KR970008360A - 집적회로 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전자이동 저항성 집적회로 러너(electromigration resistant integrated circuit runner)의 제조 방법을 개시한다. 본 발명의 방법은 입자의 시준된 빔을 기판에 쪼여 금속 증착층(metal nucleating layer)(17)을 형성시키고, 이어서 비-시준 빔을 사용하여 나머지 금속층(19)을 형성시킨 다음, 층(17) 및 (19)들을 패턴화시켜 러너(runner)를 형성시킴을 포함한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 예시적인 실시예를 이해하는데 유용한 집적회로의 부분단면도.
Claims (11)
- 전도성 입자의 시준된 빔(collimated beam)을 기판(11)에 쪼여 제1도전층(17)을 형성시키고, 이어서 상기 기판(11)에 비-시준된 전도성 입자를 스퍼터링시켜 상기 제1도전층(17)과 접촉하는 제도전층(19)을 형성시킴으로써 상기 기판(11)을 덮는(overlying) 층을 형성시킴을 포함하는 집적회로의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 전도성 물질이 알루미늄인 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1층(17) 및 제2층(19)을 함께 패턴화시켜 전도성 러너(conductive runner)를 형성시키는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1도전층(17)이 50 내지 5000Å의 두께를 갖는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제2도전층(19)이 2kÅ 내지 10kÅ의 두께를 갖는 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 기판(11)이 전도성이며 상기 기판(11)의 일부를 노출시키는 비아(via)(15)를 가진 유전체(13)에 의해 부분적으로 보호되고, 상기 제1층(17) 및 제2층(19)이 실질적으로 상기 비아(via)에 충전되어 상기 유전체(13)를 보호하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 기판과 상기 제1도전층(17) 사이에 하나 이상의 도전층(21)을 형성시키는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제7항에 있어서, 상기 도전층(21)이 질화티타늄, 내화성 규화 금속 및 티타늄으로 이루어진 군중에서 선택되는 방법.
- 제7항에 있어서, 상기 제1도전층(17)을 형성시키기 전에 이층구조의 도전층(21)을 형성시키는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제9항에 있어서, 상기 이층구조의 도전층(21)이 티타늄을 덮은 질화티타늄층인 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제2전도층(19) 상에 하나 이상의 도전층(21)을 형성시키는 단계를 더 포함하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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