TW200529263A - Multilayer ceramic electronic component and method of manufacturing for the same - Google Patents
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 68
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 98
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 98
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 99
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical group [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 10
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 8
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 7
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 6
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000011160 research Methods 0.000 claims description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 3
- 238000005065 mining Methods 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims 30
- 241001629697 Panicum turgidum Species 0.000 claims 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 15
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 8
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 7
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 7
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 7
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 239000000047 product Substances 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000009545 invasion Effects 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 ceramics Chemical class 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 206010002091 Anaesthesia Diseases 0.000 description 1
- 241000406668 Loxodonta cyclotis Species 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000283973 Oryctolagus cuniculus Species 0.000 description 1
- 241000233805 Phoenix Species 0.000 description 1
- 241001674048 Phthiraptera Species 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 238000001949 anaesthesia Methods 0.000 description 1
- 230000037005 anaesthesia Effects 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000004556 brain Anatomy 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000002309 gasification Methods 0.000 description 1
- 239000000156 glass melt Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000002893 slag Substances 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/252—Terminals the terminals being coated on the capacitive element
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
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Description
200529263 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於例如積層電容器等之積層型陶究電子零 件及其製造方法,更詳細言之,係關於外部電極具有將電 鑛層積層於燒結電極層表面的構造之積層型陶竞電子跫件 及其製造方法。 【先前技術】
以往,於積層陶瓷電容器等之積層型陶瓷電子零件 中,於藉由導電糊之熱處理而形成之燒結電極層表面,積 層著複數的鍍層之構造是周知者。例如,於下述之專利文 獻1之習知技術中,於有特定程度的厚度之燒結電極層的 表面,形成例如由Ni所構成的中間電鍍層,然後再於中間 2鍍層上形成由Sn或Sn合金所構成的鍍層。其理由在於, 藉由Sn或Sn合金所構成的鍍層於提高焊接性之同時,藉 由Ni所構成的中間電錢層以防止燒結電極層之氧化與丈; 、;、、; 於士成上述中間電鍍層及外側之Sn鍍層之時 鍵液若侵入至燒处雷代& 凡…電極層内’會導致積層陶瓷電容器之 種特性之降低是周知者。
尤其’於内部雷無M 桎間之陶瓷層愈做愈薄且陶瓷層的: 曰数曰皿增多的高雷旦 胺接如▲ 谷®積層陶瓷電容器中,於形成Sn : Μ後,在向溫負荷續 向。撼广甘 ° ·’、-中有容易發生可靠性降低問題的‘ 因由Ni所構成之中間電鍍層並未 向據#其理由在於, 燒結電極層的表面充分被覆之故。亦即,於:二的間 5 200529263 進行鍵Sn時之鑛液會將燒結電極之玻璃等的氧化物溶解而 侵入燒結電極層内,並到達陶曼本體之故,藉此,會發生 絕緣電阻降低等之情形。 另方面為了改善此種外部電極中錄鑛層對燒結電 極層表面的被覆性以提高焊接性,曾有各種之嘗試。例如, 方、下述之專彳]文獻2中,藉由對燒結電極層表面進行红桶 (b脈υ研磨,以防止構成燒結電極層之導電糊中之玻璃溶 塊(gl,脑)所產生的微粉末之附著於燒結電極層表面。因 而,由於燒結電極層表面的平滑性之提高,可提高形成於 外表面之中間電艘層之被覆性。 又作為其他的方法,亦曾有提案揭示:將構成燒結 電極層之導電糊中所含有之玻璃炼塊變更為導電性玻璃溶 塊的方法再者,亦有提案揭示:使中間電鍍層之鎳鍍層 加厚的方法。 [專利文獻1]日本專利特開2002_75779號公報 [專利文獻2]日本專利特開2〇〇3·丨i 78〇4號公報 【發明内容】 然而,即使如專利文豸2戶斤記載般地進行缸桶處理以 防止源自玻㈣塊的㈣末之附著,並使燒結電極層表面 平滑化,於在燒結電極層表面依序形成Ni鍍膜及Sn鍍膜 之場合,仍會由於鍍如時之鍍液的侵入,而有絕緣電阻降 低之傾向。據信其理由在於:即使進行缸桶研磨使燒結電 極層表面平滑化’冑出於燒結電極層表面之玻璃炼塊等之 氧化物依然存在著,鍍液會將此氧化物溶解,玻璃熔塊自 200529263 笔極層表面除去之部分 針孔侵入之故。4生針孔,於鑛Sn時鑛液會經該 ^另—方面’於使用導電性玻璃料的方法中,雖露出 於導電性玻璃熔塊的外部 各出 鉍金屬相比其導電性較彳 、唯 #x低,而未旎附者充分厚度之Ni铲 無,故於鍵Sn時因妒、为+冷 鍛 TLJ鍍液之侵入,於進行高溫負荷 絕緣電阻有降低之傾向。 -t之 再者,於使Ni鑛膜作成為較厚的方法,成本會择古, 且即使單純地使Ni鍍膜作忐盔仏后^ 曰阿 負何试驗之絕緣電阻之降低。 门凰 本^明之目的’乃有鑑於上述習知技術之現 一種積層型陶瓷電子零件及盆 棱供 件,係具有在燒結電極面该積層型陶竞元 間電鍍層之外表面形. ^ 上於中 極々κ主 有鍍層,猎由中間電鍍層將燒处電 極層之外表面充分地被 70…電 ^ 因而’當形成在中間雷供思 外側之鍍層的鍍敷時, 1电鍍層 性的降低不易發生,而2 入 絕緣電阻等特 勿^生而具備優異的可靠性。 用以解決上述課題之手段為·· 本發明之積層型陶瓷 極之積層型陶究元件 $ ,U··具有内部電 筮1 - 形成於積層型陶瓷元件的兩浐而夕 弟】、第2外部電H 件的兩知面之 元件声而B人A 卩電極含有··形成於積層陶杳 兀件表面且含有氧化物之燒積層陶是 層表面之中間雷抑 # ^枝層七成於该燒結電極 並於燒結電極層的表面之 ^鑛層表面之鑛層, W分存在有該氧化物者;其特 7 200529263 徵在於,在露出於燒結電極声 声而都八六+ 9表面之該氧化物之至少露φ 表面口P刀,存在有金屬,其 路出 電鍍層被覆之核。 〜、:〜露出表面部分以中間 本杂明之積層型陶咨雪 ^ ^ 電子零件之特定形態中,存 该乳化物之露出表面部分與該 仔在於 為硬度較今氡1化4b少 ^ s “鍍層之間之該金屬, 沒孕乂 4虱化物之硬度低之金屬。 本發明之積層型陶莞電 ^ - . . _ 7什t特疋形B中,存右 忒氧化物之露出表面部分與誃 在於 Λ M t Η # JS " Β電鍍層之間之該金屬 為I中間電鑛層之構成金屬之離子化傾向小之金屬。 Γ者為,上述中間電鎖層為心鑛層所形成。 :發明之積層型陶竟電子零件之又一特定形態 在於该氧化物之露出表面部分盘 存 屬,為Snun合金。H中間電鑛層之間之該金 本發明之積層型陶竟電子零件之製造方法,所製、生 、層型陶究電子零件係具備:具有自端面拉出之内部:之 :广牛及嫩積層型陶究元件的兩 h外部電極者;其特徵在於具備下述諸步驟:之 使含有氧化物之導電糊附著於積層型陶究元件上 2處理以形成燒結電極層之步驟;在露出於燒結電極2 勺表面之-部分上之氧化物的露出表面部分,附著上金^ 之步驟’该金屬作為使氧化物之該露出表面 間電鑛層之核;在氧化物之露出表面部分之含有:::屬上二 面之燒結電極表面上,藉由電鍍以形成中間電鍍層之步 驟,在中間電鍍層之外表面形成鑛層之步驟。 ' 8 200529263 本勒明之裝造方法之特定形態,於在露出於燒結電極 層的表面-部分上之氧化物的露出表面部分附著金屬⑽為 使氧化物之該露出表面部分被覆上中間電鐘層之核)之步驟 中’自以該金屬(作為將氧化物之露出表面部分以中間電錢 層被覆之核)被覆之介質’使該金屬移動至氧化物之露出: 面部分而附著於氧化物露出表面部分。 & 本發明之製造方法之又一特定形態,在露出於燒結電 極層的表面-部分上之氧化物的露出表面部分附著上金屬 (作為使氧化物之該露出表面部分被覆上中間電鑛層之核) =步驟中,將至少以較該氧化物硬度低的該金屬被覆之介 質、與形成有燒結電極層之積層㈣£元件投入容哭中, 藉由攪拌,使該介質表面之該金屬附著於氧化物表;。 本發明之製造方法之另一特定形態,在露出於燒結電 極層的表面一部分上之氧化物的露出表面部分附著上金屬 (作為使氧化物之該露出表面部分被覆上中間電鑛層之核) 之步驟中,將以較中間電鍍層之構成金屬之離子化傾向更 j的圭屬被覆之介質、與形成有燒結電極層之積層型陶瓷 兀件投入電鍍裝置中,使介質表面的金屬溶解析出而附著 於该氧化物之露出表面部分。 於本發明之製造方法中,較佳者為,中間電鐘層係由 Νι鍍層所形成。 本七明之製造方法之另一特定形態中,附著於氧化物 之露出表面部分之該金屬為〜或sn合金。 9 -200529263 (發明之效果) 所含fill?型陶究電子零件中,在燒結電極層中 =在有::路出於燒結電極層的表面的露出表面部 之核):為使該露出表面部分以中間電鍍層被覆 之核)。亦即,於燒結電極層表面之露出氧化物之 部分係以該全屬祐增輩 表面 屬…::: 由於在外表面係具備該金 一虱化物路出之部分以外的導電性部分,故於 電鍍層藉由電鍍來形成之場 、曰 層的外# & 〇 lσ中間電錢層可將燒結電極 電錢芦^外,、只土以充分的厚度被覆。因此,即使在中間 之^…側更進一步形成錢層,鑛液之往燒結電極層内 阻^夂=以抑制’而不易發生高溫負荷試驗時之絕緣電 牛低荨,而可提供可靠性優異且 型陶瓷電子零件。 …生靶之積層 於該金屬為較氧化物之硬度低的金屬之場合 ^可使該金屬容易地物理性地附著於氧化物露出表面部 的全==為較中間電鍍層之構成金屬之離子化傾向小 2屬^合’猎由於中間電鑛層之形成前施行弱電解處 了使錢屬析出並附著到氧化物之露出表面部分。因 而’可用中間電鑛層之# # & 屬形成所必須之鍍敷裝置進行使該金 屬附者於氧化物之露出表面部分的步驟。 居之丈鑛層為錄錢層之場合’即使形成作為外側鍍 二干接性優異之由Sn或Sn合金所構成的鍍層,由於婷 -電極層以錄錢層被覆著,故燒結電極層之氧化不易發二 10 200529263 於存在於該氧化物之露出表面部分與該中間電鑛層之 間之該金屬為Sn或Sn合金 心场合’由於Sn較Ni離子化 傾向小,故若將以Sn被覆之介 "貝或由Sn所構成之介質投 入鍍冷中,只要於申間電鑛 g之形成則先施行弱電解處 理,可使Sn析出附著於氧化物之露出表面部分。 於本發明之積層型陶究電子零件之製造方法中,於中 間電鍍層之形成時,在露出於燒纟士電極> &矣&么 氧化物之露出表面部分,附著上二電極層的表面一部分的 附者上金屬(作為使氧化物之該露 出表面。Ρ为被覆上中間電 著後再形成中間電鍍層之場人=於使該金屬附 燒結電極層之外表二而Γ層可確實地被覆 卜“目而’可提供本發明之積層型陶究 々件 亦即南溫負荷試輪^έ刀綠rr 之、%緣電阻之降低不易發生 且了罪性k異之積層型陶瓷電子零件。 本發明之製造方法中,告 驟,金屬附著步 出…" 使該金屬露出於氧化物之露 出表面部分而附菩夕_^人 — 成二夕接稭對該介質與中間電鍍層形 成刖之積層型陶瓷开灶、仓> Μ 1 ^ 到氧化物命中矣可使該金屬容易地附著 J ^化物路出表面部分0 有燒= : = =低的金屬被覆之介f、與形成 場合,由於介質:=!入容器中,進行攪拌之 ::=Γ實地附著到氧化物之露出表面部:在 化傾向更小的全屬ΪΓ中間電鑛層之構成金屬之離子 ”屬破復之介質、與形成有燒結電極層之積 11 200529263 層型陶究元件,欲藉由使介質表面的金屬溶解析出並附著 於該氧化物露出表面部分的場合,可用電鑛裝置使該金屬 附著到氧化物之露出表面部分。因而,可直接使用電鐘裝 置料次-步驟之中間電錢層之形成。故不須另外準備製 造裝置’依據本發明可有效率地製造可靠性優異的積層型 陶瓷電子零件。 曰 於中間電鍍層為Ni鍍層之場合,#由該中間電鍍層被 馨覆燒結電,層之場合’可確實地防止燒結電極層之氧化曰。 於附著於氧化物的露出表面部分之該金屬為如或如 場合’由於SnfeNl離子化傾向小,故若將以如被 復之"質或由Sn所構成之介質投入鍍浴中,只要 前先施行弱電解處理,…析出附著於:化 初之路出表面部分。 【實施方式】 以下,藉由一邊參照圖式下就本發明之具體的 態及實祐你丨祖4* A 八粒的貫^形 _ 只知例對本發明更清楚地加以說明。 固1 (a)及(b)為本發明之一實施形能之接麻 零件之一" 〈貫把开〜之積層型陶瓷電子 灸則視截面圖、及外部電極之重要 局部锈鉬+二 丨刀之放大顯示之 边視之則視截面圖。本實施形態之積層型陥$ 件為積層陶:光電容器1。積層陶究電容”丨陶免電子零 個内部雷搞,一積層闹无電谷益1 ’係具有將複數 ° 、3隔著陶瓷層重疊配置而成之卩自& ^ 4(積層型陶瓷亓彳^ 成之陶瓷燒結體 結體4的一大夕_ 係延伸至陶瓷燒 万之鳊面4a。又,複數的内部雷 陶瓷燒結體t ^丨電極3係延伸至 的另一方之端面m、第2外部電極5、 12 200529263 6係以覆蓋端面4a、4b之方式形成。第卜第2外部電極5、 6,分別具有形成於陶瓷燒結體4之端面4a、4b(亦即陶瓷 70件表面)之燒結電極層5a、6a。燒結電極層5a、6a係藉由 以έ有玻璃炫塊等之氧化物之導電糊進行熱處理而形成。 於燒結電極層5a、6a之表面,藉由電鍍法形成有中間 電鍍敷層5b、6b。於本實施形態中,中間電鍍層讣、讣係 藉由進行Ni電鍍而形成。 於中間電鍍層5b、讣之外側表面形成有鍍層5c、6c。 鍍層5c、6c,於本實施形態中,係藉由進行Sll電鍍而形成。 由Sn所構成之鍍層5c、6c,係以提高焊接性為目的而設置 者。又,中間電鍍層5b、6b,係由Ni所構成,係設置用以 防止内側之燒結電極層5a、6a之氧化並於鍍Sn時防止鍍液 之侵入到燒結電極層5a、6a者。 然而,此種外部電極中,於藉由電鍍來形成外側之由
Sn構成之鍍層時,中間電鍍層對燒結電極層之被覆不夠充 _ 分是問題點所在。 相對於此’於本實施形態之積層陶曼電容器1中,為 解決此問題,如圖1(b)中將外部電極5放大顯示般,係附 著有金屬8,以覆蓋燒結電極層5a中的氧化物7露出於燒 結電極層5a表面之露出表面部分7a。 燒結電極層5a,係藉由對由Si〇2等之氧化物所構成的 坡璃熔塊、與含有Ag及/或Cu等之導電性粉末之導電糊進 仃熱處理而形成。在如此形成的燒結電極層5a上含有氧化 物7。且若干的氧化物粒子係如圖丨所示般,於燒結電極 13 * 200529263 層5a之外表面露出至少一部分而分散著。上述氧化物7, 知由Si〇2等之絕緣性材料所構成。因而,於燒結電極層5a 的外表面,由於該氧化物7之露出表面部分&之導電性低, 故燒結電極層5a的-部分為絕緣性或導電性低的狀態。 因而’於上述燒結電極層5a上即使進行Ni電鍍形成中 :_層5b,於上述氧化物7的露出表面部分&亦難以附 著上Ni鍍膜。
然而,於本實施形態之積層陶瓷電容器丨中,上述金 屬8係以被覆著氧化物7的露出表面部分7a之—部分的方 式而附著。因而,於進行犯電鍍時會以金屬8為核而析出 Ν':藉由電鍍,可< Ni _實地附著而被覆燒結電極層& 之導電性表面部分、與氧化物7的露出表面部分7a上之金 屬8,故可形成被覆性良好的中間電鍍層5b。 玉 因而,即使藉由電鑛等之濕式鑛敷法來形成用以提言 焊接性之由Sn鑛膜所構成的錄層5e,由於藉由中間電^ 5b將燒結電極層化的外表面確實地被覆著,故鍍液之侵二 到燒結電極層5a不易發生。因而,不易發生於高溫負二 :之絕緣電阻之降低等’而可提供可靠性優異之:是 電容器1。 文 又,作為燒結電極層5a、6a,只要對含有適當的導 性粉末、與絕緣性氧化物粒子之導電性糊進行熱處理東 成者皆可’沒有特別的限定。又,有關上述金屬8 : 可被覆著氧化物7之露出表面部分73而附著皆可,並= 別限定。 “、、特 14 200529263 ::佳者為’金屬8係由較用以構成中間電鍍層%之金 子化傾向更小的金屬所構成。例如,於中間電鑛層 ,、,、由广所構成的場合,可列舉:Sn、Cu、Ag、Au、Pt 或以此等作為主成分之合金。 八屬Γ由用1中間電錢層之構成金屬之離子化傾向更小的 :為上述金屬8’於中間電鍍層之進行電鍍前,藉由將 以上述金屬8所被覆之介暫十θ ;ί貝或由该金屬8所構成之介質等 浴中進行較電錢更弱之電解處理,可使存在於錢 :之上述金屬8之金屬離子析出,藉此可在氧化物之露 2面部分附著上金屬8。因而,可直接利用中間電鑛層用 的讀裝置使金屬8附著於氧化物7之露出表面部分^ 如上述般’只要使鍍浴中存在有構成該金屬8之金屬離子, 僅須在進行中間電錄之前施行弱電解處理,即可使該金屬 析出並附著於氧化物之露出表面部分乃。 、’ 又,較佳者為,上述金屬8係由較氧化物7硬度低的 金屬所構成。藉由使金屬8之硬度為較氧化物7低,例如, 藉由使以金屬8被覆之介質、與形成有燒結電極層5a、6a 之積層_容器i藉紅桶研磨等進行授拌,可對金屬8 加以切削,而可在燒結電極層5a的表面之氧化物了之露出 表面部分7a上物理性地附著上金屬8。又,於鍍敷褒置中, 同樣地’藉由在施行電解處理前進行授拌,可使介質表面 之金屬物理性地附著在燒結電極層表面之氧化物表面。 又’有關構成中間電鍍層5b、6b之金屬材料,並益特 別限定,於本發明中,為防止燒結電極層5a、6^氧化並 15 * 200529263 t貝地防止自外側之鐘液的侵入,以用犯為佳。 作為上述金屬8,可舉出較Ni之離子化傾向小的金屬 之sn、Cu、Ag、Au、Pb等之金屬或合金。於如此之較構 成令間電鑛層5b、6b之金屬之離子化傾向小的金屬或合金 的場合,於形成中間電鍍層5b、6b之時,只要於形成中間 電鍍層之前施行弱電解處理’鍍浴中之離子化傾向較小的 ^屬會較形成中間電鍍層之金屬先析出,而可附著於燒結 屯極層之一部分及氧化物之露出表面。 又,作為上述金屬8,可舉出較氧化物硬度低的金屬之 ο Γ1 N On a ▲ 七 Ag、如、211、則、抑等之金屬或合金。於如此之 二構成中間電鐘層“之金屬之硬度低的金屬 之:,於缸桶研磨或鍍敷前之攪拌時,於形成中間電鍍層 藉由玻璃料等氧化物之切削,可附著於氧化物之 又, 為較昂責 Sn 或 Sn
於上述金屬中,由於Cu易於氧化,而Ag、Au等 ,故作為較Ni離子化傾向小且硬度低的金屬,以 合金為佳。 之製造方法的具體例 其次’就上述積層陶瓷電容器 力口以說明。 C層陶究電容器丨之時,可依循公知的方法, 結體4、:I極2、3之陶竟燒結體4。然後’於陶竞賴 電極屉“而面4a、4b塗佈導電糊,#由熱處理可形成燒詞 噌 5a、6a 〇 氧化物 於繞結電極層5a、6a中含有上述氧化物 16 • 200529263 之一部分係露出於焯0士 在於圖w所示之逐層5a、6a^外表面。亦即,存 路出表面部分7a。 接著,以對形成有焯处 哭1 AA y班 百几、、、口電極層5a、6a之積声陶穿雷容 裔1的位置之氧化物 《積層陶是“ 以被覆之方式,使全屈s表面a 7a的至少—部分加 物7之露出夺而屬附著。欲使此金屬8附著至氧化 又路出表面部分 屬材料所例如,可將以與金屬8相同之金 屬材科所構成之介質或以盥 狀鋼球等之介質、盘穑展^屬8相同之材料所被覆之球 一積層陶瓷電容器1投入至拉 由攪拌而達成。又,亦7收… 奴八至今裔中,耩 入至缸心 ,、σ :上述介質與積層陶瓷電容器1投 入至缸桶鍍敷裝置之缸桶内, 理,可使金^8 a * ^又知行弱電解處 紅桶鍍敷裝置,且“ 出表面部分7a。於用 使金屬8附著並不須新的裝置。又,於使金屬8附著後, 可立即用該紅桶進行燒結電極層5a、6a 層陶竟電容器丨之生產性。 了撫冋積 、當然’使金屬8附著於氧化物7之露出表面部分^的 非限定於此等方法’亦可使用使金屬8熱熔噴鍍之 其次,就第1之實驗例作說明。 用長2.0mm X寬^讓x高1>2_的陶曼燒結體 4,製作成靜電容量為l〇#F、額定電壓為6·3ν、且、、w产特 性為Β特性之規格的積層陶瓷電容器。 準備由BaTi〇3系陶瓷所構成之陶瓷燒結體4,其為積 層有300層内部電極之上述尺寸的陶曼燒結體4,塗佈:含 17 200529263 4畚末(Cu)與氧化物之蝴梦酸玻璃的導電糊,藉由施 以熱處理’形成燒4士雷枚成 风70、、、σ電極層5a、6a。燒結電極層5a、6a於 端面4a、4b上之屋庠盔 予度為50/z m。又,上述氧化物之粒徑為 2 〜3 // m 〇 、對如上述般製得之燒結電極層5a、6a的表面藉由掃描 式電子顯微鏡觀察之下’可辨認出局部地有氧化物粒子露 出。 :、、、:後將开y成有上述燒結電極層5 a、6a之5萬個晶片、 與下述之第1介質、第2介質或第3介質2〇萬個投入到缸 桶中,進行由Ni所構成的中間電鍍層之形成。 又第1 ;丨貝〜第3介質之詳細情形係如下述: 弟1介質…直控1 ·6ηπη之鋼球 第2介質…直徑le6mm之鋼球,且於表面鍍敷有i〇# m厚度之Sn膜 第3介質…由直徑1 jnini之sn所構成之球 當然地,於將晶片與介質投入到缸桶中後以5〜3〇卬仿 的旋轉速度使缸桶在水中攪拌30分鐘而施行金屬附著處理 (作為鍍敷之前處理)之後,將該缸桶浸潰到鎳鍍浴中,通以 30A的電流,進行60分鐘的Ni之電鍍。又,如下述表1 所示般,於未施行上述鍍敷前處理之金屬附著處理之下進 行中間電鍍層之形成,以其作為比較例。 於如所示般地形成中間電鍍層後,通以15A的電流進 行60分鐘的Sn電鍍,形成鍍層&、6c。 如下述表1所示般,將用以使上述金屬8附著的金屬 18 200529263 著处之紅桶之5疋轉速度及旋轉時間作各種改變,製得 口種積層陶瓷電容器。對如此製得之各積層陶瓷電容器, 依下述要領進行高溫負荷試驗。 高溫負荷試驗…於105t之溫度,以直流電1〇ν的電壓 士積層陶究電谷器1通電iOOO小時。經過1000小時後之 絕緣電阻下降達100ΜΩ者,係視作不&品。又,初期絕緣 電阻之設計值為1000ΜΩ。 上述積層陶瓷電容器每100個中的高溫負荷試驗之不 良比例示如表1。
19 200529263 ^ 可知··未施行作 處理之比梦、如4 一八μ w处工王歹鄉之金屬附著 乂 ·,/、咼溫負荷試驗之不良數的 於用第1介暂f十一 ϋ列甚问。又, 全屬附著' ’、「絲以麵之鋼球)的場合,可能因未有 又、乳化物表面之故’高溫負荷試驗之不良甚多。 的尸入:.相對於此,於用被覆著Sn的鋼球之第2介質 琢口,猎由使缸桶之旋轉數及旋轉時 :r::驗之不良數的發生成為心::可 n所構成之第3介質的場合, 旋轉數及旋轉時門#八士女 要使缸桶之 數的…Γ 得到高溫負荷試驗之不良 之第;入所',、、0之結果。據信其理由在於,於用被覆著Sn '貝、或由Sn所構成之第3介質的場合,於燒結電 極層5a、6a的表面之露出氧化物7之露出表面部分^ 由Sn之附著而確實地被覆著Sn,_,構成中間電❼二 鎳鍍膜亦確實地附著*兮氧/札 ,又曰之 ^八^ 物之露出表面部分以所附 屬8上’而可形成被覆性良好的中間電鑛層5b、6b 之故。 β尤其,由表1可得知:於施行第1介質或第3介質的 場合’於虹桶之旋轉速度(rpm)與叙桶之旋轉時間(分)的乘 積為15G以上的場合,皆可得到高溫貞荷試驗之*良數為〇 之、。果因而,以將缸桶之旋轉速度(rpm)與旋轉時間(分) 的乘積定為150以上為佳。 圖2為未施行上述前處理步驟之比較例】中,形成作 為中間電鑛層之錄鍍膜後的電極表面之掃描式電子顯微鏡 才目片;圖3為用第3介質以5rpm χ %分鐘的條件施行前 20 • 200529263 處理後,對形成作為中間電錢声 艰層之Nl鍍膜的場合之中間電 錄層表面之掃描式電子顯料於丨 , 电于』U鏡相片。由圖2與圖3比較可 知·於表示Νι鍍膜之白色的邱 ,, 卩分中’可看到甚多的據認係 玻璃炼塊的黑色部分,相對 η 才目對於此,於® 3巾,源自如此之 玻螭熔塊的黑色部分則幾乎不存在。 +因而,可知:藉由施行上述前處理步驟,可於將燒結 2亟層確貫地被覆之狀態下形成由W所構成的中間電鑛 層。 其次’就第2實驗例加以說明。 準備妥與第!實驗例中所準備之相同的陶£燒結體。 將此陶瓷燒結體5萬個盥直泸】 所 ^ 一置仫h6mm之由鋼球所構成之介 貝20萬個起投入缸桶(旋轉速度 成由川所構成之中間電鑛層之前,於要鑛敷之前,於j 使紅桶旋轉下在浸潰於Νι浴中的狀態下,通以n 9A或12A的電流的電流1分、3分、5分或7分施行前處 、,則處理,為通以較Ni電鍍為弱的電流以較短的時間 進行之弱電解處理,據信藉此可使由介質溶解到鍍浴中: Sn成分析出到燒結電極層表面。 接著繼上述前處理之後,使通電的電流之強度定 30A,i甬 φ μ 八 ^ k兔6〇刀鈿,形成由Ni所構成的中間電鍍層,接著 字缸桶/又/貝到Sn鍍浴中,以〗5 A的電流通電分鐘, 形成Sn鍍膜。 對如此得到的各積層陶瓷電容器,進行與第1實 ,、阿’凰負荷試驗’求出每100個積層陶瓷電容器之 21 -200529263 通 良數。將結果示如下述之表2。\,表2之電流值,係於形 成恥鍍膜之前所施行的弱電解處理時的通電電流大小, 電時間為該弱電解處理時之通電時^。 弱電^ 摔處理{丨^ ^ 電流値 (A) 通電時間 (分) 高溫負荷不良數 (個/100個) 〇 - 12 3 1 8 3 3 5 3 5 〇 3 7 0 6 1 一 3 6 3^^ 2 6 5 0 6 7 0 9 1 5 9 3 3 9 5 4 9 7 2 12 1 8 12 ------- __3__^ — 7 5 12 17 η 由表2可传知·與未施行弱電解處理的場合(亦即表2 卢電流值為0的場合)之習知例相比,藉由施行前述弱電解 7 ’所得之積層㈣電容器之可靠性得以提高。尤其, 3。電解處理¥以6A以下(亦即形成錄鑛膜時之電流值的 /以下^弱條件下施行弱電解的場合,高溫負荷試驗之不 又數顯著地減少,效果甚大。 如上述般,浸潰到鎳鍍浴,藉由以弱電流進行比較的 22 ^ 200529263 短時間通電之弱電解處理而 ^、 _. 徒汁局溫負荷可靠性者,據 化其理由在於··介質中之s m 、 成为藉由雙極(bipolar)現象溶 解,析出至燒結電極層表面 J兄象岭 分之故。由實驗…得知而:者上=:的露出表面部 、# 於上述虱化物之露出表面部 分附著以金屬的方法,亦可葬 』错由施行弱電解處理達成。 又,於施行上述弱電解處理 了稭由Sn離子與Ni離 子的離子化傾向的差而進行化 、 们析出。因而,亦可折 出至非導電性的玻璃熔塊(氧化 _ 、、 化物)表面,確實地附著於非導 電性或導電性低的氧化物之露出 、 衣® 口丨为。因而,於隨後 進行之Ni電鍍時,可在該析出 ^ ^表面連績且緻密地成 膜出錄鍍膜。因而,可有效地提高由Ni所構成的中間電鍍 層之被覆性’可確實地抑制其後進行之如鍍敷時之鑛液侵 =到内部的情形。又’於上述弱電解處理時之通電的電流 愈大會使得效果較小,其原因為在Sn離子析出之前犯會 優先地析出之故。 曰 於上述第1、第2實驗例中,係就積層陶究電容器所作 的:兒:,‘准,本發明亦可一般性地適用於在兩端面形成有 外部電極之各種積層型陶瓷電子零件。 又,於本發明之積層型陶瓷電子零件中,積層型陶瓷 元件,只要為至少具有丨個内部電極者即可,必非必須為 具有複數的内部電極者。 【圖式簡單說明】 圖U旬及(b)為本發明一實施形態之積層型陶竟電子零 件之積層陶瓷電容器的前視截面圖、及表示外部電極之重 23 200529263 要部分之放大局部透視截面圖。 圖2為表示比較例(未施行用以附著的前声 形成由Ni構成的中間電鍍層後的電極表面部分々理$步驟)之 子顯微鏡相片。 77之掃描式電 圖3為表示本發明實施例之實驗例中,於前處理步驟 在氧化物表面附著金屬之後形成中間電鍍層後的電極表面 之掃描式電子顯微鏡相片。 【主要元件符號說明】
5、6 積層陶瓷電容器 内部電極 陶瓷燒結體 端面 5b、6b 5c ' 6c 7 7a
外部電極 燒結電極層 中間電鍍層 層 氣化物 露出表面部分 24
Claims (1)
- ^200529263 十、申請專利範圍: 具有内部電極 的兩端面之第 •一種積層型陶瓷電子零件,係具備·· 之積層型陶瓷元件、形成於積層型陶瓷元件 1、第2外部電極;〃該各外部電極含有:形成於積層陶究元件表面且 巩化物之燒結電極層、形成於該燒結電極層表面之中 鑛層、與形成於中間電鍍層的表面之鍍層,並於燒站 層的表面-部分存在有該氧化物;其特徵在於,〜 含有間電 電極 立、在路出於燒結電極層表面之該氧化物之至少露 P刀存在有金屬(作為將該露出表面部分以中間 覆之核)。 出表面 錢層被 申明專利IlL 15第1項之積層型陶曼電子零 中,存在於該氧化物之露出表面 , 之該金屬,為硬度較該氧化物之硬度低之金屬1電鑛層之間=如u利,圍第m項之積層型陶究電子零 八,存在於該氧化物之露出表面部分盥該巾 7 層之間之該金1,為較中間電…」二亥中間電鍍 向小之金屬。…電鑛層之構成金屬之離子化傾 4 ·如申請專利範If)筮 1 1, ^ 圍弟1或2項之積層型陶瓷電子愛 件,其中,該中間電鍍層為鎳鍍層。 7 、如申請專利範圍第1或;項之積層型陶究電子零 件,其中’存在於該氧化物之露出表面部分與該中間電鍛 層之間之該金屬,為sn或Sn合金。 又 6.—種積層型陶究電子零件之製造方法,所製造之積 25 *200529263 層型陶究電子零件’係具備:具有自端面拉出 :積層型陶曼元件、與形成於積層舰元件的兩端面; 弟卜第2㈣電極者;其特徵在於具備下述步驟: 使含有乳化物之導電糊附著於積層型陶竟元件上,# 由熱處理以形成燒結電極層之步驟; 错 在'露出於燒結電極層表面之一部分上之氧化物露出表 ==上Γ屬(作為使氧化物之該露出表面部分被覆 上中間電鍍層之核)之步驟; 表面電:部分之該金屬表面之燒結電極 猎由電錄以形成中間電鍍層之步驟; 在令間電鍍層之外表面形成鍍層之步驟。 、 巾°月專利範圍第6項之積層型陶究電子零件之製 露出出:燒結電極層表面之一部分上之氧化物的 s 、。卩刀附者上金屬(作為使氧化物之該露出表面部八 :覆上中間電鍛層之核)之步驟中,該金屬自以該金:二 =!Γ出表:部分以中間電鑛層被覆之峨覆之; 部分。飞物之露出表面部分而附著於氧化物露出表面 、'如申明專利乾圍第7項之積層型陶瓷電子零件之製 的露出矣在:t於燒結電極層的表面之一部分上之氧化物 八 面。p刀附者上金屬(作為使氧化物之該露出表面部 中間電鑛層之核)之步驟中,將至少以較該氧化物 型:竟:::t屬破覆之介質、與形成有燒結電極層之積層 疋技入容器中,藉由攪拌,使該介質表面之該金 26 *200529263 屬附著於氧化物表面。 、告二二申:專利範圍第8項之積層型陶究電子零件之製 ^ / 在路出於燒結電極層表面之一部分上之4 #仏 露出表面部分附荽μ八Ε 义虱化物的 之谨… 步驟中’將使用較中間電鍍居 之構成金屬$雜m 子化傾向更小的金屬被覆之介質、盥 ,電極層之積層型陶究元件投入電鑛裝置中,使;ί 表面的金屬溶解析出而附著於該氧化物之露出表面部分; 0·如申請專利範圍第6至第9适由乂工 s 瓷電子零件之製造方法,、 、之積層型陶 ,, 、 °亥中間電鍍層為鎳鍍層。 •如申請專利範圍第6至第 …零件之製造方法,其中,附二中任一:之積層型陶 部分之該金屬為S4Sn合金。附者於錢物之露出表面 十一、圖式: 如次頁。27
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004054807 | 2004-02-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200529263A true TW200529263A (en) | 2005-09-01 |
| TWI246095B TWI246095B (en) | 2005-12-21 |
Family
ID=34908809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW094100321A TWI246095B (en) | 2004-02-27 | 2005-01-06 | Multilayer ceramic electronic component and method of manufacturing thereof |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7379288B2 (zh) |
| EP (1) | EP1720181A4 (zh) |
| JP (1) | JP4208009B2 (zh) |
| KR (1) | KR20060032210A (zh) |
| CN (1) | CN100555486C (zh) |
| TW (1) | TWI246095B (zh) |
| WO (1) | WO2005083727A1 (zh) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007281400A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-25 | Taiyo Yuden Co Ltd | 表面実装型セラミック電子部品 |
| DE102006060432A1 (de) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | Epcos Ag | Elektrisches Bauelement sowie Außenkontakt eines elektrischen Bauelements |
| JP5217658B2 (ja) * | 2008-06-10 | 2013-06-19 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミック電子部品、および積層セラミック電子部品の製造方法 |
| KR102066884B1 (ko) * | 2016-09-28 | 2020-01-16 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 전자부품 |
| JP7089402B2 (ja) * | 2018-05-18 | 2022-06-22 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法 |
| WO2020195522A1 (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-01 | 株式会社村田製作所 | チップ型セラミック電子部品およびその製造方法 |
| KR102257992B1 (ko) | 2019-07-08 | 2021-05-28 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 부품 |
| KR102333093B1 (ko) | 2019-07-08 | 2021-12-01 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 부품 |
| KR102333094B1 (ko) | 2019-07-08 | 2021-12-01 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 부품 |
| JP7160024B2 (ja) * | 2019-12-20 | 2022-10-25 | 株式会社村田製作所 | 電子部品 |
| KR20220060286A (ko) * | 2020-11-04 | 2022-05-11 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 |
| KR20250025040A (ko) * | 2022-09-02 | 2025-02-20 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 콘덴서 |
| KR20240071807A (ko) * | 2022-11-16 | 2024-05-23 | 삼성전기주식회사 | 적층형 전자 부품 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2723204A (en) * | 1950-04-19 | 1955-11-08 | Peen Plate Inc | Dry plating with metal |
| US2788297A (en) * | 1951-11-15 | 1957-04-09 | Myron A Coler | Process of impact coating solid insulators with transparent conductive coatings |
| JPH01313804A (ja) * | 1988-06-13 | 1989-12-19 | Taiyo Yuden Co Ltd | 導電性ペースト |
| JPH07161223A (ja) * | 1993-12-10 | 1995-06-23 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性ペーストおよび積層セラミックコンデンサ |
| JPH0837127A (ja) * | 1994-07-26 | 1996-02-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法 |
| JPH0897075A (ja) | 1994-09-29 | 1996-04-12 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品の製造方法 |
| JP3307133B2 (ja) * | 1995-01-27 | 2002-07-24 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品 |
| US6160472A (en) * | 1995-03-24 | 2000-12-12 | Tdk Corporation | Multilayer varistor |
| JP3039403B2 (ja) * | 1996-12-06 | 2000-05-08 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
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| JP2001200163A (ja) * | 2000-01-20 | 2001-07-24 | Matsushita Electric Works Ltd | 導電性樹脂組成物およびその成形体 |
| JP3630056B2 (ja) * | 2000-01-26 | 2005-03-16 | 株式会社村田製作所 | チップ型電子部品及びチップ型コンデンサ |
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| JP2002075779A (ja) | 2000-08-23 | 2002-03-15 | Tdk Corp | セラミック電子部品 |
| JP4710204B2 (ja) * | 2001-08-31 | 2011-06-29 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の端面電極形成方法 |
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-
2005
- 2005-01-06 TW TW094100321A patent/TWI246095B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-02-01 WO PCT/JP2005/001418 patent/WO2005083727A1/ja not_active Ceased
- 2005-02-01 JP JP2006500604A patent/JP4208009B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2005-02-01 KR KR1020067001921A patent/KR20060032210A/ko not_active Ceased
- 2005-02-01 EP EP05709564A patent/EP1720181A4/en not_active Withdrawn
- 2005-02-01 CN CNB2005800008341A patent/CN100555486C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2005-02-01 US US10/565,168 patent/US7379288B2/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2005083727A1 (ja) | 2005-09-09 |
| EP1720181A1 (en) | 2006-11-08 |
| EP1720181A4 (en) | 2010-07-21 |
| JP4208009B2 (ja) | 2009-01-14 |
| CN1842881A (zh) | 2006-10-04 |
| US20070109718A1 (en) | 2007-05-17 |
| KR20060032210A (ko) | 2006-04-14 |
| JPWO2005083727A1 (ja) | 2007-11-29 |
| CN100555486C (zh) | 2009-10-28 |
| US7379288B2 (en) | 2008-05-27 |
| TWI246095B (en) | 2005-12-21 |
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