KR870004448A - Dram 복원 시스템 - Google Patents
Dram 복원 시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR870004448A KR870004448A KR1019860008322A KR860008322A KR870004448A KR 870004448 A KR870004448 A KR 870004448A KR 1019860008322 A KR1019860008322 A KR 1019860008322A KR 860008322 A KR860008322 A KR 860008322A KR 870004448 A KR870004448 A KR 870004448A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- line
- signal
- bit line
- coupled
- data line
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 양호한 실시에에 따르는 메모리의 블럭 다이어그램과 회로 다이어그램의 연결도.
제2도는 종래의 CMOS 제2증폭기의 이득플롯.
제3도는 본 발명의 양호한 실시예에 따르는 제1도의 메모리의 데이타 라인을 바이어스 시키기 위한 회로의 회로 다이어그램.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10:메모리, 11:어드레스 버퍼 회로, 13:행 디코더, 14:열 디코더, 16:클럭 회로, 17:데이타 라인쌍, 18:데이타 라인 바이어스 회로, 19:제2증폭기, 21:감지 증폭기 클럭 회로, 22:열 인에이블 발생기, 23:출력 버퍼.
Claims (7)
- 다수의 비트 라인과; 다수의 비트라인과 교차하는 다수의 워드 라인과; 각각의 비트 라인과 워드라인의 교차점에 결합되며, 워드 라인에 응답하여 결합되고 인에이블되어 결합되도록 비트라인에 기억된 데이타를 나타내는 신호를 제공하는 다수의 갱생 가능한 메모리 셀; 각각의 비트 라인에 결합되며 각각의 비트 라인에 결합된 메모리 셀에 의해 제공된 신호를 증폭하기 위한 다수의 감지 증폭기와; 결합된 신호를 증폭하기 위하여 데이타 라인에 결합된 제2증폭기를 구비하는 메모리에 있어서, 비트 라인이 인에이블된 워드라인에 결합된 메모리 셀내에 기억된 데이타를 나타내는 신호를 발생하도록 선택된 워드라인을 인에이블 시키는 단계와, 선택된 비트라인상의 신호를 데이타 라인에 커플링시키는 단계와, 데이타 라인에 결합된신호를 제2증폭기를 증폭시키는 단계와, 선택된 비트 라인상의 신호를 데이타 라인으로부터 디커플링시키는 단계와, 선택된 비트 라인상의 신호를 증폭시키는 단계와, 선택된 감지 증폭기가 데이타 라인으로부터 디커플되어진 후 선정된 시간동안 선택된 워드 라인을 디스에이블링시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 셀내의 데이타를 복원시키기 위한 방법.
- 제1항에 있어서, 전력 공급 전압을 제2증폭기에 인가시키는 단계와, 데이타 라인을 제2증폭기에 인가된 전력공급전압 중간의 전압으로 바이어싱시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 셀내의 데이타를 복원시키기 위한 방법.
- 제1항에 있어서, 전력 공급 전압을 제2증폭기에 인가시키는 단계와, 데이타 라인을 제2증폭기에 인가된 전력 공급전압의 30퍼센트와 70퍼센트 사이의 전압으로 바이어싱시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 셀내의 데이타를 복원시키기 위한 방법.
- 다수의 비트라인과; 다수의 비트라인과 교차하는 다수의 워드라인과; 비트 라인과 워드 라인의 각각의 교점에 위치하며, 인에이블되는 각각의 워드라인에 응답하여 기억된 데이타를 표시하는 각각의 비트 라인에 신호를 제공하는 다수의 갱생가능한 메모리 셀과; 행 어드레스를 수신 응답하여 선택된 워드라인을 인에이블링 시키고, 행 디스에이블 신호를 수신응답하여 모든 워드 라인을 디스에이블링 시키기 위한 행 디코더 수단과; 각각의 비트 라인에 결합되며, 각각의 비트라인과 인에이블된 워드 라인에 결합된 메모리 셀에 의해 제공된 각각의 비트 라인상의 신호를 각각 증폭시키기 위한 다수의 감지 증폭기와; 열 어드레스를 수신 응답하여 공통 데이타 라인으로 선택된 비트 라인을 커플링 시키고, 클럭신호에 응답하여 공통 데이타 라인으로부터 선택된 비트 라인을 디커플링시키기 위한 열 디코더 수단과; 공통데이타 라인에 결합되며, 공통 데이타 라인에 결합된 신호를 선택된 비트 라인으로부터 증폭시키기 위한 제2감지 증폭기와; 클럭 신호에 응답하여, 열 디코더 수단이 공통데이타 라인으로부터 선택된 비트 라인을 디커플한 후 선정된 시간 지속기간동안 행 디스에이블 신호를 발생시키기 위한 클럭 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 동적랜덤 엑세스 메모리.
- 제4항에 있어서, 비트라인을 활성화되는 제1외부적으로 발생된 클럭 신호에 응답하여 선정된 전압으로 세팅시키기 위한 비트 라인 사전 충전 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 동적 랜덤 엑세스 메모리.
- 제4항에 있어서, 상기 제2증폭기가 전력 공급 전압을 수신하기 위하여 제1 및 제2전력 공급 단자에 결합되는 것을 특징으로 하는 동적 랜덤 엑세스 메모리.
- 제6항에 있어서, 데이타 라인을 열 디코더 수단이 선택된 비트 라인을 공통 데이타 라인으로 커플링 시키기 이전에, 제1전력 공급 단자와 제2전력 공급 단자 사이에 공급된 전압 중간의 전압으로 바이어싱시키기 위한 바이어스 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 동적 랜덤 엑세스 메모리.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/784,449 US4710902A (en) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | Technique restore for a dynamic random access memory |
US784,449 | 1985-10-04 | ||
US784449 | 2004-02-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR870004448A true KR870004448A (ko) | 1987-05-09 |
KR920011042B1 KR920011042B1 (ko) | 1992-12-26 |
Family
ID=25132478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019860008322A KR920011042B1 (ko) | 1985-10-04 | 1986-10-04 | Dram 복원 시스템 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4710902A (ko) |
JP (2) | JPH081749B2 (ko) |
KR (1) | KR920011042B1 (ko) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0194592A (ja) * | 1987-10-06 | 1989-04-13 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ |
US5142637A (en) * | 1988-11-29 | 1992-08-25 | Solbourne Computer, Inc. | Dynamic video RAM incorporating single clock random port control |
USRE35680E (en) * | 1988-11-29 | 1997-12-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dynamic video RAM incorporating on chip vector/image mode line modification |
WO1990014626A1 (en) * | 1989-05-15 | 1990-11-29 | Dallas Semiconductor Corporation | Systems with data-token/one-wire-bus |
JPH0430388A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-02-03 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶回路 |
US5077693A (en) * | 1990-08-06 | 1991-12-31 | Motorola, Inc. | Dynamic random access memory |
JP2664843B2 (ja) * | 1992-09-22 | 1997-10-22 | 株式会社東芝 | マルチポートメモリ |
US5424985A (en) * | 1993-06-30 | 1995-06-13 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Compensating delay element for clock generation in a memory device |
JP2725597B2 (ja) * | 1994-05-25 | 1998-03-11 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
KR100214462B1 (ko) * | 1995-11-27 | 1999-08-02 | 구본준 | 반도체메모리셀의 라이트 방법 |
US5748554A (en) * | 1996-12-20 | 1998-05-05 | Rambus, Inc. | Memory and method for sensing sub-groups of memory elements |
US7500075B1 (en) | 2001-04-17 | 2009-03-03 | Rambus Inc. | Mechanism for enabling full data bus utilization without increasing data granularity |
US8190808B2 (en) | 2004-08-17 | 2012-05-29 | Rambus Inc. | Memory device having staggered memory operations |
US7280428B2 (en) | 2004-09-30 | 2007-10-09 | Rambus Inc. | Multi-column addressing mode memory system including an integrated circuit memory device |
US8595459B2 (en) | 2004-11-29 | 2013-11-26 | Rambus Inc. | Micro-threaded memory |
US20070260841A1 (en) | 2006-05-02 | 2007-11-08 | Hampel Craig E | Memory module with reduced access granularity |
US9268719B2 (en) | 2011-08-05 | 2016-02-23 | Rambus Inc. | Memory signal buffers and modules supporting variable access granularity |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS538528A (en) * | 1976-07-12 | 1978-01-26 | Nec Corp | Memory circuit |
US4334293A (en) * | 1978-07-19 | 1982-06-08 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor memory cell with clocked voltage supply from data lines |
US4543501A (en) * | 1978-09-22 | 1985-09-24 | Texas Instruments Incorporated | High performance dynamic sense amplifier with dual channel grounding transistor |
US4293932A (en) * | 1980-02-11 | 1981-10-06 | Texas Instruments Incorporated | Refresh operations for semiconductor memory |
DE3009872C2 (de) * | 1980-03-14 | 1984-05-30 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum Regenerieren von in einem dynamischen MOS-Speicher gespeicherten Daten unter Berücksichtigung von Schreib- und Lesezyklen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens |
JPS601712B2 (ja) * | 1980-12-04 | 1985-01-17 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JPS57212690A (en) * | 1981-06-24 | 1982-12-27 | Hitachi Ltd | Dynamic mos memory device |
US4477886A (en) * | 1982-02-26 | 1984-10-16 | Fairchild Camera & Instrument Corporation | Sense/restore circuit for dynamic random access memory |
JPS5958689A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-04 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS59188882A (ja) * | 1983-04-11 | 1984-10-26 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPH0762958B2 (ja) * | 1983-06-03 | 1995-07-05 | 株式会社日立製作所 | Mos記憶装置 |
JPS59229790A (ja) * | 1984-05-07 | 1984-12-24 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1985
- 1985-10-04 US US06/784,449 patent/US4710902A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-10-03 JP JP61234723A patent/JPH081749B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1986-10-04 KR KR1019860008322A patent/KR920011042B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-08-04 JP JP7218278A patent/JP2626636B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR920011042B1 (ko) | 1992-12-26 |
JP2626636B2 (ja) | 1997-07-02 |
JPH081749B2 (ja) | 1996-01-10 |
JPS6288197A (ja) | 1987-04-22 |
US4710902A (en) | 1987-12-01 |
JPH08212780A (ja) | 1996-08-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR870004448A (ko) | Dram 복원 시스템 | |
KR920007440B1 (ko) | 반도체 기억장치 및 액세스방법 | |
US4879692A (en) | Dynamic memory circuit with improved sensing scheme | |
KR870004449A (ko) | Ram내의 데이타 라인 사전 충전 | |
KR850000125A (ko) | Mos 기억장치 | |
KR850008023A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR960038983A (ko) | 반도체기억장치와 메모리시스템 | |
KR970029803A (ko) | 반도체 메모리장치의 프리차지 회로 | |
US4947379A (en) | High speed static random access memory circuit | |
KR920006975A (ko) | 반도체 메모리 회로 | |
US4872143A (en) | Pseudo static random access memory employing dynamic memory cells | |
KR880013172A (ko) | 반도체 메모리 | |
KR880009376A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR930005017A (ko) | 반도체 dram 장치 | |
EP0187246A2 (en) | Precharge circuit for bit lines of semiconductor memory | |
US4380055A (en) | Static RAM memory cell | |
KR880013070A (ko) | 디지탈 신호처리장치 | |
US5896333A (en) | Semiconductor memory testing apparatus | |
US4710901A (en) | Driving circuit for a shared sense amplifier | |
KR950006856A (ko) | 반도체 소자의 컬럼 디코더 인에이블 신호 발생회로 | |
KR970003244A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR920022306A (ko) | 메모리장치의 입출력 라인프리차아지 방법 | |
KR20010010653A (ko) | 불휘발성 강유전체 메모리 장치의 센싱앰프 | |
KR880014569A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR930005199A (ko) | 반도체 기억장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20051014 Year of fee payment: 14 |
|
EXPY | Expiration of term |