KR950034271A - 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리 - Google Patents
비휘발성 반도체 플래쉬 메모리 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950034271A KR950034271A KR1019950000995A KR19950000995A KR950034271A KR 950034271 A KR950034271 A KR 950034271A KR 1019950000995 A KR1019950000995 A KR 1019950000995A KR 19950000995 A KR19950000995 A KR 19950000995A KR 950034271 A KR950034271 A KR 950034271A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- semiconductor
- stored
- information
- nonvolatile memory
- word line
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/76—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
- G11C29/765—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications in solid state disks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/24—Bit-line control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/349—Arrangements for evaluating degradation, retention or wearout, e.g. by counting erase cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/349—Arrangements for evaluating degradation, retention or wearout, e.g. by counting erase cycles
- G11C16/3495—Circuits or methods to detect or delay wearout of nonvolatile EPROM or EEPROM memory devices, e.g. by counting numbers of erase or reprogram cycles, by using multiple memory areas serially or cyclically
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/80—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
- G11C29/816—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout for an application-specific layout
- G11C29/82—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout for an application-specific layout for EEPROMs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/88—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring with partially good memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/06—Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
- G11C5/063—Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
- G06F11/0754—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
- G06F11/076—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits by exceeding a count or rate limit, e.g. word- or bit count limit
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/81—Threshold
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
비휘발성 메모리의 각 워드선에 대해 고쳐쓰기와 소거의 사이클의 누적수를 기록한 확정메모리부의 어드레스를 제어하기 위한 스페어로 디코더와 메모리 어레이부의 비트선과 병렬로 비휘발성 메모리와 연결된 보조 비트부로 구성되어 있는 구성인 플래쉬 EEPROM은 섹터의 사이클수가 한계값에 이르면 저장되어 사이클의 저장된 누적수를 판단하고, 그것에 이르러 특정워드선의 사이클의 누적수가 한계값에 이를 때조차도 메모리의 생명을 연장하기위해 확장워드선을 가진 워드선을 바꾸고, 데이터 “1” 또는 “0”의 수가 데이터를 쓸시 소정의 수보다 크거나 적을때 다른 위상에 관련하여 데이터를 저장하고, 드레인방행을 감소시키도록 데이터를 읽을때 위상정보에 기초한 저장정보를 가져온다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 따른 반도체 비휘발성 메모리의 제1실시예에 대한 블록도이다. 제6도는 제5도의 메모리 어레이부의 구성의 예를 나타낸다. 제7도는 제5도의 메모리동작을 설명하는 플로우차트이다.
Claims (11)
- 워드선 섹터소거를 수행하는 반도체 비휘발성 메모리에서, 저장부는 각 워드선에 대해 고쳐쓰기와 소거의 사이클수를 저장하기위해 제공되며, 각 워드선의 사이클의 누적수는 고쳐쓰기와 소거의 각 사이클에서 상기 저장부에 저장되도록 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 저장부는 보조비트선과 상기 워드선에 의해 운반된 보조비휘발성 메모리셀의 복수와 본 워드선을 교차시키도록 제공된 보보비트선의 복수개로 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제2항에 있어서, 상기 보조비휘발성 메모리셀의 수(m×워드선의 수)와 상기 보조비트선의 수(m)는 저장된 사이클의 누적수의 비트길이로 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제1항에 있어서, 메모리셀은 병렬로 접속되어 있는 적어도 하나의 확장워드선과, 워드선을 차단하고 상기 저장부의 저장된 워드선의 상기 사이클 누적수가 프리세트값에 이를때 그것을 확장워드선으로 바꾸는 회로를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제2항에 있어서, 메모리셀은 병렬로 접속되어 있는 적어도 하나의 확장워드선과, 워드선을 차단하고 상기 저장부의 저장된 워드선의 상기 사이클 누적수가 프리세트값에 이를때 그것을 확장워드선으로 바꾸는 회로를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 비휘발성 메모리 어레이는 매트릭스에 정렬된 복수개의 반도체 비휘발성 메모리를 가지는 복수개의 워드선 및 복수개의 비트선과, 비휘발성 메모리 어레이의 각 비트선에 대한 위상정보를 저장하기 위한 보조메모리 수단을 제공하도록 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제6항에 있어서, 상기 비휘발성 메모리 어레이는 비트선의 확장방향으로 복수개의 부 - 어레이로 분할되고, 각 부어레이는 부 - 비트선과, 부 - 비트선 및 상기 비트선을 동작적으로 연결하는 전환수단을 가지고, 상기 보조메모리수단은 부어레이이의 각 부비트선에 대한 상기 저장된 정보의 위상을 저장하기위한 수단을 가지도록 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제6항에 있어서, 입력정보를 저장하기위한 상기 반도체 비휘발성 메모리셀은 전기적으로 고쳐쓸수 있고, 상기 위상 정보를 저장한 수단은 저장된 정보가 상기 반도체 비휘발성 메모리셀에서 상기 저장된 정보를 쓸때에 반전위상으로 쓰여진 것에 일치하여 상기 보조메모리수단으로 제공되고, 상기 보조메모리수단의 상기 위상정보에 일치하여 상기 저장된 정보를 반전하기위한 수단을 상기 반도체 비휘발성 메모리셀의 상기 저장된 정보를 읽을때 제공되도록 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제6항에 있어서, 입력정보를 저장하기위한 상기 반도체 비휘발성 메모리셀은 반도체 제조공정에서 마스크패턴에 의해 저장된 정보로 쓰여질 수 있고, 위상정보를 저장하기 위한 수단은 저장된 정보가 상기 반도체 비휘발성 메모리셀에서 상기 저장된 정보를 쓸 경우에 반전 위상에서 쓰여지고, 상기 저장된 정보를 반전시키기위한 수단은 상기 반도체 비휘발성 메모리셀의 상기 저장된 정보를 읽을때 상기 보조메모리수단의 상기 위상정보에 일치하여 제공되도록 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.
- 제7항에 있어서, 입력정보를 저장하기위한 상기 반도체 비휘발성 메모리는 전기적으로 고쳐쓸 수 있고, 상기 위상정보를 저장하기위한 수단은 저장된 정보가 상기 반도체 비휘발성 메모리셀의 상기 저장된 정보를 쓸 경우에 반전위상으로 쓰여진 것에 일치하여 상기 보조메모리수단에 제공되고, 상기 저장된 정보를 반전하기 위한 수단은 상기 반도체 비휘발성 메모리셀의 상기 저장된 정보를 읽을때 상기 보조메모리수단의 상기 위상정보에 관련하여 제공되도록 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 빈도체 플래쉬 메모리.
- 제7항에 있어서, 상기 반도체 비휘발성 메모리셀은 반도체 제조공정에서 마스크 패턴에 의한 저장된 정보로 쓰여질 수 있고, 상기 위상정보를 저장하기위한 수단은 저장된 정보가 상기 반도체 비휘발성 메모리에서 상기 저장된 정보를 쓸 경우에 반전위상으로 쓰여진 것에 일치하여 상기 보조메모리수단으로 공급되고, 상기 저장된 정보를 반전하기위한 수단은 상기 반도체 비휘발성 메모리셀의 상기 저장된 정보를 읽을때 본 보조메모리수단의 정보에 관련하여 제공되도록 구성된 것을 특징으로 하는 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP94-7093 | 1994-01-26 | ||
JP709394A JP3525472B2 (ja) | 1994-01-26 | 1994-01-26 | 半導体不揮発性記憶装置 |
JP6124892A JPH07334991A (ja) | 1994-06-07 | 1994-06-07 | 半導体不揮発性記憶装置 |
JP94-124892 | 1994-06-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950034271A true KR950034271A (ko) | 1995-12-28 |
Family
ID=26341352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950000995A KR950034271A (ko) | 1994-01-26 | 1995-01-20 | 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5561632A (ko) |
KR (1) | KR950034271A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100334173B1 (ko) * | 1993-06-25 | 2002-10-11 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 마이크로컴퓨터 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09180492A (ja) * | 1995-12-26 | 1997-07-11 | Sony Corp | 半導体記憶装置 |
JP3338755B2 (ja) * | 1996-10-24 | 2002-10-28 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置 |
DE69832609D1 (de) * | 1998-09-30 | 2006-01-05 | St Microelectronics Srl | Emulierte EEPROM Speicheranordnung und entsprechendes Verfahren |
US6256755B1 (en) | 1998-10-19 | 2001-07-03 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for detecting defective NVRAM cells |
US6871305B2 (en) * | 2001-06-14 | 2005-03-22 | Silicon Motion, Inc. | Device for prolonging lifetime of nonvolatile memory |
DE10144617A1 (de) * | 2001-09-11 | 2003-01-30 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zum Betreiben einer Schaltungsanordnung, die einen Mikrocontroller und ein EEPROM enthält |
DE602006006029D1 (de) * | 2006-04-12 | 2009-05-14 | St Microelectronics Srl | Spaltendekodierungssystem für mit Niederspannungstransistoren implementierte Halbleiterspeichervorrichtungen |
KR100758300B1 (ko) * | 2006-07-26 | 2007-09-12 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법 |
JP4932427B2 (ja) * | 2006-10-20 | 2012-05-16 | 株式会社日立製作所 | 記憶装置及び記憶方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS618798A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-16 | Nec Corp | 不揮発性記憶装置 |
JPS63239696A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Toshiba Corp | 冗長回路付メモリの試験装置 |
IT1214246B (it) * | 1987-05-27 | 1990-01-10 | Sgs Microelettronica Spa | Dispositivo di memoria non volatile ad elevato numero di cicli di modifica. |
JPS6425399A (en) * | 1987-07-21 | 1989-01-27 | Fujitsu Ltd | Programmable device and its test method |
US5043940A (en) * | 1988-06-08 | 1991-08-27 | Eliyahou Harari | Flash EEPROM memory systems having multistate storage cells |
JPH03241598A (ja) * | 1990-02-19 | 1991-10-28 | Fujitsu Ltd | シグネチャー回路 |
JP2784550B2 (ja) * | 1990-03-05 | 1998-08-06 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2865807B2 (ja) * | 1990-05-28 | 1999-03-08 | 株式会社東芝 | 半導体記憶システム |
JP2716906B2 (ja) * | 1992-03-27 | 1998-02-18 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2720718B2 (ja) * | 1992-07-09 | 1998-03-04 | 株式会社デンソー | 半導体センサ装置 |
JPH0750558B2 (ja) * | 1992-09-22 | 1995-05-31 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 一括消去型不揮発性メモリ |
US5388083A (en) * | 1993-03-26 | 1995-02-07 | Cirrus Logic, Inc. | Flash memory mass storage architecture |
JP3257860B2 (ja) * | 1993-05-17 | 2002-02-18 | 株式会社日立製作所 | 半導体メモリ装置 |
-
1995
- 1995-01-20 KR KR1019950000995A patent/KR950034271A/ko not_active Application Discontinuation
- 1995-01-20 US US08/375,700 patent/US5561632A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-06-11 US US08/661,351 patent/US5654922A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100334173B1 (ko) * | 1993-06-25 | 2002-10-11 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 마이크로컴퓨터 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5654922A (en) | 1997-08-05 |
US5561632A (en) | 1996-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6591327B1 (en) | Flash memory with alterable erase sector size | |
JP3251968B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6967896B2 (en) | Address scramble | |
KR940022568A (ko) | 불휘발성 메모리 장치 | |
KR930014612A (ko) | 불 휘발성 반도체 메모리 장치 | |
US20030031056A1 (en) | Non-volatile memory having a control mini-array | |
JP2004265162A (ja) | 記憶装置およびアドレス管理方法 | |
KR100854972B1 (ko) | 메모리 시스템 및 그것의 데이터 읽기 방법 | |
KR940010110A (ko) | 부트블록(Boot Block)형 또는 표준형 플래쉬 메모리장치에서 선택적으로 사용할 수 있는 전기적인 소거가 가능한 영속성 반도체 메모리장치 | |
EP1253598A2 (en) | Flash memory capable of changing bank configuration | |
KR960005355B1 (ko) | 불휘발성 반도체기억장치 및 이를 이용한 기억시스템 | |
KR100632947B1 (ko) | 불 휘발성 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법 | |
US6906960B2 (en) | Semiconductor memory device | |
KR950034271A (ko) | 비휘발성 반도체 플래쉬 메모리 | |
JP4980914B2 (ja) | 半導体装置およびその制御方法 | |
DE60043444D1 (de) | 1 transistorzelle für eeprom anwendung | |
JP2003273254A (ja) | 不揮発性レジスタおよび半導体装置 | |
KR910014813A (ko) | 반도체메모리시스템 | |
EP1220229B1 (en) | An electrically modifiable, non-volatile, semiconductor memory which can keep a datum stored until an operation to modify the datum is completed | |
KR970051327A (ko) | 데이타 기억 영역의 속성 데이타를 기억하는 속성 데이타 영역과 데이타 기억 영역을 갖는 비휘발성메모리 | |
KR20000070274A (ko) | 가변 페이지 사이즈를 갖는 리프로그래머블 메모리 장치 | |
US6724663B2 (en) | Erase block architecture for non-volatile memory | |
JPH07254298A (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100605107B1 (ko) | 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법 | |
KR20000020105A (ko) | 플래시 메모리를 구비한 전자 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |