KR20210084446A - 다마신 배선 구조, 액츄에이터 장치, 및 다마신 배선 구조의 제조 방법 - Google Patents
다마신 배선 구조, 액츄에이터 장치, 및 다마신 배선 구조의 제조 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20210084446A KR20210084446A KR1020217010156A KR20217010156A KR20210084446A KR 20210084446 A KR20210084446 A KR 20210084446A KR 1020217010156 A KR1020217010156 A KR 1020217010156A KR 20217010156 A KR20217010156 A KR 20217010156A KR 20210084446 A KR20210084446 A KR 20210084446A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- metal layer
- main surface
- wiring structure
- insulating layer
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 15
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 124
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 124
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 324
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 29
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 19
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 19
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 15
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 15
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 7
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000009623 Bosch process Methods 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 5
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
- G02B26/0841—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting element being moved or deformed by electrostatic means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B3/00—Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
- B81B3/0064—Constitution or structural means for improving or controlling the physical properties of a device
- B81B3/0067—Mechanical properties
- B81B3/0072—For controlling internal stress or strain in moving or flexible elements, e.g. stress compensating layers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B3/00—Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
- B81B3/0035—Constitution or structural means for controlling the movement of the flexible or deformable elements
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
- B81C1/00015—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for manufacturing microsystems
- B81C1/00134—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for manufacturing microsystems comprising flexible or deformable structures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
- B81C1/00642—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for improving the physical properties of a device
- B81C1/0065—Mechanical properties
- B81C1/00666—Treatments for controlling internal stress or strain in MEMS structures
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
- G02B26/085—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting means being moved or deformed by electromagnetic means
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/101—Scanning systems with both horizontal and vertical deflecting means, e.g. raster or XY scanners
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/3205—Deposition of non-insulating-, e.g. conductive- or resistive-, layers on insulating layers; After-treatment of these layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/535—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including internal interconnections, e.g. cross-under constructions
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/04—Optical MEMS
- B81B2201/042—Micromirrors, not used as optical switches
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2207/00—Microstructural systems or auxiliary parts thereof
- B81B2207/07—Interconnects
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C2201/00—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems
- B81C2201/01—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate
- B81C2201/0101—Shaping material; Structuring the bulk substrate or layers on the substrate; Film patterning
- B81C2201/0102—Surface micromachining
- B81C2201/0104—Chemical-mechanical polishing [CMP]
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C2201/00—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems
- B81C2201/01—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate
- B81C2201/0174—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate for making multi-layered devices, film deposition or growing
- B81C2201/0181—Physical Vapour Deposition [PVD], i.e. evaporation, sputtering, ion plating or plasma assisted deposition, ion cluster beam technology
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
- H01L21/76829—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing characterised by the formation of thin functional dielectric layers, e.g. dielectric etch-stop, barrier, capping or liner layers
- H01L21/76831—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing characterised by the formation of thin functional dielectric layers, e.g. dielectric etch-stop, barrier, capping or liner layers in via holes or trenches, e.g. non-conductive sidewall liners
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
- H01L21/76829—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing characterised by the formation of thin functional dielectric layers, e.g. dielectric etch-stop, barrier, capping or liner layers
- H01L21/76832—Multiple layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
- H01L21/76829—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing characterised by the formation of thin functional dielectric layers, e.g. dielectric etch-stop, barrier, capping or liner layers
- H01L21/76834—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing characterised by the formation of thin functional dielectric layers, e.g. dielectric etch-stop, barrier, capping or liner layers formation of thin insulating films on the sidewalls or on top of conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76838—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
- H01L21/76841—Barrier, adhesion or liner layers
- H01L21/76843—Barrier, adhesion or liner layers formed in openings in a dielectric
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/522—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
- H01L23/5227—Inductive arrangements or effects of, or between, wiring layers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Micromachines (AREA)
- Moving Of Heads (AREA)
- Electromagnets (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
다마신 배선 구조는, 홈부가 마련된 주면을 가지는 베이스와, 홈부의 내면 상에 마련된 제1 부분, 및 제1 부분과 일체적으로 형성되고 주면 상에 마련된 제2 부분을 가지는 절연층과, 절연층의 제1 부분 상에 마련된 금속층과, 홈부 내에 매립되고, 금속층에 접합된 배선부와, 절연층의 제2 부분, 금속층의 단부, 및 배선부를 덮도록 마련된 캡층을 구비한다. 절연층에서의 제1 부분과 제2 부분과의 경계 부분의 베이스와는 반대측의 표면은, 배선부의 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면에 수직인 방향에 대해서 경사진 경사면을 포함하고 있다. 금속층의 단부는, 캡층과 경사면과의 사이에 들어가 있고, 단부에서는, 캡층을 따른 제1 표면과 경사면을 따른 제2 표면이 예각을 이루고 있다.
Description
본 개시의 일측면은, 다마신(damascene) 배선 구조, 액츄에이터 장치, 및 다마신 배선 구조의 제조 방법에 관한 것이다.
종래, 홈부 내에 금속 재료를 매립하는 것에 의해 배선부가 형성된 다마신 배선 구조가 알려져 있다(예를 들면 특허 문헌 1 참조). 이러한 다마신 배선 구조에서는, 홈부의 내면 상에 금속층이 마련되어 있고, 배선부는 이 금속층에 접합되어 있다.
앞서 설명한 것과 같은 다마신 배선 구조에서는, 배선부 및 금속층에 응력이 작용하는 경우가 있다. 예를 들면, 자계(磁界)와의 상호 작용에 의해서 코일에 작용하는 로렌츠력을 이용한 액츄에이터 장치의 코일에 다마신 배선 구조를 적용했을 경우, 배선부 및 금속층에는 배선부의 연재(延在) 방향에 수직인 방향의 응력이 작용한다. 한편, 앞서 설명한 것과 같은 다마신 배선 구조에서는, 배선부의 표면 및 금속층의 단부를 덮도록 캡층이 마련되는 경우가 있다. 그러한 다마신 배선 구조에서 배선부 및 금속층에 응력이 작용했을 경우, 캡층 중 배선부 및 금속층과 접촉하는 부분에 응력이 집중되어, 이 부분에 박리나 손상이 생길 우려가 있다.
그래서, 본 개시의 일측면은, 신뢰성이 높은 다마신 배선 구조 및 액츄에이터 장치, 그리고 그러한 다마신 배선 구조를 얻을 수 있는 다마신 배선 구조의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 개시의 일측면에 관한 다마신 배선 구조는, 홈부가 마련된 주면(主面)을 가지는 베이스와, 홈부의 내면 상에 마련된 제1 부분, 및 제1 부분과 일체적으로 형성되고, 주면 상에 마련된 제2 부분을 가지는 절연층과, 절연층의 제1 부분 상에 마련된 금속층과, 홈부 내에 매립되고, 금속층에 접합된 배선부와, 절연층의 제2 부분, 금속층의 단부, 및 배선부를 덮도록 마련된 캡층을 구비하고, 절연층에서의 제1 부분과 제2 부분과의 경계 부분의 베이스와는 반대측의 표면은, 배선부의 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면에 수직인 방향에 대해서 경사진 경사면을 포함하고 있고, 금속층의 단부는, 캡층과 경사면과의 사이에 들어가 있으며, 단부에서는, 캡층을 따른 제1 표면과 경사면을 따른 제2 표면이 예각을 이루고 있다.
이 다마신 배선 구조에서는, 절연층이, 홈부의 내면 상에 마련된 제1 부분, 및 제1 부분과 일체적으로 형성되고, 주면 상에 마련된 제2 부분을 가지고 있고, 캡층이 절연층의 제2 부분, 금속층의 단부, 및 배선부를 덮도록 마련되어 있다. 이것에 의해, 예를 들면 절연층이 제1 부분만을 가지고 있는 경우와 비교해서, 응력이 집중되기 쉬운 개소를 적게 할 수 있다. 또한, 절연층에서의 제1 부분과 제2 부분과의 경계 부분의 베이스와는 반대측의 표면이 경사면을 포함하고 있고, 금속층의 단부가 캡층과 이 경사면과의 사이에 들어가 있다. 그리고, 그 단부에서는, 캡층을 따른 제1 표면과 경사면을 따른 제2 표면이 예각을 이루고 있다. 이것에 의해, 캡층에 응력이 집중적으로 작용하는 것을 억제할 수 있다. 이상에 의해, 이 다마신 배선 구조에서는, 신뢰성을 높일 수 있다.
캡층의 두께는, 절연층의 두께보다도 두꺼워도 괜찮다. 이 경우, 캡층의 강도를 높일 수 있어 신뢰성을 한층 높일 수 있다.
캡층 중 금속층의 단부의 제1 표면에 접촉하는 부분과, 절연층 중 금속층의 단부의 제2 표면에 접촉하는 부분은, 서로 동일한 재료에 의해서 구성되어 있어도 괜찮다. 이 경우, 캡층과 금속층의 단부와의 접촉 부분의 근방에서 캡층과 절연층과의 사이의 접합 강도를 높일 수 있어 신뢰성을 한층 더 높일 수 있다.
절연층은, 산화막으로 이루어지는 제1 층과, 질화막으로 이루어지고, 제1 층상에 마련된 제2 층을 가지고 있어도 괜찮다. 이 경우, 산화막으로 이루어지는 제1 층에 경사 형상을 용이하게 형성할 수 있기 때문에, 경사면의 형성을 용이화할 수 있다.
베이스에서의 주면과 홈부와의 경계 부분에는, 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면에 수직인 방향에 대해서 경사진 경계면이 마련되어 있어도 괜찮다. 이 경우, 경사면의 형성을 한층 용이화할 수 있다.
경사면은, 볼록 모양으로 만곡하고 있어도 괜찮다. 이 경우, 캡층에 응력이 집중적으로 작용하는 것을 보다 확실히 억제할 수 있다.
금속층의 단부에서의 제2 표면과는 반대측의 제3 표면은, 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면에 수직인 방향에 대해서 경사져 있고, 배선부의 일부는, 캡층과 제3 표면과의 사이에 들어가 있어도 괜찮다. 이 경우, 배선부에 의해 금속층의 단부를 누를 수 있어 금속층으로부터 캡층에 작용하는 응력을 저감할 수 있다. 또한, 배선부의 그 일부의 주면에 수직인 방향에서의 두께가 얇게 되기 때문에, 배선부로부터 캡층에 작용하는 응력을 저감할 수 있다.
금속층의 단부의 주면에 평행한 방향에서의 두께는, 금속층에서의 단부 이외의 부분의 두께보다도 두꺼워도 괜찮다. 이 경우, 금속층의 단부와 캡층과의 접촉 면적을 크게 할 수 있어 금속층으로부터 캡층에 작용하는 응력을 보다 바람직하게 분산시킬 수 있다.
금속층의 단부의 주면에 평행한 방향에서의 두께는, 단부의 선단에 가까워짐에 따라 점증(漸增, 점차 증가)하고 있어도 괜찮다. 이 경우, 금속층의 단부와 캡층과의 접촉 면적을 한층 크게 할 수 있어 금속층으로부터 캡층에 작용하는 응력을 한층 더 바람직하게 분산시킬 수 있다.
배선부에서의 캡층과 접촉하는 제1 접촉면은, 절연층에서의 캡층과 접촉하는 제2 접촉면에 대해서, 홈부의 저부측에 위치하고 있어도 괜찮다. 이 경우, 응력이 집중되기 쉬운 개소를 한층 적게 할 수 있다. 또한, 금속층의 단부와 캡층과의 접촉 면적을 한층 더 크게 할 수 있어 금속층으로부터 캡층에 작용하는 응력을 한층 더 바람직하게 분산시킬 수 있다.
캡층의 두께는, 주면에 수직인 방향에서의 제1 접촉면과 제2 접촉면과의 사이의 거리보다도 커도 괜찮다. 이 경우, 캡층의 강도를 한층 높일 수 있다.
캡층의 두께는, 주면에 수직인 방향에서의 제1 접촉면과 제2 접촉면과의 사이의 거리보다도 작아도 괜찮다. 이 경우, 배선부로부터 캡층에 작용하는 응력을 한층 저감할 수 있다.
홈부는, 주면에 수직인 방향에서 보았을 경우에, 소용돌이 모양으로 연재하고 있어도 괜찮다. 이러한 경우에도, 높은 신뢰성을 얻을 수 있다.
홈부에서의 서로 서로 이웃하는 부분의 사이의 간격은, 홈부의 폭보다도 작아도 괜찮다. 이 경우, 배선의 피치(간격)를 좁게 할 수 있어 공간 절약화를 도모할 수 있다.
홈부의 폭은, 홈부의 깊이보다도 작아도 괜찮다. 이 경우, 공간 절약화, 및 배선의 저저항화를 도모할 수 있다.
베이스는, 주면과는 반대측의 반대면을 가지고, 주면에 수직인 방향에서의 홈부의 저부와 반대면과의 사이의 거리는, 홈부의 깊이보다도 커도 괜찮다. 이 경우, 베이스의 강도를 높일 수 있어 신뢰성을 한층 더 높일 수 있다.
본 개시의 일측면에 관한 액츄에이터 장치는, 상기 다마신 배선 구조를 구비하는 액츄에이터 장치로서, 지지부와, 지지부에서 요동 가능하게 되도록 지지된 가동부와, 다마신 배선 구조를 가지고, 지지부 및 가동부의 적어도 일방에 마련된 코일과, 코일에 작용하는 자계를 발생시키는 자계 발생부를 구비한다. 이 액츄에이터 장치에서는, 배선부의 연재 방향에 수직인 방향의 응력이 배선부 및 금속층에 작용하는데, 앞서 설명한 이유에 의해, 신뢰성을 높일 수 있다.
본 개시의 일측면에 관한 다마신 배선 구조의 제조 방법은, 홈부가 마련된 주면을 가지는 베이스 상에, 홈부의 내면 상에 마련된 제1 부분, 및 제1 부분과 일체적으로 형성되고, 주면 상에 마련된 제2 부분을 가지는 절연층을 형성하는 제1 스텝과, 제1 스텝 후에, 절연층의 제1 부분 및 제2 부분 상에 금속층을 형성하는 제2 스텝과, 제2 스텝 후에, 홈부 내에 매립됨과 아울러 금속층에 접합되도록, 금속층 상에 배선부를 형성하는 제3 스텝과, 제3 스텝 후에, 절연층의 제2 부분이 노출되도록, 화학 기계 연마에 의해, 제2 부분 상의 금속층 및 배선부를 제거하여 평탄화하는 제4 스텝과, 제4 스텝 후에, 절연층의 제2 부분, 금속층의 단부, 및 배선부를 덮도록 캡층을 형성하는 제5 스텝을 구비하고, 제1 스텝에서는, 절연층에서의 제1 부분과 제2 부분과의 경계 부분의 베이스와는 반대측의 표면이, 배선부의 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면에 수직인 방향에 대해서 경사진 경사면을 포함하는 절연층을 형성한다. 이 다마신 배선 구조의 제조 방법에 의하면, 앞서 설명한 것과 같은 신뢰성이 높은 다마신 배선 구조를 얻을 수 있다.
제2 스텝에서는, 스퍼터링에 의해 금속층을 형성해도 괜찮다. 이 경우, 주면에 평행한 방향에서의 금속층의 단부의 두께를 단부의 선단을 향함에 따라 점증시킬 수 있어 금속층의 단부와 캡층과의 접촉 면적을 크게 할 수 있다.
본 개시의 일측면에 의하면, 신뢰성이 높은 다마신 배선 구조 및 액츄에이터 장치, 그리고 그러한 다마신 배선 구조를 얻을 수 있는 다마신 배선 구조의 제조 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 실시 형태에 관한 액츄에이터 장치의 평면도이다.
도 2은 도 1의 II-II선 단면도이다.
도 3은 도 2의 확대도이다.
도 4는 도 3의 확대도이다.
도 5의 (a) 및 (b)는, 다마신 배선 구조의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 6의 (a) 및 (b)는, 다마신 배선 구조의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 7의 (a) 및 (b)는, 다마신 배선 구조의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 8은 제1 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이다.
도 9는 제2 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이다.
도 10의 (a)는, 제3 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이며, (b)는, 제4 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이다.
도 2은 도 1의 II-II선 단면도이다.
도 3은 도 2의 확대도이다.
도 4는 도 3의 확대도이다.
도 5의 (a) 및 (b)는, 다마신 배선 구조의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 6의 (a) 및 (b)는, 다마신 배선 구조의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 7의 (a) 및 (b)는, 다마신 배선 구조의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 8은 제1 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이다.
도 9는 제2 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이다.
도 10의 (a)는, 제3 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이며, (b)는, 제4 변형예에 관한 다마신 배선 구조의 단면도이다.
이하, 본명시된 일 실시 형태에 대해서, 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다. 또한 이하의 설명에서, 동일 또는 상당 요소에는 동일 부호를 이용하고, 중복 하는 설명을 생략한다.
[미러 장치의 구성]
도 1에 도시되어 있는 것과 같이, 미러 장치(액츄에이터 장치)(1)는, 지지부(2)와, 제1 가동부(3)와, 제2 가동부(지지부)(4)와, 한쌍의 제1 연결부(5, 6)와, 한쌍의 제2 연결부(7, 8)와, 자계 발생부(9)를 구비하고 있다. 지지부(2), 제1 가동부(3), 제2 가동부(4), 제1 연결부(5, 6) 및 제2 연결부(7, 8)는, 예를 들면, SOI(Silicon on Insulator) 기판 등의 반도체 기판에 의해서 일체적으로 형성되어 있다. 즉, 미러 장치(1)는, MEMS(Micro Electro Mechanical Systems) 디바이스로서 구성되어 있다.
미러 장치(1)에서는, 서로 직교하는 제1 축선(X1) 및 제2 축선(X2) 둘레로, 미러면(광학면)(10)을 가지는 제1 가동부(3)가 요동시켜진다. 미러 장치(1)는, 예를 들면, 광 통신용 광 스위치, 광 스캐너 등에 이용될 수 있다. 자계 발생부(9)는, 예를 들면, 할바흐 배열(Halbach array)이 취해진 영구 자석 등에 의해서 구성되어 있다. 자계 발생부(9)는, 후술하는 코일(21, 22)에 작용하는 자계를 발생시킨다.
지지부(2)는, 예를 들면, 평면시에서 4각 형상의 외형을 가지고, 틀 모양으로 형성되어 있다. 지지부(2)는, 자계 발생부(9)에 대해서 미러면(10)에 수직인 방향에서의 일방측에 배치되어 있다. 제1 가동부(3)는, 자계 발생부(9)로부터 이간(離間)한 상태로, 지지부(2)의 내측에 배치되어 있다. 또한, 「평면시」란, 미러면(10)에 수직인 방향에서 보았을 경우를 의미하고, 환언하면, 후술하는 기판(30)의 주면(主面)(31)에 수직인 방향에서 보았을 경우를 의미한다.
제1 가동부(3)는, 배치부(3a)와, 배치부(3a)를 둘러싸는 틀부(3b)와, 배치부(3a)와 틀부(3b)를 서로 연결하는 복수(이 예에서는 4개)의 연결부(3c)를 가지고 있다. 배치부(3a)는, 예를 들면, 평면시에서 원 형상으로 형성되어 있다. 배치부(3a)에서의 자계 발생부(9)와는 반대측의 표면에는, 예를 들면, 원 형상의 미러면(10)이 마련되어 있다. 미러면(10)은, 예를 들면, 알루미늄, 알루미늄계 합금, 은, 은계 합금, 금, 유전체 다층막 등으로 이루어지는 반사막에 의해서 구성되어 있다.
틀부(3b)는, 예를 들면, 평면시에서 4각 형상의 외형을 가지고, 틀 모양으로 형성되어 있다. 복수의 연결부(3c)는, 제1 축선(X1) 상에서의 배치부(3a)의 양측, 및 제2 축선(X2) 상에서의 배치부(3a)의 양측에 배치되고, 제1 축선(X1) 상 또는 제2 축선(X2) 상에서 배치부(3a)와 틀부(3b)를 서로 연결하고 있다.
제2 가동부(4)는, 예를 들면, 평면시에서 4각 형상의 외형을 가지고, 틀 모양으로 형성되어 있다. 제2 가동부(4)는, 자계 발생부(9)로부터 이간한 상태로, 제1 가동부(3)를 둘러싸도록 지지부(2)의 내측에 배치되어 있다.
제1 연결부(5, 6)는, 제1 축선(X1) 상에서의 제1 가동부(3)의 양측에 배치되어 있다. 각 제1 연결부(5, 6)는, 제1 가동부(3)가 제1 축선(X1) 둘레로 요동 가능하게 되도록, 제1 축선(X1) 상에서 제1 가동부(3)와 제2 가동부(4)를 서로 연결하고 있다. 각 제1 연결부(5, 6)는, 예를 들면, 제1 축선(X1)을 따라서 직선 모양으로 연재하고 있다.
제2 연결부(7, 8)는, 제1 축선(X1) 상에서의 제2 가동부(4)의 양측에 배치되어 있다. 각 제2 연결부(7, 8)는, 제2 가동부(4)가 제2 축선(X2) 둘레로 요동 가능하게 되도록, 제2 축선(X2) 상에서 제2 가동부(4)와 지지부(2)를 서로 연결하고 있다. 각 제2 연결부(7, 8)는, 예를 들면, 제2 축선(X2)을 따라서 직선 모양으로 연재하고 있다.
미러 장치(1)는, 코일(21, 22)과, 복수의 배선(12, 13, 14, 15)과, 복수의 전극 패드(25, 26, 27, 28)를 더 구비하고 있다. 코일(21)은, 예를 들면, 제1 가동부(3)의 틀부(3b)에 매립되어 있고, 평면시에서 소용돌이 모양으로 연재하고 있다. 코일(22)은, 예를 들면, 제2 가동부(4)에 매립되어 있고, 평면시에서 소용돌이 모양으로 연재하고 있다. 각 코일(21, 22)은, 예를 들면 동 등의 금속 재료에 의해서 구성되어 있다.
복수의 전극 패드(25, 26, 27, 28)는, 지지부(2)에 마련되어 있다. 배선(12)은, 코일(21)의 일단과 전극 패드(25)를 전기적으로 접속하고 있다. 배선(12)은, 코일(21)의 일단으로부터 제1 연결부(5), 제2 가동부(4) 및 제2 연결부(7)를 매개로 하여 전극 패드(25)에 연재하고 있다. 배선(13)은, 코일(21)의 타단과 전극 패드(26)를 전기적으로 접속하고 있다. 배선(13)은, 코일(21)의 타단으로부터 제1 연결부(6), 제2 가동부(4) 및 제2 연결부(8)를 매개로 하여 전극 패드(26)에 연재하고 있다.
배선(14)은, 코일(22)의 일단과 전극 패드(27)를 전기적으로 접속하고 있다. 배선(14)은, 코일(22)의 일단으로부터 제2 연결부(8)를 매개로 하여 전극 패드(27)에 연재하고 있다. 배선(15)은, 코일(22)의 타단과 전극 패드(28)를 전기적으로 접속하고 있다. 배선(15)은, 코일(22)의 타단으로부터 제2 연결부(7)를 매개로 하여 전극 패드(28)에 연재하고 있다.
이상과 같이 구성된 미러 장치(1)에서는, 전극 패드(27, 28) 및 배선(14, 15)를 매개로 하여 코일(22)에 리니어 동작용의 구동 신호가 입력되면, 자계 발생부(9)가 발생하는 자계와의 상호 작용에 의해서 코일(22)에 로렌츠력이 작용한다.이 로렌츠력과 제2 연결부(7, 8)의 탄성력과의 균형을 이용함으로써, 제2 축선(X2)둘레로 미러면(10)(제1 가동부(3))을 제2 가동부(4)와 함께 리니어 동작시킬 수 있다.
한편, 전극 패드(25, 26) 및 배선(12, 13)을 매개로 하여 코일(21)에 공진 동작용의 구동 신호가 입력되면, 자계 발생부(9)가 발생하는 자계와의 상호 작용에 의해서 코일(21)에 로렌츠력이 작용한다. 이 로렌츠력에 더하여 공진 주파수에서의 제1 가동부(3)의 공진을 이용함으로써, 제1 축선(X1) 둘레로 미러면(10)(제1 가동부(3))을 공진 동작시킬 수 있다.
[다마신 배선 구조]
도 2, 도 3 및 도 4를 참조하면서, 코일(21, 22)이 가지는 다마신 배선 구조(100)에 대해 설명한다. 코일(21, 22)의 구성은 서로 동일하므로, 이하에서는 코일(22)에 대해 설명하고, 코일(21)에 대한 설명을 생략한다.
앞서 설명한 것과 같이, 코일(22)은, 제2 가동부(4)에 마련되어 있다. 제2 가동부(4)는, 예를 들면, 기판(베이스)(30)의 제1 실리콘층(81)에 의해서 구성되어 있다. 기판(30)은, 예를 들면, 제1 실리콘층(81) 및 제2 실리콘층(82)과, 제1 실리콘층(81) 및 제2 실리콘층(82) 사이에 배치된 절연층(83)을 가지고 있다(도 5~도 7). 지지부(2)는, 제1 실리콘층(81), 제2 실리콘층(82) 및 절연층(83)에 의해서 구성되어 있고, 제1 가동부(3), 제2 가동부(4), 제1 연결부(5, 6) 및 제2 연결부(7, 8)는, 제1 실리콘층(81)에 의해서 구성되어 있다. 기판(30)은, 주면(31)을 가지고 있다. 이 예에서는, 주면(31)은, 제1 실리콘층(81)에서의 절연층(83)과는 반대측의 표면이다.
주면(31)에는, 홈부(33)가 마련되어 있다. 홈부(33)는, 코일(21)에 대응한 형상을 가지고 있고, 이 예에서는, 평면시에서 소용돌이 모양으로 연재하고 있다. 홈부(33)의 연재 방향에 수직인 단면에서, 홈부(33)는, 예를 들면 직사각 형상을 나타내고 있다. 이 예에서는, 홈부(33)의 내면(34)은, 측면(34a) 및 저면(저부)(34b)을 가지고 있다. 또한 도 2~도 4에서는 하나의 단면만이 도시되어 있지만, 예를 들면, 다마신 배선 구조(100)는 홈부(33)의 연재 방향에 관하여 동일하게 구성되어 있고, 홈부(33)의 연재 방향에 수직한 모든 단면에서 동일하게 구성되어 있다. 다만, 다마신 배선 구조(100)는 반드시 홈부(33)의 연재 방향에 관해서 동일하게 구성되어 있지 않아도 좋다. 예를 들면, 다마신 배선 구조(100)는, 홈부(33)의 연재 방향의 일부에서는 본 실시 형태의 형상을 가지고, 홈부(33)의 연재 방향의 다른 일부에서는 후술하는 변형예의 형상을 가지고 있어도 괜찮다.
다마신 배선 구조(100)는, 베이스로서의 기판(30)에 더하여, 절연층(40)과, 금속층(50)과, 배선부(60)와, 캡층(70)을 구비하고 있다. 절연층(40)은, 주면(31) 및 홈부(33)의 내면(34) 상에 걸쳐서 마련되어 있다. 보다 구체적으로는, 절연층(40)은, 내면(34) 상에 마련된 제1 부분(41)과, 제1 부분(41)과 일체적으로 형성되고, 주면(31) 상에 마련된 제2 부분(42)을 가지고 있다. 절연층(40)에서의 제1 부분(41)과 제2 부분(42)과의 경계 부분(43)은, 기판(30)에서의 주면(31)과 홈부(33)과의 경계 부분 상에 위치하고 있다.
절연층(40)은, 제1 층(44) 및 제2 층(45)에 의해서 구성되어 있다. 제1 층(44)은, 산화막으로 이루어지고, 주면(31) 및 홈부(33)의 내면(34) 상에 마련되어 있다. 제1 층(44)을 구성하는 산화막은, 예를 들면, 실리콘을 열산화하는 것에 의해 형성된 실리콘 산화막(SiO2)이다. 제2 층(45)은, 질화막으로 이루어지고, 제1 층(44) 상에 마련되어 있다. 제2 층(45)을 구성하는 질화막은, 예를 들면, 실리콘 질화막(SiN) 등이다. 제1 부분(41) 및 경계 부분(43)은, 제1 층(44) 및 제2 층(45)에 의해서 구성되어 있고, 제2 부분(42)은, 제1 층(44)에 의해서 구성되어 있다.
금속층(50)은, 절연층(40)의 제1 부분(41) 상에 걸쳐서 마련되어 있다. 즉, 금속층(50)은, 제1 부분(41)을 사이에 두고 홈부(33)의 내면(34) 상에 마련되어 있다. 금속층(50)은, 예를 들면, 티탄(Ti) 등의 금속 재료에 의해서 구성되어 있다. 금속층(50)은, 예를 들면, 배선부(60)를 반도체 기판 상에 안정적으로 형성하기 위한 시드층 및 배선부(60)에 포함되는 금속 원소의 제1 실리콘층(81)으로의 확산을 방지하기 위한 배리어층으로서 기능할 수 있다.
배선부(60)는, 홈부(33) 내에 매립되고, 금속층(50)에 접합되어 있다. 즉, 배선부(60)는, 절연층(40)의 제1 부분(41) 및 금속층(50)을 사이에 두고 홈부(33) 내에 마련되어 있다. 배선부(60)는, 예를 들면, 동(Cu) 등의 금속 재료에 의해서 구성되어 있다. 배선부(60)의 연재 방향(환언하면, 홈부(33)의 연재 방향)에서 수직인 단면에서의 금속층(50)의 형상은, 홈부(33)의 단면 형상에 대응하고 있고, 이 예에서는, 대략 직사각 형상을 나타내고 있다. 또한 본 실시 형태와 같이, 배선부(60)가 평면시에서 소용돌이 모양으로 연재하고 있고, 배선부(60)가, 제1 축선(X1)에 평행한 방향으로 연재하는 제1 부분, 및 제2 축선(X2)에 평행한 방향으로 연재하는 제2 부분을 가지고 있는 경우, 배선부(60)의 연재 방향은, 제1 부분에서는 제1 축선(X1)에 평행한 방향이며, 제2 부분에서는 제2 축선(X2)에 평행한 방향이다. 혹은, 배선부(60)가 곡선 모양으로 또는 만곡하여 연재하고 있는 경우에는, 배선부(60)의 어떤 부분의 연재 방향이란, 그 부분의 접선 방향이라도 괜찮다.
캡층(70)은, 절연층(40)의 제2 부분(42), 금속층(50)의 단부(51), 및 배선부(60)를 덮도록 마련되어 있다. 이 예에서는, 캡층(70)은, 주면(31)에 평행하게 평면 모양으로 연재하고 있다. 캡층(70)의 두께 T1은, 절연층(40)의 두께 T2보다도 두껍다. 캡층(70)은, 예를 들면, 실리콘 질화막에 의해서 구성되어 있고, 절연성을 가지고 있다. 즉, 캡층(70)은, 절연층(40)의 제2 층(45)와 동일한 재료에 의해서 구성되어 있다.
도 4에 도시되어 있는 것과 같이, 절연층(40)의 제1 부분(41)에서의 기판(30)과는 반대측의 표면(41a)은, 예를 들면, 주면(31)에 수직인 평탄면으로 되어 있다. 절연층(40)의 제2 부분(42)에서의 기판(30)과는 반대측의 표면(42a)은, 예를 들면, 주면(31)에 평행한 평탄면으로 되어 있다. 표면(42a)은, 캡층(70)에 접촉하고 있다. 경계 부분(43)에서의 기판(30)과는 반대측의 표면(43a)은, 배선부(60)의 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면(31)에 수직인 방향 A1에 대해서 경사진 경사면(43b)을 포함하고 있다. 보다 구체적으로는, 경사면(43b)은, 제1 부분(41)의 표면(41a)에 대해서 외측으로 (홈부(33)의 저면(34b)으로부터 멀어질수록 홈부(33)의 중심으로부터 멀어지도록) 경사져 있다. 이 예에서는, 경사면(43b)은, 기판(30)과는 반대측을 향하여 볼록 모양으로 만곡하고 있다.
금속층(50)의 단부(51)는, 캡층(70)과 경사면(43b)과의 사이로 들어가 있다. 보다 구체적으로는, 단부(51)는, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서 캡층(70)과 경사면(43b)과의 사이에 형성된 공간에 배치된 부분을 가지고 있다.
단부(51)는, 제1 표면(51a)과, 제1 표면(51a)에 연속하는 제2 표면(51b)과, 제2 표면(51b)와는 반대측에서 제1 표면(51a)에 연속하는 제3 표면(51c)을 가지고 있다. 제1 표면(51a)은, 캡층(70)을 따르고 있고, 캡층(70)에 접합되어 있다. 이 예에서는, 제1 표면(51a)은, 평탄면이며, 절연층(40)의 제2 부분(42)의 표면(42a), 및 후술하는 배선부(60)의 표면(60a)과 동일 평면 상에 위치하고 있다.
제2 표면(51b)은, 경사면(43b)을 따르고 있고, 경사면(43b)에 접합되어 있다. 제2 표면(51b)은, 경사면(43b)과 마찬가지로, 주면(31)에 수직인 방향 A1에 대해서 외측으로 경사져 있다. 제2 표면(51b)은, 기판(30)과는 반대측에 향하여 오목 모양으로 만곡하고 있다. 제2 표면(51b)은, 절연층(40)의 경계 부분(43)을 구성하는 제2 층(45)에 접촉하고 있다. 즉, 절연층(40) 중 제2 표면(51b)에 접촉하는 부분(이 예에서는, 경계 부분(43)을 구성하는 제2 층(45))은, 캡층(70) 중 제1 표면(51a)에 접촉하는 부분과 동일한 재료(실리콘 질화막)에 의해서 구성되어 있다.앞서 설명한 것과 같이, 이 예에서는, 캡층(70)의 전체가 실리콘 질화막에 의해서 구성되어 있다. 이것에 의해, 절연층(40)과 캡층(70)과의 사이의 접합 강도를 높일 수 있다.
제3 표면(51c)은, 단부(51)에서의 제2 표면(51b)과는 반대측의 표면이다. 제3 표면(51c)은, 배선부(60)의 연재 방향에서 보았을 경우에, 방향 A1에 대해서 외측으로 경사져 있다. 제3 표면(51c)의 방향 A1에 대한 경사의 정도는, 제2 표면(51b)의 방향 A1에 대한 경사의 정도보다도 완만하게 되어 있다. 이것에 의해, 주면(31)에 평행한 방향 A2에서의 단부(51)의 두께는, 단부(51)의 선단에 가까워짐에 따라 점증(漸增)하고 있다. 배선부(60) 중 금속층(50) 및 캡층(70)과의 경계 부분에 위치하는 일부(61)는, 캡층(70)과 제3 표면(51c)과의 사이에 들어가 있다. 보다 구체적으로는, 배선부(60)의 일부(61)는, 방향 A1에서 캡층(70)과 제3 표면(51c)과의 사이에 형성된 공간에 배치되어 있다.
단부(51)에서는, 제1 표면(51a)과 제2 표면(51b)이 예각을 이루고 있다. 환언하면, 제1 표면(51a) 및 제2 표면(51b)에 의해 형성되는 각도 θ가, 90도보다도 작게 되어 있다. 즉, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 단부(51)의 두께는, 단부(51)의 선단(예를 들면, 제1 표면(51a) 및 제2 표면(51b)에 의해 형성되는 꼭짓점)에 가까워짐에 따라 점감(漸減)하고 있다. 각도 θ는, 예를 들면, 15도~88도라도 괜찮다. 금속층(50)의 단부(51)는, 절연층(40)의 제2 부분(42) 상에는 마련되어 있지 않다.
주면(31)에 평행한 방향 A2에서의 단부(51)의 두께(최소 두께)는, 금속층(50) 중 단부(51) 이외의 부분(예를 들면, 금속층(50) 중 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 중간에 위치하는 부분, 혹은, 금속층(50) 중 절연층(40)의 제1 부분(41) 상에 위치하는 부분)의 두께보다도 크다. 방향 A1에서의 금속층(50)의 선단부의 두께(최대 두께)는, 절연층(40)의 두께 T2보다도 작다. 여기서, 「금속층(50)의 선단부」란, 금속층(50) 중, 주면(31)에 평행한 방향 A2에서의 두께가 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 두께보다도 큰 부분을 의미한다.
이 예에서는, 배선부(60)에서의 캡층(70)과 접촉하는 표면(제1 접촉면)(60a)은, 절연층(40)의 제2 부분(42)의 표면(42a)과 동일 평면 상에 위치하고 있다. 표면(42a)은, 절연층(40)에서의 캡층(70)과 접촉하는 표면(제2 접촉면)이다. 캡층(70)의 기판(30)측의 표면(70a)은, 평탄면으로 되어 있다.
앞서 설명한 것과 같이, 홈부(33)는, 평면시에서 소용돌이 모양으로 연재하고 있다. 이것에 의해, 도 2에 도시되어 있는 것과 같이, 홈부(33)는, 서로 이웃하는 복수의 부분(33a)을 가지고 있다. 부분(33a)끼리의 사이의 간격 B는, 홈부(33)의 폭 W보다도 작다. 홈부(33)의 폭 W는, 홈부(33)의 깊이 D보다도 작다. 홈부(33)의 깊이 D란, 예를 들면, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 주면(31)과 저면(34b)과의 사이의 거리이다. 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 홈부(33)의 저면(34b)과 기판(30)에서의 주면(31)과는 반대측의 반대면과의 사이의 거리 L은, 홈부(33)의 깊이 D보다도 크다. 이 예에서는, 이 반대면은, 제1 실리콘층(81)에서의 절연층(83)측(주면(31)과는 반대측)의 표면(81a)이다.
[작용 효과]
다마신 배선 구조(100)에서는, 절연층(40)이, 홈부(33)의 내면(34) 상에 마련된 제1 부분(41), 및 제1 부분(41)과 일체적으로 형성되고, 주면(31) 상에 마련된 제2 부분(42)을 가지고 있으며, 캡층(70)이, 절연층(40)의 제2 부분(42), 금속층(50)의 단부(51), 및 배선부(60)를 덮도록 마련되어 있다. 이것에 의해, 예를 들면 절연층(40)이 제1 부분(41)만을 가지고 있는 경우와 비교해서, 응력이 집중되기 쉬운 개소를 줄일 수 있다. 즉, 절연층(40)이 제1 부분(41)만을 가지고 있는 경우, 절연층(40)의 단부가 주면(31)과 홈부(33)와의 경계 부분의 근방에 위치하고, 주면(31)과 캡층(70)이 접촉한다. 이 경우, 기판(30), 절연층(40)의 그 단부, 금속층(50)의 단부(51), 배선부(60) 및 캡층(70)이, 서로 가까운 개소에서 접촉하게 된다. 이러한 개소에는 응력이 집중되기 쉽다. 이것에 대해, 다마신 배선 구조(100)에서는, 주면(31)과 홈부(33)와의 경계 부분의 근방에 절연층(40)의 단부가 존재하지 않기 때문에, 응력이 집중되는 개소를 줄일 수 있다. 또한, 금속층(50)의 단부(51)가 캡층(70)에 접촉하도록 연재하고 있다. 만일, 단부(51)가 캡층(70)에 도달하여 있지 않고, 배선부(60)의 표면(60a)보다도 낮은 위치에 머물러 있으면, 배선부(60) 중 금속층(50)으로부터 노출한 부분에 보이드가 발생할 우려가 있다. 이것에 대해, 다마신 배선 구조(100)에서는, 그러한 보이드의 발생을 억제할 수 있어, 보이드에 기인하는 캡층(70)의 박리 등을 억제할 수 있다. 또한, 절연층(40)에서의 제1 부분(41)과 제2 부분(42)과의 경계 부분(43)의 기판(30)과는 반대측의 표면(43a)이 경사면(43b)을 포함하고 있고, 금속층(50)의 단부(51)가, 캡층(70)과 경사면(43b)과의 사이에 들어가 있다. 그리고, 단부(51)에서는, 캡층(70)을 따른 제1 표면(51a)과 경사면(43b)을 따른 제2 표면(51b)이 예각을 이루고 있다. 이것에 의해, 캡층(70)에 응력이 집중적으로 작용하는 것을 억제할 수 있다. 이상에 의해, 다마신 배선 구조(100)에서는, 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 캡층(70)의 두께 T1이, 절연층(40)의 두께 T2보다도 두껍다. 이것에 의해, 캡층(70)의 강도를 높일 수 있어, 신뢰성을 한층 높일 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 캡층(70) 중 단부(51)의 제1 표면(51a)에 접촉하는 부분과, 절연층(40) 중 단부(51)의 제2 표면(51b)에 접촉하는 부분(경계 부분(43)을 구성하는 제2 층(45))이, 서로 동일한 재료에 의해서 구성되어 있다. 이것에 의해, 캡층(70)과 금속층(50)의 단부(51)와의 접촉 부분의 근방에서 캡층(70)과 절연층(40)과의 사이의 접합 강도를 높일 수 있어, 신뢰성을 보다 한층 높일 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 절연층(40)이, 산화막으로 이루어지는 제1 층(44)과, 질화막으로 이루어지고, 제1 층(44) 상에 마련된 제2 층(45)을 가지고 있다. 이것에 의해, 산화막으로 이루어지는 제1 층(44)에 경사 형상을 용이하게 형성할 수 있기 때문에, 경사면(43b)의 형성을 용이화할 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 경사면(43b)이 볼록 모양으로 만곡하고 있다. 이것에 의해, 캡층(70)에 응력이 집중적으로 작용하는 것을 보다 확실히 억제할 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 금속층(50)의 단부(51)에서의 제2 표면(51b)와는 반대측의 제3 표면(51c)이 경사져 있고, 배선부(60)의 일부(61)가, 캡층(70)과 제3 표면(51c)과의 사이에 들어가 있다. 이것에 의해, 배선부(60)에 의해 금속층(50)의 단부(51)를 누를 수 있어, 금속층(50)으로부터 캡층(70)에 작용하는 응력을 저감할 수 있다. 또한, 배선부(60)의 일부(61)의 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 두께가 얇아지기 때문에, 배선부(60)로부터 캡층(70)에 작용하는 응력을 저감할 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 금속층(50)의 단부(51)의 주면(31)에 평행한 방향 A2에서의 두께가, 금속층(50)에서의 단부(51) 이외의 부분의 두께보다도 두껍다. 이것에 의해, 금속층(50)의 단부(51)와 캡층(70)과의 접촉 면적을 크게 할 수 있어, 금속층(50)으로부터 캡층(70)에 작용하는 응력을 보다 바람직하게 분산시킬 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 금속층(50)의 단부(51)의 주면(31)에 평행한 방향 A2에서의 두께가, 단부(51)의 선단에 가까워짐에 따라 점증하고 있다. 이것에 의해, 금속층(50)의 단부(51)와 캡층(70)과의 접촉 면적을 한층 크게 할 수 있어, 금속층(50)으로부터 캡층(70)에 작용하는 응력을 보다 한층 바람직하게 분산시킬 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 홈부(33)가 소용돌이 모양으로 연재하고 있다. 이와 같이 홈부(33)가 소용돌이 모양으로 연재하고 있는 경우에도, 높은 신뢰성을 얻을 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 홈부(33)에서의 서로 이웃하는 부분(33a)의 사이의 간격 B는, 홈부(33)의 폭 W보다도 작아도 괜찮다. 이것에 의해, 배선의 피치(간격)를 좁게 할 수 있어, 공간 절약화를 도모할 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 홈부(33)의 폭 W가 홈부(33)가 깊이 D보다도 작다. 이것에 의해, 공간 절약화, 및 배선의 저저항화를 도모할 수 있다.
다마신 배선 구조(100)에서는, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 홈부(33)의 저면(34b)과 기판(30)에서의 주면(31)과는 반대측의 반대면(제1 실리콘층(81)의 표면(81a))과의 사이의 거리 L이, 홈부(33)의 깊이 D보다도 크다. 이것에 의해, 기판(30)의 강도를 높일 수 있어, 신뢰성을 보다 한층 높일 수 있다.
[다마신 배선 구조의 제조 방법]
이어서, 도 5, 도 6 및 도 7을 참조하면서, 다마신 배선 구조(100)의 제조 방법에 대해서 설명한다. 또한 도 5~도 7에서는, 각 부가 모식적으로 도시되어 있지만, 실제로는, 예를 들면 도 4에 도시되는 형상으로 형성되어 있다.
먼저, 도 5의 (a)에 도시되어 있는 것과 같이, 제1 실리콘층(81), 제2 실리콘층(82) 및 절연층(83)을 가지는 기판(30)을 준비하고, 기판(30)의 주면(31)에 홈부(33)를 형성한다. 홈부(33)는, 예를 들면, 보쉬(Bosch) 프로세스를 이용한 반응성 이온 에칭(DRIE)에 의해 형성된다. 제1 실리콘층(81)의 두께는, 예를 들면 30~150㎛ 정도이며, 제2 실리콘층(82)의 두께는, 예를 들면 625㎛ 정도이다. 홈부(33)의 깊이는, 예를 들면 5~30㎛ 정도이다.
이어서, 도 5의 (b)에 도시되어 있는 것과 같이, 기판(30)의 주면(31) 상에, 내면(34) 상에 마련된 제1 부분(41)과, 제1 부분(41)과 일체적으로 형성되고 주면(31) 상에 마련된 제2 부분(42)을 가지는 절연층(40)을 형성한다(제1 스텝). 보다 구체적으로는, 실리콘 산화막(열산화막)으로 이루어지는 제1 층(44)을 주면(31) 및 홈부(33)의 내면(34) 상에 걸쳐서 형성한 후에, 실리콘 질화막(LP-SiN)으로 이루어지는 제2 층(45)을 제1 층(44) 상에 형성한다. 제1 층(44) 및 제2 층(45)의 두께는, 예를 들면 100~1000㎚ 정도이다.
보다 구체적으로는, 제1 스텝에서는, 절연층(40)에서의 제1 부분(41)과 제2 부분(42)과의 경계 부분(43)의 기판(30)과는 반대측의 표면(43a)이, 배선부(60)의 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면(31)에 수직인 방향 A1에 대해서 경사진 경사면(43b)을 포함하는 절연층(40)이 형성된다(도 4 참조). 예를 들면, 실리콘 산화막으로 이루어지는 제1 층(44), 및 실리콘 질화막으로 이루어지는 제2 층(45)을 주면(31) 및 홈부(33)의 내면(34) 상에 형성하는 것에 의해, 경계 부분(43)의 표면(43a)에 경사면(43b)이 형성된다. 이것은, 실리콘 산화막으로 이루어지는 제1 층(44)에는 경사 형상이 용이하게 형성되기 때문이다.
이어서, 도 6의 (a)에 도시되어 있는 것과 같이, 절연층(40)의 제1 부분(41) 및 제2 부분(42) 상에 금속층(50)을 형성한다(제2 스텝). 제2 스텝에서는, 금속층(50) 상에 금속층(55)이 형성된다. 금속층(55)은, 예를 들면, 동 등의 금속 재료에 의해서 구성되어 있다. 금속층(55)은, 금속층(50)과 함께 시드층으로서 기능한다. 금속층(50) 및 금속층(55)은, 예를 들면, 스퍼터링에 의해 형성되는데, 원자층 퇴적법(ALD), 화학 성장법(CVD), 이온 플레이팅(ion plating) 또는 무전해 도금에 의해 형성되어도 괜찮다. 금속층(50) 및 금속층(55)의 총 두께는, 예를 들면 10㎚~3000㎚ 정도이다.
이어서, 도 6의 (b)에 도시되어 있는 것과 같이, 홈부(33) 내에 매립됨과 아울러 금속층(50)에 접합되도록, 배선부(60)를 형성한다(제3 스텝). 배선부(60)는, 예를 들면, 도금에 의해 형성된다. 배선부(60)는, 예를 들면, 주면(31) 상에서의 배선부(60)의 두께의 평균이 1㎛ 이상이 되도록 형성된다. 또한 이 예에서는 금속층(55)이 배선부(60)와 동일한 재료에 의해 구성되어 있기 때문에, 배선부(60)의 형성시에 배선부(60)와 금속층(55)이 일체화되고, 배선부(60)와 금속층(55) 사이의 계면이 없어지는 경우가 있다. 이 경우, 금속층(55)은 배선부(60)를 구성한다고 간주할 수 있다.
이어서, 도 7의 (a)에 도시되어 있는 것과 같이, 절연층(40)의 제2 부분(42)이 노출되도록, 화학 기계 연마(CMP)에 의해, 제2 부분(42) 상의 금속층(50), 금속층(55) 및 배선부(60)를 제거하여 평탄화한다(제4 스텝). 제4 스텝에서는, 절연층(40), 금속층(50), 금속층(55) 및 배선부(60)에 대해서, 기판(30)과는 반대측으로부터 화학 기계 연마가 실시된다. 절연층(40), 금속층(50), 금속층(55) 및 배선부(60) 각각에 대해서, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 주면(31) 또는 저면(34b)과는 반대측의 일부가 제거되는 것에 의해, 절연층(40), 금속층(50), 금속층(55) 및 배선부(60)가 평탄화된다. 이 때, 이 예에서는, 절연층(40)의 제2 층(45) 중 제 2 부분(42)을 구성하는 부분이 제거된다.
이어서, 도 7의 (b)에 도시되어 있는 것과 같이, 절연층(40)의 제2 부분(42), 금속층(50)의 단부(51), 및 배선부(60)를 덮도록, 캡층(70)을 형성한다(제5 스텝). 캡층(70)은, 예를 들면 실리콘 질화막(PE-SiN)으로 이루어지고, 200~3000㎚ 정도의 두께로 형성된다. 이어서, 제2 실리콘층(82) 및 절연층(83)을 에칭 등에 의해 제거한다. 이상의 공정에 의해, 앞서 설명한 다마신 배선 구조(100)를 얻을 수 있다.
[변형예]
본 개시는, 상기 실시 형태에 한정되지 않는다. 다마신 배선 구조(100)는, 도 8에 도시되는 제1 변형예와 같이 구성되어도 괜찮다. 제1 변형예에서는, 기판(30)에서의 주면(31)과 홈부(33)와의 경계 부분에는, 배선부(60)의 연재 방향에서 보았을 경우에, 주면(31)에 수직인 방향 A1에 대해서 외측으로 경사진 경계면(35)이 마련되어 있다. 경계면(35)은, 예를 들면 평탄면이다. 절연층(40)의 경계 부분(43)은, 경계면(35) 상에 마련되어 있기 때문에, 경계면(35)을 따라서 연재하고, 주면(31)에 수직인 방향 A1에 대해서 외측으로 경사져 있다. 경계 부분(43)의 경사면(43b), 및 금속층(50)의 단부(51)의 제2 표면(51b)은, 경계면(35)에 평행한 평탄면으로 되어 있다. 단부(51)의 제3 표면(51c)도, 방향 A1에 대해서 외측으로 경사진 평탄면으로 되어 있다. 제3 표면(51c)의 방향 A1에 대한 경사 각도는, 제2 표면(51b)의 방향 A1에 대한 경사 각도보다도 완만하게 되어 있다. 이것에 의해, 주면(31)에 평행한 방향 A2에서의 단부(51)의 두께는, 단부(51)의 선단에 가까워짐에 따라 점증하고 있다.
제1 변형예의 다마신 배선 구조(100)의 제조시에는, 예를 들면, 논보쉬(Non-Bosch) 프로세스 및 보쉬 프로세스를 이용한 반응성 이온 에칭에 의해 홈부(33)가 형성된다. 이것에 의해, 홈부(33)의 형성시에, 기판(30)에서의 주면(31)과 홈부(33)와의 경계 부분에 경계면(35)이 형성된다. 논보쉬 프로세스 및 보쉬 프로세스를 조합하는 것에 의해서 신뢰성의 향상을 도모할 수 있다.
제1 변형예에 의해서도, 상기 실시 형태와 마찬가지로, 신뢰성을 높일 수 있다. 또한, 기판(30)에서의 주면(31)과 홈부(33)와의 경계 부분에 경계면(35)이 마련되어 있기 때문에, 경사면(43b)의 형성을 용이화할 수 있다. 제1 변형예에서도, 홈부(33)가 가지는 복수의 부분(33a)끼리의 사이의 간격 B는, 홈부(33)의 폭 W보다도 작아도 괜찮다. 제1 변형예의 경우, 간격 B는, 복수의 부분(33a)에서의 경계면(35) 이외의 내면(34) 사이의 거리(환언하면, 내면(34) 중 주면(31)에 수직인 방향 A1을 따라서 연재하는 부분의 사이의 거리)이다.
다마신 배선 구조(100)는, 도 9에 도시되는 제2 변형예와 같이 구성되어도 괜찮다. 제2 변형예에서는, 배선부(60)의 표면(60a)이, 절연층(40)의 제2 부분(42)의 표면(42a)에 대해서, 홈부(33)의 저면(34b)측에 위치하고 있다. 금속층(50)의 단부(51)의 제3 표면(51c)이, 캡층(70)에서의 표면(60a) 상의 부분과 표면(42a) 상의 부분과의 경계 부분(71)에 의해서 덮여 있다. 경계 부분(71)은, 제3 표면(51c)을 따라서 연재하고 있고, 주면(31)에 수직인 방향 A1에 대해서 외측으로 경사져 있다. 제2 변형예의 다마신 배선 구조(100)의 제조시에는, 예를 들면, 제4 스텝의 화학 기계 연마에서의 슬러리를 조정하는 것에 의해 배선부(60)의 디싱(dishing)량(배선부(60)가 제거되는 양)을 증가시킨다. 이것에 의해, 도 9에 도시되는 형상의 배선부(60)를 형성할 수 있다.
제2 변형예에 의해서도, 상기 실시 형태와 마찬가지로, 신뢰성을 높일 수 있다. 또한, 표면(60a)이 표면(42a)에 대해서 홈부(33)의 저면(34b)측에 위치하고 있다. 이것에 의해, 응력이 집중되기 쉬운 개소를 한층 적게 할 수 있다. 또한, 경계 부분(71)에 의해서 단부(51)의 제3 표면(51c)이 덮여지기 때문에, 금속층(50)의 단부(51)와 캡층(70)과의 접촉 면적을 한층 크게 할 수 있어, 금속층(50)으로부터 캡층(70)에 작용하는 응력을 한층 바람직하게 분산시킬 수 있다.
다마신 배선 구조(100)는, 도 10의 (a)에 도시되는 제3 변형예와 같이 구성되어도 괜찮다. 제3 변형예에서는, 제2 변형예와 마찬가지로, 배선부(60)의 표면(60a)이, 절연층(40)의 제2 부분(42)의 표면(42a)에 대해서, 홈부(33)의 저면(34b)측에 위치하고 있다. 또, 금속층(50)의 단부(51)의 제3 표면(51c)이, 캡층(70)의 경계 부분(71)에 의해서 덮여져 있다. 제3 변형예에서는, 캡층(70)의 두께 T1이, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 표면(60a)과 표면(42a)과의 사이의 거리 H 보다도 크다. 제3 변형예에 의해서도, 상기 실시 형태와 마찬가지로, 신뢰성을 높일 수 있다. 또한, 캡층(70)의 두께 T1이, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 표면(60a)과 표면(42a)과의 사이의 거리 H 보다도 크기 때문에, 캡층(70)의 강도를 한층 높일 수 있다.
다마신 배선 구조(100)는, 도 10의 (b)에 도시되는 제4 변형예와 같이 구성되어도 괜찮다. 제4 변형예에서는, 제2 변형예와 마찬가지로, 배선부(60)의 표면(60a)이, 절연층(40)의 제2 부분(42)의 표면(42a)에 대해서, 홈부(33)의 저면(34b)측에 위치하고 있다. 또, 금속층(50)의 단부(51)의 제3 표면(51c)이, 캡층(70)의 경계 부분(71)에 의해서 덮여져 있다. 제4 변형예에서는, 캡층(70)의 두께 T1이, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 표면(60a)과 표면(42a)과의 사이의 거리 H 보다도 작다. 제4 변형예에 의해서도, 상기 실시 형태와 마찬가지로, 신뢰성을 높일 수 있다. 또한, 캡층(70)의 두께 T1이, 주면(31)에 수직인 방향 A1에서의 표면(60a)과 표면(42a)과의 사이의 거리 H 보다도 작기 때문에, 방향 A1에서의 배선부(60)의 두께를 얇게 할 수 있고, 그 결과, 배선부(60)으로부터 캡층에 작용하는 응력을 한층 저감할 수 있다.
코일(21, 22)의 형상 및 배치는, 앞서 설명한 예에 한정되지 않는다. 예를 들면, 상기 실시 형태에서는, 코일(22)이, 제1 축선(X1)에 평행한 방향으로 연재하는 부분, 및 제2 축선(X2)에 평행한 방향으로 연재하는 부분만을 가지고 있었지만, 코일(22)은, 평면시에서 제1 축선(X1) 및 제2 축선(X2)과 교차하는 방향으로 연재하는 부분을 가지고 있어도 괜찮다. 코일(22)은, 평면시에서 제1 축선(X1)에 대해서 45도 경사져 연재하는 부분을 가지고 있어도 괜찮다. 이러한 점들은 코일(21)에 대해서도 마찬가지이다. 상기 실시 형태에서, 코일(21, 22) 중 어느 일방이 생략되어도 괜찮다. 상기 실시 형태에서는, 제2 가동부(4)를, 제1 가동부(3)를 요동 가능하게 지지하는 지지부로 간주할 수도 있다. 제2 가동부(4) 및 제2 연결부(7, 8)이 생략되어도 괜찮다. 이 경우, 제1 가동부(3)는, 제1 축선(X1) 둘레로만 요동시켜진다.
각 구성의 재료 및 형상은, 앞서 설명한 예에 한정되지 않는다. 금속층(50)의 단부(51)의 제3 표면(51c)은, 제2 표면(51b)을 따라서 연재하고 있어도 괜찮다. 예를 들면, 제3 표면(51c)의 경사의 정도(경사 각도)가 제2 표면(51b)의 경사의 정도(경사 각도)와 동일해도 괜찮다. 제3 표면(51c)과 제2 표면(51b)이 서로 평행하게 연재하고 있어도 괜찮다. 제2 부분(42)은, 제1 층(44) 및 제2 층(45)에 의해서 구성되어 있어도 괜찮다. 이 경우, 응력이 집중되기 쉬운 개소를 한층 줄일 수 있다. 캡층(70)이 절연층(40)의 제2 층(45)과 동일한 재료에 의해서 구성되어 있는 경우, 동일한 재료끼리가 접합되어 있는 부분의 면적이 크게 되기 때문에, 밀착성을 높일 수 있다. 절연층(40)은, 단일의 층에 의해서 구성되어 있어도 괜찮다. 절연층(40)은, 예를 들면, 산화막으로 이루어지는 단일의 층에 의해서 구성되어도 괜찮다. 이 경우, 캡층(70)은, 산화막에 의해서 구성되어도 괜찮다. 배선부(60)의 연재 방향에서 보았을 경우에, 제1 표면(51a)과 제2 표면(51b)은, 서로의 곡률이 연속하도록 접속되어 있어도 괜찮다. 다마신 배선 구조(100)는, 액츄에이터 장치 이외의 구성에 적용되어도 괜찮다.
1 : 미러 장치(액츄에이터 장치)
2 : 지지부
3 : 제1 가동부 4 : 제2 가동부(지지부)
9 : 자계 발생부 21, 22 : 코일
30 : 기판 31 : 주면
33 : 홈부 34 : 내면
34b : 저면(저부) 35 : 경계면
40 : 절연층 41 : 제1 부분
42 : 제2 부분 42a : 표면(제2 접촉면)
43 : 경계 부분 43a : 표면
43b : 경사면 44 : 제1 층
45 : 제2 층 50 : 금속층
51 : 단부 51a : 제1 표면
51b : 제2 표면 51c : 제3 표면
60 : 배선부 60a : 표면(제1 접촉면)
61 : 배선부의 일부 70 : 캡층
81a : 표면(반대면) 100 : 다마신 배선 구조.
3 : 제1 가동부 4 : 제2 가동부(지지부)
9 : 자계 발생부 21, 22 : 코일
30 : 기판 31 : 주면
33 : 홈부 34 : 내면
34b : 저면(저부) 35 : 경계면
40 : 절연층 41 : 제1 부분
42 : 제2 부분 42a : 표면(제2 접촉면)
43 : 경계 부분 43a : 표면
43b : 경사면 44 : 제1 층
45 : 제2 층 50 : 금속층
51 : 단부 51a : 제1 표면
51b : 제2 표면 51c : 제3 표면
60 : 배선부 60a : 표면(제1 접촉면)
61 : 배선부의 일부 70 : 캡층
81a : 표면(반대면) 100 : 다마신 배선 구조.
Claims (19)
- 홈부가 마련된 주면(主面)을 가지는 베이스와,
상기 홈부의 내면 상에 마련된 제1 부분, 및 상기 제1 부분과 일체적으로 형성되고, 상기 주면 상에 마련된 제2 부분을 가지는 절연층과,
상기 절연층의 상기 제1 부분 상에 마련된 금속층과,
상기 홈부 내에 매립되고, 상기 금속층에 접합된 배선부와,
상기 절연층의 상기 제2 부분, 상기 금속층의 단부, 및 상기 배선부를 덮도록 마련된 캡층을 구비하고,
상기 절연층에서의 상기 제1 부분과 상기 제2 부분과의 경계 부분의 상기 베이스와는 반대측의 표면은, 상기 배선부의 연재(延在) 방향에서 보았을 경우에, 상기 주면에 수직인 방향에 대해서 경사진 경사면을 포함하고 있고,
상기 금속층의 상기 단부는, 상기 캡층과 상기 경사면과의 사이에 들어가 있고, 상기 단부에서는, 상기 캡층을 따른 제1 표면과 상기 경사면을 따른 제2 표면이 예각을 이루고 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 1에 있어서,
상기 캡층의 두께는, 상기 절연층의 두께보다도 두꺼운 다마신 배선 구조. - 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 캡층 중 상기 금속층의 상기 단부의 상기 제1 표면에 접촉하는 부분과, 상기 절연층 중 상기 금속층의 상기 단부의 상기 제2 표면에 접촉하는 부분은, 서로 동일한 재료에 의해서 구성되어 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 절연층은, 산화막으로 이루어지는 제1 층과, 질화막으로 이루어지고 상기 제1 층 상에 마련된 제2 층을 가지고 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 베이스에서의 상기 주면과 상기 홈부와의 경계 부분에는, 상기 연재 방향에서 보았을 경우에, 상기 주면에 수직인 방향에 대해서 경사진 경계면이 마련되어 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 경사면은, 볼록 모양으로 만곡하고 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 금속층의 상기 단부에서의 상기 제2 표면과는 반대측의 제3 표면은, 상기 연재 방향에서 보았을 경우에, 상기 주면에 수직인 방향에 대해서 경사져 있고,
상기 배선부의 일부는, 상기 캡층과 상기 제3 표면과의 사이에 들어가 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 7 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 금속층의 상기 단부의 상기 주면에 평행한 방향에서의 두께는, 상기 금속층에서의 상기 단부 이외의 부분의 두께보다도 두꺼운 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 금속층의 상기 단부의 상기 주면에 평행한 방향에서의 두께는, 상기 단부의 선단에 가까워짐에 따라 점증(漸增)하고 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 9 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 배선부에서의 상기 캡층과 접촉하는 제1 접촉면은, 상기 절연층에서의 상기 캡층과 접촉하는 제2 접촉면에 대해서, 상기 홈부의 저부측에 위치하고 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 10에 있어서,
상기 캡층의 두께는, 상기 주면에 수직인 방향에서의 상기 제1 접촉면과 상기 제2 접촉면과의 사이의 거리보다도 큰 다마신 배선 구조. - 청구항 10에 있어서,
상기 캡층의 두께는, 상기 주면에 수직인 방향에서의 상기 제1 접촉면과 상기 제2 접촉면과의 사이의 거리보다도 작은 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 12 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 홈부는, 상기 주면에 수직인 방향에서 보았을 경우에, 소용돌이 모양으로 연재하고 있는 다마신 배선 구조. - 청구항 12에 있어서,
상기 홈부에서의 서로 이웃하는 부분의 사이의 간격은, 상기 홈부의 폭보다도 작은 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 12 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 홈부의 폭은, 상기 홈부의 깊이보다도 작은 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 15 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 베이스는, 상기 주면과는 반대측의 반대면을 가지고,
상기 주면에 수직인 방향에서의 상기 홈부의 저부와 상기 반대면과의 사이의 거리는, 상기 홈부의 깊이보다도 큰 다마신 배선 구조. - 청구항 1 내지 청구항 16 중 어느 하나의 항에 기재된 다마신 배선 구조를 구비하는 액츄에이터 장치로서,
지지부와,
상기 지지부에서 요동 가능하게 되도록 지지된 가동부와,
상기 다마신 배선 구조를 가지고, 상기 지지부 및 상기 가동부 중 적어도 일방에 마련된 코일과,
상기 코일에 작용하는 자계를 발생시키는 자계 발생부를 구비하는 액츄에이터 장치. - 홈부가 마련된 주면을 가지는 베이스 상에, 상기 홈부의 내면 상에 마련된 제1 부분, 및 상기 제1 부분과 일체적으로 형성되고 상기 주면 상에 마련된 제2 부분을 가지는 절연층을 형성하는 제1 스텝과,
상기 제1 스텝 후에, 상기 절연층의 상기 제1 부분 및 상기 제2 부분 상에 금속층을 형성하는 제2 스텝과,
상기 제2 스텝 후에, 상기 홈부 내에 매립됨과 아울러 상기 금속층에 접합되도록, 상기 금속층 상에 배선부를 형성하는 제3 스텝과,
상기 제3 스텝 후에, 상기 절연층의 상기 제2 부분이 노출되도록, 화학 기계 연마에 의해, 상기 제2 부분 상의 상기 금속층 및 상기 배선부를 제거하여 평탄화하는 제4 스텝과,
상기 제4 스텝 후에, 상기 절연층의 상기 제2 부분, 상기 금속층의 단부, 및 상기 배선부를 덮도록 캡층을 형성하는 제5 스텝을 구비하고,
상기 제1 스텝에서는, 상기 절연층에서의 상기 제1 부분과 상기 제2 부분과의 경계 부분의 상기 베이스와는 반대측의 표면이, 상기 배선부의 연재 방향에서 보았을 경우에, 상기 주면에 수직인 방향에 대해서 경사진 경사면을 포함하는 상기 절연층을 형성하는 다마신 배선 구조의 제조 방법. - 청구항 18에 있어서,
상기 제2 스텝에서는, 스퍼터링에 의해 상기 금속층을 형성하는 다마신 배선 구조의 제조 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018205351 | 2018-10-31 | ||
JPJP-P-2018-205351 | 2018-10-31 | ||
PCT/JP2019/042669 WO2020090931A1 (ja) | 2018-10-31 | 2019-10-30 | ダマシン配線構造、アクチュエータ装置、及びダマシン配線構造の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20210084446A true KR20210084446A (ko) | 2021-07-07 |
Family
ID=70464117
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020217010156A KR20210084446A (ko) | 2018-10-31 | 2019-10-30 | 다마신 배선 구조, 액츄에이터 장치, 및 다마신 배선 구조의 제조 방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11987493B2 (ko) |
EP (2) | EP4235775A3 (ko) |
JP (2) | JP7431746B2 (ko) |
KR (1) | KR20210084446A (ko) |
CN (1) | CN113228240A (ko) |
WO (1) | WO2020090931A1 (ko) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0684896A (ja) | 1992-09-02 | 1994-03-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 配線構造体の製法 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3396553B2 (ja) | 1994-02-04 | 2003-04-14 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 |
TW490718B (en) * | 2000-01-25 | 2002-06-11 | Toshiba Corp | Semiconductor device and the manufacturing method thereof |
TWI233145B (en) * | 2002-09-03 | 2005-05-21 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
JP4189198B2 (ja) * | 2002-10-24 | 2008-12-03 | 株式会社東芝 | 半導体装置およびその製造方法 |
US7060624B2 (en) | 2003-08-13 | 2006-06-13 | International Business Machines Corporation | Deep filled vias |
US7563714B2 (en) | 2006-01-13 | 2009-07-21 | International Business Machines Corporation | Low resistance and inductance backside through vias and methods of fabricating same |
JP4951982B2 (ja) | 2006-01-24 | 2012-06-13 | 富士電機株式会社 | 半導体装置とその製造方法 |
JP4812512B2 (ja) | 2006-05-19 | 2011-11-09 | オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド | 半導体装置の製造方法 |
JP5143382B2 (ja) | 2006-07-27 | 2013-02-13 | オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド | 半導体装置及びその製造方法 |
US20080128907A1 (en) * | 2006-12-01 | 2008-06-05 | International Business Machines Corporation | Semiconductor structure with liner |
WO2011033496A1 (en) | 2009-09-16 | 2011-03-24 | Maradin Technologies Ltd. | Micro coil apparatus and manufacturing methods therefor |
JP5754209B2 (ja) | 2011-03-31 | 2015-07-29 | 大日本印刷株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP5583077B2 (ja) | 2011-06-03 | 2014-09-03 | 株式会社東芝 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2013077631A (ja) * | 2011-09-29 | 2013-04-25 | Ulvac Japan Ltd | 半導体装置の製造方法、半導体装置 |
US8975729B2 (en) * | 2012-01-13 | 2015-03-10 | Qualcomm Incorporated | Integrating through substrate vias into middle-of-line layers of integrated circuits |
JP5916105B2 (ja) | 2012-03-27 | 2016-05-11 | 国立大学法人九州工業大学 | 半導体装置の製造方法 |
JP6093929B2 (ja) | 2012-07-04 | 2017-03-15 | サムコ株式会社 | 高アスペクト比の凹凸構造を有するシリコン基板の製造方法 |
US9159574B2 (en) | 2012-08-27 | 2015-10-13 | Applied Materials, Inc. | Method of silicon etch for trench sidewall smoothing |
JP2014063866A (ja) | 2012-09-21 | 2014-04-10 | Canon Inc | シリコン基板の加工方法及び荷電粒子線レンズの製造方法 |
WO2014109170A1 (ja) * | 2013-01-11 | 2014-07-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | ミラー駆動装置 |
JP2017092238A (ja) | 2015-11-10 | 2017-05-25 | 株式会社リコー | 半導体基板の製造方法 |
JP2017120851A (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 株式会社東芝 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
US9653348B1 (en) * | 2015-12-30 | 2017-05-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP6696777B2 (ja) * | 2016-01-21 | 2020-05-20 | 浜松ホトニクス株式会社 | アクチュエータ装置 |
WO2017150628A1 (ja) | 2016-03-02 | 2017-09-08 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 微細立体構造形成方法、及び微細立体構造 |
JP2018093038A (ja) * | 2016-12-02 | 2018-06-14 | 富士通株式会社 | 配線構造及び容量素子 |
EP4198605A1 (en) * | 2017-02-28 | 2023-06-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical module |
US10163692B2 (en) * | 2017-03-08 | 2018-12-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Structure and formation method of interconnection structure of semiconductor device structure |
US11602439B2 (en) | 2020-04-16 | 2023-03-14 | Life Spine, Inc. | Expandable implant assembly |
-
2019
- 2019-10-30 EP EP23176937.3A patent/EP4235775A3/en active Pending
- 2019-10-30 KR KR1020217010156A patent/KR20210084446A/ko unknown
- 2019-10-30 WO PCT/JP2019/042669 patent/WO2020090931A1/ja unknown
- 2019-10-30 US US17/288,250 patent/US11987493B2/en active Active
- 2019-10-30 JP JP2020554005A patent/JP7431746B2/ja active Active
- 2019-10-30 EP EP19878248.4A patent/EP3876265B1/en active Active
- 2019-10-30 CN CN201980071401.7A patent/CN113228240A/zh active Pending
-
2024
- 2024-02-01 JP JP2024014425A patent/JP2024045392A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0684896A (ja) | 1992-09-02 | 1994-03-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 配線構造体の製法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020090931A1 (ja) | 2020-05-07 |
EP4235775A3 (en) | 2023-11-08 |
US11987493B2 (en) | 2024-05-21 |
JP2024045392A (ja) | 2024-04-02 |
CN113228240A (zh) | 2021-08-06 |
EP3876265A4 (en) | 2022-08-24 |
US20210387852A1 (en) | 2021-12-16 |
JP7431746B2 (ja) | 2024-02-15 |
JPWO2020090931A1 (ja) | 2021-09-30 |
EP3876265B1 (en) | 2023-07-12 |
EP4235775A2 (en) | 2023-08-30 |
EP3876265A1 (en) | 2021-09-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6844631B2 (en) | Semiconductor device having a bond pad and method therefor | |
US7262495B2 (en) | 3D interconnect with protruding contacts | |
EP3317223B1 (en) | Electronic systems with through-substrate interconnects and mems device | |
EP3029508B1 (en) | Mirror drive device | |
US6429033B1 (en) | Process for manufacturing mirror devices using semiconductor technology | |
JP5968483B2 (ja) | ビアコンタクトを備える構成素子およびその製造方法 | |
US7091604B2 (en) | Three dimensional integrated circuits | |
KR20150022987A (ko) | 3-차원 집적에서 tsv(through silicon vias) 스트레스를 감소시키기 위한 컨포멀한 코팅 탄성 쿠션의 이용 | |
JP2007165884A (ja) | 熱的および機械的特性が改善されたボンド・パッドを有する集積回路 | |
US6909188B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
JP2009094409A (ja) | 半導体パッケージおよびその製造方法 | |
KR20210084446A (ko) | 다마신 배선 구조, 액츄에이터 장치, 및 다마신 배선 구조의 제조 방법 | |
US20100214643A1 (en) | Mems device with integrated via and spacer | |
JP6175305B2 (ja) | ミラー駆動装置 | |
JP2009021433A (ja) | 配線基板及びその製造方法 | |
US20210403320A1 (en) | Method for manufacturing semiconductor substrate, method for manufacturing damascene wiring structure, semiconductor substrate, and damascene wiring structure | |
JP5524543B2 (ja) | プレーナ型電磁アクチュエータ及びその製造方法 | |
JP2008098225A (ja) | 半導体装置 | |
US6927470B2 (en) | Micromachined oscillating element, in particular a mirror for optical switches | |
JP2006019312A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2004006807A (ja) | 配線基板およびその製造方法ならびに半導体装置 | |
JP2001332579A (ja) | 半導体回路装置及びその製造方法 | |
JP2008216206A (ja) | コンタクタ、プローブカード及びプローブカードの製造方法 | |
EP4371133A1 (en) | Micro-fabricated device for controlling trapped ions and method of manufacturing the same by micro-fabrication | |
JP2008047805A (ja) | 半導体素子、半導体装置、および、素子製造方法 |