KR920018973A - 리세스드 채널 모오스 fet 제조방법 및 구조 - Google Patents

리세스드 채널 모오스 fet 제조방법 및 구조 Download PDF

Info

Publication number
KR920018973A
KR920018973A KR1019910004018A KR910004018A KR920018973A KR 920018973 A KR920018973 A KR 920018973A KR 1019910004018 A KR1019910004018 A KR 1019910004018A KR 910004018 A KR910004018 A KR 910004018A KR 920018973 A KR920018973 A KR 920018973A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
oxide
forming
recessed
depositing
gate
Prior art date
Application number
KR1019910004018A
Other languages
English (en)
Other versions
KR940004270B1 (ko
Inventor
이용훈
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, 금성일렉트론 주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019910004018A priority Critical patent/KR940004270B1/ko
Publication of KR920018973A publication Critical patent/KR920018973A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR940004270B1 publication Critical patent/KR940004270B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

리세스드 채널 모오스 FET 제조방법 및 구조
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 리세스도 채널 모오스 FET 구조도,
제4도는 (A)~(K)는 본 발명에 따른 리세스도 채널 모오스 FET의 제조공정도.

Claims (2)

  1. 실리콘 웨이퍼위에 옥사이드를 디포지션한후 폴리실리콘을 증착시키고 그위에 다시 옥사이드를 디포지션한 다음 실리콘 웨이퍼위의 옥사이드를 에치하는 공정과, 상기 공정에서 옥사이드를 에치한후 실리콘 에피텍셜층을 성장시키고 실리콘과 옥사이드를 에치한다음 그 자리에 게이트 옥사이드를 형성시키는 공정과, 상기 공정에서 게이트 옥사이드를 형성한후 불순물 이온주입하여 소오스/드레인을 형성하고 게이트 옥사이드를 에치한다음 게이트 폴리실리콘을 증착시키고 그다음 콘택을 형성하는 공정을 포함하여 리세스드-채널 모오스 FET를 제조하도록 하는 것을 특징으로 하는 리세스드-채널 모오드 FET 제조방법.
  2. 리세스드 채널 모오스 FET 구조에 있어서, 소오스/드레인 영역밑으로 게이트 채널이 형성되어 구성되는 것을 특징으로 하는 리세스도 채널 모오스 FET 구조.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임
KR1019910004018A 1991-03-14 1991-03-14 리세스드 채널 모오스 fet 제조방법 KR940004270B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910004018A KR940004270B1 (ko) 1991-03-14 1991-03-14 리세스드 채널 모오스 fet 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910004018A KR940004270B1 (ko) 1991-03-14 1991-03-14 리세스드 채널 모오스 fet 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920018973A true KR920018973A (ko) 1992-10-22
KR940004270B1 KR940004270B1 (ko) 1994-05-19

Family

ID=19312062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910004018A KR940004270B1 (ko) 1991-03-14 1991-03-14 리세스드 채널 모오스 fet 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR940004270B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100743652B1 (ko) * 2006-06-02 2007-07-30 주식회사 하이닉스반도체 Soi 소자의 제조방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100743652B1 (ko) * 2006-06-02 2007-07-30 주식회사 하이닉스반도체 Soi 소자의 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR940004270B1 (ko) 1994-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930001477A (ko) 모스패트의 제조 방법
KR920018973A (ko) 리세스드 채널 모오스 fet 제조방법 및 구조
KR930001485A (ko) Gldd 모스패트 제조방법
KR940016927A (ko) 트렌치(Trench) 구조를 이용한 수직 채널을 갖는 모스트랜지스터(MOS-FET) 제조방법
KR930005272A (ko) Ldd형 mos 트랜지스터 및 그의 제조방법
KR970054387A (ko) 모스트랜지스터 제조 방법
KR920013700A (ko) 소이 구조의 트랜지스터 제조방법
KR940016888A (ko) 트랜지스터 형성 방법
KR920007181A (ko) 앤-모스 ldd트랜지스터의 제조방법
KR920015632A (ko) 소이모스소자 제조방법
KR920011562A (ko) Ldd구조의 트랜지스터 제조방법
KR920017215A (ko) 실리콘 성장을 이용한 soi의 제조방법
KR950030381A (ko) 다결정실리콘 소오스, 드레인(source, drain)을 갖는 상보형 트랜지스터 및 그 제조방법
KR920013775A (ko) 트랜치 사용 트랜지스터 제조방법
KR930015081A (ko) 얕은 접합 모스패트 제조방법
KR910013475A (ko) 초대규모 집적회로 씨엠오에스 트랜지스터 제조방법
KR930005243A (ko) 얕은 접합을 이용한 트랜지스터의 구조 및 제조방법
KR930001478A (ko) 모스패트의 구조 및 제조 방법
KR920020606A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
KR960005895A (ko) 모스트랜지스터 제조방법
KR910001895A (ko) Ldd구조 반도체 장치의 제조방법
KR940010382A (ko) 트랜지스터 제조방법
KR920015592A (ko) Ldd구조의 트랜지스터 제조방법
KR910005483A (ko) 캐패시터 제조 방법
KR920013772A (ko) Mosfet 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030417

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee