連體。然而，單獨使用 、銅互連體在達到性能提昇上有限制，故在互連體電容的 降低為對半導體裝置的進一步性能提昇有急迫的必要性。 為了減少在互連體間的電容，一方法可減少在金屬 互連體層間形成之層間絕緣膜的介電常數。為了形成具 有介電常數為2.5或更少的材料，—般方法為在材料/中 5 200844194 引入孔洞以使其為多孔。 然而製成多孔的材料無法避免的提供具有被破壞機 械強度賴，其在半導體裝置製造上造紐重的問題。 此外，在膜之機械強度的破壞導致半導體裝置不身不足 5的強度’造成裝置可靠性的破壞。因此需要且必要開發 滿足低N電常數及高機械強度二者的低介電常數材 料0
10 15
20 概略而言，已知形成中間層絕緣膜之二方法，亦即， 化學氣相簡及塗層綠。每—料具錄點及缺點。 化學氣相沉積適於形成介電常數為26或更高的膜，同時 塗層方法的優點為形成具有介電常數不大於26的膜。在 塗層材料中’在主鏈上具有氧切者被認為是下世代絕 緣而非是有機材料’因為氧切者製成多孔狀相 對間早。傳統上在塗層方法中使用的材料不能滿足製造半 導體裝置所需的低介電質常數及機械強度。為了改良多孔 膜的機械強度，己嚐試併人細顯至膜中。例如，日本 :利：期公開第315812/1997號揭露-形成多孔膜的方 法’錢藉由❹-減合部份錢以基取代之石夕_ 乳化物糸側鏈至—二氧化矽細顆粒而獲得。此外==開第输麵戰露—方法，其係結合部 伤由烷基取代之矽_氧化物系側鏈至一 、一& 顆粒並接著進行_處理以在膜形 《氧化石夕、、、田 交聯活性。 間保持側鏈之高 【發明内容】 6 200844194 發明概要 已完成數射如開發形成具有低介t常數及高機 械強度二者之低·介電質·常數絕緣膜的材料，亦包括斤 述之技術，但尚未發現皆可滿足其等之材料。例如，= 嘴試使用沸石細顆粒中，膜的機械強度比預期來自彿石 本身之機械強度差，故在膜中併人細顆粒以增加其機械 強度之新的突破為必須的。 硕
10 就前述而言，本發目的為提供—形成 的新穎溶液，其藉由—般用於傳統半導體製造方法2 於提供-具有未控制厚度及在機械強度及介電性質皆停 的薄膜。本發明料—目的為提供具有該纽膜之二 能及高可靠度的半導體裝置。 本案發明人已進行大規模的研究以達開發形成
前述性質之多孔膜的塗層溶液之目的。在一嚐試中了 A 15成-王作假設，若在燒結前，可於—軟燒結步驟補強^
構成多孔膜骨架之石夕·氧化物系細顆粒間的鍵結，則在捧 結期間膜的㈣可被壓抑’而足_多孔性可在藉此^ 顆粒間形成的空間而維持；且因為骨架未打斷，多孔膜 可具有改良的機械強度。尋找可補強在顆粒間鍵結材 20料且做為稱為黏合劑者。 材 曰本專利早期公開第71654/1997號揭露一可提供用 =塑膠之硬塗層的具高鉛筆硬度之膜的材料。此材料特 徵在於使用—具有許多料醇基㈣氧化物系聚合 物。本案發明人認為使用此—材料可達成石夕-氧化物細顆 7 200844194 粒間鍵結的補強作用，因為藉由使用石夕燒醇在石夕-氧化物 系細顆粒表面新形成的Si_〇_Si鍵結。其藉由修飾日本專 利早期公開第71654/1997號㈣之材料的製備方法而得 之方法，並併人樹脂及細齡至—組成物，以製備一含 5有高濃度料醇之聚⑦氧雜脂。因此，已發現可如期 待形成-具有低介電常數但顯示顯著高機械強度的膜，故 完成本發明。 在本發明之i射，因此提供-多孔膜·形成組成 物’其含㈣_氧化㈣細齡及—能夠在卿成期間經 10由縮合而在細顆粒間形成矽-氧-矽鍵結的聚矽氧烷化合 物，藉此可改良一由細顆粒形成之骨架強度。 因由細顆粒形成之骨架結構，一含有矽_氧化物系細 顆粒之膜具有機械強度。在一能在細顆粒間形成石夕-氧 化物-矽鍵結及經加熱以固定其位置之材料中加入細顆 15粒可強化由細顆粒形成的骨架。因此，可得具有高機 械強度之膜。 詳言之’在酸催化劑存在下，聚石夕氧烧化合物可藉 由水解及縮洽—由下化學式⑴表示之含有至少一四官 能烷氧基矽烷化合物之可水解矽烷化合物而獲得： 20 Si(OR】)4 (1) (其中，R1可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈或支 鏈心^烷基)及/或至少一由下化學式（2)表示之烷氧基矽烷 化合物： (2) R2nSi(OR3)4.tt 200844194 (其中，當具有多個R2時，R2可為相同或不同且各自 獨立代表一直鏈或支鏈Cl_s烷基，當具有多個R3時，R3 可為相同或不同且各自獨立代表一可具有取代基之直鏈 或支鏈Ci_4烷基，及ngi至3的整數），同時水解在反應期 5間產生的矽烷醇基以控制縮合反應及壓抑膠化作用。 • 由别述方法獲付之聚石夕氧烧化合物可具有相對強的 、 骨架及高濃度的矽烷醇基。矽烷醇基可具有一高縮合反 _ 應性。且’石夕烧醇基傾向造成與珍_氧化物系細顆粒的交 互作用及纟個合反應。據此，一交聯反應可在一即使相對 10低溫的階段進行，但仍保留一溶劑。此交聯反應可提供 膜結構的補強作用。矽烧醇基在另一方面可由水解作用 女定。水解之水分子傾向造成與矽-氧化物系細顆粒的交 互作用，且當水分子因加熱而消失時，此交互作用可 有效的促進縮合及交聯反應。藉由此些反應，矽_氧化 15物系細顆粒可在塗覆步驟及膜形成步驟期間緊密的交 % 聯’且可獲得一保有孔洞的高強度膜。 為在酸催化劑存在下進行水解及縮合反應，同時水 解在水解反應期間產生的秒烧醇基以控制縮合反應及 以壓抑膠化作用，一可能的方法為包括一將可水解石夕炫 2〇化合物加至一水解反應混合物的步驟，該反應混合物恒 常含有超過已注入之可水解基的莫耳當量之水量。藉由 逐滴加入可水解矽烷化合物至水解反應混合物中，其中 该反應持續且包含的水量超過可水解基的莫耳當量，其 可獲得具有高濃度矽烷醇基之聚矽氧烷化合物及因可用 9 200844194 於本發明之組成物，同時水解由水解作用產生的石夕 基及壓抑膠化作用。 較佳於-可水解魏混合㈣料耳反應性石夕-氧 鍵結為含有為5莫耳或更多水量的反應混合物中水解及 5縮合聚魏燒化合物。可獲得具有—高濃度⑪燒醇基之 聚矽氧烧化合物而未此條件下造成膠化作用。 此聚矽氧烷化合物較佳地由以下式（(^至4，^至^) 表不單兀組合並滿足下列關係式，假設在聚矽氧烷化合 物中每一單70的莫耳比例分別為ql、q2、^、唞、^、q 10 及 t3 : (ql+q2+tiy(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) s 〇·2 及(q3+t2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) > 〇·4 當單元的莫耳滿足前述之範圍時，可獲得高交聯活 性。在聚石夕氧烧化合物中的單元莫耳比例可由丽關 15 量而測定。 [化學式2] HO、 OH、肪 Q1
Si 八Η ΤΙ /ο SOL,沿丨净 Q2 Q3 Q4 Κ:Ό] Τ2 silo、-s/ois Τ3 10 200844194 包含沸石種晶之沸石細顆粒可認定為矽·氧化物系 細顆粒之一型式。因為沸石細顆粒具有一規則重複之氧 及矽結構，其因結晶性而可提供高強度◊一具有高強度 的膜可由強化在細顆粒間的鍵結而獲得。 5 至於沸石細顆粒，可使用藉由以可水解矽烷為一可交 聯側鏈以改質沸石而獲得者。此可交聯側鏈可以聚矽氧 烧化合物改良反應性。 包含在本發明之組成物中的石夕_氧化物系細顆粒可包 括二氧化矽細顆粒。二氧化矽細顆粒在硬度上較沸石細顆 10粒差，但其可有利地以工業製程製備且依一簡單的有機 基導入设计而具有較佳物理性質。 一氧化石夕細顆粒較佳可在驗性催化劑存在下經由水解 及縮合一由下化學式（3)表示之含有至少四官能基之烧 氧基石夕烧化合物之可水解石夕烧化合物而獲得： 15 Si(OR4)4 (3) (其中’四R可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈 或支鏈Cm烧基)及至少一由下化學式(4)表示之燒氧基石夕 烧化合物： R5mSi(ORVm (4) 2〇 (其中，當具有多個R6時，R6可為相同或不同且各自 獨立代表一直鏈或支鏈Ci_4烷基，當具有多個R5時，R5 可為相同或不同且各自獨立代表一可具有取代基之直 鏈或支鏈Cl』烧基，及m為1至3的整數）。如金屬及鹵素 不純物的污染可藉由使用前述之原材料為主要石夕源而 11 200844194 壓抑。 在珂述之合成用於本發明組成物及可由前述之水 解及縮合反應取得之二氧化矽細顆粒之方法，較佳為使 用選自由下化學式（5)表示之鹼金屬氫氧化物及四級銨 5氫氧化物組成之組群中選出的親水鹼性催化劑之混合 物做為用於水解及縮合反應之鹼性催化劑； (rV^oh· (5) (其中，R7可為相同或不同且各自獨立代表一碳、氫 及氧組成的有機基且陽離子部份[(R7)4N+]滿足下列關係 10 式(6): (N+0)/(N+0+C) > 1/5 (6) 其中，Ν、Ο及C分別為包含於陽離子部份的氮、氧 及碳原子數），及 至少一不滿足前述之關係式（6)選自四級銨氫氧化 15物之疏水鹼性催化劑。在前述條件下獲得之二氧化矽細 顆粒具有特別高的強度，故將其與聚矽氧烷化合物組合 使用可產出一能提供特別良好機械強度之多孔膜_形成 組成物。 在前述之合成用於本發明組成物及可由前述之水 20解及縮合反應取得之二氧化矽細顆粒之方法中，較佳 為使用由下化學式⑺表示之石夕倍半氧院籠狀化合物鹽 做為至少部份之驗催化劑： (崎心㈣ ⑺ (八中X表示NR ’ rs可為相同或不同且各自獨立 12 200844194 代表直鏈或支鏈Cu烧基及p6至24之整數）其與聚矽氧 烷化合物製備以產出一能提供特別良好機械強度之多 孔膜•形成組成物。 在本發明之態樣中，亦提供藉由施用一多孔膜形成 、、且成物於一基材上並接著燒結而獲得之多孔膜。在本發 • 明之再-態樣中，亦提供形成含矽多孔膜的方法，其包 • 含施用前述之組成物於一基材上以形成一膜，並接著燒 結该薄膜。 在本發明之仍一態樣中，亦提供多孔膜-形成組成 物之使用，-半導體裝置包含一多孔含石夕膜為低·介電 質-常數絕緣膜，其係藉由施用組成物於一基材並接著 燒結該塗層而獲得之多孔含頻。在本發明之又一態樣 中’亦提供製造半導體裝置的方法，其包含將組成物施 用至-具有金屬互連體的基材上以形成一薄膜並接著 15 燒結該薄膜。 • 纟本發明之仍一態樣中’亦提供-製備多孔膜-形 成組成物的方法，其包含步驟：藉由水解及縮合一由下 料式⑴表示之含有至少1官能絲基魏化合物 之可水解矽烷化合物以獲得—聚矽氧烷化合物： 20 SiCOR^ ⑴ 其中’R1可為相同或不同且各自獨立代表一直鍵或支 鍵C"烧基)及/或至少-由下化學式⑺表示之院氧基矽 貌化合物： R2nSi(OR3)4. (2) 13 200844194 (其中，當具有多個R2時，R2可為相同或不同且各自 獨、代表直鏈或支鏈Cl8燒基，當具有多個r3時，r3 可為相同或不同且各自獨立代表一可具有取代基之直鏈 或支鍵G·4燒基’及11為1至3的整數），同時水解在反應期 5間產生的石夕烧醇以控制縮合反應及壓抑膠化作用； 以有機溶劑萃取聚矽氧烷化合物；及接著 此口石夕_氧化物系細顆粒與結果聚矽氧烷化合物。 *使用本發明之多孔膜·形成組成物可使形成的多孔 膜在電性質及機械強度二者皆優良。再者，本發明 1〇之夕孔版在介電性質及機械強度皆優良，故可使用該多 孔膜衣造具有高可靠度的半導體裝置。 圖式簡單說明 i 第1圖為說明本發明半導體裝置之—實例的橫切面圖； 第2圖為分別經由二不同且同時壓抑膠化作用之製 私所獲知之聚;5夕氧烧化合物的29si_NMR圖譜； 第3圖為藉由改變沸石細顆粒之表面改質作用時間 而控制之介電常數及機械強度的關係圖；及 士弟4圖為藉由改變二氧化矽細顆粒之表面改質作用 時間而控制之介電常數及機械強度的關係圖。 20 【實施方式】 較佳實施例之詳細說明 本發明於後文更詳盡的描述。 本發明之多孔膜-形成組成物基於一獲得一的模式 低介電常數而形成，其藉由在—中結合心氧化物系細 14 200844194 顆粒做為一主要材料以形成一結構部份，將細顆粒與聚 矽氧私化合物彼此結合以強化骨架強度，及由細顆粒間 的空間形成孔洞。
在此模型中重要的因素為細顆粒本身為對抗外 5力，且結合的細顆粒構成在燒結的早期階段之足夠鍵 結，藉此壓抑在多孔性的降低，此係歸因於細顆粒的重 組及形成一強鍵結。即使在燒結後施用一外力亦不能 改變細顆粒的位置。 10 15
20 社一由、、、田顆粒空間形成孔洞之多孔膜模式中平乂丨土 使用推測可具有高機械強度之矽-氧化物系細顆粒以藉 此提高機械強度。此細顆粒的範例包括具有結晶原子排 列之沸石細顆粒及使用能易於升高Si_〇_Si鍵結密度之 鹼性催化劑合成的二氧化矽細顆粒。詳言之，若膜的機 械強度僅來自細顆粒的強度，可預期沸石細顆粒的使用 可大量增加膜之機械強度，但實際上的增加不如預期的 高。此係因為雖然細顆粒具有足夠的強度，一外力的應 用改變細獅的位置，因*膜本身的強度未變成如此 高。在本發明中，為了壓抑此些細顆粒移動的目的，在 顆粒間形成足㈣氧♦氧鍵結且獅的位置藉由在膜 以塗覆方法形成後加熱以在一早期階段固定，故壓抑在 燒結期間多孔性的降低且可獲得一具有改良機械^度 之膜。為了在早期階段強力固定細顆粒位置，一與石^ 氧化物系細顆粒形成鍵結的材料必須包含旦―、一 、 里的具有 高反應活性之石規醇基。材料本身具有—特定程度的強产 15 200844194 以壓抑在燒結期間多孔性的降低。至於此一材料，較佳 為在特疋條件下於酸催化劑存在下合成的聚石夕氧烧化 合物，其將於後文描述。 在曰本專利早期公開第2001-164186中提出一含有在 5酸催化齡在下經二氧切材料轉及縮合反應獲得之 ?%石夕氧料料的喊物，該二氧切材料在驗催化劑存在 下經水解及縮合反應而獲得。—揭露該文獻的技術不包 括膜的強度由難製成的㈣提供之觀念 ，且其忽略在 顆粒間形成鍵結的重要性。雖然揭露使用酸催化劑的方 去/、中揭路的材料為藉由在水解及縮合反應時用於預 防膠化作用的傳統方法獲得，此不同於用於在本發明中 且將於後文詳述的聚矽氧烷化合物。 包各於本發明之多孔膜_形成組成物的聚矽氧烷化 合物之特徵在於具有一高濃度矽烷醇基且以下列方法 I5合成。做為一起始材料的矽化合物為一由下化學式⑴ 表示之含有至少一四官能烷氧基矽烷化合物之可水解 矽烷化合物及/或至少一由下化學式（2)表示之烷氧基矽 烷化合物，或可水解矽烷化合物之混合物。、 S_4 ⑴ R2nSi(OR\n (2) 20 (其中，當具有多個R1時，R1可為相同或不同且各自 獨立代表一直鏈或支鏈。·4烷基，當具有多個R2時，R2 可為相同或不同且各自獨立代表-可具有取代基之直鏈 或支鏈C“8烧基，f具有多她3時，r3可為相同或不同且 16 200844194 :==):可具有取代基之直鏈或支鏈― 之化合物的比例基於在酸催化劑存在下進行 =及縮合反應的可轉魏化合物之總料數， 原子較佳為25莫私歧高料切刚料％，更佳為 30莫耳％歧高衫大㈣料％。式⑺之化合物㈣ 舰於可水解魏化合物之總莫耳數，依梦原子較佳為〇
莫耳％或更高㈣大於7G莫耳％，更佳為5莫耳％或更高 但不大於60莫耳％。 石夕烧化合物(2)之R2的較佳範本包括烧基如甲基、乙 基、η-丙基、異丙基、n_丁基、異丁基、第二_丁基、^ 丁基、η-戊基、2-乙基丁基、3_乙基丁基、2,2_二乙基丙 基、環戊基、η-己基及環己基；烯基如乙烯基及烯丙基； 炔基如乙块基；芳基如苯基及曱苯基；芳烧基如苯甲基 15及苯乙基；及其他未取代之單價烴基。其等皆可具有一 取代基如氣。在此些中’尤以甲基、乙基、丙基、異 丙基、乙烯基及苯基為佳。 對於R1及R3，其提供一具有低於水沸點之沸點的醇 為較佳，其為水解作用後出現的副產物。範例包括甲 20 基、乙基、η-丙基及異丙基。 可使用於水解及縮合反應此可水解矽烷化合物除了 式（1)及(2)的矽烷外可包含另一矽烷。此矽烷的範例包括 二甲基二曱氧基矽烷及二甲基二乙氧基矽烷、六甲氧基 二矽烷、亞甲基雙三甲氧基矽烷、亞曱基雙三乙氧基矽 17 200844194 烧、1，3-丙烯基雙三曱氧美々、ρ 虱基夕烷、1，4-(丁烯）雙三曱氧基 石夕烧及认亞苯基雙三甲氧基残。其可加人做為一辅 助組份。—，其是可調整至較佳為聰或更少。
10 藉由在酸催化劑存在下可水解錢化合物的水解 及縮合反應以獲得㈣魏化合物的方法，依反應控制 系統可區分下列二方法。在酸催化趣在下可水解魏 化合物的水解及縮合反應，因為在可水解魏化合物於 酸催化劑存在下的水解及縮合反應，水解速度高於縮合 作用速度’故當使用—三價或四價的可水解⑦烧化合物 為原材料日守’反應混合物中的活性石夕貌醇基的濃度變得 太高而無任何反應控制，且形成大量具有反應活性位置 的活{生中間物，其可能引起膠化作用。對於防止膠化作用 的方法，可使用控制矽烷醇基產生的方法或直接控制因 水解產生之矽烧醇基膠化作用反應的方法。此二種控制 15方法在加入可水解石夕烧化合物的方式及加入用於水解
作用的水量不同。 在此二方法中，控制石夕烧醇基產生的方法如描述於 曰本專利早期公開第200Μ64186號中者較典型。在於 酸催化劑存在下為一般反應狀況的縮合反應中，水逐 20滴加入至含可水解矽烷化合物的反應混合物。此可提供 由水解作用產生的矽烷醇基有足夠的時間被縮合反應 消耗’控制矽烷醇基濃度的上升並藉此預防膠化作 用。此外’膠化作用可藉由使用大量具有相對低極性 之有機溶劑且同時減少水的總量而預防，藉此可避免水 18 200844194 及可水解矽烷化合物間的接觸且縮合矽烷醇基，同時保留 烷氧基而未造成矽烷醇基濃度斷裂的增加。 在未使用有機溶劑之特定例子中，必須調整水量多 母吴耳可水解魏化合物之可水解基為不超過1莫耳。即
10 15
20 使在使用有機溶劑的典型例子中，水量通常相似的調 整丄故可水解残化合物之可水解基的不超過丨莫耳。除 了貫際使狀外’水量的上限最多為在專利文獻中提 出+之轉所需要水量之3倍或5倍，其具有—大限度。 右水量如前述在實際使用為每1莫耳可水解基為超過i 莫耳’則有膠倾用的顺。#如純 =備實施财加人㈣水解所有可轉基所需要水量 勺-倍量時’―㈣氧魏合物由於膠化作用而不能由 〜了σ物中分離出。在一將於後文描述之製備實施例 示聚石峨化合物之、職結構分析，其中聚 二:化合物藉由前述之石夕烷醇基-產生控制方法合 战結構分析說明因此漭 明顯保㈣^ 魏化合物之特徵在於 氧構成66兀年1 t結果亦顯示以三或四石夕原子藉由 合物本身早π Λ例為4目對低，其與聚魏烧化 的單度的改:為緊密相關(由表示 示—由三水解魏衍生之單元，丁表 結至另：石夕“1生之單元’及-數值為經由氧連 具=數)。特別是單娜的比例為低，其 -特後^性結構的高能力且因此改良機械強度。另 為相似地，料子經氧連接至原子的比 19 200844194 例為馬，其為一減少機械強度的因素。此係因為當 Si-0-Si鍵結形成在方法中為被要求的，矽烷醇基的活性 可能超過控制且膠化作用可能產生。 在另一方面，直接控制膠化反應的方法為揭露於日 5 本專利早期公開第9-71654號。不同於前述之方法，其 特徵在於使用大量過量的水。活性石夕烧醇基以大量過 量的水而水解，藉此控制膠化反應。不使用大量過量會 干擾水解水作用的有機溶劑且更佳地，使用大量過量的 水來水解而未使用有機溶劑。在一般的反應操作，可水 10 解矽烷化合物注入水解的反應混合物中，以致反應混合 物恒常含有超過已注入之可水解基的莫耳當量之水 量。更一般為預先即置入大量過量的水及酸催化劑於反應 槽中’並逐滴加入可水解碎烧化合物。此一設計可使由 水解產生的矽烷醇基之水合作用的最適化。 15 雖然在反應混合物中產生大量過量的矽烷醇基， 由於大量的水存在及因水合用作控制矽烷醇基的活性的 結果，故總可進行足夠的水合作用，預防膠化作用。由 此方法合成之t砍氣纟完衍生物的結構分析貫施例為顯 示於製備實施例中。由此方法獲得的聚矽氧烷衍生物 20 之特徵在於前述之有效改良機械強度的單元Q4、Q3及 T3之比例為高而減少強度的因素Q2及T2比例為低。由 此方法合成之衍生物的另一特徵為儘管高縮合度，具有 矽烷醇基的單元沒有損失，同時具有低鍵結形成活性的 烷氧基在燒結期間幾乎全部消失。再者，在此方法中， 20 200844194 即使使用含有超過90%量且幾乎引起膠化作用之三價及四 價可水解魏化合物之起始物f，此料尬衍生物可 具有超過2_或更高的分子量而未引起膠化作用。此 -物理性質亦有利於固定石夕氧化物系細顆粒之位置。 5 日本專利早期公開第9 ·71654號揭露當分別由前述 - 〔方法形成t因為在結構不同而物理性質不同的膜 • 時’―制後打法合叙聚魏蛛生物可提供高硬 度其巾魏醇雜由水合作㈣止以預防膠化作 看用。使用由傳統矽烷醇基-產生的控制方法而獲得之聚 10石夕氧烧衍生物難以改良機械強度並同時維持標準的介電 常數。在另一方面，此由後者矽烷醇基_水合作用之方法 獲得的聚石夕氧烧衍生物確定具有一明顯改良機械強度的 功能並同時維持一標準的介電常數。 在箣述之方法中，用於單體水解的水量在相同時間 15必須足以水解在反應系統中生的石夕烧醇基。當在反應期 g 間化合物為逐滴加入時，在反應混合物中存在的水量必 須一定超過可水解矽烷化合物之可水解基的莫耳當 量。通常預先加入用於水解之水於反應槽中為便利地。至 於水量的測量，逐滴加入的水較佳為每莫耳於所有可水 - 20 解石夕烧化合物上取代的可水解基的3莫耳或更多，較佳 地為5莫耳或更多。膠化作用通常可藉由加入大於5莫 耳的水而完全防止。詳言之，假設每莫耳包含於單體 中的可水解基之較佳水量下限如前述為5莫耳及上限為 如後文述之100莫耳，當由化學式（1)的四價可水解矽烷 21 200844194 化合物及三價化合物製備之聚矽氧烧化合物具有下列 關係： ---八 Y 丁 J A 玉；二八二 入 V 卞X 1 ； (其中Q代表化學式（1)化合物的莫耳數，T代表化學 5式(2)化合物的莫耳數，及X表示水的莫耳數）。藉由在 酸催化劑存在下同時使用此大量的水進行水解及縮合 反應，具有南矽烧醇含量的聚石夕氧烧化合物可在未引起 膠化作用下獲得。加入的水量超過1〇〇莫耳可能為不 經濟的，因為其僅增加用於反應的設備，雖然其係依 ίο照量而定，且增加排水處理的成本。 ❿ 作為酸催_，任何已知者基本上可藉由適當調整 反應條件而使用。較佳使用—選自在有機酸中視為強 酸的有機石黃酸及視為更強酸性的無機酸之催化劑以使 得水解及縮合反應可完全進行。錢_例包括鹽酸、 15硫酸、硝酸及過氯酸，同時有機石黃酸的範例包括甲燒石备 酸、曱苯續酸及三氟甲科酸。使用做為催化劑的強暖 為每莫耳含石夕單體之10-6莫耳至1莫耳，較佳為心耳至 0.5莫耳，更佳為10·4莫耳至〇,3莫耳。 至 20 I更加入-二财機如在反助間提升 烷化合物的安定性。此—士 η ^^ .酸 丙二酸 此有機酸的範例包括草酸、& 二酸、曱基丙二酸、乙其不—△ 丙 土内二酸、丙基丙二酸、 、二曱基丙-醅、 基 巧—1、二乙基丙二酸、琥珀酸、 基玻珀酸、戊二酸、己 ^ 甲 一奴、衣康酸、順丁烯二 富馬酸及檸康酸。在此些中以草酸及順丁烯二酸為最 22 200844194 佳。有機酸但不是有機磺酸的使用量為每莫耳含矽單體 之1〇_6莫耳至10莫耳，較佳為10_5莫耳至5莫耳，更佳為10_4 莫耳至1莫耳。 水解及縮合反應藉由溶解催化劑於水中並接著加 5 入單體至此結果溶液中而開始。在此時，一有機溶劑 可加至催化劑之水溶液中或單體可先以有機溶劑稀 釋。反應溫度為0至100°C，較佳地為10至80°c。在逐 滴加入單體時保持溫度在10至50°C的範圍並在20至80 它範圍間熟成反應混合物時亦為較佳。 10 有機溶劑的較佳範例包括曱醇、乙醇、1-丙醇、2- 丙醇、1-丁醇、2-丁醇、2-曱基小丙醇、丙酮、氫甲烷、 四氫呋喃、曱苯、己烷、乙基乙酸酯、環己酮、甲基-2-n-戊基酮、丙二醇單甲基醚、乙二醇單甲基醚、丙二醇單 乙基醚、乙二醇單乙基醚、丙二醇二曱基醚、二乙二醇 15 二甲基醚、丙二醇單曱基醚乙酸酯、丙二醇單乙基醚乙 酸酯、乙基丙酮酸、丁基乙酸酯、甲基3-甲氧基丙酸酯、 乙基3-乙氧基丙酸酯、第三-丁基乙酸酯、第三-丁基丙 酸酯、丙二醇單-第三-丁基醚乙酸酯、及γ-丁内酯、及其 混合物。 20 在此些溶劑中，較佳為水可溶者。範例包括醇如 曱醇、乙醇、1-丙醇及2-丙醇；多元醇如乙二醇及丙二 醇；多元醇縮合物衍生物如丙二醇單曱基醚、乙二醇單 甲基醚、丙二醇單乙基醚、乙二醇單乙基醚、丙二醇單 丙基醚、及乙二醇單丙基醚；丙酮；氫曱烷及四氫呋喃。 23 200844194 加入50質量％或更大的有機溶劑阻礙水解及縮合 反應，故其量必須少於50質量％。每莫耳單體，較佳加 入0至l，000ml之有機溶劑。使用大量的有機溶劑為不經 濟的因為其需要不必要的大反應器。有機溶劑的量較佳 5為基於水的10質量％或更少。最佳是在無有機溶劑下進 行反應。 右1¾要水解及縮合反應為接著催化劑的中和反
應。為了平順進行接下來進一步的萃取作用，在水解 及細合反應期間產生的醇較佳在減壓下移除以獲得反 10應混合物的水溶液。中和作用所需的鹼性物質之量較佳 為無機酸或有機磺酸的丨至2當量。至於鹼性物質，可使 用任何可在水中為鹼性的物質。反應混合物的加熱溫度 依除去的醇種類而變化，但較佳地為睡励t，更佳為在 10至90C間’尤以在故啊間為宜。真空的程度依除去 15 $醇種類、排除裝置、冷凝裝置或加熱溫度而變化，但 疋車乂佳地為不大於大氣壓力，更佳為8〇咖或更少的絕 對壓力，尤㈣kPa或更少的_壓力為佳。難以知道 被移除醇的量，但較佳約至少8()質量％在反應期間產生 的醇被移除。 20 為從水溶液巾移除用於切及縮合反躺催化劑， 聚石夕氧烧化合物以-有機溶劑萃取。至时機溶劑，較 佳為可將聚魏燒化合物溶解於其内並與水將混合物 分為二層。範例包括甲醇、乙醇、卜丙醇、2_丙醇、卜 丁醇、2_丁醇、2_甲基小丙醇、丙綱、四氯咬喃、甲苯、 24 200844194 5 • 己烷、乙基乙酸酯、環己酮、曱基-2-n-戊基酮、丙二 醇單甲基醚、乙二醇單甲基醚、丙二醇單乙基醚、乙二 醇單乙基醚、丙二醇單丙基醚、乙二醇單丙基醚、丙二醇 二曱基醚、二乙二醇二曱基醚、丙二醇單曱基醚乙酸 酯、丙二醇單乙基醚乙酸酯、乙基丙酮酸、丁基乙酸酯、 曱基3 -甲氧基丙酸酯、乙基3_乙氧基丙酸醋、第三-丁基 乙酸酯、第三-丁基丙酸酯、丙二醇單-第三-丁基醚乙酸 酯、γ_丁内酯、甲基異丁基酮及環戊基曱基醚、及其混 合物。 10 水可溶有機溶劑及水難溶有機溶劑的混合物為較 佳。組合的較佳範例包括，但不限制為甲醇+乙基乙酸 醋、乙醇+乙基乙酸酯、1-丙醇+乙基乙酸酯、2-丙醇+乙基 乙酸酯、丙二醇單曱基醚+乙基乙酸酯、乙二醇單曱基 醚+乙基乙酸酯、丙二醇單乙基醚+乙基乙酸酯、乙二醇 15 單乙基醚+乙基乙酸酯、丙二醇單丙基醚+乙基乙酸酯、 • 乙二醇單丙基醚+乙基乙酸酯、曱醇+曱基異丁基酮、乙 醇+甲基異丁基酮、1-丙醇+曱基異丁基酮、2-丙醇+曱基 異丁基酮、丙二醇單曱基醚+曱基異丁基酮、乙二醇單 甲基醚+甲基異丁基酮、丙二醇單乙基醚+曱基異丁基 - 20 酮、乙二醇單乙基醚+曱基異丁基酮、丙二醇單丙基醚 +甲基異丁基酮、乙二醇單丙基醚+曱基異丁基酮、曱醇 +環戊基曱基醚、乙醇+環戊基曱基醚、i-丙醇+環戊基 甲基醚、2-丙醇+環戊基甲基醚、丙二醇單曱基醚+環戊 基甲基醚、乙二醇單曱基醚+環戊基甲基醚、丙二醇單 25 200844194 乙基醚+環戊基甲基醚、乙二醇單乙基醚+環戊基曱基 醚、丙二醇單丙基醚+環戊基甲基醚、乙二醇單丙基醚+ 環戊基甲基醚、甲醇+丙二醇曱基醚乙酸酯、乙醇+丙二 醇甲基醚乙酸酯、1-丙醇+丙二醇甲基醚乙酸酯、2-丙醇+ 5 丙二醇甲基醚乙酸酯、丙二醇單曱基醚+丙二醇曱基醚 乙酸酯、乙二醇單曱基醚+丙二醇曱基醚乙酸酯、丙 二醇單乙基醚+丙二醇曱基醚乙酸酯、乙二醇單乙基 醚+丙二醇曱基醚乙酸酯、丙二醇單丙基醚+丙二醇曱 基醚乙酸酯、及乙二醇單丙基醚+丙二醇曱基醚乙酸 10 酯。 水可溶有機溶劑及水難溶有機溶劑的混合比例依 需要而決定，但水可溶有機溶劑的加入量為100質量份 水難溶有機溶劑的〇·1至1000質量份，較佳為1至500質量 份，更佳為2至100質量份。 15 在除去用於水解及縮合反應的催化劑後獲得之有 機層於減壓下部份蒸餾溶劑及以再稀釋的溶劑取代作 用後，混入多孔膜形成組成物。 由於在水解反應或濃縮作用的條件下的變動，被 認為是微膠的不預期期不純物有時混入反應混合物 20 中。此微膠可經由水在混合聚石夕氧烧化合物入組成物 前沖洗去除。當以水沖洗不能有效去除膠時，此問題 可藉由以酸性水再接著以水沖洗聚矽氧烷化合物而 克服。 用於上述用途的酸性水較佳地包含一二價有機 26 200844194 酉欠4寸別疋草酸或順丁稀二酸。包含在酸性水中的酸濃 度為100 ppm至25質量％，較佳為200 ppnx至15質量％， 更佳為500 ppm至5質量％。酸性水的量為每l由上述步 驟獲得之聚矽氧烷化合物溶液的〇〇1至1〇〇1^，較佳地 為0.05至50L，更佳為(^至几。有機層可以傳統方式沖 洗。二者置入相同的溶器中，攪拌，及靜置以混合物 中分離水層。此沖洗可進行至少一次。沖洗1〇次或更 夕並不此造成對應的的效果，故沖洗較佳進行一次至 約五次。
用於洗條的酸接著經由中性水沖洗而去除。對於 此沖洗，僅需要使用稱為去離子水或超純水的水。使 用中性水的量為每升以酸性水沖洗之聚矽氧烧化合物 溶液之0·01至100L，較佳由〇 〇5至50L，更佳由〇]至 5L。此沖洗以上述之方法進行，更詳言之，經由將其 注入相同容器中攪拌此結果混合物及並將靜置以由混 合物分離水層。此沖洗可進行至少一次。沖洗1〇次或 更多並不能造成對應的的效果，故沖洗較佳進行一次 至約五次。 在已結束沖洗之聚矽氧烷化合物溶液加入一將於 20後文描述之溶劑以製備塗覆組成物。經由在減壓下進行 溶劑交換，可獲得一加至多孔膜形成組成物的母液體。 可在加入將於後文描述之氧化矽細顆粒後，進行溶劑交 換。此溶劑父換在依被移除之萃取溶劑的種類而變化之 溫度下進行，但是較佳為〇至100^：，更佳為1〇至=它， 27 200844194 、、至8GC為取佳。真空的程度依被移除之萃取溶劑 勺種頦排氣褒置、冷凝裝置及加熱温度而變化，但曰 較佳地為不大於大氣壓力，更佳為齡&或更少的絕= 力尤以5〇kPa或更少的絕對壓力為最佳。 5
10 當交換溶劑時，奈米膠體由於聚魏燒化合物安定 敲。此奈轉_產生依最終_及聚秒 δ物間的親合力而定。可加人—有機酸以預防其之 產生。至於有機酸’二價者如草酸及順H，及單
價叛酸如曱酸、乙酿Β I A i I > 及丙酸為較佳。有機酸的量為 基於〉谷劑交換前在溶液中聚合物U至25質量％，較 t為/至15θ質量％，更佳為G至5質量％。當加入有機 ㈣，其讀佳為0.5質量％或更多。若需要可在溶 劑交換前加人酸至溶液中，並接著可進行 操作。 15 &上所述，在上述方法中獲得的聚錢貌化合物在i
分子中可具有比使用水解及縮合反應之傳統方法獲得者 為較高量的石夕烧醇基。 詳言之，聚矽氧烷化合物由下列化學式代表的單 元(Q1至Q4，TI至T3)組成： 20 28 200844194 [化學式3]
Ho si Η H o:'OH si
R i s
S Η OWO 1 S 1 、 4i SIs 3HH 0.1.0 si V si Q2 Ό
R si Η T2 H o 卜 S 丨 o\^si/ol5 0 1 •1 s
3 Q silo、-s/o—s* 0 1 i s T3 si_o-vs/o 丨sip,° slsi Q4 (其中，Q表示一由四價可水解矽烷衍生之單元，T表示 一由三價可水解矽烷衍生之單元，及在Τ1至Τ3中的R說明 5 由Si-R表示之鍵為一在石夕及碳取代基間的鍵）。經由前述方 法，假設以29Si-NMR測定之每一單元（Q1對Q4，T1對T3) 的莫弄比例分別為ql、q2、q3、q4、tl、t2及t3，滿足列關 係的聚矽氧烷化合物為可取得： .(ql+q2+tl)/(ql+q2+q3+q4+tl.t2+t3)S〇.2 及 1〇 (q3-ft2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) > 0.4. 使用滿足上述範圍之聚石夕氧燒化合物可使本發明 之多孔膜-形成組成物更改良。 本發明之多孔膜-形成組成物之另一主要組份，石夕_氧 化物系細顆粒將於後文描述。 29 200844194 在本發明之多孔膜_形成組成物中，整個膜的機械強 度可經由在利用具有高濃度之矽烷醇基的聚矽氧烷化 合物的膜形成期間，加強結合参氧化物系細顆板而改 5良，其為一維持藉由塗覆方法獲得薄膜之機械強度的重 5要因素。亦可使用任何已用於傳統多孔膜-形成組成物 之氧化物系細顆粒。傳統使用之矽-氧化物系細顆粒 的範例包括預期呈現高機械強度但以一繁複方法製備 之沸石細顆粒及可簡易製得之二氧化矽細顆粒。衣 1〇 ^有關可用於做為本發明之多孔膜-形成組成物之矽_ 10氧化物系顆粒的滞石細顆粒，施用沸石細顆粒至多孔膜 形成組成物的許多方法為已知(例如，日本專利早期公 開第2〇〇4_161535及2005-216895)且其等任何之一皆可 使用。/弗石”一詞意指一具有長距離規性配置之矽及氧 1原子的材料，但本文中此詞為指具有如似沸石晶體結構 規則性配置之石夕A氧原子及包含具有粒子大小約數随的彿 石種晶的材料。 在/弗石晶體結構中，具有孔洞大小為〇4S〇 8nm的 L洞此—結構提供微孔且因為其晶體結構，附 々提么、非第兩的機械強度。沸石細顆粒因此有利地 0做為形成具有高機械強度之多孔膜的材料。 弗石、、、田顆粒較佳地可藉由水解及縮合反應同時使 70氧基石夕燒及一特定驗性物質之組合而獲得，該 驗性物質特另Η 〜疋—四級銨氫氧化物。例如，沸石細顆粒的 懸浮液可葬士丄 * 9田加入四丙基氫氧化銨（由20至25質量％)至 30 200844194 四 乙基鄰矽酸酯並在3(TC熟成3天及接著在8(TC25小時 而製得。 為製備此沸石細顆粒，可使用至少一由下化學式（8) 表示之矽烷化合物：
Si(〇R8)4 ⑻ (其中’ R8可為相同或不同且各自獨立代表一可具有 取代基之直鏈或支鏈Cm烷基）為原材料。矽烷化合物 10 15 20 鈿圍包括四曱氧基矽烷、四乙氧基矽烷、四丙氧基矽 烷及四丁氧基矽烷。 至於水解的催化劑，例如可使用以下化學式（9)表示 之四級銨氫氧化物： (RWoh· (9) 支（其中，R9可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈、 鏈或環狀烷基）。化學式（9)之四級銨氫氧化物的特 ^〗示包括四曱基氫氧化銨、四乙基氫氧化銨、四丙基 產氣化銨、四丁基銨氫氧化物及膽鹼；以四丙基氫氧化 趣為最佳。 做為催化劑之四級銨氫氧化物的加入量為每莫耳 、元化合物較佳為0.001至50莫耳，更佳為0·01至5.0莫 。對於水解，使用的水量為必須可完全水解矽烷化 σ物。其量較佳每莫耳矽烷化合物為0.5至100莫耳，更 佳為1至10莫耳。 當沸石細顆粒藉由矽烷化合物的水解而製備時，可 入相當於發燒化合物之炫氧基的溶劑如醇以及 31 200844194 水。溶劑的範圍例包括甲醇、乙醇、異丙醇及丁醇 非水的溶劑量較佳為矽烷化合物質量的〇 1 倍，更佳為0_5至2倍。 . 從1至 佳為0 以式（8)表示之矽烷化合物的水解時間較佳為 1叫時，更佳由10至小時，同時水解的溫度較 至50C，更佳為由^至川它。
在水解後的熱處理較佳在3(rc或更高下進行，更俨 為5〇c或更高。當溫度在大氣壓下超過用於水解之= 劑的彿點時，熱處理可在_密封之㈣容器中進行。= 10而，當溫度超過85°c，發生混合大量具有顆粒 過100nm之顆粒，故溫度較佳調整至“它或更低。" 熱處理時間較佳為1至100小時，更佳為1〇至川 15 20 由前述方式獲得之沸石細顆粒可用於做為加至組 成物的矽-氧化物系細顆粒，但為了在燒結期間提昇交 聯形成活性，可使用如後文描述之以可水解梦垸進 交聯側鏈改質處理之沸石細顆粒。 可水解梦燒之可父聯側鍵改質處理的進行係夢由 在沸石細顆粒中逐滴加入至少一選自由下化學式及 (11)表示之化合物組成的組群中之可水解石夕烧： 鱗、 (10)
RllqSi(ORX (11) (其中，當具有多個R1G時，R1G可為相同或不同且各 自獨立代表一直鏈或支鏈Cm烷基，當具有多個Rll時， 32 200844194
Rl1可為相同或不同且各自獨立代表-可具有取代基之直 鏈或支心.戚基’當騎多個Rl2時，r12可射目同或不 同且各自獨立代表-可具有取代基之直鏈或支鍵Cm炫 基及η為1至3的整數）於一驗性催化劑存在下於15至8〇 5 °C的溫度進行。並残㈣要熟成數㈣或更多。 為了在改質作職細㈣形成活性 ，較佳在反應
完成後的早期階段加入二價或多價羧酸化合物，故保護 活f生石夕烧醇。較佳於2小時内加入，更佳為在反應完成 後立刻以預防因a寸間流逝而造成其效果的破壞。 、本文所用之’’二價或多價羧酸化合物，，一詞意指在 刀子中具有或可形成至少二叛基之化合物或其衍生 物。二價賴的範例包括草酸、丙二酸、丙二酸酐、順 I婦二酸、順丁稀二酸酐、富馬酸、戊二酸、戊二酸酐、 15康商夂#康酸酐、衣康酸、衣康酸酐及己二酸。 "ί貝或夕彳貝竣酸化合物的加入量較佳為相對於 & ;文貝作用之可水解矽燒化合物之烧氧基及/或矽烷 醇基的0·〇〇5至0.5莫耳。 ^ 3有因此製得之沸石的沸石細顆粒或矽-氧化物系 2〇 達=粒可加至與水不互溶的溶劑中，並接著以水沖洗以 曰除去包含在溶液中不必要的鹽或可能混合在溶液中的微 里金屬之目的。Ώ 用於此目的之溶劑的範例包括戊烷、已 苯、甲笼、w 尽、甲基乙基酮、甲基異丁基酮、1-丁醇、 土乙Is曰、丁基乙酸酯及異丁基乙酸酯。 相似於則述由大量水及酸催化劑製備之聚矽氧烷 33 200844194
化合物，因此製得之沸石細顆粒或含沸石矽-氧化物系 細顆粒較佳轉換為在適於施用之溶劑中的溶液形式及 以製備塗覆溶液之母溶液提供。用於此目的之溶劑的範 例包括脂族烴溶劑如η-戊烷、異戊烷、η-己烷、異己烷、 5 η-庚烷、2,2,2-三曱基戊烷、η-辛烷、異辛烷、環己烷及 曱基環己烷；芳香族烴溶劑如苯、曱苯、二曱苯、乙基 苯、三曱基苯、曱基乙基苯、η-丙基苯、異丙基苯、二 乙基苯、異丁基苯、三乙基苯、二異丙基苯及η-戊基萘； 酮溶劑如丙酮、曱基乙基酮、甲基η-丙基酮、曱基η-丁 10 基酮、甲基異丁基酮、環己酮、2-己酮、曱基環己酮、 2,4-戊烷二酮、己二酮、二丙酮醇、乙醯苯、及芬殺松； 醚溶劑如乙基醚、異丙基醚、η- 丁基醚、η_己醚、2-乙 基己醚、二氧戊環、4-甲基二氧戊環、二噁烷、二曱 基二氧己環、乙二醇單-η-丁基醚、乙二醇單-η-已醚、乙 15 二醇單苯基醚、乙二醇單-2-乙基丁基醚、乙二醇二丁 基醚、二乙二醇單曱基醚、二乙二醇二甲基醚、二乙二醇 單乙基醚、二乙二醇二乙基醚、二乙二醇單丙基醚、二 乙二醇二丙基醚、二乙二醇單丁基醚、二乙二醇二丁基 醚、四氫呋喃、2-甲基四氫吱喃、丙二醇單甲基醚、丙二 20 醇二甲基醚、丙二醇單乙基醚、丙二醇二乙基醚、丙二 醇單丙基醚、丙二醇二丙基醚、丙二醇單丁基醚、二丙 二醇二曱基醚、二丙二醇二乙基醚、二丙二醇二丙基醚 及二丙二醇二丁基醚，酯溶劑如二乙基碳酸酯、乙基乙酸 酯、7 -丁内酯、Τ -戊内酯、η-丙基乙酸酯、異丙基乙酸 34 200844194 酯、η-丁基乙酸酯、異丁基乙酸_、第二-丁基乙 η-戊基乙酸酯、3-甲氧基丁基乙酸酯、曱基戊基 2-乙基丁基乙酸酯、2_乙基己基乙酸酯、苯甲基乙 酉曼酉旨、 乙峻酯、 酸酯、 乙 乙 乙 釀酉|、兩 環己基乙酸酯、甲基環己基乙酸酯、η-壬基乙酸酷、沿 日Τ基 5 醯乙酸酯 乙基乙醯乙酸酯、乙二醇單曱基醚乙酸酽 二醇單乙基醚乙酸酯、二乙二醇單曱基醚乙酸酯、一 二醇單乙基醚乙酸酯、二乙二醇單-η-丁基醚乙 二醇單曱基醚乙酸酯、丙二醇單乙基醚乙酸酯、 單曱基醚乙酸酯、二丙二醇單乙基醚乙酸酯、 醇 丙 10 15 醇單 -η-丁基醚乙酸酯、乙二醇二乙酸酯、乙酸曱氧三 口 Θ曰、乙^ 基丙酸酯、η-丁基丙酸S旨、異戊基丙酸酯、二乙基草_ _ 二-η-丁基草酸酯、乳酸曱酯、乳酸乙酯、乳酸 ** ν 乳酸η-戊酯、二乙基丙二酸、二曱基鄰苯二甲酸妒及 乙基鄰苯二甲酸酯；含氮溶劑如Ν-15曱基甲驗胺、 二曱基曱醯胺、乙醯胺、Ν-甲基乙醯胺、N，N-二甲’ 〜T基己 醯胺、N-甲基丙醯胺 '及N-曱基吡咯烷酮、及冬扮 3喻溶齊lj 如二甲基硫、二乙基硫、嗟吩、四氫嗟吩、二甲基亞石風 五環硫氧烷、及1,3-丙磺内酯。這些溶劑可單獨或組合 使用。 2〇 如其他可用於在本發明之較佳砍-氧化物系細顆粒 的二氧化石夕細顆粒在工業可利用性上為特別優良。許多 一氧化破細顆粒為揭露於例如’日本專利早期公開弟 315812/1997或2004-165402號中。雖然可使用其中任何之一 者，具有高強度者在本發明方法中特別有效。較佳的二氧 35 200844194 化矽細顆粒將於後文描述。 較佳用於本發明之多孔膜_形成址成物的二氧化石夕 細顆粒期型範例為可在驗催化劑存訂由可水解石夕燒化 α物之水解及合反應而得之二氧化⑦溶膠，該可水解石夕 5烷化合物含有至少一由下化學式(3)表示之官能烷氧基矽 烧化合物： • S鹏 (3) 春 （其中，R4可為相同或不同且各自獨立代表一直鍵或 支鏈Cm烧基)及至少-由下化學式⑷表示之烧氧基石夕烷 10 化合物： & R5mSi(ORVm (4) (其中，當具有多個R5時，R5可為相同或不同且各自 獨立代表一直鏈或支鏈匕·8烷基，當具有多個R6時，汉6 可為相同或不同且各自獨立代表—可具有取代基之直鍵 或支鍵Cu烧基’及m為1至3的整數）。 • 式（3)化合物的比例為依矽原子基於在鹼催化劑存在 下用於水解及縮合反應之可水解矽烷化合物之總 賴㈣轉耳減更高料超過％財％，更料3〇莫 . 耳％或更高但不超過70莫耳％，可水解魏化合物之總 20 莫耳亦即為化合物(3)及(4)的總莫耳。 烧氧基㈣化合物⑷之以較佳範例可包括燒基 如甲基、乙基、η-丙基、異丙基、n_丁基、異丁基^ 二-丁基、t-丁基、n_戊基、2-乙基丁基、3_乙基丁基、 2,2-二乙基丙基、環戊基、〜己基及環已基；婦基如乙 36 200844194 烯基㈣丙基；絲如乙絲；芳基如苯基及甲苯基； 芳烧基如笨甲基及苯乙基；及其他未取代之單價烴基。 其等皆可具有一取代基如氟。 矽烧化合物(3)之例示包括但未限制為甲基三甲氧 5基魏、曱基三乙氧基魏、甲基三丙氧基魏、甲基 • 三異丙氧基魏、乙基三曱氧基魏、乙基三乙氧基石夕 • 烧、乙基三丙氧基魏、丙基三曱氧基魏、丙基三乙 馨氧基石夕烧、異丙基三曱氧基石夕烧、異丙基三乙氧基石夕烧、 丁基三甲氧基魏、了基三乙氧基魏、戊基三甲氧基 10石夕烧、戊基三乙氧基魏、己基三甲氧基魏、環己基 二曱氧基石夕燒及辛基三甲氧基石夕烧；同時化合物⑷之此 些者包括但未限制為四甲氧基矽烷、四乙氧基矽烷、四 丙氧基矽烷及四異丙氧基矽烷。 荊述之石夕燒化合物較佳為一主要組份之範例，但可 5加入另石夕烧為辅助組份。此一石夕烧的範例包括二曱基 • 二曱氧基矽烷及二甲基二乙氧基矽烷、六甲氧基二矽 烷、亞曱基雙三甲氧基矽烷、亞曱基雙三乙氧基矽烷、 ‘ 丨，3-丙烯基雙三曱氧基矽烷、1，4-雙三曱氧基矽烷及丨，4_ 亞苯基雙三曱氧基矽烷。此些非式(3)及(4)的可水解矽 20烧較佳的加入量為用於反應之所有可水解矽烧化合物 之總量依矽原子的3〇莫耳％或更少。 描述於日本專利早期公開第2001-164186號中，前 述之可水解矽烷化合物有時在某些條件下即使於鹼性催化 劑存在亦不能轉化為細顆粒，但其可在下列條件下以細 37 200844194 顆粒獲得。 驗性催化劑的範例包括胺如氨、曱基胺、二甲其 胺、二甲基胺、乙基胺'二乙基胺、三乙基胺、丙基胺、 二丙基胺、三丙基胺、二異丁基胺、丁基胺、二丁基胺、 5三丁基胺、三乙醇胺、吡咯啶、哌啶、氧氮環己烷、哌 嗪、吡啶、噠嗪、嘧啶、吡嗪及三嗪；四級氫氧化銨如 四甲基氫氧化銨、四乙基氫氧化錄、四丙基氫氧化銨、 四丁基銨氫氧化物及膽驗；及一驗金屬或一驗土金屬的 氫氧化物如氫氧化鈉、氫氧化鉀及氫氧化鈣。在此些 10中，強鹼性催化劑如四級銨氫氧化物及鹼金屬氫氧化物 可供具有較高顆粒性質之二氧化矽溶膠。 再者，前述之強驗性催化劑的驗為選自驗金屬的氳 氧化物及親水四級氫氧化銨，如四丁基銨氫氧化物及膽 鹼，由下化學式（5)表示： 15 (5) (其中，陽離子部份[(R7)4N+]滿足下列關係式⑹·· (N+0)/(N+0+C)^l/5 (6) 其中’ N、Ο及C分別為包含於陽離子部份的氮、氧 及石炭原子數）為較佳用於獲得本發明之組成物的二氧化 2〇矽細顆粒之催化劑，因為其可提供推測具有高交聯密度 之石更—氧化發細顆粒。 R7表示由碳、氫及氧組成之有機基，且此基的範圍 匕括燒基，該烧基可具有一經基或可具有_〇_、_(C=〇)_ ^(CK))CM吉構於其中。 38 200844194 10 15 20 再者’使用在選自親水四級氫氧化銨及金屬氫化物之 至父鹼及一不付合上述關係式（6)之疏水四級氫氧化銨 組合的催化劑存在下獲得的二氣化硬細顆粒用於多孔膜-形成組成物’尬成可製備具有較高機械強度的多孔膜。 本案發明人認為理由如下。#_疏水驗性催化劑及一親 水驗催化劑組合使科，-域合態贿錢性催化劑 及烧氧基魏_疏水交互作用㈣成。此結合態即使 在藉由魏醇__及銨騎子_態的交互作用而 部份進打水舰氧基魏為魏賴仍可轉。此親水 催化劑㈣可作㈣促進傾醇的縮合反纽可在一 高反應性形成—穩时魏鍵結。疏水驗性催化劑及燒 氧基石夕關的另-維合可作動而形成—與二氧化石夕表面 的結合態，接著親水驗性催化劑位進縮合反應。此反應 的重複=可導致二氧化秒溶膠的成長。依前述方法使用 因此獲得之二氧切轉而獲得之财，幾乎未觀察到 微孔’故其不是部份具有以沸石結晶結構之二氧化石夕溶 膠。因減親水驗性催化劑組合使用，二氧切溶膠的 生長可依前述之機制進行，其中在二氧切溶膠中不保 留大量祕水驗性催化劑。此—機制可形成具有較少内 部應力及高交聯比例的非晶型二氧化發，以取代形成如 沸石結構結晶。再者，如縮合反應結果而獲得之 石夕膠’其内部應力充分釋出，其可具有少量的魏醇殘 餘物且□此可為剛性及高疏水性。當—低介電常數膜如 後文所述形成時’此膜因此可具有高強度及穩定介電 39 200844194 常數。 為了合成可以石夕-氧化物系細顆粒加至本發明之多 孔膜-形成組成物的二氧化矽細顆粒，使用如下化學式⑺ 表示之矽倍半氧烷籠狀化合物： 5 (SiOu-OyCX% ⑺ (其中，X表示NR1%，R13可為相同或不同且各自獨 立代表一直鏈或支鏈Cm烧基，及？為6至24的整數）且較 佳預先製備至少一部份鹼性催化劑。 對於石夕倍半氧烧籠狀化合物，由六聚物至二十四聚 10物的募聚物已知為具有以熱力觀點而言為相對穩定結 構之籠狀化合物，且已確高達十八聚物的存在（Ρ Α·
Agskar，W· Klemperer” Inorg· Chim。Acta，299， 355(I995))。在此些中，以八聚物為典型。 [化學式4]
15 .(其中，矽原子位於每一頂點且每一側表示一 Si_〇_Si鍵）。 在上述之結構之每-頂點的料子具有再一剩餘的 二位置。當剩餘的鍵結位置具有—氫氧基為取代基，其 ^錢狀酸性。*級性氫魏與—喊銨形成的 =石夕倍半魏絲化合物㈣。—典型範例之八聚 物為—由下化學式表示之化合物： 40 20 200844194 [化學式5]
吼 134)tf^ff^Sk〇_(NRV
Vo〆1 、〇-_〜+
(其中，X表示NR1%，R13可為相同或不同且各自獨 立代表一直鏈或支鏈c14烧基)。 5 已知石夕倍半氧烷籠狀化合物（八聚物）之四烷基銨鹽 可藉由將二氧化矽如四烷氧基矽烧或Aerosil(商品名）的 粉末與四烷基氫氧化銨在一含水溶劑反應而合成。此方 法描述於例如 Ε· Muller，F T Edelmann，Main Group Metal Chemistry, 22, 485(1999) M. Moran? et aL5 10 Organometallics，4327(1993)中。此八聚物的四曱基銨鹽（60 水合物）為可商業取得的，例如，由Hybridplastics公司取
(NRj (NR: 得。 當使用前述之方法時，可水解矽烷化合物(3)及/或(4) 為加至預先製備之籠狀化合物鹽以在其間引起反應。因鍵 15結至矽原子的原子之交互作用及配位四級銨陽離子的 作用’籠狀化合物鹽在一高於其他單體間的縮合速度與 水解之矽烷單體縮合。相似地，得自縮合作用的縮合物 亦在一高於其他單體間的縮合速度與水解之矽烷單體縮 合。此意指矽倍半氧烷籠狀化合物鹽不僅作為一鹼性催化 2〇劑亦做為一二氧化矽細顆粒生長的晶核，藉此可獲得具 41 200844194 有尚強度之二氧化矽細顆粒。 粒 為了加速可水解魏之水解以促進二氧切細顆_
10 =長，可使化劑與财倍半魏籠狀化合 物鹽經合。可使用任何前述之傳統驗性催化劑於此一 =的。然而’當加人過量具有高縮合活性之強驗性全 屬氫氧化物或四級録氫氧化物，在單體間產生大量的縮 合物且有可能破壞使时倍半氧妓狀化合物鹽的優 點。因此’當使㈣量具有高縮合活性之強 ^ 氣氧化物或四級銨氫氧化物，其量較佳為壓抑至石夕2 减籠狀化合物紅⑽倍莫耳數或較少，更佳為％倍 莫耳數或更少。 在任何包括前述之特殊例子_子中，驗性催化劑 的量為魏化合物莫耳的請倍莫耳，較佳為⑽ 至1.0倍莫耳。用於水解的水量較佳為魏化合物可完全 15水解所需莫耳數之0.51至100倍，更佳為m倍。
在水的存在下進行用於水解石夕貌化合物以製傷知 顆粒的水解及縮合反應。亦可使用—溶劑以及水。範 例包括甲醇、乙醇、異丙基醇、丁醇、丙二醇單甲基鱗 及丙二醇單丙基鱗。額外的範例包括丙酮、甲基乙基酮、 2〇四氫吱喃、氫甲燒、曱醯胺、二甲基甲醯胺、二甲基乙 醯胺及二甲基亞颯。非水的溶劑量較佳為石夕烧化合物質 量的1至1000倍，更佳為2至1〇〇倍。 矽烷化合物之水解及縮合反應的時間較佳為從 0.01至100小時，更佳由01至5〇小時且於〇至1〇〇它， 42 200844194 更較為由1G至8(rc。在前述之條件下，二氧切基本上 以顆粒形式獲得，因為可水解石夕烧化合物藉由氧原子由 矽原子形成許多鍵結至石夕原子比藉由氧原子由石夕原子 形成許多鍵結至礙原子所形成的鍵結快速。為改良二氧 5化砍之顆粒性質，較佳在反應條件下逐滴加入可水ς • 二氧化矽化合物至反應混合物中。 • 為了反應的終止及後處理，基本上可使甩任何已知 的方法。用於齡二氧切細顆粒之交聯形成活性的方 法（日本專利早期公開第娜-遞95號），藉此在燒結後得 10到之械強度的改良與本發明組合使用亦為有效 的洋a之，車父佳藉由在驗性催化劑中和反應後但在交 聯活性損失之前加入二價或多價羧酸化合物以保護活 性矽烷醇，更佳為只在在鹼性催化劑中和反應後。更佳 以一“或多價鲮酸完成中和反應本身，以同時進行中和 I5及矽烷醇保護作用並封蓋可交聯位置直至在膜形成期 間羧酸化合物的分解作用完成。 _ 在分子巾具有至少二敌基的叛酸的較佳範例包括草 酸、丙二酸、丙二酸酐、順丁烯二酸、順丁烯二酸酐、富 - 馬酸、戊二酸、戊二酸酐、擰康酸、獰康酸酐、衣康酸、 • 20衣康酸酐及己二酸。當此一羧酸加入量為基於矽單元 的〇·〇5莫耳％至1〇莫耳％範圍時，較佳為〇·5莫耳％至5莫 耳％時，可有效地作用。 因此製彳于之聚石夕氧垸細顆粒溶液可加入水不混溶的溶 劑並接著以水沖洗以達除去包含在溶液中不必要的鹽或可 43 200844194 5 能混合在溶液中的微量金屬之目的。用於此目的之溶劑 的範例包括戊烷、己烷、苯、曱苯、曱基乙基酮、甲基 異丁基酮、1-丁醇、乙基乙酸酯、丁基乙酸酯及異丁基 乙酸酯。 相似於前述使用大量水及酸催化劑之聚；5夕氧；1：完化 合物，因此製得之矽氧烷聚合物較佳轉換為在適於施用 之溶劑中的溶液形式及以製備塗覆溶液之母溶液提 供。用於此目的之溶劑的範例包括脂族烴溶劑如η-戊 烷、異戊烷、η-己烷、異己烷、η-庚烷、2,2,2-三曱基戊 10 烷、η-辛烷、異辛烷、環己烷及甲基環己烷；芳香族烴 溶劑如苯、甲苯、二甲苯、乙基苯、三曱基苯、曱基乙 基苯、η-丙基苯、異丙基苯、二乙基苯、異丁基苯、三 乙基苯、二異丙基苯及η-戊基萘；酮溶劑如丙酮、曱基 乙基酮、曱基η-丙基酮、曱基η-丁基酮、曱基異丁基酮、 15 環己酮、2-己酮、甲基環己酮、2,4-戊烧二酮、己二酮、 • 二丙酮醇、乙醢苯、及芬殺松；醚溶劑如乙基醚、異丙 基鍵、η-丁基醚、η-己醚、2·乙基己醚、二氧戊環、4-甲基二氧戊環、二噁烷、二曱基二氧己環、乙二醇單-η-丁基醚、乙二醇單-η-已醚、乙二醇單苯基醚、乙二醇單 ^ 20 -2-乙基丁基醚、乙二醇二丁基醚、二乙二醇單曱基醚、 二乙二醇二曱基醚、二乙二醇單乙基醚、二乙二醇二乙 基醚、二乙二醇單丙基醚、二乙二醇二丙基醚、二乙二 醇單丁基醚、二乙二醇二丁基醚、四氫呋喃、2-曱基四氫 呋喃、丙二醇單曱基醚、丙二醇二曱基醚、丙二醇單乙 44 200844194 5 • 基醚、丙二醇二乙基醚、丙二醇單丙基醚、丙二醇二丙基 醚、丙二醇單丁基醚、二丙二醇二曱基醚、二丙二醇二 乙基鍵、二丙二醇二丙基鱗及二丙二醇二丁基鱗，g旨溶 劑如二乙基碳酸酯、乙基乙酸酯、丁内酯、T-戊内酯、 n_丙基乙酸酯、異丙基乙酸酯、η-丁基乙酸酯、異丁基 乙酸酯、第二-丁基乙酸酯、η-戊基乙酸酯、3-甲氧基丁 基乙酸酯、甲基戊基乙酸酯、2-乙基丁基乙酸酯、2-乙 基己基乙酸酯、苯甲基乙酸酯、環己基乙酸酯、甲基環己 基乙酸酯、η-壬基乙酸酯、甲基乙醯乙酸酯、乙基乙醯乙 10 酸酯、乙二醇單甲基醚乙酸酯、乙二醇單乙基醚乙酸酯、 二乙二醇單甲基醚乙酸酯、二乙二醇單乙基醚乙酸酯、 二乙二醇單-η-丁基醚乙酸酯、丙二醇單甲基醚乙酸酯、 丙二醇單乙基醚乙酸酯、二丙二醇單甲基醚乙酸酯、二丙 二醇單乙基醚乙酸酯、二丙二醇單-η-丁基醚乙酸酯、乙二 15 醇二乙酸酯、乙酸曱氧三甘酯、乙基丙酸酯、η-丁基丙酸 • 酯、異戊基丙酸酯、二乙基草酸酯、二-η-丁基草酸酯、 乳酸甲酯、乳酸乙酯、乳酸η-丁酯、乳酸η-戊酯、二乙 基丙二酸、二甲基鄰苯二甲酸酯及二乙基鄰苯二曱酸 酯；含氮溶劑如Ν-15曱基曱醯胺、Ν，Ν-二曱基甲醯胺、 - 20 乙醯胺、Ν-曱基乙醯胺、Ν，Ν-二曱基乙醯胺、Ν-曱基丙 醯胺、及Ν-甲基吡咯烷酮、及含硫溶劑如二曱基硫、二 乙基硫、噻吩、四氳噻吩、二曱基亞颯、五環硫氧烷、 及1，3-丙磺内酯。這些溶劑可單獨或組合使用。 一多孔膜-形成組成物以下列步驟製備： 45 200844194 混合使用大量水及酸性催化製備之聚矽氧烷化合 物溶液與在鹼性催化劑存在下獲得之矽-氧化物系細顆粒 溶液，如沸石衍生物或聚矽氧烷細顆粒； 若需要，加入辅助組份如界面活性劑，·及 5 最後調整混合物的濃度。當使用大量水及酸性催化 製備之聚⑪魏化合物量太少時，其不能提供改良機械 強度效果，同時當其量太太時，介電常數不能壓抑至低 量。聚矽氧烷化合物的量較佳為基於矽_氧化物系細顆 粒地量之1至40質量％，更佳為丨至加質量％。 1〇 對於濃度的最終調整之稀釋作用程度不同，依黏性或 私的之膜厚度而定，但基本上進行的稀釋作用為可調整溶 劑量由50至99質量％，較佳由75至95質量0/〇。 以上述方式製備多孔膜形成組成物t，組成物以一 適當旋轉速度同時控制組成物之溶質濃度下旋塗一標的基 15材上，藉此可形成一具有預期厚度的薄膜。 典型地實際形成具有厚度約〇1至1〇 μιη的薄膜，但 膜厚度並未限制於此。一具有較大厚度之薄膜可藉由實施 數次組成物的塗覆而形成。 不僅使用旋塗，亦可使用另—應用方法如掃描塗覆。 20 因此形成的薄膜可在已知方法轉換為多 孔膜。詳言 之，多孔膜可藉由自薄膜移除溶劑而以一終產物獲得， 溶劑的移係藉由在-乾燥步驟(在半導體製程中典型稱之 為預烘烤步驟)中使用一烘箱將其加熱至較佳為5〇至15〇 C數分鐘，亚接著在350至45(TC燒結約5分鐘至2小時。可 46 200844194 進''步加入紫外線或電子束的熟化步驟。 本發明之多孔膜與使用傳統組成物獲得者相比具 催Γί械強度’其中該多孔膜係藉由具有大量水及酸性 5 ^岌備之聚矽氧烷化合物與在鹼性催化劑存在下獲 5 氡化物系細顆粒之多孔膜-形成組成物而獲得，該 Γ氣化物系細驗特別是沸石街生物、戈聚石夕氧烧細顆 粒。本案發明人認為高機械強度的理由如下。 若用於形成膜的材料完全由均句顆粒且一均勻力作 7於任何二顆粒間，膜的機械強度依顆粒形成的網絡骨 J疋。§膜设計為具有一低介電常數，換言之為具 有—增加的多孔性，存在特定空間的網絡骨架比例則降 低，導致機械強度的降低。在介電質常數減少及機械 強度增加上具有一交易關係。事實上，當使用在不同 反應條件下製備之聚矽氧烷細顆粒於組成物時，使用 15該組成物而得到之膜的介電質常數及機械強度亦同時改 k。可觀察到在其間幾乎線性的關係，特別是在介電常數 由2·0至3.0範圍間。另一方面，在本發明中，當加入使 用大置水及酸催化劑製備之聚矽氧烷化合物時，在相同 介電常數下機械強度變的較由前述之線性關性預測當 20僅加入特定之沸石衍生物或聚矽氧烷細顆粒時為高。此 發生係因為聚矽氧烷化合物，其使用大量水及酸催化劑製 備而富含具有高交聯性能的矽烷醇基，故交聯可易於在細 顆粒及聚矽氧烷化合物間形成。因此，交聯強化細顆粒 間的鍵結。簡言之，因為在前述之模式及由傳統方法獲 47 200844194 传之膜間的細顆粒形成的 "成的月条無明顯的不同存在，即使 因多孔性在介電常數沒 子在尸便 ^生改交’在細顆粒間作用力 的增加導致較高的機械強度。 用於半導體裝置之低-介電質-常數多孔膜且有傳统 在膜機械強度破壞的問題， ·’ 為膜中導入孔洞以降低介 电吊數’但使膜多孔化轉低構成朗材料密度。在機 械強度的破壞不僅影響半導體裝置本身㈣度亦造成
膜的剝離，因為缺少足_力輯抗典朗於半導體製 造之化學機械研磨。 藉由塗復本發明之多孔膜-形成組成物於一基材 城接著燒結賴得之多孔膜可_具有低介電常數及 高機械強度。尤其，當使用此多孔膜為半導體裝置之層 間絕緣膜時，其不會造成此一剝離且可達高可靠度、高 速及小尺寸的半導體裝置製造，因為其儘管具有多孔性 15結構但具有高機械強度及低介電常數。 含有该多孔膜之一半導體裝置也是本發明之一半 導體裝置。本文所用之”層間絕緣膜”一詞可代表在一層 中電絕緣導電位置的膜或在不同層中電絕緣導電位置 的膜。傳導位置的範例包括金屬互連體。 本發明半導體裝置之一實施例將接著描述。 至於基材1，可使用Si半導體基材如Si基材及soi(絕 綠層上石夕）基材。可替代地，其可以是化合物半導體基 枒如SiGe或GaAs。 繪示於第1圖的層間絕緣膜為一接觸層之層間絕緣 48 200844194 膜2，互連體層之層間絕緣膜3、$、7、9、n、i3、i5 及17 ’與介層窗層之層間絕緣膜4、6、8、i〇、i2、14 及16。 由隶底互連體層之層間絕緣膜3至最高互連體層之 5層間絕緣膜17間的互連體層由底層至頂層順序分別為 Μ卜 M2、M3、M4、M5、M6、MmM8。由最底介層 窗層之層間絕緣膜4至最高介層窗層之層間絕緣膜16間 的層由底層至頂層順序分別為V1、V2、V3、V4、V5、 V6及 V7 〇 1〇 某些金屬互連體分別以標號18及21至24標示，但即 使省略-钱，具有與此些互連體相關案的部份為圖 示金屬互連體。 一介層窗插塞19由金屬製成，且在銅互連體例子中 基本上由銅製成。即使省略—標號，具有與此些介層窗 15插塞相同圖案的部份為圖示介層窗插塞。 一接觸窗插塞20連接至在基材丨之最上層表面或在基 材上形成的電晶體閘極(未纟會示）。 如圖所示，互連體層及介層窗層為交替堆疊。”多層互 連體"-詞典型地表示M1及其上的層。互連體細至赚 20型無之為局部互連體；互連體層綱至奶典型稱之為中間 層或半總體互連體；及互連體層_至猶典型稱之為總體 互連體。 、在繪於第1圖之半導體裝置中，本發明之多孔膜用於做 為互連體層之層間絕緣膜3、5、7、9、11、13、15、及 49 200844194 π之至少之一者及介層窗層的層間絕緣膜4、6、m 12、14及16之至少之一者。 、 當使用本發明之多孔膜為互連體層_之層間絕緣膜 3時，介於金屬互連體21及金屬互連體22之間的電容可大 5 大的降低。 . 當使用本發明之多孔膜為介層窗層m)之層間絕緣 • ’時’介於金屬互連體23及金屬互連體24之間的電容 φ 彳大大的降低。因此，使用本發明之具有低介電= 的多孔膜為互連體層可使在相同層中金屬互連體間的* 1〇容激烈的降低。此外，使用本發明之具有低介電常^ 多孔膜為介層窗層可使在介層窗層之上及之下的金屬 互連體間的電容激烈的降低。因此，使用本發明之多孔 膜於所有的互連朗及介層窗層可使在互賴的寄生電 容激烈的降低。 5 此外’使用本發明之纽膜做為互連體仙的絕緣 • ^可無傳統的問題，亦即，由於在經由-層接-層的堆 ^心成夕層互連體期間因多孔膜的吸濕性*引起的介電 . 常數增加。因此，可獲得特性衫速操作及低能量消耗 的半導體裝置。 20 此外，由於本發明之多孔膜的高強度，因此獲得之 半導體裝置具有改良的機械強度。因此，由此獲得之 半導體裝置大大的改“產率及可靠度。 本發明於後文藉由實施例而詳細描述。需注意本 lx月範可並未限制於此些實施例或由此些範例限制。 50 200844194 __虫使用大量過量水及酸催化劑之水解及縮备符 廛逆氣烷化合物製備實施例） 製傭實施例1 45g之曱基三曱氧基石夕：!：完及101 g之四乙氧基石夕烧 5混合物在攪拌下加至由溶解〇.18g濃硝酸於280g之超純 水而獲得之溶液中。此反應混合物逐漸加熱並達到5〇 C但在3 0分鐘後，回至室溫。在未改變條件下持續授摔 12小時。在此反應混合物中加入3 〇〇g之丙二醇單曱基 醚乙酸酯（在本文後稱之為PGMEA)，並在滅壓下蒸餾出 10低沸點溶劑。蒸德期間，旋轉蒸顧器的浴保持在3〇°c或 更低。在因此獲得的剩餘溶液中加入％Qml曱苯及 500ml超純水。此結果混合物傳移至一分液漏斗以移除 水層。有機層以200ml超純水沖洗二次。因此獲得的有 機層在一旋轉蒸餾器中蒸餾以由其除去溶劑，藉此可 15獲得210 g溶液為聚砍氧烧化合物之母溶液。此溶液具 有20·3質量％非揮發殘餘量及重量平均分子量以凝膠 滲透層析[GPC]測量為3,062。 進行樣品之29Si-NMR測量。因此，發現以前述化學式 (Q1至Q4，T1至T3)表示之聚矽氧烷化合物單元的莫耳比 20 例tl、t2、t3、ql、q2、q3及q4分別為 1%、1〇〇/。、26%、 0%、7%、36%、及19%，而可得下列關係式： (ql+q2+tl)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3)=〇.〇8 及 (q3+t2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3)=0.46。 製備實施例2 51 200844194 在相似於製備實施例i方式進行合成作用，除了使 用o.llg濃硫酸取代硝酸，藉此可得205g濃縮溶液。此結 果溶液具有22.4質量％的非揮發殘餘物及以GPC測定之 3,522重量平均分子量。進行樣品之29Si-NMR測量，莫耳 5 比例t卜 t2、t3、q卜 q2、q3及q4分別為 1%、14%、23%、 1%、12%、36%、及13%，並使用此些比例計算可得下列關 係式· (ql+q2+tl)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 0.16& (q3+t2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 0.50 〇 10 製備實施例3 在相似於製備實施例1方式進行合成作用，除了使 用0.31g濃氳氯酸取代硝酸，藉此可得213g濃縮溶液。此 結果溶液具有20.6質量％的非揮發殘餘物及以GPC測定 之251，988重量平均分子量。進行樣品之29Si_NMR測量。 15 因此，發現依莫耳比例tl、t2、t3、ql、q2、q3及q4計算 可得下列關係式： (ql+q2+tl)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 0.12& (q3+t2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 0·46。 製備實施例4 20 在相似於製備實施例1方式進行合成作用，除了使 用0.33g曱烷磺酸取代硝酸，藉此可得2〇ig濃縮溶液。此 結果溶液具有20.7質量％的非揮發殘餘物及以GPC測定 之2,578重量平均分子量。進行樣品之29&_nmR測量。因 此，發現依莫耳比例tl、t2、t3、ql、q2、q3及q4計算可 52 200844194 得下列關係式： (ql+q2+tl)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 0·08 及 (q3+t2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 0·50。 製備實施你15 5 在相似於製備實施例1方式進行合成作用，除了使 • 用0·15§過氯酸取代硝酸，藉此可得227.15g濃縮溶液。此 • 結果溶液具有21.8質量％的非揮發殘餘物及以GPC測定 g 之3,570重量平均分子量。進行樣品之29Si_NMR測量。因 此，發現依莫耳比例tl、t2、t3、ql、q2、q3及q4計算可 10 得下列關係式： (ql+q2+tl)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 0·08 及 (q3+t2)/(q 1 +q2+q3+q4+t 1 +t2+t3) = 0·47。 製備實施例6 在相似於製備實施例1方式進行合成作用，除了使 15用0·20§三氟曱烷取代硝酸，藉此可得227.50g濃縮溶液。 _ 此結果溶液具有18.4質量％的非揮發殘餘物及以GPC測 疋之2,869重量平均分子量。進行樣品之29Si-NMR測量。 因此，發現依莫耳比例tl、t2、t3、ql、q2、q3及q4計算 可得下列關係式： 20 (ql+q2+tl)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 〇·〇7 及 (q3+t2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) = 〇.5卜 可獲付滿足相對砍烧酵及其相似者所要求的性質 之聚矽氧烷化合物，即使酸催化劑的種類如前述改變。 53 200844194 比較製備實施例u在酸催化劑存在下以一傳、统方式 之水解及縮合反應的實施你η 在68g(0.5莫耳)之曱基三曱氧基石夕院、o莫耳） 之四曱氧基矽烷、230g丙二醇單丙基醚及12〇g甲基異丁 5基酮注入5-L燒瓶後，於〇.5g順丁浠二酸催化劑存在下於1 小時内逐滴加入180.02g(ll.〇莫耳)水以水解烷氧基石夕烧。 在逐滴加入後，反應混合物在6〇°C攪拌2小時以完成反 應。此酸組份接著中和。因此產生的曱醇在減壓下蒸 顧出，並派細殘餘物以得一固體含量約2〇wt%。此結果聚 10石夕氧烧化合物具有一以GPC測定為940的重量平均分子 量。 因此獲得之聚矽氧烧化合物的29Si_NMR圖譜顯示於 第2圖。基於因此獲得之矽氧烷樹脂總單元7，單元、 孓2、及孓3的比例分別為8莫耳％、62莫耳％及3〇莫耳％，同 15時基於因此獲得之矽氧烷樹脂總單元Q，單元、Q_2、 Q-3、及Q-4分別為4莫耳。/。、42莫耳％、44莫耳％及1〇莫耳 %。亦確定單元Q-2之35%保留為如甲氧基。
反應的實施你Π 2〇 在^6·3#1·0莫耳）曱基三甲氧基矽烷、304.4g(2.0莫耳) 四甲氧基矽烷、550g丙基丙二醇單丙基醚及24〇g甲基異丁 基酮注入5_L燒瓶後，於lg順谓二酸催化劑存在下逐滴加 入360.04g(22.0莫耳)水並保持内部溫度於3〇。〇或更低，同 時水解烧氧基石夕貌。在逐滴加入後，反應混合物在60 54 200844194 °C攪拌2小時。反應混合物的黏度逐漸增加且反應接著 中止。 〔Si-NMR測量） ”JNM-EPP-300n(300 MHz)進 使用JEOL公司製造之 5行29si-NMR測量。為測量，丙酮-d6加至由製備實施例獲
得之樣品溶液。製備實施例1至3及比較製備實施例1的結 果顯示於第2圖為實際的量測結果。在光譜圖中，每一顯示 接近 5-47、-56、-64、-83、-91、-100及-109的訊號分別為 於結構Ti、T2、T3、Ql、Q2、Q3及Q4中屬於Si。已發 10現與在比較製備實施例方法獲得之聚矽氧烷化合物比 較’在製備實施例方法獲得之聚矽氧烷化合物證實在組份 中豐富而使得在結構T3、Q3及Q4剛性。再者，在廣峰中， 由鍵結至烧氧基之Si(矽烷醇基）衍生的峰呈現比由鍵結 至經基之Si(石夕烷醇基)衍生的峰具較高的磁場側。例如， 15在比較製備實施例之圖譜中，峰5-89至-95由前述Q2衍 生，且在此些峰中，在-93的峰由以一烷氧基取代之矽 衍生出。由峰的面積比，約35%的單元Q2為具有低反應 性之烷氧基-取代矽。另一方面，在製備實施例中，烷 氧基取代之矽亦幾乎消失。 20 (用於加入含沸石細顆粒之母溶液的製備） 製備貫施例7 四乙氧基石夕烧及25.4g之lmol/L四丙基氫氧化 銨水溶液之混合物在室溫攪拌3天。反應混合物接著在 75 C攪拌12小時以產生一無色沸石溶膠。此結果溶膠 55 200844194 的顆粒大小使用次微米顆粒大小分佈分析儀（測量限 度· 3nm)測量，導致失效，因為顆粒大小分佈超過5nm 阻礙全顆粒大小分佈的測量。在8g之25質量％四甲基氫 氧化銨水溶液、512g超純水、960g乙醇及沸石溶膠在室温 5混合後，32g四乙氧基矽烷及24g甲基三甲氧基矽烷在60 • C逐滴加至混合物8小時。在完成逐滴加入後立刻加入2〇 • 質量％之順丁烯二酸水溶液。在此結果混合物中加入320g ^ 丙基二醇單丙基醚，接著濃縮直至溶液質量成為32〇 g。 加入乙基乙酯。混合物以超純水沖洗二次並著分層。 10乙基乙酯在減壓下蒸餾出以獲得一用加入含沸石細顆粒 的母溶液。此結果溶液具有2〇.5質量％的非揮發殘餘 物。 复儀實施例8 14.0g四乙氧基矽烷及25.4g之lmol/L四丙基氫氧化 15銨水溶液之混合物在室溫攪拌3天。反應混合物接著在 φ 75 C擾拌12小時以產生一無色沸石溶膠。此結果溶膠 的顆粒大小使用次微米顆粒大小分佈分析儀（測量限 度：3 nm)測量，導致失效，因為顆粒大小分佈超過5 阻礙全顆粒大小分佈的測量。在8g之25質量°/〇四曱基氫 ^ 20氧化銨水溶液、512g超純水、960g乙醇及沸石溶膠在室温 混合後，32g四乙氧基矽烷及24g甲基三甲氧基矽烷在6〇 C逐滴加至混合物12小時。在完成逐滴加入後立刻加入 20貝里之順丁細 一酸水溶液。在此結果混合物中加入 320g丙基二醇單丙基醚，接著濃縮直至溶液質量成為 56 200844194 320g。加入乙基乙g旨。混合物以超純水沖洗二次並著 分層。乙基乙酯在減壓下蒸餾出以獲得一用加入含沸石細 顆粒的母溶液。此結果溶液具有21·8質量％的非揮發殘 餘物。 5 製備實施例9 . 14.6g四乙氧基石夕烧及25.4gilmol/L四丙基氫氧化 • 銨水溶液之混合物在室溫攪拌3天。反應混合物接著在 瞻 75°C攪拌12小時以產生一無色沸石溶膠。此結果溶膠 的顆粒大小使用次微米顆粒大小分佈分析儀（測量限 10度：3 nm)測量，導致失效，因為顆粒大小分佈超過5腿 阻礙全顆粒大小分佈的測量。在％之25質量％四曱基氫 氧化銨水溶液、512g超純水、960g乙醇及沸石溶膠在室温 混合後，32g四乙氧基矽烷及24g曱基三曱氧基矽烷在6〇 它逐滴加至混合物22小時。在完成逐滴加入後立刻加入 15 20質量％之順丁烯二酸水溶液。在此結果混合物中加入 # 32〇g丙基二醇單丙基醚，接著濃縮直至溶液質量成為 32〇g。加入乙基乙酯。混合物以超純水沖洗二次並著 . 分層。乙基乙酯在減壓下蒸餾出以獲得一用加入含沸石細 顆粒的母溶液。此結果溶液具有19·9質量％的非揮發殘 20 餘物。 (用於加入聚矽氧烷細顆粒之母溶液的製備） 製備實施例10 藉由混合188.4g乙醇、93 44g超純水及8 26§ 25%四 甲基氫氧化銨之溶液在攪拌下加熱至6(rc。在此反應混 57 200844194 合物中於超過6小時逐滴加入一 19.5g甲基三甲氧基石夕 烧及36.43g四乙氧基砍烧混合物。在反應混合物以冰水 冷卻至室溫後，加入2g草酸及2〇Oml PGMEA。此溶劑 藉由旋轉蒸餾器自結果溶液蒸餾出直至殘餘物成為 5 161g。在因此獲得的溶液中加入200g乙基乙酯及l2〇g超純 水。此混合物在一分液漏斗中沖洗’接著靜置。移除因此 分離的水層，同時有機層以120ml超純水沖洗二次。在 加入120ml PGMEA至因此獲得的有機層後，此溶劑藉 由旋轉蒸顧器自結果溶液蒸餾出直至殘餘物成為 10 208g。因此獲得之濃縮溶液做為加入聚矽氧烷細顆粒的 母溶液。此溶液具有21.3質量％的非揮發殘餘物。 製備實施例11 在相似於製備實施例10進行合成作用，除了矽烷原 材料在以超過4小時逐滴加入來取代6小時，藉此可得2 〇 4 g 15濃縮溶液。此結果溶液具有22·9質量％的非揮發殘餘物。
製備實施例1L 在相似於製備實施例10進行合成作用，除了矽烷原 材料在以超過1小時逐滴加入來取代6小時，藉此可得214g 濃縮溶液。此結果溶液具有18·9質量°/。的非揮發殘餘物。 20 製備實施例13_ 製備實施例 在相似於製備實施例10進行合成作用，除了矽烷原 材料在以超過1小時逐滴加入來取代6小時及四甲基氳氧 化銨水溶液的量改為l6.5g ’藉此可得188g濃縮溶液。此 58 200844194 結果溶液具有21.〇〇質量％的非揮發殘餘物。 (多孔膜-形成組成物的製備） 實施例1 藉由加入4.6g之製備實施例！中製備 顆粒的母溶液中而獲得—多孔膜_形成組成物。 實施例2
藉由加入9.2g之製備實施例丨中製備之聚矽氧烷化合 物的母溶液至92g之製備實施例9中合成用於加入含沸石細 10顆粒的母溶液中而獲得一多孔膜-形成組成物。 實施例3 藉由加入13g之製備實施例1中製備之聚矽氧烷化合物 的母/谷液至92g之製備實施例9中合成用於加入含沸石細顆 粒的母溶液中而獲得一多孔膜-形成組成物。 實施例4 藉由加入18g之製備實施例1中製備之聚矽氧烷化合物 的母溶液至92g之製備實施例9中合成用於加入含沸石細顆 粒的母溶液中而獲得一多孔膜-形成組成物。 實施例5 藉由加入8g之製備實施例1中製備之聚矽氧烷化合物 的母溶液至92g之製備實施例1〇中合成用於加入聚矽氧燒 細顆粒的母溶液中而獲得一多孔膜-形成組成物。 實施例6 藉由加入llg之製備實施例1中製備之聚矽氧烷化合物 59 200844194 的母溶液至89g之製備實施例9中合成用於加入聚石夕氧烧 細顆粒的母溶液中而獲得一多孔膜-形成組成物。 實施例7 藉由加入15g之製備實施例1中製備之聚矽氧烷化合物 5 的母溶液至85g之製備實施例12中合成用於加入聚石夕氧烧 細顆粒的母溶液中而獲得一多孔膜-形成組成物。 比較實施例1 藉由加入118g之比較製備實施例1中製備之聚矽氧烷 化合物的母溶液至92g之製備實施例10中合成用於加入聚 10 矽氧燒細顆粒的母溶液中而獲得一比較組成物。 (膜形成） (含沸石組成物） [實施例8至11及比較實施例2至4] 在實施例8至11中，分別使用由實施例1至4獲得之 15 多孔膜-形成組成物。另一方面，在比較實施例2至4中， 分別使用由製備實施例7至9獲得之含沸石細顆粒之母 溶液為膜形成組成物而未加入聚石夕氧烧化合物至其 中。使用一旋塗器”DSPN-60”(商品名；Dainippon Screen 公司的產品）以施用並在12〇°C及230°C加熱。每一組成 20 物以4000 rPm轉速施用至一矽晶圓上並接著於燒結爐 AVF-601”(商品名；DainipponScreen公司的產品）在 120 °C燒結2分鐘、230°C2分鐘，及425°C 1小時，藉可得一約 30nm厚的多孔膜。 (含一氧化石夕細顆粒之組成物） 60 200844194 [實施例I2至Μ及比較實施例5至9] 在實施例12至14中，分別使用由實施例5至7獲得之 多孔膜-形成組成物。另一方面，在比較實施例5至8中， 分別使用由製備實施例10至13獲得之母溶液為膜形成 5 組成物。在比較實施例9中，使用藉由在酸催化劑存在 下以傳統方式的水解及纟侣合反應獲得之比較實施例1的 比較組成物為聚石夕氧烧化合物。組成物施用至一石夕晶 圓上並接著於在120°C加熱2分鐘、230°C2分鐘，及425 °C1小時，藉可得一多孔膜。 0 (物理性質的量測） 每一因此獲得之的介電常數依C_v測量以自動汞探 針使用495_cv系統’’(SSM Japan的產品）而測定。彈性模 數(機械強度）使用一奈米硬度計壓器化也uments 的產品）。 5 + :一膜之介電常數及機械強度的測量結果顯示於 表1中。 61 200844194 [表i]
多孔膜-形成組成物 多孔膜 用於加入石夕-氧化物-細顆粒之母溶液 用於加入聚矽氧烷細 顆粒之母溶液的製備 介電 常數 彈性模 數(GPa) 氧化矽系 細顆粒 母溶液製備 量 (g) 母溶液製備 量(g) 實施例8 沸石細 顆粒 製備實施 例9 92 製備實施例1 4.6 2.33 6.05 實施例9 製備實施 例9 92 9.2 2.45 8.19 實施例 10 製備實施 例9 92 13 2.59 9.87 實施例 11 製備實施 例9 92 18 2.85 11.02 比較實 施例2 製備實施 例7 - - - 2.65 7.88 比較實 施例3 製備實施 例8 - - - 2.49 6.66 比較實 施例4 製備實施 例9 - - - 2.23 4.08 實施例 12 氧化矽 細顆粒 製備實施 例10 92 製備實施例9 8 2.4 7.6 實施例 13 製備實施 例11 92 11 2.48 8.79 實施例 14 製備實施 例12 89 15 2.69 11.53 比較實 施例5 製備實施 例10 - - - 2.17 3.9 比較實 施例6 製備實施 例11 - - - 2.35 5.7 比較實 施例7 製備實施 例12 - - - 2.5 7.23 比較實 施例8 製備實施 例13 - - - 2.82 1L12 比較實 施例9 製備實施 例10 92 比較製備 實施例9 8 2.42 6.3 62 200844194 第3圖顯示在使用藉由加入聚石夕氧烧化合物至每種 含漭石細顆粒而製得組成物形成的多孔膜之介電常數 及機械強度間的關係，其中聚矽氧烷化合物係藉由在酸 催化劑存在下經使用大量過量的水的水解及縮合反應 5而獲得。此關係為一對比於未加入聚矽氧烷化合物獲得 之膜的父易線(於後文描述）。
第4圖顯示在使用藉由加入聚石夕氧烧化合物至每種 含二氧化矽細顆粒而製得組成物形成的多孔膜之介電 常數及機械強度間的關係，其中聚矽氧烷化合物係藉由 10在酸催化劑存在下經使用大量過量的水的水解及縮合 反應而獲彳于，此關係為一對比於未加入聚石夕氧烧化合物 獲得之膜的交易線(於後文描述）。 在第3及4圖中一近似值的曲線係藉由最小平方法取 得。 15 在第3及4圖中’因為下列原因，顯示使用僅含矽-氧化 物系細顆粒之級成物形成的多孔膜之介電常數及機械強度 間交易線。 夕 —；丨私貝·常數絕緣膜中，丹1重需要增加 20 常數，例如，藉由調整包含在組成物 ,、边小以增加孔洞比或使用洞形成劑如 材料—膜相當均勻且由補材料製成，具有骨竿 度降:部強度’故依多孔性的增加而機械強 關係。_^日在料常數及機械強度間具有一交易 Λ 稭由在條件下調整顆粒而形成的多孔 63 200844194 膜=介電f數及機械強具有—交易_，故可僅 孔性而未的改歸料。其顯示即使為 夕 性關係（介雷當數1 π 乍軌圍的綠 U电书數由2.1至2.7間範圍）。本文所 線”一詞意指此一關係。 人易 5為了評估-新材料是否為具有高機械強度之低-介命 質-常f膜，必須發現在相同的介電常數值，該材料的機: 強度是否為高於一傳統材料者。如在第3及4圖中說明，
因此必須確定在在新材料之介電常數及機械強度間的 關係相對交易線存在。 10 如蚋述，第3圖顯示已知材料的交易線（由介電常數 預期之機械強度）。使用僅含沸石矽-氧化物系細顆粒之 組成物形成的膜之介電常數及機械強度作圖。其介電常 數及钱械強度級由改變沸石之表面改質時間而未改變 材料系統控制。另一方面，使用藉由加入聚矽氧烷化合 15物至一種含沸石細之矽-氧化物系細顆粒且同時改變聚 矽氧烷化合物量而製得組成物獲得之膜數據相對交易 線作圖’其中聚石夕氧烧化合物在酸存在下經使用過量的 水以水解矽烷醇以預防膠化作用。因此，每一落於交易 線之上的數據建議與使用僅含沸石矽_氧化物系細顆粒 2〇形成的膜之介電常數及機械強度間的關係比較，本發明 的膜在相同介電常數值具有較高的機械強度及因此具 較優的物理性質。 由第4圖發現僅含聚矽氧烷細顆粒之組成物形成的膜 之介電常數及機械強度介電常數及機械強度可藉由改變 64 200844194 製備細顆粒的條件而未改變材料而調整，其中聚石夕氧燒細 顆粒在驗催化劑以一傳統方式合成，且在介電常數及機 械強度間具有一線性交易線。當一使用大量過量的水及 酸催化劑製得之聚矽氧烷化合物加至聚矽氧烷細顆粒 5時，相似於第3圖，數據落於交易線之上。亦發現在每 • 一介電常數值的機械強度值高於在交易線上特定介電常 ^ 數預期者。 • 當加入一使用酸催化劑以傳統方式製備之聚；g夕氧 烧化合物時（比較實施例9)，機械強度的絕對值增加，但 10介電常數亦成比例增加。此建議機械強度未如期待介電 常數般改良，且比較實施例9之組成物未如本發明之用 於相對介電常數改良機械強度的組成物有效。 實施例15至19 如下文描述，檢驗由各自包含製備實施例2至6之分 15別為不同酸催化劑的聚矽氧烷化合物所獲得之膜是否 • 具有相似於使用製備實施例1的聚矽氧烷化合物之組成 物獲得的膜性能。 • 以相似於實施例12的方法製備組成物，除了改變聚 石夕氧烧化合物的種類。調整每一聚矽氧烷化合物之母溶 2〇液的量，故其乾重可等於用於實施例12之製備實施例1的 χκ矽氧烷化合物。在如實施例12的膜形成後，測量膜的 物理性質。 結果顯示於表2中。 65 200844194 [表2] 實施例12 實施例15 實施例16 實施例17 實施例18 實施例19
用於加入聚石夕氧 烧細顆粒之母溶 液的製備 多孔膜-形成組成物 用於加入矽-氧化物-細顆 ^之母溶液
製備實施 ―例10 __ίΗ 10 92 92 氧化秒細 顆粒 製備實施 例10 製備實施 製備實施 一例10 製備實施 例10 92 92 92 製備實施 例1 製碎施 例2 製備實施 例3 製備實施
製備實施 例6 因此獲待的多孔膜之物理性質與在實施例12獲得的 夕孔膜之物理性質並無太大的不同。因此，確定膜形成 組成物具有騎相似的性能而不受酸麵的改變影響。 【圖式簡單說明】 第1圖為說明本翻半導體裝置之-實例的橫切面圖； 第2圖為分別經由二不同且同時壓抑膠化作用之製 程所獲得之料氧燒化合物的
Si-NMR圖譜； 10 第3圖為藉由改變沸石細顆粒之表面改質作用時間 制之）1¾常數及機械強度的關係圖；及 +第4圖為藉由改變二氧化矽細顆粒之表面改質作用 1而彳工制之介電常數及機械強度的關係圖。 66 200844194 【主要元件符號說明】 金屬互 連體 1···^# 18、2卜 22、23、24 2…接觸層之層間絕緣膜 3、 5、7、9、11、13、15、17… 19…介層窗插塞 互連體層之層間絕緣膜 20···接觸窗插塞 4、 6、8、10、12、14、16". ^ 介層窗層之層間絕緣膜
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Claims (1)

  1. 200844194 十、申請專利範圍： 1· 一種用於形成多孔膜的組成物，其包含··矽_氧化物 系（silicon-oxide-based)細顆粒；及一能夠在膜形成期 間經由縮合而在細顆粒間形成矽-氧-矽鍵結的聚石夕氣 5 燒化合物，藉此可改良一由石夕-氧化物系細顆粒形成 之骨架的強度。 2·如申請專利範圍第1項所述之用於形成多孔膜的組成 物’其中該聚矽氧烷化合物係藉由在酸催化劑存在下 可水解矽烷化合物的水解及縮合反應而獲得，該可 10 水解矽烷化合物含有至少一由下化學式（1)表示之四 官能烷氧基矽烷化合物： Si_4 (1) (其中’R1可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈 或支鏈Cw烧基）及/或至少一由下化學式（2)表示之烧 15 氧基矽烷化合物： R2nSi(OR3)4.n (2) (其中，當具有多個R2時，R2可為相同或不同且各 自獨立代表一直鏈或支鏈Cy烷基；當具有多個R3 時，R3可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈或支鏈 20 Ci·4烧基，及η為1至3的整數），同時水解在反應期間 產生的矽烷醇基以控制縮合反應及壓抑膠化作用。 3 ·如申明專利範圍弟2項所述之用於形成多孔膜的組成 物，其中該水解及縮合反應係被進行以致該水解反應 混合物恒常含有超過已注入之可水解矽烷化合物的 200844194 可水解基之莫耳當量之水量。 4·如申請專利範圍第2項所述之用於形成多孔膜的組成 物’其中進行水解及縮合反應同時壓抑膠化作用所需 水係每莫耳可水解矽烷化合物之可水解基為至少5 莫耳水。 5·如申明專利範圍第丨項所述之用於形成多孔膜的組成
    物’其中该聚矽氧烷化合物具有由以下式（卩丨至卩斗及 T1至T3)表示之單元： [化學式I] H°：srOH 、0H Ql R、e.,〇H Si. >rOH Si/> bH Q2 Si、 〇XR s，° OH Ψ 〇 Si-O-SHOH 0 1 Si Q3 Ψ o Si-R i 7 Si Si su〇S io si Q4 TI T2 T3 一（其中/Q表示一由四價可水解矽烷衍生之單元，τ 表、由-饧可水解矽烷衍生之單元，及在Τ1至Τ3中的 、由反表不之鍵為一在矽及碳取代基間的鍵）及 假設在聚石夕氧垸化合 口物中忒等早το的莫耳比例分別 69 200844194 為q卜q2、q3、q4、d、t2及t3，其滿足下列關係式（1) 及(2) ·· (ql+q2+tl)/(ql+q2+q3-fq4+tl4-t2+t3) < 0.2 (1)及 (q3+t2)/(ql+q2+q3+q4+tl+t2+t3) 2 0·4 (2) 〇 5 6·如申請專利範圍第1項所述之用於形成多孔膜的組成 物，其中該矽-氧化物系細顆粒為包含沸石種晶之沸 石細顆粒。 7·如申請專利範圍第6項所述之用於形成多孔膜的組成 物，其中該沸石細顆粒係藉以可水解矽烷為可交聯側鏈 10 而改質之沸石而獲得。 8.如申請專利範圍第1項所述之用於形成多孔膜的組成 物，其中該石夕-氧化物系細顆粒為二氧化石夕細顆粒。 9·如申請專利範圍第8項所述之用於形成多孔膜的組成 物，其中該二氧化石夕細顆粒係藉由在驗催化劑存在下 15 可水解矽烷化合物的水解及縮合反應而獲得，該可 水解石夕烧化合物含有至少一由下化學式（3)表示之四 官能烧氧基砍烧化合物： Si(OR4)4 (3) (其中，R4可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈 20 或支鏈Cm烷基）及至少一由下化學式（4)表示之烷氧 基發烧化合物： R5mSi(ORVm (4) (其中，當具有多個R6時，R6可為相同或不同且各 自獨立代表一直鏈或支鏈Cw烷基；當具有多個R5 70 200844194 時’ R5可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈或支鏈 Ci-8烧基，及m為1至3的整數）。 10·如申請專利範圍第9項所述之用於形成多孔膜的組成 物，其中該鹼催化劑為一混合物，其具有選自於由鹼金 5 屬氫氧化物及由下化學式（5)表示之四級銨氫氧化物 所組成之組群中的至少一親水鹼性催化劑： (rWoh· (5) (其中’R可為相同或不同且各自獨立代表一碳、 51及氧組成的有機基且陽離子部份[(R7)4N+]滿足下列 1〇 關係式(6): (N+0)/(N+0+C)>1/5 (6) 其中，N、0及C分別為包含於陽離子部份的氮、 氧及碳原子數），及至少一選自不滿足前述之關係式 (6)之四級銨氫氧化物之疏水鹼性催化劑。 15 11·如申請專利範圍第9項所述之用於形成多孔膜的組成 物，其中作為至少部份之鹼催化劑，係使用已先製備 之由下化學式⑺表示之矽倍半氧烷籠狀化合物鹽： (Si〇L5-0)Pp-(X% ⑺ (其中，X表示NR1%，R13可為相同或不同且各自 20 獨立代表一直鍵或支鍵Ci·4烧基及ρ為6至24之整數）。 12 · —種多孔版’其係精由將如申清專利範圍第1項所述 之多孔膜形成組成物施用至基材上並燒結該經施用的 基材而獲得。 13· —種形成多孔含梦膜的方法，其包含將如申請專利 71 200844194 範圍第1頊所述之多孔膜形成組成物施用至基材上以 形成一薄膜並燒結該薄膜。 U·—種半導體裝置，其包含一多孔含矽膜為低介電質常 數絕緣腺’其係藉由將如申請專利範圍第1項所述之 組成物施用至基材上並接著燒結該經施用的基材而释 得。 15. —種製造半導體裝置的方法，其包含步驟： 將如申請專利範圍第1項所述之組成物施用至 具有金屬互連體層之基材上以形成一薄膜；及 10 15 20 燒結6亥薄膜以形成一多孔膜。 16. 一種製備用於形成多孔膜的組成物之方法，其包含步 驟： 獲得一聚矽氧烷化合物，其係藉由在酸催化劑存 在下進行可水解矽烷化合物的水解及縮合反應，該 可水解矽烷化合物含有至少一由下化學式（1)表示之 四官能烧氧基秒烧化合物： SKOR^ (1) (其中’R可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈 或支鏈Cw烷基）及/或至少一由下化學式（2)表示之燒 氧基秒燒化合物： R2nSi(ORVn (2) (其中，當具有多個R2時，R2可為相同或不同且各 自獨立代表一直鏈或支鏈Cug烷基；當具有多個R3 時’ R3可為相同或不同且各自獨立代表一直鏈或支鏈 72 200844194
    Cw烷基，及η為1至3的整數)於一含有水量足以水解 在反應期間產生之矽烷醇基之反應混合物中以控制 縮合反應及壓抑膠化作用； 在有機溶劑中萃取聚矽氧烷化合物；及 5 混合因此萃取之聚矽氧烷化合物及矽-氧化物系 細顆粒。 73
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