KR950024348A - 반도체 집적회로 - Google Patents

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KR950024348A
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가주따미 아리모또
마사끼 쭈꾸데
가주야수 후지시마
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미쓰비시 뎅끼 가부시끼가이샤
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Abstract

NAND 게이트로 구성된 트랜지스터들(P1, P2, Nl, N2)상에 고응점금속의 배선패턴(W)과 알루미늄 배선패턴들(A11, A12)들이 적층된다.
상기 트랜지스터들(P1, P2, N1, N2)을 서로 접속하기 의한 로칼배선(RL)이 고융점금속의 배선패턴(W)에 의해 형성되고, 상기 NAND게이트와 그 외부와의 신호 입출력을 위한 신호배선(SL, SL′)은 알루미늄 배선패턴(A11)으로 형성되며, 상기 NAND게이트에 전원전위(Vcc, Vss)를 공급하기 위한 전원배선(VL,VL′)은 알루미늄 배선패턴(A12)으로 구성된다.
상기 로칼배선(RL)이 알루미늄 배선패턴(A11)으로 구성원 종래기술과 비교하여, 러레이아웃의 자유도가 개선될 수 있으며 레이아웃 면적이 감소될 수 있다.

Description

반도체 집적회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 DRAM칩의 주변회로 영역의 NAND게이트를 포함하는 영역의 레이아웃을 나타낸 일부 단편 평면도,
제2도는 제1도에 도시된 NAND게이트를 포함하는 영역의 요부 확대도,
제3도는 제1도에 도시된 NAND게이트를 포함하는 영역의 요부단면도,
제4도는 제1실시예의 개량예를 나타낸 일부 단편 평면도이다.

Claims (13)

  1. 반도체 기판상에 형성된 반도체 집적회로에 있어서, 상기 반도체 기판의 표면에 형성되어 각각 소정 동작을 수행하는 복수의 반도체 소자군; 상기 복수의 반도체 소자군 위에 형성되어 상기 각 반도체 소자군의 반도체 소자들(P1, P2, N1, N2)을 접속하기 위한 로칼(local) 배선(RL)으로 사용되는 제1배선패턴; 상기 제1배선패턴 위에 형성된 제2배선패턴; 및 상기 제2배선패턴 위에 형성된 제3배선패턴으로 구성된 반도체 집적회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제2배선패턴은 상기 각 반도체 소자군과 그 외부와의 사이에서 신호를 입출력하기 위한 하층 신호배선(SL, SL')으로 사용되고, 상기 제3배선패턴은 상기 각 반도체 소자군에 전원전위를 공급하는 하층 전원배선(VL, VL′)으로 사용되는 반도체 집적회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제2배선패턴은 상기 상층 전원배선(VL, VL′)에 상기 각 반도체 소자군을 접속하기 위한 접속전극으로 사용되는 반도체 집적회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제2배선패턴은 상기 각 반도체 소자군에 전원전위를 공급하는 하층 전원배선(VL, VL′)으로 사용되고, 상기 제3배선패턴은 상기 각 반도체 소자군과 그 외부와의 신호 입출력을 위한 상층 신호배선(SL, SL')으로 사용되는 반도체 집적회로.
  5. 제4항에 있어서, 상기 하층 전원배선(VL, VL′)은 상기 로칼배선(RL)을 덮도록 형성되는 반도체 집적회로.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제2배선패턴은 상기 상층 신호배선(SL, SL′)을 상기 각 반도체 소자군에 접속하기 위한 접속전극(EL)으로도 사용되는 반도체 집적회로.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제2 및 제3배선패턴들은 상기 각 반도체 소자군과 그 외부와의 신호 입출력을 위한 하층 및 상층 신호배선(SL1, …; SL21, …)들로 각각 사용되는 반도체 집적회로.
  8. 제7항에 있어서. 상기 상층 신호배선(SL21, …)과 하층 신호배선(SL1, …)은 적어도 일부가 서로 중첩(overlapping)되지 않도록 설치되는 반도체 집적회로.
  9. 제1항에 있어서, 상기 제2 및 제3배선패턴은 상기 각 반도체 소자군에 전원전위를 공급하기 위한 하층 및 상층 전원배선(VL(sub). v1(main))으로 각각 사용되는 반도체 집적회로.
  10. 제1항에 있어서, 상기 제1, 제2 및 제3 배선패턴은 알루미늄으로 이루어진 반도체 집적회로.
  11. 제1항에 있어서, 상기 제1배선패턴은 텅스텐과 같은 고용점금속으로 구성되고, 상기 제2 및 제3배선패턴은 알루미늄으로 이루어진 반도체 집적회로.
  12. 제1항에 있어서, 상기 복수의 각 반도체 소자군은 제l 및 제2도전형의 복수의 반도체 소자들(N1, N2; P1, P2)을 포함하고, 상기 제1배선패턴은 상기 각 반도체 소자군내의 상기 제1도전형의 반도체 소자를 접속하는 반도체 집적회로.
  13. 제1항에 있어서, 상기 반도체 기판상의 표면에 행렬로 배열된 복수의 메모리 셀(MC)을 구비하고, 상기 제1배선패턴은 각 메모리셀 렬(column)에 대응하여 설치된 비트선(BL, /BL)으로 사용되는 반도체 집적회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950000610A 1994-01-20 1995-01-16 반도체 집적회로 KR950024348A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100289368B1 (ko) * 1998-01-22 2001-05-02 최차란 황토를이용한침대의제조방법

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3802239B2 (ja) * 1998-08-17 2006-07-26 株式会社東芝 半導体集積回路
JP2001339047A (ja) * 2000-05-29 2001-12-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置
JP2002009160A (ja) * 2000-06-26 2002-01-11 Nec Microsystems Ltd 半導体集積回路の自動レイアウト方法、この方法で製造した半導体集積回路及びこの方法を記録した記録媒体
US6825820B2 (en) * 2000-08-10 2004-11-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
JP4748867B2 (ja) 2001-03-05 2011-08-17 パナソニック株式会社 集積回路装置
KR100403631B1 (ko) * 2001-07-20 2003-10-30 삼성전자주식회사 비트라인 센스앰프 드라이버의 배치방법
JP3504243B2 (ja) * 2001-09-25 2004-03-08 株式会社東芝 半導体装置
US6835972B2 (en) * 2003-01-03 2004-12-28 Lsi Logic Corporation Bowtie and T-shaped structures of L-shaped mesh implementation
US7082064B2 (en) * 2004-01-29 2006-07-25 Micron Technology, Inc. Individual I/O modulation in memory devices
KR100610022B1 (ko) * 2005-01-18 2006-08-08 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치
US7611944B2 (en) 2005-03-28 2009-11-03 Micron Technology, Inc. Integrated circuit fabrication
US7371627B1 (en) 2005-05-13 2008-05-13 Micron Technology, Inc. Memory array with ultra-thin etched pillar surround gate access transistors and buried data/bit lines
US7120046B1 (en) 2005-05-13 2006-10-10 Micron Technology, Inc. Memory array with surrounding gate access transistors and capacitors with global and staggered local bit lines
US7541632B2 (en) * 2005-06-14 2009-06-02 Micron Technology, Inc. Relaxed-pitch method of aligning active area to digit line
US7888721B2 (en) 2005-07-06 2011-02-15 Micron Technology, Inc. Surround gate access transistors with grown ultra-thin bodies
US7768051B2 (en) 2005-07-25 2010-08-03 Micron Technology, Inc. DRAM including a vertical surround gate transistor
US7413981B2 (en) * 2005-07-29 2008-08-19 Micron Technology, Inc. Pitch doubled circuit layout
US7696567B2 (en) 2005-08-31 2010-04-13 Micron Technology, Inc Semiconductor memory device
US7416943B2 (en) 2005-09-01 2008-08-26 Micron Technology, Inc. Peripheral gate stacks and recessed array gates
US7687342B2 (en) 2005-09-01 2010-03-30 Micron Technology, Inc. Method of manufacturing a memory device
US7557032B2 (en) 2005-09-01 2009-07-07 Micron Technology, Inc. Silicided recessed silicon
US7476933B2 (en) 2006-03-02 2009-01-13 Micron Technology, Inc. Vertical gated access transistor
US7842558B2 (en) 2006-03-02 2010-11-30 Micron Technology, Inc. Masking process for simultaneously patterning separate regions
US7902074B2 (en) 2006-04-07 2011-03-08 Micron Technology, Inc. Simplified pitch doubling process flow
US7923373B2 (en) 2007-06-04 2011-04-12 Micron Technology, Inc. Pitch multiplication using self-assembling materials
US8101497B2 (en) 2008-09-11 2012-01-24 Micron Technology, Inc. Self-aligned trench formation
JP2011242541A (ja) * 2010-05-17 2011-12-01 Panasonic Corp 半導体集積回路装置、および標準セルの端子構造
CN109509747B (zh) * 2017-09-15 2021-07-06 联华电子股份有限公司 具有标准单元的集成电路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02106968A (ja) * 1988-10-17 1990-04-19 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置及びその形成方法
JPH02268439A (ja) * 1989-04-10 1990-11-02 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0467674A (ja) * 1990-07-06 1992-03-03 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の配線構造
JP2723700B2 (ja) * 1990-08-13 1998-03-09 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 半導体記憶装置
JPH04355952A (ja) * 1990-11-29 1992-12-09 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0536932A (ja) * 1991-08-01 1993-02-12 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP3030991B2 (ja) * 1991-11-14 2000-04-10 日本電気株式会社 半導体集積回路
JPH05152291A (ja) * 1991-11-29 1993-06-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100289368B1 (ko) * 1998-01-22 2001-05-02 최차란 황토를이용한침대의제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP3720064B2 (ja) 2005-11-24
US5969420A (en) 1999-10-19
US6404056B1 (en) 2002-06-11
JPH07249630A (ja) 1995-09-26

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