KR960006077A - 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 - Google Patents
박막트랜지스터 및 그 제조 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR960006077A KR960006077A KR1019940016876A KR19940016876A KR960006077A KR 960006077 A KR960006077 A KR 960006077A KR 1019940016876 A KR1019940016876 A KR 1019940016876A KR 19940016876 A KR19940016876 A KR 19940016876A KR 960006077 A KR960006077 A KR 960006077A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- film
- source
- drain
- polysilicon
- insulating film
- Prior art date
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 33
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 19
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 claims abstract description 19
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78606—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with supplementary region or layer in the thin film or in the insulated bulk substrate supporting it for controlling or increasing the safety of the device
- H01L29/78618—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with supplementary region or layer in the thin film or in the insulated bulk substrate supporting it for controlling or increasing the safety of the device characterised by the drain or the source properties, e.g. the doping structure, the composition, the sectional shape or the contact structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66007—Multistep manufacturing processes
- H01L29/66075—Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
- H01L29/66227—Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
- H01L29/66409—Unipolar field-effect transistors
- H01L29/66477—Unipolar field-effect transistors with an insulated gate, i.e. MISFET
- H01L29/66742—Thin film unipolar transistors
- H01L29/6675—Amorphous silicon or polysilicon transistors
- H01L29/66757—Lateral single gate single channel transistors with non-inverted structure, i.e. the channel layer is formed before the gate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78651—Silicon transistors
- H01L29/7866—Non-monocrystalline silicon transistors
- H01L29/78672—Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor
- H01L29/78675—Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor with normal-type structure, e.g. with top gate
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
본 발명은 절연막(21)상에 분리되어 패터닝된 소오스 및 드레인 폴리실리콘막(22A,22B); 상기 소오스(22A)와, 드레인(22B)이 분리된 지역의 소오스(22A) 및 드레인(22B) 측벽과 접속되고, 소오스(22A)와 드레인(22B) 상부 일부 지역에 절연막(23)을 통해 절연되어 오버랩(overlap)되도록 형성된 채널 폴리실리콘막(24); 상기 채널 폴리실리콘막(24) 상에 형성된 게이트 절연막(25); 상기 게이트 절연막(25) 상이 게이트 폴리실리콘막(26)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터에 관한 것으로, 소오스 및 드레인용 폴리실리콘막을 채널에 비해 두껍게 형성하여 소오스 및 드레인 저항을 감소시켜 박막트랜지스터의 온 전류를 향상시키는 효과가 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래의 박막트랜지스터 구조를 나타내는 단면도.
제2도는 본 발명에 따른 박막트랜지스터 구조를 나타내는 단면도.
제3a도 내지 제3e도는 본 발명에 따른 박막트랜지스터 제조 공정도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
21 : 절연막 22,22A,22B : 소오스 및 드레인 폴리실리콘막
23 : 마스크용 산화막 24 : 채널 폴리실리콘막
25 : 게이트 산화막 26 : 게이트 폴리실리콘막
Claims (2)
- 절연막(21)상에 분리되어 패터닝된 소오스 및 드레인 폴리실리콘막(22A,22B); 상기 소오스(22A)와, 드레인(22B)이 분리된 지역의 소오스(22A) 및 드레인(22B) 측벽과 접속하고, 소오스(22A)와, 드레인(22B) 상부 일부 지역에 절연막(23)을 통해 절연되어 오버랩(overlap)되도록 형성된 채널 폴리실리콘막(24); 상기채널 폴리실리콘막(24) 상에 형성된 게이트 절연막(25); 상기 게이트 절연막(25) 상의 게이트 폴리실리콘막(26)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
- 박막트랜지스터 제조 방법에 있어서; 제1절연막(31)이 기형성된 기판사에 소오스 및 드레인용 제1폴리실리콘막(32)과, 제2절연막(33)을 차례로 형성하는 단계; 소오스 및 드레인 마스크를 사용하여 상기 제2절연막(33) 및 제1폴리실리콘막(32)의 소정 부위를 제1절연막(31)이 노출되도록 식각하는 단계; 전체 구조 상부에 채널용 제2폴리실리콘막(34)을 형성하는 단계; 제2폴리실리콘막(34) 상에 제3절연막(35)을 형성하는 단계; 제3절연막(35)상에 게이트용 제3폴리실리콘막(36)을 형성하는 단계; 게이트 마스크를 사용하여 제3폴리실리콘막(36), 제3절연막(35), 제2폴리실리콘막(34), 제2절연막(33)을 차례로 식각하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940016876A KR0135243B1 (ko) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 |
JP7176126A JP2965283B2 (ja) | 1994-07-13 | 1995-07-12 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
GB9811751A GB2322007B (en) | 1994-07-13 | 1995-07-13 | Thin film transister and method of fabrication |
GB9514300A GB2291268B (en) | 1994-07-13 | 1995-07-13 | Thin film transistor and method of fabrication |
CN95109168A CN1041472C (zh) | 1994-07-13 | 1995-07-13 | 薄膜晶体管及其制造方法 |
DE19525576A DE19525576B4 (de) | 1994-07-13 | 1995-07-13 | Verfahren zur Herstellung eines Dünnfilmtransistors |
US09/084,239 US5915173A (en) | 1994-07-13 | 1998-05-26 | Thin film transistor and method for fabricating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940016876A KR0135243B1 (ko) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960006077A true KR960006077A (ko) | 1996-02-23 |
KR0135243B1 KR0135243B1 (ko) | 1998-04-22 |
Family
ID=19387915
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940016876A KR0135243B1 (ko) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0135243B1 (ko) |
-
1994
- 1994-07-13 KR KR1019940016876A patent/KR0135243B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0135243B1 (ko) | 1998-04-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960012564A (ko) | 박막 트랜지스터 및 그 형성방법 | |
KR960024604A (ko) | 이중 채널 박막트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR970008500A (ko) | 다결정 규소 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법 | |
KR960009075A (ko) | 박막트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR910010731A (ko) | 반도체장치 및 그 제조방법 | |
KR960006077A (ko) | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 | |
KR970072491A (ko) | 박막트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR970024260A (ko) | 채널 영역 아래에 산화막을 가지는 트랜지스터 | |
KR960005885A (ko) | 박막트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR960006086A (ko) | 이중 채널을 갖는 트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR930017190A (ko) | 반도체 기억장치 및 그의 제조방법 | |
KR940022892A (ko) | 박막 트랜지스터 제조방법 | |
KR960002704A (ko) | 트랜지스터의 게이트전극 형성방법 | |
KR960005894A (ko) | 박막트랜지스터 제조 방법 | |
KR960026454A (ko) | 박막트랜지스터 제조 방법 | |
KR970054481A (ko) | 박막 트랜지스터 제조방법 | |
KR960039443A (ko) | 비휘발성 반도체 메모리장치 및 그 제조방법 | |
KR960019608A (ko) | 반도체 소자의 트랜지스터 제조방법 | |
KR960039351A (ko) | 모스펫 및 그 제조방법 | |
KR950030385A (ko) | 박막트랜지스터 제조 방법 | |
KR960019741A (ko) | 에스램(sram) 셀 및 그 제조방법 | |
KR970054512A (ko) | 박막트랜지스터 제조 방법 | |
KR970030498A (ko) | 반도체장치의 제조방법 | |
KR960002696A (ko) | 박막트랜지스터 제조 방법 | |
KR970051909A (ko) | 반도체 소자의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20111221 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121224 Year of fee payment: 16 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |