TWI623750B - 雙吸嘴式轉塔機台 - Google Patents
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Abstract
一種雙吸嘴式轉塔機台，用於對複數個電子元件進行測試，包括複數個測試座、複數第一吸嘴、複數第二吸嘴以及一料帶。該等測試座包括複數個第一測試座以及複數個第二測試座，該等第一測試座沿周向對應複數第一吸嘴所繞行的第一圓形軌跡，該等第二測試座沿周向對應複數第二吸嘴所繞行的第二圓形軌跡，該等第一測試座以一對一的方式徑向對應該等第二測試座。料帶包括複數個容置槽，該第一吸嘴以及該第二吸嘴設於該測試轉盤，其中，在一第一狀態下，該第一吸嘴以及該第二吸嘴同時將測試合格之該等電子元件置入該等容置槽中。
Description
本發明係有關於一種雙吸嘴式轉塔機台，特別係有關於一種可提升檢測效率之雙吸嘴式轉塔機台。
在習知技術中，轉塔機台用於晶片測試，其測試數量有限，測試效率較低。在習知概念中，藉由增加轉塔直徑以在單一圓周上容納更多吸嘴以及測試座，可提高測試效率。但由於轉塔直徑增加，造成離心力增加，使得轉塔不宜高速旋轉，因此測試效率依然不佳。
本發明係為了欲解決習知技術之問題而提供之一種雙吸嘴式轉塔機台，用於對複數個電子元件進行測試，包括複數個測試座、複數第一吸嘴、複數第二吸嘴以及料帶。該等第一吸嘴繞行於第一圓形軌跡，該等第二吸嘴繞行於第二圓形軌跡，該第一圓形軌跡與該第二圓形軌跡為同心圓，且該等第一吸嘴與該等第二吸嘴沿該第一圓形軌跡的徑向並排。該等測試座包括複數個第一測試座以及複數個第二測試座，該等第一測試座沿周向對應該第一圓形軌跡，該等第二測試座沿周向對應該第二圓形軌跡，該等第一測試座以一對一的方式徑向對應該等第二測試座。第一吸嘴設於測試轉盤之上，並將電子元件運送至第一測試座以進行測試。第二吸嘴設於測試轉盤上，並
將電子元件運送至第二測試座以進行測試。料帶包括複數個容置槽，其中，在第一狀態下，該第一吸嘴以及該第二吸嘴同時將測試合格之該等電子元件置入該等容置槽之中。
在一實施例中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽以及第四容置槽，在該第一狀態下，該第一容置槽以及該第三容置槽處於一置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第一容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第三容置槽之中，接著，該第二容置槽以及該第四容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第二容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽之中。
在一實施例中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽、第四容置槽以及第五容置槽，在第二狀態下，該第一容置槽以及該第三容置槽處於一置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第一容置槽之中，該第二吸嘴將一測試不合格之電子元件排除，接著，該第二容置槽以及該第四容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第二容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽之中，接著，該第三容置槽以及該第五容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第三容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第五容置槽之中。
在一實施例中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽、第四容置槽以及第五容置槽，在第三狀態下，該第一容置槽處於一置放位置而對應該第二吸嘴，該第一吸嘴將一測試不合格之電子元件排除，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第一容置槽之中，接著，該第二容置槽以及該第四容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第二容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽之中，接著，該第三容置槽以及該第五容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第三容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第五容置槽之中。
在一實施例中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽、第四容置槽、第五容置槽以及第六容置槽，在一第四狀態下，第一容置槽以及第三容置槽已被置入測試合格之電子元件，接著，第二容置槽處於一置放位置，第一吸嘴將一測試合格之電子元件置入第二容置槽之中，第二吸嘴將一測試不合格之電子元件排除，接著，第四容置槽以及第六容置槽處於該置放位置，第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入第四容置槽之中，第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入第六容置槽之中。
在一實施例中，該雙吸嘴式轉塔機台更包括正印檢查轉盤，該正印檢查轉盤包括複數個第一置放部以及複數個第二置放部，該等第一置放部沿周向設於該正印檢查轉盤上，
該等第二置放部沿周向設於該正印檢查轉盤上，該等第一置放部以一對一的方式徑向對應該等第二置放部，該第一吸嘴以及該第二吸嘴將該等電子元件置於該第一置放部以及該第二置放部以進行檢查，再從該第一置放部以及該第二置放部取起該等電子元件以移送至該第一測試座以及該第二測試座。
在一實施例中，該雙吸嘴式轉塔機台更包括進料單元，該進料單元包括一進料軌道以及取料部，該取料部上具有一第一位置以及一第二位置，等電子元件從該進料軌道被運送該至該取料部之該第一位置以及該第二位置，以供該第一吸嘴以及該第二吸嘴取起該等電子元件。
在一實施例中，該進料單元更包括分隔器以及分位器，該取料部上具有一初始位置，當該電子元件位於該初始位置時，該分隔器阻擋該進料軌道的輸送，該分位器將該電子元件送往該第一位置或該第二位置。
在一實施例中，徑向排列之第一測試座以及第二測試座之間的間隙等於相鄰之該等容置槽之間的間隙的兩倍。
在一實施例中，雙吸嘴式轉塔機更包括測試轉盤，該等第一吸嘴與該等第二吸嘴設置於該測試轉盤上，該測試轉盤帶動該等第一吸嘴繞行於該第一圓形軌跡，且該測試轉盤帶動該等第二吸嘴繞行於該第二圓形軌跡。
應用本發明實施例之雙吸嘴式轉塔機，由於徑向並排吸嘴與測試座，因此可以在不大幅更動原有設計的前提下，增加吸嘴以及測試座的數量，從而提升測試效率。而，應用本發明前述之電子元件的置入方法，即使在吸嘴夾持著測試
不合格之電子元件的情況下，仍可使得徑向並排的吸嘴順利的將測試合格的電子元件依序置入料帶的容置槽之中。
C‧‧‧電子元件
T‧‧‧轉塔機台
1‧‧‧測試轉盤
101‧‧‧第一圓形軌跡
102‧‧‧第二圓形軌跡
2‧‧‧測試座
21‧‧‧第一測試座
22‧‧‧第二測試座
31‧‧‧第一吸嘴
32‧‧‧第二吸嘴
4‧‧‧料帶
40‧‧‧容置槽
41‧‧‧第一容置槽
42‧‧‧第二容置槽
43‧‧‧第三容置槽
44‧‧‧第四容置槽
45‧‧‧第五容置槽
46‧‧‧第六容置槽
5‧‧‧正印檢查轉盤
51‧‧‧第一置放部
52‧‧‧第二置放部
6‧‧‧進料單元
61‧‧‧進料軌道
62‧‧‧取料部
621‧‧‧第一位置
622‧‧‧第二位置
623‧‧‧初始位置
63‧‧‧分隔器
64‧‧‧分位器
第1圖係顯示本發明一實施例之雙吸嘴式轉塔機台的部分結構示意圖。
第2圖係顯示第一吸嘴以及該第二吸嘴同時將測試合格之該等電子元件置入該等容置槽之中的情形。
第3A~3E圖係顯示在一第一狀態下，電子元件置入該等容置槽的情形。
第4A~4D圖係顯示在一第二狀態下，電子元件置入該等容置槽的情形。
第5A~5C圖係顯示在一第三狀態下，電子元件置入該等容置槽的情形。
第6A~6C圖係顯示在一第四狀態下，電子元件置入該等容置槽的情形。
第7A~7C圖係顯示本發明實施例之進料單元的細部結構。
參照第1圖，其係顯示本發明一實施例之雙吸嘴式轉塔機台T的部分結構示意圖，用於對複數個電子元件(例如，電子晶片)進行測試。雙吸嘴式轉塔機台T包括測試轉盤1、複數個測試座2、複數第一吸嘴31、複數第二吸嘴32以及料帶4。第一吸嘴31與第二吸嘴32均設於測試轉盤1上，且第一吸嘴31
與第二吸嘴32例如分別沿第一圓形軌跡101與第二圓形軌跡102排列。於本實施例中，第一圓形軌跡101環繞第二圓形軌跡102，且第一圓形軌跡101與第二圓形軌跡102為同心圓。該等測試座2包括複數個第一測試座21以及複數個第二測試座22，該等第一測試座21沿周向對應第一圓形軌跡101，該等第二測試座22沿周向對應第二圓形軌跡102，該等第一測試座21以一對一的方式徑向對應該等第二測試座22。於本實施例中，該等第一測試座21沿第一圓形軌跡101排列，且該等第二測試座22沿第二圓形軌跡102排列。
在一實施例中，該等第一測試座21以及該等第二測試座22的位置是固定不動的。第一吸嘴31以及第二吸嘴32係隨該測試轉盤1所轉動，以分別繞行第一圓形軌跡101以及第二圓形軌跡102，從而將電子元件運送至第一測試座21及第二測試座22以進行測試。
參照第2圖，料帶4包括複數個容置槽40，其中，在一第一狀態下，該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32同時將測試合格之該等電子元件C置入該等容置槽40之中。
在一實施例中，電子元件C可以為具有接腳的晶片，或是不具有接腳的晶片。其亦可能為其他形式之電子元件。
第1圖，在此實施例中，該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32沿該測試轉盤1的徑向並排。
參照第3A~3E圖，其係顯示在第一狀態下，電子元件C置入該等容置槽40的情形。參照第3A圖，在一實施例中，該等容置槽40包括沿行進方向依序排列之一第一容置槽
41、一第二容置槽42、一第三容置槽43以及一第四容置槽44。在該第一狀態下，該第一容置槽41以及該第三容置槽43處於一置放位置(第3A圖)。接著，該第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件C置入該第一容置槽41之中，該第二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件C置入該第三容置槽43之中(第3B圖)。接著，該第二容置槽42以及該第四容置槽44處於該置放位置(第3C圖)，該第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件C置入該第二容置槽42之中，該第二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件C置入該第四容置槽44之中(第3D圖)。接著，料帶4繼續向前移動以繼續重複電子元件C置入的動作(第3E圖)。
參照第4A~4D圖，其係顯示發現一測試不合格之電子元件，且該測試不合格之電子元件由該第二吸嘴32所夾持的情形(第二狀態)。該等容置槽40包括沿行進方向依序排列之一第一容置槽41、一第二容置槽42、一第三容置槽43、一第四容置槽44以及一第五容置槽45，在第二狀態下，該第一容置槽41以及該第三容置槽43處於一置放位置(第4A圖)。接著，該第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件C置入該第一容置槽41之中，該第二吸嘴32將一測試不合格之電子元件排除(第4B圖)。接著，該第二容置槽42以及該第四容置槽44處於該置放位置，該第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件C置入該第二容置槽42之中，該第二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件C置入該第四容置槽44之中(第4C圖)。接著，該第三容置槽43以及該第五容置槽45處於該置放位置，該第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件C置入該第三容置槽43之中，該第
二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件C置入該第五容置槽45之中(第4D圖)。接著，料帶4繼續向前移動以繼續重複電子元件C置入的動作。
參照第5A~5C圖，其係顯示發現一測試不合格之電子元件，且該測試不合格之電子元件由該第一吸嘴31所夾持的情形(第三狀態)。該等容置槽40包括沿行進方向依序排列之一第一容置槽41、一第二容置槽42、一第三容置槽43、一第四容置槽44以及一第五容置槽45。在第三狀態下，基於已知該測試不合格之電子元件由該第一吸嘴31所夾持，因此料帶4倒退，使該第一容置槽41處於一置放位置而對應該第二吸嘴32，該第一吸嘴31將一測試不合格之電子元件排除，該第二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件C置入該第一容置槽41之中(第5A圖)。接著，該第二容置槽42以及該第四容置槽44處於該置放位置，該第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件置入該第二容置槽42之中，該第二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽44之中(第5B圖)。接著，該第三容置槽43以及該第五容置槽45處於該置放位置，該第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件C置入該第三容置槽43之中，該第二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件C置入該第五容置槽45之中(第5C圖)。接著，料帶4繼續向前移動以繼續重複電子元件C置入的動作。
參照第6A~6C圖，其係顯示發現一測試不合格之電子元件，而第一容置槽41及第三容置槽43已被置入電子元件的情形(第四狀態，此時以測試不合格之電子元件由第二吸嘴
32夾持為例)。本實施例中，第一容置槽41以及第三容置槽43已被置入測試合格之電子元件C(第6A圖)。接著，料帶4移動使得第二容置槽42處於一置放位置，第一吸嘴31將一測試合格之電子元件C置入第二容置槽42之中，第二吸嘴32將一測試不合格之電子元件C排除(第6B圖)。接著，第四容置槽44以及第六容置槽46處於置放位置，第一吸嘴31將其中之一測試合格之電子元件C置入第四容置槽44之中，第二吸嘴32將其中之一測試合格之電子元件置入第六容置槽46之中(第6C圖)。接著，料帶4繼續向前移動以繼續重複電子元件C置入的動作。
藉由本發明實施例之雙吸嘴式轉塔機的徑向並排的吸嘴以及徑向並排的測試座，可以在不大幅更動原有設計的前提下，增加吸嘴以及測試座的數量，從而提升測試效率。而，應用本發明前述之電子元件的置入方法，即使在吸嘴夾持著測試不合格之電子元件的情況下，仍可使得徑向並排的吸嘴順利的將測試合格的電子元件依序置入料帶的容置槽之中。
再參照第1圖，在一實施例中，該雙吸嘴式轉塔機台T更包括一正印檢查轉盤5，該正印檢查轉盤5包括複數個第一置放部51以及複數個第二置放部52，該等第一置放部51沿周向設於該正印檢查轉盤5上，該等第二置放部52沿周向設於該正印檢查轉盤5上，該等第一置放部51以一對一的方式徑向對應該等第二置放部52，該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32將該等電子元件C置於該第一置放部51以及該第二置放部52以進行檢查，再從該第一置放部51以及該第二置放部52取起該等電子元件C以移送至該第一測試座21以及該第二測試座22。應用本發
明之實施例，可以在原有的架構下，一併提高正印檢查站的檢查效率。
再搭配參照第1、7A、7B、7C圖，在一實施例中，該雙吸嘴式轉塔機台T更包括一進料單元6，該進料單元6包括一進料軌道61以及取料部62，該取料部上62具有一第一位置621以及一第二位置622，該等電子元件C從該進料軌道61被運送至該取料部62之該第一位置621以及該第二位置622，以供該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32取起該等電子元件C。在一實施例中，該進料單元6更包括一分隔器63以及一分位器64，該取料部62上具有一初始位置623，當該電子元件C位於該初始位置623時，該分隔器63阻擋該進料軌道61的輸送，該分位器64將該電子元件C送往該第一位置621或該第二位置622。在一實施例中，該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32係分別從該取料部62之該第一位置621及該第二位置622取起該等電子元件C。透過上述設計，可進一步在原有的架構下，提升該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32的取料效率。
在一實施例中，徑向排列之該第一測試座21以及該第二測試座22之間的間隙等於相鄰之該等容置槽40之間的間隙的兩倍。亦，等於徑向併排之該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32之間的間隙。在一實施例中，徑向排列之該第一測試座21以及該第二測試座22之間的間隙為4公釐，上述數值揭露並未限制本發明。
在一實施例中，該測試轉盤可能被省略，該第一吸嘴31以及該第二吸嘴32亦可能以軌道、皮帶或齒輪等方式，
分別繞行一第一圓形軌跡101以及一第二圓形軌跡102，而同樣能實現本發明前述實施例之動作及效果。
雖然本發明已以具體之較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此項技術者，在不脫離本發明之精神和範圍內，仍可作些許的更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
Claims (10)
- 一種雙吸嘴式轉塔機台，用於對複數個電子元件進行測試，包括：複數第一吸嘴，繞行於一第一圓形軌跡；複數第二吸嘴，繞行於一第二圓形軌跡，該第一圓形軌跡與該第二圓形軌跡為同心圓，且該等第一吸嘴與該等第二吸嘴沿該第一圓形軌跡的徑向並排；複數個測試座，其中，該等測試座包括複數個第一測試座以及複數個第二測試座，該等第一測試座沿周向對應該第一圓形軌跡，該等第二測試座沿周向對應該第二圓形軌跡，該等第一測試座以一對一的方式徑向對應該等第二測試座，該等第一吸嘴分別將該等電子元件運送至該第一測試座以進行測試，該等第二吸嘴分別將該等電子元件運送至該第二測試座以進行測試；以及一料帶，包括複數個容置槽，其中，在一第一狀態下，該第一吸嘴以及該第二吸嘴同時將測試合格之該等電子元件置入該等容置槽中。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之一第一容置槽、一第二容置槽、一第三容置槽以及一第四容置槽，在該第一狀態下，該第一容置槽以及該第三容置槽處於一置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第一容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第三容置槽之中，接著，該第二容置槽以及該第四容 置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第二容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽之中。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之一第一容置槽、一第二容置槽、一第三容置槽、一第四容置槽以及一第五容置槽，在一第二狀態下，該第一容置槽以及該第三容置槽處於一置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第一容置槽之中，該第二吸嘴將一測試不合格之電子元件排除，接著，該第二容置槽以及該第四容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第二容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽之中，接著，該第三容置槽以及該第五容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第三容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第五容置槽之中。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之一第一容置槽、一第二容置槽、一第三容置槽、一第四容置槽以及一第五容置槽，在一第三狀態下，該第一容置槽處於一置放位置而對應該第二吸嘴，該第一吸嘴將一測試不合格之電子元件排除，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第一容置槽之中，接著，該第二容置槽以及該第四容置槽處 於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第二容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽之中，接著，該第三容置槽以及該第五容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第三容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第五容置槽之中。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其中，該等容置槽包括沿行進方向依序排列之一第一容置槽、一第二容置槽、一第三容置槽、一第四容置槽、一第五容置槽以及第六容置槽，在一第四狀態下，該第一容置槽以及該第三容置槽已被置入測試合格之電子元件，接著，該第二容置槽處於一置放位置，該第一吸嘴將一測試合格之電子元件置入該第二容置槽之中，該第二吸嘴將一測試不合格之電子元件排除，接著，該第四容置槽以及該第六容置槽處於該置放位置，該第一吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第四容置槽之中，該第二吸嘴將其中之一測試合格之電子元件置入該第六容置槽之中。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其更包括一正印檢查轉盤，該正印檢查轉盤包括複數個第一置放部以及複數個第二置放部，該等第一置放部沿周向設於該正印檢查轉盤上，該等第二置放部沿周向設於該正印檢查轉盤上，該等第一置放部以一對一的方式徑向對應該等第二置放部，該第一吸嘴以及該第二吸嘴將該等電子元件置於 該第一置放部以及該第二置放部以進行檢查，再從該第一置放部以及該第二置放部取起該等電子元件以移送至該第一測試座以及該第二測試座。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其更包括一進料單元，該進料單元包括一進料軌道以及一取料部，該取料部上具有一第一位置以及一第二位置，等電子元件從該進料軌道被運送該至該取料部之該第一位置以及該第二位置，以供該第一吸嘴以及該第二吸嘴取起該等電子元件。
- 如申請專利範圍第7項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其中，該進料單元更包括一分隔器以及一分位器，該取料部上具有一初始位置，當該電子元件位於該初始位置時，該分隔器阻擋該進料軌道的輸送，該分位器將該電子元件送往該第一位置或該第二位置。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，其中，徑向排列之該第一測試座以及該第二測試座之間的間隙等於相鄰之該等容置槽之間的間隙的兩倍。
- 如申請專利範圍第1項所述之雙吸嘴式轉塔機台，更包括一測試轉盤，該等第一吸嘴與該等第二吸嘴設置於該測試轉盤上，該測試轉盤帶動該等第一吸嘴繞行於該第一圓形軌跡，且該測試轉盤帶動該等第二吸嘴繞行於該第二圓形軌跡。
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|---|---|---|---|
| TW106106099A TWI623750B (zh) | 2017-02-23 | 2017-02-23 | 雙吸嘴式轉塔機台 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW106106099A TWI623750B (zh) | 2017-02-23 | 2017-02-23 | 雙吸嘴式轉塔機台 |
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|---|---|
| TWI623750B true TWI623750B (zh) | 2018-05-11 |
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| TW106106099A TWI623750B (zh) | 2017-02-23 | 2017-02-23 | 雙吸嘴式轉塔機台 |
Country Status (1)
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| TW (1) | TWI623750B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| TWI649571B (zh) * | 2018-06-05 | 2019-02-01 | 華邦電子股份有限公司 | 電子元件檢測設備 |
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- 2017-02-23 TW TW106106099A patent/TWI623750B/zh active
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| TWI649571B (zh) * | 2018-06-05 | 2019-02-01 | 華邦電子股份有限公司 | 電子元件檢測設備 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201831907A (zh) | 2018-09-01 |
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