PL191532B1 - Optyczne urządzenie skanujące - Google Patents

Abstract

1. Optyczne urzadzenie skanujace, do od- czytu i/lub zapisu informacji w sciezkach nosni- ka zapisu, zaopatrzone w oprawe obiektywu, która jest podparta przez elementy nosne w punktach mocowania na powierzchni plytki ustalajacej, znamienne tym, ze plytka ustalaja- ca (HP1) ma przynajmniej jedno wyciecie po- miedzy kazdym z punktów mocowania, które to wyciecie rozdziela punkty mocowania, na po- wierzchni podtrzymujacej elementy nosne opra- wy (OH) obiektywu. PL PL PL

Description

Opis wynalazku

Przedmiotem wynalazku jest optyczne urządzenie skanujące, do optycznego odczytu i/lub zapisu informacji w ścieżkach nośnika zapisowego, którym jest na przykład płyta kompaktowa (znana jako CD), cyfrowa płyta uniwersalna (znana jako DVD), zapisywalne płyty CD bądź DVD, lub też magnetooptyczny nośnik zapisu.

Urządzenia skanujące do optycznych nośników zapisu są ogólnie znane. Konstrukcja i działanie optycznego urządzenia skanującego, tak zwanej głowicy optycznej, opisano w publikacji Electronic Components & Applications, wol.6, nr 4, 1984, str. 209-215. Takie urządzenia skanujące mają tak zwany aktuator, na którym osadzony jest obiektyw, służący do ogniskowania wiązki światła, czyli wiązki laserowej, na optycznym nośniku zapisu. W zasadzie optyczne urządzenia skanujące można podzielić na podstawie sposobu zawieszenia obiektywu. Na przykład, w przypadku znanego sprężynowego aktuatora płaskiego, oprawa obiektywu jest zamocowana za pomocą czterech równoległych sprężyn płaskich na ramie, por. EP-A 0 178 077. Jego wady polegają na tym, że takie konstrukcje sprężynowe mają niepożądaną tendencję do oscylacji, a ich stosowanie wiąże się z dużym stopniem złożoności montażu. Równoległe prowadzenie obiektywu osiąga się również za pomocą aktuatora typu przegubowego lub zawiasowego, jak na przykład aktuator znany z opisu EP-B 0 563 034. Aktuator z prowadzeniem równoległym okazał się stosunkowo stabilny w odniesieniu do przechylania obiektywu podczas uginania, lecz wiąże się z dużą złożonością montażu w odniesieniu do kierunków przemieszczeń prowadzonych przez przeguby.

Inny rodzaj oprawy obiektywu polega na wykorzystaniu czterech drutów, które w charakterze elementów nośnych, łączą oprawę obiektywu z płytką podstawy aktuatora. Tak zwane głowice drutowe stanowią tańsze rozwiązanie produkcyjne, niż optyczne urządzenia skanujące ze sprężynami płaskimi lub przegubem. Jednak okazały się mniej korzystne w porównaniu z innymi sposobami prowadzenia równoległego, pod względem przechylania obiektywu i charakterystyki prowadzenia.

Jednym z kryteriów jakości optycznych urządzeń skanujących jest ich charakterystyka odpowiedzi, przy czym termin „charakterystyka odpowiedzi” oznacza reakcję optycznego urządzenia skanującego na sygnały sterujące, za pomocą których odbywa się odchylanie urządzenia skanującego przy ogniskowaniu i przy śledzeniu, w celu zapewnienia skanowania konkretnego punktu na nośniku zapisu lub nadążania za przemieszczeniami nośnika zapisu. Przemieszczanie optycznego urządzenia skanującego służy bardzo dokładnemu podążaniu za przykładanymi sygnałami sterującymi. Jednak z reguły, pobudzanie układu mechanicznego prowadzi do wzbudzonych oscylacji w obszarze częstotliwości rezonansowej i do tak zwanego piku rezonansowego, który ma oddziaływanie ujemne na charakterystykę odpowiedzi i reakcję optycznego urządzenia skanującego na sygnały sterujące. Ponieważ częstotliwość rezonansowa często znajduje się w zakresie słyszalności dla ludzkiego ucha, to zjawisko jest dodatkowo zauważalne w sposób negatywny jako tak zwane wycie. W opisie patentowym nr US 4 477 755 przedstawiono wykorzystanie struktury układowej do elektronicznej kompensacji niestabilności optycznych i mechanicznych w pętli sterowania ogniskowaniem i śledzeniem, w celu uniknięcia rezonansów mechanicznych i wycia. Układ połączeń zawiera model układu mechanicznego, za pomocą którego monitorowana jest reakcja urządzenia skanującego na sygnały sterujące, i następuje zatrzymanie przemieszczania urządzenia skanującego, jeżeli przekroczona zostaje pewna wartość progowa. W tym celu obwód zaopatrzony jest w filtr i wzmacniacz o nastawnym wzmocnieniu, dla wytworzenia składowej kompensacyjnej sygnału sterującego na wybranej częstotliwości w obszarze częstotliwości, w którym występują znaczne rezonanse mechaniczne.

W opisie patentowym nr US 5 555 228 przedstawiono wykorzystanie amortyzatora ukształtowanego z lepkosprężystego materiału i zdolnego do tłumienia lub pochłaniania drgań. Każdy sprężynujący człon podporowy do oprawy obiektywu ma swój przeciwległy koniec włożony w amortyzator i w ten sposób trwale zamocowany w oprawie podporowej.

W opisie patentowym nr US 5 068 844 ujawniono urządzenie podpierające obiektyw przetwornika optycznego, w którym sprężyny płaskie są przymocowane za pomocą kilku sprężystych członów.

Optyczne urządzenie skanujące, do odczytu i/lub zapisu informacji w ścieżkach nośnika zapisu, zaopatrzone w oprawę obiektywu, która jest podparta przez elementy nośne w punktach mocowania na powierzchni płytki ustalającej, według wynalazku charakteryzuje się tym, że płytka ustalająca ma przynajmniej jedno wycięcie pomiędzy każdym z punktów mocowania, które to wycięcie rozdziela punkty mocowania, na powierzchni podtrzymującej elementy nośne oprawy obiektywu.

PL 191 532B1

Korzystnym jest, że elementami nośnymi dla oprawy obiektywu są druty, które dołączone są w punktach lutowania do płytki ustalającej i są połączone przez nakładki lutownicze z oprawą obiektywu.

W odmiennym rozwiązaniu, optyczne urządzenie skanujące, do odczytu i/lub zapisu informacji w ścieżkach nośnika zapisu, zaopatrzone w oprawę obiektywu, która jest podparta przez elementy nośne w punktach mocowania na powierzchni płytki ustalającej, która stanowi układ ustalający utworzony z dwóch płytek ustalających, pierwszej i drugiej, według wynalazku charakteryzuje się tym, że pierwsza płytka ustalająca ma przynajmniej jedno wycięcie pomiędzy każdym z punktów mocowania, które to wycięcie rozdziela punkty mocowania, na powierzchni podtrzymującej elementy nośne oprawy obiektywu.

Korzystnym jest, że druga płytka ustalająca zaopatrzona jest w środki ograniczające odchylenie oprawy obiektywu.

Korzystnym jest, że środki ograniczające odchylenie oprawy obiektywu stanowią mostki ograniczające na drugiej płytce ustalającej, która rozdziela punkty mocowania, na powierzchni podtrzymującej elementy nośne oprawy obiektywu.

Zgodnie z wynalazkiem opracowano optyczne urządzenie skanujące, które bez żadnych elektronicznych środków kompensacyjnych, w bardzo dużym stopniu pozbawione jest pików rezonansowych i ma udoskonaloną charakterystykę odpowiedzi. Urządzenie to możliwie równomiernie podąża za przykładanymi sygnałami sterującymi, bez pojawiania się piku rezonansowego.

Stwierdzono, że zjawiska rezonansowe w silnym stopniu zależą od charakterystyki płytki ustalającej, na której zamocowane są środki do mocowania oprawy obiektywu. Stwierdzono, że szkodliwych pików rezonansowych unika się przy stosowaniu elastycznego podtrzymywania oprawy obiektywu. Jednocześnie, opcje doboru materiału tłumiącego oscylacje są ograniczone, ponieważ po pierwsze płytka ustalająca musi unieść ciężar obiektywu i oprawy obiektywu, a po drugie konieczne jest zapewnienie powrotu aktuatora do jego pierwotnego położenia po odchyleniu. Znaczy to, że płytka ustalająca nie może ulegać odkształceniom przy oddziaływaniu sił lub temperatury. Te sprzeczne wymagania, dużej elastyczności i działania dużą siłą, są spełnione w przypadku płytki ustalającej, w której te punkty na płytce ustalającej, które podtrzymują elementy nośne obiektywu, są w dużym stopniu mechanicznie odsprzężone. Odsprzężenie mechaniczne tych punktów płytki ustalającej, które podtrzymują elementy nośne oprawy obiektywu osiąga się przez stosowanie płytki ustalającej, zaopatrzonej w nacięcia lub wycięcia w powierzchni, która podtrzymuje elementy nośne oprawy obiektywu. Te nacięcia są wykonane w taki sposób, że proste krawędzie powierzchni podtrzymującej elementy nośne są przerywane nacięciami lub otworami w postaci szczelin, a jednocześnie, w wewnętrznej części powierzchni wykonane są wycięcia, dla zmniejszenia efektywnego obszaru między punktami mocowania elementów nośnych obiektywu. W jednej z korzystnych odmian wykonania wynalazku punkty mocowania są wykonane jako powierzchnie wyspowe, które są połączone za pośrednictwem zwężeń podtrzymującej na powierzchni. Ten typ konfiguracji płytki ustalającej znacznie poprawia charakterystykę odpowiedzi optycznego urządzenia skanującego i pozwala uniknąć pików rezonansowych. Termin „charakterystyka odpowiedzi” oznacza reakcję optycznego urządzenia skanującego na sygnały sterujące odzwierciedloną w postaci charakterystyki częstotliwości i fazy względnej, oraz w funkcji przenoszenia sygnałów sterujących do optycznego układu skanującego. W dużym stopniu eliminowane są piki rezonansowe, bez elektronicznych środków kompensacyjnych. Ten efekt jest nieoczywisty, ponieważ dotychczas uważano, że podtrzymywanie elementów nośnych obiektywu na stosunkowo bardziej sprężystej powierzchni doprowadzi do wzrostu pików rezonansowych.

Korzystnym jest, jeśli wspomniana płytka ustalająca jest połączona z drugą płytką ustalającą, z utworzeniem układu ustalającego. W tym przypadku druga płytka ustalająca zapewnia korzystną możliwość wykonania pierwszej płytki ustalającej jako cieńszej, dla zapewnienia dodatkowego tłumienia w dolnym zakresie częstotliwości, i ponadto, ograniczenie maksymalnego odchylenia aktuatora. W przypadku konfiguracji wykonanej jako głowica drutowa, druty służące za elementy nośne przechodzą przez otwory w drugiej płytce ustalającej i są zamocowane na pierwszej płytce ustalającej, na przykład przez lutowanie. Przestrzeń pośrednia powstająca w otworach dla drutu w drugiej płytce ustalającej jest wypełniana następnie mieszanką wypełniającą. Korzystne jest wykorzystywanie silikonu w charakterze mieszanki wypełniającej, dla tłumienia pików rezonansowych, które występują w zakresie dolnych częstotliwości. Jakkolwiek przypuszczano, że zatopienie drutów wykorzystywanych w charakterze elementów nośnych w silikonie w drugiej płytce ustalającej znacznie stłumi piki rezonansowe, to stwierdzono, że jest to prawdą tylko w stopniu dostatecznym. Pożądaną charakterystykę odpowiedzi osiągnięto tylko w połączeniu z pierwszą płytką ustalającą według wynalazku.

PL 191 532B1

Przedmiot wynalazku objaśniono dokładniej w przykładach wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia szkic konturowy płytki ustalającej optycznego urządzenia skanującego z udoskonaloną charakterystyką odpowiedzi, fig. 2 - optyczne urządzenie skanujące, w widoku z boku, fig. 3 - optyczne urządzenie skanujące, w widoku z góry, fig. 4 - drugą płytkę ustalającą optycznego urządzenia skanującego, zaopatrzoną w środki ograniczające, w widoku z góry, fig. 5 - drugą płytkę ustalającą optycznego urządzenia skanującego, zaopatrzoną w środki ograniczające, w widoku z przodu, fig. 6 -drugą płytkę ustalającą optycznego urządzenia skanującego, zaopatrzoną w środki ograniczające, w widoku z boku, fig. 7 - charakterystykę częstotliwościową i wykres fazy optycznego urządzenia skanującego zaopatrzonego w znaną płytkę ustalającą, i pracującego w kierunku ogniskowania, fig. 8 -charakterystykę częstotliwościową i wykres fazy optycznego urządzenia skanującego zaopatrzonego w płytkę ustalającą według wynalazku, i pracującego w kierunku ogniskowania, fig. 9 - charakterystykę częstotliwościową i wykres fazy optycznego urządzenia skanującego zaopatrzonego w znaną płytkę ustalającą, i pracującego w kierunku śledzenia, fig. 10 - charakterystykę częstotliwościową i wykres fazy optycznego urządzenia skanującego zaopatrzonego w płytkę ustalającą według wynalazku i pracującego w kierunku śledzenia, fig. 11 - szkic konturowy widoku z boku oprawy obiektywu, która jest zamocowana drutami na znanej płytce ustalającej, fig. 12 - szkic konturowy odnoszący się do montażu oprawy obiektywu, która jest zamocowana drutami na znanej płytce ustalającej, tworzącej aktuator, a fig. 13 przedstawia szkic konturowy przewodzącej strony optycznego urządzenia skanującego zaopatrzonego w znaną płytkę ustalającą.

Na wszystkich figurach rysunku zastosowano te same odnośniki liczbowe. Na fig. 11 przedstawiono szkic konturowy znanej oprawy OH obiektywu, która jest zamocowana drutami W na znanej płytce ustalającej HP. Cztery druty W, zamocowane na płytce ustalającej HP, podtrzymują oprawę OH obiektywu, na której umieszczony jest obiektyw O, który służy do ogniskowania i śledzenia wiązki świetlnej na nośniku zapisowym, oraz cewki SP do odchylania obiektywu O. Druty W, które są wykorzystywane jako elementy nośne, w tym przypadku tworzą elastyczne podparcie dla oprawy OH obiektywu, a równocześnie stanowią doprowadzenia energii elektrycznej do cewek SP umieszczonych na oprawie OH obiektywu. Płytka ustalająca HP, na której oprawa OH obiektywu jest podtrzymywana przez cztery druty W, jest ukształtowana jako powierzchnia prostokątna, która zgodnie z fig. 12, jest połączona z mostkiem S na płytce bazowej G, przy czym mostek S odchodzi pod kątem prostym od płytki bazowej G. W konsekwencji, zgodnie z fig. 12, cewki SP umieszczone we wgłębieniach oprawy OH obiektywu zostają przemieszczone w położenie, które umożliwia współdziałanie z mostkami magnetycznymi MS1, MS2. Mostki magnetyczne MS1, MS2 również odchodzą pod kątami prostymi od płytki bazowej G i równolegle do mostka S, do którego przymocowana jest płytka ustalająca HP i wytwarzają pole magnetyczne, które przez współdziałanie z polami magnetycznymi wytwarzanymi przez cewki SP, umożliwia odchylanie obiektywu O. w pożądany sposób od położenia spoczynkowego. Pole magnetyczne pochodzące od mostków magnetycznych MS1, MS2 jest wytwarzane, korzystnie, przez przynajmniej jeden magnes trwały M, który jest zamocowany do mostka magnetycznego MS1. Jak już wspomniano, energia elektryczna dostarczana jest do cewek SP umieszczonych na oprawie OH obiektywu za pośrednictwem drutów W, za pomocą których oprawa OH obiektywu jest zamocowana na płytce ustalającej HP. W celu zamocowania drutów W, płytka ustalająca HP przedstawiona na fig. 13 ma punkty lutowania LP1, LP2, LP3, LP4, które wykonane są jako otwory w płytce ustalającej HP mającej postać płytki drukowanej. Przez otwory przepuszczone są druty W, połączone lutowaniem z płytką ustalającą HP, na której wykonane są w tym celu, w obszarze otworów, uwydatnione pola lutownicze. Pola lutownicze, lub punkty lutowania LP1, LP2, LP3, LP4 są połączone za pośrednictwem ścieżek przewodzących z punktami połączeniowymi AP, do których doprowadzane są sygnały sterujące do odchylania obiektywu O. Poza tym, w płytce ustalającej HP wykonane są otwory kołkowe PO1, DO2, służące do ustawienie płytki ustalającej HP na mostku Si otwór mocujący BMO do osadzenia płytki ustalającej HP.

Jak stwierdzono na podstawie pomiarów, takie optyczne urządzenia skanujące mają wadę polegającą na tym, że nie podążają one bezwarunkowo za sygnałami sterującymi. Odchylenie oprawy OH obiektywu z obiektywem O i cewkami SP reprezentuje pobudzenie mechaniczne i prowadzi, w krytycznych zakresach częstotliwościowych, do tak zwanego piku rezonansowego, jak to przedstawiono ogólnie na fig. 7 i 9 przez odchylenia charakterystyki odpowiedzi od pewnego profilu, który jest możliwie jednakowy. Takie piki rezonansowe nie tylko mają szkodliwy wpływ na właściwości sterowania lub regulacji optycznego urządzenia skanującego, lecz z powodu oscylacji w słyszalnym zakresie częstotliwości, również prowadzi do szkodliwego tak zwanego wycia. Z reguły tłumienie pików rezoPL 191 532B1 nansowych wymaga dodatkowych środków dostarczania sygnałów sterujących, co można osiągnąć, na przykład przez korekcję, dla linearyzacji charakterystyki częstotliwościowej.

Dla uniknięcia niekorzystnych charakterystyk i zaoszczędzenia dodatkowych środków do napędzania optycznych urządzeń skanujących, opracowano optyczne urządzenie skanujące, o poprawionej charakterystyce odpowiedzi. Cechuje się ono tym, że zawiera płytkę ustalającą HP1, jak przedstawiona na fig. 1, która zaopatrzona jest w wycięcia powierzchni podtrzymującej elementy wsporcze oprawy OH obiektywu w punktach lutowania LP1...LP4, przy czym wycięcia rozdzielają punkty montażowe, czyli punkty lutowania LP1...LP4. Punkty montażowe lub punkty lutowania LP1...LP4 są wykonane jako powierzchnie wyspowe, które za pośrednictwem zwężeń są połączone z powierzchnią, która je podtrzymuje.

Zgodnie z wynalazkiem, w przypadku optycznego urządzenia skanującego, możliwe jest również znalezienie pożądanego efektu z wykorzystaniem układu ustalającego odpowiadającego fig. 2 i fig. 3, zawierającego oprócz pierwszej płytki ustalającej HP1, drugą płytkę ustalającą HP2.

Optyczne urządzenie skanujące przedstawione na fig. 2 i 3 zawiera system ustalający utworzony przez pierwszą płytkę ustalającą HP1 i drugą płytkę ustalającą HP2, na której podtrzymywane są druty W, które wykorzystywane są jako elementy nośne dla oprawy OR obiektywu. Druty W,w tym przypadku stanowią elastyczne zawieszenie dla oprawy OH obiektywu, w której rozmieszczony jest obiektyw O i cewka ogniskująca F,jak również cewki śledzące T. Do cewki ogniskującej F i/lub do cewek śledzących T podawane są sygnały sterujące, wytwarzające pole magnetyczne w tych cewkach, przy czym pole magnetyczne oddziałuje wzajemnie z polem magnetycznym wytwarzanym przez dwa magnesy trwałe M1, M2, umożliwiając odchylanie obiektywu O od położenia spoczynkowego. Druty W, które stanowią elementy nośne, są wykorzystywane do dostarczania sygnałów sterujących do cewki ogniskującej F i cewek śledzących T, a na nakładkach lutowniczych i są dołączone do oprawy OH obiektywu i do pierwszej płytki ustalającej HP1. Na mostkach magnetycznych MS1, MS2, które odstają pod kątami prostymi od płytki bazowej G są zamocowane magnesy trwałe M1, M2, a pierwsza płytka ustalająca HP1i druga płytka ustalająca HP2 są połączone za pośrednictwem środka mocującego BM z mostkiem S, który również odstaje pod kątem prostym od płytki bazowej G. Wtym przypadku pierwsza płytka ustalająca HP1 jest w tym przypadku wyrównana, za pomocą otworów kołkowych PO1, DO2 wykonanych w pierwszej płytce ustalającej HP1, z odpowiednimi kołkami D w drugiej płytce ustalającej HP2.

W celu zmontowania oprawy OH obiektywu z układem ustalającym, zawierającym pierwszą płytkę ustalającą HP1 i drugą płytkę ustalającą HP2, płytka bazowa G i oprawa OH obiektywu, są unieruchomione w uchwycie, a druty W, które łączą układ ustalający z oprawą OH obiektywu, są połączone przez lutowanie, korzystnie przy wstępnym naprężaniu drutów W, na nakładkach lutowniczych L, z oprawą OH obiektywu i z pierwszą płytką ustalającą HP1. W tym celu, druty W umieszcza się na nakładkach lutowniczych L na oprawie OH obiektywu i przepuszcza się przez otwory B wykonane w drugiej płytce ustalającej HP2.

Na fig. 4 do 6 przedstawiono w trzech widokach drugą płytkę ustalającą HP2. Otwory B oznaczone na fig. 4 i 5, mają otwory boczne SO odpowiadające fig. 5. Te otwory boczne SO są wykonane w celu napełniania przestrzeni pośredniej między drutem W i drugą płytką ustalającą HP2 silikonem, po przetknięciu drutów W. Silikon wypełniający przestrzeń pośrednią między drutem W a drugą płytką ustalającą HP2 działa jako materiał tłumiący, służący do przeciwdziałania zjawisku rezonansu. Drugi otwór mocujący BMO2, który oznaczono na fig. 5, i który odpowiada pierwszemu otworowi mocującemu BMO1 w pierwszej płytce ustalającej HP1, jest wykonany w drugiej płytce ustalającej HP2 dla zamocowania drugiej płytki ustalającej HP2do mostka S na płytce bazowej G. Pierwsza płytka ustalająca HP1 jest podczas składania wyrównywana z drugą płytką ustalającą HP2, za pomocą kołków D zaznaczonych na fig. 4. Ponadto, druga płytka ustalająca HP2 ma mostki mocujące BS, które zaznaczono na fig. 4 i 6, a które korzystnie ograniczają odchylenie ku górze oprawy OH obiektywu. Oprawa OH obiektywu jest połączona z układem ustalającym przez zaledwie cztery druty W i dlatego nie może być odchylana aż do niedozwolonego zakresu, przy działaniu dużych sił przyspieszających, na przykład sił występujących przy upadku, przy czym wejście w ten zakres niedozwolony uniemożliwiłby automatyczny powrót do wyjściowego położenia spoczynkowego wskutek przekroczenia granicy sprężystości układu. Druga płytka ustalająca HP2 realizuje zatem pewną liczbę funkcji, które obejmują podtrzymywanie pierwszej płytki ustalającej HP1, tłumienie drutów W i ograniczanie odchylenia oprawy OH obiektywu.

Jakkolwiek oscylacje oprawy OH obiektywu i drutów W są właściwie tłumione przez silikon wprowadzony do wewnątrz przestrzeni pośrednich między drutem W, a drugą płytką ustalającą HP2,

PL 191 532B1 stwierdzono jednak, że na charakterystykę odpowiedzi optycznego urządzenia skanującego silnie oddziałuje pierwsza płytka ustalająca HP1. Wynika to z pomiarów, które wykonano, a których wyniki przedstawiono na fig. 7 do 10. Na fig. 7 przedstawiono charakterystykę częstotliwościową i wykres fazowy optycznego urządzenia skanującego zawierającego znaną płytkę ustalającą HP w kierunku ogniskowania, z przedstawieniem czułości odpowiedzi w decybelach dB, jak również kąt fazowy Faza w decybelach dB, w skali logarytmicznej Log wykreślony w funkcji częstotliwości F w hercach Hz, w zakresie do pięciu kiloherców 5k. Kolejne charakterystyki częstotliwościowe i wykresy fazowe wykorzystują skalę równorzędną. Przedstawiony na fig. 7 wykres dla optycznego urządzenia skanującego mającego znaną płytkę ustalającą HP wykazuje znaczne odchylenia od jednolitegoprofilu w zakresie między 800 a 900 Hz, zarówno w odniesieniu do czułości (charakterystyka częstotliwości), jak i w odniesieniu do kąta fazowego Faza. Te piki rezonansowe wykryto w optycznym urządzeniu skanującym, którego konstrukcja odpowiada konstrukcji optycznego urządzenia skanującego według wynalazku, przedstawionej na fig. 2 i 3, z tą jednak różnicą, że w charakterze płytki ustalającej HP1 była wykorzystywana znana płytka ustalająca HP. W porównaniu z wykresem przedstawionym na fig. 8, optycznego urządzenia skanującego zaopatrzonego w płytkę ustalającą HP1 według wynalazku wykazuje nieoczywisty efekt, polegający na tym, że przy stosowaniu płytki ustalającej HP1 uniknięto wystąpienia, w warunkach porównywalnych, niekorzystnego kształtu charakterystyki w odniesieniu do czułości odpowiedzi i kąta fazowego Faza. Urządzenie skanujące według wynalazku mające charakterystyki przedstawione na fig. 8, ma udoskonalone parametry odpowiedzi, gdyż zarówno charakterystyka częstotliwościowa, jak i charakterystyka fazowa mają jednolity profil, bez pików rezonansowych. Wspomniany efekt występuje nie tylko w kierunku ogniskowania, lecz również w kierunku śledzenia, co przejrzyście przedstawiają kolejne wykresy na fig. 9 i 10. Na fig. 9 przedstawiono charakterystykę częstotliwościową i wykres fazowy optycznego urządzenia skanującego przedstawionego na fig. 2 i 3, zaopatrzonego w znaną płytkę ustalającą HP, w kierunku śledzenia, a fig. 10 przedstawia charakterystykę częstotliwościową i wykres fazowy tego samego optycznego urządzenia skanującego zaopatrzonego w płytkę ustalającą HP1 według wynalazku, w kierunku śledzenia. Jakkolwiek zakładano, że pików rezonansowych można uniknąć przez zatopienie drutów Ww silikonie, w drugiej płytce ustalającej HP2, to stwierdzono, że zachodzi to tylko w stopniu niedostatecznym, ponieważ okazało się, że pożądany wynik zapewnia tylko konfiguracja pierwszej płytki ustalającej HP1, według wynalazku. Wynalazek nie jest ograniczony do wersji optycznego urządzenia skanującego przedstawionej powyżej, lecz ma zastosowanie ogólnie do optycznych urządzeń skanujących, w których oprawa OH obiektywu jest wsparta na płytce ustalającej HP za pomocą elementów nośnych.

Claims (5)

1. Optyczne urządzenie skanujące, do odczytu i/lub zapisu informacji w ścieżkach nośnika zapisu, zaopatrzone w oprawę obiektywu, która jest podparta przez elementy nośne w punktach mocowania na powierzchni płytki ustalającej, znamienne tym, że płytka ustalająca (HP1) ma przynajmniej jedno wycięcie pomiędzy każdym z punktów mocowania, które to wycięcie rozdziela punkty mocowania, na powierzchni podtrzymującej elementy nośne oprawy (OH) obiektywu.

2. Urządzenie według zastrz. 1, znamienne tym, że elementami nośnymi dla oprawy (OH) obiektywu są druty (W), które dołączone są wpunktach lutowania (LP1...LP4) do płytki ustalającej (HP1) i są połączone przez nakładki lutownicze (L) z oprawą (OH) obiektywu.

3. Optyczne urządzenie skanujące, do odczytu i/lub zapisu informacji w ścieżkach nośnika zapisu, zaopatrzone w oprawę obiektywu, która jest podparta przez elementy nośne w punktach mocowania na powierzchni płytki ustalającej, która stanowi układ ustalający utworzony z dwóch płytek ustalających, pierwszej i drugiej, znamienne tym, że pierwsza płytka ustalająca (HP1) ma przynajmniej jedno wycięcie pomiędzy każdym z punktów mocowania, które to wycięcie rozdziela punkty mocowania, na powierzchni podtrzymującej elementy nośne oprawy (OH) obiektywu.

4. Urządzenie według zastrz. 3, znamienne tym, że druga płytka ustalająca (HP2) zaopatrzona jest w środki ograniczające odchylenie oprawy (OH) obiektywu.

5. Urządzenie według zastrz. 4, znamienne tym, że środki ograniczające odchylenie oprawy (OH) obiektywu stanowią mostki ograniczające (BS) na drugiej płytce ustalającej (HP2), która rozdziela punkty mocowania, na powierzchni podtrzymującej elementy nośne oprawy (OH) obiektywu.