DE19814777A1

DE19814777A1 - Optische Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik

Info

Publication number: DE19814777A1
Application number: DE19814777A
Authority: DE
Inventors: Tsuneo Suzuki; Reiner Baas; Ralf Bausch; Uwe Bartels
Original assignee: Deutsche Thomson Brandt GmbH
Current assignee: Deutsche Thomson Brandt GmbH
Priority date: 1998-04-02
Filing date: 1998-04-02
Publication date: 1999-10-07
Also published as: PL191532B1; ID26961A; KR100564143B1; KR20010042057A; PL343160A1; US6377407B1; CN1295707A; WO1999052102A1; CN1154987C; TW452759B; EP1070320B1; BR9909343A; JP2002510834A; AU3520499A; DE69903529D1; DE69903529T2; EP1070320A1

Abstract

Die Erfindung betrifft eine optische Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik zur Verwendung in einer Vorrichtung zum optischen Lesen oder Schreiben von Informationen in einer oder mehreren Spuren auf einem Aufzeichnungsträger. DOLLAR A Es ist Aufgabe der Erfindung, eine optische Abtasteinrichtung zu schaffen, die bereit ohne elektronische Kompensationsmittel Resonanzüberhöhungen weitestgehend vermeidet und eine verbesserte Ansprechcharakteristik aufweist. DOLLAR A Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit einer die Objektivlinse der Abtasteinrichtung über Tragelemente abstützenden Halteplatte gelöst, die in der Fläche, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung aufnimmt, mindestens eine die Aufnahmepunkte trennende Aussparung aufweist. DOLLAR A Anwendungsgebiet der Erfindung sind optische Abtasteinrichtungen mit verbesserter Ansprechcharakteristik zur Verwendung in einem Gerät zum Lesen oder Schreiben von Informationen auf einem optischen Aufzeichnungsträger, wie beispielsweise einer CD, DVD, eine beschreibbare CD oder DVD oder auch eines magneto-optischen Aufzeichnungsträgers.

Description

Die Erfindung betrifft eine optische Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik zur Verwendung in einer Vorrichtung zum optischen Lesen oder Schreiben von Informationen in einer oder mehreren Spuren auf einem Aufzeichnungsträger, der beispielsweise eine als CD bekannte Compact Disc, eine als DVD bekannte Digital Versatile Disc, eine beschreibbare CD oder DVD oder auch ein magneto-optischer Aufzeichnungsträger sein kann.

Abtasteinrichtungen für optische Aufzeichnungsträger sind allgemein bekannt. Aufbau und Funktion einer optischen Abtastvorrichtung, eines sogenannten optical pick-ups, sind in Electronic Components & Applications, Vol. 6, No. 4, 1984, Seite 209-215 beschrieben. Derartige Abtasteinrichtungen weisen einen sogenannten Aktuator auf, auf dem eine zur Spurführung und zum Fokussieren des Licht- beziehungsweise Laserstrahles auf dem optischen Aufzeichnungsträger vorgesehene Objektivlinse angeordnet ist. Grundsätzlich können optische Abtasteinrichtungen nach der Art der Aufhängung der Objektivlinse unterschieden werden. So ist beispielsweise bei einem bekannten Blattfeder-Aktuator die Objektivlinsenhalterung mittels vier paralleler Blattfedern an einem Rahmen befestigt, vgl. EP-A 0 178 077. Nachteilig ist, daß derartige Federanordnungen unerwünscht zum Schwingen neigen und einen hohen Montageaufwand erfordern. Eine Parallelführung der Objektivlinsenhalterung wird auch mit einem Aktuator vom Gelenk- beziehungsweise Scharniertyp erreicht, wie er beispielsweise aus der EP-B 0 563 034 bekannt ist. Ein Aktuator mit Parallelführung erweist sich während der Auslenkung hinsichtlich Verkippung der Objektivlinse als relativ stabil, er erfordert jedoch einen hohen Justageaufwand, da er hinsichtlich der mit Gelenken geführten Bewegungsrichtungen exakt auszurichten ist.

Eine weitere Arb der Objektivlinsenhalterung besteht in der Verwendung von vier Drähten, die als Tragelemente den Objektivlinsenhalter mit der Aktuator-Grundplatte verbinden. Sogenannte Wire-Pickup können im Vergleich zu optischen Abtasteinrichtungen mit Blattfeder oder Gelenk kostengünstiger hergestellt werden. Sie erweisen sich jedoch gegenüber anderen Parallelführungen hinsichtlich Verkippung der Objektivlinse und Führungseigenschaften als nachteilig.

Ein Qualitätskriterium optischer Abtasteinrichtungen ist ihre Ansprechcharakteristik, wobei unter Ansprechcharakteristik die Reaktion der optischen Abtasteinrichtung auf Steuersignale verstanden wird, mit denen die Abtasteinrichtung zum Fokussieren oder zur Spurführung ausgelenkt wird, um einen bestimmten Ort auf dem Aufzeichnungsträger abzutasten oder der Bewegung des Aufzeichnungsträgers zu folgen. Die Bewegung der optische Abtasteinrichtung soll den angelegten Steuersignalen mit großer Genauigkeit folgen. Das Anregen eines mechanischen Systems führt jedoch in der Regel zu einem Mitschwingen im Bereich der Resonanzfrequenz beziehungsweise zu einer sogenannten Resonanzüberhöhung, welche die Ansprechcharakteristik beziehungsweise das Reagieren der optischen Abtasteinrichtung auf Steuersignale negativ beeinflußt. Da sich die Resonanzfrequenz häufig im für das menschliche Ohr hörbaren Bereich befindet, tritt dieser Effekt darüber hinaus als sogenanntes Heulen negativ in Erscheinung. Um mechanische Resonanzen und das Heulen zu vermeiden, ist es gemäß US 4.477.755 bereits bekannt, eine Schaltungsanordnung zum elektronischen Kompensieren optischer und mechanischer Instabilitäten im Fokus- und Spurregelkreis zu verwenden. Die Schaltungsanordnung enthält ein Model des mechanischen Systems, mit dem das Reagieren der Abtasteinrichtung auf Steuersignale überwacht und die Bewegung der Abtasteinrichtung bei Überschreiten eines vorgegebenen Schwellwertes gestoppt wird. Die Schaltung enthält hierzu ein Filter und einen hinsichtlich seiner Verstärkung einstellbaren Verstärker zum Erzeugen einer Steuersignalkompensationskomponente bei einer ausgewählten Frequenz im Bereich der Frequenzen, bei denen mechanische Resonanzen signifikant sind.

Es ist Aufgabe der Erfindung eine optische Abtasteinrichtung zu schaffen, die bereits ohne elektronische Kompensationsmittel Resonanzüberhöhungen weitestgehend vermeidet und eine verbesserte Ansprechcharakteristik aufweist.

Diese Aufgabe wird mit den in unabhängigen Ansprüchen angegebenen Merkmalen der Erfindung gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in abhängigen Ansprüchen angegeben.

Es ist ein Aspekt der Erfindung, eine optische Abtasteinrichtung derart zu gestalten, daß sie angelegten Steuersignalen möglichst gleichmäßig beziehungsweise ohne das Auftreten einer Resonanzüberhöhung folgt.

Es wurde herausgefunden, daß Resonanzerscheinungen wesentlich von den Eigenschaften einer Halteplatte beeinflußt werden, auf der die Mittel zum Tragen der Objektivlinsenhalterung befestigt sind. Es hat sich gezeigt, daß nachteilige Resonanzüberhöhungen durch eine nachgiebige Unterstützung der Mittel zum Tragen der Objektivlinsenhalterung vermieden werden. Andererseits sind die Möglichkeiten, ein schwingungsdämpfendes Material für die Halteplatte auszuwählen, begrenzt, da die Halteplatte einerseits das Gewicht von Objektivlinse und Objektivlinsenhalterung tragen muß und andererseits zu gewährleisten ist, daß der Aktuator nach seiner Auslenkung in die ursprüngliche Position zurückkehrt. Das bedeutet, daß sich die Halteplatte weder durch Kraft- noch durch Temperatureinflüsse verformen darf. Den sich widersprechenden Forderungen nach hoher Nachgiebigkeit und hoher Festigkeit wird mit einer Halteplatte entsprochen, bei der die Punkte der Halteplatte, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung aufnehmen, weitestgehend mechanisch entkoppelt sind. Das mechanische Entkoppeln der Punkte der Halteplatte, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung aufnehmen, wird mit einer Halteplatte erreicht, die Einkerbungen bzw. Aussparungen in der Fläche aufweist, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung aufnimmt. Diese Einkerbungen sind derart vorgesehen, daß sowohl geradlinig verlaufende Kanten der die Tragelemente aufnehmenden Fläche durch Einkerbungen beziehungsweise schlitzförmige Öffnungen unterbrochen werden als auch Aussparungen im Inneren der Fläche vorgesehen sind, die eine zwischen den Aufnahmepunkten der Tragelemente der Objektivlinse wirksame Fläche verringern. In einer Ausführung der Erfindung sind die Aufnahmepunkte als Inselflächen gestaltet, die über Einschnürungen mit der sie tragenden Fläche verbunden sind. Diese Art der Gestaltung der Halteplatte verbessert die Ansprechcharakteristik der optischen Abtasteinrichtung wesentlich und es werden Resonanzüberhöhungen vermieden. Unter Ansprechcharakteristik wird insbesondere das Reagieren der optischen Abtasteinrichtung auf Steuersignale verstanden, das sich im Frequenzgang und der Phasenlage beziehungsweise im Übertragungsverhalten der Steuersignale auf das optische Abtastsystem widerspiegelt. Resonanzüberhöhungen werden bereits ohne elektronische Kompensationsmittel weitestgehend vermieden. Dieser Effekt ist um so überraschender, da davon auszugehen war, daß durch das Abstützen der Tragelemente der Objektivlinse auf einer vergleichsweise stärker federnden Fläche Resonanzüberhöhungen verstärkt auftreten. Vorzugsweise wird die genannte Halteplatte mit einer zweiten Halteplatte zu einem Haltesystem kombiniert, wobei die zweite Halteplatte es in vorteilhafter Weise ermöglicht, die erste Halteplatte dünner auszuführen, eine zusätzliche Dämpfung im unteren Frequenzbereich zu gewährleisten und darüber hinaus eine Begrenzung der maximalen Auslenkung des Aktuators herbeizuführen. Bei einer als Wire-Pickup vorgesehenen Ausführung werden die als Tragelemente vorgesehenen Drähte durch Öffnungen in der zweiten Halteplatte hindurchgeführt und auf der ersten Halteplatte beispielsweise durch einen Lötvorgang befestigt. Anschließend wird dann der in den Öffnungen zum Draht verbleibende Zwischenraum in der zweiten Halteplatte mit einer Füllmasse ausgegossen. Als Füllmasse wird vorzugsweise Silikon verwendet, um im niederfrequenten Bereich auftretende Resonanzüberhöhungen zu bedämpfen. Obwohl davon auszugehen war, daß das Einbetten der als Tragelemente verwendeten Drähte in Silikon in der zweiten Halteplatte im wesentlichen Resonanzüberhöhungen bedämpfen würde, mußte jedoch festgestellt werden, daß dies nur unzureichend der Fall ist. Erst in Kombination mit der erfindungsgemäßen ersten Halteplatte wurde die gewünschte Ansprechcharakteristik erreicht.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Zeichnungen in einem Ausführungsbeispiel näher erläutert.

Es zeigen:

Fig. 1 Prinzipskizze einer Halteplatte einer optischen Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik,

Fig. 2 Prinzipskizze einer Seitenansicht einer optischen Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik,

Fig. 3 Prinzipskizze einer Draufsicht einer optischen Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik,

Fig. 4 Prinzipskizze einer Draufsicht einer zweiten Halteplatte einer optischen Abtasteinrichtung mit Begrenzungsmitteln,

Fig. 5 Prinzipskizze einer Frontansicht einer zweiten Halteplatte einer optischen Abtasteinrichtung mit Begrenzungsmitteln,

Fig. 6 Prinzipskizze einer Seitenansicht einer zweiten Halteplatte einer optischen Abtasteinrichtung mit Begrenzungsmitteln,

Fig. 7 Frequenzgang- und Phasendiagramm einer optischen Abtasteinrichtung mit bekannter Halteplatte in Fokusrichtung,

Fig. 8 Frequenzgang- und Phasendiagramm einer optischen Abtasteinrichtung mit erfindungsgemäßer Halteplatte in Fokusrichtung,

Fig. 9 Frequenzgang- und Phasendiagramm einer optischen Abtasteinrichtung mit bekannter Halteplatte in Spurrichtung,

Fig. 10 Frequenzgang- und Phasendiagramm einer optischen Abtasteinrichtung mit erfindungsgemäßer Halteplatte in Spurrichtung,

Fig. 11 Prinzipskizze einer Objektivlinsenhalterung, die mit Drähten auf einer bekannten Halteplatte befestigt ist,

Fig. 12 Prinzipskizze zum Zusammenfügen einer Objektivlinsenhalterung, die mit Drähten auf einer bekannten Halteplatte befestigt ist, zu einem Aktuator,

Fig. 13 Prinzipskizze der Leiterseite einer optischen Abtasteinrichtung mit bekannter Halteplatte.

Bezugszeichen sind in den Figuren übereinstimmend verwendet. In Fig. 11 ist die Prinzipskizze einer bekannten Objektivlinsenhalterung OH, die mit Drähten W auf einer bekannten Halteplatte HP befestigt ist, dargestellt. Vier auf der Halteplatte HP befestigte Drähte W tragen eine Objektivlinsenhalterung OH, auf der eine zur Fokussierung und Spurführung des Licht- beziehungsweise Laserstrahls auf einen optischen Aufzeichnungsträger vorgesehene Objektivlinse O und Spulen SP zur Auslenkung der Objektivlinse O angeordnet sind. Die als Tragelemente verwendeten Drähte W bilden dabei eine nachgiebige Unterstützung für die Objektivlinsenhalterung OH und dienen gleichzeitig als Stromzuführung für die auf der Objektivlinsennalterung OH angeordneten Spulen SP. Die Halteplatte HP, auf der die Objektivlinsenhalterung OH mit den vier Drähten W abgestützt ist, wird von einer rechteckigen Fläche gebildet, die Fig. 12 entsprechend mit einem Steg S einer Grundplatte G verbunden wird, der sich senkrecht von der Grundplatte G erstreckt. Fig. 12 entsprechend werden dadurch die in Ausnehmungen der Objektivlinsenhalterung OH vorgesehenen Spulen SP in eine Position gebracht, die ein Zusammenwirken mit Magnetstegen MS1; MS2 ermöglicht. Die Magnetstege MS1; MS2 erstrecken sich ebenfalls senkrecht von der Grundplatte G parallel zum Steg S, an dem die Halteplatte HP befestigt ist und bilden ein Magnetfeld, das im Zusammenwirken mit von den Spulen SP erzeugten Magnetfeldern ein gewünschtes Auslenken der Objektivlinse O aus einer Ruheposition ermöglicht. Das von den Magnetstegen MS1; MS2 ausgehende Magnetfeld wird vorzugsweise mit mindestens einem an einem Magnetsteg MS1 befestigten Permanentmagneten M erzeugt. Wie bereits erwähnt, erfolgt die Stromversorgung der auf der Objektivlinsenhalterung OH vorgesehenen Spulen SP über die Drähte W, mit denen die Objektivlinsenhalterung OH auf der Halteplatte HP befestigt ist. Eine in Fig. 13 dargestellte Halteplatte HP weist zum Befestigen der Drähte W Lötpunkte LP1, LP2, LP3, LP4 auf, die als Bohrungen in einer als gedruckte Leiterplatte ausgeführten Halteplatte HP vorgesehen sind. Die Drähte W werden durch die Bohrungen hindurchgeführt und durch Löten mit der Halteplatte HP verbunden, auf der hierzu im Bereich der Bohrungen Lötaugen vorgesehen sind. Die Lötaugen beziehungsweise Lötpunkte LP1, LP2, LP3, LP4 sind über Leiterbahnen mit Anschlußpunkten AP verbunden, denen Steuersignale zum Auslenken der Objektivlinse O zugeführt werden. Weiterhin sind in der Halteplatte HP Dornöffnungen DO1; DO2 zum Ausrichten der Halteplatte HP am Steg S und eine Befestigungsöffnung BMO zur Montage der Halteplatte HP vorgesehen.

Wie in Messungen ermittelt wurde, weisen derartige optische Abtasteinrichtungen den Nachteil auf, daß sie den angelegten Steuersignalen nicht bedingungslos folgen. Das eine mechanische Anregung darstellende Auslenken der Objektivlinsenhalterung OH mit Objektivlinse O und Spulen SP führt in kritischen Frequenzbereichen zu einer sogenannten Resonanzüberhöhung, wie sie sich prinzipiell in den Abweichungen von einem möglichst gleichmäßigen Verlauf der Ansprechcharakteristik in den Fig. 7 und 9 darstellt. Derartige Resonanzüberhöhungen beeinflussen nicht nur die Steuer- oder Regelcharakteristik der optischen Abtasteinrichtung nachteilig, sie führen durch das Schwingen im hörbaren Frequenzbereich auch in nachteiliger Art und Weise zu einem sogenannten Heulen. Das Unterdrücken von Resonanzüberhöhungen erfordert in der Regel zusätzliche Maßnahmen bei der Bereitstellung der Steuersignale, wie sie beispielsweise mit Entzerrern zur Linearisierung des Frequenzverlaufs erreicht werden können.

Zum Vermeiden der nachteiligen Eigenschaften und zum Einsparen zusätzlicher Mittel zum Ansteuern optischer Abtasteinrichtungen wird eine optische Abtasteinrichtung vorgeschlagen, die eine verbesserte Ansprechcharakteristik aufweist. Sie ist durch eine in Fig. 1 dargestellte Halteplatte HP1 gekennzeichnet, die in der Fläche, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung OH in den Lötpunkten LP1 . . . LP4 aufnimmt, Aussparungen aufweist, welche die Aufnahmepunkte beziehungsweise Lötpunkte LP1 . . . LP4 voneinander trennen. Die Aufnahmepunkte beziehungsweise Lötpunkte LP1 . . . LP4 sind als Inselflächen ausgeführt, die mit der sie tragenden Fläche über Einschnürungen verbunden sind. Die Tatsache, daß Resonanzüberhöhungen durch eine derart gestaltete Halteplatte HP1 vermieden werden, ist bei dem erfindungsgemäßen optischen Abtastsystem um so überraschender, da der beabsichtigte Effekt auch bei einem aus einer ersten Halteplatte HP1 und einer zweiten Halteplatte HP2 bestehenden Haltesystem entsprechend Fig. 2 und Fig. 3 nachgewiesen werden konnte.

Die in den Fig. 2 und 3 dargestellte optische Abtasteinrichtung weist eine erste Halteplatte HP1 und eine zweite Halteplatte HP2 auf, auf der sich die als Tragelemente für den Objektivlinsenhalter OH verwendeten Drähte W abstützen. Die Drähte W bilden dabei eine nachgiebige Unterstützung für den Objektivlinsenhalter OH, auf dem die Objektivlinse O und eine Fokusspule F sowie Spurspulen T angeordnet sind. An die Fokusspule F und/oder Spurspulen T werden Steuersignale angelegt, die in diesen Spulen ein Magnetfeld erzeugen, das im Zusammenwirken mit einem Magnetfeld, das von zwei Permanentmagneten M1, M2 erzeugt wird, ein Auslenken der Objektivlinse O aus einer Ruheposition ermöglichen. Zum Zuführen der Steuersignale an die Fokusspule F beziehungsweise Spurspulen T werden die als Tragelemente verwendeten Drähte W verwendet, die an Lötstellen L mit dem Objektivlinsenhalter OH und der ersten Halteplatte HP1 verbunden sind. Die Permanentmagnete M1, M2 sind an Magnetstegen MS1, MS2 befestigt, die sich senkrecht von einer Grundplatte G erheben und die erste Halteplatte HP1 und die zweite Halteplatte HP2 sind über ein Befestigungsmittel BM mit einem Steg S verbunden, der sich ebenfalls senkrecht von der Grundplatte G erhebt. Die erste Halteplatte HP1 wird dabei mit in der ersten Halteplatte HP1 vorgesehenen Dornöffnung D01, D02 an entsprechenden Dornen D der zweiten Halteplatte HP2 ausgerichtet.

Zur Montage des Objektivlinsenhalters OH mit dem aus einer erste Halteplatte HP1 und einer zweite Halteplatte HP2 bestehenden Haltesystem werden die Grundplatte G und der Objektivlinsenhalter OH in einer Vorrichtung fixiert und die das Haltesystem mit dem Objektivlinsenhalter OH verbindenden Drähte W vorzugsweise unter einer Vorspannung der Drähte W an Lötstellen L mit dem Objektivlinsenhalter OH und der ersten Halteplatte HP1 durch Anlöten verbunden. Hierzu werden die Drähte W an Lötstellen L des Objektivlinsenhalters OH angelegt und durch in der zweiten Halteplatte HP2 vorgesehene Bohrungen B hindurchgeführt. Die zweite Halteplatte HP2 ist in den Fig. 4 bis 6 in drei Ansichten dargestellt. Die Bohrungen B sind in den Fig. 4 und 5 angegeben und weisen Fig. 5 entsprechend seitliche Öffnungen SO auf. Diese seitlichen Öffnungen SO sind vorgesehen, um nach dem Hindurchführen der Drähte W den Zwischenraum zwischen Draht W und zweiter Halteplatte HP2 mit Silikon auszufüllen. Das den Zwischenraum zwischen Draht W und zweiter Halteplatte HP2 ausfüllende Silikon wirkt dabei als Dämpfungsmaterial, um Resonanzerscheinungen entgegenzuwirken. Zum Befestigen der zweite Halteplatte HP2 am Steg S der Grundplatte G ist in der zweiten Halteplatte HP2 eine in Fig. 5 angegebene zweite Befestigungsöffnung BO2 vorgesehen, die mit der ersten Befestigungsöffnung BO1 der ersten Halteplatte HP1 übereinstimmt. An Fig. 4 angegebenen Dornen D wird die erste Halteplatte HP1 an der zweiten Halteplatte HP2 während der Montage ausgerichtet. Darüber hinaus weist die zweite Halteplatte HP2 in Fig. 4 und 6 angegebene Befestigungsstege BS auf, die in vorteilhafter Weise ein Auslenken des Objektivlinsenhalters OH nach oben begrenzen. Der nur über die vier Drähte W mit dem Haltesystem verbundene Objektivlinsenhalter OH kann dann beim Einwirken hoher Beschleunigungskräfte, wie beispielsweise beim Fall auftreten, nicht in einen unzulässigen Bereich ausgelenkt werden, der ein selbsttätiges Zurückkehren in die ursprüngliche Ruhelage durch Überschreiten der Elastizitätsgrenze des Systems verhindern würde. Die zweite Halteplatte HP2 übernimmt damit mehrere Funktionen, die im Abstützen der ersten Halteplatte HP1, im Dämpfen der Drähte W und im Begrenzen der Auslenkung des Objektivlinsenhalters OH bestehen.

Obwohl Schwingungen des Objektivlinsenhalters OH beziehungsweise der Drähte W bereits durch das in die Zwischenräume zwischen Draht W und zweiter Halteplatte HP2 eingefügte Silikon bedämpft werden, hat sich herausgestellt, daß die Ansprechcharakteristik der optischen Abtasteinrichtung wesentlich von der ersten Halteplatte HP1 beeinflußt wird. Dies wird anhand durchgeführter Messungen deutlich, deren Ergebnisse in den Fig. 7 bis 10 dargestellt sind. Im in Fig. 7 dargestellten Frequenzgang- und Phasendiagramm einer optischen Abtasteinrichtung mit bekannter Halteplatte HP in Fokusrichtung sind die Ansprechempfindlichkeit FREQRESP in Dezibel dB sowie der Phasenwinkel Phase in Grad Deg logarithmisch Log über der Frequenz F in Hertz Hz in einem Bereich bis zu fünf Kilohertz 5K dargestellt. Nachfolgende Frequenzgang- und Phasendiagramme sind entsprechend skaliert. Das in Fig. 7 dargestellte Diagramm einer optischen Abtasteinrichtung mit bekannter Halteplatte HP zeigt im Bereich zwischen 800 und 900 Hz deutliche Abweichungen von einem gleichförmigen Verlauf sowohl hinsichtlich Ansprechempfindlichkeit FREQRESP als auch hinsichtlich Phasenwinkel Phase. Diese Resonanzüberhöhungen wurden bei einer optischen Abtasteinrichtung festgestellt, deren Aufbau der erfindungsgemäßen optischen Abtasteinrichtung gemäß Fig. 2 und 3 nur mit dem Unterschied entspricht, daß als Halteplatte HP1 eine bekannte Halteplatte HP verwendet wurde. Der Vergleich mit dem in Fig. 8 dargestellten Diagramm für eine optische Abtasteinrichtung mit erfindungsgemäßer Halteplatte HP1 macht den überraschenden Effekt deutlich, daß mit der Halteplatte HP1 unter vergleichbaren Bedingungen die nachteiligen Eigenschaften hinsichtlich Ansprechempfindlichkeit FREQRESP und Phasenwinkel Phase vermieden werden. Die erfindungsgemäße Abtasteinrichtung mit den in Fig. 8 dargestellten Eigenschaften weist eine verbesserte Ansprechcharakteristik auf, da sowohl Frequenz- als auch Phasengang einen gleichförmigen Verlauf aufweisen und Resonanzüberhöhungen nicht auftreten. Der genannte Effekt tritt nicht nur in Fokusrichtung sondern auch in Spurrichtung auf, wie die nachfolgenden Diagramme in Fig. 9 und Fig. 10 anschaulich demonstrieren. Fig. 9 zeigt das Frequenzgang- und Phasendiagramm der optischen Abtasteinrichtung gemäß Fig. 2 und 3 mit bekannter Halteplatte HP in Spurrichtung und Fig. 10 zeigt das Frequenzgang- und Phasendiagramm der gleichen optischen Abtasteinrichtung mit erfindungsgemäßer Halteplatte HP1 in Spurrichtung. Obwohl davon auszugehen war, daß Resonanzüberhöhungen durch das Einbetten der Drähte W in Silikon in der zweiten Halteplatte HP2 vermieden werden können, wurde herausgefunden, daß dies nur unzureichend zutreffen ist, da die erfindungsgemäße, erste Halteplatte HP1 gezeigt hat, daß erst ihre Gestaltung zum gewünschten Erfolg führt. Die Erfindung ist nicht auf die hier angegebene Ausführung der optischen Abtasteinrichtung beschränkt, sondern gilt generell für optische Abtasteinrichtungen, bei denen sich der Objektivlinsenhalter OH mit Tragelementen auf einer Halteplatte HP abstützt.

Claims

1. Optische Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik, bestehend aus einem Objektivlinsenhalter (OH), der sich mit Tragelementen in Aufnahmepunkten auf einer Fläche einer Halteplatte (HP) abstützt, dadurch gekennzeichnet, daß in der Fläche, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung (OH) aufnimmt, mindestens eine die Aufnahmepunkte trennende Aussparung vorgesehen ist.

2. Optische Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik, bestehend aus einem Objektivlinsenhalter (OH), der sich mit Tragelementen in Aufnahmepunkten auf einer Fläche einer Halteplatte (HP) abstützt, dadurch gekennzeichnet, daß eine Halteplatte (HP1) vorgesehen ist, die in der Fläche, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung (OH) aufnimmt, zum vermeiden von Resonanzüberhöhungen mindestens eine die Aufnahmepunkte trennende Aussparung aufweist.

3. Optische Abtasteinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung (OH) Drähten (W) sind, die in Lötpunkten (LP1 . . . LP4) mit der Halteplatte (HP1) und an Lötstellen (L) mit der Objektivlinsenhalterung (OH) verbunden sind.

4. Optische Abtasteinrichtung mit verbesserter Ansprechcharakteristik, bestehend aus einem Objektivlinsenhalter (OH), der sich mit Tragelementen in Aufnahmepunkten auf einer Fläche einer Halteplatte (HP) abstützt, dadurch gekennzeichnet, daß die Halteplatte (HP) ein Haltesystem ist, das aus einer ersten Halteplatte (HP1) und einer zweiten Halteplatte (HP2) gebildet ist und die erste Halteplatte (HP1) in der Fläche, welche die Tragelemente der Objektivlinsenhalterung (OH) aufnimmt, zum vermeiden von Resonanzüberhöhungen mindestens eine die Aufnahmepunkte trennende Aussparung aufweist.

5. Optische Abtasteinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnete daß die zweite Halteplatte (HP2) Begrenzungsmittel zum Begrenzen einer Auslenkung der Objektivlinsenhalterung (OH) aufweist.

6. Optische Abtasteinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnete daß die Begrenzungsmittel zum Begrenzen einer Auslenkung der Objektivlinsenhalterung (OH) Begrenzungsstege (BS) der zweiten Halteplatte (HP2) sind.