KR970024260A - 채널 영역 아래에 산화막을 가지는 트랜지스터 - Google Patents

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KR970024260A
KR970024260A KR1019950036446A KR19950036446A KR970024260A KR 970024260 A KR970024260 A KR 970024260A KR 1019950036446 A KR1019950036446 A KR 1019950036446A KR 19950036446 A KR19950036446 A KR 19950036446A KR 970024260 A KR970024260 A KR 970024260A
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South Korea
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channel region
region
transistor
oxide film
channel
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Application number
KR1019950036446A
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Inventor
구본재
강남수
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

짧은 채널 효과에 의하여 발생하는 효과를 개선하기 위하여 채널 영역 아래에 산화막을 가지는 트랜지스터에 관하여 개시한다. 본 발명은 채널 영역·게이트 절연막·게이트 전극과 소스 및 드레인 영역을 구비하는 트랜지스터에 있어서 상기 채널 영역이 실리콘 에피택셜 층으로 형성되고, 상기 채널 영역 아래에 부분적으로 산화막을 가진다. 본 발명에 의하여 형성된 트랜지스터는 상기 채널 영역 아래에 상기 채널 산화막에 존재하여 상기 드레인 영역의 의하여 형성된 전계가 채널 영역이나 소스 영역에 영향을 미치지 않게 한다.

Description

채널 영역 아래에 산화막을 가지는 트랜지스터
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 의하여 형성된 채널 영역 아래에 산화막을 가지는 트랜지스터의 구조를 보여주는 단면도,
제2도 내지 제6도는 본 발명에 의한 트랜지스터의 제조 방법을 순서대로 보여주는 단면도들이다.

Claims (3)

  1. 채널 영역·게이트 절연막·게이트 전극과 소스 및 드레인 영역을 구비하는 트랜지스터에 있어서 상기 채널 영역이 실리콘 에피택셜 층으로 형성되고, 상기 채널 영역 아래에 부분적으로 산화막을 가지는 것을 특징으로 하는 트랜지스터.
  2. 제1항에 있어서, 상기 채널 영역 아래에 형성된 산화막은 반도체 기판을 국부적으로 열산화시켜 형성한 것을 특징으로 하는 트랜지스터.
  3. 제1항에 있어서, 상기 소스 및 드레인 영역은 상기 실리콘 에피택셜 층 및 상기 반도체 기판에 연결되어 형성된 것을 특징으로 하는 트랜지스터.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950036446A 1995-10-20 1995-10-20 채널 영역 아래에 산화막을 가지는 트랜지스터 KR970024260A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100498592B1 (ko) * 1997-12-27 2006-04-28 주식회사 하이닉스반도체 모스트랜지스터 및 그 제조 방법

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KR100498592B1 (ko) * 1997-12-27 2006-04-28 주식회사 하이닉스반도체 모스트랜지스터 및 그 제조 방법

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