KR920015371A - 반도체 집적회로 - Google Patents

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KR920015371A
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츠구오 고바야시
가즈타카 노가미
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아오이 죠이치
가부시키가이샤 도시바
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Abstract

내용 없음

Description

반도체 집적회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 반도체 집적회로의 일부를 나타낸 구성 설명도, 제2도는 본 발명의 제2실시예에 따른 반도체 집적회로의 일부를 나타낸 구성 설명도.

Claims (9)

  1. 각각의 워드선(5,6,33,52,62)이 연속적으로 설치된 복수개의 메모리블럭(10,31,32,32',55,65,91,92)과, 시분할로 입력되는 어드레스 신호를 각각 디코드하고, 상기 복수개의 메모리 블럭의 워드선의 일단측에 접속된 어드레스 디코더(38,38',48)및, 상기 복수개의 메모리 블럭의 임의의 메모리 블럭 상호간에서 각각 워드선에 삽입된 워드선 신호를 래치시키기 위한 워드선 래치회로(34,34',58)를 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 디코더는 복수개의 메모리 블럭에 공통으로 설치된 행디코더(48)와, 복수개의 메모리블럭의 열선택을 행하기 위한 열디코더(47,50,60)로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  3. 제1항에 있어서, 복수개의 인터페이스로부터의 어드레스 신호입력에 대응해서 설치된 복수개의 어드레스 버퍼회로(35,35',36,36',41∼44)와, 이 복수개의 어드레스 버퍼회로(35,35',36,36',41∼44)중 임의의 1개의 어드레스 버퍼회로로부터의 어드레스 신호를 선택하여 상기 디코더에 인가하는 어드레스 절환회로(37,37'45,46)를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 어드레스 절환회로용 제어신호 및 이것에 동기됨과 더불어 상기 어드레스 디코더의 동작에 필요한 시간에 대응하는 지연 타이밍을 갖는 상기 워드선 래치회로용 제어신호를 시분할로 생성해서 상기 각 메모리 블럭을 서로 다른 인터페이스로부터 억세스하도록 제어하는 제어회로(39,67,77,98)를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  5. 제1항에 있어서, 상기 각 메모리 블럭은 각각 단일 포트 메모리셀(30,53,63)의 어레이를 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  6. 제1항에 있어서, 상기 복수개의 메모리 블럭은 이중 포트 메모리셀(7)의 어레이로 구성되어 있는 제1의 메모리 블럭(10)과, 이 제1의 메모리 블럭(10)의 제2계통에 대응해서 각각 워드선에 연속적으로 설치되되 각각 단일포트 메모리셀(13)의 어레이로 구성되어 있는 제2의 메모리 블럭(32,32')을 갖춘 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  7. 제3항에 있어서, 상기 메모리셀 어레이의 전단측의 메모리 블럭으로 부터 독출된 값을 논리처리하고, 이 처리 결과에 따라 후단측의 메모리 블럭으로 부터 독출/기록을 제어하는 논리회로(70)와, 상기 어드레스 절환회로용 제어신호와, 이것에 동기됨과 더불어 상기 어드레스 디코더의 동작에 필요한 시간에 거의 대응하는 지연 타이밍을 갖는 워드선 래치용 제어신호 및, 상기어드레스 절환회로용 제어신호에 동기됨과 더불어 상기 어드레스 디코더의 동작 및 메모리 블럭으로부터의 독출동작에 필요한 시간에 거의 대응하는 지연 타이밍을 갖는 논리회로용 제어신호를 시분할로 생성해서 상기 각 메모리 블럭을 서로 다른 인터페이스로부터 억세스하도록 제어하는 제어회로(77)를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로장치.
  8. 제3항에 있어서, 상기 어드레스 버퍼회로는 MPU버스(81) 및 시스템 버스(83)로부터 각각 입력되는 어드레스 신호에 대응해서 설치되고, 상기 복수개의 메모리 블럭은 1회의 메모리 억세스 사이클동안에 시분할로 상기 MPU버스 및 상기 시스템 버스의 양쪽으로부터 억세스하는 것이 가능한 제1의 메모리 블럭(91)과, 상기 MPU버스(81)로부터의 억세스만이 가능한 제2의 메모리 블럭(92)을 갖춘 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제1의 메모리 블럭(91)은 캐시 메모리에서의 태그 어드래스·유효비트 데이터를 기억하기 위한 매모리 블럭이고, 상기 제2의 메모리 블럭(92)은 캐시 메모리에서의 캐시 데이터를 기억하기 위한 메모리 블럭이며, 상기 제1의 메모리 블럭(91)으로부터 독출된 값을 이용하여 비트신호를 생성하는 비교기·비트생성회로(95)와, 1회의 메모리 억세스 사이클동안에 시분할로 상기 MPU버스(81)와 시스템 버스(83)의 양쪽으로부터 상기 제1의 메모리 블럭(91)에 억세스함과 더불어 상기 MPU버스(81)로부터만 상기 제2의 메모리 블럭에 억세스 하도록 상기 어드레스 절환회로용 제어신호와 동기해서 상기 워드선 래치회로용 제어신호 및 상기 비교기·비트생성회로(95)용 제어신호를 시분할로 생성하여 제어하는 제어회로(98)를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100576450B1 (ko) * 1998-12-28 2006-08-23 주식회사 하이닉스반도체 동기식 메모리의 데이타 액세스장치

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5559990A (en) * 1992-02-14 1996-09-24 Advanced Micro Devices, Inc. Memories with burst mode access
EP0559213B1 (en) * 1992-03-05 1999-09-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device
JP2892216B2 (ja) * 1992-05-22 1999-05-17 株式会社東芝 半導体メモリ
JPH0628846A (ja) * 1992-07-09 1994-02-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH06275095A (ja) * 1993-03-18 1994-09-30 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置及び冗長アドレス書込方法
JPH06349281A (ja) * 1993-06-04 1994-12-22 Fujitsu Ltd 半導体装置
US5414824A (en) * 1993-06-30 1995-05-09 Intel Corporation Apparatus and method for accessing a split line in a high speed cache
US5473561A (en) * 1994-09-15 1995-12-05 Motorola Inc. BICMOS cache TAG having ECL reduction circuit with CMOS output
US5448523A (en) * 1994-09-15 1995-09-05 Motorola Inc. BICMOS cache TAG having small signal exclusive OR for TAG comparison
US5699315A (en) * 1995-03-24 1997-12-16 Texas Instruments Incorporated Data processing with energy-efficient, multi-divided module memory architectures
KR100214262B1 (ko) * 1995-10-25 1999-08-02 김영환 메모리 장치
US5774413A (en) * 1996-12-12 1998-06-30 Cypress Semiconductor Corporation Sensed wordline driver
US5867430A (en) * 1996-12-20 1999-02-02 Advanced Micro Devices Inc Bank architecture for a non-volatile memory enabling simultaneous reading and writing
US5847998A (en) * 1996-12-20 1998-12-08 Advanced Micro Devices, Inc. Non-volatile memory array that enables simultaneous read and write operations
US5841696A (en) * 1997-03-05 1998-11-24 Advanced Micro Devices, Inc. Non-volatile memory enabling simultaneous reading and writing by time multiplexing a decode path
JP3821621B2 (ja) * 1999-11-09 2006-09-13 株式会社東芝 半導体集積回路
US6388942B1 (en) * 2000-09-28 2002-05-14 Cypress Semiconductor Corp. Deep pipe synchronous SRAM
US6584034B1 (en) * 2001-04-23 2003-06-24 Aplus Flash Technology Inc. Flash memory array structure suitable for multiple simultaneous operations
KR100401508B1 (ko) * 2001-05-25 2003-10-17 주식회사 하이닉스반도체 램버스 디램의 뱅크 제어회로
US6594194B2 (en) * 2001-07-11 2003-07-15 Sun Microsystems, Inc. Memory array with common word line
US7151709B2 (en) * 2004-08-16 2006-12-19 Micron Technology, Inc. Memory device and method having programmable address configurations
JP4195427B2 (ja) * 2004-08-31 2008-12-10 株式会社東芝 半導体記憶装置
US8072834B2 (en) 2005-08-25 2011-12-06 Cypress Semiconductor Corporation Line driver circuit and method with standby mode of operation
US7196963B1 (en) * 2005-10-17 2007-03-27 Lattice Semiconductor Corporation Address isolation for user-defined configuration memory in programmable devices
KR20080067506A (ko) * 2007-01-16 2008-07-21 삼성전자주식회사 공유 어드레스 포트를 이용하여 메모리 어레이를 액세스할수 있는 메모리 시스템 및 그것의 액세스 방법
US8238157B1 (en) * 2009-04-12 2012-08-07 Apple Inc. Selective re-programming of analog memory cells
US9471484B2 (en) * 2012-09-19 2016-10-18 Novachips Canada Inc. Flash memory controller having dual mode pin-out
US10607659B2 (en) * 2018-04-23 2020-03-31 Arm Limited Method, system and device for integration of bitcells in a volatile memory array and bitcells in a non-volatile memory array
CN112204664B (zh) 2018-05-29 2024-04-02 美光科技公司 用于设置用于改进时钟工作循环的工作循环调整器的设备及方法
US10715127B2 (en) 2018-11-21 2020-07-14 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for using look-ahead duty cycle correction to determine duty cycle adjustment values while a semiconductor device remains in operation
US11189334B2 (en) 2018-11-21 2021-11-30 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for a multi-bit duty cycle monitor
US11250895B1 (en) * 2020-11-04 2022-02-15 Qualcomm Incorporated Systems and methods for driving wordlines using set-reset latches

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4525777A (en) * 1981-08-03 1985-06-25 Honeywell Information Systems Inc. Split-cycle cache system with SCU controlled cache clearing during cache store access period
KR960001106B1 (ko) * 1986-12-17 1996-01-18 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 반도체 메모리
JP2714944B2 (ja) * 1987-08-05 1998-02-16 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
US4833649A (en) * 1987-09-08 1989-05-23 Tektronix, Inc. Multiple port random access memory
US5179687A (en) * 1987-09-26 1993-01-12 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device containing a cache and an operation method thereof
US4933910A (en) * 1988-07-06 1990-06-12 Zenith Data Systems Corporation Method for improving the page hit ratio of a page mode main memory system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100576450B1 (ko) * 1998-12-28 2006-08-23 주식회사 하이닉스반도체 동기식 메모리의 데이타 액세스장치

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Publication number Publication date
KR950014904B1 (ko) 1995-12-16
US5241510A (en) 1993-08-31
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