JP5565916B2 - 検査分類装置 - Google Patents

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Description

本発明は、前工程において素子形成されたLED、半導体装置等のチップの検査を実行し、この検査結果に応じて分類する検査装置及び検査分類装置に関する。
LEDチップや半導体装置等のチップは、前工程における各素子形成工程を経て、後工程において組立後、複合テスト装置により、電気特性や光学特性の検査、分類、マーキング、外観検査、梱包(テープ梱包)等の各工程処理が施され、出荷される。
前工程の素子形成工程から後工程の組立、検査梱包工程へチップを供給する方法には、ウエハリング上の粘着性を有するウエハシート(UVシートなど)に貼り付けられ、ダイシングで個片化されたチップを供給する方法や、個片のチップをリードフレームに搭載しリードフレーム供給ユニットによって供給する方法又は振動式パーツフィーダによって一定の方向及び姿勢に整列して供給する方法等がある。
このうち、チップをウエハシートにより供給する方法においては、後工程の検査梱包工程に至る前の前工程において、ウエハシート上のチップの品質検査を行う場合がある。例えば、LEDチップの場合には、光学プローブにより光度、光束、波長、カラー座標といった光学テストを行なったり、カメラによる外観検査を行う。また、半導体装置であれば、外観検査、電気特性検査等を行う。このような種々の検査により、各チップの特性が判明する。そして、出荷前にチップを特性に応じて、複数の分類に分けることがある。
ここで、半導体装置の検査としては、例えば、LSI用テスタと直結したウエハ検査用プローバにより、チップの良品・不良品の判定を行い、各チップの判定結果を記録したウエハマップ情報を作成し、作成した情報を、ホストコンピュータにおいてウエハ毎に記憶する技術が提案されている(特許文献1参照)。
また、ウエハ上のチップの電気的特性を検査するための手法として、ウエハプロービング装置とテスタとを用い、ウエハプロービング装置に設けられたチャック上に半導体ウエハを搬送した後、予め登録されているチップサイズ、ショットサイズ、又は移動量に基づいてチャックを移動させ、多点測定を実行することで行なうことが開示されている(特許文献2,3参照)。この電気特性検査では、ウエハ上のチップから引き出された配線の終端にあるパッドとウエハプロービング装置に取り付けられたプローブカードのプローブとの位置合わせを行うプローブアライメントを実行した後に、パッドとプローブとを接触させることにより、ウエハ上のチップに電位を印加して行なうことが開示されている。
また、上記のような電気特性検査によってマップ管理されたウエハシート上のチップをソートする手法として、例えば、図6に示すものがある。すなわち、ダイシングで個片化されたチップがウエハシートに貼付された1枚のウエハリングと、分類されたチップを再貼付けするためのウエハリングと、を各分類ごとに複数枚配置する。そして、この1枚のウエハリングから、特性検査の結果に応じて、複数のウエハリングに対して分類して再貼付けを行なう技術である。そして、このような分類を行なう装置として、ウエハシート上のチップを、1つのウエハシートからウエハリングカセットに収納された他の複数のウエハシートを順次取り出し、分類ごとに他のウエハシートに貼り替える装置を採用することが可能である(特許文献4参照)。
特開平5−121496号公報 特開2008−10473号公報 特開2003−329727号公報 特開2004−134657号公報 特開2005−172731号公報 特開2004−182388号公報 特開2009−136951号公報 特開2009−136950号公報
ところで、従来のウエハプローバによる電気特性検査においては、ウエハシート上のチップに対して、チップの電極とプローブとの位置合わせを行い、電極とプローブとを接触させてチップに電位を印加して行なっている。ここで、チップがLEDチップの場合、光学プローブにより光度、光束、波長、カラー座標といった光学テストを行なうが、この光学テストを正確に行なう場合、チップを積分球に投入し、発光させる必要がある(特許文献5参照)。
しかしながら、従来のウエハプローバにおける電気特性検査の手法によっては、積分球を用いることができず、結果としてウエハシートに搭載した状態でLEDチップの光学特性検査を実施することが難しい。そのため、従来は、ウエハシートからチップを剥がし、吸着ノズル等の保持手段によりチップを保持した状態で、積分球に投入することとしていた。
また、上記従来の積分球を用いた手法は、次のような課題があった。すなわち、通常の電気特性検査や光学特性検査では、チップをウエハシートから剥がし、例えばターンテーブルに設けた吸着機構を備えたチャックによりチップを保持した状態で、このチャックが上昇することで、チップをプローブに接触させる。チップは、ウエハシートに対して、チップの電極面と逆の面を接着面に向けて貼付するのが一般的であるが、上記特性検査では、プローブに当接させるため、通常電極面と反対の面をチャックによって保持し、電極面を露出させることとなる。そうすると、チップが電極面と逆の面を接着面側にしてシートに貼付されている場合には、電極面と逆の面である接着面側をチャックによって保持する必要がある。このような場合、チップのシートとの接着面には、シートの粘着剤が残存していることがあり、この粘着剤がチャックに付着することがあった。そして、この粘着剤があるがために、チップが位置ずれした状態でチャックに保持されることが起こっていた。また、この粘着剤によりチップがチャックに固着され、チップがチャックから取り外せずに後続工程への受け渡しができなくなることも起こっていた。
また、上述した従来の分類手法のうち、1枚のウエハリングから、特性検査の結果に応じて、複数のウエハリングに対して分類して再貼付けを行なう方法では、通常ウエハリング1枚につき1分類とするため、分類数は装置全体として設置できるウエハリング数に制限されてしまう。すなわち、ウエハリングの搭載数は装置のサイズに制限され、多くの分類数を確保できない。また、複数枚のウエハリングを配置する場合、1枚のウエハリングから再貼付けを行なう機構の稼動範囲が広くなり1動作当たりの処理時間がかかるため生産性が悪くなる。さらに、装置占有面積も相対的に大きくなる。
これに対応するため、特許文献4に示すように、ウエハリングをウエハリングカセットに収納し、チップの分類が変更されるたびに、ウエハリングを入れ替えて対応することとなる。しかしながら、このように分類に応じて、対象となるウエハリングを引き出して再貼付を行なうなど、ウエハリングの切り替えに時間がかかり、生産性が低下する。また、ウエハリングの切替機構や収納機構が必要になり、装置構成が複雑になり、装置の占有面積も増大する。
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものであり、その目的は、積分球をはじめとする光学測定装置を利用したウエハプロービングが可能であるととともに、複数の分類を、時間のロスなしに高速ソートを可能にする検査分類装置を提供することにある。
上記の目的を達成するため、本発明は、前工程において素子形成されたLEDチップに対して特性検査を実行する検査装置と、前記検査装置の検査結果に応じてLEDチップを分類する分類装置とを備えた検査分類装置であって、前記検査装置は、第1のウエハシートを保持する第1のウエハリングを供給する供給手段と、前記供給手段から供給される第1のウエハシート上のチップをピックアップし、第2のウエハシートに貼り替えるノズルを備えた貼替え手段と、前記第2のウエハシートを保持する第2のウエハリングを、前記貼替え手段の動きに合わせて移動させ、前記第2のウエハシートに貼付されるチップのシート上におけるピッチを調整する保持移動手段と、前記第2のウエハリングを保持しながら搬送する搬送手段と、前記搬送手段により搬送される前記第2のウエハシート上のチップのシート上における位置を確認するアライメント手段と、前記第2のウエハシート上のLEDチップの特性検査を実行する光学測定装置を備えた特性検査手段と、前記第2のウエハシート上のチップの外観を検査する外観検査手段と、前記アライメント手段、前記特性検査手段及び前記外観検査手段において得た前記第2のウエハシート上のチップの位置情報、光学特性情報及び外観検査情報を、マップデータとして記録する記録手段と、前記第2のウエハリングを複数収納する収納マガジンと、を備え、前記保持移動手段は、前記第2のウエハシート上におけるLEDチップ間のピッチを、前記特性検査手段における前記光学測定装置によってLEDチップの特性検査を行った場合に、前記第2のシート上の他のLEDチップが前記光学測定装置と干渉しないように設定するものであり、前記搬送手段は、前記第2のウエハリングを、前記アライメント手段を実行するアライメント位置、前記特性検査を実行する光学測定装置の位置、前記外観検査を実行する外観検査位置、及び前記第2のウエハリングを収納する収納マガジンの位置に、適宜停止させながら搬送するものであり、前記分類装置は、前記検査装置における前記収納マガジンを、前記分類装置における供給マガジンとして利用し、前記記録手段によって得た前記マップデータを用いて、当該マップデータにおける特性情報によりマップデータとして記録された前記第2のウエハシート上のLEDチップを、その特性に応じて分類することを特徴とする。
以上の態様では、検査装置において、貼替え部を備え、この貼替え部により、供給カセットから供給される第1のウエハリングにおけるチップの貼付ピッチを変換して、受取り部の第2のウエハリングに対してチップを貼付することで、特性検査手段においてウエハシートにチップが貼付されたままの状態で、積分球をはじめとした光学測定装置を利用した検査を行うことが可能となる。これにより、ウエハシートに貼付したままの状態でのLEDチップの光学特性の検査が容易となる。
また、上記態様における特性検査手段では、ウエハシートに貼付したままの状態で、特性検査を実行できる。従来のように、電気特性検査や光学特性検査では、チップをウエハシートから剥がし、例えばターンテーブルに設けた吸着機構を備えたチャックによりチップを保持した状態で、このチャックが上昇することで、チップをプローブに接触させていたが、これにより、チップのシートとの接着面には、シートの粘着剤が残存していることがあり、この粘着剤がチャックに付着することがある。そして、この粘着剤があるがために、チップが位置ずれした状態でチャックに保持されることが起こる。また、この粘着剤によりチップがチャックに固着され、チップがチャックから取り外せずに後続工程への受け渡しができなくなることが起こり、装置の稼働率を低下させる一因になっていた。この点、上記検査装置では、保持移動手段によって保持するのは、チップの電極面で、チップのシートとの接着面を保持することがないため、上記のような問題がなく、装置の安定稼働が可能である。
上述の特性検査手段における光学検査に先立って、プリアライメント手段を設けることで、貼替え手段において貼り替えたウエハシート上のチップの位置情報を取得する。これにより、シート上のチップアドレスを把握できるため、特性検査手段において、チップの端子にプローブを正確に接触させることができ、誤接触による検査ミスやチップの損傷を防ぐことができる。
また、特性検査手段の下流側に、外観検査手段を設けることで、特性検査後のチップの外観の損傷などを確認し、不良品を検出することができる。
本発明は、前記分類装置は、前記マップデータを保持したウエハリングを供給する供給マガジンと、前記供給マガジンからウエハリングを受け取り、当該ウエハリングをチップの供給位置へと移動させる第1又は第2の供給手段と、複数の保持手段を有し、この保持手段により、前記チップの供給位置において、ウエハリングに保持されたウエハシートからチップを受け取り、チップの分類貼付位置へと搬送する搬送手段と、ウエハシートを有するウエハリングを保持し、前記搬送手段からチップを、前記マップデータに基づいて分類ごとに受け取る第1及び第2の受取り手段と、分類ごとにチップが貼付されたウエハリングを、前記第1及び第2の受取り手段から受け取り、収納する収納マガジンとを備えたことを特徴とする。
このような検査分類装置では、検査工程と分類工程とで、ウエハシートを用いて、検査工程でのチップのマップデータを引き継ぎつつ、処理を別個に行なうことで、特性検査や、貼替え等におけるインデックスタイムのアンバランスによるデメリットを克服しつつ、情報の共有を行なう。これにより、ウエハリングの交換や、特性検査に時間を要することで、他の処理工程がストップするような事態をなくし、装置を継続的に稼働させることが可能となる。
以上のような本発明の検査分類装置によれば、積分球をはじめとする光学測定装置を利用したウエハプロービングが可能であるととともに、複数の分類を、時間のロスなしに高速ソートが可能となる。
本発明の実施形態における検査装置の全体構成を示す平面図(a)及び側面図(b)。 本発明の実施形態における分類装置の全体構成を示す平面図(a)及び側面図(b)。 本発明の実施形態における検査装置における供給部の構成を示す模式図。 本発明の実施形態における特性検査装置の積分球とウエハシート及びチップとの位置関係を示す拡大図(a)及び平面模式図(b)。 本発明の他の実施形態における特性検査装置の構成を示す模式図。 従来のチップの分類手法を示すイメージ図。
次に、本発明を実施するための最良の形態(以下、本実施形態とする)を、図1〜図5を参照して説明する。なお、以下の説明においては、説明の便宜上、一つの図面において表した構成要素を他の図面において適宜省略する場合がある。
[1.本実施形態]
[1−1.処理の概略]
まず、本実施形態の検査分類装置1の処理の概略を説明する。本実施形態の検査分類装置1は、検査工程と分類工程とを実施する2つの装置から構成される。なお、本実施形態の検査工程においては、積分球や光ディテクタを含む光学測定装置を用いたテストを行なうため、検査対象となるチップはLEDチップであることが前提となる(なお、以下では、光学測定装置として積分球を例にして説明を行なう。)。一方、分類工程においては、本実施形態では、検査工程からの連続的処理を前提としているため、分類工程同様にLEDチップをその分類対象としているが、分類装置自体では、LEDチップに限らず、半導体装置や電子部品一般に用いることができるものである。
検査工程においては、ウエハリングR上の粘着性を有するウエハシートSに貼付されダイシングで個片化されたLEDチップW(以下、単にチップWという。)に対して、積分球を用いた特性検査を実施し、シート上のチップWを特性によりランク付けし、当該ランクをマップデータとして記憶し、検査終了後のウエハリングRを、収納マガジンM1に収納する。
一方、分類工程では、検査工程において、マップデータを取得したウエハリングRに保持されたウエハシートS上のチップWに対して、マップデータを利用して各チップWをランクごとに他のウエハシートSに貼り替えて分類マガジンM3に収納する。
[1−2.具体的構成]
次に、本実施形態の検査分類装置1の具体的な構成について説明する。なお、本実施形態で用いるウエハシートSは6インチ程度のものを例とし、チップWは0.2mm〜1.0mm程度のものを例とする。また、以下でいう第1のウエハシートS1には1万〜2万個程度のチップが貼付され、第2のウエハシートS2には3000〜5000個程度のチップWが貼付されているものを例とする。なお、第1のウエハシートS1はダイシングが終わった一般的なウエハと同様であるため、6インチで1万〜2万個のチップの配置となるが、ウエハシートS2は後述のように、本実施形態の装置を用いてチップ間隔を広げて再貼り付けをしたものであり、積分球の開口サイズでピッチが決まるため、およそ数千個としているものである。
[1−2−1.検査装置の構成]
図1に示すように、検査装置10は、複数のチップWが貼付された第1のウエハシートS1を有する第1のウエハリングR1を多段に収納した供給カセット11と、供給カセット11から第1のウエハリングR1を引き出し、供給部12へ供給するウエハリング移送部13と、第1のウエハリングR1を受け取り貼替え部に受け渡す供給部12と、供給部12から第2のウエハリングR2の第2のウエハシートS2に対してチップWを受け渡す貼替え部14と、第2のウエハリングR2を保持し貼替え部14からチップWを受け取る受取り部15と、を備える。
検査装置10は、また、貼替え部14から受取り部15において第2のウエハシートS2上にチップWが一杯になるように貼替えられると、この第2のウエハリングR2を受け渡す搬送部16を備える。
搬送部16の搬送経路上には、第2のウエハシートS2上の各チップWのシート上における位置を確認するプリアライメント装置17と、第2のウエハシートS2上のチップWの特性検査を実行するプローブPB及び積分球18bを備えた特性検査装置18と、第2のウエハシートS2上のチップWの外観を検査する外観検査装置19と、を備える。最後に、外観検査を終え、マップデータを取得した第2のウエハシートS2を保持する第2のウエハリングR2を、複数枚収納する収納マガジンM1を有する。
検査装置10において、供給カセット11及びウエハリング移送部13は、台座STの下部に収納されるように配置されるが、その他の各構成要素は、台座ST上に平面配置されている。また、下部には、検査装置10の動作を制御する制御装置、その制御プログラムや上述した第2のウエハシートS2のマップデータを記憶する記憶媒体や、後述する貼替え装置14の吸着ノズルNにおける真空吸着を制御するバキューム装置などが格納されている。
供給カセット11は、上述の通り、複数のチップWが貼付された第1のウエハシートS1を有する第1のウエハリングR1を、水平方向に多段に収納するものであり、従来よりあるウエハリングのウエハカセットを本装置にセットして用いる。
ウエハリング移送部13は、供給カセット11から第1のウエハリングR1を受け取って、後述する供給部12へ受け渡すものである。本実施形態では、供給カセット11に水平に収納された第1のウエハリングR1を引き出し、これを90度回転させて垂直状態として、供給部12へ受け渡すものである。具体的には、ウエハリング移送部13は、供給カセット11の排出口と反対の端部に、供給カセット11から第1のウエハリングR1を押し出すプッシャー機構13pと、排出された第1のウエハリングR1のリング部分RPを、モータEによりベルトBを回転させることでスライド移動可能に保持し水平方向に移動させる保持部13aと、この保持部13aを、その中心位置近傍で、90度回転させつつ、保持した第1のウエハリングR1の端部を供給部12の下端に位置させる回転移動機構13bとを備える。
この回転移動機構13bは、垂直方向に設けられた縦レール13cと、水平方向に設けられた横レール13dとを、ウエハリング移送部13のカセット側端部、すなわち、第1のウエハリングR1の挿入側端部に設けられた支点13oと、この挿入側端部と反対の端部側に設けられた支点13qとが、それぞれのレール13c,13dに沿って移動することで、水平方向から垂直方向に移動するように構成される。
そして、回転移動機構13bは、垂直方向に移動すると、モータEを反転させることでベルトBを逆回転させ、保持部13aにおいて保持した第1のウエハリングR1を、供給部12へ向けて排出するものである。
供給部12は、ウエハリング移送部13によって供給された第1のウエハリングR1を保持し、これを縦横に移動させることにより、第1のウエハシートS1上のチップWを、順次貼替え部14に供給するものである。その具体的な構成は、本出願人が既に出願し公開された特開2009−158948号公報に開示されたリング移動機構と、ウエハリングの保持機構やエキスパンド機構等は同様であり、リングホルダ、エキスパンド機構、ウエハリングを保持するピン、ピックアップカメラ、突き上げピン等の各手段を有するものであるが、ここでは、本発明に顕著な事項ではないので、以下に図3を用いて、動作の概略のみを説明する。
図3は、供給部12を、貼替え部14側である正面から見た様子を示す概略図である。供給部12は、ウエハリング移送部13から受け取った第1のウエハリングR1をリングホルダ12hにて位置決め保持するようになっている。また、供給部12によって保持されたリングホルダ12hは、図中点線で示す位置までY軸及びZ軸方向に対してそれぞれ移動するようになっている。
貼替え部14は、図1に示すように、供給部12においてYZ軸方向に対する移動に伴って、位置決めされるチップWを第1のウエハシートS1から1つずつピックアップするピックアップ機構14pを有するものであり、このピックアップ機構14pは、チップWを吸着保持するノズルNを4つ、90度ごとに配置し、これを、受取り部15との間で、円環状に回転させて構成される。
本実施形態において、この回転軸は、供給部12と受取り部15との第1のウエハシートS1の面と平行で水平方向にしているが、これは、上部にカメラCを設け、ノズルNにおけるチップWの吸着位置及び姿勢をチェックするためである。すなわち、カメラCの配置位置を、装置上方に設けることで、装置全体の平面方向への省スペース化を図ったものである。本発明では、このような配置構成に限らず、例えば、ノズルN4つの回転軸を垂直方向とし、ノズルNが平面方向で回転するように構成することも可能である。また、本実施形態では、ノズルNを4つとしたが、本発明は、このような構成に限定されるものではなく、1つ、2つ、3つや5つ、6つ、8つなど、自由に変更して用いることが可能である。
貼替え部14の4つのノズルNは、各々、その軸方向に往復移動するように構成されており、供給部12における第1のウエハシートS1上の受取り位置において、チップWを受け取る際に、第1のウエハシートS1側に移動し、また、受取り部15における第1のウエハシートS1上へのチップWの受け渡し位置において、チップWを受け渡す際に、第2のウエハシートS2側に移動するように構成されている。
受取り部15は、第2のウエハリングR2を保持する保持部13aを備え、この保持部13aが、モータEの駆動により、貼替え部14からチップWを受け取る垂直位置と、チップWの貼付されていない第2のウエハリングR2を収納した空のマガジンMVから排出される第2のウエハリングR2を受け取り、チップW貼付後に、再度水平位置とを往復動し、当該水平位置において、このチップWを貼付した第2のウエハリングR2を、後述の搬送部16へ受け渡すものである。
より具体的には、受取り部15は、送りベルトBを有し、空のマガジンMVから第2のウエハリングR2が排出されると、その端部が送りベルトBに当接し、これにより、第2のウエハリングR2は、この送りベルトBの回転に合わせて、受取り部15のリング保持位置まで運ばれるようになっている。受取り部15は、また、チップWの貼付された第2のウエハリングR2を、水平位置に移動させると、再度送りベルトBが回転し、受取り部15の上から排出することで、後述の搬送部16の搬送レール16aに、第2のウエハリングR2を受け渡すものである。
なお、ここで示す送りベルトBは、第2のウエハリングR2を受取り部15のリング保持位置まで運ぶ構成の一例を示すに過ぎず、このような送りベルトに限らず、例えば、タイミングベルトとフィードアームの組み合わせや、モータとボールネジとフィードアームの組み合わせなど、公知の移送機構によって構成可能である。なお、以下の説明において送りベルトBと称するものは、上記同様である。
ここで、受取り部15における第1のウエハシートS1上のチップWの貼付ピッチと、供給部12における第2のウエハシートS2上のチップWの貼付ピッチとは異なるように設定される。すなわち、供給カセット11に収納された第1のウエハリングR1に保持された第1のウエハシートS1上のチップWは、各チップWを近接して貼付しているが、貼替え部14から、受取り部15に貼付される際にチップWの貼り付けピッチの変換を行い、第2のウエハリングR2に保持された第2のウエハシートS2上のチップWは、チップW間に所定の間隔を設けて貼付されるようになっている。
第2のウエハリングR2における第2のウエハシートS2のチップWの貼付ピッチの具体例について図4を用いて示す。第2のウエハリングR2における第2のウエハシートS2上におけるチップWの貼付ピッチは、図4に示すように、後述する特性検査装置18において用いる積分球18bの開口部の径を基準に定まるものであり、第2のウエハシートS2上の1つのチップWに積分球18bの開口部を当接させた状態において、積分球18bの開口部及び開口部近傍の傾斜面が、隣接して貼付されたチップWに干渉しないように設定されたものである。より具体的には、チップWの長辺の幅が1mmであるとし、積分球18bの開口部の外径長が2.8mmであるとした場合、チップW間のピッチ(チップWの中心から隣接するチップWの中心までの距離)を、2.5mmとして設定したものである。
このピッチの調整は、貼替え部14から受取り部15にチップWを貼り付ける際に、受取り部15がY軸及びZ軸方向に移動することで行なうようになっている。この移動する構成は、前述の供給部12と同様に、チップWの貼付する位置を位置決めするため、Y軸方向、Z軸方向及びウエハシートSの回転方向であるθ方向に移動するように構成されている。なお、その移動する構成の詳細は、前述の本出願人による先行技術並びに供給部12の構成と同様であるので、省略する。
搬送部16は、上述の通り、この受取り部15からチップWが貼付された第2のウエハリングR2を受け取って、第2のウエハリングR2を、プリアライメント装置17、特性検査装置18、外観検査装置19及び収納マガジンM1に至るまで搬送する手段である。
具体的には、搬送部16は、第2のウエハリングR2の搬送方向左右を保持するコの字状の搬送レール16aからなり、この搬送レール16a上をローラやベルト等の搬送手段により、第2のウエハリングR2を移動させるようになっている。搬送部16は、受取り部15からの受取り位置及び特性検査装置18の間と、特性検査装置18及び収納マガジンM1の間との2つの間に分けて設けられている。すなわち、受取り部15から第2のウエハリングR2を受け取ると、プリアライメント装置17の位置において、第2のウエハリングR2を一端停止させ、プリアライメント装置17における処理が終了した後、第2のウエハリングR2を特性テスト装置に一旦受け渡す。そして、特性検査装置18における第2のウエハリングR2上のチップWへのテストが終了すると、再び搬送部16により第2のウエハリングR2を受取り、その第2のウエハリングR2を外観検査装置19の位置を経て、収納マガジンM1へと搬送するものである。
プリアライメント装置17は、搬送部16の上部に設けられた撮像装置によって、第2のウエハシートS2上のチップWの貼り付け位置を撮像し確認するものである。このプリアライメント装置17における各チップWの位置情報を、図示しない制御装置に送り、この制御装置の処理により、次の特性検査装置18において、チップWにプローブPBを当接させる際の情報として利用する。これは、供給部12から貼替え部14を通じて受取り部15において第2のウエハシートS2に貼付される際に、必ずしも予め決まった位置にチップWが貼付されるとは限らず、特に貼替え部14における保持部13aにチップWが保持される際に、チップWのY、Z及びθ方向がずれた状態で受け渡されることがあるため、そのような位置ずれを確認するためにプリアライメントを実行するものである。
プリアライメント装置17における画像認識の例を示すと、本実施形態で想定される第2のウエハシートに貼付された2500〜3000個程度のチップWの各位置を、撮像装置によって一遍に撮像し把握するのは難しい。そこで、本実施形態では、例えば、第2のウエハシートS2上にリニアセンサを移動させることによってスキャンして撮像したり、カメラCを第2のウエハシートS2上のチップWの固まりごとに動かして(例えば9分割など)撮像することによって、イメージを得て、そこから、各チップWの位置情報を得るようにする。
なお、プリアライメント装置17における撮像は、基本的には、上記のように、チップWの位置検出を行なうためのものであるが、実際には、例えばチップWに外観上の凹みがある場合など、不良品の検出も同時に行なうことが可能であり、このプリアライメント装置17において不良品と確認されたチップWに対しては、後述の特性検査や外観検査を行わず、また、分類装置20において分類対象としないことで、不良品への検査時間や分類時間の短縮を行なうことが可能となる。
特性検査装置18は、搬送部16から第2のウエハリングR2を受け取って載置する載置部18aと、第2のウエハリングR2に保持された第2のウエハシートS2上のチップWの1つ1つの光学特性を測定する積分球18bと、からなる。
載置部18aは、積分球18bの位置に対して、各チップWを順次位置決めするため、第2のウエハシートS2を縦横(図中XY軸方向)に移動させる移動機構18cと、積分球18bによって測定する対象となるチップWを第2のウエハシートS2の下部から突上げて、積分球18bの開口部18eより内部に投入する突上げ部18dと、突上げ部18dの周囲に設けられ積分球18bの開口部18eの端部が、測定対象のチップWの周囲に当接する場合に、その当接点に接して、第2のウエハシートS2を支持する支持部18fと、を備える。
移動機構18cは、載置台18aをモータEの駆動によりボールネジを回転させることで縦横に移動させる駆動機構18hとを有する。
積分球18bは、本実施形態に顕著なものではなく、従来より用いられているものであって、球内面が白色拡散反射面で構成され、球内に設置した光源の全光束や、球外から球内に入射された光束を多重反射させ、測光する中空の球状体であって、本実施形態では下端部に、外径2.8mm、内径2mm程度の開口部18eを有する。
図4に示すように、突上げ部18dは、積分球18bの直下において上昇下降動作を行なうもので、具体的には、積分球18bの開口部18e直下に、検査対象のチップWが位置決めされ、チップWを積分球18bの開口部18eより投入させるように作用する際に、突上げ部18dが上昇し、第2のウエハシートS2下部からチップWを0.5mm程度持ち上げて、積分球18bの開口部18eより、チップWが内部に投入されるように補助する役割を担うものである。なお、このとき、積分球18bも突上げ部18dと同期して下降するように構成してもよい。
チップWは、積分球18bに投入されると、積分球18b内に設けられたプローブPBが、チップW表面に設けられた端子に当接して、LEDを点灯させ、この光を積分球18b内に拡散させることで、光学測定を行なうものである。なお、このプローブPBを端子に適切に当接させるため、プリアライメント装置17において、チップWの位置情報を利用する。
外観検査装置19は、特性検査の終了した第2のウエハリングR2が搬送部16により外観検査装置19の設けられた位置に移送されると、上部に設けたカメラCにより、第2のウエハシートS2上のチップWの外観の破損や損傷具合の検査を行う。具体的には、直前の特性検査によって、プローブPBを端子に当接させているため、そのプローブPBによる端子の接触により、チップW表面に傷等の破損や損傷が生じる場合がある。このような破損や損傷を確認するため、本外観検査を実行する。
なお、この外観検査は、種々の手法により実行可能であるが、一例をあげれば、上述のように、カメラCによる撮像と、その画像の解析により、プローブPB接触によるチップW表面の損傷等、比較的細かい傷を検出する必要があるため、前述のプリアライメント装置17における撮像よりも解像度を上げてチップW表面を詳しく見る必要がある。そこで、例えば、カメラCに解像度が高いものを用い、第2のウエハシートS2上のチップWを、例えば、3×3の15ブロックや5×5の25ブロックなど、一定のブロックにわけ、ブロックごとに撮像し、損傷等の検出を行なうことで、より適切な外観検査が可能となるように設定することが可能である。
以上のような、プリアライメント装置17、特性検査装置18、外観検査装置19の各処理を経ることで、検査装置10は、第2のウエハシートS2上のチップWの位置情報、光学特性情報、外観損傷情報を得て、第2のウエハシートS2上のチップWの各情報をマップデータとして取得するようになっている。なお、このマップデータは、第2のウエハリングR2に貼付したバーコードや、第2のウエハシートS2上に貼付したICチップに外観検査後、収納マガジンM1に収納するまでの過程において記録することで、後述の分類装置2に引き継ぐことが可能となる。
収納マガジンM1は、プリアライメント、特性検査、外観検査の上記各処理を終えた第2のウエハリングR2を、順次収納するものであり、収納マガジンM1が、公知のエレベータ機構により、空の段を搬送装置22の搬送面の位置と同一平面になるように、上昇及び下降動作を行なうことで、搬送部16から第2のウエハリングR2を受け取る手段である。
[1−2−2.分類装置の構成]
[全体構成]
図2に示すように、分類装置20は、第2のウエハシートS2上のチップWの特性に関する配置情報であるマップデータを保持した分類前の第2のウエハリングR2を供給する供給マガジンM2と、ターンテーブルTを備えた搬送装置22と、チップWを分類した後の第3のウエハシートS3を有する第3のウエハリングR3を収納する分類マガジンM3とを備える。そして、供給マガジンM2と搬送装置22との間のチップWの受け渡しを第1及び第2の受渡し装置21において行い、搬送装置22と分類マガジンM3との間のチップWの受け渡しを第1及び第2の受取り装置23によって行なうように構成される。
ここで、分類装置20を構成する上述の各構成要素の配置について説明する。分類装置20は、図3(a)及び(b)に示すように、略正方形の台座STの上に、上記各構成要素を配置しており、台座ST下部には、分類装置20の動作を制御する制御装置、その制御プログラムや上述した第2のウエハシートS2のマップデータを検査装置10から引継ぎ記憶する記憶媒体や、後述する搬送装置22の吸着保持部22aにおける真空吸着を制御するバキューム装置などが格納されている。
図3(b)の平面図に表れるように、搬送装置22を台座ST中央に置き、台座STの対角線上に供給マガジンM2と分類マガジンM3とを配置している。第1及び第2の受渡し装置21並びに第1及び第2の受取り装置23は、供給マガジンM2又は分類マガジンM3にそれぞれ隣接して設けられている。
具体的には、第1及び第2の受渡し装置21は、供給マガジンM2から搬送装置22方向に向かって、90度の角度を成すようにして配置され、第1及び第2の受取り装置23は、反対側において分類マガジンM3から搬送装置22方向に向かって、90度の角度を成すようにして配置されている。すなわち、供給マガジンM2並びに第1及び第2の受渡し装置21と、分類マガジンM3並びに第1及び第2の受取り装置23とは、搬送装置22を中心として、対称に設けられている。
そして、供給マガジンM2から、90度異なる向きに位置する第1及び第2の受渡し装置21へ第2のウエハリングR2を供給するに当たって、供給マガジンM2は、下部にモータ等の駆動源を備え、第1又は第2の受渡し装置21の方向へ、その排出口を向けるように、回転する構成となっている。
[供給マガジン]
供給マガジンM2は、第2のウエハシートS2上のチップWの特性に関する配置情報であるマップデータを保持した第2のウエハリングR2を複数枚多段に収納するものであり、このマップデータは、上述した検査装置10において得たものである。この供給マガジンM2は、分類装置20において台座STの上に、第2のウエハリングR2の第2のウエハシートS2面をその台座STの平面方向すなわち水平方向にして設置される。
なお、この供給マガジンM2は、上述の検査装置10における収納マガジンM1をそのまま分類装置20に設置することで構成することができるものであり、具体的な図は示していないが、検査装置10から分類装置20への供給(収納)マガジンの受け渡しは、自動で行なってもよいし、作業者により手動で行なってもよい。また、供給マガジンM2の具体的な構成は、前述の供給カセット11や収納マガジンM1と同様であり、公知であるので説明を省略する。
[受渡し装置]
第1及び第2の受渡し装置21は、供給マガジンM2から第2のウエハリングR2を1枚ずつ受け取り、第2のウエハリングR2をチップWの供給位置へと移動させる手段である。
図2(a)に示すように、第1及び第2の受渡し装置21とは、供給マガジンM2と同様、平面上に第2のウエハリングR2の第2のウエハシートS2面を水平にし、供給マガジンM2を中心として、搬送装置22側に90度の角度をもって設けられている。第1及び第2の受渡し装置21は、装置構成は同様であり、前述の検査装置10における供給部12と同様の構成を有するものである。
具体的には、受渡し装置21は、第2のウエハリングR2を保持する受渡保持部21cを備え、この受渡保持部21cが、モータEの駆動により、供給マガジンM2から第2のウエハリングR2を受け取る水平位置と、後述する搬送装置22の吸着保持部22aへチップWを受け渡す垂直位置とを往復動するものである。
受渡し装置21は、送りベルトBを有し、供給マガジンM2から第2のウエハリングR2が排出されると、その端部が送りベルトBに当接し、これにより、第2のウエハリングR2は、この送りベルトBの回転に合わせて、受渡し装置21のリング保持位置まで運ばれるようになっている。
また、受渡し装置21は、供給マガジンM2から受け取った第2のウエハリングR2を垂直位置に移動させ、この位置において搬送装置22の吸着保持部22aにチップWを受け渡すものである。このとき、受渡し装置21は、縦横(X軸及びZ軸)に移動しながら、チップWを吸着保持部22aの先端位置に対して位置決めするようになっている。なお、このときのチップWの受渡し方法については、後述する。
受渡し装置21において、第2のウエハシートS2上のすべてのチップWの吸着保持部22aへの受渡しが終了すると、受渡し装置21は、再度水平位置に戻り、ここにおいて、再度送りベルトが反回転し、供給マガジンM2側に、空の第2のウエハリングR2を戻すようになっている。
[搬送装置]
搬送装置22は、ターンテーブルTを備え、このターンテーブルTの円周等配位置に、吸着ノズルNを備えたチップWの吸着保持部22aを備える。本実施形態において、この吸着保持部22aは、ターンテーブルTを20分割して20個設けられており、その先端、すなわち吸着ノズルNの先端は、ターンテーブルTの半径方向外周に向けて設けられている。ターンテーブルTは、テーブル下部に設けられたモータEの駆動により、所定のタイミングで、所定数分割して(ここでは、20分割)回転停止を繰り返す間欠回転を行なうように構成される。
ここで、ターンテーブルRの分割数と吸着保持部22aを設ける数は任意であるが、本発明において好ましい形態は、第1の受渡し装置21aと第1の受取り装置23aに同時に位置する吸着ノズルNと、第2の受渡し装置21bと第2の受取り装置23bに同時に位置する吸着ノズルNとが、それぞれ、同じ装置から受け取ったチップを保持するように構成することである。
すなわち、本実施形態において、ターンテーブルTを20分割し、吸着ノズルNを20個設けたのは、円周の90度の間が奇数ピッチ(ここでは、5つの吸着ノズルを設けた。)に分割するよう設定して、吸着ノズルNが、後述する第1の受渡し装置21aにおいて受け取ったチップが第1の受取り装置23aに受け渡され、第2の受渡し装置21bにおいて受け取ったチップが第2の受取り装置23bに受け渡されるように、構成したことによる。この様子を、図2(a)では、ノズルNを色分け又は強調表示することによって表している。すなわち、吸着ノズルNのうち黒塗り表示のものは、第1の受渡し装置21aからチップを受け取り第1の受取り装置23aへ受け渡す役割を担い、吸着ノズルNのうち、枠線を太字で表示したものは、第2の受渡し装置21bからチップを受け取り第2の受取り装置23bへ受け渡す役割を担うものである。
このように、吸着ノズルNを、円周の90度の間で奇数ピッチとなるように構成することで、第1の受渡し装置21aと第1の受取り装置23aに同時に位置する吸着ノズルNと、第2の受渡し装置21bと第2の受取り装置23bに同時に位置する吸着ノズルNとが、それぞれ、同じ装置から受け取ったチップを保持することとなる。これは、後述するが、一方の受渡し装置21が搬送装置22へのチップWの受渡しを行なっている間、他方の受渡し装置21は、受渡しを行なわず、第2のウエハリングR2の交換を行なうように設定するためである。
吸着保持部22a先端に設けられた吸着ノズルNは、チップWを受渡し装置21から受け取る際に真空吸着し、チップWを第1及び第2の受取り装置23に受け渡す際に、真空破壊されるようになっており、さらに、第1及び第2の受渡し装置21及び第1及び第2の受取り装置23の位置において、吸着ノズルNはそれぞれのウエハシートS側に移動して、受け取り及び貼り付けを行なうようになっている。なお、この吸着ノズルの移動は、出願人が既に出願し公開された上記特許文献6や、特許文献7又は特許文献8等において開示される従来のチップの保持手段の駆動機構により実現するものである。
図2(b)に示すように、第1及び第2の受渡し装置21から搬送装置22の吸着ノズルNへのチップWの受渡し位置(2箇所)と、吸着ノズルNから第1及び第2の受取り装置23へのチップWの貼付位置(2箇所)とには、吸着ノズルNに対するチップWの保持位置のチェックを行なう位置認識用のカメラCが設置されている。このカメラCは、ターンテーブルT上において、保持部13aよりテーブル中央付近の上部に垂直方向に光軸を向けて設けられているが、この光軸は、テーブル上に設けられたプリズムPMにより光軸が変換され、吸着ノズルN先端のチップWの保持位置を撮像できるように設置されている。
吸着保持部22aは、第1又は第2の受取り装置21において、第2のウエハシートS2から、第2のウエハシートS2を保持された第2のウエハリングR2のマップデータに基づいて、所定の分類のチップWを受け取ると、ターンテーブルTの回転により第1又は第2の受取り装置23の位置まで搬送される。ここで、第1及び第2の受取り装置23において、垂直位置に保持された第3のウエハリングR3の2つの第3のウエハシートS3は、それぞれ、特定の分類のみのチップWを貼り付けるように設定されており、吸着保持部22aは、決められた分類のチップWのみを第1又は第2の受取り装置23の位置において、第3のウエハシートS3に貼り付けることとなる。
[貼付装置]
第1及び第2の受取り装置23は、保持した第3のウエハリングR3の第3のウエハシートS3上に特定の分類のチップWが一杯になると、第3のウエハリングR3を交換するため、垂直位置から水平位置へ回転し、ベルトBが回転することで、満杯になった第3のウエハリングR3を分類マガジンM3へ収納するようになっている。第3のウエハリングR3の収納後、第1及び第2の受取り装置23は、分類マガジンM3からチップWの貼付されていない空の第3のウエハリングR3を受け取り、再度垂直位置へ移動して、搬送装置22から他のチップWを受け取るように構成される。
[1−3.作用]
以上のような構成からなる本実施形態の検査分類装置1の作用を説明する。
[1−3−1.検査装置の作用]
本実施形態の検査装置10では、まず供給カセット11からウエハリング移送部13に対して、チップWを第1のウエハシートS1上に貼付した第1のウエハリングR1が1枚供給される。具体的には、ウエハリング移送部13は、供給カセット11背面に設けられたプッシャー機構13pにより、供給カセット11から第1のウエハリングR1を押し出し、排出された第1のウエハリングR1のリング部分RPをモータEによりベルトBを回転させることでスライド移動させ、第1のウエハリングR1を保持部13a上へ移動させる。
ウエハリング移送部13は、第1のウエハリングR1を保持すると、回転移動機構13bにより、この保持部13aをその中心位置近傍で90度回転させ、保持した第1のウエハリングR1の端部を供給部12の下端に位置させる。回転移動機構13bは、垂直方向に移動すると、モータEを反転させることでベルトBを逆回転させ、保持部13aにおいて保持した第1のウエハリングR1を、供給部12へ向けて排出する。
供給部12は、ウエハリング移送部13から供給された第1のウエハリングR1を、リングホルダ12hにて位置決めし保持すると、貼替え部14へのチップWの供給処理に移行する。具体的には、供給部12は、第1のウエハリングR1を順次縦横(YZ軸方向)に移動させ、第1のウエハシートS1上のチップWを貼替え部14へ供給を開始する。
貼替え部14は、ピックアップ機構14pが、供給部12のYZ軸方向に対する移動に伴って、位置決めされるチップWを第1のウエハシートS1から1つずつピックアップする。より具体的には、ピックアップ機構14pを構成するノズルNが、その軸方向であって第1のウエハシートS1側に移動し、第1のウエハシートS1上のチップWを吸着保持すると、元の位置に戻る。チップWを保持したノズルNは、ピックアップ機構14pの動作により、90度回転し、この位置において、上部に設けられたカメラCにより、チップWの保持位置の確認を行なう。チップWを保持したノズルNは、さらに90度回転し、受取り部15の第2のウエハシートS2と対面することとなる。
ここで、受取り部15は、貼替え部14のノズルNからチップWを受け取る前の段階として、次のような処理を実行している。すなわち、受取り部15は、保持部13aの面が水平位置となる状態において、空のマガジンMVからチップWを搭載していない第2のウエハリングR2が排出されると、送りベルトBを回転させ、第2のウエハリングR2の端部が送りベルトBに当接することで、第2のウエハリングR2が送りベルトBの回転に合わせて、受取り部15のリング保持位置まで運ばれる。
受取り部15が、保持部13aにおいてチップWの貼付されていない第2のウエハリングR2を保持すると、90度回転し、保持部13aを垂直位置に移動させる。この状態において、受取り部15は、保持部13aを縦横に移動させながら、貼替え装置のノズルNから、順次チップWを受け取る。
このとき、第2のウエハリングR2における第2のウエハシートS2上におけるチップWの貼付ピッチは、図4に示すように、後述する特性検査装置18において用いる積分球18bの開口部の径を基準に定まるものであり、第2のウエハシートS2上の1つのチップWに積分球18bの開口部を当接させた状態において、積分球18bの開口部及び開口部近傍の傾斜面が、隣接して貼付されたチップWに干渉しないように、貼替え装置のノズルNから貼付される。なお、ピッチの調整は、貼替え部14から受取り部15にチップWを貼り付ける際に、受け取り部がY軸及びZ軸方向に移動することで行なう。
第2のウエハリングR2の第2のウエハシートS2に対して、所定の数のチップWが貼付されると、受取り部15は、チップWの貼付された第2のウエハリングR2を、水平位置に移動させ、再度送りベルトBが回転し、受取り部15の上から排出することで、搬送部16の搬送レール16aに、第2のウエハリングR2を受け渡す。
搬送部16は、この受取り部15からチップWが貼付された第2のウエハリングR2を受け取って、第2のウエハリングR2を、プリアライメント装置17、特性検査装置18、外観検査装置19及び収納マガジンM1に至るまで搬送する。具体的には、搬送部16は、搬送レール16a上をローラやベルトB等の搬送手段により、第2のウエハリングR2を移動させるようになっている。なお、ここにおいても搬送手段としては、ローラやベルトBに限らず、例えば、タイミングベルトとフィードアームの組み合わせや、モータとボールネジとフィードアームの組み合わせなど、公知の移送機構によって構成可能である。
搬送部16は、まず、受取り部15から第2のウエハリングR2を受け取ると、プリアライメント装置17の位置において、第2のウエハリングR2を一端停止させ、プリアライメント装置17における処理を実行する。プリアライメント装置17は、搬送部16の上部に設けられた撮像装置によって、第2のウエハシートS2上のチップWの貼り付け位置を撮像し、各チップWの位置を確認する。
プリアライメント装置17におけるチップW貼付位置の検出が終わると、搬送部16は、第2のウエハリングR2を次工程の特性検査装置18へ移動させる。
特性検査装置18は、搬送部16から第2のウエハリングR2を受け取って載置部18aに載置する。載置部18aは、積分球18bの位置に対して、各チップWを順次位置決めするため、移動機構により第2のウエハシートS2を縦横(図中XY軸方向)に移動させ、積分球18bの下部に検査対象のチップWが位置決めされる。
このとき、突上げ部18dがチップWを第2のウエハシートS2の下部から突上げて、積分球18bの開口部より内部に投入させる。ここにおいて、支持部18fが、測定対象のチップWの周囲に当接する積分球18bの開口部18eの端部を第2のウエハシートS2の下部から保持する。なお、積分球18bの下部に検査対象のチップWが位置決めされた後、突上げ部18dの上昇と同時又はこれに先行して積分球18bを下降させ、積分球18bの開口部が、第2のウエハシート上のチップWを覆うようにしてもよい。
チップWは、積分球18bに投入されると、積分球18b内に設けられたプローブPBが、チップW表面に設けられた端子に当接して、LEDを点灯させ、この光を積分球18b内に拡散させることで、光学測定を行なう。なお、このプローブPBを端子に適切に当接させるため、プリアライメント装置17において、チップWの位置情報を利用する。
特性検査の終了した第2のウエハリングR2は、搬送部16により外観検査装置19の設けられた外観検査位置に移送される。この外観検査装置19では、上部に設けたカメラCにより、第2のウエハシートS2上のチップWの外観の破損や損傷具合の検査を行う。具体的には、直前の特性検査によって、プローブPBを端子に当接させているため、そのプローブPBによる端子の接触により、チップW表面に傷等の破損や損傷が生じる場合がある。このような破損や損傷を確認するため、本外観検査を実行する。
以上のような、プリアライメント装置17、特性検査装置18、外観検査装置19の各処理を経ることで、検査装置10は、第2のウエハシートS2上のチップWの位置情報、光学特性情報、外観損傷情報を得て、第2のウエハシートS2上のチップWの各情報をマップデータとして取得する。
外観検査を終えた第2のウエハリングR2は、搬送部16により搬送され、順次収納マガジンM1に収納される。収納マガジンM1は、公知のエレベータ機構により、空の段を搬送装置22の搬送面の位置と同一平面になるように、上昇及び下降動作を行なうことで、搬送部16から第2のウエハリングR2を受け取る。
[1−3−2.分類装置の作用]
本実施形態の分類装置20では、まず、検査装置10の最終工程において、収納マガジンM1に収納された第2のウエハリングR2が、供給マガジンM2としてそのまま用いられる。すなわち、供給マガジンM2からは、第2のウエハシートS2上のチップWの特性に関する配置情報であるマップデータを保持した分類前の第2のウエハリングR2が供給される。
第2のウエハリングR2は、供給マガジンM2から第1及び第2の受渡し装置21へ1枚ずつ受け渡され、この第1及び第2の受渡し装置21により、第2のウエハリングR2をチップWの供給位置へと移動させる。具体的には、受渡し装置21では、吸着保持部22aにより、水平位置において供給マガジンM2から第2のウエハリングR2を受け取ると、モータEの駆動により、搬送装置22の吸着保持部22aへチップWを受け渡す垂直位置へ移動する。なお、上述の通り、第1の受渡し装置21と第2の受渡し装置21とは、90度の角度をもって設けられているため、供給マガジンM2は、各々の受渡し装置21に対して第2のウエハリングR2を供給する際に、下部に設けられたモータEの駆動により、90度回転して、各々の受渡し装置21の方向に、排出口を向け、その状態で、第2のウエハリングR2を受け渡す。
供給マガジンM2から受渡し装置21への第2のウエハリングR2の移動は、次のようにしてなされる。すなわち、供給マガジンM2から第2のウエハリングR2が排出されると、リングの端部が受渡し装置21の送りベルトBに当接する。これにより、第2のウエハリングR2は、この送りベルトBの回転に合わせて、受渡し装置21のリング保持位置まで運ばれる。なお、送りベルトBは、本発明の一実施例に過ぎず、このような構成に限らず、例えば、タイミングベルトとフィードアームの組み合わせや、モータとボールネジとフィードアームの組み合わせなど、公知の移送機構によって構成可能である。
受渡し装置21は、第2のウエハリングR2を受け取ると、受け取った第2のウエハリングR2を垂直位置に移動させ、この位置において搬送装置22の吸着保持部22aにチップWを受け渡す。この際、受渡し装置21は、縦横(X軸及びZ軸)に移動しながら、チップWを吸着保持部22aの先端位置に対して位置決めする。
受渡し装置21が、第2のウエハシートS2上のすべてのチップWの吸着保持部22aへの受渡しを終えると、受渡し装置21は、再度水平位置に戻り、ここにおいて、再度送りベルトBが反回転し、供給マガジンM2側に、空の第2のウエハリングR2を戻す。
搬送装置22は、ターンテーブルTの円周等配位置に備えたチップWの吸着保持部22aの吸着ノズルNにより、チップWを受渡し装置21に保持された第2のウエハシートS2から真空吸着により受け取る。このとき、ターンテーブルT上に設けられたカメラCにより、吸着ノズルN先端のチップWの保持位置を撮像し検出する。
吸着保持部22aは、第1又は第2の受取り装置23において、第2のウエハシートS2から、第2のウエハシートS2を保持された第2のウエハリングR2のマップデータに基づいて、所定の分類のチップWを受け取ると、ターンテーブルTの回転により第1又は第2の受取り装置23の位置まで搬送される。
ここで、第1及び第2の受取り装置23において、垂直位置に保持された第2のウエハリングR2の2つの第3のウエハシートS3は、それぞれ、特定の分類のみのチップWを貼り付け、吸着保持部22aは、決められた分類のチップWのみを第1又は第2の受取り装置23の位置において、第3のウエハシートS3に貼り付ける。このとき、吸着保持部22aの吸着ノズルNは、チップWを受取り装置23に受け渡す際に、吸着ノズルNは第3のウエハシートS3側に移動して、真空破壊される。
第1及び第2の受取り装置23は、保持した第3のウエハリングR3の第3のウエハシートS3上に特定の分類のチップWが一杯になると、第3のウエハリングR3を交換するため、垂直位置から水平位置へ回転し、ベルトBが回転することで、満杯になった第3のウエハリングR3を分類マガジンM3へ収納する。第3のウエハリングR3の収納後、第1及び第2の受取り装置23は、分類マガジンM3からチップWの貼付されていない空の第3のウエハリングR3を受け取り、再度垂直位置へ移動して、搬送装置22から他のチップWを受け取る。
[1−3−3.分類装置の受渡し・貼付けパターン]
分類装置20においては、受渡し装置21と、受取り装置23とを、第1及び第2の各々2つ設けている。この2つの受渡し装置21と受取り装置23から、搬送装置22の吸着保持部22aがチップWを受け取り、又は貼り付ける手順は、種々のパターンが考えられる。このパターンは、装置の使用者の分類するチップWの種類や分類数、目的等に応じて、処理プログラムを変更することにより対応が可能である。そこで、以下、この受取り・貼り付けのパターンについて、代表的なものを例示する。
まず、第1及び第2の受渡し装置21における受渡しパターン(A)について例示する。
最も原則的な受渡しパターン(A)として、第1及び第2の受渡し装置21のうち、一方の受渡し装置21(例えば、第1の受渡し装置21a)が搬送装置22へのチップWの受渡しを行なっている間、他方の受渡し装置21(例えば、第2の受渡し装置21b)は、受渡しを行なわず、第2のウエハリングR2の交換を行なうように設定する手法である。
この場合、一方の受渡し装置21(例えば、第1の受渡し装置21a)が、すべてのチップW受渡しを終えると、それまで受渡しを行なっていなかった他方の受渡し装置21(例えば、第1の受渡し装置21b)が、搬送装置22へのチップWの受渡しを開始し、受け渡しを終えた受渡し装置21(例えば、第1の受渡し装置21a)は、第2のウエハリングR2の交換を行なう。
このようなパターン(A)では、例えば、受渡し装置21を1つで構成し搬送装置22への受け渡しを行った場合には、処理途中において、第2のウエハリングR2の交換時間に、搬送装置22を停止する必要が生ずるが、上述のように、受渡し装置21を2つ設け、一方の装置の第2のウエハリングR2交換タイミングで、他方の装置からチップWの受け渡しを行なうことで、搬送装置22を停止させることなく、受け渡しの処理を継続することができる。
パターン(B)として、パターン(A)同様に、受取り装置23においても、第1及び第2の受取り装置23のうち、一方の受取り装置23(例えば、第1の受取り装置23a)が搬送装置22からチップWの貼付を受けている間、他方の受取り装置23(例えば、第2の受取り装置23b)は、貼付を受けず、第3のウエハリングR3の交換を行なうように設定する手法である。
このパターン(B)においても、例えば、受取り装置23を1つで構成し搬送装置22からのチップWの受取りを行った場合には、処理途中において、第3のウエハリングR3の交換時間に、搬送装置22を停止する必要が生ずるが、受取り装置23を2つ設け、一方の装置の第3のウエハリングR3交換タイミングで、他方の装置においてチップWの貼り付けを継続することで、搬送装置22を停止させることなく、貼付処理を継続することができる。
また、他のパターン(C)として、第1及び第2の受渡し装置21から、搬送装置22へ同時に受け渡すことも可能である。この場合、搬送装置22は、例えば、(1)第1及び第2の受渡し装置21から同じランクに分類されるチップWのみをピックアップするか、又は(2)第1の受渡し装置21からはP分類(Pは例)、第2の受渡し装置21からはQ分類(Qは例)といったように、各受渡し装置21から、特定のランクに分類されるチップWのみをピックアップするようにする。
そして、第1及び第2の受取り装置23においては、上記(1)の場合には、上述した一方の受取り装置23のみを貼付け用とし、他方の受取り装置23を第3のウエハリングR3の交換用とし、貼付け用として動作する受取り装置23のみに、受渡し装置21においてピックアップされた同一分類のチップWを連続的に貼付していく手法がよい。
一方で上記(2)の場合には、第1及び第2の受渡し装置21の構成と同様に、第1の受取り装置23aにはP分類(Pは例)、第2の受取り装置23bにはQ分類(Qは例)といったように、各受取り装置23へ、特定のランクに分類されるチップWのみを貼り付けるようにする。
なお、このような場合においても、搬送装置22の処理を止めることがないように、第1及び第2の受渡し装置21、又は第1及び第2の受取り装置23におけるいずれかのウエハリングR上のウエハシートSのチップWが満杯又は空になるタイミングを考慮し、ウエハリングRの交換タイミングを調整することが好ましい。これにより、ウエハリングRの交換タイミングで、搬送装置22へのチップWの受け渡し・貼付ができなくなり、搬送装置22の処理がストップしないようにすることが大切である。
また、本実施形態においては、上記のパターン(A)〜(C)を実現するにあたって、図2(a)において色分け又は強調表示したように、第1の受渡し装置21aと第1の受取り装置23aに同時に位置する吸着ノズルNと、第2の受渡し装置21bと第2の受取り装置23bに同時に位置する吸着ノズルNとが、それぞれ、同じ装置から受け取ったチップを保持するようにする。
本実施形態において、20の停止位置を有するターンテーブルTは、その停止位置ごとに停止し間欠的に回転を繰り返すが、第1の受渡し装置21a又は第2の受渡し装置21bからチップを受け取るノズルNは、2間欠回転に一つであり、同様に第1の受取り装置23a又は第2の受取り装置23bへチップを受け渡すノズルNも2間欠回転に1つである。
つまり、本実施形態の分類装置20において、各受取り装置23におけるチップの受け取りは、2間欠回転に1つの割合であって、第3のウエハシートにおける分類能力も、2間欠回転に1つであるが、第1及び第2の受取り装置23の両方で同時にチップを受け取っているので、2間欠回転に2個のチップを処理し、その処理能力は、実質的にはターンテーブルTの1間欠回転ごとに1個の割合である。なお、このような同時受取りが可能となるのは、ターンテーブルTを20分割し、吸着ノズルNを20個設けたのは、円周の90度の間が奇数ピッチ(ここでは、5つの吸着ノズルを設けた。)に分割するよう設定したことによる。
[1−4.効果]
以上のような本実施形態の検査分類装置1によれば、検査装置において、貼替え部を備え、この貼替え部により、供給カセットから供給される第1のウエハリングにおけるチップの貼付ピッチを変換して、受取り部の第2のウエハリングに対してチップを貼付することで、特性検査装置においてウエハシートにチップが貼付されたままの状態で、積分球をはじめとする光学測定装置を利用した検査を行うことが可能となる。これにより、ウエハシートに貼付したままの状態でのLEDチップの光学特性の検査が容易となる。
また、この特性検査装置における検査では、ウエハシートに貼付したチップを、積分球に投入してプローブを当接させる特質上、チップが積分球の開口部より内部にしっかりと投入される必要がある。この点、本実施形態によれば、ウエハシートの下部に突上げ部を設け、この突上げ部により、検査対象チップを所定高さまで持ち上げることで、積分球への投入を確実なものとしている。また、ウエハシート下部の突上げ部周囲に、支持部を設け、突上げるチップ部分以外のウエハシートを下方から支持することで、積分球の開口部端部が、ウエハシートに当接することによるシートの損傷等を防ぐことが可能となっている。
また、特性検査装置では、ウエハシートに貼付したままの状態で、特性検査を実行できる。従来のように、電気特性検査や光学特性検査では、チップをウエハシートから剥がし、例えばターンテーブルに設けた吸着機構を備えたチャックによりチップを保持した状態で、このチャックが上昇することで、チップをプローブに接触させていたが、これにより、チップのシートとの接着面には、シートの粘着剤が残存していることがあり、この粘着剤がチャックに付着することがある。そして、この粘着剤があるがために、チップが位置ずれした状態でチャックが保持されることが起こる。この点、本実施形態の検査装置では、吸着ノズルによって保持するのは、チップの電極面で、チップのシートとの接着面を保持することがないため、上記のような問題がなく、装置の安定稼働が可能である。
本実施形態の検査装置では、上述の特性検査装置における光学検査に先立って、プリアライメント装置を設けることで、貼替え部において貼り替えたウエハシート上のチップの位置情報を取得する。これにより、シート上のチップアドレスを把握できるため、特性検査装置において、積分球に投入したチップの端子にプローブを正確に接触させることができ、誤接触による検査ミスやチップの損傷を防ぐことができる。
さらに、特性検査装置の下流側には、外観検査装置を設けることで、特性検査後のチップの外観の損傷などを確認し、不良品を検出することができる。
また、本実施形態の検査装置では、装置上の限られた範囲に、プリアライメント装置、特性検査装置、外観検査装置を効率的に配置し、これを搬送部により接続することで、貼替え前の第1のウエハリングR1から貼替え後の第2のウエハリングに対して、一連の検査処理を連続的に実施することが可能となる。そして、このような処理の結果は、第2のウエハリングに貼付したバーコードや、第2のウエハシート上に貼付したICチップに、マップデータとして記憶することで、後述の分類装置に引き継ぐことが可能となる。
一方、本実施形態の分類装置によれば、上述の検査装置において得て、第2のウエハリングに記憶されたシート上のチップの特性情報、外観情報、位置情報等をマップデータとして引き継ぐことで、このマップデータを利用した分類処理が可能となる。
ここで、上述した従来の分類手法では、1枚のウエハリングから、特性検査の結果に応じて、複数のウエハリングに対して分類して再貼付けを行なうに当たり、ウエハリングの搭載数は装置のサイズに制限され、多くの分類数を確保できなかったり、複数枚のウエハリングを配置する場合、1枚のウエハリングから再貼付けを行なう機構の稼動範囲が広くなり1動作当たりの処理時間がかかるため生産性が悪くなっていた。また、ウエハリングをウエハリングカセットに収納し、チップの分類が変更されるたびに、ウエハリングを入れ替えて対応した場合であっても、ウエハリングの切り替えに時間がかかり、生産性が低下していた。
これに対して本実施形態の分類装置では、供給マガジンから、第1及び第2の受渡し装置に対して、同時に2枚のウエハリングを供給し、例えば、一方の受渡し装置が搬送装置へのチップの受渡しを行なっている間、他方の受渡し装置は受渡しを行なわず、ウエハリングの交換を行なうように設定することで、一方の装置のウエハリング交換タイミングで、他方の装置からチップの受け渡しを行なうことで、搬送装置を停止させることなく、受け渡しの処理を継続することができる。
また、貼付装置においても、これを1つで構成し搬送装置からのチップの受取りを行った場合には、処理途中において、ウエハリングの交換時間に、搬送装置を停止する必要が生ずるが、本実施形態では、貼付装置を2つ設け、一方の装置のウエハリング交換タイミングで、他方の装置においてチップの貼り付けを継続することで、搬送装置を停止させることなく、貼付処理を継続することができる。また、チップの特性に応じた分類数が多い場合であって、受渡し装置における供給側のチップの分類が頻繁に変更される場合でも、少なくとも、一定時間、同じ分類のチップを供給側から流すように設定しさえすれば、一方の貼替え装置においてチップの貼り付けを行い、他方の貼替え装置においてウエハリングを交換することで、搬送装置の停止を伴うことなく、対応することが可能となる。
このように、本実施形態の分類装置では、受渡し装置を二重化し、さらに貼付装置も二重化することで、ウエハシート上のチップが多分類に及ぶ場合でも、機動的に対応することが可能で、搬送装置の停止を行なうことなく、すなわち、装置全体を継続的に稼働させながら、分類処理を継続することが可能となる。
本実施形態においては、作用の項において説明したパターン(A)〜(C)を実現するにあたって、図2(a)において色分け又は強調表示したように、ターンテーブルを20分割し吸着ノズルを20個設け、円周の90度の間が奇数ピッチに分割するよう設定した。そして、第1の受渡し装置21aと第1の受取り装置23aに同時に位置する吸着ノズルNと、第2の受渡し装置21bと第2の受取り装置23bに同時に位置する吸着ノズルNとが、それぞれ、同じ装置から受け取ったチップを保持するように構成したが、この態様は、次のような効果を奏する。
本実施形態の分類装置20において、各受取り装置におけるチップの受け取りは、2間欠回転に1つの割合であって、第3のウエハシートにおける分類能力も、2間欠回転に1つであるが、第1及び第2の受取り装置23の両方で同時にチップを受け取っているので、2間欠回転に2個のチップを処理し、その処理能力は、実質的にはターンテーブルTの1間欠回転ごとに1個の割合である。一方で、第1の受渡し装置又は第2の受渡し装置からチップを受け取るノズルは、2間欠回転に一つであり、同様に第1の受取り装置又は第2の受取り装置へチップを受け渡すノズルも2間欠回転に一つであることは、受渡し装置又は受取り装置において、チップの受渡しまたは受取りを行なわなくて良い時間を生じさせることになる。すなわち、受渡し装置又は受取り装置は、ターンテーブルの2間欠回転に1回の割合でチップを受け渡し又は受け取れば良いので、その間に、ウエハシート上の受け渡すべきチップの位置、又はウエハシート上に貼付すべきチップの位置への移動の時間を十分に確保できる。
この点、従来は、受渡し装置又は受取り装置のウエハシートを移動させて受け渡すべきチップの位置又は受け取るべきウエハ上の位置への移動ピッチが長い場合、このウエハシートの移動時間に、ターンテーブルの間欠回転タイミングを合わせる必要があったので、結果として、ターンテーブルを高速回転させた状態での処理が難しかったことに比べて、本発明は、格段の高速処理が可能となっている。
また、検査装置において、積分球を利用するために貼り替えたピッチを、分類マガジンに収納する出荷形態のウエハリングのウエハシート上では、元のピッチに戻して貼付することができる。
以上のような本実施形態の検査分類装置では、検査工程と分類工程とで、ウエハシートを用いて、検査工程でのチップのマップデータを引き継ぎつつ、処理を別個に行なうことで、特性検査や、貼替え等におけるインデックスタイムのアンバランスによるデメリットを克服しつつ、情報の共有を行なう。これにより、ウエハリングの交換や、特性検査に時間を要することで、他の処理工程がストップするような事態をなくし、装置を継続的に稼働させることが可能となる。
[2.他の実施形態]
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下の態様も包含するものである。本実施形態の検査装置10における特性検査装置18では、積分球、突上げ部、支持部を1セット設け、これにより、光学特性の検査を行うこととしているが、本発明は、このような例に限られず、例えば、図5(a)に示すように、積分球と突上げ部、支持部のセットを2つ並列して設け、この2つの積分球により、シート上の異なる位置に貼付されたチップを同時に検査することも可能である。この場合、図5(b)に示すような円形のウエハよりも(a)に示すような矩形のウエハを用いたほうが、チップの貼付位置の関係で、2つの積分球において同時にチップを検査できる量が多く取れるため、態様としては矩形のウエハが好ましい。
なお、本実施形態においては、ウエハの構成を円形とした一方、上記の図5の実施形態では、ウエハ形状を矩形と円形の2種類を示した。このように、本発明におけるウエハ構成は、円形や矩形に関わらず、装置の処理速度等との関係において、適宜変更可能である。
このような実施形態によれば、検査装置の処理工程の中で、最も処理時間を要する光学特性検査を、倍速で進めることができるようになるので、装置全体の処理時間の短縮化が可能となる。
また、本実施形態においては、特性検査装置18の例として積分球を用いて説明したが、本発明は、特性検査装置として積分球に限らず光ディテクタをはじめとする光学測定装置を広く用いることができるものである。
1…検査分類装置
10…検査装置
11…供給カセット
12…供給部
12h…リングホルダ
13…ウエハリング移送部
13a…保持部
13b…回転移動機構
13c…縦レール
13d…横レール
13o…支点
13p…プッシャー機構
13q…支点
14…貼替え部
14p…ピックアップ機構
15…受取り部
16…搬送部
16a…搬送レール
17…プリアライメント装置
18…特性検査装置
18a…載置部
18b…積分球
18c…移動機構
18d…突上げ部
18e…開口部
18f…支持部
18g…載置台
18h…駆動機構
19…外観検査装置
20…分類装置
21…受渡し装置
21a…第1の受渡し装置
21b…第2の受渡し装置
21c…受渡保持部
22…搬送装置
22a…吸着保持部
23…受取り装置
23a…第1の受取り装置
23b…第2の受取り装置
B…ベルト
C…カメラ
E…モータ
M1…収納マガジン
M2…供給マガジン
M3…分類マガジン
MV…マガジン
N…吸着ノズル
PB…プローブ
PM…プリズム
R,R1,R2,R3…ウエハリング
RP…リング部分
S,S1,S2,S3…ウエハシート
ST…台座
T…ターンテーブル
W…チップ

Claims (9)

  1. 前工程において素子形成されたLEDチップに対して特性検査を実行する検査装置と、前記検査装置の検査結果に応じてLEDチップを分類する分類装置とを備えた検査分類装置であって、
    前記検査装置は、
    第1のウエハシートを保持する第1のウエハリングを供給する供給手段と、
    前記供給手段から供給される第1のウエハシート上のチップをピックアップし、第2のウエハシートに貼り替えるノズルを備えた貼替え手段と、
    前記第2のウエハシートを保持する第2のウエハリングを、前記貼替え手段の動きに合わせて移動させ、前記第2のウエハシートに貼付されるチップのシート上におけるピッチを調整する保持移動手段と、
    前記第2のウエハリングを保持しながら搬送する搬送手段と、
    前記搬送手段により搬送される前記第2のウエハシート上のチップのシート上における位置を確認するアライメント手段と、
    前記第2のウエハシート上のLEDチップの特性検査を実行する光学測定装置を備えた特性検査手段と、
    前記第2のウエハシート上のチップの外観を検査する外観検査手段と、
    前記アライメント手段、前記特性検査手段及び前記外観検査手段において得た前記第2のウエハシート上のチップの位置情報、光学特性情報及び外観検査情報を、マップデータとして記録する記録手段と、
    前記第2のウエハリングを複数収納する収納マガジンと、
    を備え、
    前記保持移動手段は、前記第2のウエハシート上におけるLEDチップ間のピッチを、前記特性検査手段における前記光学測定装置によってLEDチップの特性検査を行った場合に、前記第2のシート上の他のLEDチップが前記光学測定装置と干渉しないように設定するものであり、
    前記搬送手段は、前記第2のウエハリングを、前記アライメント手段を実行するアライメント位置、前記特性検査を実行する光学測定装置の位置、前記外観検査を実行する外観検査位置、及び前記第2のウエハリングを収納する収納マガジンの位置に、適宜停止させながら搬送するものであり、
    前記分類装置は、
    前記検査装置における前記収納マガジンを、前記分類装置における供給マガジンとして利用し、前記記録手段によって得た前記マップデータを用いて、当該マップデータにおける特性情報によりマップデータとして記録された前記第2のウエハシート上のLEDチップを、その特性に応じて分類することを特徴とする検査分類装置。
  2. 前記供給手段は、前記第1のウエハシートを保持する第1のウエハリングを、前記貼替え手段のチップのピックアップ位置に合わせて縦横に移動させる移動手段を備えることを特徴とする請求項1記載の検査分類装置。
  3. 前記供給手段は、前記第1のウエハリングにおける第1のウエハシート面を垂直方向に保持するものであり、
    前記第1のウエハリングを、複数水平方向に収納した前記供給カセットから取り出し、垂直方向に転回させて、前記供給手段の前記第1のウエハリング保持位置に保持させるウエハリング移送手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2記載の検査分類装置。
  4. 前記供給手段と、前記保持移動手段とは、前記第1のウエハシートと前記第2のウエハシートとのチップ保持面を、各々垂直方向にして対向するように前記第1のウエハリング及び前記第2のウエハリングを保持しており、
    前記貼替え手段は、前記ノズルを、第1のウエハシート上のチップをピックアップした後、180度反転させて、前記第2のウエハシートに貼り替えるように構成したことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の検査分類装置。
  5. 前記保持移動手段は、前記第2のウエハシートに対するチップの貼替えが終わった前記第2のウエハリングを、90度回転させて水平方向に保持し、前記搬送手段に受け渡すことを特徴とする請求項4記載の検査分類装置。
  6. 前記アライメント手段は、前記第2のウエハシート上のチップを撮像する撮像手段を備え、この撮像手段により一括又は分割して前記第2のウエハシート上のチップを撮像することで各チップの位置情報を取得することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の検査分類装置。
  7. 前記特性検査手段は、第2のウエハシート上のチップの電極に当接して電圧を印加するプローブと、チップに電圧が印加されたことによる発光を検出する積分球と、第2のウエハシート上のチップを前記積分球の開口部直下に移動させる移動手段と、前記積分球直下に前記第2のウエハシートを挟んで設けられた突上げ手段と、を備え、
    前記移動手段は、前記アライメント手段において取得したチップの位置情報に基づいて、前記第2のウエハシート上のチップを、前記積分球の直下に移動させるものであり、
    前記突上げ手段は、前記積分球の直下に位置するチップを上昇して突上げ、前記積分球に前記開口部から投入するものであることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の検査分類装置。
  8. 前記特性検査手段は、前記積分球と前記突上げ手段とを2セット備え、前記第2のウエハシート上のチップを同時に2つずつ検査を実行することを特徴とする請求項7記載の検査分類装置。
  9. 記分類装置は、
    前記マップデータを保持したウエハリングを供給する供給マガジンと、
    前記供給マガジンからウエハリングを受け取り、当該ウエハリングをチップの供給位置へと移動させる第1又は第2の供給手段と、
    複数の保持手段を有し、この保持手段により、前記チップの供給位置において、ウエハリングに保持されたウエハシートからチップを受け取り、チップの分類貼付位置へと搬送する搬送手段と、
    ウエハシートを有するウエハリングを保持し、前記搬送手段からチップを、前記マップデータに基づいて分類ごとに受け取る第1及び第2の受取り手段と、
    分類ごとにチップが貼付されたウエハリングを、前記第1及び第2の受取り手段から受け取り、収納する収納マガジンと、を備えたことを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に検査分類装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103071627B (zh) * 2013-01-09 2014-09-03 广东志成华科光电设备有限公司 一种全自动晶粒检测分选一体设备
CN103252320B (zh) * 2013-05-06 2014-08-13 佛山市多谱光电科技有限公司 一种cob光组件自动测试分选机
CN110376506B (zh) * 2019-07-17 2022-01-14 上海华虹宏力半导体制造有限公司 一种碎片芯片的测试方法
JP6872261B2 (ja) * 2019-10-11 2021-05-19 上野精機株式会社 電子部品の処理装置
TWI748599B (zh) * 2020-08-14 2021-12-01 矽品精密工業股份有限公司 晶片整配系統及晶片整配方法
CN117406072B (zh) * 2023-12-14 2024-02-13 深圳市铨天科技有限公司 用于半导体散粒芯片测试装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05169035A (ja) * 1991-12-20 1993-07-09 Noozeru Eng Kk 小物部品分類装置
JPH118259A (ja) * 1997-06-17 1999-01-12 Hitachi Ltd ピックアップ方法
JP2003297884A (ja) * 2002-04-05 2003-10-17 Tokai Rika Co Ltd フォトicウエハ検査装置
JP2004134657A (ja) * 2002-10-11 2004-04-30 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法および半導体製造装置
JP2007178132A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体検査装置および半導体検査方法
JP2009141025A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Ueno Seiki Kk 半導体処理装置
JP2009158948A (ja) * 2007-12-04 2009-07-16 Ueno Seiki Kk ウエハリング供給排出装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05169035A (ja) * 1991-12-20 1993-07-09 Noozeru Eng Kk 小物部品分類装置
JPH118259A (ja) * 1997-06-17 1999-01-12 Hitachi Ltd ピックアップ方法
JP2003297884A (ja) * 2002-04-05 2003-10-17 Tokai Rika Co Ltd フォトicウエハ検査装置
JP2004134657A (ja) * 2002-10-11 2004-04-30 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法および半導体製造装置
JP2007178132A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体検査装置および半導体検査方法
JP2009141025A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Ueno Seiki Kk 半導体処理装置
JP2009158948A (ja) * 2007-12-04 2009-07-16 Ueno Seiki Kk ウエハリング供給排出装置

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