KR910001944A - N채널 mos 트랜지스터 및 수직 pnp 양극 트랜지스터의 동시 제조방법 - Google Patents

N채널 mos 트랜지스터 및 수직 pnp 양극 트랜지스터의 동시 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR910001944A
KR910001944A KR1019900006777A KR900006777A KR910001944A KR 910001944 A KR910001944 A KR 910001944A KR 1019900006777 A KR1019900006777 A KR 1019900006777A KR 900006777 A KR900006777 A KR 900006777A KR 910001944 A KR910001944 A KR 910001944A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
region
conductivity type
mos transistor
transistor
doped
Prior art date
Application number
KR1019900006777A
Other languages
English (en)
Inventor
지매네 장
Original Assignee
삐에르 올리비에
에스지에스-톰슨 마이크로일렉트로닉스 에스. 에이.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삐에르 올리비에, 에스지에스-톰슨 마이크로일렉트로닉스 에스. 에이. filed Critical 삐에르 올리비에
Publication of KR910001944A publication Critical patent/KR910001944A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components
    • H01L21/822Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components the substrate being a semiconductor, using silicon technology
    • H01L21/8248Combination of bipolar and field-effect technology
    • H01L21/8249Bipolar and MOS technology
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components

Abstract

내용 없음

Description

N채널 MOS 트랜지스터 및 수직 PNP 양극 트랜지스터의 동시 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 내지 제13도는 본 발명에 따라 N채널 MOS 트랜지스터와 수직 PNP 트랜지스터를 동시에 제조하는 여러 단계를 보인 도면.

Claims (2)

  1. 제1도전형의 채널을 갖는 MOS 트랜지스터와 제2도전형의 에미터와 콜렉터를 갖는 수직 양극 트랜지스터로 특히 구성되며, 상기 트랜지스터가 제2도전형의 고도로 도핑된 매립층위에 형성된 제2도전형의 낮게 도핑된 포켓(31,32)내에 형성되고, 상기 각각의 포켓은 절연영역(34)으로 둘러싸이고 절연띠(35)에 의해 주영역(36:38)과 보조영역(37:39)으로 분리되며, 보조영역의 표면부분은 제2도전형을 따라 고도로 도핑되고, 상기 보조영역은 양국 트랜지스터의 콜렉터와 MOS트랜지스터의 포켓 접촉영역은 양극 트랜지스터의 콜렉터와 MOS 트랜지스터의 포켓 접촉영역에 대응하며, 게이트(40)은 MOS 트랜지스터의 주영역을 두 부분으로 분리시키는 집적회로를 MOS 트랜지스터 게이트의 형성후 상기 주영역내에서 수행되는 다음의 연속하는 단계들, 즉-제1도전형의 낮게 도핑된 영역(44:45,46)을 이식하고 풀림처리를 행하며, -양극 트랜지스터의 에미터가 형성되는 장소를 제외하고 제1도전형의 고도로 도핑된 영역(55:53,54)을 이식하고 풀림처리를 행하며, -양극 트랜지스터의 에미터가 형성되는 장소에 제2도전형의 고도로 도핑된 영역(61)을 이식하고 풀림처리를 행하며, -각각의 이들 영역하에서 낮은 도핑레벨을 갖는 제1도전형의 이식으로부터 생성되는 층의 부분이 존재하도록 제1 및 제2도전형의 고도로 도핑된 영역의 이식 및 풀림처리를 수행하는 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 직접회로 제조방법
  2. 제1항에 있어서, 제1도전형이 N형이며, 제1도전형의 상기 낮게 도핑된 영역(44;45,46)이 인의 이식으로부터 얻어지고 제2도전형의 상기 고도로 도핑된 영역(61)이 보론의 이식으로부터 얻어짐을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019900006777A 1989-06-02 1990-05-12 N채널 mos 트랜지스터 및 수직 pnp 양극 트랜지스터의 동시 제조방법 KR910001944A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR89/07819 1989-06-02
FR8907819A FR2647959B1 (fr) 1989-06-02 1989-06-02 Procede de fabrication simultanee de transistors mos a canal n et de transistors bipolaires verticaux pnp

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR910001944A true KR910001944A (ko) 1991-01-31

Family

ID=9382671

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019900006777A KR910001944A (ko) 1989-06-02 1990-05-12 N채널 mos 트랜지스터 및 수직 pnp 양극 트랜지스터의 동시 제조방법

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP0401135A1 (ko)
JP (1) JPH0330364A (ko)
KR (1) KR910001944A (ko)
CA (1) CA2018089A1 (ko)
FR (1) FR2647959B1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2693032B1 (fr) * 1992-06-25 1994-09-30 Sgs Thomson Microelectronics Structure de diodes de protection de plot.
US5374569A (en) * 1992-09-21 1994-12-20 Siliconix Incorporated Method for forming a BiCDMOS
US5708289A (en) * 1996-02-29 1998-01-13 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Pad protection diode structure

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58225663A (ja) * 1982-06-23 1983-12-27 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
FR2571178B1 (fr) * 1984-09-28 1986-11-21 Thomson Csf Structure de circuit integre comportant des transistors cmos a tenue en tension elevee, et son procede de fabrication
US4737472A (en) * 1985-12-17 1988-04-12 Siemens Aktiengesellschaft Process for the simultaneous production of self-aligned bipolar transistors and complementary MOS transistors on a common silicon substrate
GB2186117B (en) * 1986-01-30 1989-11-01 Sgs Microelettronica Spa Monolithically integrated semiconductor device containing bipolar junction,cmosand dmos transistors and low leakage diodes and a method for its fabrication
US4902640A (en) * 1987-04-17 1990-02-20 Tektronix, Inc. High speed double polycide bipolar/CMOS integrated circuit process

Also Published As

Publication number Publication date
EP0401135A1 (fr) 1990-12-05
CA2018089A1 (en) 1990-12-02
JPH0330364A (ja) 1991-02-08
FR2647959B1 (fr) 1991-09-20
FR2647959A1 (fr) 1990-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4826780A (en) Method of making bipolar transistors
KR860003671A (ko) 상보형 반도체 장치
DE3676781D1 (de) Integrierte bipolar- und komplementaere mos-transistoren auf einem gemeinsamen substrat enthaltende schaltung und verfahren zu ihrer herstellung.
KR910019215A (ko) Bicmos 디바이스 및 그 제조방법
KR840006872A (ko) 반도체 집적회로장치 및 그 제조방법
KR890016651A (ko) 반도체 집적회로 장치의 제조방법
KR960002556A (ko) 반도체소자 및 그 제조방법
KR860006830A (ko) 반도체 집적회로 장치의 제조방법
KR850006775A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR840005927A (ko) 반도체 집적 회로 장치 및 그의 제조 방법
KR960006006A (ko) 표면 채널 PMOS 트랜지스터를 가진 BiCMOS 소자 및 이의 제조 방법
KR920001655A (ko) 바이폴라 트랜지스터용 자기정렬된 콜렉터 구조 및 이를 주입하는 방법
KR870009491A (ko) 반도체 디바이스(device)
KR910007133A (ko) 고 성능 BiCMOS 회로를 제조하는 방법
KR890007423A (ko) 집적보상 바이폴라및 보상mos장치구조와 병합cbicmos장치구조 및 그형성방법
KR890007426A (ko) 다른 항복전압과 다른 기능을 갖는 블록을 포함하는 모노리식 반도체 ic장치 및 그 제조방법
US5070382A (en) Semiconductor structure for high power integrated circuits
KR960019765A (ko) 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법
KR880014644A (ko) 반도체 집적 회로 장치 및 그 제조 방법
KR910001944A (ko) N채널 mos 트랜지스터 및 수직 pnp 양극 트랜지스터의 동시 제조방법
ES2030389T3 (es) Proceso de fabricacion de circuitos integrados para formar un transistor bipolar provisto de regiones de base extrinsecas.
KR930022551A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
KR910015063A (ko) 상보형 쌍극 트랜지스터
KR940012603A (ko) 개선된 바이폴라 트랜지스터
KR920020749A (ko) 카운터 도우프된 콜렉터에 대한 bicmos 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid