KR970012694A - 고속 판독 반도체 메모리 - Google Patents

고속 판독 반도체 메모리 Download PDF

Info

Publication number
KR970012694A
KR970012694A KR1019960038240A KR19960038240A KR970012694A KR 970012694 A KR970012694 A KR 970012694A KR 1019960038240 A KR1019960038240 A KR 1019960038240A KR 19960038240 A KR19960038240 A KR 19960038240A KR 970012694 A KR970012694 A KR 970012694A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
read address
units
sense amplifier
latch
enable signal
Prior art date
Application number
KR1019960038240A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100219008B1 (ko
Inventor
히로카즈 나가시마
Original Assignee
가네꼬 히사시
닛폰 덴키 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가네꼬 히사시, 닛폰 덴키 가부시끼가이샤 filed Critical 가네꼬 히사시
Publication of KR970012694A publication Critical patent/KR970012694A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100219008B1 publication Critical patent/KR100219008B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

고속 판독 반도체 메모리에 제공되어, 판독 어드레스의 상위 비트가 이전 판독 어드레스의 상위 비트로부터 변할 때 상위 비트가 상기 판독 어드레스의 상위 비트와 동일한 어드레스의 특정 워드의 데이타를 감지 및 증폭하기 위한 센스 증폭기에 의해 소비되는 전류의 피크치를 줄이기 위해, 상기 센스 증폭기는 몇몇 그룹으로 분할된다.
판독 어드레스에 의해 지시된 1개 워드가 포함되어 있는 여러 워드의 데이타를 감지 및 증폭하기 위한 센스 증폭기의 1개 그룹이 먼저 액티브되고, 그리고 다른 그룹은 상기 상위 비트가 변할 때 판독 어드레스의 하위 비트의 논리에 따라 다소 지연되어 액티브되도록 제어를 받는다. 그러므로, 전류 소비의 피크치는 동작 지연없이 줄어들 수 있다.

Description

고속 판독 반도체 메모리
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예를 나타낸 블럭도.

Claims (2)

  1. 2i+j-1(단, i 및 j는 양의 정수)개의 메모리 셀 유닛(22,23,35,36) ; 상기 2i+j-1개 메모리 셀 유닛(22,23,35,36)으로부터 판독될 워드의 판독 어드레스를 발생하는 어드레스 발생기(17) ; 각각 상기 2i+j-1개 메모리 셀 유닛(22,23,35,36)의 각각으로부터 선택됨과 아울러, 각각 제(i+j-1) 하위 비트의 상위 비트가 서로 동일한 어드레스를 가지고 있는 메모리 셀의 2i+j-1개 워드를, 상기 판독 어드레스에 따라 선택하는 선택 수단(20,21,24,25,33,34) ; 상기 선택 수단(20,21,24,25,33,34)에 의해 선택된 메모리 셀의 상기 2i+j-1개 센스 증폭기 저장되어 있는 데이타를 각각 감지 및 증폭하는 2i+j-1개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32) ; 상기 2i+j-1개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32); 각각에 의해 감지 및 증폭된 데이타의 워드를 각각 래치하는 2i+j-1개의 래치 유닛(2,3,37,38) ; 상기 판독 어드레스의 (i+j-1) 하위 비트의 논리에 따라, 래치된 데이타가 출력되도록 상기 2i+j-1래치 유닛(2,3,37,38)중 한 유닛을 제어하고 디코딩을 행하는 디코더(26) ; 센스 증폭기 인에이블 신호와, 상기 판독 에드레스의 제(i+j-1) 하위 비트의 상위 비트가 상기 판독 어드레스의 이전 판독 어드레스의 그 상위 비트와 다른 모든 타이밍에 이어서 상기 센스 증폭기 인에이블 신호가 액티브되는 기간의 후단부에서 액티브되는 래치 타이밍 신호를 발생하는 펄스 발생기(1) ; 및 상기 판독 어드레스의 제(i+j-1)하위 비트의 상위 비트가 상기 판독 어드레스의 이전 판독 어드레스의 그 상위 비트와 다를때 상기 판독 어드레스이 제j하위 비트부터 제(i+j-1) 하위 비트까지의 i 비트의 논리에 따라 2쌍의 인에이블 신호와 타이밍 신호를 발생하는 선택 지연 회로(6)를 구비하고 있고, 상기 2쌍의 인에이블 신호와 타이밍 신호 각각은 상기 퍼릇 발생기(1)에 의해 발생된 상기 증폭기 인에이블 신호 및 상기 래치 타이밍 신호의 파형과 동일한 파형과 동일한 파형을 가지고 있고, 그리고 상기 2i+j-1개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32) 중 2j-1개 유닛과 상기 2i+j-1개 래치 유닛(2,3,37,38)중 2j-1개 유닛을 액티브시키며, 상기 2i+j-1개 래치 유닛(2,3,37,38) 중 상기 2j-1개 유닛 각각은 상기 선택 유닛(20,21,24,25,33,34)에 의해 선택된 상기 2i+j-1개 워드 중 2j-1개 워드 각각의 데이타를 감지 및 증폭하는 상기 2i+j-1개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32)중 상기 2j-1개 유닛에 대응하고, 상기 2j-1개 워드 각각의 제j하위 비트부터 제(i+j-1) 하위 비트까지의 i비트는 논리는 서로 동일하며, 그리고 상기 판독 어드레스에 의해 지지된 워드가 포함되어 있는 2i+j-1개 워드에 대응하는, 상기 2쌍의 인에이블 신호와 타이밍 신호중 한쌍은 상기 센스 증폭기 인에이블 신호와 상기 래치 타이밍 신호에 동기되고, 상기 2쌍의 인에이블 신호와 타이밍 신호중 다른 쌍(들)은 상기 센스 증폭기 인에이블 신호와 상기 래치 타이밍 신호로부터 지연되는 것을 특징으로 하는 고속 판독 반도체 메모리.
  2. 4개의 메모리 셀 유닛(22,23,35,36) ; 상기 4개 메모리 셀 유닛(22,23,35,36)으로부터 판독될 워드의 판독 어드레스를 발생하는 어드레스 발생기(17) ; 각각 상기 4개 메모리 셀 유닛(22,23,35,36)의 각각으로부터 선택됨고 아울러, 각각 제2하위 비트의 상위 비트가 서로 동일한 어드레스를 가지고 있는 메모리 셀의 4개 워드를 상기 판독어드레스에 따라 선택하는 선택 수단(20,21,24,25,33,34) ; 상기 선택 수단(20,21,24,25,33,34)에 의해 선택된 셀의 상기 4개 워드 각각에 저장되어 있는 데이타를 각각 감지 및 증폭하는 4개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32) ; 상기 4개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32) 각각에 의해 감지 및 증폭된 데이타의 워드를 각각 래치하는 4개의 래치유닛(2,3,37,38) ; 상기 판독 어드레스의 2하위 비트의 논리에 따라, 래치된 데이타를 출력되도록 상기 4래치 유닛(2,3,37,38) 중 한 유닛을 제어하고 디코딩하는 디코더(26) ; 센스 증폭기 인에이블 신호와, 상기 판독 어드레스의 제2하위 비트의 상위 비트가 상기 판독 어드레스의 이전 판독 어드레스의 그 상위 비트와 다른 모든 타이밍에 이어서 상기 센스 증폭기 인에이블 신호가 액티브되는 기간의 후단부에서 액티브되는 래치 타이밍 신호를 발생하는 펄스 발생기(1); 및 상기 판독 어드레스의 제2하위 비트의 상위 비트가 상기 판독 어드레스의 이전 판독 어드레스의 그 상위 비트와 다를 때 상기 판독 어드레스의 제2하위 비트의 논리에 따라 2쌍의 인에이블 신화 타이밍 신호를 발생하는 선택 지연 회로(6)를 구비하고 있고, 상기 2쌍의 인에이블 신호와 타이밍 신호 각각은 상기 펄스 발생기(1)에 의해 발생된 상기 증폭기 인에이블 신호 및 상기 래치 타이밍 신호의 파형과 동일한 파형을 가지고 있고, 그리고 상기 4개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32) 중 2개 유닛과 상기 4개 래치 유닛(2,3,37,38)중 2개 유닛 액티브시키며, 상기 4개 래치 유닛(2,3,37,38)중 상기 2개 유닛 각각은 상기 선택 유닛(20,21,24,25,33,34)에 의해 선택된 상기 4개 워드중 2개 워드 각각의 데이타를 감지 및 증폭하는 상기 4개 센스 증폭기 유닛(4,5,31,32)중 상기 2개 유닛에 대응하고, 상기 2개 워드 각각의 제2하위 비트의 논리는 동일하며, 상기 판독 어드레스에 의해 지시된 워드가 포함되어 있는 2개 워드에 대응하는, 상기 2쌍의 인에이블 신호와 타이밍 신호중 한쌍은 상기 센스 증폭기 인에이블 신호와 상기 래치 타이밍 신호에 동기되고, 상기 2쌍의 인에이블 신호와 타이밍 신호중 다른 쌍은 상기 센스 증폭기 인에이블 신호와 상기 래치 타이밍신호로부터 지연되는 것을 특징으로 하는 고속 판독 반도체 메모리.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960038240A 1995-08-30 1996-08-30 고속 판독 반도체 메모리 KR100219008B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP95-222308 1995-08-30
JP7222308A JPH0969292A (ja) 1995-08-30 1995-08-30 半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970012694A true KR970012694A (ko) 1997-03-29
KR100219008B1 KR100219008B1 (ko) 1999-09-01

Family

ID=16780331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960038240A KR100219008B1 (ko) 1995-08-30 1996-08-30 고속 판독 반도체 메모리

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5642319A (ko)
JP (1) JPH0969292A (ko)
KR (1) KR100219008B1 (ko)
DE (1) DE19634967A1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100656874B1 (ko) * 2004-07-28 2006-12-12 엠시스랩 주식회사 피크전류의 크기를 저감하는 고속 입력 디스플레이드라이버와 이를 이용한 데이터 입력방법

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5841707A (en) * 1995-11-29 1998-11-24 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for a programmable interval timing generator in a semiconductor memory
JPH09282889A (ja) * 1996-04-09 1997-10-31 Toshiba Corp 半導体装置
JPH10334665A (ja) * 1997-05-30 1998-12-18 Oki Micro Design Miyazaki:Kk 半導体記憶装置
JP2000311496A (ja) 1999-04-28 2000-11-07 Nec Corp 冗長アドレス設定回路及びこれを内蔵した半導体記憶装置
JP4514945B2 (ja) * 2000-12-22 2010-07-28 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置
KR100546385B1 (ko) * 2003-09-30 2006-01-26 삼성전자주식회사 입출력라인 감지증폭기와 입출력라인 드라이버 제어방법및 이를 이용하는 반도체 메모리장치
JP5099674B2 (ja) * 2006-12-25 2012-12-19 三星電子株式会社 半導体集積回路
JP5579580B2 (ja) * 2010-11-12 2014-08-27 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 半導体装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4800530A (en) * 1986-08-19 1989-01-24 Kabushiki Kasiha Toshiba Semiconductor memory system with dynamic random access memory cells
JPH0271493A (ja) * 1988-09-06 1990-03-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ装置
TW198135B (ko) * 1990-11-20 1993-01-11 Oki Electric Ind Co Ltd
JP2605565B2 (ja) * 1992-11-27 1997-04-30 日本電気株式会社 半導体集積回路
JP2697633B2 (ja) * 1994-09-30 1998-01-14 日本電気株式会社 同期型半導体記憶装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100656874B1 (ko) * 2004-07-28 2006-12-12 엠시스랩 주식회사 피크전류의 크기를 저감하는 고속 입력 디스플레이드라이버와 이를 이용한 데이터 입력방법

Also Published As

Publication number Publication date
US5642319A (en) 1997-06-24
KR100219008B1 (ko) 1999-09-01
DE19634967A1 (de) 1997-03-06
JPH0969292A (ja) 1997-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5327394A (en) Timing and control circuit for a static RAM responsive to an address transition pulse
US5808959A (en) Staggered pipeline access scheme for synchronous random access memory
KR100271626B1 (ko) 비트라인 센스앰프의 오버드라이빙방법
US5563835A (en) Sense amplification in data memories
US5404327A (en) Memory device with end of cycle precharge utilizing write signal and data transition detectors
KR100260477B1 (ko) 낮은 전원공급전압에서 고속동작을 하는 반도체 메모리 장치 및 반도체 액세스 방법
JP3259764B2 (ja) 半導体記憶装置
KR0136889B1 (ko) 승압신호를 사용한 반도체장치
KR960015587A (ko) 동기 반도체 메모리 장치 및 동기 동적 램의 감지 과정을 제어하는 방법
KR970012694A (ko) 고속 판독 반도체 메모리
KR100247723B1 (ko) 디램 어레이
KR980011464A (ko) 반도체 메모리의 데이타라인 등화 제어회로
KR950010084A (ko) 반도체 메모리 장치
KR950004283A (ko) 반도체 메모리 장치
KR970023387A (ko) 메모리 장치
KR950006856A (ko) 반도체 소자의 컬럼 디코더 인에이블 신호 발생회로
KR100640786B1 (ko) 반도체 기억 소자의 워드 라인 인에이블 회로 및 방법
KR980012946A (ko) 반도체 메모리소자의 칼럼디코딩회로
JP2001076489A (ja) メモリ回路
KR100301820B1 (ko) 센스 앰프
KR100335118B1 (ko) 메모리 소자의 구동 회로
KR960038975A (ko) 확장 데이타 출력모드를 가진 반도체 메모리장치
KR0186105B1 (ko) 메모리의 센스 앰프 구동 제어 회로
JP3606041B2 (ja) 半導体記憶装置
KR20000014224A (ko) 센스 앰프 제어 회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080530

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee