JPH06349281A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH06349281A JPH06349281A JP5134973A JP13497393A JPH06349281A JP H06349281 A JPH06349281 A JP H06349281A JP 5134973 A JP5134973 A JP 5134973A JP 13497393 A JP13497393 A JP 13497393A JP H06349281 A JPH06349281 A JP H06349281A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- read
- bit line
- memory cell
- address
- memory cells
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/16—Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】1個のアドレスに対するデータの書込みと、他
の2個のアドレスからのデータの読出しとを同時に行う
ことができる記憶回路部を備えて構成される半導体装
置、例えば、ワンチップ・マイクロコンピュータに関
し、メモリセルの面積を縮小化し、チップ面積の縮小化
を図る。 【構成】ライト・セレクタ53を介して書込みの対象と
する1個のアドレスを選択し、リード・セレクタ55、
57を介して読出しの対象とする2個のアドレスを選択
する。
の2個のアドレスからのデータの読出しとを同時に行う
ことができる記憶回路部を備えて構成される半導体装
置、例えば、ワンチップ・マイクロコンピュータに関
し、メモリセルの面積を縮小化し、チップ面積の縮小化
を図る。 【構成】ライト・セレクタ53を介して書込みの対象と
する1個のアドレスを選択し、リード・セレクタ55、
57を介して読出しの対象とする2個のアドレスを選択
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ワンチップ・マイクロ
コンピュータ等に適用して好適な半導体装置に関する。
コンピュータ等に適用して好適な半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば、ワンチップ・マイクロコ
ンピュータとして、図19に、そのブロック図を示すよ
うなものが知られている。
ンピュータとして、図19に、そのブロック図を示すよ
うなものが知られている。
【0003】図中、1はチップ本体、2はCPU(cent
ral processing unit)、3は主としてプログラムの格
納に使用されるROM(read only memory)、4は主と
してデータの一時的格納に使用されるRAM(random ac
cess memory)、5はA/Dコンバータや、D/Aコンバ
ータ等の周辺回路、6はI/Oポート(入出力回路)で
ある。
ral processing unit)、3は主としてプログラムの格
納に使用されるROM(read only memory)、4は主と
してデータの一時的格納に使用されるRAM(random ac
cess memory)、5はA/Dコンバータや、D/Aコンバ
ータ等の周辺回路、6はI/Oポート(入出力回路)で
ある。
【0004】ここに、CPU2は、図20にその要部を
示すように構成されている。図中、7は取り出すべき命
令のアドレスを出力するプログラム・カウンタ(P
C)、8は取り出した命令を格納するインストラクショ
ン・レジスタ(IR)である。
示すように構成されている。図中、7は取り出すべき命
令のアドレスを出力するプログラム・カウンタ(P
C)、8は取り出した命令を格納するインストラクショ
ン・レジスタ(IR)である。
【0005】また、9はインストラクション・レジスタ
8に格納された命令をデコードする命令デコーダ(DE
C)、10はノートとして使用されるデータ・レジスタ
(DR)、11は算術演算及び論理演算を行う算術論理
演算回路(ALU)である。
8に格納された命令をデコードする命令デコーダ(DE
C)、10はノートとして使用されるデータ・レジスタ
(DR)、11は算術演算及び論理演算を行う算術論理
演算回路(ALU)である。
【0006】また、12、13はデータ・レジスタ10
から読み出されたリード・データが出力されるリード・
バス、14はデータ・レジスタ10に対するライト・デ
ータの供給に使用されるライト・バスである。
から読み出されたリード・データが出力されるリード・
バス、14はデータ・レジスタ10に対するライト・デ
ータの供給に使用されるライト・バスである。
【0007】ここに、データ・レジスタ10は、図21
にその要部を示すように構成されている。図中、1511
〜1545はメモリセル、WL11、WL21、WL31、WL
41は書込み用のワード線、WL12、WL22、WL32、W
L42、WL13、WL23、WL 33、WL43は読出し用のワ
ード線である。
にその要部を示すように構成されている。図中、1511
〜1545はメモリセル、WL11、WL21、WL31、WL
41は書込み用のワード線、WL12、WL22、WL32、W
L42、WL13、WL23、WL 33、WL43は読出し用のワ
ード線である。
【0008】また、BL11、BL12、BL21、BL22、
BL31、BL32、BL41、BL42、BL51、BL52は書
込み用のビット線、BL13、BL14、BL23、BL24、
BL 33、BL34、BL43、BL44、BL53、BL54は読
出し用のビット線である。
BL31、BL32、BL41、BL42、BL51、BL52は書
込み用のビット線、BL13、BL14、BL23、BL24、
BL 33、BL34、BL43、BL44、BL53、BL54は読
出し用のビット線である。
【0009】ここに、メモリセル1511〜1545は、同
一の回路構成とされており、メモリセル1511を代表し
て示すと、図22に示すように、いわゆるSRAM(st
aticrandom access memory)セルにより構成されてい
る。
一の回路構成とされており、メモリセル1511を代表し
て示すと、図22に示すように、いわゆるSRAM(st
aticrandom access memory)セルにより構成されてい
る。
【0010】図中、16は2個のインバータ17、18
をリング状に接続してなるフリップ・フロップ、19、
20は書込み用のトランスファ・ゲートをなすnMOS
トランジスタ、21、22は読出し用のトランスファ・
ゲートをなすnMOSトランジスタである。
をリング状に接続してなるフリップ・フロップ、19、
20は書込み用のトランスファ・ゲートをなすnMOS
トランジスタ、21、22は読出し用のトランスファ・
ゲートをなすnMOSトランジスタである。
【0011】このメモリセル1511に対して書込みが行
われる場合には、ワード線WL11=「H」、ワード線W
L12、WL13=「L」で、nMOSトランジスタ19、
20=ON、nMOSトランジスタ21、22=OFF
とされると共に、書込むべきデータの値により、ビット
線BL11、BL12の一方が「H」、他方が「L」とされ
る。
われる場合には、ワード線WL11=「H」、ワード線W
L12、WL13=「L」で、nMOSトランジスタ19、
20=ON、nMOSトランジスタ21、22=OFF
とされると共に、書込むべきデータの値により、ビット
線BL11、BL12の一方が「H」、他方が「L」とされ
る。
【0012】また、このメモリセル1511の記憶データ
がビット線BL13を介して読み出される場合には、負荷
を介してビット線BL13=「H」にリセットされると共
に、ワード線WL11、WL13=「L」、ワード線WL12
=「H」で、nMOSトランジスタ19、20、22=
OFF、nMOSトランジスタ21=ONとされ、ビッ
ト線BL13の電圧が検出される。
がビット線BL13を介して読み出される場合には、負荷
を介してビット線BL13=「H」にリセットされると共
に、ワード線WL11、WL13=「L」、ワード線WL12
=「H」で、nMOSトランジスタ19、20、22=
OFF、nMOSトランジスタ21=ONとされ、ビッ
ト線BL13の電圧が検出される。
【0013】また、このメモリセル1511の記憶データ
がビット線BL14を介して読み出される場合には、負荷
を介してビット線BL14=「H」にリセットされると共
に、ワード線WL11、WL12=「L」、ワード線WL13
=「H」で、nMOSトランジスタ19、20、21=
OFF、nMOSトランジスタ22=ONとされ、ビッ
ト線BL14の電圧が検出される。
がビット線BL14を介して読み出される場合には、負荷
を介してビット線BL14=「H」にリセットされると共
に、ワード線WL11、WL12=「L」、ワード線WL13
=「H」で、nMOSトランジスタ19、20、21=
OFF、nMOSトランジスタ22=ONとされ、ビッ
ト線BL14の電圧が検出される。
【0014】また、図21において、23は書込み用の
ワード線WL11、WL21、WL31、WL41の選択を行う
アドレス・デコーダ、24は読出し用のワード線W
L12、WL22、WL32、WL42の選択を行うアドレス・
デコーダ、25は読出し用のワード線WL13、WL23、
WL33、WL43の選択を行うアドレス・デコーダであ
る。
ワード線WL11、WL21、WL31、WL41の選択を行う
アドレス・デコーダ、24は読出し用のワード線W
L12、WL22、WL32、WL42の選択を行うアドレス・
デコーダ、25は読出し用のワード線WL13、WL23、
WL33、WL43の選択を行うアドレス・デコーダであ
る。
【0015】また、26は書込み用のビット線BL11、
BL12、BL21、BL22、BL31、BL32、BL41、B
L42、BL51、BL52を選択して書込みを行うためのラ
イト・セレクタ、27は命令デコーダ9から供給される
制御信号をデコードしてライト・セレクタ26の選択動
作を制御するデコーダである。
BL12、BL21、BL22、BL31、BL32、BL41、B
L42、BL51、BL52を選択して書込みを行うためのラ
イト・セレクタ、27は命令デコーダ9から供給される
制御信号をデコードしてライト・セレクタ26の選択動
作を制御するデコーダである。
【0016】また、28は読出し用のビット線BL13、
BL23、BL33、BL43、BL53を選択して読出しを行
うためのリード・セレクタ、29は命令デコーダ9から
供給される制御信号をデコードしてリード・セレクタ2
8の選択動作を制御するデコーダである。
BL23、BL33、BL43、BL53を選択して読出しを行
うためのリード・セレクタ、29は命令デコーダ9から
供給される制御信号をデコードしてリード・セレクタ2
8の選択動作を制御するデコーダである。
【0017】また、30は読出し用のビット線BL14、
BL24、BL34、BL44、BL54を選択して読出しを行
うためのリード・セレクタ、31は命令デコーダ9から
供給される制御信号をデコードしてリード・セレクタ3
0の選択動作を制御するデコーダである。
BL24、BL34、BL44、BL54を選択して読出しを行
うためのリード・セレクタ、31は命令デコーダ9から
供給される制御信号をデコードしてリード・セレクタ3
0の選択動作を制御するデコーダである。
【0018】かかるデータ・レジスタ10においては、
同一行(アドレス・デコーダ23〜25から見た同一ア
ドレス)については、2本以上のワード線が同時に選択
されないことを条件として、ライト・セレクタ26を介
しての書込みと、リード・セレクタ28、30を介して
のリードとを同時に行うことができる。
同一行(アドレス・デコーダ23〜25から見た同一ア
ドレス)については、2本以上のワード線が同時に選択
されないことを条件として、ライト・セレクタ26を介
しての書込みと、リード・セレクタ28、30を介して
のリードとを同時に行うことができる。
【0019】例えば、ライト・セレクタ26を介しての
0番地のメモリセル1511〜1515に対する書込みと、
リード・セレクタ28を介しての1番地のメモリセル1
521〜1525からの読出しと、リード・セレクタ30を
介しての2番地のメモリセル1531〜1535からの読出
しとを同時に行うことができる。
0番地のメモリセル1511〜1515に対する書込みと、
リード・セレクタ28を介しての1番地のメモリセル1
521〜1525からの読出しと、リード・セレクタ30を
介しての2番地のメモリセル1531〜1535からの読出
しとを同時に行うことができる。
【0020】なお、このような、いわゆる1ライト・2
リード動作は、命令をパイプライン処理する場合に必要
とされる。
リード動作は、命令をパイプライン処理する場合に必要
とされる。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】ここに、図22に示す
メモリセルは、トランスファ・ゲートをなすnMOSト
ランジスタとして4個のnMOSトランジスタ19〜2
2を設けているため、このようなメモリセルを配列させ
ているデータ・レジスタ10は、その占有面積が大きく
なり、その分、チップ面積の増大を招いてしまうという
問題点があった。
メモリセルは、トランスファ・ゲートをなすnMOSト
ランジスタとして4個のnMOSトランジスタ19〜2
2を設けているため、このようなメモリセルを配列させ
ているデータ・レジスタ10は、その占有面積が大きく
なり、その分、チップ面積の増大を招いてしまうという
問題点があった。
【0022】本発明は、かかる点に鑑み、一又は複数の
アドレスに対するデータの書込みと、一又は複数のアド
レスからのデータの読出しとを同時に行うことができる
記憶回路部を備えて構成される半導体装置であって、メ
モリセルの面積を縮小化し、チップ面積の縮小化を図る
ことができるようにした半導体装置を提供することを目
的とする。
アドレスに対するデータの書込みと、一又は複数のアド
レスからのデータの読出しとを同時に行うことができる
記憶回路部を備えて構成される半導体装置であって、メ
モリセルの面積を縮小化し、チップ面積の縮小化を図る
ことができるようにした半導体装置を提供することを目
的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体装置
は、第1、第2のデータ入出力端を、それぞれ、対をな
す一方及び他方のビット線に接続し、書込みは前記一方
及び他方のビット線を介して行われ、読出しは前記一方
のビット線を介して行われるメモリセルを複数個ずつグ
ループ化して異なるアドレスを付し、同一のワード線を
共用するように配列してなるメモリセル列と、書込みの
対象とされたアドレスのメモリセルに接続されている一
方及び他方のビット線の電位を制御することによって書
込みを行う一又は複数の書込み回路と、読出しの対象と
されたアドレスのメモリセルに接続されている一方のビ
ット線の電位を検出することによって読出しを行う一又
は複数の読出し回路とを含めて構成するというものであ
る。
は、第1、第2のデータ入出力端を、それぞれ、対をな
す一方及び他方のビット線に接続し、書込みは前記一方
及び他方のビット線を介して行われ、読出しは前記一方
のビット線を介して行われるメモリセルを複数個ずつグ
ループ化して異なるアドレスを付し、同一のワード線を
共用するように配列してなるメモリセル列と、書込みの
対象とされたアドレスのメモリセルに接続されている一
方及び他方のビット線の電位を制御することによって書
込みを行う一又は複数の書込み回路と、読出しの対象と
されたアドレスのメモリセルに接続されている一方のビ
ット線の電位を検出することによって読出しを行う一又
は複数の読出し回路とを含めて構成するというものであ
る。
【0024】
【作用】本発明においては、第1、第2のデータ入出力
端を、それぞれ、対をなす一方及び他方のビット線に接
続し、書込みは前記第1、第2のビット線を介して行わ
れ、読出しは前記第1のビット線を介して行われるメモ
リセルを設け、従来例のように、書込み用のワード線
と、読出し用のワード線とを別個に設けると共に、書込
み用のビット線と、読出し用のビット線とを別個に設け
ることが必要とされるメモリセルは設けていない。
端を、それぞれ、対をなす一方及び他方のビット線に接
続し、書込みは前記第1、第2のビット線を介して行わ
れ、読出しは前記第1のビット線を介して行われるメモ
リセルを設け、従来例のように、書込み用のワード線
と、読出し用のワード線とを別個に設けると共に、書込
み用のビット線と、読出し用のビット線とを別個に設け
ることが必要とされるメモリセルは設けていない。
【0025】しかし、第1、第2のデータ入出力端を、
それぞれ、対をなす一方及び他方のビット線に接続し、
書込みは前記第1、第2のビット線を介して行われ、読
出しは前記第1のビット線を介して行われるメモリセル
を複数個ずつグループ化して異なるアドレスを付し、同
一のワード線を共用するように配列すると共に、書込み
の対象とされたアドレスのメモリセルに接続されている
一方及び他方のビット線の電位を制御することによって
書込みを行う一又は複数の書込み回路と、読出しの対象
とされたアドレスのメモリセルに接続されている一方の
電位を検出することによって読出しを行う一又は複数の
読出し回路とを設けるようにしているので、一又は複数
のアドレスに対する書込みと、書込みの対象とされたア
ドレスと異なる一又は複数のアドレスに対する読出しと
を同時に行うことができる。
それぞれ、対をなす一方及び他方のビット線に接続し、
書込みは前記第1、第2のビット線を介して行われ、読
出しは前記第1のビット線を介して行われるメモリセル
を複数個ずつグループ化して異なるアドレスを付し、同
一のワード線を共用するように配列すると共に、書込み
の対象とされたアドレスのメモリセルに接続されている
一方及び他方のビット線の電位を制御することによって
書込みを行う一又は複数の書込み回路と、読出しの対象
とされたアドレスのメモリセルに接続されている一方の
電位を検出することによって読出しを行う一又は複数の
読出し回路とを設けるようにしているので、一又は複数
のアドレスに対する書込みと、書込みの対象とされたア
ドレスと異なる一又は複数のアドレスに対する読出しと
を同時に行うことができる。
【0026】なお、第1、第2のデータ入出力端を、そ
れぞれ、対をなす一方及び他方のビット線に接続し、書
込みは前記一方及び他方のビット線を介して行われ、読
出しは前記第1のビット線を介して行われるメモリセル
を複数個ずつグループ化して異なるアドレスを付し、そ
れぞれ、同一のワード線を共用するように配列してなる
複数のメモリセル列と、書込みの対象とされたアドレス
のメモリセルに接続されている一方及び他方のビット線
の電位を制御することによって書込みを行う一又は複数
の書込み回路と、読出しの対象とされたアドレスのメモ
リセルに接続されている一方のビット線の電位を検出す
ることによって読出しを行う一又は複数の読出し回路と
を設けるようにしても、一又は複数のアドレスに対する
書込みと、書込みの対象とされたアドレスと異なる一又
は複数のアドレスに対する読出しとを同時に行うことが
できる。
れぞれ、対をなす一方及び他方のビット線に接続し、書
込みは前記一方及び他方のビット線を介して行われ、読
出しは前記第1のビット線を介して行われるメモリセル
を複数個ずつグループ化して異なるアドレスを付し、そ
れぞれ、同一のワード線を共用するように配列してなる
複数のメモリセル列と、書込みの対象とされたアドレス
のメモリセルに接続されている一方及び他方のビット線
の電位を制御することによって書込みを行う一又は複数
の書込み回路と、読出しの対象とされたアドレスのメモ
リセルに接続されている一方のビット線の電位を検出す
ることによって読出しを行う一又は複数の読出し回路と
を設けるようにしても、一又は複数のアドレスに対する
書込みと、書込みの対象とされたアドレスと異なる一又
は複数のアドレスに対する読出しとを同時に行うことが
できる。
【0027】
【実施例】以下、図1〜図18を参照して、本発明の第
1実施例及び第2実施例について、本発明をワンチップ
・マイクロコンピュータに適用した場合を例にして説明
する。
1実施例及び第2実施例について、本発明をワンチップ
・マイクロコンピュータに適用した場合を例にして説明
する。
【0028】第1実施例・・図1〜図16 図1は本発明の第1実施例の要部を示す回路図であり、
本発明を適用して構成されたワンチップ・マイクロコン
ピュータの一例におけるCPU内に設けられているデー
タ・レジスタの部分を示している。
本発明を適用して構成されたワンチップ・マイクロコン
ピュータの一例におけるCPU内に設けられているデー
タ・レジスタの部分を示している。
【0029】図中、32〜35はアドレスを0番地とさ
れているメモリセル、36〜39はアドレスを1番地と
されているメモリセル、40〜43はアドレスを2番地
とされているメモリセル、44〜47はアドレスを3番
地とされているメモリセル、WLはワード線、BL1、
/BL1〜BL16、/BL16はビット線である。
れているメモリセル、36〜39はアドレスを1番地と
されているメモリセル、40〜43はアドレスを2番地
とされているメモリセル、44〜47はアドレスを3番
地とされているメモリセル、WLはワード線、BL1、
/BL1〜BL16、/BL16はビット線である。
【0030】ここに、メモリセル32〜47は、同一の
回路構成とされており、メモリセル32を代表して示す
と、図2に示すようなSRAMセルにより構成されてい
る。
回路構成とされており、メモリセル32を代表して示す
と、図2に示すようなSRAMセルにより構成されてい
る。
【0031】図中、48は2個のインバータ49、50
をリング状に接続してなるフリップ・フロップ、51、
52はトランスファ・ゲートをなすnMOSトランジス
タである。
をリング状に接続してなるフリップ・フロップ、51、
52はトランスファ・ゲートをなすnMOSトランジス
タである。
【0032】このメモリセル32に対して書込みが行わ
れる場合、ワード線WL=「H」で、nMOSトランジ
スタ51、52=ONとされると共に、書込むべきデー
タの値により、ビット線BL1、/BL1の一方が
「H」、他方が「L」とされる。
れる場合、ワード線WL=「H」で、nMOSトランジ
スタ51、52=ONとされると共に、書込むべきデー
タの値により、ビット線BL1、/BL1の一方が
「H」、他方が「L」とされる。
【0033】また、このメモリセル32の記憶データが
読み出される場合には、負荷(図示せず)を介してビッ
ト線BL1、/BL1=「H」にリセットされると共に、
ワード線WL=「H」で、nMOSトランジスタ51、
52=ONとされ、ビット線BL1の電圧が検出され
る。
読み出される場合には、負荷(図示せず)を介してビッ
ト線BL1、/BL1=「H」にリセットされると共に、
ワード線WL=「H」で、nMOSトランジスタ51、
52=ONとされ、ビット線BL1の電圧が検出され
る。
【0034】また、図1において、53は書込みを行う
べきアドレスのメモリセルに接続されているビット線を
選択してデータの書込みを行うライト・セレクタ、54
は命令デコーダから供給されるアドレス信号をデコード
してライト・セレクタ53の選択動作を制御するアドレ
ス・デコーダである。
べきアドレスのメモリセルに接続されているビット線を
選択してデータの書込みを行うライト・セレクタ、54
は命令デコーダから供給されるアドレス信号をデコード
してライト・セレクタ53の選択動作を制御するアドレ
ス・デコーダである。
【0035】また、55は読出しを行うべきアドレスの
メモリセルに接続されているビット線を選択してデータ
の読出しを行うリード・セレクタ、56は命令デコーダ
から供給されるアドレス信号をデコードしてリード・セ
レクタ55の選択動作を制御するアドレス・デコーダで
ある。
メモリセルに接続されているビット線を選択してデータ
の読出しを行うリード・セレクタ、56は命令デコーダ
から供給されるアドレス信号をデコードしてリード・セ
レクタ55の選択動作を制御するアドレス・デコーダで
ある。
【0036】また、57は読出しを行うべきアドレスの
メモリセルに接続されているビット線を選択してデータ
の読出しを行うリード・セレクタ、58は命令デコーダ
から供給されるアドレス信号をデコードしてリード・セ
レクタ57の選択動作を制御するアドレス・デコーダで
ある。
メモリセルに接続されているビット線を選択してデータ
の読出しを行うリード・セレクタ、58は命令デコーダ
から供給されるアドレス信号をデコードしてリード・セ
レクタ57の選択動作を制御するアドレス・デコーダで
ある。
【0037】また、59はライト・データをライト・セ
レクタ53に供給するライト・バス、60はリード・セ
レクタ55を介して読み出されたリード・データが送出
されるリード・バス、61はリード・セレクタ57を介
して読み出されたデータが送出されるリード・バスであ
る。
レクタ53に供給するライト・バス、60はリード・セ
レクタ55を介して読み出されたリード・データが送出
されるリード・バス、61はリード・セレクタ57を介
して読み出されたデータが送出されるリード・バスであ
る。
【0038】ここに、図3〜図6はライト・セレクタ5
3の具体的構成を分図して示す回路図であり、これら図
3〜図6において、62、63は0番地のメモリセル3
2、33、34、35に接続されているビット線B
L1、/BL1、BL2、/BL2、BL3、/BL3、BL
4、/BL4を選択するためのビット線選択線である。
3の具体的構成を分図して示す回路図であり、これら図
3〜図6において、62、63は0番地のメモリセル3
2、33、34、35に接続されているビット線B
L1、/BL1、BL2、/BL2、BL3、/BL3、BL
4、/BL4を選択するためのビット線選択線である。
【0039】また、64、65は1番地のメモリセル3
6、37、38、39に接続されているビット線B
L5、/BL5、BL6、/BL6、BL7、/BL7、BL
8、/BL8を選択するためのビット線選択線である。
6、37、38、39に接続されているビット線B
L5、/BL5、BL6、/BL6、BL7、/BL7、BL
8、/BL8を選択するためのビット線選択線である。
【0040】また、66、67は2番地のメモリセル4
0、41、42、43に接続されているビット線B
L9、/BL9、BL10、/BL10、BL11、/BL11、
BL12、/BL12を選択するためのビット線選択線であ
る。
0、41、42、43に接続されているビット線B
L9、/BL9、BL10、/BL10、BL11、/BL11、
BL12、/BL12を選択するためのビット線選択線であ
る。
【0041】また、68、69は3番地のメモリセル4
4、45、46、47に接続されているビット線B
L13、/BL13、BL14、/BL14、BL15、/B
L15、BL16、/BL16を選択するためのビット線選択
線、70〜73はライト・バス59を構成するバス線で
ある。
4、45、46、47に接続されているビット線B
L13、/BL13、BL14、/BL14、BL15、/B
L15、BL16、/BL16を選択するためのビット線選択
線、70〜73はライト・バス59を構成するバス線で
ある。
【0042】また、図3において、74〜81はインバ
ータ、82〜89は伝送ゲート機能を付加されたCMO
S構成のインバータ、いわゆるクロックド・CMOS・
インバータ、図4において、90〜93はインバータ、
94〜101はクロックド・CMOS・インバータであ
る。
ータ、82〜89は伝送ゲート機能を付加されたCMO
S構成のインバータ、いわゆるクロックド・CMOS・
インバータ、図4において、90〜93はインバータ、
94〜101はクロックド・CMOS・インバータであ
る。
【0043】また、図5において、102〜105はイ
ンバータ、106〜113はクロックド・CMOS・イ
ンバータ、図6において、114〜117はインバー
タ、118〜125はクロックド・CMOS・インバー
タである。
ンバータ、106〜113はクロックド・CMOS・イ
ンバータ、図6において、114〜117はインバー
タ、118〜125はクロックド・CMOS・インバー
タである。
【0044】また、図7〜図10はリード・セレクタ5
5の具体的構成を分図して示す回路図であり、これら図
7〜図10において、126は0番地のメモリセル3
2、33、34、35に接続されているビット線B
L1、BL2、BL3、BL4を選択するためのビット線選
択線である。
5の具体的構成を分図して示す回路図であり、これら図
7〜図10において、126は0番地のメモリセル3
2、33、34、35に接続されているビット線B
L1、BL2、BL3、BL4を選択するためのビット線選
択線である。
【0045】また、127は1番地のメモリセル36、
37、38、39に接続されているビット線BL5、B
L6、BL7、BL8を選択するためのビット線選択線で
ある。
37、38、39に接続されているビット線BL5、B
L6、BL7、BL8を選択するためのビット線選択線で
ある。
【0046】また、128は2番地のメモリセル40、
41、42、43に接続されているビット線BL9、B
L10、BL11、BL12を選択するためのビット線選択線
である。
41、42、43に接続されているビット線BL9、B
L10、BL11、BL12を選択するためのビット線選択線
である。
【0047】また、129は3番地のメモリセル44、
45、46、47に接続されているビット線BL13、B
L14、BL15、BL16を選択するためのビット線選択
線、130〜133はリード・バス55を構成するバス
線である。
45、46、47に接続されているビット線BL13、B
L14、BL15、BL16を選択するためのビット線選択
線、130〜133はリード・バス55を構成するバス
線である。
【0048】また、図7において、134〜137はN
OR回路、138〜141はnMOSトランジスタ、図
8において、142〜145はNOR回路、146〜1
49はnMOSトランジスタである。
OR回路、138〜141はnMOSトランジスタ、図
8において、142〜145はNOR回路、146〜1
49はnMOSトランジスタである。
【0049】また、図9において、150〜153はN
OR回路、154〜157はnMOSトランジスタ、図
10において、158〜161はNOR回路、162〜
165はnMOSトランジスタである。
OR回路、154〜157はnMOSトランジスタ、図
10において、158〜161はNOR回路、162〜
165はnMOSトランジスタである。
【0050】また、図11〜図14はリード・セレクタ
57の具体的構成を分図して示す回路図であり、これら
図11〜図14において、166は0番地のメモリセル
32、33、34、35に接続されているビット線BL
1、BL2、BL3、BL4を選択するためのビット線選択
線である。
57の具体的構成を分図して示す回路図であり、これら
図11〜図14において、166は0番地のメモリセル
32、33、34、35に接続されているビット線BL
1、BL2、BL3、BL4を選択するためのビット線選択
線である。
【0051】また、167は1番地のメモリセル36、
37、38、39に接続されているビット線BL5、B
L6、BL7、BL8を選択するためのビット線選択線で
ある。
37、38、39に接続されているビット線BL5、B
L6、BL7、BL8を選択するためのビット線選択線で
ある。
【0052】また、168は2番地のメモリセル40、
41、42、43に接続されているビット線BL9、B
L10、BL11、BL12を選択するためのビット線選択線
である。
41、42、43に接続されているビット線BL9、B
L10、BL11、BL12を選択するためのビット線選択線
である。
【0053】また、169は3番地のメモリセル44、
45、46、47に接続されているビット線BL13、B
L14、BL15、BL16を選択するためのビット線選択
線、170〜173はリード・バス61を構成するバス
線である。
45、46、47に接続されているビット線BL13、B
L14、BL15、BL16を選択するためのビット線選択
線、170〜173はリード・バス61を構成するバス
線である。
【0054】また、図11において、174〜177は
NOR回路、178〜181はnMOSトランジスタ、
図12において、182〜185はNOR回路、186
〜189はnMOSトランジスタである。
NOR回路、178〜181はnMOSトランジスタ、
図12において、182〜185はNOR回路、186
〜189はnMOSトランジスタである。
【0055】また、図13において、190〜193は
NOR回路、194〜197はnMOSトランジスタ、
図14において、198〜201はNOR回路、202
〜205はnMOSトランジスタである。
NOR回路、194〜197はnMOSトランジスタ、
図14において、198〜201はNOR回路、202
〜205はnMOSトランジスタである。
【0056】ここに、図15は、ライト・セレクタ53
の動作を示す回路図であり、0番地のメモリセル32〜
35が選択された場合において、メモリセル32に
「H」、メモリセル33に「L」、メモリセル34に
「H」、メモリセル35に「L」が書き込まれる場合を
例にして示している。
の動作を示す回路図であり、0番地のメモリセル32〜
35が選択された場合において、メモリセル32に
「H」、メモリセル33に「L」、メモリセル34に
「H」、メモリセル35に「L」が書き込まれる場合を
例にして示している。
【0057】なお、メモリセル32〜35において、2
06〜208はフリップ・フロップであり、209〜2
14はインバータ、215〜220はnMOSトランジ
スタである。
06〜208はフリップ・フロップであり、209〜2
14はインバータ、215〜220はnMOSトランジ
スタである。
【0058】この場合、ワード線WL=「H」とされ、
nMOSトランジスタ51、52、215〜220な
ど、メモリセル32〜47のトランスファ・ゲートをな
すnMOSトランジスタ=ONとされると共に、バス線
70=「H」、バス線71=「L」、バス線72=
「H」、バス線73=「L」とされる。
nMOSトランジスタ51、52、215〜220な
ど、メモリセル32〜47のトランスファ・ゲートをな
すnMOSトランジスタ=ONとされると共に、バス線
70=「H」、バス線71=「L」、バス線72=
「H」、バス線73=「L」とされる。
【0059】また、ビット線選択線62=「H」、ビッ
ト線選択線63=「L」、ビット線選択線64=
「L」、ビット線選択線65=「H」、ビット線選択線
66=「L」、ビット線選択線67=「H」、ビット線
選択線68=「L」、ビット線選択線69=「H」とさ
れる。
ト線選択線63=「L」、ビット線選択線64=
「L」、ビット線選択線65=「H」、ビット線選択線
66=「L」、ビット線選択線67=「H」、ビット線
選択線68=「L」、ビット線選択線69=「H」とさ
れる。
【0060】即ち、クロックド・CMOS・インバータ
82〜89=活性とされると共に、クロックド・CMO
S・インバータ94〜101、106〜113、118
〜125=非活性とされ、0番地のメモリセル32〜3
5=選択、1〜3番地のメモリセル36〜47=非選択
とされる。
82〜89=活性とされると共に、クロックド・CMO
S・インバータ94〜101、106〜113、118
〜125=非活性とされ、0番地のメモリセル32〜3
5=選択、1〜3番地のメモリセル36〜47=非選択
とされる。
【0061】この結果、この場合には、ビット線BL1
=「H」、ビット線/BL1=「L」、ビット線BL2=
「L」、ビット線/BL2=「H」、ビット線BL3=
「H」、ビット線/BL3=「L」、ビット線BL4=
「L」、ビット線/BL4=「H」とされて、メモリセ
ル32には「H」、メモリセル33には「L」、メモリ
セル34には「H」、メモリセル35には「L」が書き
込まれる。
=「H」、ビット線/BL1=「L」、ビット線BL2=
「L」、ビット線/BL2=「H」、ビット線BL3=
「H」、ビット線/BL3=「L」、ビット線BL4=
「L」、ビット線/BL4=「H」とされて、メモリセ
ル32には「H」、メモリセル33には「L」、メモリ
セル34には「H」、メモリセル35には「L」が書き
込まれる。
【0062】また、図16は、リード・セレクタ55の
動作を示す回路図であり、メモリセル32に「H」、メ
モリセル33に「L」、メモリセル34に「H」、メモ
リセル35に「L」が書き込まれている場合において、
リード・セレクタ55を介して、これら0番地のメモリ
セル32〜35のデータが読み出される場合を例にして
示している。
動作を示す回路図であり、メモリセル32に「H」、メ
モリセル33に「L」、メモリセル34に「H」、メモ
リセル35に「L」が書き込まれている場合において、
リード・セレクタ55を介して、これら0番地のメモリ
セル32〜35のデータが読み出される場合を例にして
示している。
【0063】なお、リード・セレクタ55において、2
21〜224は負荷をなすnMOSトランジスタ、KB
は制御クロック信号である。
21〜224は負荷をなすnMOSトランジスタ、KB
は制御クロック信号である。
【0064】ここに、メモリセル32〜35のデータが
読み出される場合には、負荷を介してビット線BL1、
/BL1〜BL16、/BL16=「H」にリセットされる
と共に、ワード線WL=「H」とされ、nMOSトラン
ジスタ51、52、215〜220など、メモリセル3
2〜35のトランスファ・ゲートをなすnMOSトラン
ジスタ=ONとされる。
読み出される場合には、負荷を介してビット線BL1、
/BL1〜BL16、/BL16=「H」にリセットされる
と共に、ワード線WL=「H」とされ、nMOSトラン
ジスタ51、52、215〜220など、メモリセル3
2〜35のトランスファ・ゲートをなすnMOSトラン
ジスタ=ONとされる。
【0065】この結果、ビット線BL1=「H」、ビッ
ト線/BL1=「L」、ビット線BL 2=「L」、ビット
線/BL2=「H」、ビット線BL3=「H」、ビット線
/BL3=「L」、ビット線BL4=「L」、ビット線/
BL4=「H」とされる。
ト線/BL1=「L」、ビット線BL 2=「L」、ビット
線/BL2=「H」、ビット線BL3=「H」、ビット線
/BL3=「L」、ビット線BL4=「L」、ビット線/
BL4=「H」とされる。
【0066】また、この場合、制御クロック信号KB=
「H」で、バス線130〜133=「H」にリセットさ
れると共に、ビット線選択線126=「L」、ビット線
選択線127〜129=「H」とされる。
「H」で、バス線130〜133=「H」にリセットさ
れると共に、ビット線選択線126=「L」、ビット線
選択線127〜129=「H」とされる。
【0067】この結果、NOR回路134の出力=
「L」、NOR回路135の出力=「H」、NOR回路
136の出力=「L」、NOR回路137の出力=
「H」とされ、nMOSトランジスタ138=OFF、
nMOSトランジスタ139=ON、nMOSトランジ
スタ140=OFF、nMOSトランジスタ141=O
Nとされる。
「L」、NOR回路135の出力=「H」、NOR回路
136の出力=「L」、NOR回路137の出力=
「H」とされ、nMOSトランジスタ138=OFF、
nMOSトランジスタ139=ON、nMOSトランジ
スタ140=OFF、nMOSトランジスタ141=O
Nとされる。
【0068】また、メモリセル36〜47に対応して設
けられているNOR回路142〜145、150〜15
3、158〜161の出力=「L」とされ、nMOSト
ランジスタ146〜149、154〜157、162〜
165=OFFとされる。
けられているNOR回路142〜145、150〜15
3、158〜161の出力=「L」とされ、nMOSト
ランジスタ146〜149、154〜157、162〜
165=OFFとされる。
【0069】この場合、バス線131からはnMOSト
ランジスタ139を介して接地側に電流Iが流れると共
に、バス線133からはnMOSトランジスタ141を
介して接地側に電流Iが流れる。
ランジスタ139を介して接地側に電流Iが流れると共
に、バス線133からはnMOSトランジスタ141を
介して接地側に電流Iが流れる。
【0070】しかし、バス線130からはnMOSトラ
ンジスタ138を介して接地側に電流Iが流れることは
なく、また、バス線132からもnMOSトランジスタ
140を介して接地側に電流Iが流れることはない。
ンジスタ138を介して接地側に電流Iが流れることは
なく、また、バス線132からもnMOSトランジスタ
140を介して接地側に電流Iが流れることはない。
【0071】したがって、この場合には、バス線130
=「H」、バス線131=「L」、バス線132=
「H」、バス線133=「L」とされ、メモリセル32
〜35の記憶データが読み出される。なお、リード・セ
レクタ57についても同様に動作する。
=「H」、バス線131=「L」、バス線132=
「H」、バス線133=「L」とされ、メモリセル32
〜35の記憶データが読み出される。なお、リード・セ
レクタ57についても同様に動作する。
【0072】この第1実施例においては、同一のアドレ
スを選択しないことを条件として、ライト・セレクタ5
3を介しての書込みと、リード・セレクタ55、57を
介しての読出しとを同時に行うことができる。
スを選択しないことを条件として、ライト・セレクタ5
3を介しての書込みと、リード・セレクタ55、57を
介しての読出しとを同時に行うことができる。
【0073】例えば、ライト・セレクタ53を介した0
番地のメモリセル32〜35に対するデータの書込み
と、リード・セレクタ55を介した1番地のメモリセル
36〜39からのデータの読出しと、リード・セレクタ
57を介した3番地のメモリセル44〜47からのデー
タの読出しとを同時に行うことができる。
番地のメモリセル32〜35に対するデータの書込み
と、リード・セレクタ55を介した1番地のメモリセル
36〜39からのデータの読出しと、リード・セレクタ
57を介した3番地のメモリセル44〜47からのデー
タの読出しとを同時に行うことができる。
【0074】ここに、この第1実施例によれば、メモリ
セルは、トランスファ・ゲートを構成するnMOSトラ
ンジスタとして、2個のnMOSトランジスタを設けれ
ば足りるので、メモリセルの面積を縮小化し、チップ面
積の縮小化を図ることができる。
セルは、トランスファ・ゲートを構成するnMOSトラ
ンジスタとして、2個のnMOSトランジスタを設けれ
ば足りるので、メモリセルの面積を縮小化し、チップ面
積の縮小化を図ることができる。
【0075】第2実施例・・図17、図18 図17、図18は本発明の第2実施例の要部を分図して
示す回路図であり、本発明を適用して構成されたワンチ
ップ・マイクロコンピュータの他の例におけるCPU内
に設けられているデータ・レジスタの部分を示してい
る。
示す回路図であり、本発明を適用して構成されたワンチ
ップ・マイクロコンピュータの他の例におけるCPU内
に設けられているデータ・レジスタの部分を示してい
る。
【0076】図中、225〜228はアドレスを0番地
とされているメモリセル、229〜232はアドレスを
1番地とされているメモリセル、233〜236はアド
レスを2番地とされているメモリセル、237〜240
はアドレスを3番地とされているメモリセルである。
とされているメモリセル、229〜232はアドレスを
1番地とされているメモリセル、233〜236はアド
レスを2番地とされているメモリセル、237〜240
はアドレスを3番地とされているメモリセルである。
【0077】また、241〜244はアドレスを4番地
とされているメモリセル、245〜248はアドレスを
5番地とされているメモリセル、249〜252はアド
レスを6番地とされているメモリセル、253〜256
はアドレスを7番地とされているメモリセルである。
とされているメモリセル、245〜248はアドレスを
5番地とされているメモリセル、249〜252はアド
レスを6番地とされているメモリセル、253〜256
はアドレスを7番地とされているメモリセルである。
【0078】また、257〜260はアドレスを8番地
とされているメモリセル、261〜264はアドレスを
9番地とされているメモリセル、265〜268はアド
レスを10番地とされているメモリセル、269〜27
2はアドレスを11番地とされているメモリセルであ
る。
とされているメモリセル、261〜264はアドレスを
9番地とされているメモリセル、265〜268はアド
レスを10番地とされているメモリセル、269〜27
2はアドレスを11番地とされているメモリセルであ
る。
【0079】また、WL1はメモリセル225〜240
のトランスファ・ゲートのON、OFFを制御するワー
ド線、WL2はメモリセル241〜256のトランスフ
ァ・ゲートのON、OFFを制御するワード線、WL3
はメモリセル257〜272のトランスファ・ゲートの
ON、OFFを制御するワード線である。
のトランスファ・ゲートのON、OFFを制御するワー
ド線、WL2はメモリセル241〜256のトランスフ
ァ・ゲートのON、OFFを制御するワード線、WL3
はメモリセル257〜272のトランスファ・ゲートの
ON、OFFを制御するワード線である。
【0080】また、273はワード線WL1〜WL3のい
ずれか1本を選択して駆動するアドレス・デコーダ、B
L1、/BL1〜BL16、/BL16は前述したビット線で
あり、メモリセル225〜272は、同一の回路構成と
されており、図2に示すようなSRAMセルにより構成
されている。
ずれか1本を選択して駆動するアドレス・デコーダ、B
L1、/BL1〜BL16、/BL16は前述したビット線で
あり、メモリセル225〜272は、同一の回路構成と
されており、図2に示すようなSRAMセルにより構成
されている。
【0081】なお、ライト・セレクタ53、リード・セ
レクタ55、リード・セレクタ57、アドレス・デコー
ダ54、56、58、ライト・バス59、リード・バス
60、リード・バス61については、第1実施例の場合
と同様に構成されている。
レクタ55、リード・セレクタ57、アドレス・デコー
ダ54、56、58、ライト・バス59、リード・バス
60、リード・バス61については、第1実施例の場合
と同様に構成されている。
【0082】この第2実施例において、ワード線WL1
〜WL3の2本又は3本を同時に選択せず、かつ、同一
のアドレスを選択しないことを条件に、ライト・セレク
タ53を介しての書込みと、リード・セレクタ55、5
7を介しての読出しとを、同時に行うことができる。
〜WL3の2本又は3本を同時に選択せず、かつ、同一
のアドレスを選択しないことを条件に、ライト・セレク
タ53を介しての書込みと、リード・セレクタ55、5
7を介しての読出しとを、同時に行うことができる。
【0083】例えば、ワード線WL1=選択、ワード線
WL2、WL3=非選択とした場合においては、例えば、
ライト・セレクタ53を介した0番地のメモリセル22
5〜228に対するデータの書込みと、リード・セレク
タ55を介した1番地のメモリセル229〜232から
のデータの読出しと、リード・セレクタ57を介した2
番地のメモリセル233〜236からのデータの読出し
とを同時に行うことができる。
WL2、WL3=非選択とした場合においては、例えば、
ライト・セレクタ53を介した0番地のメモリセル22
5〜228に対するデータの書込みと、リード・セレク
タ55を介した1番地のメモリセル229〜232から
のデータの読出しと、リード・セレクタ57を介した2
番地のメモリセル233〜236からのデータの読出し
とを同時に行うことができる。
【0084】また、例えば、ワード線WL2=選択、ワ
ード線WL1、WL3=非選択とした場合においては、例
えば、ライト・セレクタ53を介した5番地のメモリセ
ル245〜248に対するデータの書込みと、リード・
セレクタ55を介した6番地のメモリセル249〜25
2からのデータの読出しと、リード・セレクタ57を介
した7番地のメモリセル253〜256からのデータの
読出しとを同時に行うことができる。
ード線WL1、WL3=非選択とした場合においては、例
えば、ライト・セレクタ53を介した5番地のメモリセ
ル245〜248に対するデータの書込みと、リード・
セレクタ55を介した6番地のメモリセル249〜25
2からのデータの読出しと、リード・セレクタ57を介
した7番地のメモリセル253〜256からのデータの
読出しとを同時に行うことができる。
【0085】ここに、この第2実施例によっても、第1
実施例の場合と同様に、メモリセルは、トランスファ・
ゲートを構成するnMOSトランジスタとして、2個の
nMOSトランジスタを設ければ足りるので、メモリセ
ルの面積を縮小化し、チップ面積の縮小化を図ることが
できる。
実施例の場合と同様に、メモリセルは、トランスファ・
ゲートを構成するnMOSトランジスタとして、2個の
nMOSトランジスタを設ければ足りるので、メモリセ
ルの面積を縮小化し、チップ面積の縮小化を図ることが
できる。
【0086】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、一又は
複数のアドレスに対するデータの書込みと、一又は複数
のアドレスからのデータの読出しとを同時に行うことが
できるにも関わらず、メモリセルの面積を縮小化し、チ
ップ面積の縮小化を図ることができる。
複数のアドレスに対するデータの書込みと、一又は複数
のアドレスからのデータの読出しとを同時に行うことが
できるにも関わらず、メモリセルの面積を縮小化し、チ
ップ面積の縮小化を図ることができる。
【図1】本発明の第1実施例の要部(本発明を適用して
構成されたワンチップ・マイクロコンピュータの一例に
おけるCPU内に設けられるデータ・レジスタの部分)
を示す回路図である。
構成されたワンチップ・マイクロコンピュータの一例に
おけるCPU内に設けられるデータ・レジスタの部分)
を示す回路図である。
【図2】本発明の第1実施例が設けるメモリセルを示す
回路図である。
回路図である。
【図3】本発明の第1実施例が設けるライト・セレクタ
の具体的構成を分図して示す回路図である。
の具体的構成を分図して示す回路図である。
【図4】本発明の第1実施例が設けるライト・セレクタ
の具体的構成を分図して示す回路図である。
の具体的構成を分図して示す回路図である。
【図5】本発明の第1実施例が設けるライト・セレクタ
の具体的構成を分図して示す回路図である。
の具体的構成を分図して示す回路図である。
【図6】本発明の第1実施例が設けるライト・セレクタ
の具体的構成を分図して示す回路図である。
の具体的構成を分図して示す回路図である。
【図7】本発明の第1実施例が設けるリード・セレクタ
の具体的構成を分図して示す回路図である。
の具体的構成を分図して示す回路図である。
【図8】本発明の第1実施例が設けるリード・セレクタ
の具体的構成を分図して示す回路図である。
の具体的構成を分図して示す回路図である。
【図9】本発明の第1実施例が設けるリード・セレクタ
の具体的構成を分図して示す回路図である。
の具体的構成を分図して示す回路図である。
【図10】本発明の第1実施例が設けるリード・セレク
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
【図11】本発明の第1実施例が設けるリード・セレク
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
【図12】本発明の第1実施例が設けるリード・セレク
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
【図13】本発明の第1実施例が設けるリード・セレク
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
【図14】本発明の第1実施例が設けるリード・セレク
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
タの具体的構成を分図して示す回路図である。
【図15】ライト・セレクタの動作を示す回路図であ
る。
る。
【図16】リード・セレクタの動作を示す回路図であ
る。
る。
【図17】本発明の第2実施例の要部(本発明を適用し
て構成されたワンチップ・マイクロコンピュータの他の
例におけるCPU内に設けられるデータ・レジスタの部
分)を分図して示す回路図である。
て構成されたワンチップ・マイクロコンピュータの他の
例におけるCPU内に設けられるデータ・レジスタの部
分)を分図して示す回路図である。
【図18】本発明の第2実施例の要部(本発明を適用し
て構成されたワンチップ・マイクロコンピュータの他の
例におけるCPU内に設けられるデータ・レジスタの部
分)を分図して示す回路図である。
て構成されたワンチップ・マイクロコンピュータの他の
例におけるCPU内に設けられるデータ・レジスタの部
分)を分図して示す回路図である。
【図19】ワンチップ・マイクロコンピュータを示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図20】図19に示すワンチップ・マイクロコンピュ
ータを構成するCPUの要部を示すブロック図である。
ータを構成するCPUの要部を示すブロック図である。
【図21】図20に示すCPU内に設けられるデータ・
レジスタの要部を示すブロック図である。
レジスタの要部を示すブロック図である。
【図22】図21に示すデータ・レジスタに配列されて
いるメモリセルを示す回路図である。
いるメモリセルを示す回路図である。
32〜47 メモリセル
Claims (2)
- 【請求項1】第1、第2のデータ入出力端を、それぞ
れ、対をなす一方及び他方のビット線に接続し、書込み
は前記一方及び他方のビット線を介して行われ、読出し
は前記一方のビット線を介して行われるメモリセルを複
数個ずつグループ化して異なるアドレスを付し、同一の
ワード線を共用するように配列してなるメモリセル列
と、書込みの対象とされたアドレスのメモリセルに接続
されている一方及び他方のビット線の電位を制御するこ
とによって書込みを行う一又は複数の書込み回路と、読
出しの対象とされたアドレスのメモリセルに接続されて
いる一方のビット線の電位を検出することによって読出
しを行う一又は複数の読出し回路とを含んで構成されて
いることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】第1、第2のデータ入出力端を、それぞ
れ、対をなす一方及び他方のビット線に接続し、書込み
は前記一方及び他方のビット線を介して行われ、読出し
は前記第1のビット線を介して行われるメモリセルを複
数個ずつグループ化して異なるアドレスを付し、それぞ
れ、同一のワード線を共用するように配列してなる複数
のメモリセル列と、書込みの対象とされたアドレスのメ
モリセルに接続されている一方及び他方のビット線の電
位を制御することによって書込みを行う一又は複数の書
込み回路と、読出しの対象とされたアドレスのメモリセ
ルに接続されている一方のビット線の電位を検出するこ
とによって読出しを行う一又は複数の読出し回路とを含
んで構成されていることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5134973A JPH06349281A (ja) | 1993-06-04 | 1993-06-04 | 半導体装置 |
DE69420189T DE69420189T2 (de) | 1993-06-04 | 1994-04-25 | Datenregisterstruktur und integrierte Halbleiteranordnung mit einer solchen Struktur |
EP94302934A EP0627740B1 (en) | 1993-06-04 | 1994-04-25 | Data register structure and semiconductor integrated circuit device using the same |
US08/552,459 US5606525A (en) | 1993-06-04 | 1995-11-09 | Data register structure and semiconductor integrated circuit device using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5134973A JPH06349281A (ja) | 1993-06-04 | 1993-06-04 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06349281A true JPH06349281A (ja) | 1994-12-22 |
Family
ID=15140940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5134973A Pending JPH06349281A (ja) | 1993-06-04 | 1993-06-04 | 半導体装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5606525A (ja) |
EP (1) | EP0627740B1 (ja) |
JP (1) | JPH06349281A (ja) |
DE (1) | DE69420189T2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US20050245364A1 (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-03 | Juliu Horvath | Exercise device |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3968480A (en) * | 1974-04-25 | 1976-07-06 | Honeywell Inc. | Memory cell |
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US4488264A (en) * | 1982-06-10 | 1984-12-11 | Dshkhunian Valery | Transistor storage |
JPS62287497A (ja) * | 1986-06-06 | 1987-12-14 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US4839862A (en) * | 1986-08-15 | 1989-06-13 | Nec Corporation | Static random access memory having Bi-CMOS construction |
US5287485A (en) * | 1988-12-22 | 1994-02-15 | Digital Equipment Corporation | Digital processing system including plural memory devices and data transfer circuitry |
US5226142A (en) * | 1990-11-21 | 1993-07-06 | Ross Technology, Inc. | High performance register file with overlapping windows |
JP2601951B2 (ja) * | 1991-01-11 | 1997-04-23 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
JP3481263B2 (ja) * | 1992-02-19 | 2003-12-22 | 株式会社リコー | シリアル記憶装置 |
JPH05274879A (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-22 | Nec Corp | 半導体装置 |
-
1993
- 1993-06-04 JP JP5134973A patent/JPH06349281A/ja active Pending
-
1994
- 1994-04-25 EP EP94302934A patent/EP0627740B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-04-25 DE DE69420189T patent/DE69420189T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-11-09 US US08/552,459 patent/US5606525A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0627740B1 (en) | 1999-08-25 |
DE69420189D1 (de) | 1999-09-30 |
DE69420189T2 (de) | 1999-12-09 |
EP0627740A3 (en) | 1995-08-09 |
US5606525A (en) | 1997-02-25 |
EP0627740A2 (en) | 1994-12-07 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020611 |