KR950034449A - 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치. - Google Patents

냉각장치가 보강된 급속열처리 장치. Download PDF

Info

Publication number
KR950034449A
KR950034449A KR1019940010552A KR19940010552A KR950034449A KR 950034449 A KR950034449 A KR 950034449A KR 1019940010552 A KR1019940010552 A KR 1019940010552A KR 19940010552 A KR19940010552 A KR 19940010552A KR 950034449 A KR950034449 A KR 950034449A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gas
heat treatment
cooling
rapid heat
cooling device
Prior art date
Application number
KR1019940010552A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0128025B1 (ko
Inventor
이경수
Original Assignee
양승택
재단법인 한국전자통신연구소
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 양승택, 재단법인 한국전자통신연구소 filed Critical 양승택
Priority to KR1019940010552A priority Critical patent/KR0128025B1/ko
Priority to JP6305096A priority patent/JP2886101B2/ja
Publication of KR950034449A publication Critical patent/KR950034449A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0128025B1 publication Critical patent/KR0128025B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체소자 제조장치에 관한 것으로 특히 반도체소자 제조장치 중에서 급속열처리장치(RTP: Rapid Thermal Processing)에 냉각장치를 보강하여 더욱 빠른 냉각속도를 얻을 수 있도록 한 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치에 관한 것으로 반도체소자의 열처리 과정후 냉각단계에서 반도체 기판상에 결정결합이 생성되는 문제점을 해소하기 위하여 안출된 본 발명에서는 열처리과정후 더욱 빠른 냉각속도를 갖도록 하므로서 생성된 반도체의 결정결합(cystalline defects)을 줄일 수 있도록 한 것이다. 이를 위하여 본 발명에서는 빠른 냉각속도를 얻기 위하여 반응관에 입력되는 가스라인에 별도의 냉각장치를 부착하여 반응(혹은 열처리)이 끝난 후 램프(lamp)가 꺼지고 냉각단계가 시작되며 냉각장치를 통과하여 충분히 냉각된 가스가 반도체 기판의 표면에 닿아 반도체 기판 표면을 매우 빠르게 냉각할 수 있도록 한 것이다.

Description

냉각장치가 보강된 급속열처리 장치.
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일실시예 구성도, 제2도는 본 발명의 다른 실시예 구성도.

Claims (4)

  1. 반도체 제조공정의 급속열처리장치에 있어서, 반옹관(10)에 연결되어 가스를 공급하는 가스관(30)이 별도의 냉매에 의해 냉각되는 가스냉각장치(20)를 통과하여 공급될 수 있도록 구성됨을 특징으로 하는 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치.
  2. 제1항에 있어서, 가스냉각장치(20)를 통과하는 가스관(30)은 냉각매체와의 접촉면적을 최대로 확대하기 위하여 용수철 형상으로 구성됨을 특징으로 하는 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치.
  3. 제1항에 있어서, 반응관(10)에 연결되는 가스관(30)은 가스의 흐름을 신속히 바꾸어줄 수 있도록 반응가스가 주입되는 제1가스관(31)과; carrier가스나 비활성가스를 주입하는 제2가스관(32)으로 분리 설치됨을 특징으로 하는 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치.
  4. 제3항에 있어서, 반응단계의 가스를 공급하는 제1가스관(31)은 가스냉각장치(20)를 통과하지 않도록 하며, 냉각단계의 가스를 공급하는 제2가스관(32)은 가스냉각장치(20)를 통과하도록 구성됨을 특징으로 하는 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940010552A 1994-05-14 1994-05-14 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치 KR0128025B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940010552A KR0128025B1 (ko) 1994-05-14 1994-05-14 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치
JP6305096A JP2886101B2 (ja) 1994-05-14 1994-12-08 冷却装置が補強された急速熱処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940010552A KR0128025B1 (ko) 1994-05-14 1994-05-14 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950034449A true KR950034449A (ko) 1995-12-28
KR0128025B1 KR0128025B1 (ko) 1998-04-02

Family

ID=19383056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940010552A KR0128025B1 (ko) 1994-05-14 1994-05-14 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2886101B2 (ko)
KR (1) KR0128025B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210028842A (ko) 2019-09-05 2021-03-15 (주)뉴영시스템 급속 열처리 설비의 냉각시스템

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010150590A1 (ja) 2009-06-24 2010-12-29 キヤノンアネルバ株式会社 真空加熱冷却装置および磁気抵抗素子の製造方法
JP7365423B2 (ja) * 2019-10-04 2023-10-19 東京エレクトロン株式会社 加熱冷却装置及び加熱冷却方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0286121A (ja) * 1988-09-22 1990-03-27 Toshiba Corp 化合物半導体の気相成長装置
JPH02184031A (ja) * 1989-01-11 1990-07-18 Toshiba Corp ポリイミド塗布装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210028842A (ko) 2019-09-05 2021-03-15 (주)뉴영시스템 급속 열처리 설비의 냉각시스템
KR20210083217A (ko) 2019-09-05 2021-07-06 (주)뉴영시스템 급속 열처리 설비의 냉각시스템

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07321037A (ja) 1995-12-08
JP2886101B2 (ja) 1999-04-26
KR0128025B1 (ko) 1998-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960036140A (ko) 반도체 장치 제작 방법
EP0537364A4 (en) Apparatus and method for manufacturing semiconductor device
KR890006274A (ko) 고체화에 의한 가스흐름으로 부터의 증기의 감소방법 및 장치
KR20030093439A (ko) 화학기상증착공정용 기체 가열장치 및 이를 이용한반도체소자 제조방법
US20090235955A1 (en) Apparatus and method for the rapid thermal control of a work piece in liquid or supercritical fluid
KR950034449A (ko) 냉각장치가 보강된 급속열처리 장치.
JP2996524B2 (ja) ポリイミド硬化装置
KR960005892A (ko) 반도체 소자 제조용 반응로 및 그를 이용한 게이트 산화막 형성방법
KR950025893A (ko) 실리사이드층과 폴리실리콘층을 가지는 반도체 기판을 에칭하는 에칭방법 및 그 에칭방법에 사용되는 에칭장치
ATE291167T1 (de) Verfahren zur erhitzung und doppelten elektromagnetischen polarisation von flüssigem und gasförmigem brennstoff und dazugehörige vorrichtung
JP2002295628A (ja) 送りネジの軸冷却方法及び装置
JPS5927771A (ja) 半田付け装置
KR970052082A (ko) 반도체의 금속 공정용 스퍼터(Sputter)의 가열 장치
WO2001059815A3 (en) Method and apparatus for processing a microelectronic workpiece at an elevated temperature
KR950015541A (ko) 반도체 소자의 공정로 냉각장치 및 그 운용 방법
JPH01287923A (ja) 半導体ウエハ冷却装置
KR19980065203A (ko) 반도체 HDP-CVD(High Density Plasma-Chemical Vapour Deposition) 장치의 플레이트 냉각라인
JPS57178351A (en) Cooling unit for semiconductor integrated circuit device
KR910020823A (ko) 급속열처리 장치용 단면가열형 진공 반응로
SU1430076A1 (ru) Аппарат дл тонкой очистки газов
KR950025909A (ko) 반도체 웨이퍼의 자연 산화막 형성방법
KR920022384A (ko) 반도체 소자 제조공정의 p.i.q 코팅을 위한 웨이퍼 냉각방법 및 그 장치
KR970017903A (ko) 반도체 공정 소오스 가스 공급방법 및 그 장치
JP2535275B2 (ja) 冷却システム
TWI257160B (en) Apparatus and method for reducing electrical noise in a thermally controlled chuck

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070919

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee