TWI448680B - 視覺檢測設備 - Google Patents

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TWI448680B
TWI448680B TW099106198A TW99106198A TWI448680B TW I448680 B TWI448680 B TW I448680B TW 099106198 A TW099106198 A TW 099106198A TW 99106198 A TW99106198 A TW 99106198A TW I448680 B TWI448680 B TW I448680B
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Description

視覺檢測設備
本發明係關於一種視覺檢測設備，尤其係關於一種能夠檢測裝載於托盤之中的電子元件之外觀的視覺檢測設備。
電子元件，例如半導體封裝在製造過程中或被投入市場以前，將經過如電測試及外部測試等各種不同的測試，藉以提高成品率並增加產品的可靠性。
例如，半導體封裝可透過在晶圓上的製造製程、切割製程及封裝製程等多個製程加以製造。如果不理會半導體裝置中的缺陷而後續製程仍被非必要地加以執行，則會使整個製造成本增大。為了避免這一問題，上述測試係於主要製程之前進行藉以選擇合格的電子元件。然後，這些選出的合格的電子元件將經歷後續製程。
大多數的電子元件在被投入到市場中之前都要經過每一種測試。因此，僅有合格的電子元件才能出現在市場上，進而提高了產品的可靠性。
視覺檢測設備用以當其上裝載有電子元件之托盤沿著一導軌上下移動時執行視覺檢測，並且一攝像機可沿向右及向左之方向移動藉以檢測裝載於托盤中的電子元件。由於檢測係於裝載有電子元件之托盤被傳送時進行，因此裝載於托盤中的電子元件之位置會由於托盤之容納槽內的電子元件之間的公差而發生變化。因此，當測量電子元件之位置時會產生缺陷。下面將更加詳細地對此進行說明。
「第1圖」為習知技術的視覺檢測設備之一實例之平面圖。
如「第1圖」所示，習知的用以檢測電子元件之外觀的視覺檢測設備包含：托盤裝載單元1，係用以沿著導軌1a裝載其上裝載有電子元件之托盤5；攝像機2，係用以對已被拾取器6傳送之電子元件進行視覺檢測；拾取器7，係用以傳送電子元件藉以將完全經過視覺檢測之電子元件進行分類；托盤傳送裝置(附圖中未示出)，係用以傳送托盤5；分類單元4，係用以沿著導軌4a自動地傳送托盤5。
然而，習知的視覺檢測設備必須配設有用以自動傳送托盤之托盤傳送裝置，並且托盤裝載單元1及分類單元4必須分別配設有導軌1a及4a。同時，在視覺檢測之後必須額外地配設分類裝置，例如包含有額外的拾取器7之分類單元4。如此會導致整體結構過於複雜，並且會使製造成本過於高昂。
在大批量生產電子元件之情況下，可以採用習知的視覺檢測設備。然而，當昂貴的視覺檢測設備被用於生產少量的電子元件之時，整體的製造成本會增大進而會降低生產率。
此外，習知的視覺檢測設備會由於其複雜的結構及較大的尺寸而佔據相對較大的安裝空間。
為了提高電子元件之製程的可靠性，視覺檢測設備係安裝於淨化室中，在淨化室中，可最大化地清除灰塵等物質。如果視覺檢測設備的尺寸增大，那麼其在淨化室內所佔據的面積也會增大。如此會降低單位面積上的電子元件之生產量。
習知的視覺檢測設備係透過獲取裝載於托盤5中的電子元件之影像並於隨後透過分析所獲取之影像來執行視覺檢測。這裡，電子元件之影像係透過沿著導軌在「第1圖」中的向上及向下方向上移動托盤5，並透過向右及向左移動攝像機2而獲得。
當托盤5被傳送時，電子元件會由於托盤5之容納槽內的電子元件之間的公差而發生微小的移動。如此會改變電子元件之位置，進而導致在測量電子元件之精確位置時發生錯誤，或者導致未測量出電子元件之準確位置。因此，會使視覺檢測之可靠性降低，或使視覺檢測無法順利地進行。
因此，鑒於上述問題，本發明之一目的在於提供一種能夠透過簡化整體結構減小所占面積並能夠減少製造成本之視覺檢測設備。
本發明之另一目的在於提供一種能夠使傳送托盤及電子元件之構造最小化進而大大地減少製造成本及尺寸之視覺檢測設備。
為了獲得本發明的這些及其它優點且依照本發明之目的，現對本發明作具體化和概括性地描述，本發明所提供之一種視覺檢測設備，係包含：兩個或者多個其上裝載有電子元件之托盤；視覺檢測單元，係用以對裝載於托盤中的電子元件進行視覺檢測；以及傾倒單元，係用以依據視覺檢測之結果在托盤之間將合格產品與不合格產品相互交換，其中傾倒單元係將合格的電子元件放置於一個或多個托盤中，並將不合格的電子元件放置於剩下的一個或多個托盤中。
視覺檢測單元及傾倒單元可被獨立地加以驅動，或者可透過被固定至至少一個軸桿上而彼此相互配合。
傾倒單元可包含複數個用以拾取和放置電子元件之拾取器。
本發明之另一方面在於提供一種視覺檢測設備，係包含：複數個第一托盤安裝單元，係用以分別安裝其上裝載有電子元件之托盤；一個或多個第二托盤安裝單元，係用以安裝空的托盤；視覺檢測單元，係用以對裝載於托盤中的電子元件進行視覺檢測；以及傾倒單元，係用以依據視覺檢測之結果將合格及不合格的電子元件分類至第一及第二托盤安裝單元中的至少一個托盤安裝單元中。
傾倒單元可配置成將合格的電子元件放置到第一托盤安裝單元的一個或多個托盤之上，並可將不合格的電子元件放置到第二托盤安裝單元的空托盤之上。
傾倒單元也可配置成將不合格的電子元件放置到第一托盤安裝單元的一個或多個托盤之上，並可將合格的電子元件放置到第二托盤安裝單元的空托盤之上。
傾倒單元還可配置成將合格的電子元件放置到第一托盤安裝單元的一個或多個托盤之上，並可將不合格的電子元件放置到剩餘的第一托盤安裝單元的一個或多個托盤之上。
傾倒單元還可配置成將合格的電子元件放置到第二托盤安裝單元的一個或多個托盤之上，並可將不合格的電子元件放置到剩餘的第二托盤安裝單元的一個或多個托盤之上。
視覺檢測設備還可包含：一個或多個第一托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊裝載有電子元件之托盤；一個或多個第二托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊空的托盤；一個或多個合格品托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊裝載有合格的電子元件之托盤；一個或多個廢品托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊裝載有不合格的電子元件之托盤；以及托盤傳送單元，係用以在第一托盤安裝單元、第二托盤安裝單元、第一托盤堆疊單元、第二托盤堆疊單元、合格品托盤堆疊單元及廢品托盤堆疊單元之間傳送托盤。
本發明之另一方面還在於提供一種視覺檢測設備，係包含：一個或多個第一托盤安裝單元，係用以安裝一個或多個其上裝載有電子元件之托盤以用於視覺檢測；第一檢測單元，係包含有用以對裝載於第一托盤安裝單元之托盤中的電子元件進行第一視覺檢測之第一視覺檢測單元；倒轉單元，係用以接收已完全經過第一視覺檢測之托盤，並將裝載於托盤中的電子元件倒置；兩個或多個第二托盤安裝單元，係用以安裝被倒轉單元倒置的托盤；第二視覺檢測單元，係用以對裝載於第二托盤安裝單元之托盤中的電子元件進行第二視覺檢測；第二檢測單元，係包含有用以在第二視覺檢測之後依據第一及第二視覺檢測之結果將裝載於第二托盤安裝單元之托盤中的電子元件劃分成合格及不合格之電子產品的傾倒單元；以及托盤傳送單元，係用以在第一檢測單元、倒轉單元及第二檢測單元之間傳送托盤。
倒轉單元可包含有：托盤拾取單元，係用以在倒置托盤之前拾取倒置的托盤；以及倒轉裝置，係用以在被托盤傳送單元傳送的托盤上覆蓋被托盤拾取單元拾取的托盤，並於隨後將相重疊的一對托盤倒轉，藉以使裝載於托盤中的電子元件倒置。
第二檢測單元之第二托盤安裝單元可包含有：一個或多個第一子托盤安裝單元，係用以在從倒轉單元接收托盤之後進行第二視覺檢測；以及一個或多個第二子托盤安裝單元，係用以在從第一子托盤安裝單元接收經過第二視覺檢測之托盤後，依據第一及第二視覺檢測之結果透過傾倒單元對電子元件進行分類。
第一子托盤安裝單元可設置於第一檢測單元與接近於第一檢測單元之第二子托盤安裝單元之間。
第一及第二托盤安裝單元中的每一個托盤安裝單元可在垂直於第一及第二檢測單元之排列方向的方向上設置成複數個。
第二托盤安裝單元可配置成使得電子元件能夠在第二視覺檢測之後依據第一及第二視覺檢測之結果藉由傾倒單元被加以分類。
本發明之視覺檢測設備可進一步包含托盤堆疊單元，係用以將托盤供應至第一托盤安裝單元或第二托盤安裝單元，或者用以將托盤堆疊於其之上。
托盤堆疊單元可包含有：第一托盤堆疊單元，係用以將托盤供應至第一托盤安裝單元；第二托盤堆疊單元，係用以將空的托盤堆疊於其之上；以及第三托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊已經過第二視覺檢測之托盤。
托盤安裝單元可位於第一及第二托盤安裝單元之下方，並且托盤傳送單元可包含X-Z方向機器人或X-Y-Z機器人。
本發明之視覺檢測設備可具有如下優點：
第一，由於視覺檢測係於兩個或多個其上裝載有複數個電子元件之托盤被固定之狀態下進行，且隨後可依據視覺檢測之結果將合格與不合格的電子元件分類至各個托盤。如此可簡化整體結構並使視覺檢測設備最小化。
第二，由於視覺檢測設備之尺寸較小因而製造成本被減少，並且安裝空間也被縮小。因此，用於生產電子元件之整體空間可被有效地加以利用。
第三，由於視覺檢測設備具有較小的尺寸，因此單位面積上的電子元件之生產量可以被大大地提高。
第四，由於視覺檢測係僅僅透過移動視覺檢測單元之攝像機來加以執行，而無需移動待進行視覺檢測之電子元件，因而電子元件可被穩定地保持並且視覺檢測可被順利地執行。如此能夠提高視覺檢測之可靠性，並使得視覺檢測可以被更加順暢地加以執行。
本發明之前述及其他的目的、特徵、形態及優點將結合圖示部分在如下的本發明之詳細說明中更清楚地加以闡述。
現在，將結合圖示部分對本發明進行詳細說明。
下面，將結合附圖進一步詳細說明本發明之視覺檢測設備。
「第2圖」為本發明第一實施例之視覺檢測設備之立體圖，並且「第3A圖」至「第3C圖」為「第2圖」之視覺檢測設備之運行平面圖。
如「第2圖」所示，本發明第一實施例之視覺檢測設備包含：主體100；兩個或多個安裝至托盤安裝單元110之托盤20，托盤安裝單元110係固定安裝於主體100中，並且托盤20之上裝載有電子元件10藉以進行視覺檢測；視覺檢測單元300，係用以對裝載於托盤20中的電子元件10進行視覺檢測；以及傾倒單元200，係用以在托盤20之間相互交換合格及不合格的電子元件10。
待進行視覺檢測的電子元件10可包含需要進行視覺檢測之各種類型的物體，例如，包含PGA、BGA等的積體電路晶片之半導體封裝，如DDI、PCBs等之應用晶片。
托盤20用以在其之上裝載複數個電子元件10，並運送電子元件10。托盤20可根據電子元件10之類型具有各種不同的尺寸和結構，並且可沿水平及垂直方向具有容納槽，容納槽之中用以容納電子元件。
其中配設安裝有各元件之主體100可包含有用以形成一上表面之頂板部分101，以及用以支撐頂板部分101之支撐部分102。並且，主體100可具有各種不同的結構，其中包含框架結構。
如「第2圖」所示，托盤安裝單元110可包含複數個導引構件111，係固定安裝於主體100之頂板部分101之上，並且構成沿橫向支撐托盤20。此處，托盤安裝單元110之托盤20可於視覺檢測之後透過操作者之手動製程由其它托盤20加以替換。
視覺檢測單元300係為透過獲取電子元件10之頂部表面、底部表面等之外部影像，並透過根據所獲取之影像的分析結果檢測電子元件10之外觀來對電子元件10進行視覺檢測的設備。視覺檢測單元300可包含影像獲取裝置(附圖中未示出)，如攝像機，以及影像分析裝置(附圖中未示出)。
視覺檢測單元300係安裝於主體100之中，藉以於移動上述托盤安裝單元110之時捕捉裝載於托盤20中的電子元件10之影像。如「第2圖」所示，視覺檢測單元300可安裝於X-Y機器人320之中藉以能夠沿X及Y方向移動。
在主體100中係安裝有用以在視覺檢測後拾取電子元件10並將所拾取的電子元件10傳送至其它托盤20，以及用以在托盤20之間相互交換合格及不合格的電子元件10之傾倒單元200。
傾倒單元200可具有用來拾取和放置電子元件10之各種構造。例如，傾倒單元200可包含具有吸頭(附圖中未示出)及用以上下移動吸頭的上下驅動裝置之傾倒單元210，其中吸頭係透過形成真空壓力來拾取電子元件10。
傾倒單元210必須執行用於從一個托盤20中拾取電子元件10之拾取功能，以及用於將拾取的電子元件10放置到另一托盤20中的放置功能。因此，傾倒單元210必須配設有兩個或多個拾取器211。然而，考慮到製造成本及簡化結構，其優選為安裝兩個拾取器211。
傾倒單元210之兩個拾取器211中的一個拾取器可從一個托盤20中拾取電子元件10，並於隨後移動到其上裝載有將要被替換的電子元件10之另一托盤20處。接下來，傾倒單元210中的另一個拾取器211可拾取將要被替換之電子元件10，並於隨後將第一次拾取的電子元件10放置到另一托盤20之上。這些操作可重複地進行。
與視覺檢測單元300相同，傾倒單元210係安裝於主體100之中藉以當移動上述托盤安裝單元110之時可傳送裝載於托盤20中的電子元件10。如「第2圖」所示，傾倒單元210可被安裝於X-Y機器人320之中藉以能夠沿X及Y方向移動。
視覺檢測單元300及傾倒單元210可被固定到一個軸桿上，並且可彼此相互配合或獨立地加以操作。
較佳地來說，托盤安裝單元110係安裝為兩個或多個以用於視覺檢測及〞劃分被確定為不合格產品之電子元件10〞。托盤安裝單元110可依據操作方法具有各種不同的構造。
如「第3A圖」所示，每一托盤安裝單元110係用於安裝其上裝載有電子元件10之托盤20藉以進行視覺檢測。如「第3B圖」及「第3C圖」所示，為了在視覺檢測之後透過在托盤20之間交換電子元件10以劃分合格的電子元件10(「第3A圖」至「第3C圖」中的〞G〞)及不合格的電子元件10(「第3A圖」至「第3C圖」中的〞R〞)，僅有合格的電子元件10(G)可被裝載於托盤安裝單元110之托盤20中，且僅有不合格的電子元件10(R)可被裝載到剩下的托盤安裝單元110之剩餘托盤20中。
例如，如「第2圖」至「第3C圖」中所示，設置有兩個托盤安裝單元110。並且，其可配置為在視覺檢測之後透過傾倒單元210之交換製程使得僅有合格的電子元件10(G)係被裝載於左側的托盤20中，而僅有不合格的電子元件10(R)係被裝載到右側的托盤20中。
也就是說，托盤安裝單元110可包含有一個或多個用於安裝其上裝載有電子元件10之托盤20的第一托盤安裝單元(左側)以用於視覺檢測，以及一個或多個用以在視覺檢測之後透過傾倒單元210從第一托盤安裝單元110之托盤20中相互交換合格及不合格的電子元件10之第二托盤安裝單元(右側)。
由於為了方便設定第一及第二托盤安裝單元之位置，第一及第二托盤安裝單元可依據操作方法而變化。
由於不合格的電子元件10之數量相對較少，因此，如「第3B圖」中所示，當左側托盤安裝單元110之托盤20僅被合格的電子元件10填滿時，左側托盤安裝單元110之托盤20將被不斷地替換。
如「第3C圖」中所示，當右側托盤安裝單元110之托盤20僅被不合格的電子元件10填滿時，操作者將藉由其上裝載有待進行視覺檢測之電子元件10之另一托盤20來替換此填滿的托盤20。
托盤安裝單元110之托盤20並非每次都藉由操作者以一個新的托盤來加以替換。而是，當已經堆疊一定數量的托盤20之後，所堆疊之托盤20中的每一托盤20可自動地被供應至每一托盤安裝單元110。
「第4圖」為本發明第二實施例之視覺檢測設備之立體圖，「第5A圖」至「第5D圖」為「第4圖」之視覺檢測設備之運行平面圖，且「第6圖」為「第4圖」之視覺檢測設備的托盤堆疊單元之局部立體圖。
本發明第二實施例與第一實施例的區別之處在於托盤安裝單元110係被不同地設置，並且額外地配設有用以自動傳送托盤20之托盤傳送單元。因此，為了方便起見，現僅對第二實施例之不同構造加以說明。
第二實施例之托盤安裝單元400可包含有一個或多個用以安裝其上裝載有待進行視覺檢測之電子元件10的托盤20之第一托盤安裝單元410，以及一個或多個用以安裝空的托盤20之第二托盤安裝單元420。
如「第4圖」及「第5A圖」至「第5D圖」中所示，可安裝有兩個或多個第一托盤安裝單元410。一個第一托盤安裝單元410之托盤20的空餘區域上可放置有裝載於另一第一托盤安裝單元410之托盤20中的合格的電子元件10。這裡，空餘區域係為不合格的電子元件10被拾取並被傳送至第二托盤安裝單元420之托盤20的區域。
第一及第二托盤安裝單元410及420可依據傾倒單元210之分類結果而分別具有各種不同的構造，並且可配置成在其上放置合格及不合格的電子元件，或不合格及合格的電子元件。
在安裝複數個托盤20之情形中，第一及第二托盤安裝單元410及420中的每一個托盤安裝單元可包含其上僅裝載有合格的電子元件之托盤20，以及其上僅裝載有不合格的電子元件之托盤20。
對於第二托盤安裝單元420來說，係首先安裝有空的托盤20。並且，空的托盤20係填充有裝載於第一托盤安裝單元410之托盤20中的不合格的電子元件10。裝載有待進行視覺檢測的電子元件之托盤20也可被安裝至第二托盤安裝單元420。
在主體100中，可進一步配設有：托盤堆疊單元500，係用以在其之上堆疊將要被安裝至托盤安裝單元400之托盤20以使得托盤20能夠被自動地傳送，以及托盤傳送單元580，係用以在托盤堆疊單元500與托盤安裝單元400之間傳送托盤20。
如「第4圖」及「第6圖」中所示，托盤堆疊單元500可具有在其上堆疊複數個托盤20，並將托盤20提供至托盤安裝單元400或從托盤安裝單元400取回托盤20之結構。並且，托盤堆疊單元500可包含：第一托盤堆疊單元510，係用以在其上堆疊待進行視覺檢測之托盤20並將托盤20供應至第一托盤安裝單元410；第二托盤堆疊單元520，係用以堆疊空的托盤；以及第三托盤堆疊單元530，係用以在其上堆疊已經完全經過視覺檢測及分類製程的托盤20。
第一托盤堆疊單元510係配置成可堆疊有其上裝載有待進行視覺檢測及分類之電子元件10的托盤20，並且在數量上可安裝有一個或多個。
第二托盤堆疊單元520係配置成可堆疊有未裝載或不必從其中移除電子元件10之空的托盤20，或者可配置成當結束在前一空托盤20上放置不合格的電子元件10之後，將空的托盤20提供至第二托盤安裝單元420。
第三托盤堆疊單元530係配置成可於依據視覺檢測之結果劃分電子元件10之後堆疊托盤20。並且，第三托盤堆疊單元530可包含：一個或多個合格品托盤堆疊單元531，係用以在其上堆疊填滿合格的電子元件10之托盤20，以及一個或多個第一廢品托盤堆疊單元532，係用以在其上堆疊填滿不合格的電子元件10之托盤20。
托盤堆疊單元500係安裝於主體100內部的托盤安裝單元400之下方。並且，托盤堆疊單元500可包含用以形成底部表面藉以於其上堆疊托盤20之底部501，以及用以引導托盤20之每一邊緣(頂點)藉以於其上穩定地堆疊托盤20之引導元件502。
與第一實施例不同的是，托盤安裝單元400係配置成可於主體100之頂板部分101中設置形成一窗口，以使得托盤20能夠順利地被托盤傳送單元580傳送。並且，托盤安裝單元400可包含用以將已經被托盤傳送單元580供應之托盤20加以固定之托盤固定單元401。
托盤堆疊單元500係安裝成可容納於主體100之中而不會曝露在外。並且，托盤堆疊單元500可滑動地安裝於主體100之中以使得操作者能夠藉由握住一把手503等抽出托盤20。
托盤傳送單元580係配置成可在托盤堆疊單元500與托盤安裝單元400之間傳送托盤20。並且，托盤傳送單元580可具有用於傳送托盤20之各種構造。
如「第6圖」中所示，托盤傳送單元580可包含用以拾取托盤20之托盤拾取單元581，及用以在托盤堆疊單元500與托盤安裝單元400之間傳送被托盤拾取單元581拾取之托盤20的拾取驅動單元582。
拾取驅動單元582係配置成可沿X-Z方向移動托盤拾取單元581，並可被實施為X-Z機器人。拾取驅動單元582可根據托盤20之排列包含X-Y-Z機器人。
現在將更為詳細地說明本發明之視覺檢測設備之操作。
首先，係於第一托盤堆疊單元510之上堆疊待進行視覺檢測之托盤20，並於第二托盤堆疊單元520上堆疊一定數量的空托盤20。
當在第一托盤堆疊單元510上完成托盤20之堆疊後，托盤傳送單元580將裝載有待進行視覺檢測之電子元件10之托盤20從第一托盤堆疊單元510供應至第一托盤安裝單元410。並且，托盤傳送單元580將空的托盤20供應至第二托盤安裝單元420。
當完成托盤20之供應後，視覺檢測單元300與傾倒單元210將對裝載於托盤20中的電子元件10執行視覺檢測與分類製程。
托盤安裝單元400可根據操作方法具有各種不同的構造。如上所述，托盤安裝單元400可包含一個或多個第一托盤安裝單元410，及一個或多個第二托盤安裝單元420。例如，如「第4圖」至「第5D圖」中所示，托盤安裝單元400可包含兩個第一托盤安裝單元410，及一個第二托盤安裝單元420。
如「第5A圖」中所示，待進行視覺檢測之托盤20係安裝至兩個第一托盤安裝單元410中的每一個托盤安裝單元，並且空的托盤20係安裝至第二托盤安裝單元420。
當完成托盤20之安裝後，視覺檢測單元300將透過X-Y機器人320對裝載於第一托盤安裝單元410之托盤20中的電子元件10執行視覺檢測。
當藉由視覺檢測單元300之視覺檢測完成後，如「第5A圖」中所示，裝載於第一托盤安裝單元410之托盤20中的電子元件10之不合格的電子元件10將被傳送至第二托盤安裝單元420之托盤20。
如「第5B圖」中所示，傾倒單元210將不合格的電子元件10傳送至第二托盤安裝單元420，並將裝載於兩個第一托盤安裝單元410之右側托盤安裝單元之托盤20中的合格的電子元件10傳送至兩個第一托盤安裝單元410之左側托盤安裝單元之托盤20。
如「第5B圖」中所示，當左側的第一托盤安裝單元410之托盤20已被完全填滿合格的電子元件10時，托盤20係被傳送至合格品托盤堆疊單元531，並且新的托盤20將從第一托盤堆疊單元510被供應至左側的第一托盤安裝單元410。
如「第5C圖」中所示，當右側的第一托盤安裝單元410之托盤20由於合格的電子元件10已經被完全傳送而變空時，空的托盤20係堆疊於第二托盤堆疊單元520之上，並且新的托盤20將從第一托盤堆疊單元510被供應至右側的第一托盤安裝單元410。
如「第5D圖」中所示，當第二托盤安裝單元420之托盤20已被不合格的電子元件10完全填滿時，托盤20將被傳送至第三托盤堆疊單元530之第一廢品托盤堆疊單元532。並且，新的空的托盤20將從第二托盤堆疊單元520被供應至第二托盤安裝單元420。
在必要時，本發明之視覺檢測設備可被構成為用來檢測電子元件10之兩個表面，即，電子元件10之底部表面與頂部表面。
「第7圖」為本發明第三實施例之視覺檢測設備之立體圖，「第8圖」為「第7圖」之部分視覺檢測設備的正視圖，「第9圖」為「第7圖」之視覺檢測設備的平面圖；以及「第10A圖」至「第10C圖」為「第7圖」之視覺檢測設備的倒轉裝置之運行的局部正視圖。
本發明之第三實施例之視覺檢測設備係被構成為第一次執行視覺檢測(第一視覺檢測)，並於隨後在倒置電子元件10之後第二次執行視覺檢測(第二視覺檢測)。此第二視覺檢測係採用與第二實施例相似之方式進行。因此，與第二實施例相似之部件將使用相同的參考標號，並且其詳細說明將被省略。
如「第7圖」至「第9圖」中所示，本發明之第三實施例之視覺檢測設備可包含：主體100;安裝於主體100中的第一檢測單元，係用以執行第一視覺檢測；安裝於主體100之中的倒轉單元700，係用以接收已完全經過第一檢測單元之第一視覺檢測的托盤20，並將裝載於托盤20中的電子元件10倒置；安裝於主體100中的第二檢測單元，係用以執行第二視覺檢測及分類製程；以及一個或多個用以傳送托盤20之托盤傳送單元780、580。
托盤傳送單元780、580可具有各種不同的構造藉以於第一檢測單元之第一托盤安裝單元810與第二檢測單元之第二托盤安裝單元820之間，以及倒轉單元700與托盤堆疊單元500之間傳送托盤20。並且，托盤傳送單元780、580可具有與第三實施例相同或者相似之結構。參考標號781係代表用以拾取托盤20之托盤拾取單元。
如「第7圖」中所示，考慮到托盤20既要被傳送至第一檢測單元又要被傳送至第二檢測單元，因此托盤傳送單元780、580可單獨地安裝於第一及第二檢測單元之每一檢測單元中以使製程流暢。
在複數個第一托盤安裝單元810沿水平及垂直方向排列的情形中，托盤傳送單元780、580可包含能夠根據第一托盤安裝單元810之排列沿X-Z方向移動之X-Z方向機器人或X-Y-Z機器人。
第一視覺檢測單元可包含：一個或多個固定安裝於主體100中的第一托盤安裝單元810，係用以安裝裝載有電子元件10之托盤20以用於第一視覺檢測；以及第一視覺檢測單元630，係用以在移動上述第一托盤安裝單元810時，對裝載於第一托盤安裝單元810之托盤20中的電子元件10進行第一視覺檢測。
第一托盤安裝單元810具有與隨後將要說明的第二檢測單元之第二托盤安裝單元820相似之結構。為了使第一視覺檢測順利進行，第一托盤安裝單元810之數量係優選為兩個或多個。在第一托盤安裝單元810之數量被實施為複數個之情形中，第一托盤安裝單元810可沿水平方向或垂直方向設置。在假設第一及第二檢測單元之排列方向為水平方向(X軸方向)時，考慮到設備的尺寸，第一托盤安裝單元810係優選為沿著垂直於X軸方向之方向，即，沿著垂直方向(Y軸方向)排列。
第一視覺檢測單元630具有與第一及第二實施例之視覺檢測單元相似的構造，並且係為透過獲取電子元件10之外部影像，並且透過基於所獲取的影像之分析結果檢測電子元件10之外觀而對電子元件10進行視覺檢測之設備。第一視覺檢測單元630可包含：影像獲取裝置(附圖中未示出)，如攝像機，以及影像分析裝置(附圖中未示出)。
第一視覺檢測單元可安裝於主體100中藉以當移動上述第一托盤安裝單元810時能夠獲取裝載於托盤20中的電子元件10之外部影像。並且，如「第7圖」中所示，第一視覺檢測單元630可安裝至X-Y機器人620之中藉以沿X及Y方向移動。
如上所述，第二檢測單元具有與第三較佳實施例相似之結構。並且，第二檢測單元包含：兩個或多個固定安裝於主體100中的第二托盤安裝單元820，係用以安裝被倒轉單元700倒置的托盤20；第二視覺檢測單元300，係用以當移動上述第二托盤安裝單元820時，對裝載於第二托盤安裝單元820之托盤20中的電子元件10進行第二視覺檢測；以及傾倒單元210，係用以當移動上述第二托盤安裝單元820時，將裝載於第二托盤安裝單元820之一個托盤20中的電子元件10傳送至第二托盤安裝單元820之另一托盤20。
第二檢測單元具有與第三較佳實施例相似之結構，且因此將省略其詳細描述。此處，由於分類製程係要依據第二檢測單元之結果進行，因此第二托盤安裝單元820之排列可以變得不同，以使得分類製程能夠依據第一及第二視覺檢測之結果來進行。
例如，第二托盤安裝單元820可包含：一個或多個第一子托盤安裝單元821，係用以安裝裝載有待進行視覺檢測之電子元件10之托盤20；以及複數個第二子托盤安裝單元822，係用以從第一子托盤安裝單元821接收已經過視覺檢測之托盤20，並透過傾倒單元210將合格及不合格的電子元件10彼此加以分類。
第一子托盤安裝單元821可被構成為既執行第二視覺檢測又執行分類製程，也可如「第7圖」至「第9圖」中所示的被構成為僅執行第二視覺檢測。並且，第一子托盤安裝單元821可具有與第一檢測單元之第一托盤安裝單元810相似之結構。
考慮到托盤20在經過第一視覺檢測及倒置後要被傳送，因而第一子托盤安裝單元821係較佳地設置成鄰近第一檢測單元。也就是說，第一子托盤安裝單元821可設置於第一檢測單元與第二子托盤安裝單元822之間。
第二子托盤安裝單元822可設置為能夠根據第一及第二視覺檢測之結果將電子元件10在第一視覺檢測之後劃分出不合格產品(R1)，在第二視覺檢測之後劃分出不合格產品(R2)。第二子托盤安裝單元822可具有各種不同的構造，即，依據分類方法固定部分托盤之構造。並且，第二子托盤安裝單元822之數量係可實施為複數個，藉以劃分出合格及不合格的電子元件10。
例如，如「第7圖」及「第9圖」中所示，第二子托盤安裝單元822包含一個或多個2-1至2-3子托盤安裝單元822a、822b、822c以用於從第一子托盤安裝單元821接收托盤20。透過傾倒單元210，合格的電子元件10可被放置於一個或多個第一子托盤安裝單元822a中，經第一視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件10(R1)可被放置於第二子托盤安裝單元822b中，並且經過第二檢測單元之第二視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件10(R2)可被放置於第三子托盤安裝單元822c之中。
第二子托盤安裝單元822還可包含一緩衝托盤單元424，係用以暫時裝載用於初始化或為設備之誤操作所準備的電子元件10。
在第二托盤安裝單元820以與第一檢測單元之第一托盤安裝單元810相似之方式實施為複數個之情形中，第二托盤安裝單元820可沿水平方向或垂直方向排列。考慮到設備之尺寸，假設第一及第二檢測單元之排列方向為水平方向(X軸方向)，第二托盤安裝單元820係優選為沿垂直方向(Y軸方向)排列。
視覺檢測單元300及傾倒單元210可依據第一及第二托盤安裝單元810、820之構造及排列而具有與第二實施例相同之結構。在第二托盤安裝單元820包含第一子托盤安裝單元821及第二子托盤安裝單元822之情形中，傾倒單元210及視覺檢測單元300可配置成能夠藉由額外的X-Y機器人620、640來相互獨立地加以操作。
第二視覺檢測單元300可具有各種不同的構造，即，可具有與第一視覺檢測單元630相似之構造，或與第二實施例相似之構造等等。如「第7圖」及「第9圖」中所示，第二視覺檢測單元300可被安裝至X-Y機器人640以使其能夠沿X及Y方向移動。用以移動第一視覺檢測單元630之X-Y機器人620，與用以移動第二視覺檢測單元300之X-Y機器人640可共用導軌650，X-Y機器人620、640之運動可沿著導軌650被加以引導。
與第二實施例相同，傾倒單元210係安裝於主體100之中，藉以於移動上述第二子托盤安裝單元822之時傳送裝載於托盤20中的電子元件10。如「第7圖」及「第9圖」中所示，傾倒單元210可安裝至X-Y機器人320藉以沿X及Y方向移動。
與第二實施例相同，用以在其上堆疊將要被安裝至第一及第二托盤安裝單元810、820之托盤20的托盤堆疊單元500還可安裝於主體100之中藉以能夠自動地傳送托盤20。
托盤堆疊單元500可具有與第二實施例相似之構造，並具有用以將托盤20供應至第一檢測單元之第一托盤安裝單元810或從第一檢測單元之第一托盤安裝單元810取回托盤20之構造。並且，托盤堆疊單元500可包含：第一托盤堆疊單元510，係用以在其上堆疊待進行視覺檢測之托盤20並將托盤20供應至第一檢測單元之第一托盤安裝單元810；第二托盤堆疊單元520，係用以堆疊空的托盤；以及第三托盤堆疊單元530，係用以在其上堆疊已完全經過視覺檢測及分類製程之托盤20。
考慮到視覺檢測係由第一及第二視覺檢測組成，第三托盤堆疊單元530可包含：合格品托盤堆疊單元531，係用以在其上堆疊裝載有合格的電子元件之托盤20；第一廢品托盤堆疊單元532，係用以在其上堆疊裝載有第一視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件10(R1)之托盤20；以及第二廢品托盤堆疊單元533，係用以在其上堆疊裝載有第二視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件10(R2)之托盤20。
托盤堆疊單元500還可包含一緩衝托盤單元(附圖中未示出)，係用以在其上暫時堆疊於第一視覺檢測之後已經被倒置的托盤20。
倒轉單元700可具有各種不同的構造。倒轉單元700可接收經過第一檢測單元之第一次視覺檢測後的托盤20，並於隨後將裝載於托盤20中的電子元件10倒置，以使得還未經過視覺檢測的電子元件10之其它表面(下表面或上表面)能夠在電子元件10之一個表面(上表面或下表面)已經過第一次視覺檢測之後被執行第二次視覺檢測。
如「第10A圖」至「第10C圖」中所示，倒轉單元700可包含：托盤拾取單元322，係用以在倒置托盤20之前拾取一臨時托盤21；以及倒轉裝置720，係用以在托盤傳送單元780所傳送之托盤20上疊加被托盤拾取單元322所拾取之臨時托盤21，並於隨後將相重疊的臨時托盤21與托盤20向下翻轉，進而將堆疊於托盤20上電子元件10倒置於臨時托盤21之上。
用以在透過倒轉裝置720進行倒轉製程之前及之後拾取臨時托盤21之托盤拾取單元322可具有各種不同的構造。托盤拾取單元322係於倒置托盤20之前拾取臨時托盤21。並於倒置托盤20之後，拾取電子元件10已被從中移除的空的托盤20藉以將其作為另一臨時托盤加以使用。
用以旋轉處於相重疊狀態的托盤20及臨時托盤21之倒轉裝置720可具有各種不同的構造。倒轉裝置720可包含：托盤固定單元721，係用以在托盤傳送單元780所傳送之托盤20上疊加被托盤拾取單元322所拾取之臨時托盤21，並將相重疊的臨時托盤21及托盤20固定；以及托盤旋轉單元722，係用以旋轉相重疊的臨時托盤21與托盤20。
其上用以裝載電子元件10之托盤可具有各種不同的構造。例如，托盤20可具有其上表面及下表面均能夠加以使用的結構。或者，托盤20可具有這樣的結構，即：裝載於托盤20之上表面上的電子元件10可於托盤20被倒置後堆疊於托盤20之下表面上。
被托盤拾取單元322拾取之臨時托盤21係將以與之相重疊的托盤20相同之狀態被拾取。由於已被倒轉裝置720倒置的托盤20係處於朝下的狀態，因此在被倒轉裝置720倒置後用作臨時托盤21之托盤20將被倒置。
被倒轉單元700之倒轉裝置720倒置的其上裝載有電子元件10之臨時托盤21將透過另一托盤傳送單元580以倒置的狀態被傳送至第二檢測單元以進行第二次檢測。
現在將對本發明之第三實施例之視覺檢測設備進行更為詳細地說明。
與第二實施例相同，首先，待進行視覺檢測之托盤20係被堆疊於第一托盤堆疊單元510之上，並且將於第二托盤堆疊單元520上堆疊一定數量的空托盤20。
當完成在第一托盤堆疊單元510上堆疊托盤20之時，第一檢測單元之托盤傳送單元780係將裝載有待進行視覺檢測之電子元件10之托盤20從第一托盤堆疊單元510供應至第一托盤安裝單元810。
當完成向第一托盤安裝單元810裝載托盤20之時，第一檢測單元之第一視覺檢測單元630將執行第一視覺檢測。
當第一視覺檢測完成時，托盤傳送單元780係從第一托盤安裝單元810取回托盤20，並將托盤20傳送至倒轉單元700。在第一托盤安裝單元810實施為兩個或多個之情形中，第一視覺檢測單元630能夠檢測裝載於其它第一托盤安裝單元810之托盤20中的電子元件10。如此可使第一視覺檢測能夠被連續地加以執行。
在將托盤20傳送至倒轉單元700之後，托盤傳送單元780可將待進行視覺檢測之另一托盤20從第一托盤堆疊單元510供應至第一托盤安裝單元810。
收容有已經過第一視覺檢測之托盤20的倒轉單元700將在倒置的托盤20上疊加臨時托盤21，並隨後將相重疊的托盤20及臨時托盤21倒置，進而使裝載於托盤20中的電子元件10倒置。
當透過倒轉單元700完成托盤20之倒置時，托盤傳送單元580將移動以便接收裝載有倒置的電子元件10之托盤20(臨時托盤21)，並於隨後將所接收的托盤20傳送至第二檢測單元之第二托盤安裝單元820。
在托盤20被傳送至第二檢測單元之第二托盤安裝單元820，特別是，第一子托盤安裝單元821之後，第二檢測單元300將以與第二實施例相似之方式被操作。
一第二視覺檢測及分類製程
一旦托盤20被安裝至第二檢測單元之第二托盤安裝單元820的第一子托盤安裝單元821，第二視覺檢測單元300便將執行第二視覺檢測。
在第二視覺檢測之後，托盤20將被托盤傳送單元580傳送至第二子托盤安裝單元822。然後，裝載於托盤20中的電子元件10將依據第一及第二視覺檢測之結果藉由傾倒單元210被加以分類。
分類製程可依據第二子托盤安裝單元822之數量及排佈以各種不同的方式進行。
如上所述，第二子托盤安裝單元822可包含2-1至2-3子托盤安裝單元822a、822b、822c。對於這些2-1至2-3子托盤安裝單元822a、822b、822c來說，待進行分類的托盤20可被連續地從第一子托盤安裝單元821加以供應。
依據分類製程之結果，合格的電子元件10可被放置於2-1子托盤安裝單元822a之中，由第一視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件10(R1)可被放置於2-2子托盤安裝單元822b之中，並且由第二視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件10(R2)可被放置於2-3子托盤安裝單元822c之中。
下面將說明藉由傾倒單元210之分類製程。
首先，傾倒單元210將拾取裝載於2-1子托盤安裝單元822a中的不合格的電子元件10(第一視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件R1及第二視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件R2)，並於隨後將所拾取的不合格的電子元件10傳送至2-2子托盤安裝單元822b或2-3子托盤安裝單元822c。
接著，傾倒單元210從2-2子托盤安裝單元822b或2-3子托盤安裝單元822c之托盤20中拾取合格的電子元件10，並隨將不合格的電子元件10(第一視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件R1及第二視覺檢測所檢測出的不合格的電子元件R2)放置到空餘的空間中。
接著，傾倒單元210移回2-1子托盤安裝單元822a，並將從2-2子托盤安裝單元822b或2-3子托盤安裝單元822c中拾取的合格的電子元件10放置到2-1子托盤安裝單元822a之托盤20的空餘空間中。
當2-1子托盤安裝單元822a、2-2子托盤安裝單元822b及2-3子托盤安裝單元822c之托盤20已經分別完全被合格的電子元件10、不合格的電子元件10(R1)及不合格的電子元件10(R2)填滿時，托盤20將由新的托盤20加以替換，或者被傳送至托盤堆疊單元500。
如果需要的話，2-1至2-3子托盤安裝單元822a、822b、822c可配設有從第二托盤堆疊單元520供應之額外的空托盤。
已完全經過分類製程的托盤20將從第二子托盤安裝單元822加以傳送，並堆疊到托盤堆疊單元500之上。
更具體而言，如果2-1子托盤安裝單元822a之托盤20被合格的電子元件10填滿，則托盤20將堆疊到合格品托盤堆疊單元531之上。並且，如果2-2子托盤安裝單元822b及2-3子托盤安裝單元822c之托盤20被不合格的電子元件10(R1及R2)填滿，那麼托盤20將被堆疊到第一及第二廢品托盤堆疊單元532、533之上。
在兩個第一及第二廢品托盤堆疊單元532、533中的一個廢品托盤堆疊單元之上，被確定為係第一視覺檢測所檢測出的不合格產品(R1)之托盤20將被加以堆疊。並且，在兩個第一及第二廢品托盤堆疊單元532、533中的另一個廢品托盤堆疊單元之上，被確定為係第二視覺檢測所檢測出的不合格產品(R2)之托盤20將被加以堆疊。
前述本發明之實施例及優點僅僅是具有代表性的並且並不構成對本發明之限制。其中所提供之教示可實際應用於其它類型的設備。此說明書僅是為了解釋說明，而並非用以限制本發明之申請專利範圍。任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可對上述本發明作些許之替換、更動與潤飾，並可對上述本發明之典型實施例的特徵、結構、方法及其它特性以各種不同的方式加以組合，進而獲得其它的和/或有變化的典型實施例。
因此，雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本領域之技術人員應當意識到在不脫離本發明所附之申請專利範圍所揭示之本發明之精神和範圍的情況下，所作之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護範圍之內。關於本發明所界定之保護範圍請參照所附之申請專利範圍。
1．．．托盤裝載單元
1a．．．導軌
2．．．攝像機
4．．．分類單元
4a．．．導軌
5．．．托盤
6．．．拾取器
7．．．拾取器
10．．．電子元件
20．．．托盤
21．．．臨時托盤
100．．．主體
101．．．頂板部分
102．．．支撐部分
110．．．托盤安裝單元
111．．．導引構件
210．．．傾倒單元
211．．．拾取器
300．．．視覺檢測單元
320．．．X-Y機器人
322．．．托盤拾取單元
400．．．托盤安裝單元
401．．．托盤固定單元
410．．．第一托盤安裝單元
420．．．第二托盤安裝單元
424．．．緩衝托盤單元
500．．．托盤堆疊單元
501．．．底部
502．．．引導元件
503．．．把手
510．．．第一托盤堆疊單元
520．．．第二托盤堆疊單元
530．．．第三托盤堆疊單元
531．．．合格品托盤堆疊單元
532．．．第一廢品托盤堆疊單元
533．．．第二廢品托盤堆疊單元
580．．．托盤傳送單元
581．．．托盤拾取單元
582．．．拾取驅動單元
620．．．X-Y機器人
630．．．第一視覺檢測單元
640．．．X-Y機器人
650．．．導軌
700．．．倒轉單元
720‧‧‧倒轉裝置
721‧‧‧托盤固定單元
722‧‧‧托盤旋轉單元
780‧‧‧托盤傳送單元
781‧‧‧托盤拾取單元
810‧‧‧第一托盤安裝單元
820‧‧‧第二托盤安裝單元
821‧‧‧第一子托盤安裝單元
822‧‧‧第二子托盤安裝單元
822a‧‧‧第一子托盤安裝單元
822b‧‧‧第二子托盤安裝單元
822c‧‧‧第三子托盤安裝單元
第1圖為習知技術之視覺檢測設備之平面圖；
第2圖為本發明第一實施例之視覺檢測設備之立體圖；
第3A圖至第3C圖為第2圖之視覺檢測設備之運行平面圖；
第4圖為本發明第二實施例之視覺檢測設備之立體圖；
第5A圖至第5D圖為第4圖之視覺檢測設備之運行平面圖；
第6圖為第4圖之視覺檢測設備的托盤堆疊單元之局部立體圖；
第7圖為本發明第三實施例之視覺檢測設備之立體圖；
第8圖為第7圖之部分視覺檢測設備的正視圖；
第9圖為第7圖之視覺檢測設備的平面圖；以及
第10A圖至第10C圖為第7圖之視覺檢測設備的倒轉裝置之運行的局部正視圖。
10．．．電子元件
20．．．托盤
100．．．主體
101．．．頂板部分
102．．．支撐部分
110．．．托盤安裝單元
111．．．導引構件
210．．．傾倒單元
211．．．拾取器
300．．．視覺檢測單元
320．．．X-Y機器人

Claims (9)

  1. 一種視覺檢測設備，係包含：兩個或者多個其上裝載有電子元件之托盤；一視覺檢測單元，係用以對裝載於該等托盤中的電子元件進行視覺檢測；以及一傾倒單元，係用以依據視覺檢測之結果在該等托盤之間將合格產品與不合格產品相互交換，其中該傾倒單元係將合格的電子元件放置於一個或多個托盤中，並將不合格的電子元件放置於剩下的一個或多個托盤中，其中該視覺檢測單元及該傾倒單元透過被固定至至少一個軸桿上而彼此相互配合。
  2. 如請求項第1項所述之視覺檢測設備，其中該視覺檢測單元及該傾倒單元被安裝於一X-Y機器人之中，藉以使該視覺檢測單元及該傾倒單元沿X及Y方向移動。
  3. 如請求項第1項所述之視覺檢測設備，其中該傾倒單元包含複數個用以拾取和放置電子元件之拾取器。
  4. 一種視覺檢測設備，係包含：複數個第一托盤安裝單元，係用以分別安裝其上裝載有電子元件之托盤；一個或多個第二托盤安裝單元，係用以安裝空的托盤；一視覺檢測單元，係用以對裝載於托盤中的電子元件進行 視覺檢測；以及一傾倒單元，係用以依據視覺檢測之結果於至少一個該第一托盤安裝單元與至少一個該第二托盤安裝單元之間將合格電子元件與不合格電子元件相互交換，其中該視覺檢測單元及該傾倒單元透過被固定至至少一個軸桿上而彼此相互配合。
  5. 如請求項第4項所述之視覺檢測設備，其中該傾倒單元係配置成將合格的電子元件放置到該第一托盤安裝單元的一個或多個托盤之上，並可將不合格的電子元件放置到該第二托盤安裝單元的空托盤之上。
  6. 一種視覺檢測設備，包含：複數個第一托盤安裝單元，係用以分別安裝其上裝載有電子元件之托盤；一個或多個第二托盤安裝單元，係用以安裝空的托盤；一視覺檢測單元，係用以對裝載於托盤中的電子元件進行視覺檢測；以及一傾倒單元，係用以依據視覺檢測之結果於至少一個該第一托盤安裝單元與至少一個該第二托盤安裝單元之間將合格電子元件與不合格電子元件相互交換；一個或多個第一托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊其上裝載有電子元件之托盤； 一個或多個第二托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊空的托盤；一個或多個合格品托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊裝載有合格的電子元件之托盤；一個或多個廢品托盤堆疊單元，係用以在其上堆疊裝載有不合格的電子元件之托盤；以及一托盤傳送單元，係用以在該第一托盤安裝單元、該第二托盤安裝單元、該第一托盤堆疊單元、該第二托盤堆疊單元、該合格品托盤堆疊單元及該廢品托盤堆疊單元之間傳送托盤。
  7. 一種視覺檢測設備，係包含：一個或多個第一托盤安裝單元，係用以安裝一個或多個其上裝載有電子元件之托盤以用於視覺檢測；一第一檢測單元，係包含有用以對裝載於該第一托盤安裝單元之托盤中的電子元件進行第一視覺檢測之一第一視覺檢測單元；一倒轉單元，係用以接收已完全經過該第一視覺檢測之托盤，並將裝載於托盤中的電子元件倒置；兩個或多個第二托盤安裝單元，係用以安裝被該倒轉單元倒置的托盤；一第二視覺檢測單元，係用以對裝載於該第二托盤安裝單元之托盤中的電子元件進行第二視覺檢測； 一第二檢測單元，係包含有用以在該第二視覺檢測之後依據該第一視覺檢測及該第二視覺檢測之結果於該第二托盤安裝單元之一個托盤與該第二托盤安裝單元之另一个托盤之間將合格電子元件與不合格電子元件相互交換一傾倒單元；以及一托盤傳送單元，係用以在該第一檢測單元、該倒轉單元及該第二檢測單元之間傳送托盤。
  8. 如請求項第7項所述之視覺檢測設備，其中該倒轉單元包含：一托盤拾取單元，係用以在倒置該托盤之前拾取該倒置的托盤；以及一倒轉裝置，係用以在被該托盤傳送單元傳送的該托盤上覆蓋被該托盤拾取單元拾取的該托盤，並於隨後將相重疊的一對托盤倒轉，藉以使裝載於該托盤中的電子元件倒置。
  9. 一種視覺檢測設備，係包含：一個或多個第一托盤安裝單元，係用以安裝一個或多個其上裝載有電子元件之托盤以用於視覺檢測；一第一檢測單元，係包含有用以對裝載於該第一托盤安裝單元之托盤中的電子元件進行第一視覺檢測之一第一視覺檢測單元；一倒轉單元，係用以接收已完全經過該第一視覺檢測之托盤，並將裝載於托盤中的電子元件倒置；兩個或多個第二托盤安裝單元，係用以安裝被該倒轉單元 倒置的托盤；一第二視覺檢測單元，係用以對裝載於該第二托盤安裝單元之托盤中的電子元件進行一第二視覺檢測；一第二檢測單元，係包含一傾倒單元，該傾倒單元係用以在第二視覺檢測後依據該第一視覺檢測及該第二視覺檢測之結果於該第二托盤安裝單元之一個托盤與該第二托盤安裝單元之另一个托盤之間將合格電子元件與不合格電子元件相互交換；以及一托盤傳送單元，係用以在該第一檢測單元、該倒轉單元及該第二檢測單元之間傳送托盤，其中，用以移動該第一視覺檢測單元之X-Y機器人與用以移動該第二視覺檢測單元之X-Y機器人共用導軌，進而該第一視覺檢測單元之X-Y機器人與用以移動該第二視覺檢測單元之X-Y機器人沿著導軌被加以引導。
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