KR980005573A - 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성방법 - Google Patents
반도체 소자의 금속층간 절연막 형성방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR980005573A KR980005573A KR1019960024949A KR19960024949A KR980005573A KR 980005573 A KR980005573 A KR 980005573A KR 1019960024949 A KR1019960024949 A KR 1019960024949A KR 19960024949 A KR19960024949 A KR 19960024949A KR 980005573 A KR980005573 A KR 980005573A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- insulating film
- forming
- interlayer insulating
- metal interlayer
- peripheral circuit
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 title claims abstract description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract 4
- UPSOBXZLFLJAKK-UHFFFAOYSA-N ozone;tetraethyl silicate Chemical compound [O-][O+]=O.CCO[Si](OCC)(OCC)OCC UPSOBXZLFLJAKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
본 발명은 1차 금속 층간 절연막, SOG(또는 SOP) 막 및 O3-TEOS 산화막으로 된 금속 층간 절연막에서 1차 금속 층간 절연막을 형성한 후 SOG(또는 SOP) 막을 도포하고, SOG(또는 SOP) 막을 주변 회로 지역의 하층 금속 패턴의 상단부까지 전면 식각 공정으로 식각한 후 O3-TEOS 산화막을 형성하여 금속 층간의 절연막의 평탄화를 이루는 방법이 기술된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1a 내지 1f 도는 본 발명의 실시 예에 의한 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법을 설명하기 위해 도시된 소자의 단면도.
Claims (5)
- 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성방법에 있어서 하부 구조층을 갖는 웨이퍼가 제공되는 단계; 셀지역과 주변회로 지역으로 된 하부 구조 층상에 하층 금속패턴을 다수개 형성하는 단계; 상기 다수의 하층 금속 패턴을 포함한 상기 하부구조 층상에 1차 금속층간 절연막을 형성하는 단계; 상기 1차 금속층간 절연막 상에 평탄 절연막을 형성하는 단계; 상기 평탄 절연막을 상기 주변 회로 지역에 있는 상기 하층 금속 패턴 상단까지 전면 식각 하여 잔류 평탄 절연막을 남기므로, 상기주변 회로 지역이 평탄화 되는 단계; 및 상기 잔류 평탄 절연막 형성 후의 전체 구조상에 산화막을 증착하므로, 상기 주변 회로 지역뿐만 아니라 상기 셀 지역이 평탄화 되는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 전면 식각 공정은 산소 플라즈마를 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의금속 층간 절연막 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 평탄 절연막은 SOG를 사용하여 회전 방식으로 도포하고, 450℃이하에서 열공정을 실시하여 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성방법.
- 제1항에 있어서 상기 평탄 절연막은 SOP를 사용하여 회정방식을 도포하고, 450℃이하에서 열공정을 실시하여 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성 방법.
- 제1항에 있어서 상기 산화막은 O3-TEOS인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960024949A KR100221583B1 (ko) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성 방법 |
| JP9165858A JPH1092934A (ja) | 1996-06-28 | 1997-06-23 | 半導体素子の金属層間絶縁膜形成方法 |
| CN97111872A CN1091946C (zh) | 1996-06-28 | 1997-06-27 | 形成半导体器件的层间绝缘膜的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960024949A KR100221583B1 (ko) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR980005573A true KR980005573A (ko) | 1998-03-30 |
| KR100221583B1 KR100221583B1 (ko) | 1999-09-15 |
Family
ID=19464180
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960024949A KR100221583B1 (ko) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | 반도체 소자의 금속 층간 절연막 형성 방법 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1092934A (ko) |
| KR (1) | KR100221583B1 (ko) |
| CN (1) | CN1091946C (ko) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003142579A (ja) * | 2001-11-07 | 2003-05-16 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
| KR100607363B1 (ko) | 2004-12-29 | 2006-08-01 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 저유전율 절연막을 이용한 금속간 절연막 및 그 형성방법 |
-
1996
- 1996-06-28 KR KR1019960024949A patent/KR100221583B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-06-23 JP JP9165858A patent/JPH1092934A/ja active Pending
- 1997-06-27 CN CN97111872A patent/CN1091946C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1091946C (zh) | 2002-10-02 |
| JPH1092934A (ja) | 1998-04-10 |
| CN1177205A (zh) | 1998-03-25 |
| KR100221583B1 (ko) | 1999-09-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR970030682A (ko) | 반도체장치 및 그 제조방법 | |
| TW373263B (en) | Process for plasma etching anti-reflective coatings | |
| KR980005573A (ko) | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성방법 | |
| KR19990071113A (ko) | 반도체 소자의 제조방법 | |
| KR980005592A (ko) | 자기 정렬 콘택 홀 형성 방법 | |
| KR970053546A (ko) | 반도체 장치의 금속 배선 형성 방법 | |
| KR100532981B1 (ko) | 반도체소자 식각방법 | |
| KR960039285A (ko) | 반도체 소자 제조방법 | |
| KR950021107A (ko) | 콘택홀 형성방법 | |
| KR980005626A (ko) | 반도체 소자의 콘택 형성방법 | |
| KR980005474A (ko) | 반도체 소자 제조방법 | |
| KR970003639A (ko) | 반도체 소자의 층간절연막 평탄화 방법 | |
| KR960002649A (ko) | 다층절연막 구조를 갖는 반도체 장치 및 제조방법 | |
| KR970018106A (ko) | 반도체 소자의 리페어를 용이하게 하기 위한 다층 절연막 제거 방법 | |
| KR940016629A (ko) | 삼층감광막 패턴 형성방법 | |
| KR980005834A (ko) | 반도체 소자의 제조방법 | |
| KR950007066A (ko) | 반도체 소자의 금속배선 형성방법 | |
| KR950034424A (ko) | 글로벌평탄화방법 | |
| KR970013032A (ko) | 고집적 반도체장치의 콘택트 형성방법 | |
| KR970003635A (ko) | 반도체소자 제조방법 | |
| KR940001374A (ko) | 필라반대형상 평탄화를 이용한 다층배선의 반도체 장치의 제조방법 | |
| KR980005690A (ko) | 반도체 소자의 평탄화 방법 | |
| KR980003891A (ko) | 노광용 정렬 키 제조방법 | |
| KR960039420A (ko) | 3극 필드 에미터 제조방법 | |
| TW366582B (en) | Method for forming laser repair contact in semiconductor |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20070518 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |