KR940020412A - 반도체 집적 회로 칩 내장형 전압 강하 회로(Voltage Drop Circuit to be Built in Semiconductor IC Chip) - Google Patents

반도체 집적 회로 칩 내장형 전압 강하 회로(Voltage Drop Circuit to be Built in Semiconductor IC Chip) Download PDF

Info

Publication number
KR940020412A
KR940020412A KR1019940002422A KR19940002422A KR940020412A KR 940020412 A KR940020412 A KR 940020412A KR 1019940002422 A KR1019940002422 A KR 1019940002422A KR 19940002422 A KR19940002422 A KR 19940002422A KR 940020412 A KR940020412 A KR 940020412A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
control signal
circuit
output
terminal
Prior art date
Application number
KR1019940002422A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970010643B1 (ko
Inventor
아끼라 다나베
Original Assignee
세끼모또 타다히로
닛본덴기 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세끼모또 타다히로, 닛본덴기 가부시끼가이샤 filed Critical 세끼모또 타다히로
Publication of KR940020412A publication Critical patent/KR940020412A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR970010643B1 publication Critical patent/KR970010643B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M3/00Conversion of dc power input into dc power output
    • H02M3/02Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
    • H02M3/04Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
    • H02M3/06Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
    • H02M3/07Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4074Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H19/00Networks using time-varying elements, e.g. N-path filters
    • H03H19/004Switched capacitor networks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Abstract

본 발명은 분압기와 전압 비교기를 포함하는 고집적 IC칩에 내장될 전압 강하 회로에 관한 것이다. 분압기의 분할된 출력 전압(VINT)와 비교 기준 전압(VREF)는 전압 비교기의 각각의 입력 단자(-) 및 (+)에 인가된다. 전압 비교기의 출력 신호는, 제어 펄스를 발생시키고 이 제어 펄스에 의해 분압기의 분압기구간에 있는 캐패시터의 접속을 제어하여 분할된 출력 전압(VINT)를 부하 회로에 공급하기 위해서 분압기의 제어 신호 발생기 구간에 공급된다. 이 경우에, 캐패시터들은 외부 전압으로부터 내부 회로용의 전압을 발생시키기 위한 분압 부재로서 사용된다. 따라서, 전력 손실은 감소될 수 있고 캐패시터의 이용 효율은 증가된다. 그러므로, 전압 강하 회로는 고집적 IC칩에 적합하다.

Description

반도체 집적 회로 칩 내장형 전압 강하 회로(Voltage Drop Circuit to be Built in Semiconductor IC Chip)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4a도는 본 발명에 따른 전압 강하 회로의 제1실시예의 블럭도.

Claims (9)

  1. 외부 전원 전압을 입력하기 위한 제1단자, 기준 전압으로 유지될 제2단자, 및 상기 제1 및 제2단자들에 접속된 예정된 기능을 갖는 내부 회로를 포함하는 반도체 집적 회로 칩에 내장되어 있으며, 상기 외부 전원 전압을 강하시키고 이강하된 전압을 상기 내부 회로에 인가시키는 전압 강하 회로에 있어서, (A) (a) 동일한 용량을 갖는 제1 및 제2캐패시터들, (b) 상기 제1 및 제2캐패시터들의 전극들 중 한 전극과 제1단자와의 사이, 그리고 상기 제1 및 제2캐패시터들의 전극들 중 다른 전극과 제2단자와의 사이에 삽입되며 제어 신호에 응답하여 선택적으로 도전되는 2쌍의 제1스위치 소자들, (c)상기 제1캐패시터의 한 전극과 상기 제2캐패시터의 다른 전극과의 사이, 그리고 상기 제1캐패시터의 다른 전극과 상기 제2캐패시터의 한 전극과의 사이에 삽입되며 상기 제어 신호에 응답하여 선택적으로 도전되는 1쌍의 제2스위치 소자들, (d) 상기 제1캐패시터의 한 전극과 상기 제2캐패시터의 한 전극과의 사이에 직렬로 삽입되며 상기 제어 신호에 응답하여 선택적으로 도전되는 1쌍의 제3스위치 소자들, (e) 1쌍의 제3스위치 소자들 사이의 접속점에 접속되고 상기 내부 회로에 접속된 출력 단자 및 (f) 상기 제1 및 제2캐패시터들이 제1단자로부터 공급된 외부 전원 전압에 의해 교대로 충전되고 이 충전에 대한 상보적 방식으로 상기 출력 단자로부터 상기 내부 회로로 교대로 방전되도록 제1, 제2 및 제3스위치 소자들의 도전 상태들을 제어하기 위해 제어 신호를 발생하기 위한 제어 신호 발생 수단을 포함하는 분압기 회로 및 (B) 상기 내부 회로로 출력된 방전 전압과 예정된 비교 기준 전압과의 사이의 비교 결과에 따라 상기 제어 신호 발생 수단 내의 제어 신호 발생을 제어하기 위해 접속 제어 신호를 발생시키는 접속 제어 신호 발생 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 접속 제어 신호 발생 수단이 제1 및 제2 입력 단자들을 갖는 전압 비교기 수단; 상기 비교 기준 전압을 발생하도록 상기 외부 전원 전압을 분할하기 위해 상기 제1단자에 접속된 분압 수단 및 상기 전압 비교기 수단의 상기 제1입력 단자를 상기 출력 단자에 접속하고 상기 전압 비교기 수단의 상기 제2입력 단자를 상기 분압 수단에 접속하기 위한 배선 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제어 신호들이 상기 제1 및 제2캐패시터들의 교대의 충전 및 방전 주기 동안에 전연부 및 후연부에서 중첩되지 않도록 구성되는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 내부 회로가 판독 사이클의 전연부와 동기되는 프리챠지 제어 펄스에 응답하여 프리챠지 전압을 입력하기 위한 메모리 셀 어레이를 포함하는 대용량 동적 랜덤 억세스 메모리이로 상기 출력 단자는 상기 동적 랜덤 억세스 메모리의 감지 증폭기에 접속되고, 상기 제1단자와 상기 출력 단자 사이에 삽입되며 상기 프리챠지 제어 펄스에 응답하여 선택적으로 도전되는 제4스위치 소자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  5. 제2항에 있어서, 상기 내부 회로가 비교적 중(重)전류(heavy-current)에 의해 동작가능한 증부하 동작 주기 및 비교적 경(經)전류(light-current)에 의해 동작가능한 경부하 동작 주기를 포함하고 상기 출력 단자상의 출력 전압을 변화시키기 쉬운 대용량 동적 랜덤 억세스 메모리의 회로이고, 상기 출력 전압을 비교 기준 전압보다 낮은 추가 비교 기준 전압과 비교하기 위한 추가 전압 비교기 수단 및 상기 제1단자와 상기 출력 단자 사이에 삽입되고 상기 추가 전압 비교기 수단의 출력에 응답하여 선택적으로 도전되는 스위치 소자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  6. 제5항에 있어서, 상기 증부하 동작 주기 및 상기 경부하 동작 주기를 검출하기 위해서 상기 추가 전압 비교기 수단의 출력에 접속되고 상기 추가 전압 비교기 수단의 출력에 나타나는 펄스 출력의 반복 주파수를 검출하는 주파수 카운터 및 상기 주파수 카운터의 출력에 응답하여 선택적으로 동작 상태가 되고 상기 출력이 상기 스위치 소자에 공급되도록 상기 추가 전압 비교기 수단을 제어하기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  7. 제2항에 있어서, 상기 제어 신호 발생 수단이 1쌍의 입력 단자들 중 한 단자에서 상기 전압 비교기 수단의 출력을 입력하기 위한 제1쌍안정 회로, 1쌍의 입력 단자들에서 상기 제1쌍안정 회로의 1쌍의 출력들을 입력시키고 접속 제어 신호로서 상기 출력들을 상기 분압 수단에 공급하는 제2쌍안정 회로 및 상기 접속 제어 신호에 지연을 제공하고 펄스폭 변환을 실행하여 펄스폭 변환 신호를 상기 제1쌍안정 회로의 상기 1쌍의 입력 단자들 중 다른 입력 단자에 공급하는 논리 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  8. 제2항에 있어서, 상기 전압 비교기 수단의 출력에 접속되어, 예정된 지연을 상기 접속 제어 신호에 제공하기 위한 지연 접속 제어 신호를 출력하는 1개 이상의 지연 회로 및 상기 분압기 회로와 동일한 구성을 갖고 있으며, 상기 분압기 회로의 대응하는 상기 제1 및 출력 단자들에 접속된 제1 및 제2단자들을 포함하고, 상기 분압기 회로의 제어 신호 발생 수단에 대응하는 제어 신호 발생 수단에 의해 상기 지연 접속 제어 신호를 입력하는 1개 이상의 종속 분압기 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
  9. 제8항에 있어서, 3개의 지연 회로들과 3개의 종속 분압기 회로들이 제공되는 것을 특징으로 하는 전압 강하 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940002422A 1993-02-10 1994-02-08 반도체 집적 회로 칩 내장형 전압 강하 회로 KR970010643B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP93-022232 1993-02-10
JP5022232A JP2500422B2 (ja) 1993-02-10 1993-02-10 半導体icチップ内蔵用の降圧回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940020412A true KR940020412A (ko) 1994-09-16
KR970010643B1 KR970010643B1 (ko) 1997-06-28

Family

ID=12077054

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940002422A KR970010643B1 (ko) 1993-02-10 1994-02-08 반도체 집적 회로 칩 내장형 전압 강하 회로

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5457421A (ko)
EP (1) EP0610939B1 (ko)
JP (1) JP2500422B2 (ko)
KR (1) KR970010643B1 (ko)
DE (1) DE69401363T2 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100691351B1 (ko) * 2005-07-25 2007-03-12 삼성전자주식회사 반도체 집적회로

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4443690A1 (de) * 1994-12-08 1996-06-20 Martin Prof Dr Poppe Monolithische integrierbare Schaltung zur Gleichspannungswandlung
US5764094A (en) * 1995-06-02 1998-06-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Level shift circuit for analog signal and signal waveform generator including the same
US5764580A (en) * 1995-08-18 1998-06-09 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit
US5831910A (en) * 1995-08-18 1998-11-03 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit utilizing overdriven differential amplifiers
US5719524A (en) * 1995-10-11 1998-02-17 Telcom Semiconductor, Inc. Circuit having an input terminal for controlling two functions
US5856918A (en) * 1995-11-08 1999-01-05 Sony Corporation Internal power supply circuit
JP3591107B2 (ja) * 1996-01-19 2004-11-17 富士通株式会社 電源降圧回路及び半導体装置
AU6155698A (en) * 1997-02-11 1998-08-26 Foxboro Company, The Current converter and system
US6194944B1 (en) * 1999-04-29 2001-02-27 National Semiconductor Corporation Input structure for I/O device
US6310789B1 (en) * 1999-06-25 2001-10-30 The Procter & Gamble Company Dynamically-controlled, intrinsically regulated charge pump power converter
JP3773718B2 (ja) * 1999-09-20 2006-05-10 株式会社東芝 半導体集積回路
DE60123027T2 (de) * 2000-03-22 2007-01-11 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois, Chicago Dynamisch kontrollierter Ladungspumpenleistungswandler mit Ultrakondensator
JP2002042459A (ja) * 2000-07-26 2002-02-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
EP1178585A2 (en) * 2000-08-04 2002-02-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Power source system
KR100675273B1 (ko) * 2001-05-17 2007-01-26 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 전압 레벨 및 지연 시간 조절회로
JP3927788B2 (ja) * 2001-11-01 2007-06-13 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
DK1367702T3 (da) * 2002-05-27 2008-12-01 Bernafon Ag Strömforsyningssystem
US7271646B2 (en) * 2002-09-30 2007-09-18 Magnetrol International, Inc. Loop powered process control instrument power supply
US6731232B1 (en) * 2002-12-27 2004-05-04 Analog Devices, Inc. Programmable input range SAR ADC
KR100699829B1 (ko) * 2004-12-09 2007-03-27 삼성전자주식회사 높은 슬루 레이트를 가지는 액정 표시 장치에 포함된 소스드라이버의 출력 버퍼 및 출력 버퍼의 제어 방법
US7764526B1 (en) * 2006-10-18 2010-07-27 Intersil Americas Inc. Hysteretic mode controller for capacitor voltage divider
US7612603B1 (en) * 2007-01-24 2009-11-03 Intersil Americas Inc. Switching frequency control of switched capacitor circuit using output voltage droop
KR100814824B1 (ko) * 2007-05-03 2008-03-20 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 표시 장치 및 그 구동 방법
US20090085617A1 (en) * 2007-09-27 2009-04-02 Infineon Technologies Ag Ramp voltage circuit
JP5130904B2 (ja) * 2007-12-21 2013-01-30 富士通セミコンダクター株式会社 電子回路装置及び電子回路装置の制御方法
US20150077170A1 (en) * 2013-09-13 2015-03-19 International Business Machines Corporation Efficient wakeup of power gated domains through charge sharing and recycling
US9423865B2 (en) 2013-09-13 2016-08-23 Globalfoundries Inc. Accelerating microprocessor core wake up via charge from capacitance tank without introducing noise on power grid of running microprocessor cores
US9389674B2 (en) 2013-09-13 2016-07-12 International Business Machines Corporation Predictively turning off a charge pump supplying voltage for overdriving gates of the power switch header in a microprocessor with power gating
US9298253B2 (en) 2013-09-13 2016-03-29 Globalfoundries Inc. Accelerating the microprocessor core wakeup by predictively executing a subset of the power-up sequence
JP7091113B2 (ja) * 2018-03-30 2022-06-27 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置、および半導体装置の制御方法
US20230057051A1 (en) * 2021-08-20 2023-02-23 Semiconductor Components Industries, Llc Self clocked low power doubling charge pump

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1073440B (it) * 1975-09-22 1985-04-17 Seiko Instr & Electronics Circuito elevatore di tensione realizzato in mos-fet
JPS5858863A (ja) * 1981-10-01 1983-04-07 Nec Corp スイツチド・キヤパシタ変成器
JPS6082061A (ja) * 1983-10-07 1985-05-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> スイツチド・キヤパシタ変成器
FR2553545B1 (fr) * 1983-10-14 1987-12-18 Efcis Integrateur exponentiel a constante de temps elevee, realise avec des capacites commutees
US4754226A (en) * 1983-11-02 1988-06-28 Stanford University Switched capacitor function generator
JPS60254650A (ja) * 1984-05-31 1985-12-16 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPS63121467A (ja) * 1986-11-07 1988-05-25 Sony Corp 内部降圧回路
JPH01298953A (ja) * 1988-05-26 1989-12-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電源装置
JPH0758593B2 (ja) * 1988-07-06 1995-06-21 松下電器産業株式会社 センスアップ回路
US4868908A (en) * 1988-10-18 1989-09-19 Ventritex Power supply down-conversion, regulation and low battery detection system
JPH03235657A (ja) * 1990-02-07 1991-10-21 Sumitomo Metal Ind Ltd Dc―dcコンバータ
US5184031A (en) * 1990-02-08 1993-02-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit
JP2557271B2 (ja) * 1990-04-06 1996-11-27 三菱電機株式会社 内部降圧電源電圧を有する半導体装置における基板電圧発生回路
JPH04222455A (ja) * 1990-12-20 1992-08-12 Nec Corp インタフェース回路
JPH04311898A (ja) * 1991-04-10 1992-11-04 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置
US5168174A (en) * 1991-07-12 1992-12-01 Texas Instruments Incorporated Negative-voltage charge pump with feedback control
JP3337241B2 (ja) * 1991-07-26 2002-10-21 テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド 改良型多重チャンネル・センサーインターフェース回路とその製造方法
JP2785548B2 (ja) * 1991-10-25 1998-08-13 日本電気株式会社 半導体メモリ
US5341050A (en) * 1992-03-20 1994-08-23 Hughes Aircraft Company Switched capacitor amplifier circuit operating without serially coupled amplifiers

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100691351B1 (ko) * 2005-07-25 2007-03-12 삼성전자주식회사 반도체 집적회로

Also Published As

Publication number Publication date
JP2500422B2 (ja) 1996-05-29
DE69401363T2 (de) 1997-07-31
KR970010643B1 (ko) 1997-06-28
DE69401363D1 (de) 1997-02-20
EP0610939A1 (en) 1994-08-17
EP0610939B1 (en) 1997-01-08
JPH06237575A (ja) 1994-08-23
US5457421A (en) 1995-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940020412A (ko) 반도체 집적 회로 칩 내장형 전압 강하 회로(Voltage Drop Circuit to be Built in Semiconductor IC Chip)
JP3917228B2 (ja) 半導体メモリ装置の昇圧電圧発生回路
CN1538453B (zh) 升压电源电路
KR100200922B1 (ko) 반도체 메모리장치의 펌핑전압발생기
KR20010087354A (ko) 반도체집적회로
KR950030161A (ko) 반도체 기억장치
JPH09312968A (ja) チャージポンプ回路
KR100587565B1 (ko) 챠지 펌프 회로 및 챠지 펌프 회로의 구동 방법
KR870009385A (ko) 반도체 집적회로 장치
US7492645B2 (en) Internal voltage generator for semiconductor memory device
EP0115140A2 (en) Decoder circuit
JP3285393B2 (ja) セルプレート電圧初期セットアップ回路
US5668711A (en) Electronic circuit for converting electrical energy, and a power supply installation making use thereof
KR100478866B1 (ko) 저전력발진기
CN1201331C (zh) 控制多电压发生器芯片中各电压发生器的电路
US20040130384A1 (en) Noise-reduced voltage boosting circuit
EP0685846B1 (en) Signal transmission method, signal transmission circuit, and semiconductor integrated circuit using the same
US5912564A (en) Voltage-boosting circuit with mode signal
US20060203594A1 (en) Large voltage generation in semiconductor memory device
KR100386864B1 (ko) 승압 회로
JP3292895B2 (ja) チャージポンプ回路
CN216134429U (zh) 一种促使电荷平衡及强化驱动能力的电荷帮浦电路
JPH01267892A (ja) 半導体記憶装置
JPH10215152A (ja) スイッチング用素子の駆動回路
KR200326694Y1 (ko) 내부전압 발생회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120924

Year of fee payment: 16

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130924

Year of fee payment: 17

EXPY Expiration of term