KR860007551A - 반도체소자의 테스트방법 및 표시장치 - Google Patents

반도체소자의 테스트방법 및 표시장치 Download PDF

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쥰이찌 오오와다
마사아끼 기다지마
히데아끼 가와까미
겐끼찌 스즈끼
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Abstract

내용 없음

Description

반도체소자의 테스트방법 및 표시장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본원 발명의 원리도
제7본원 발명의 실시예에 있어서의 전류의 검출방법을 나타낸 도면.
제9도는 본원 발명의 구체적인 일실시예를 나타낸 단면도.

Claims (19)

  1. 최소한 한쪽의 주단자(主端子), 다른쪽 주단자, 제어단자를 갖는 반도체소자에 있어서, (a) 상기 한쪽의 주단자 또는 상기 다른쪽 주단자의 최소한 한쪽에 유전체(誘電體)를 통해서 시간적으로 변화하는 전압을 인가하며, (b) 상기 제어단자에 상기 반도체소자의 도통 및 비도통을 제어하는 제어신호를 인가하고, (c) 상기 한쪽의 주단자, 상기 다른쪽 주단자, 상기 제어단자에 최소한 하나에 흐르는 주로 변위전류를 검출함으로써, 상기 반도체소자의 테스트를 하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 반도체소자의 다른쪽 주단자에는 투명 도전막의 전극이 설치되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 투명도전막에 전극은, 화소전극임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 유전체가 절연체임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 절연체는 상기 반도체소의 다른쪽 주단자에 설치되는 투명도전막을 피복(被覆)하는 절연체임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 시간적으로 변화하는 전압은, dv/dt가 실질적으로 일정한 전압임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 도통 및 비도통을 제어하는 제어신호를 상기 시간적으로 변화하는 전압의 변화 개시시각보다 이전에 가하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 유전체는 상기 반도체소자차의 광막임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트 방법.
  9. 복수의 한쪽의 신호선과, 이 한쪽의 신호선과 교치하는 복수의 다른쪽 신호선과, 상기 복수의 한쪽의 신호선과 상기 복수의 다른쪽 신호선과의 각 교차점에 설치되며, 또한, 상기 복수의 한쪽의 신호선의 최소한 하나에 접속되는 제어단자와, 상기 복수의 다른쪽 신호선의 최소한 하나에 접속되는 한쪽의 주단자와, 다른쪽 주단자를 갖는 반도체소자를 구비하는 것에 있어서, (a) 최소한 상기 다른쪽 주단자에 유전체를 통해서 시간적으로 변화하는 전압을 인가하며, (b) 상기 제어단자에 상기 한쪽의 신호선을 통해서 상기 반도체소자의 도통 및 비도통을 제어하는 제어신호를 인가하고, (c) 상기 한쪽의 주단자, 상기 다른쪽 주단자, 상기 제어단자의 최소한 하나에 흐르는 주로 변위전류를 검출함으로써, 상기 반도체소자의 테스트를 하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 반도체소자의 다른쪽 주단자에는 투명도전막의 전극이 설치되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 투명도전막의 전극은 화소전극임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  12. 제9항에 있어서, 상기 유전체는 절연체임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 절연체는 상기 반도체소자의 다른쪽 주단자에 설치되는 투명도전막을 피복하는 절연체임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  14. 제9항에 있어서, 상기 시간적으로 변화하는 전압은 dv/dt가 실질적으로 일정한 전압임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  15. 제9항에 있어서, 상기 도통 및 비도통을 제어하는 제어신호를 상기 시간적으로 변화하는 전압의 변화 개시시각보다 이전에 가하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트방법.
  16. 제9항에 있어서, 상기 유전체는 상기 반도체소자의 차광막임을 특징으로 하는 반도체소자의 테스트 방법.
  17. 표시전극간에 표시체가 협지 가능하게 되고, 복수의 주사전극과 복수의 신호전극과의 각각의 교차점에 반도체 스위치소자를 설치하며, 그 교차점의 주사전극과 신호전극의 쌍방에 신호가 있을 때 작동하는 반도체스위치소자에 의해 상기 표시전극간에 신호가 인가되도록 해서 이루어진 표시장치에 있어서, 상기 반도체스위치소자의 기판측의 표시전극 및 상기 반도체스위치소자의 단자전극의 어느 하나와, 주변의 주사전극 신호전극의 어느 하나와의 사이에, 전압을 인가하는 전압인가수단을 접속하며, 이 주사전극·신호전극·이 전압인가수단 ·이 반도체스위치소자를 포함하여 전기적 회로를 형성 가능하게 하고, 그 전기적 회로에 전압을 인가하여 전기적회로의 형성상태를 검사할 수 있도록 해서 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
  18. 제17항에 있어서, 상기 전압인가수단은 정전용량임을 특징으로 하는 표시장치.
  19. 제17항에 있어서, 상기 전압인가수단은 스위치소자로서 이루어진 것을 특징으로 하는 표시장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019860001620A 1985-03-18 1986-03-07 반도체소자의 테스트방법 KR940002723B1 (ko)

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