KR890007081A - 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법 - Google Patents

능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법 Download PDF

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KR890007081A KR1019880013421A KR880013421A KR890007081A KR 890007081 A KR890007081 A KR 890007081A KR 1019880013421 A KR1019880013421 A KR 1019880013421A KR 880013421 A KR880013421 A KR 880013421A KR 890007081 A KR890007081 A KR 890007081A
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다쓰히꼬 다무라
에쓰야 다께다
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아와노 시게다까
마쓰시다 덴기 산교오 가부시기 가이샤
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Abstract

내용 없음

Description

능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 박막트랜지스터 배열에 대한 일실시예를 도시한 배선도.
제2a도 내지 제2c도는 본 발명의 시험방법에 따른 배선도.
제3도는 본 발명에 따른 박막트랜지스터 배열에 대한 다른 실시예를 도시한 배선도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
C11, C12등 : 박막트랜지스터 a1-a8: 횡배선
b1-b9: 종배선 d11, d12: 화소전극
e11, e12등 : 콘덴서전극 Igs: 누설전류
I1: 누설전류 I2: 트랜지스터 구동전류
N : 화소의 갯수
n : 하나의 능동매트릭스 기판중에 결함있는 화소의 허용가능한 최대갯수
I3: 누설전류
m : 하나의 능동매트릭스 기판중 결함있는 화소의 허용가능한 최대갯수.

Claims (4)

  1. 다수의 반도체 스위칭소자와, 다수의 병렬도선의 제1그룹과, 제1그룹의 도선들에 직각으로 배선되어 매트릭스를 형성하는 다수의 병렬도선의 제2그룹과, 제1그룹의 상기 도선들중 하나에 접속되는 반도체스위칭소자의 제어전극과, 제2그룹의 상기 도선들중 하나에 접속되는 반도체 스위칭소자의 제어전극을 구비하는 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법은 상기 제1그룹의 도선들 양단을 단락시키는 단계와 : 제2그룹의 도선들 양단을 단락시키는 단계와 : 제1그룹의 도선들과 제2그룹의 도선들간에 일정전압을 인가하는 단계와 : 상기 제1그룹의 도선들로부터 제2그룹의 도선들로 흐르는 전류 또는 그의 역방향으로 흐르는 전류를 측정하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법.
  2. 제1항에 있어서, 일정전압을 인가하는 상기 단계는 제2그룹의 도선들에 인가하는 전위보다 높은 전위를 제1그룹의 도선들에게 인가하는 단계이고, I1은 상기 전류측정단계에서 측정된 전류이고, I2는 상기 반도체 스위칭소자의 각각에 대한 구동전이며, n은 상수일 때 다음식 I1 n×I2을 만족하는지의 여부를 판별하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법.
  3. 다수의 콘덴서와, 다수의 병렬도선으로 된 제1그룹과, 제1그룹의 도선들에 직각으로 배선되어 매트릭스를 형성하는 다수의 병렬도선들로 된 제2그룹과, 제1그룹과 제2그룹중 어느 하나에 직각으로 배선되는 다수의 병렬도선으로 된 제3그룹과, 제1그룹의 상기 도선들중 하나에 각각 접속되는 제1전극과 제2그룹의 상기 도선들중 하나에 각각 접속되는 제2전극과 상기 다수의 콘덴서를 경유하여 제3그룹의 도선들중 하나에 접속되는 제3전극을 구비하는 다수의 반도체 스위칭소자 등을 포함하는 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법은 상기 제1그룹의 도선들 양단을 단락시키는 단계와 : 상기 제2그룹의 도선들 양단을 단락시키는 단계와 : 상기 제3그룹의 도선들과 상기 제1그룹의 도선들을 단락시키는 단계와 : 상기 제1그룹과 제2그룹의 도선들간에 일정전압을 인가하는 단계와 : 상기 제1그룹의 도선들로부터 상기 제2그룹의 도선들로 흐르는 전류 또는 그 역방향으로 흐르는 전류를 측정하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법.
  4. 제3항에 있어서, 일정전압을 인가하는 상기 단계는 제2그룹의 도선들에 인가하는 것보다 높은 전위를 제1그룹의 도선들에게 인가하는 단계이고, I3은 상기 측정단계에서 측정된 전류이고, I2는 상기 각각의 반도체 스위칭소자에 대한 구동전류이며, m은 상수일 때 다음식 I3≤m×I2를 만족하는지 여부를 판별하는 단계를 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880013421A 1987-10-15 1988-10-14 능동매트릭스 기판에 대한 전기적 시험방법 KR910006306B1 (ko)

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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2653099B2 (ja) * 1988-05-17 1997-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクスパネル，投写型表示装置及びビューファインダー
US5179345A (en) * 1989-12-13 1993-01-12 International Business Machines Corporation Method and apparatus for analog testing
JP2653550B2 (ja) * 1990-11-14 1997-09-17 三菱電機株式会社 固体撮像素子
KR960002145B1 (ko) * 1991-07-30 1996-02-13 가부시기가이샤 히다찌세이사구쇼 박막트랜지스터 액정기판의 검사방법 및 그 장치
US5377030A (en) * 1992-03-30 1994-12-27 Sony Corporation Method for testing active matrix liquid crystal by measuring voltage due to charge in a supplemental capacitor
JP2758103B2 (ja) * 1992-04-08 1998-05-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及びその製造方法
US5497146A (en) * 1992-06-03 1996-03-05 Frontec, Incorporated Matrix wiring substrates
US5546013A (en) * 1993-03-05 1996-08-13 International Business Machines Corporation Array tester for determining contact quality and line integrity in a TFT/LCD
JP2715936B2 (ja) * 1994-09-30 1998-02-18 日本電気株式会社 薄膜トランジスタ型液晶表示装置とその製造方法
JPH0933874A (ja) * 1995-07-14 1997-02-07 Sharp Corp 液晶表示装置およびその製造方法
US5767454A (en) * 1996-10-22 1998-06-16 Ncr Corporation Electronic scale including a fault-detecting electronic display module
TW538246B (en) * 2000-06-05 2003-06-21 Semiconductor Energy Lab Display panel, display panel inspection method, and display panel manufacturing method
JP3707404B2 (ja) * 2001-08-03 2005-10-19 ソニー株式会社 検査方法、半導体装置、及び表示装置
KR20060044032A (ko) * 2004-11-11 2006-05-16 삼성전자주식회사 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법
DE102006005051A1 (de) * 2006-02-03 2007-08-16 Siemens Ag Schaltungsanordnung und Prüfvorrichtung
KR101065416B1 (ko) * 2009-04-30 2011-09-16 삼성모바일디스플레이주식회사 원장 검사 장치 및 그 검사 방법
TWI778072B (zh) * 2017-06-22 2022-09-21 以色列商奧寶科技有限公司 用於在超高解析度面板中偵測缺陷之方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3988672A (en) * 1975-03-13 1976-10-26 Fairchild Camera And Instrument Corporation Parametric tester for semiconductor devices
US4647846A (en) * 1980-10-10 1987-03-03 Malkin Dov B Method and means for testing multi-nodal circuits
JPS60209780A (ja) * 1984-04-04 1985-10-22 セイコーエプソン株式会社 液晶表示体の製造方法
JPS60247942A (ja) * 1984-05-23 1985-12-07 Advantest Corp 半導体メモリ試験装置
JPS6112268A (ja) * 1984-06-26 1986-01-20 Hideo Asada かじめ茶製造法
DE3650034T2 (de) * 1985-03-18 1995-03-30 Nec Corp Integrierte Schaltung mit eingebauter Anzeige interner Reparatur.
JPS62114200A (ja) * 1985-11-13 1987-05-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ装置
US4713607A (en) * 1985-12-23 1987-12-15 Tektronix, Inc. Current sensing circuit

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KR910006306B1 (ko) 1991-08-19

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