KR910004845B1 - 광경화성 조성물 - Google Patents
광경화성 조성물 Download PDFInfo
- Publication number
- KR910004845B1 KR910004845B1 KR1019860004528A KR860004528A KR910004845B1 KR 910004845 B1 KR910004845 B1 KR 910004845B1 KR 1019860004528 A KR1019860004528 A KR 1019860004528A KR 860004528 A KR860004528 A KR 860004528A KR 910004845 B1 KR910004845 B1 KR 910004845B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- weight
- composition
- parts
- compound
- hydrogen
- Prior art date
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 69
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 37
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 22
- -1 NH 2 Chemical class 0.000 claims description 21
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 20
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 20
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 13
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 11
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 10
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000003999 initiator Substances 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 8
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 claims description 7
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 claims description 7
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 7
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- WJCNZQLZVWNLKY-UHFFFAOYSA-N thiabendazole Chemical compound S1C=NC(C=2NC3=CC=CC=C3N=2)=C1 WJCNZQLZVWNLKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 claims description 5
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 5
- FMVXGLFPMQJUKT-UHFFFAOYSA-N 2-(1,3-thiazol-4-yl)-1,3-benzothiazole Chemical compound S1C=NC(C=2SC3=CC=CC=C3N=2)=C1 FMVXGLFPMQJUKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- GCHWCEVWLHURCF-UHFFFAOYSA-N 2-(1,3-thiazol-4-yl)-1,3-benzoxazole Chemical compound S1C=NC(C=2OC3=CC=CC=C3N=2)=C1 GCHWCEVWLHURCF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- CMBRSAKTEQFDPC-UHFFFAOYSA-N 4,5-diethyl-1h-imidazole Chemical compound CCC=1N=CNC=1CC CMBRSAKTEQFDPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- UAPNUNDZDVNTDQ-UHFFFAOYSA-N 4,5-diphenyl-1,2,3-triazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=C1C1=CC=CC=C1 UAPNUNDZDVNTDQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- CPHGOBGXZQKCKI-UHFFFAOYSA-N 4,5-diphenyl-1h-imidazole Chemical compound N1C=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 CPHGOBGXZQKCKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 claims description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000002029 aromatic hydrocarbon group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000000816 ethylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 claims description 3
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 3
- YRHRIQCWCFGUEQ-UHFFFAOYSA-N thioxanthen-9-one Chemical class C1=CC=C2C(=O)C3=CC=CC=C3SC2=C1 YRHRIQCWCFGUEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 2
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 2
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 claims description 2
- 229920000193 polymethacrylate Polymers 0.000 claims description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 23
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 19
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 description 15
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 13
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 11
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 8
- 229940125904 compound 1 Drugs 0.000 description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 7
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 6
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 6
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 6
- JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N toluene-4-sulfonic acid Chemical compound CC1=CC=C(S(O)(=O)=O)C=C1 JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 5
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 5
- QRUDEWIWKLJBPS-UHFFFAOYSA-N benzotriazole Chemical compound C1=CC=C2N[N][N]C2=C1 QRUDEWIWKLJBPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000012964 benzotriazole Substances 0.000 description 5
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 5
- LMYRWZFENFIFIT-UHFFFAOYSA-N toluene-4-sulfonamide Chemical class CC1=CC=C(S(N)(=O)=O)C=C1 LMYRWZFENFIFIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- HCLJOFJIQIJXHS-UHFFFAOYSA-N 2-[2-[2-(2-prop-2-enoyloxyethoxy)ethoxy]ethoxy]ethyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCCOCCOCCOCCOC(=O)C=C HCLJOFJIQIJXHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N Butylmethacrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C(C)=C SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 4
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- BTJPUDCSZVCXFQ-UHFFFAOYSA-N 2,4-diethylthioxanthen-9-one Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC(CC)=CC(CC)=C3SC2=C1 BTJPUDCSZVCXFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OAZWDJGLIYNYMU-UHFFFAOYSA-N Leucocrystal Violet Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)N(C)C)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 OAZWDJGLIYNYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 3
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 3
- 229940125782 compound 2 Drugs 0.000 description 3
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 3
- XPPKVPWEQAFLFU-UHFFFAOYSA-J diphosphate(4-) Chemical compound [O-]P([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O XPPKVPWEQAFLFU-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 3
- 235000011180 diphosphates Nutrition 0.000 description 3
- JVICFMRAVNKDOE-UHFFFAOYSA-M ethyl violet Chemical compound [Cl-].C1=CC(N(CC)CC)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)N(CC)CC)=C1C=CC(=[N+](CC)CC)C=C1 JVICFMRAVNKDOE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- FDZZZRQASAIRJF-UHFFFAOYSA-M malachite green Chemical compound [Cl-].C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)=C1C=CC(=[N+](C)C)C=C1 FDZZZRQASAIRJF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N p-methoxyphenol Chemical compound COC1=CC=C(O)C=C1 NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- YHMYGUUIMTVXNW-UHFFFAOYSA-N 1,3-dihydrobenzimidazole-2-thione Chemical class C1=CC=C2NC(S)=NC2=C1 YHMYGUUIMTVXNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JLIDVCMBCGBIEY-UHFFFAOYSA-N 1-penten-3-one Chemical compound CCC(=O)C=C JLIDVCMBCGBIEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BGJQNPIOBWKQAW-UHFFFAOYSA-N 1-tert-butylanthracene-9,10-dione Chemical compound O=C1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2C(C)(C)C BGJQNPIOBWKQAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IGGDKDTUCAWDAN-UHFFFAOYSA-N 1-vinylnaphthalene Chemical compound C1=CC=C2C(C=C)=CC=CC2=C1 IGGDKDTUCAWDAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HZIJSWRTFSUJIJ-UHFFFAOYSA-N 2-(1h-imidazol-5-yl)-1h-benzimidazole Chemical compound N1C=NC(C=2NC3=CC=CC=C3N=2)=C1 HZIJSWRTFSUJIJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NXQMCAOPTPLPRL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-benzoyloxyethoxy)ethyl benzoate Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)OCCOCCOC(=O)C1=CC=CC=C1 NXQMCAOPTPLPRL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NSWNXQGJAPQOID-UHFFFAOYSA-N 2-(2-chlorophenyl)-4,5-diphenyl-1h-imidazole Chemical class ClC1=CC=CC=C1C1=NC(C=2C=CC=CC=2)=C(C=2C=CC=CC=2)N1 NSWNXQGJAPQOID-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GOXQRTZXKQZDDN-UHFFFAOYSA-N 2-Ethylhexyl acrylate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C=C GOXQRTZXKQZDDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OVOUKWFJRHALDD-UHFFFAOYSA-N 2-[2-(2-acetyloxyethoxy)ethoxy]ethyl acetate Chemical compound CC(=O)OCCOCCOCCOC(C)=O OVOUKWFJRHALDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NJWGQARXZDRHCD-UHFFFAOYSA-N 2-methylanthraquinone Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC(C)=CC=C3C(=O)C2=C1 NJWGQARXZDRHCD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LJEAOEQZVUMJDK-UHFFFAOYSA-N 4-(1-chlorobenzimidazol-2-yl)-1,3-thiazole Chemical compound N=1C2=CC=CC=C2N(Cl)C=1C1=CSC=N1 LJEAOEQZVUMJDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JTPKNTMWFCNJFE-UHFFFAOYSA-N 4-(1-hydroxybenzimidazol-2-yl)-1,3-thiazole Chemical compound N=1C2=CC=CC=C2N(O)C=1C1=CSC=N1 JTPKNTMWFCNJFE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDDQRKBRJSGMQE-UHFFFAOYSA-N 4-thiazolyl Chemical group [C]1=CSC=N1 KDDQRKBRJSGMQE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KCXZNSGUUQJJTR-UHFFFAOYSA-N Di-n-hexyl phthalate Chemical compound CCCCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCCCC KCXZNSGUUQJJTR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 2
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N Fumaric acid Chemical compound OC(=O)\C=C\C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N Hydroquinone Chemical compound OC1=CC=C(O)C=C1 QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N Methyl acrylate Chemical compound COC(=O)C=C BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XQVWYOYUZDUNRW-UHFFFAOYSA-N N-Phenyl-1-naphthylamine Chemical compound C=1C=CC2=CC=CC=C2C=1NC1=CC=CC=C1 XQVWYOYUZDUNRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DAKWPKUUDNSNPN-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane triacrylate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CC)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C DAKWPKUUDNSNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N benzoin Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 235000014633 carbohydrates Nutrition 0.000 description 2
- YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N catechol Chemical compound OC1=CC=CC=C1O YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N dibutyl phthalate Chemical compound CCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCC DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002334 glycols Chemical class 0.000 description 2
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 2
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 2
- 229940107698 malachite green Drugs 0.000 description 2
- QIWKUEJZZCOPFV-UHFFFAOYSA-N phenyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1=CC=CC=C1 QIWKUEJZZCOPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 2
- GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N resorcinol Chemical compound OC1=CC=CC(O)=C1 GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004711 α-olefin Substances 0.000 description 2
- LOZBSNNVCOJWGN-UHFFFAOYSA-N 1-benzylanthracene-9,10-dione Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC=CC=C3C(=O)C2=C1CC1=CC=CC=C1 LOZBSNNVCOJWGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IBGWQEBFOSYLDC-UHFFFAOYSA-N 1-butyl-4,5-diphenylimidazole Chemical compound CCCCN1C=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 IBGWQEBFOSYLDC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OEVVKKAVYQFQNV-UHFFFAOYSA-N 1-ethenyl-2,4-dimethylbenzene Chemical compound CC1=CC=C(C=C)C(C)=C1 OEVVKKAVYQFQNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NVZWEEGUWXZOKI-UHFFFAOYSA-N 1-ethenyl-2-methylbenzene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C=C NVZWEEGUWXZOKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JZHGRUMIRATHIU-UHFFFAOYSA-N 1-ethenyl-3-methylbenzene Chemical compound CC1=CC=CC(C=C)=C1 JZHGRUMIRATHIU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHFHDVDXYKOSKI-UHFFFAOYSA-N 1-ethenyl-4-ethylbenzene Chemical compound CCC1=CC=C(C=C)C=C1 WHFHDVDXYKOSKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RCSKFKICHQAKEZ-UHFFFAOYSA-N 1-ethenylindole Chemical compound C1=CC=C2N(C=C)C=CC2=C1 RCSKFKICHQAKEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTXUTPWZJZHRJC-UHFFFAOYSA-N 1-ethenylpyrrole Chemical compound C=CN1C=CC=C1 CTXUTPWZJZHRJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- USAZIWXOIGUZSS-UHFFFAOYSA-N 1-ethyl-4,5-diphenylimidazole Chemical compound CCN1C=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 USAZIWXOIGUZSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VDIRUWTYFVIERN-UHFFFAOYSA-N 1-methyl-4,5-diphenylimidazole Chemical compound CN1C=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 VDIRUWTYFVIERN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HYZJCKYKOHLVJF-UHFFFAOYSA-N 1H-benzimidazole Chemical compound C1=CC=C2NC=NC2=C1 HYZJCKYKOHLVJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KPWDGTGXUYRARH-UHFFFAOYSA-N 2,2,2-trichloroethanol Chemical compound OCC(Cl)(Cl)Cl KPWDGTGXUYRARH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YTQQIHUQLOZOJI-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydro-1,2-thiazole Chemical compound C1NSC=C1 YTQQIHUQLOZOJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 2-(2,4-difluorophenoxy)pyridin-3-amine Chemical compound NC1=CC=CN=C1OC1=CC=C(F)C=C1F LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SJNWVJGWEJCMEY-UHFFFAOYSA-N 2-(2-hydroxyethoxy)ethanol;phthalic acid Chemical compound OCCOCCO.OC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O SJNWVJGWEJCMEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XMNIXWIUMCBBBL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-phenylpropan-2-ylperoxy)propan-2-ylbenzene Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(C)(C)OOC(C)(C)C1=CC=CC=C1 XMNIXWIUMCBBBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 2-(3-fluorophenyl)-1h-imidazole Chemical compound FC1=CC=CC(C=2NC=CN=2)=C1 JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SNFCQJAJPFWBDJ-UHFFFAOYSA-N 2-(4-methoxyphenyl)-4,5-diphenyl-1h-imidazole Chemical class C1=CC(OC)=CC=C1C1=NC(C=2C=CC=CC=2)=C(C=2C=CC=CC=2)N1 SNFCQJAJPFWBDJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JKNCOURZONDCGV-UHFFFAOYSA-N 2-(dimethylamino)ethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CN(C)CCOC(=O)C(C)=C JKNCOURZONDCGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XOGPDSATLSAZEK-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoanthraquinone Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC(N)=CC=C3C(=O)C2=C1 XOGPDSATLSAZEK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LCZVSXRMYJUNFX-UHFFFAOYSA-N 2-[2-(2-hydroxypropoxy)propoxy]propan-1-ol Chemical compound CC(O)COC(C)COC(C)CO LCZVSXRMYJUNFX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QUASZQPLPKGIJY-UHFFFAOYSA-N 2-[2-[2-(2-hydroxyethoxy)ethoxy]ethoxy]ethyl prop-2-enoate Chemical compound OCCOCCOCCOCCOC(=O)C=C QUASZQPLPKGIJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFVYWCNMQQRVAJ-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-4,5-diphenyl-1h-imidazole Chemical compound N1C(Cl)=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 OFVYWCNMQQRVAJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCDADJXRUCOCJE-UHFFFAOYSA-N 2-chlorothioxanthen-9-one Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC(Cl)=CC=C3SC2=C1 ZCDADJXRUCOCJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMNCBSZOIQAUFX-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OCC)C(=O)C1=CC=CC=C1 KMNCBSZOIQAUFX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JFGCBMQXGWFESU-UHFFFAOYSA-N 2-ethyl-4,5-diphenyl-1h-imidazole Chemical compound N1C(CC)=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 JFGCBMQXGWFESU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WDQMWEYDKDCEHT-UHFFFAOYSA-N 2-ethylhexyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C(C)=C WDQMWEYDKDCEHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC)C(=O)C1=CC=CC=C1 BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QLQIWRCWPJRJJA-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-4,5-diphenyl-1,3-oxazole Chemical compound O1C(C)=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 QLQIWRCWPJRJJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WBDSXISQIHMTGL-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-4,5-diphenyl-1h-imidazole Chemical compound N1C(C)=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 WBDSXISQIHMTGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CFVWNXQPGQOHRJ-UHFFFAOYSA-N 2-methylpropyl prop-2-enoate Chemical compound CC(C)COC(=O)C=C CFVWNXQPGQOHRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000094 2-phenylethyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- FRIBMENBGGCKPD-UHFFFAOYSA-N 3-(2,3-dimethoxyphenyl)prop-2-enal Chemical compound COC1=CC=CC(C=CC=O)=C1OC FRIBMENBGGCKPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUZICZZQJDLXJN-UHFFFAOYSA-N 3-azaniumyl-4-hydroxybutanoate Chemical compound OCC(N)CC(O)=O BUZICZZQJDLXJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WGKYSFRFMQHMOF-UHFFFAOYSA-N 3-bromo-5-methylpyridine-2-carbonitrile Chemical compound CC1=CN=C(C#N)C(Br)=C1 WGKYSFRFMQHMOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ODKHOKLXMBWVOQ-UHFFFAOYSA-N 4,5-diphenyl-1,3-oxazole Chemical compound O1C=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 ODKHOKLXMBWVOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BGTVICKPWACXLR-UHFFFAOYSA-N 4,5-diphenyl-1,3-thiazole Chemical compound S1C=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 BGTVICKPWACXLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WBRKYEMOOOVFFP-UHFFFAOYSA-N 4,5-diphenyl-1-propylimidazole Chemical compound CCCN1C=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 WBRKYEMOOOVFFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OSYBBZZMSRKKSW-UHFFFAOYSA-N 4-(1-butylbenzimidazol-2-yl)-1,3-thiazole Chemical compound N=1C2=CC=CC=C2N(CCCC)C=1C1=CSC=N1 OSYBBZZMSRKKSW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CSAHSZPPHOXJAP-UHFFFAOYSA-N 4-(1-methylbenzimidazol-2-yl)-1,3-thiazole Chemical compound N=1C2=CC=CC=C2N(C)C=1C1=CSC=N1 CSAHSZPPHOXJAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BTDWOUMMCXENAO-UHFFFAOYSA-N 4-(1-propylbenzimidazol-2-yl)-1,3-thiazole Chemical compound N=1C2=CC=CC=C2N(CCC)C=1C1=CSC=N1 BTDWOUMMCXENAO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PJGUJQNCXAXVFM-UHFFFAOYSA-N 4-(1h-benzimidazol-2-yl)-1,3-oxazole Chemical compound O1C=NC(C=2NC3=CC=CC=C3N=2)=C1 PJGUJQNCXAXVFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GAJVIHXCQXBVBW-UHFFFAOYSA-N 4-(2-chloroethenyl)-1,2-dimethylbenzene Chemical compound CC1=CC=C(C=CCl)C=C1C GAJVIHXCQXBVBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VTPZEDARICUEFV-UHFFFAOYSA-N 4-(6-butyl-1h-benzimidazol-2-yl)-1,3-thiazole Chemical compound N1C2=CC(CCCC)=CC=C2N=C1C1=CSC=N1 VTPZEDARICUEFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ISNZKTASEVROOF-UHFFFAOYSA-N 4-(6-ethyl-1h-benzimidazol-2-yl)-1,3-thiazole Chemical compound N1C2=CC(CC)=CC=C2N=C1C1=CSC=N1 ISNZKTASEVROOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JLBJTVDPSNHSKJ-UHFFFAOYSA-N 4-Methylstyrene Chemical compound CC1=CC=C(C=C)C=C1 JLBJTVDPSNHSKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XTGXRPCJUPPBMM-UHFFFAOYSA-N 4-[[4-(diethylamino)phenyl]-phenylmethyl]-n,n-diethylaniline Chemical compound C1=CC(N(CC)CC)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)N(CC)CC)C1=CC=CC=C1 XTGXRPCJUPPBMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ALYNCZNDIQEVRV-UHFFFAOYSA-N 4-aminobenzoic acid Chemical compound NC1=CC=C(C(O)=O)C=C1 ALYNCZNDIQEVRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N Acrylamide Chemical compound NC(=O)C=C HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002126 Acrylic acid copolymer Polymers 0.000 description 1
- NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N Acrylonitrile Chemical compound C=CC#N NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004342 Benzoyl peroxide Substances 0.000 description 1
- OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N Benzoylperoxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N Butylhydroxytoluene Chemical compound CC1=CC(C(C)(C)C)=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SIEWCDZCGDRYEA-UHFFFAOYSA-M CN(C([S-])=S)S.[Na+] Chemical compound CN(C([S-])=S)S.[Na+] SIEWCDZCGDRYEA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 241000415005 Calcodes Species 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N Di-n-octyl phthalate Natural products CCCCCCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCCCCCC MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acrylate Chemical compound CCOC(=O)C=C JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- WZKXBGJNNCGHIC-UHFFFAOYSA-N Leucomalachite green Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)N(C)C)C1=CC=CC=C1 WZKXBGJNNCGHIC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002841 Lewis acid Substances 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYCMBHHDWRMZGG-UHFFFAOYSA-N Methylacrylonitrile Chemical compound CC(=C)C#N GYCMBHHDWRMZGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000028419 Styrax benzoin Species 0.000 description 1
- 235000000126 Styrax benzoin Nutrition 0.000 description 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000008411 Sumatra benzointree Nutrition 0.000 description 1
- YSMRWXYRXBRSND-UHFFFAOYSA-N TOTP Chemical compound CC1=CC=CC=C1OP(=O)(OC=1C(=CC=CC=1)C)OC1=CC=CC=C1C YSMRWXYRXBRSND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N Vinyl ether Chemical class C=COC=C QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVWADWOERKNWRY-UHFFFAOYSA-N [2-(dimethylamino)phenyl]-phenylmethanone Chemical compound CN(C)C1=CC=CC=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 RVWADWOERKNWRY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- REAYFGLASQTHKB-UHFFFAOYSA-N [2-[3-(1H-pyrazol-4-yl)phenoxy]-6-(trifluoromethyl)pyridin-4-yl]methanamine Chemical compound N1N=CC(=C1)C=1C=C(OC2=NC(=CC(=C2)CN)C(F)(F)F)C=CC=1 REAYFGLASQTHKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RFQSMLBZXQOMKK-UHFFFAOYSA-N [3-[(4,8-diamino-6-bromo-1,5-dioxonaphthalen-2-yl)amino]phenyl]-trimethylazanium;chloride Chemical compound [Cl-].C[N+](C)(C)C1=CC=CC(NC=2C(C3=C(N)C=C(Br)C(=O)C3=C(N)C=2)=O)=C1 RFQSMLBZXQOMKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XJYFNDBSENJJEL-UHFFFAOYSA-J [Sn](F)(F)(F)F.[Sn] Chemical compound [Sn](F)(F)(F)F.[Sn] XJYFNDBSENJJEL-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 238000007259 addition reaction Methods 0.000 description 1
- XYLMUPLGERFSHI-UHFFFAOYSA-N alpha-Methylstyrene Chemical compound CC(=C)C1=CC=CC=C1 XYLMUPLGERFSHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 229940064734 aminobenzoate Drugs 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N ammonia Natural products N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000008064 anhydrides Chemical class 0.000 description 1
- CLRSZXHOSMKUIB-UHFFFAOYSA-M benzenediazonium chloride Chemical compound [Cl-].N#[N+]C1=CC=CC=C1 CLRSZXHOSMKUIB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229960002130 benzoin Drugs 0.000 description 1
- 235000019400 benzoyl peroxide Nutrition 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- INLLPKCGLOXCIV-UHFFFAOYSA-N bromoethene Chemical compound BrC=C INLLPKCGLOXCIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FOYJYXHISWUSDL-UHFFFAOYSA-N butyl 4-(dimethylamino)benzoate Chemical compound CCCCOC(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 FOYJYXHISWUSDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N butyl acrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C=C CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 235000010354 butylated hydroxytoluene Nutrition 0.000 description 1
- 150000001720 carbohydrates Chemical class 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 229940126214 compound 3 Drugs 0.000 description 1
- 229940125898 compound 5 Drugs 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N crotonic acid Chemical compound C\C=C\C(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N di-tert-butyl peroxide Chemical compound CC(C)(C)OOC(C)(C)C LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PEVJCYPAFCUXEZ-UHFFFAOYSA-J dicopper;phosphonato phosphate Chemical compound [Cu+2].[Cu+2].[O-]P([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O PEVJCYPAFCUXEZ-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- LTYMSROWYAPPGB-UHFFFAOYSA-N diphenyl sulfide Chemical compound C=1C=CC=CC=1SC1=CC=CC=C1 LTYMSROWYAPPGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FPVGTPBMTFTMRT-UHFFFAOYSA-L disodium;2-amino-5-[(4-sulfonatophenyl)diazenyl]benzenesulfonate Chemical compound [Na+].[Na+].C1=C(S([O-])(=O)=O)C(N)=CC=C1N=NC1=CC=C(S([O-])(=O)=O)C=C1 FPVGTPBMTFTMRT-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- MEGHWIAOTJPCHQ-UHFFFAOYSA-N ethenyl butanoate Chemical compound CCCC(=O)OC=C MEGHWIAOTJPCHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIWXSTHGICQLQT-UHFFFAOYSA-N ethenyl propanoate Chemical compound CCC(=O)OC=C UIWXSTHGICQLQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- SQHOAFZGYFNDQX-UHFFFAOYSA-N ethyl-[7-(ethylamino)-2,8-dimethylphenothiazin-3-ylidene]azanium;chloride Chemical compound [Cl-].S1C2=CC(=[NH+]CC)C(C)=CC2=NC2=C1C=C(NCC)C(C)=C2 SQHOAFZGYFNDQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 description 1
- 235000019233 fast yellow AB Nutrition 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- XUCNUKMRBVNAPB-UHFFFAOYSA-N fluoroethene Chemical compound FC=C XUCNUKMRBVNAPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001530 fumaric acid Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 235000019382 gum benzoic Nutrition 0.000 description 1
- PBZROIMXDZTJDF-UHFFFAOYSA-N hepta-1,6-dien-4-one Chemical compound C=CCC(=O)CC=C PBZROIMXDZTJDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007857 hydrazones Chemical class 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 description 1
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FRCAGVUKJQCWBD-UHFFFAOYSA-L iodine green Chemical compound [Cl-].[Cl-].C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(\C=1C=CC(=CC=1)[N+](C)(C)C)=C/1C=C(C)C(=[N+](C)C)C=C\1 FRCAGVUKJQCWBD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- PBOSTUDLECTMNL-UHFFFAOYSA-N lauryl acrylate Chemical compound CCCCCCCCCCCCOC(=O)C=C PBOSTUDLECTMNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YAFKGUAJYKXPDI-UHFFFAOYSA-J lead tetrafluoride Chemical compound F[Pb](F)(F)F YAFKGUAJYKXPDI-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 150000007517 lewis acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N methacrylamide Chemical compound CC(=C)C(N)=O FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003145 methacrylic acid copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229940117841 methacrylic acid copolymer Drugs 0.000 description 1
- DWCZIOOZPIDHAB-UHFFFAOYSA-L methyl green Chemical compound [Cl-].[Cl-].C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)[N+](C)(C)C)=C1C=CC(=[N+](C)C)C=C1 DWCZIOOZPIDHAB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- XJRBAMWJDBPFIM-UHFFFAOYSA-N methyl vinyl ether Chemical compound COC=C XJRBAMWJDBPFIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N methylenebutanedioic acid Natural products OC(=O)CC(=C)C(O)=O LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 1
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- OHPZPBNDOVQJMH-UHFFFAOYSA-N n-ethyl-4-methylbenzenesulfonamide Chemical compound CCNS(=O)(=O)C1=CC=C(C)C=C1 OHPZPBNDOVQJMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KKFHAJHLJHVUDM-UHFFFAOYSA-N n-vinylcarbazole Chemical compound C1=CC=C2N(C=C)C3=CC=CC=C3C2=C1 KKFHAJHLJHVUDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- IPSIPYMEZZPCPY-UHFFFAOYSA-N new fuchsin Chemical compound [Cl-].C1=CC(=[NH2+])C(C)=CC1=C(C=1C=C(C)C(N)=CC=1)C1=CC=C(N)C(C)=C1 IPSIPYMEZZPCPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000847 nonoxynol Polymers 0.000 description 1
- VIKNJXKGJWUCNN-XGXHKTLJSA-N norethisterone Chemical compound O=C1CC[C@@H]2[C@H]3CC[C@](C)([C@](CC4)(O)C#C)[C@@H]4[C@@H]3CCC2=C1 VIKNJXKGJWUCNN-XGXHKTLJSA-N 0.000 description 1
- ANISOHQJBAQUQP-UHFFFAOYSA-N octyl prop-2-enoate Chemical compound CCCCCCCCOC(=O)C=C ANISOHQJBAQUQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HDBWAWNLGGMZRQ-UHFFFAOYSA-N p-Vinylbiphenyl Chemical compound C1=CC(C=C)=CC=C1C1=CC=CC=C1 HDBWAWNLGGMZRQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012188 paraffin wax Substances 0.000 description 1
- UCUUFSAXZMGPGH-UHFFFAOYSA-N penta-1,4-dien-3-one Chemical class C=CC(=O)C=C UCUUFSAXZMGPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N pent‐4‐en‐2‐one Natural products CC(=O)CC=C PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000002530 phenolic antioxidant Substances 0.000 description 1
- 150000003013 phosphoric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000005498 phthalate group Chemical class 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KSRJBXNTZLELQL-UHFFFAOYSA-N propan-2-yl 4-(diethylamino)benzoate Chemical compound CCN(CC)C1=CC=C(C(=O)OC(C)C)C=C1 KSRJBXNTZLELQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IOSRWPYCWDASDC-UHFFFAOYSA-N propan-2-yl 4-(dimethylamino)benzoate Chemical compound CC(C)OC(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 IOSRWPYCWDASDC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L sodium persulfate Substances [Na+].[Na+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 150000004763 sulfides Chemical class 0.000 description 1
- YBBRCQOCSYXUOC-UHFFFAOYSA-N sulfuryl dichloride Chemical compound ClS(Cl)(=O)=O YBBRCQOCSYXUOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- RYCLIXPGLDDLTM-UHFFFAOYSA-J tetrapotassium;phosphonato phosphate Chemical compound [K+].[K+].[K+].[K+].[O-]P([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O RYCLIXPGLDDLTM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 1
- CZIRZNRQHFVCDZ-UHFFFAOYSA-L titan yellow Chemical compound [Na+].[Na+].C1=C(C)C(S([O-])(=O)=O)=C2SC(C3=CC=C(C=C3)/N=N/NC3=CC=C(C=C3)C3=NC4=CC=C(C(=C4S3)S([O-])(=O)=O)C)=NC2=C1 CZIRZNRQHFVCDZ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 125000003944 tolyl group Chemical group 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N trans-crotonic acid Natural products CC=CC(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- ZIBGPFATKBEMQZ-UHFFFAOYSA-N triethylene glycol Chemical compound OCCOCCOCCO ZIBGPFATKBEMQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001567 vinyl ester resin Polymers 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- FUSUHKVFWTUUBE-UHFFFAOYSA-N vinyl methyl ketone Natural products CC(=O)C=C FUSUHKVFWTUUBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03C—PHOTOSENSITIVE MATERIALS FOR PHOTOGRAPHIC PURPOSES; PHOTOGRAPHIC PROCESSES, e.g. CINE, X-RAY, COLOUR, STEREO-PHOTOGRAPHIC PROCESSES; AUXILIARY PROCESSES IN PHOTOGRAPHY
- G03C1/00—Photosensitive materials
- G03C1/52—Compositions containing diazo compounds as photosensitive substances
- G03C1/60—Compositions containing diazo compounds as photosensitive substances with macromolecular additives
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/085—Photosensitive compositions characterised by adhesion-promoting non-macromolecular additives
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
- G03F7/028—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0073—Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces
- H05K3/0076—Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces characterised by the composition of the mask
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/12—Using specific substances
- H05K2203/122—Organic non-polymeric compounds, e.g. oil, wax or thiol
- H05K2203/124—Heterocyclic organic compounds, e.g. azole, furan
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
- H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
- H05K3/061—Etching masks
- H05K3/064—Photoresists
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/38—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
- H05K3/389—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of a coupling agent, e.g. silane
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/12—Nitrogen compound containing
- Y10S430/121—Nitrogen in heterocyclic ring
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/122—Sulfur compound containing
- Y10S430/123—Sulfur in heterocyclic ring
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/155—Nonresinous additive to promote interlayer adhesion in element
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Polymerisation Methods In General (AREA)
Abstract
내용 없음.
Description
본 발명은 광경화성 수지 조성물, 더욱 구체적으로는, 기질의 표면에 대한 우수한 접착력과 양호한 내식성(etching resistance)을 갖고 고해상도의 화상(image)을 형성할 수 있는 광경화성 수지 조성물에 관한 것이다.
현재까지 광경화성 또는 광중합성 조성물에 의한 화상을 만드는 방법에 예를들면 포토레지스트(photoresist)법에 의한 인쇄 회로판(printed circuit board) 또는 부각판(relief plate)의 제조에 응용되었다.
피복법에 의하여 투명한 지지필름 등에 광경화성 또는 광중합성 조성물의 필름을 형성하고, 이 필름은 화상이 형성될 기질의 표면과 접촉 시켜서 이를 열용융에 의하여 표면에 단단히 접착시킨 후에, 최상층에 투명한 지지필름을 남겨두거나 이 지지 필름을 제거한 상태로 상기한 필름 표면을 원화상을 통하여 활라성 광선에 노출 시키고, 미노출부를 용매로 용해시키는 용액법 또는 미노출부를 지지필름에 부착시켜서 제거하는 박리법(peel method)에 의하여 상기 노출된 필름을 현상하여 원화상에 대응하는 화상을 형성함으로써 소망하는 화상을 형성할 수 있다.
광경화성 조성물을 상기한 응용분야에 사용하는데 있어서 중요한 문제점은 광경화성 조성물과 화상이 형성될 기질의 표면 간에 접착력이 충분하지 않고, 따라서 만족할만한 고해상도를 얻을 수 없다는 점이다. 그것이 인쇄회로판 제조에 레지스트 재료로 사용될 때 상기 문제점은 더욱 두드러진다. 인쇄회로판에 IC 칩을 올릴 때에는 때때로 50미크론 이하의 해상도가 요구 되지만 그러한 요구조건을 만족시키기가 어렵다.
만일 레지스트와 동기질(copper substrate)간에 접착력이 충분히 크지 않다면, 레지스트와 동기질 사이에 부식액 또는 도금액이 침투하고, 레지스트가 동기질상에 융기할 것이다. 결과적으로, 레지스트의 가장자리가 부식에 의하여 파괴 되거나, 도금액이 레지스트의 밑부분 까지 침투할 것이다[그러한 현상을 "도금이동"(plating migration)이라 칭함]. 따라서 화상부의 윤곽이 애매해지고, 양호한 화상을 갖는 동기질을 수득할 수 없다.
그러한 결점을 제거하기 위하여 여러 가지 방법이 시도되었다. 예를들면, 광경화성 조성물과 기질 사이에 접착 층을 제공함으로써 광경화성 조성물과 기질간에 접착력을 증가시키는 방법, 또는 박리법의 경우에 설포닐클로라이드 또는 포스페이트 염과 같은 화합물을 첨가하는 방법이 제시되었다. 전자의 방법은 접착층을 균일하게 피복하고 화상 형성 재료 제조시에 접착 층을 건조 시키는 단계를 요구하고, 불필요하게 복잡해진다. 후자의 방법은 첨가제누출(bleed-out)의 결과로 광경화성 조성물의 저장 안정성이 취약하고, 이 조성물로 달성할 수 있는 해상도는 충분히 만족스럽지 못하다.
일본 공개 특허 공보 제 13475/1972 호는 벤조트리아졸형 첨가제의 첨가를 제안하고 있다. 레지스트와 동기질 간에 접착력이 불충분하고, 노출된 조성물이 수일간 방치되어 현상될 때, 생성되는 화상의 해상도는 훨씬 감소하는 경향을 보인다. 일본 공개 특허 공보 제 702/1978 호는 2-메르캅토벤즈이미다졸 유도체의 첨가를 제안하고 있다. 이는 유도체의 메르캅토기와 조성물의 반응에 의하여 접착력을 증가 시키는 것으로 판단된다. 그러나, 레지스트가 제고된 후 에도 동기질의 표면에 소량의 레지스트가 부착되어 잔류한다. 잔류한 레지스트는 연한 부식과 같은 후처리에 의하여도 제거되지 않으며 문제를 일으킨다.
본 발명의 주 목적은 화상이 형성될 기질 표면에 대한 우수한 접착력, 양호한 내식성을 갖는고해상도를 갖는 화상을 용이하게 형성할 수 있는 광경화성 수지 조성물을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적과 이점은 다음 설명으로부터 명백해질 것이다.
본 발명에 따라, 다음으로 구성된 광경화성 조성물이 제공된다.
(a) 하나 이상의 α,β-불포화된 에틸렌불포화 단량체로부터 유도되는 구조 단위를 갖는 수지 10중량부, (b) 광중합성 단량체 10∼300중량부, (c) 광중합개시제 0.1∼20중량부 및 (d) 하기 일반식(I) 또는 (II)로 표시되는 화합물 0.01∼1중량부 ;
식중, R1은 상호 오르토 위치에 결합들을 갖는 2가 방향성 탄화수소기이고 ; R2는 수소, 1∼4 탄소원자를 갖는 알킬기, 페닐기 또는 C1∼C4알킬을 갖는 아릴기이고 ; R3및 R4는 각각 1∼10 탄소원자를 갖는 알킬기, 아릴기 도는 아랄킬기이고 ; X1은 산소, 황 또는 N-R5이고 ; X2는 산소, 황 또는 NH이고 ; X3는 질소 또는 CR6이고 ; X4는 산소, 황 또는 NR6이고 ; X5는 질소 또는 CR7이고 ; X6는 질소 또는 CH이고 ; 여기서 R5는 수소, 히드록실기, 할로겐 또는 1∼4 탄소원자를 갖는 알킬기이고 ; R6는 수소 또는 1∼4 탄소원자를 갖는 알킬기이고 ; R7는 수소, NH2, 할로겐 또는 1∼4 탄소원자를 갖는 알킬기임.
다음에 본 발명의 조성물을 상세히 설명하겠다.
(a) 바인더(binder) 수지
본 발명에 있어서 바인더 수지 성분으로서 하나 이상의 α,β-에틸렌불포화 단량체로 부터 유도되는 구조단위를 갖는 수지를 사용한다. 이 수지의 제조에 사용되는 α,β-불포화된 에틸렌불포화 단량체는 이러한 유형의 광경화성 수지 조성물에서 바인더 수지 제조에 사용되었던 것과 동일할 수 있다. 구체적인 예로서 스티렌, o-메틸스티렌, m-메틸스티렌, p-메틸스티렌, α-메틸스티렌, p-에틸스티렌, 2,4-디메틸스티렌, p-n-헥실스티렌, p-n-옥틸스티렌, p-메톡시스티렌, p-페닐스티렌 및 3,4-디메틸클로로스티렌과 같은 스티렌 ; α-비닐나프탈렌과 같은 비닐나프탈렌 ; 에틸렌, 프로필렌, 부틸렌 또는 5∼30 또는 그 이상의 탄소원자를 갖는 α-올레핀과 같은 α-올레핀 ; 비닐클로라이드, 비닐브로마이드 및 비닐플루오라이드와 같은 비닐할라이드 ; 비닐아세테이트, 비닐프로피오네이트 및 비닐부티레이트와 같은 비닐에스테르 ; 메틸아크릴레이트, 에틸아크릴레이트, 프로피라크릴레이트, n-부틸아크릴레이트, 이소부틸아크릴레이트, n-옥틸아크릴레이트, 라우릴아크릴레이트, 2-에틸헥실아크릴레이트, 페닐메타크릴레이트 및 디메틸아미노에틸메타크릴레이트, 부틸메타크릴레이트, 2-에틸헥실메타크릴레이트, 페닐메타크릴레이트 및 디메틸아미노에틸메타크릴레이트와 같은 (메타)아크릴에스테르 ; 비닐메틸에테르, 비린에스테르와 같은 비닐에테르 ; 비닐메틸케톤 및 비닐에틸케톤과 같은 비닐케톤 ; N-비닐피롤, N-비닐카르바졸 및 N-비닐인돌과 같은 N-비닐화합물 ; 아크릴산, 메타크릴산, 크로톤산, 말레산( 및 그 무수물), 푸마르산 및 이타콘산과 같은 불포화카르복실산 ; 아크릴로니트릴 및 메타크릴로니트릴과 같은 불포화니트릴 ; 아크릴아미드 및 메타크릴아미드와 같은 불포화산아미드 ; 1,2-디메틸-1-(2-히드록시-3-부톡시프로필)아민-메타크릴이미드 및 1,2-디메틸-1-(2-히드록시-3-메타크릴로일옥시프로필)아민-메타크릴이미드와 같은 아민이미드가 있다.
이들 단량체중 하나 이상으로 부터 제조되는 중합체 및 공중합체는 수천∼수백만, 바람직하기로는 수만∼수십만의 분자량을 갖고, 광중합성 단량체(b), 광중합 개시제(c) 및 식(I) 또는 (II)의 화합물을 용해시키기 위하여 사용되는 용매중에 용해성이고 또한 현상용 용매(물포함)에도 용해성인 것이 일반적으로 바람직하다.
본 발명에 사용되는 수지의 예로서 폴리메타크릴에스테르, (메타)아크릴에스테르와 불포화 카르복실산의 카르복실함유 공중합체, 그리고 메탄올, 에탄올, 부탄올 또는 프로판올과 같은 저급 알칸올과의 에스테르형태인 카르복실함유 공중합체가 있다.
(b) 광중합성 단량체
본 발명의 조성물에 사용되는 광중합성 단량체는 상온에서 대개 액체인 단량체이고, 광중합 개시제의 존재하에 활성 광선의 조사에 의하여 중합개시되고 경화된다.
이 단량체는 일반적으로 하나 이상의 에틸렌불포화를 갖고 자유라디칼 광반응에 의하여 개시되는 부가반응에 의하여 고분자 중합체를 형성하는 공지된 화합물일 수 있다. 비제한적인 구체적인 예를들면 디에틸렌글리콜프탈레이트(메타)아크릴레이트 ; 트리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 테트라에틸글리콜디(메타)아크릴레이트 및 노나에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트와 같은 폴리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트 ; 그리고 트리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메타)아크릴레이트 및 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트와 같은 폴리(메타)아크릴레이트 단량체가 있다.
본 발명에 있어서, 이들 단량체 중 하나 이상이 사용되고, 폴리아크릴레이트형 단량체가 특히 바람직하다.
광중합성 단량체는 바인더 수지 100중량부 당10∼30중량부, 바람직하기로는 20∼100중량부, 더욱 바람직하기로는 30∼70중량부만큼 사용된다.
(c) 광중합 개시제
광중합 개시제는 자외선, 가시광선 및 적외선과 같은 활성 광선 조사시에 자유 라디칼을 발생하여 상기(b)에 언급한 광중합성 단량체를 활성화 및 중합시키는 성질을 갖는 화합물을 포함하며, 광중합성 수지 분야에 공지된 광중합 개시제는 본 발명에 동등하게 사용될 수 있다. 구체적인 예로서 소듐메틸디티오카르바메이트설파이드, 테트라메틸티우람모노설파이드, 디페닐모노설파이드 및 디벤조디아조일모노(디)설파이드와 같은 황화물 ; 2-클로로티옥산톤 및 2,4-디에틸티옥산톤과 같은 티옥산톤 유도체 ; 히드라존, 아조이소부티로니트릴 및 벤젠디아조늄클로라이드와 같은 (디)아조 화합물 ; 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조페논, 디메틸아미노벤조페논, 벤조인, 벤질안트라퀴논, t-부틸안트라퀴논, 2-메틸안트라퀴논, 2-아미노안트라퀴논 및 2-클로로안트라퀴논과 같은 방향성 카르보닐 화합물 ; 부틸 p-디메틸아미노벤조에이트 및 이소프로필 p-디에틸아미노벤조에이트와 같은 디알킬아미노벤조에스테르 ; 벤조일퍼옥사이드, 디-t-부틸퍼옥사이드, 디쿠밀퍼옥사이드 및 쿠멘히드로퍼옥사이드와 같은 과산화물 ; 그리고 2,4,5-트리페닐이미다졸릴다이머가 있다. 이들 중에서, 티옥산톤 유도체, 방향성 카르보닐 화합물 및 디알킬아미노벤조에이트가 바람직하다.
광중합 개시제는 광중합성 단량체의 종류에 따라 선택될 수 있고, 그 사용량은 바인더 수지 100중량부당 일반적으로 0.1∼20중량부, 바람직하기로는 1∼18중량부, 더욱 바람직하기로는 2∼10중량부이다.
(d) 접착 개량제
본 발명은 광경화성 조성물의 기질 표면에 대한 접착력을 개량하는 첨가제로서 조성물중에 일반식(I) 또는 (II)의 화합물이 포함됨을 특징으로 한다.
일반식(I) 또는 (II)에 있어서, "상호오르토 위치에 결합들을 갖는 2가 방향성 탄화수소기"는 식로 표시되는 기이다(식중 A는 방향성 고리임). 그러한 2가 방향성 고리의 예로서 오르토-페닐렌, 저급 알킬-치환 오르토-페닐렌,및이 있다. "알킬기"란 선형 또는 가지형일 수 있으며 예를들면 메틸, 에틸 n-프로필, 이소프로필, n-부틸, sec-부틸 및 tert-부틸이 있다. "아릴기"는 예를들면 페닐, 나프틸 및 톨릴을 포함한다. "아랄킬기"는 예를들면 벤질 및 펜에틸이 있다. "할로겐"은 불소, 염소, 브롬 및 요오드를 포함하고 염소가 바람직하다.
본 명세서 및 첨부된 특허청구의 범위에 있어서 "저급"이라 함은 이용어로 정의다녔 원자단 또는 화합물이 6 이하의 탄소원자, 바람직하기로는 4 히아의 탄소원자를 가짐을 의미한다.
다음에 일반식(I)의 화합물의 구체적인 예를든다.
2-(4-티아졸릴)벤조옥사졸, 2-(4-티아졸릴)벤조티아졸, 2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 2-(4-옥사졸릴)벤즈이미다졸, 2-(4-이미다졸릴)벤즈이미다졸, 2-[4-(1,2,3-트리아졸릴)]벤즈이미다졸, 1-히드록시-2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 1-클로로-2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 1-히드록시-2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 1-클로로-2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 1-메틸-2-(4-티아졸릴)벤조이미다졸, 1-에틸-2-(4-티아졸)벤즈이미다졸, 1-프로필-2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 1-부틸-2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 2-(4-티아졸릴)-5-에틸벤즈이미다졸, 2-2-(4-티아졸릴)-5-프로필벤즈이미다졸, 2-(4-티아졸릴)-5-부틸벤즈이미다졸, 2-(4-티아졸릴)나프톡사졸, 2-(4-티아졸릴)나프타티아졸, 및 2-(4-티아졸릴)나프트이미다졸.
일반식(I)의 화합물중, 다음식으로 표시되는 것이 바람직하다.
(식중, X은 산소, 황 또는 NH이고, X은 질소 또는 CH이고 X는 상기 정의와 같음).
다음에 일반식(II)의 화합물의 구체적인 예를든다.
4,5-디페닐이미다졸, 1-메틸-4,5-디페닐아미다졸, 1-에틸-4,5-디페닐이미다졸, 1-프로필-4,5-디페닐이미다졸, 1-부틸-4,5-디페닐이미다졸, 2-메틸-4,5-디페닐이미다졸, 2-에틸-4,5-디페닐이미다졸, 2-클로로-4,5-디페닐이미다졸, 4,5-디에틸이미다졸, 4,5-디페닐옥사졸, 2-메틸-4,5-디페닐옥사졸, 4,5-디페닐티아졸, 및 4,5-디페닐트리아졸.
일반식(II)의 화합물중, 다음식으로 표시되는 것이 바람직하다.
(식중, R, R 및 X는 상기 정의와 같음.)
일반식(I) 및 (II)의 화합물중 2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 2-(4-티아졸릴)벤즈옥사졸, 2-(4-티아졸릴)벤조티아졸, 4,5-디페닐이미다졸, 4,5-디에틸이미다졸, 및 4,5-디페닐트리아졸이 특히 바람직하다.
상기한 일반식(I) 및 (II)의 화합물들은 단독으로 또는 조합으로 사용될 수 있다. 화합물(d)의 사용량은 바인더 수지 100중량부당 일반적으로0.01∼1중량부, 바람직하기로는 0.015∼0.8중량부, 더욱 바람직하기로는 0.02∼0.5중량부이다.
(e) 기타 첨가제
본 발명의 광경화성 수지 조성물은 상기 기본성분(a)∼(d) 이외에도 필요에 따라 후술하는 첨가제 하나이상을 함유한다.
(1) 중합 억제제
예를들면 히드로퀴논, 카테콜 및 레소르시놀과 같은 산화방지제 ; 2,6-디-tert-부틸-4-메틸페놀 및 p-메톡시페놀과 같은 페놀성 산화방지제 ; N-페닐-알파-나프틸아민 및 p,p'-디메톡시페닐아민과 같은 아민형 산화방지제이다.
중합억제제는 바인더 수지 100중량부당 일반적으로 0.01∼0.5중량부, 바람직하기로는 0.015∼0.4중량부만큼 사용된다.
(2) 착색제
노출시 광경화성 조성물의 색상 및 대비를 개량 시키기 위하여 염료 또는 안료를 사용할 수 있다.
예를들면 에틸 바이올렛(Ethyl Violet ; C.I. 42600), 말라사이트 그린(Malachite Green ; C.I. 42000), 칼코시드 그린 에스(Calcocid Greem S ; C.I. 44090), 뉴 마젠타(New Magenta ; C.I. 42425), 레드 바이올렛 5알 에스(Red Violet 5RS ; C.I. 42690), 뉴 메틸렌 블루 지지(NewMethylene Blue CG ; C.I. 51195), 시.아이.베이직 블루 20(C.I. Basic Blue 20 ; C.I. 42585), 이오다인 그린(Iodine Green ; C.I. 42556), 시.아이.디렉트.예로 9(C.I. Direct Yellow 9 ; C.I 19540), 및 시.아이.애시드 옐로 29(C.I. Acid Yellow 29 ; C.I. 18900)이 있다. 여기서 C.I.란 색상지수(Color Index)를 나타낸다.
착색제는 바인더 수지 100중량부당 일반적으로 0.01∼0.5중량부, 바람직하기로는 0.02∼0.4중량부만큼 사용된다.
(3) 색 형성제(color former)
노출시 광경화성 조성물의 노출된 면적을 지시하기 위하여 본 발명의 조성물에 색 형성제를 첨가할 수 있다. 이는 평상시 무색이지만 노출시(100∼500㎚의 파장을 갖는 광의 조사에 의하여)색을 형성하는 류코 염료이다. 류코 염료는 색 형성조제와 조합으로 사용된다.
류코 염료의 예로서 류코 크리스탈 바이올렛(Leuco Crystal Violet) 류코 말라사이트 그린(Leuco Malachite Green) 및 류코 브릴리안트 그린(Leuco Brilliant Green)이 있다. 색 형성조제의 예로서 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸다이머 및 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸다이머와 같은 이미다졸릴다이머가 있다.
색 형성제는 바인더 수지 100중량부당 일반적으로 0.1∼2중량부, 바람직하기로는 0.3∼1.8중량부만큼 사용된다. 색 형성조제의 사용량은 바인더 수지 100중량부당 일반적으로 0.5∼8중량부, 바람직하기로는 1∼6중량부이다.
(4) 가소제
본 발명의 조성물이 예를들어 건조한 포토레지스트로 사용될 때 조성물의 유연성을 증가 시키고 기질에 대한 접착력을 개량 시키기 위하여 가소제를 첨가할 수 있다. 가소제를 첨가함으로써 나중의 중합공정 까지 조성물의 유연성을 유지 시키고 조성물의 경화를 매끄럽게 진행 시키는 효과를 제공한다. 가소제의 예로서 디부틸프탈레이트, 디옥틸프탈레이트 및 디헥실프탈레이트와 같은 프탈레이트 ; 트리크레실포스페이트 ; 트리에틸렌글리콜디아세테이트 및 디에틸렌글리콜디벤조에이트와 같은 폴리옥시알킬렌글리콜 ; 저분자량 폴리에스테르 ; 클로린화파라핀 ; 그리고 p-톨루엔설폰아미드 및 N-에틸-p-톨루엔설폰아미드와 같은 p-톨루엔설폰아미드가 있다. 이들중, 폴리옥시알킬렌글리콜에스테르와 p-톨루넨설폰아미드가 바람직하다.
가소제는 바인더 수지 100중량부당 1∼25중량부, 바람직하기로는 3∼20중량부만큼 사용된다.
(5) 산성 물질
일반식(I) 및 (II)의 화합물이 염기성이므로, 본 발명의 조성물에 산성 물질을 첨가하여 이것과 식(I) 또는 (II)의 화합물간에 반응을 일으켜서 기질 표면에 대한 조성물의 접착력을 더욱 개량 시키는 염을 형성할 수 있다. 조성물이 류코 염료를 함유할 때, 산성 물질과 이 염료간에 염이 형성되어 노출시 염료의 색-형성능을 증가시킨다. 그러한 기능을 갖는 산성 물질의 예로서 염화수소산, 황산, p-톨루엔설폰산 및 루이스산이 있다. 이들중, p-톨루엔선폰산이 바람직하다.
산성 물질은 바인더 수지 100중량부당 보통 0.05∼0.4중량부, 바람직하기로는 0.1∼0.35중량부만큼 사용된다.
[광경화성 수지 조성물의 제조]
본 발명의 광경화성 수지 조성물은 어떠한 소망하는 방법에 의하여도 제조할 수 있다. 일반적으로 이는 메틸에틸케톤, 아세톤, 메탄올, 에탄올, 이소프로판올, 에틸셀로솔브 또는 메틸렌클로라이드와 같은 용매에 수지(a)를용해시켜서 용액(A)를 형성하고, 동일한 용매에 광중합성 단량체(b), 광중합개시제(c) 및 일반식(I) 또는 (II)의 화합물(d) 그리고 필요하다면 기타 첨가제를 용해시켜서 용액(B)를 형성하고 용액 및 (A) 및 (B)를 혼합하여 편리하게 제조된다.
[용도]
본 발명의 광경화성 수지 조성물은 예를들면 동-피복(copper-clad) 적층판 상에 회로 형성 및 부각(relief)인쇄판의 제조시에, 또는 동판 또는 스테인레스 강판을 부식하여 전자부품의 제조시에 도금 레지스트, 부식레지스트 또는 땜질 레지스트로 사용될 수 있다.
그러한 용도에 있어서, 본 발명의 조성물은 메틸에틸케톤, 아세톤, 메탄올, 에탄올, 이소프로판올, 에틸셀롤솔브 또는 메틸렌클로라이드와 같은 용매중 용액형태의 피복 조성물 또는 레지스트 잉크 조성물로 사용된다. 다른 방법으로서, 상기한 피복 조성물을 적절한 지지체에 피복시키고 이를 건조 시킴으로써 건조 필름 레지스트(DFR)로 형성할 수도 있다.
DFR은 일반적으로 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리비닐알코올 또는 폴리스티렌의 필름과 같는 투명한 지지 필름에 피복 조성물을 도포하고, 이를 건조 시켜서 지지필름상에 광경화성 조성물층을 형성함으로써 제조할 수 있다. 광경화성 조성물층의 두께는 형성될 회로의 유형에 따라 적절히 결정되며 일반적으로 15∼100 미크로미터의 범위이다.
바람직하기로는 조성물 층의 표면에 폴리에틸렌 또는 폴리프로필렌의 층과 같은 보호층을 적충하여 조성물층의 손상이나 먼지 및 이물질의 부착을 방지한다.
본 발명의 조성물은 경화 후 기질의 표면에 대하여 우수한 접착력을 가지므로, 박리 현상 또는 용매 현상에 의한 화상 형성시 고해상도를 달성할 수 있다. 본 발명의 조성물을 포토레지스트용 재료로 사용할 때, 개량된 조성물의 접착력이 광경화된 층의 우수한 내식성과 따라서 고해상도를 가능하게 한다. 따라서, 노출 후 방치시에 해상도의 감소가 적다. 또한, 이를 도금 레지스트용 재료로 사용할 때, 도금이동(plating migration)이 없고, 인쇄회로판 제조시와 같이 고수준의 정밀도를 요구하는 분야에 본 발명의 조성물을 효과적으로 사용할 수 있다.
본 발명을 다음 실시예에 의하여 좀더 구체적으로 설명한다.
[실시예 1]
폴리(메틸메타크릴레이트)(분자량 100,000) 60g, 펜타에리트리톨트리아크릴레이트 15g, 테트라에틸렌글리콜디아크릴레이트 15g, 벤조페논 3g, 디메틸아미노벤조페그런데 0.4g, 에틸바이올렛 0.2g, p-메톡시페놀 0.1g 및 메틸에틸케톤 200g에 다음 화합물 1∼6을 각각 0.2g 가하여 본 발명에 따른 6개의 광경화성 조성물을 용액으로써 제조하였다.
화합물 1 : 2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸
화합물 2 : 2-(4-티아졸릴)벤즈옥사졸
화합물 3 : 2-(4-티아졸릴)벤조티아졸
화합물 4: 4,5-디페닐이미다졸
화합물 5 : 4,5-디에틸이미다졸
화합물 6 : 4,5-디페닐트리아졸
비교용으로, 상기 화합물 1∼6을 사용하지 않고 상기와 같은 방법으로 공경화성 조성물을 제조하고 또한 상기한 화합물 대신에 벤조트리아졸 0.2g을 가한점을 제외하고 상기와 같은 방법으로 광경화성 조성물을 제조하였다.
두께 25미크로미터인 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름상에 건조 후 광경화층의 두께가 50미크로미터가 되도록 상기한 각 용액을 피복하였다. 그리고 피복층을 80℃에서 10분간 건조 시켜서 화상 형성 재료를 형성하였다.
양면에 동으로 피복되고 관통구를 갖는 인쇄 회로판용 기질의 청결한 표면에 상기 화상 형성 재료의 표면을 압력하에 적층시켰다. 기질의 적층된 표면에 해상도 시험 패턴(20∼200미크론)을 갖는 네가티브(negative)를 밀접시키고 기질로부터 1m 떠렁져 위치한 400W 고압수은등으로 부터 300밀리주울/㎠의 광에 노출시켰다. 그리고 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 박리 시키고, 기질 표면에 트리클로로에탄올 분무하여 현상하였다.
본 발명에 따라 화합물 1∼6을 첨가할 때, 시험 패턴은 40미크론의 미세선까지 재현되었다. 그러나, 그러한 화합물을 함유하지 않는 비교 조성물에서는 시험 패턴은 50미크론의 미세선까지 재현되었고, 벤조트리아졸을 함유한 조성물에서는 45미크론의 미세선까지 화상이 재현되었다.
이와는 별도로, 다음 조건 하에 이들 조성물을 도금 레지스트로 사용하여 재료를 피로인산동의 도금처리하고 계속하여 땜질 도금하였다.
[도금 조건]
피로인산동도금욕
피로인산동 90g/ℓ
피로인산칼륨 340g/ℓ
28% 수성 암모니아 3㎖/ℓ
pH 8.8, 50℃, 3A/dm2, 30분
땜질 도금욕
붕불화 납 380g/ℓ
붕불화 주석 30g/ℓ
붕불산 45g/ℓ
아교 0.5g/ℓ
pH 1.0, 18℃, 2A/dm2, 10분
화합물 1∼6을 함유하는 본 발명의 조성물에서는 도금 이동 현상이 거의 발견되지 않는다. 그러나, 그러한 화합물을 함유하지 않는 비교 조성물에서는, 도금 용액이 레지스트 끝 표면으로 부터 깊이 레지스트 아래에 도달하였다. 벤조트리아졸을 함유하는 조성물에서는 심한 도금 이동 현상이 관측되었다.
[유지 시험]
상기 현상 단계에서 기질을 화상 형성 재료 적층 후에 3일간 방치하고 노출 후에 3일간 방치할 때, 화합물 1∼6을 함유하는 본 발명의 조성물의 경우에 화상은 50미크론의 미세선 까지 재생될 수 있었다. 그러나 비교 조성물에서는 화상이 70미크론의 미세선 까지 재생되었고 해상도가 낮았다.
상술한 바와같이 노출 후 방치했던 광경화성 수지층을 도금 레지스트로 사용하여 기질을 도금 처리하였다. 화합물 1∼6을 함유하는 본 발명의 조성물에서는 도금 이동 현상이 거의 관측되지 않았다. 비교 조성물에서는 심한 도금 이동 현상이 관측되었다.
[실시예 2]
실시예 1에서 제조된 6개의 광경화성 조성물에 스티렌/말레산 무수물 공중합체의 프로필 반-에스테르(half-ester) 5g을 가하여 용액을 만들고, 이 용액을 사용하여 실시예 1과 동일하게 현상 및 도금 처리하였다.
모든 경우에 있어서 현상 후 화상은 25미크론의 미세선 까지 해상되었다. 도금 후에는 도금 이동 현상이 관측되지 않았다.
현상 단계에 있어서, 기질을 압력하 화상 형성 재료 적측 후에 3일간, 그리고 노출 후에 3일간 방치할 때, 현상된 화상은 30미크론의 미세선까지 해상되었다. 도금 후에는 도금 이동 현상이 관찰되지 않았다.
[실시예 3]
메틸메타크릴레이트/아크릴산 공중합체(아크릴산 함량 2중량% ; 분자량 100,000) 60g, 트리에틸렌글리콜디아세테이트 8g, 트리메틸올프로판트리아크릴레이트 25g, tert-부틸안트라퀴논 4g 및 메틸에틸케톤 200g에 실시예 1에 지시한 화합물 1 또는 4를 0.3g 가하여 광경화성 조성물을 용액으로 제조하였다. 비교용으로 화합물 1 또는 4를 가하지 않고 상기와 같이 용액을 제조하고, 화합물 1 또는 4대신에 벤조트리아졸(비교 화합물 1), 0.1g을 가하거나 2-메르캅토벤즈이미다졸(비교 화합물 2) 0.2g을 가한점을 제외하고 상기와 같이 용액을 제조하였다. 이들 용액을 사용하여 실시예 1과 동일하게 현상하였다.
본 발명에 따라 화합물 1 또는 4를 함유하는 광경화성 조성물에서는, 현상된 화상은 40미크론의 미세선 까지 해상되었다. 비교 조성물의 경우에는, 현상 후 화상은 단지 80미크론의 미세선(화합물 1 또는 4를 가하지 않을 때), 45미크론의 미세선(비교 화합물 1을 함유할 때), 그리고 50미크론의 미세선(비교 화합물 2를 함유할때)까지 해상되었다.
현상 단계에 있어서, 기질을 화상 형성 재료 적층 후 3일간 및 노출 후 3일간 방치할 때, 본 발명 조성물의 경우에 현상된 화상은 60미크론의 미세선 까지 해상 되었다. 그러나, 화합물 1 또는 4를 함유하지 않는 비교 조성물에서는 화상이 단지 120미크론 미세선 까지 해상되었고, 비교 화합물 1 및 2를 함유하는 조성물에서는, 화상이 70미크론 미세선 까지 재현 되었고, 현상 후 동 기질의 표면상에 적화(reddening) 현상이 발생하였다.
결과의 기질을 염화철(III)(45°보오메)로 부식 시키고, 메틸렌클로라이드를 사용하여 레지스트를 제거하였다. 그리고 동(copper)회로에 내구성을 부여하기 위하여 동회로를 과황산나트륨 10% 수용액으로 2분간 처리하고 니켈 도금 또는 금도금 처리하였다. 본 발명의 조성물에서는 충분히 도금 되었다. 비교 조성물에서는 여기저기에 도금되지 않은 부분이 관측 되었고 도금이 불충분하거나(화합물 1 또는 4를 가하지 않을 때), 도금층이 쉽사리 박리되었다(비교 화합물 1 및 2를 가할 때).
[실시예 4]
각각의 작업에 있어서, 폴리(메틸메타크릴레이트)(분자량 : 10,000) 60g, 테트라에틸렌글리콜아크릴레이트 20g, 트리메틸올프로판트리아크릴레이트 10g, 2,4-디에틸티옥산톤 1g, 부틸 p-디메틸아미노벤조에이트 2g, 류코 크리스탈 바이올렛(Leuco Crystal Violet) 0.5g, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸다이머 2g, 말라사이트 그린 0.03g, p-톨루엔설폰아미드 5g, p-메톡시페놀 0.01g, p-톨루엔설폰산 0.2g, 메틸에틸케톤 200g, 및 다음 표에 지시한 각각의 양 만큼의 2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸을 혼합하여 광경화성 조성물을 액체로서 제조하였다.
이 용액을 사용하여 실시예 1과 동일한 방법으로 화상 형성 재료를 제조하고, 실시예 1과 동일한 방법으로 시험 패턴을 사용한 해상도 시험을 실시하였다. 그리고 실시예 1과 동일한 조건하에 피로인산동 도금 및 땜질 도금을 실시하고, 도금 이동 상태를 관찰하였다. 화상 형성 재료 또한 실시예 1과 동일한 유지 시험을 하였다. 결과를 하기표에 보였다.
[실시예 5]
메틸메타크릴레이트/부틸메타크릴레이트/2-에틸헥실아크릴레이트/메타크릴산 공중합체(60/10/10/20 ; 분자량 100,000) 50g, 테트라에틸렌글리콜디아크릴레이트 20g, 트리케틸올프로판트리아크릴레이트 10g, 2,4-디에틸티옥산톤 1.5g, 이소프로필 p-디메틸아미노벤조에이트 3g, 류코 크리스탈 바이올렛 0.5g, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸릴다이머 3g, 말라사이트 그린 0.03g, p-톨루엔설폰아미드 10g, p-메톡시페놀 0.02g, 2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸 0.05g, p-톨루엔설폰산 0.2g 및 메틸에틸케톤 200g을 혼합하여 광경화성 조성물 용액을 제조하였다.
이 용액을 사용하여 실시예 1과 동일한 방법으로 화상 형성 재료를 제조하고, 40℃에서 탄사나트륨 1% 수용액을 분무하여 현상 시킨 점을 제외하고 실시예 1과 동일한 방법으로 시험 패턴을 사용한 해상도 시험을 실시하였다. 해상도 30미크론인 화상을 수득하였다.
결과의 생성물을 도금 레지스트로 사용하고, 다음 조건 하에 기질을 황산동 도금시키고, 실시예 1과 동일한 조건하에 땜질 도금하였다.
황산 도금욕
황산동 220g/
황산 50g/
염소이온 50㎎/
pH 1.0 이하, 25℃, 2A/dm2, 50분
도금 이동 현상이 거의 관측되지 않았다.
[실시예 6]
2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸 대신에 2-(4-이미다졸릴)벤즈이미다졸 0.05종량부를 가한 점을 제외하고 실시예 4를 반복하였다. 해상도는 30미크론이고, 도금 이동 현상은 발견되지 않았다.
유지 시험에서는, 해상도는 30크론이고, 도금 이동 현상이 없었다.
Claims (10)
- 다음으로 구성된 광경화성 조성물(a) 하나이상의 α,β-불포화된 에틸렌불포화 단량체로 부터 유도되는 구조 단위들을 갖는 수지 100중량부, (b) 광중합성 단량체 10∼300중량부, (c) 광중합 개시제 0.1∼20중량부, 및 (d) 다음 일반식(I) 또는 일반식(II)로 표시되는 화합물 0.01∼1중량부식중, R1은 상호 오르토 위치에 결합들을 갖는 2가 방향성 탄화수소기이고 ; R2는 수소, 1∼4 탄소원자를 갖는 알킬기, 페닐기 또는 C1∼C4알킬을 갖는 아릴기이고 ; R3및 R4는 각각 1∼10 탄소원자를 갖는 알킬기, 아릴기 또는 아랄킬기이고 ; X1은 산소, 황 또는 N-R5이고 ; X2는 산소, 황 또는 NH이고 ; X3는 질소 또는 CR6이고 ; X4는 수소, 황 또는 NR6이고 ; X5는 질소 또는 CR7이고 ; X6는 질소 또는 CH이고 ; R5는 수소, 히드록실기, 할로겐 또는 1∼4 탄소원자를 갖는 알킬기이고 ; R6는 수소 또는 1∼4탄소원자를 갖는 알킬기이고 ; R7은 수소, NH2, 할로겐 또는 1∼4 탄소원자를 갖는 알킬기임.
- 제 1 항에 있어서, 수지(a)가 폴리(메타크릴레이트), (메타)아크릴에스테르 및 불포화 카르복실산의 카르복실함유 공중합체, 스티렌 및 불포화 카르복실산의 카르복실함유 공중합체, 그리고 상기한 카르복실함유 공중합체의 저급 알칸올에스테르로 부터 선택 됨을 특징으로 하는 조성물.
- 제 1 항에 있어서, 광중합성 단량체(b)가 폴리아크릴레이트형 단량체 임을 특징으로 하는 조성물.
- 제 1 항에 있어서, 광중합성 단량체(b)의 양이 20∼100중량부 임을 특징으로 하는 조성물.
- 제 1 항에 있어서, 광중합 개시제(c)가 티옥산톤 유도체, 방향성 카르보닐 화합물 및 디알킬아미노벤조산에스테르로 부터 선택 됨을 특징으로 하는 조성물.
- 제 1 항에 있어서, 광중합 개시제(c)의 양이 1∼18중량부 임을 특징으로 하는 조성물.
- 제 1 항에 있어서, 화합물(d)가 2-(4-티아졸릴)벤즈이미다졸, 2-(4-티아졸릴)벤즈옥사졸, 2-(4-티아졸릴)벤조티아졸, 4,5-디페닐이미다졸, 4,5-디에틸이미다졸 또는 4,5-디페닐트리아졸 임을 특징으로 하는 조성물.
- 제 1 항에 있어서, 화합물(d)의 양이 0.015∼0.8중량부 임을 특징으로 하는 조성물.
- 투명한 지지 필름과 거기에 도포시킨 제 1 항의 광경화성 조성물로 구성된 건조 필름 레지스트.
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP124,961 | 1985-06-07 | ||
JP12496185 | 1985-06-07 | ||
JP60124960A JPS61282835A (ja) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | 感光性組成物 |
JP124,960 | 1985-06-07 | ||
JP124961 | 1997-04-28 | ||
JP124960 | 1997-04-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR870000612A KR870000612A (ko) | 1987-02-19 |
KR910004845B1 true KR910004845B1 (ko) | 1991-07-13 |
Family
ID=26461520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019860004528A KR910004845B1 (ko) | 1985-06-07 | 1986-06-07 | 광경화성 조성물 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4756994A (ko) |
EP (1) | EP0206030B1 (ko) |
KR (1) | KR910004845B1 (ko) |
CA (1) | CA1282272C (ko) |
DE (1) | DE3683194D1 (ko) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5053315A (en) * | 1990-07-17 | 1991-10-01 | Eastman Kodak Company | Radiation-sensitive composition containing an unsaturated polyester and use thereof in lithographic printing plates |
US5536808A (en) * | 1994-10-05 | 1996-07-16 | The Regents Of The University Of Michigan | Thiazole polymers and method of producing same |
US5939239A (en) * | 1997-12-01 | 1999-08-17 | Nichigo-Morton Co., Ltd. | Photoimageable compositions containing photopolymerizable urethane oligomers and dibenzoate plasticizers |
US5952153A (en) * | 1997-12-01 | 1999-09-14 | Morton International, Inc. | Photoimageable composition having improved flexibility, adhesion and stripping characteristics |
JP4308585B2 (ja) * | 2003-06-09 | 2009-08-05 | Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物密着性向上剤及びそれを含有する感光性樹脂組成物 |
WO2016193978A2 (en) | 2015-06-04 | 2016-12-08 | Jet Cu Pcb Ltd. | Methods for producing an etch resist pattern on a metallic surface |
WO2017025949A1 (en) | 2015-08-13 | 2017-02-16 | Jet Cu Pcb Ltd. | Methods for producing an etch resist pattern on a metallic surface |
US10398034B2 (en) | 2016-12-12 | 2019-08-27 | Kateeva, Inc. | Methods of etching conductive features, and related devices and systems |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1165570A (en) * | 1966-12-08 | 1969-10-01 | Agfa Gevaert Nv | Photopolymerization of Ethylenically Unsaturated Compounds |
US3622334A (en) * | 1969-12-31 | 1971-11-23 | Du Pont | Photopolymerizable compositions and elements containing heterocyclic nitrogen-containing compounds |
US3873316A (en) * | 1970-06-11 | 1975-03-25 | Kalle Ag | Process for the production of a light-sensitive copying material having a copper-containing support, and copying material so produced |
US3769023A (en) * | 1971-05-07 | 1973-10-30 | Horizons Inc | Light sensitive reproduction and electron beam sensitive material |
JPS5948752A (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-21 | Hitachi Chem Co Ltd | 感光性樹脂組成物 |
US4629679A (en) * | 1985-02-12 | 1986-12-16 | Mitsubishi Rayon Company Ltd. | Tetrazole compound-containing photopolymerizable resin composition |
-
1986
- 1986-06-05 EP EP86107640A patent/EP0206030B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-06-05 DE DE8686107640T patent/DE3683194D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-06-05 CA CA000510874A patent/CA1282272C/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-06-06 US US06/871,759 patent/US4756994A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-06-07 KR KR1019860004528A patent/KR910004845B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0206030A2 (en) | 1986-12-30 |
KR870000612A (ko) | 1987-02-19 |
EP0206030A3 (en) | 1988-01-07 |
CA1282272C (en) | 1991-04-02 |
US4756994A (en) | 1988-07-12 |
EP0206030B1 (en) | 1992-01-02 |
DE3683194D1 (de) | 1992-02-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9989854B2 (en) | Photosensitive resin composition for projection exposure, photosensitive element, method for forming resist pattern, process for producing printed wiring board and process for producing lead frame | |
KR101339568B1 (ko) | 감광성 수지 조성물, 및 이것을 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법 | |
KR101264482B1 (ko) | 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조방법 | |
KR20090084944A (ko) | 감광성수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조방법 | |
US7309559B2 (en) | Resist pattern, process for producing same, and utilization thereof | |
US7022462B1 (en) | Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, process for producing resist pattern, and process for producing printed wiring board | |
JP6229256B2 (ja) | 感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 | |
KR101320225B1 (ko) | 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성방법 및 프린트 배선판의 제조방법 | |
KR101289569B1 (ko) | 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성방법 및 프린트 배선판의 제조방법 | |
KR20120022586A (ko) | 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 제조방법, 리드 프레임의 제조방법, 프린트 배선판의 제조방법 및 프린트 배선판 | |
KR910004845B1 (ko) | 광경화성 조성물 | |
JP5376043B2 (ja) | 感光性樹脂組成物並びにこれを用いた感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 | |
EP0398713B1 (en) | Photosensitive resin composition and laminate using the same | |
JP5360477B2 (ja) | 感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 | |
JP2003029399A (ja) | 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法 | |
JP3859934B2 (ja) | 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法 | |
JP2010060891A (ja) | 感光性樹脂組成物、これを用いた感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 | |
JP4305695B2 (ja) | 感光性樹脂組成物、これを用いた感光性エレメント、レジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法 | |
JPH03250006A (ja) | 感光性樹脂組成物 | |
JP2000314958A (ja) | 感光性樹脂組成物、これを用いた感光性エレメント、レジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法 | |
TW202437012A (zh) | 感光性樹脂組成物、感光性元件、固化物、抗蝕劑圖案之形成方法及印刷線路板之製造方法 | |
JP2010091662A (ja) | 感光性樹脂組成物、並びにこれを用いた感光性エレメント、レジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法 | |
JPH0462575B2 (ko) | ||
JPH01124842A (ja) | 光硬化性組成物 | |
JPS6186746A (ja) | 感光性組成物 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 19960711 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |