KR970051327A - 데이타 기억 영역의 속성 데이타를 기억하는 속성 데이타 영역과 데이타 기억 영역을 갖는 비휘발성메모리 - Google Patents

데이타 기억 영역의 속성 데이타를 기억하는 속성 데이타 영역과 데이타 기억 영역을 갖는 비휘발성메모리 Download PDF

Info

Publication number
KR970051327A
KR970051327A KR1019960082417A KR19960082417A KR970051327A KR 970051327 A KR970051327 A KR 970051327A KR 1019960082417 A KR1019960082417 A KR 1019960082417A KR 19960082417 A KR19960082417 A KR 19960082417A KR 970051327 A KR970051327 A KR 970051327A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
memory
memory cell
group
word lines
memory cells
Prior art date
Application number
KR1019960082417A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100273628B1 (ko
Inventor
나오유키 오구라
Original Assignee
가네꼬 히사시
닛폰 덴키 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가네꼬 히사시, 닛폰 덴키 가부시키가이샤 filed Critical 가네꼬 히사시
Publication of KR970051327A publication Critical patent/KR970051327A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100273628B1 publication Critical patent/KR100273628B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/02Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
    • G11C5/025Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/22Safety or protection circuits preventing unauthorised or accidental access to memory cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

메모리는 복수개의 워드라인 WL1-8 복수개의 비트라인 BL1-512과 BLal-32, 복수개의 메모리 쎌 C1-512과 Cal-32을 갖고, 메모리 셀 CL-512과 Cal-32의 각각은 상기 워드라인 WL1-8의 선택된 하나와 상기 비트라인 BL1-512과 BLal-32의 선택돈 하나 사이에 접속되며, 상기 복수개의 메모리 셀C1-512과 Cal-32은 제1그룹 메모리 셀 C1-512과 제2그룹 메모리 셀 Cal-32로 분할돈 상기 워드라인 WL1-8의 선택된 하나에 접속되며, 상기 제1그룹 메모리 셀 C1-512은 데이타 기억을 위해 제공도며 상기 제2그룹 메모리 셀 Cal-32은 상기 그룹 메모리 셀 C1-512의 속성 데이타를 기억하도록 제공된다.

Description

데이타 기억영역의 속성 데이타를 기억하는 속성 데이타 영역과 데이타 기억영역을 갖는 비휘발성 메모리
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따르는 비휘발성 반도체 기억장치의 블럭 다이어그램

Claims (14)

  1. 복수의 워드라인과, 복수의 비트라인과 각각 상기 비트라인의 선택된 하나와 상기 워드라인의 선택된 하나 사이에 접속된 복수의 메모리 셀을 포함하고 상기 복수의 메모리 셀은 제1그룹 메모리 쎌과 제2메모리 셀로 분할된 상기 워드라인의 선택된 하나의 접속되고 상기 제1그룹 메모리 셀은 데이타 기억을 위해 제공되고 상기 제2그룹 메모리 셀은 상기 제1그룹 메모리 셀의 속성 데이타 기억을 위해 제공되는 것을 특징으로 하는 메모리.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1그룹 메모리 셀과 상기 제2그룹 메모리 셀은 같은 어드레스에 의해 액세스되는 것을 특징으로 하는 메모리
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1그룹 메모리 셀은 512비트인 상기 메모리 셀을 갖는 것을 특징으로 하는 메모리.
  4. 제1항에 있어서 상기 속성 데이타는 상기 제1그룹 메모리 셀의 재기록 수를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리
  5. 제1항에 있어서, 상기 워드라인의 선택된 하나에 접속된 상기 메모리 셀의 에러를 검출 및 정정하도록 상기 복수의 워드라인에 접속된 에러 정정 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리.
  6. 제1항에 있어서 대응하는 상기 메모리 셀을 경유하여 상기 워드라인의 상기 선택된 하나에 접속된 상기 비트 라인의 에러를 검출 및 정정하도록 상기 복수의 워드라인에 접속된 에러 정정 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리
  7. 제1항에 있어서, 소거 신호에 응답하여 상기 모든 메모리 셀의 내용을 소거하기 위한 소거 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리
  8. 복수의 메모리 셀 블럭을 포함하는 메모리에 있어서 상기 메모리 셀 블럭의 각각은 복수의 워드라인과 복수의 비트라인과 각각 상기 비트라인의 선택된 하나와 상기 라인의 선택된 하나 사이에 접속된 복수의 메모리 셀을 포함하고 상기 복수의 메모리 셀은 제1그룹 메모리 셀과 제2그룹 메모리 셀로 분할된 상기 워드라인의 선택된 하나에 접속되고 상기 제1그룹 메모리 셀은 데이타 기억을 위해 제공되고 상기 제2그룹메모리 셀은 상기 제1그룹 메모리 셀의 속성 데이타 기억을 위해 제공되는 것을 특징으로 하는 메모리
  9. 제8항에 있어서 상기 워드라인에 접속된 상기 제1그룹 메모리 셀과 상기 제2그룹 메모리 셀은 같은 어드레스에 의해 액세스 되는 것을 특징으로 하는 메모리
  10. 제8항에 있어서 상기 제1그룹 메모리 셀은 512비트인 상기 메모리 셀을 갖는 것을 특징으로 하는 메모리
  11. 제8항에 있어서 상기 속성 데이타는 상기 제1그룹 메모리 셀의 재기록 수를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리
  12. 제8항에 있어서 상기 워드 라인의 선택된 하나에 접속된 상기 메모리 셀의 에러를 검출 및 정정하도록 상기 복수의 워드라인에 접속된 에러 정정회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리
  13. 제8항에 있어서 대응하는 상기 메모리 셀을 경유하여 상기 워드라인의 상기 선택된 하나에 접속된 상기 비트라인의 에러를 검출 및 정정하도록 상기 복수의 워드라인에 접속된 에러 정정 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리
  14. 제8항에 있어서, 소거 신호에 응답하여 어드레스 신호에 의해 선택된 상기 메모리 블럭의 선택된 하나의 상기 모든 메모리 셀의 내용을 소거하기 위한 소거 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960082417A 1995-12-27 1996-12-27 데이타 기억 영역의 속성 데이타를 기억하는 속성 데이타 영역과 데이타 기억 영역을 갖는 비휘발성 메모리 KR100273628B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34151395A JP2848300B2 (ja) 1995-12-27 1995-12-27 不揮発性半導体記憶装置
JP95-341513 1995-12-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970051327A true KR970051327A (ko) 1997-07-29
KR100273628B1 KR100273628B1 (ko) 2001-01-15

Family

ID=18346650

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960082417A KR100273628B1 (ko) 1995-12-27 1996-12-27 데이타 기억 영역의 속성 데이타를 기억하는 속성 데이타 영역과 데이타 기억 영역을 갖는 비휘발성 메모리

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5818754A (ko)
EP (1) EP0782146A3 (ko)
JP (1) JP2848300B2 (ko)
KR (1) KR100273628B1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69033262T2 (de) * 1989-04-13 2000-02-24 Sandisk Corp EEPROM-Karte mit Austauch von fehlerhaften Speicherzellen und Zwischenspeicher
JP3411186B2 (ja) * 1997-06-06 2003-05-26 シャープ株式会社 不揮発性半導体記憶装置
US6178532B1 (en) * 1998-06-11 2001-01-23 Micron Technology, Inc. On-chip circuit and method for testing memory devices
US6148414A (en) * 1998-09-24 2000-11-14 Seek Systems, Inc. Methods and systems for implementing shared disk array management functions
US7266706B2 (en) * 1999-03-03 2007-09-04 Yottayotta, Inc. Methods and systems for implementing shared disk array management functions
US7061792B1 (en) * 2002-08-10 2006-06-13 National Semiconductor Corporation Low AC power SRAM architecture
KR100704628B1 (ko) * 2005-03-25 2007-04-09 삼성전자주식회사 다수의 스트링을 사용하여 상태 정보를 저장하는 방법 및비휘발성 저장 장치
WO2007023544A1 (ja) 2005-08-25 2007-03-01 Spansion Llc 記憶装置、記憶装置の制御方法、および記憶制御装置の制御方法
JP2008021390A (ja) * 2006-07-14 2008-01-31 Toshiba Corp 半導体記憶装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5268870A (en) * 1988-06-08 1993-12-07 Eliyahou Harari Flash EEPROM system and intelligent programming and erasing methods therefor
JPH0748320B2 (ja) * 1989-07-24 1995-05-24 セイコー電子工業株式会社 半導体不揮発性メモリ
JPH03250499A (ja) * 1990-02-27 1991-11-08 Nec Corp データ記憶回路
JPH05151097A (ja) * 1991-11-28 1993-06-18 Fujitsu Ltd 書換回数制限型メモリのデータ管理方式
JPH05189981A (ja) * 1992-01-10 1993-07-30 Toshiba Corp フラッシュ型eepromおよびそのフラッシュ型eepromを使用した電子計算機システム
JP3251968B2 (ja) * 1992-01-20 2002-01-28 富士通株式会社 半導体記憶装置
ATA80592A (de) * 1992-04-21 1995-06-15 Vaillant Gmbh Verfahren zum optimalen ausnutzen der speicherkapazität eines eeprom
JP2647312B2 (ja) * 1992-09-11 1997-08-27 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 一括消去型不揮発性半導体記憶装置
US5388083A (en) * 1993-03-26 1995-02-07 Cirrus Logic, Inc. Flash memory mass storage architecture
JPH08249895A (ja) * 1995-03-10 1996-09-27 Nec Corp 不輝発性半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09180485A (ja) 1997-07-11
EP0782146A3 (en) 2003-07-16
EP0782146A2 (en) 1997-07-02
KR100273628B1 (ko) 2001-01-15
JP2848300B2 (ja) 1999-01-20
US5818754A (en) 1998-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9405679B2 (en) Determining a location of a memory device in a solid state device
CN102473453B (zh) 半导体存储装置
KR960015578A (ko) 버스트 동작중에 리프레시 동작이 가능한 반도체 기억장치
KR920018766A (ko) 불휘발성 반도체 기억장치
KR930014612A (ko) 불 휘발성 반도체 메모리 장치
KR960032496A (ko) 열 리던던씨를 가지는 불휘발성 반도체 메모리의 소거 검증회로
KR20070117606A (ko) 데이터용과 에러 정정 코드용으로 전환가능한 부분을 갖는메모리
KR950015396A (ko) 반도체 불휘발성 기억장치
US20050132128A1 (en) Flash memory device and flash memory system including buffer memory
KR950020748A (ko) 반도체 기억장치
KR970062918A (ko) 메모리 장치 및 메모리 제어방법
KR890015280A (ko) 마스크 rom
KR970063276A (ko) 반도체 기억장치
JPS61267846A (ja) メモリを有する集積回路装置
KR940006023A (ko) 내용주소화기억장치 및 그 일치워드(incidence word)의 불능화방법
KR870005473A (ko) 반도체 프로그램어블 메모리 장치
KR970051441A (ko) 플래쉬 메모리 장치
US20020089873A1 (en) Combining ram and rom into a single memory array
KR970051327A (ko) 데이타 기억 영역의 속성 데이타를 기억하는 속성 데이타 영역과 데이타 기억 영역을 갖는 비휘발성메모리
US6772273B1 (en) Block-level read while write method and apparatus
KR950034271A (ko) 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리
JP5139240B2 (ja) 強誘電体メモリ装置
US6724663B2 (en) Erase block architecture for non-volatile memory
KR900017171A (ko) 반도체집적회로
US5226015A (en) Semiconductor memory system

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080825

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee