KR970048582A - 핸들러의 로터리 아암 및 디바이스척부의 구조 - Google Patents

핸들러의 로터리 아암 및 디바이스척부의 구조 Download PDF

Info

Publication number
KR970048582A
KR970048582A KR1019960004571A KR19960004571A KR970048582A KR 970048582 A KR970048582 A KR 970048582A KR 1019960004571 A KR1019960004571 A KR 1019960004571A KR 19960004571 A KR19960004571 A KR 19960004571A KR 970048582 A KR970048582 A KR 970048582A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cam
upper portion
vicinity
guide rail
attached
Prior art date
Application number
KR1019960004571A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100206641B1 (ko
Inventor
게이이치 후쿠모토
Original Assignee
오오우라 히로시
가부시키가이샤 아드반테스트
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 오오우라 히로시, 가부시키가이샤 아드반테스트 filed Critical 오오우라 히로시
Publication of KR970048582A publication Critical patent/KR970048582A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100206641B1 publication Critical patent/KR100206641B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/02Feeding of components
    • H05K13/021Loading or unloading of containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/082Integration of non-optical monitoring devices, i.e. using non-optical inspection means, e.g. electrical means, mechanical means or X-rays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

로터리 아암(3)에 부착된 디바이스척(21)이 코일스프링(22)의 절단 등에 의하여 낙하하거나, 리니어 가이드(21b)의 슬라이딩면의 안좋은 형편 등에 의하여 승강이동의 도중에 걸리지 않게 하고, 디바이스척에 에그지트 스테이지(6)의 파손을 방지한 IC 핸들러를 제공한다. 소크 스테이지(5)의 상부부근에서 측정부(4)의 상부부근에 걸치는 캠(24)의 하향으로 경사진 캠작용부분(24a)을 따라 제1가이드 레일(41)을 부착하고, 측정부(4)의 상부 부근에서 에그지트 스테이지(6)의 상부부근에 걸치는 캠(24)의 상향으로 경사진 캠작용부분(24b)을 따라서 제2가이드 레일(43)을 부착한다. 또 회전축(3a)에 관하여 캠홀더(25)와는 반대측으로, 원호형상의 낙하방지판(44)을 캠홀더(25)와 꼭같이 항온조(2)의 체임버 단열벽(28)으로부터 늘어뜨러진 지지기둥에 부착한다. 더욱더, 이상 발생시에는 제1, 제2가이드 레일(41,43) 또는 낙하방지판(44)에 걸린상태로 슬라이딩하는 훅(47)을 각 디바이스척(21)의 상부에 부착한다.

Description

핸들러의 로터리 아암 및 디바이스척부의 구조
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 의한 IC 핸들러의 1실시예의 주요부의 구조를 설명하기 위한 개략사시도.
제2도는 제1도의 IC 핸들러에 사용된 캠(24),제1가이드 레일(41), 제2가이드레일(43) 및 낙하 방지판(44)을 항온조(2)의 천정측에서 본 평면도.
제3도는 제1도의 IC 핸들러에 사용된 디바이스척(21)의 동작을 설명하기 위한 것으로, A는 디바이스척(21)이 캠(24)에 안내되어 승강하면서 회전하고 있을 때의 상태를 예시하는 단면도, B는 디바이스척(21)이 낙하방지판(44)의 아래쪽을 회전하고 있을 때의 상태를 예시하는 단면도.

Claims (1)

  1. 회전축을 갖고, 이 회전축으로부터 3개의 아암이 대략120°의 각도 간격으로 방사방향으로 돌출설치되어있는 로터리 아암과, 이 로터리 아암의 각 아암의 수직방향의 단면에 승강이 자유롭게 부착된 디바이스척과,둘레면이 대략 역삼각형상으로 이루어졌고, 동시에 이 역삼각형상의 꼭지점을 사이에 둔 2변이 캠작용부분으로 된 평면반링형상의 캠으로 구성되어 있고, 피시험 디바이스를 시험하기 위한 측정부가 피시험 디바이스를 상기디바이스척으로 주고받는 소크 스테이지 및 시험이 끝난 디바이스를 반출하는 에그지트 스테이지보다 낮은 위치에 배치되어 있고, 상기 캠의 역삼각형상의 꼭지점이 상기 측정부의 상부의 소정위치에 배치되도록, 상기캠을 상기 회전축과 동심으로 핸들러의 케이싱에 부착하고, 피시험 디바이스를 상기 소크 스테이지로부터 상기측정부로 반송할 때에는 상기 디바이스척을 서서히 강하시키고, 피시험 디바이스를 상기 측정부로부터 상기에그지트 스테이지로 반송할 때에는 상기 디바이스척을 서서히 상승시키도록 한 IC 핸들러에 있어서, 상기소크 스테이지의 피시험 디바이스 주고받음위치의 상부부근에서 상기 측정부의 상부부근에 걸치는 상기 캠의 캠작용부분을 따라, 상기 캠의 외주면에 부착된 제1가이드 레일과, 상기 측정부의 상부부근에서 상기 에그지트 스테이지의 피시험 디바이스 받음위치의 상부부근에 걸치는 상기 캠의 캠작용부분을 따라, 상기 캠의 외주면에 부착된 제2가이드 레일과, 상기 회전축에 관하여 상기 캠과는 반대측에 있어서, 상기 에그지트 스테이지의 피시험 디바이스 받음위치의 상부부근에서 상기 소크 스테이지의 피시험 디바이스 주고받음위치의 상부부근에 걸쳐서 상기 회전축과 동심으로 동시에 수평으로 상기 핸들러의 케이싱에 부착된 원호형상의 낙하방지판과, 상기 각 디바이스척에 부착되어 있고, 동시에 이상 발생시에 상기 제1 및 제2가이드 레일 및 상기 낙하방지판의 어느 것인가에 슬라이딩이 자유롭게 걸림가능한 훅을 구비한 것을 특징으로 하는 IC 핸들러.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960004571A 1995-12-27 1996-02-26 핸들러의 로터리 아암 및 디바이스척부의 구조 KR100206641B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP95-341096 1995-12-27
JP34109695 1995-12-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970048582A true KR970048582A (ko) 1997-07-29
KR100206641B1 KR100206641B1 (ko) 1999-07-01

Family

ID=18343228

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960004571A KR100206641B1 (ko) 1995-12-27 1996-02-26 핸들러의 로터리 아암 및 디바이스척부의 구조

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5789685A (ko)
KR (1) KR100206641B1 (ko)
DE (1) DE19654231C2 (ko)
MY (1) MY112691A (ko)
SG (1) SG64413A1 (ko)
TW (1) TW371347B (ko)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW449570B (en) * 1998-11-28 2001-08-11 Mirae Corp A rotator for a module integrated circuit (IC) handler
KR100334655B1 (ko) * 1998-11-30 2002-06-20 정문술 모듈아이씨핸들러의모듈아이씨및캐리어핸들링방법
DE19953949A1 (de) * 1999-11-09 2001-05-17 Asys Gmbh & Co Kg Vorrichtung zum Bestücken von Teileträgern für Mikrosysteme
US6967475B2 (en) * 2004-01-22 2005-11-22 Asm Assembly Automation Ltd. Device transfer mechanism for a test handler
DE102006020513B4 (de) * 2006-05-03 2014-07-03 Martin Prasch Hochleistungs-Standard-Gerät zum flexiblen Transportieren und Handhaben verschieden großer Halbleiterbauelemente
KR102373310B1 (ko) * 2013-01-07 2022-03-11 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 전기 구성요소들을 처리하는 시스템들 및 방법들
CN105329662A (zh) * 2015-10-19 2016-02-17 张利平 一种自动收拢夹砖机
WO2017179363A1 (ja) * 2016-04-14 2017-10-19 株式会社 村田製作所 電子部品の特性測定用の搬送装置及び電子部品の特性測定用の収容部材の製造方法
TWI623750B (zh) * 2017-02-23 2018-05-11 華邦電子股份有限公司 雙吸嘴式轉塔機台
CN108891923B (zh) * 2018-08-15 2020-04-21 林杰 一种操作方便的插卡式自动进卡装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3750878A (en) * 1971-11-15 1973-08-07 Dixon K Corp Electrical component testing apparatus
DE4023772A1 (de) * 1989-08-31 1991-03-14 Gold Star Electronics Vorrichtung zum beschicken und entladen von huelsen fuer ein ic-pruefgeraet
JPH0567652A (ja) * 1991-09-05 1993-03-19 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
US6019564A (en) * 1995-10-27 2000-02-01 Advantest Corporation Semiconductor device transporting and handling apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
US5789685A (en) 1998-08-04
KR100206641B1 (ko) 1999-07-01
TW371347B (en) 1999-10-01
SG64413A1 (en) 1999-04-27
DE19654231A1 (de) 1997-07-03
DE19654231C2 (de) 1999-07-22
MY112691A (en) 2001-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970048582A (ko) 핸들러의 로터리 아암 및 디바이스척부의 구조
KR950012617A (ko) 반도체 웨이퍼연삭용 회전식 연삭기계의 가공편홀더 및 그 가공편홀더를 위치시키는 방법
KR940020125A (ko) Ic 핸들러를 위한 반송장치
KR860009474A (ko) 온도 변화에 따른 오류를 감소시키는 정밀장치
ATE58247T1 (de) Geraet und verfahren zur pruefung von halbleiterchips.
ATE317128T1 (de) Vertikal ausgeglichener prüfkopfmanipulator
ES2083379T3 (es) Sistema de comprobacion de dispositivos electronicos.
KR950015702A (ko) 반송장치 및 그를 이용한 프로우버
KR900007886B1 (ko) 브리지타입 좌표 측정기
DE59104668D1 (de) Neigungsmessvorrichtung.
ATE56822T1 (de) Positionsmesseinrichtung.
KR870005280A (ko) 재료 취급 시스템의 안전 고정장치
KR910019726A (ko) 다수의 나사 연결 소자의 동시적 위치 설정용 장치
CN211236146U (zh) 电机固定机构及电机检测设备
JPH11118405A (ja) ハイトゲージ
CN216309926U (zh) 一种高精度水分检测装置
CN221666856U (zh) 一种主轴偏移检测装置
CN218411485U (zh) 一种电气自动化设备检测系统
RU202298U1 (ru) Устройство для сверления под углом
KR870003560A (ko) 반도체 디바이스 측정장치
KR880004393Y1 (ko) 엘리베이터의 가버너 로우프 균형유지장치
KR980003491A (ko) 수위센서 간이 검사장치
KR970003766A (ko) 반도체 웨이퍼 지지용 척의 평탄도 조정장치
RU2003938C1 (ru) Координатна измерительна машина мостового типа
SU1536186A1 (ru) Устройство дл измерени углов заточки концевого радиусного инструмента

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20060327

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee