KR20130040746A

KR20130040746A - 광전 센서

Info

Publication number: KR20130040746A
Application number: KR1020120113665A
Authority: KR
Inventors: 유스케 이이다; 키요히코 곤도; 아츠시 이와모토; 히데유키 키시바; 코지 코사카
Original assignee: 오므론 가부시키가이샤
Priority date: 2011-10-14
Filing date: 2012-10-12
Publication date: 2013-04-24
Also published as: JP2013102424A; KR101406929B1; CN103048001B; EP2581766A2; EP2581766A3; JP6007717B2; EP2581766B1; CN103048001A

Abstract

광전 센서는 광 투사부, 광-수용부 및 검출기를 포함한다. 상기 검출기는 광-수용 처리를 통해 얻어진 수용된 광량을 미리 저장된 한계값과 비교하여 물체 검출 처리를 수행한다. 상기 광전 센서는 또한 조작부, 조작 수용기, 기준 수용된 광량 결정부 및 감도 조절기를 구비한다.

Description

광전 센서{PHOTOELECTRIC SENSOR}

본 발명은 검출의 목적을 위해 광을 투사하고, 상기 투사된 광 또는 반사된 광을 수용하며, 물체를 검출하도록 수용된 광량을 소정의 한계값과 비교하는 광전 센서에 관한 것이다.

광전 센서의 검출 정확성을 확보하기 위하여, 검출 목표가 존재하는 경우에 수용된 광량과 상기 검출 목표가 존재하지 않는 경우에 수용된 광량 사이의 차이를 충분하게 발생시키도록 감도를 조절하는 것이 필요하며, 한계값으로 저장되는 양자의 상태들을 구별하기에 적절한 값이 필요하다.

감도 조절 처리에 관하여, 예를 들면, 심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2004-101446호에 있어서, 광 투사 장치 유닛에 제공되는 전류(광 투사 전류)의 강도 또는 수용된 광량의 이득(gain)이 상기 수용된 광량이 설정 모드 동안에 사용자에 의해 정의되는 목표값이 되도록 조절됨으로써, 자동적으로 감도가 조절된다(심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2004-101446호의 단락들 [0060] 내지 [0064] 및 [0072] 내지 [0084]).

심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2007-1394942호에 있어서, 한계값이 사용자의 설정 작업에 따라 설정되는 예로서, 검출 영역에 워크피스가 존재하는 동안에 SET 키가 눌려진 후에, 상기 검출 영역으로부터 상기 워크피스가 제거되는 동안에 상기 SET 키가 다시 눌려지며. 상기 SET 키의 조작들에 대응하여 측정되는 두 종류의 수용된 광량들을 이용하여 상기 한계값이 설정된다(심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2007-139494호의 단락 [0024]). 또한, 심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2007-139494호에 있어서, 수용된 광량의 일시적인 변화를 상징적으로 나타내는 대표값이 얻어지며, 상기 대표값에 따라 한계값이 수정된다(심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2007-139494호의 단락들 [0028] 내지 [0029]).

심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2004-101446에 기재된 바와 같이, 상기 광전 센서의 설정 모드에 있어서, 감도가 조절된 후에 한계값 설정 처리를 수행하는 것이 필요하다. 사용자가 상기 감도 조절 처리를 수행하는 필요성을 특별하게 알지 못할 가능성이 있지만, 상기 사용자는 상기 감도 조절 처리 없이 상기 한계값을 설정한다. 상기 사용자가 전술한 필요성을 알고 있다고 하더라도, 때때로 상기 사용자는 상기 감도 조절 처리를 망각하면서 설정하게 된다. 이 경우에 있어서, 상기 감도 조절 처리 후에 상기 한계값을 설정할 필요가 있으며, 이에 따라 사용자의 부담이 증가된다.

심사되지 않은 일본 공개 특허 공보 제2007-139494에 기재된 바와 같이, 상기 한계값 설정 처리에 있어서, 상기 사용자가 고정된 순서에 따라 작업을 수행할 필요가 있으며, 이에 따라 상기 사용자의 부담이 증가된다. 상기 설정 처리에 익숙하지 않은 사람이 상기 설정 처리를 잘못 수행할 때, 상기 감도와 상기 한계값이 검출을 위해 적절하지 않은 상태가 되는 위험성이 있다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위하여 도출된 것이고, 본 발명의 목적은 사용자가 특별히 감도를 조절하는 필요성을 알지 못하더라도 한계값이 설정되기 전에 감도를 자동으로 조절하는 것과 조절된 감도의 수용된 광량을 이용하여 적절한 한계값을 용이하게 설정할 수 있는 것이다.

본 발명의 제1 측면에 따르면, 상기 광전 센서는, 검출을 위해 광을 투사하는 광 투사부; 광 투사 동작에 따라 수용된 광량의 처리를 수행하는 광-수용부; 광-수용 처리를 통해 얻어진 수용된 광량을 미리 저장된 한계값과 비교하여 물체 검출 처리를 수행하는 검출기; 그리고 설정 조작에 이용되는 조작부를 포함한다.

상기 제1 측면에 따른 광전 센서는, 상기 광전 센서의 각각의 의도하는 목적으로의 조작의 내용을 변화시킴에 의해 각각의 의도된 목적으로 마련되는 복수 종류들의 설정 처리의 하나에 대응되는 조작을 수신하는 조작 수신기를 포함하고, 상기 조작은 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리도록 수행되며; 상기 조작 수신기에 따라 수행된 조작에 대응하여 측정된 상기 수용된 광량을 기초로 하여 상기 한계값을 설정하는 데 이용되는 기준이 되는 기준 수용된 광량을 결정하는 기준 수용된 광량 결정부를 포함하고; 상기 기준 수용된 광량 결정부에 의해 상기 한계값의 설정을 위한 적절한 값으로 결정되는 상기 기준 수용된 광량을 설정하기 위하여 감도 조절 처리를 수행하는 감도 조절기를 포함한다.

전술한 구성을 가지는 광전 센서에 있어서, 상기 광전 센서의 각각의 의도된 목적에서 정의되는 복수 종류의 설정 처리들은 상기 사용자에 의해 수행되는 조작의 내용에 따라 구별되며, 결정 기준은 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 기준 수용된 광량을 결정하기 위하여 각각의 종류의 설정 처리에서 정의된다. 사용자가 상기 의도하는 목적에 대응되는 설정 처리에서 정의되는 조작 순서를 따라 상기 수용된 광량을 측정하도록 조작을 수행할 때, 상기 수용된 광량 데이터가 상기 조작에 대응하여 측정되며, 상기 조작의 내용에 대응되는 상기 결정 기준에 따라 상기 기준 수용된 광량이 결정된다. 상기 결정된 기준 수용된 광량이 상기 감도 조절 처리를 통해 상기 한계값의 설정을 위한 적절한 값이 되기 때문에, 상기 사용자가 상기 감도 조절의 필요성을 특별하게 알지 못하더라도 상기 감도가 우수한 상태로 설정되고, 상기 우수한 감도의 수용된 광량이 상기 기준 수용된 광량으로 설정될 수 있다. 그러므로, 상기 한계값이 상기 검출을 위한 적절한 값으로 설정될 수 있다.

상기 수용된 광량들의 숫자가 하나에 제한되는 것은 아니지만, 때때로 상기 설정 처리에 따라 다른 레벨들을 갖는 다중의 기준 수용된 광량들을 결정할 필요가 있다. 상기 기준 수용된 광량을 결정하는 처리는 상기 감도 조절 처리 후에 또는 상기 감도 조절 처리와 나란하게 수행될 수 있다. 선택적으로, 상기 기준 수용된 광량이 결정된 후에, 상기 감도를 판단하는 데 이용되는 변수가 조절되어 상기 결정된 기준 수용된 광량들의 하나가 소정의 목표값을 위한 적절한 값이 된다.

상기 광전 센서의 일 실시예는, 상기 기준 수용된 광량을 기초로 하여 상기 한계값으로 설정되는 상기 수용된 광량을 결정하는 수용된 광량 결정부를 더 포함하고, 상기 수용된 광량은 상기 조작 수신기에 의해 수신되는 조작의 내용을 변화시키는 결정 기준에 따라 상기 목표값을 위해 적절하게 조절된다. 이에 따라, 상기 구성에 있어서, 상기 사용자는 상기 의도하는 목적에 대응되는 설정 처리에서 정의된 조작 순서에 따라 상기 수용된 광량을 측정하는 조작을 수행한다. 그러므로, 우수한 감도가 설정되며, 우수한 감도를 위한 적절한 레벨에서 상기 한계값이 자동적으로 얻어질 수 있다.

본 발명의 제2 측면에 따르면, 광전 센서는 저장부, 감도 조절기 및 기준 수용된 광량 결정부를 포함한다.

감도 조절 규칙과 수용된 광량 판단 규칙은 상기 저장부에 저장된다. 상기 감도 조절 규칙은, 상기 광전 센서의 각각의 의도하는 목적에서의 조작의 내용을 변화시키는 각각의 의도된 목적에서 마련되는 복수 종류의 설정 처리에 대한 조작에 대응하여 측정된 상기 수용된 광량을 이용하여 감도를 조절하는 처리를 정의하고, 상기 조작은 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리도록 수행되며, 상기 수용된 광량 결정 규칙은 상기 조절된 감도의 수용된 광량을 기초로 하여 상기 한계값의 설정에 이용되는 기준 수용된 광량을 고정하는 처리를 정의한다.

상기 감도 조절기는, 상기 조작부가 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리는 조작을 수신할 때, 상기 조작에 대응하여 상기 수용된 광량을 수신하는 동안에 상기 수신된 조작의 내용에 대응되는 상기 감도 저질 규칙에 따라 상기 감도를 조절한다.

상기 기준 수용된 광량 결정부는, 복수 종류의 설정 처리의 하나가 상기 고정된 설정 처리에 대응되는 수용된 광량 판단 규칙에 따른 상기 수신된 조작에 의해 고정되는 점을 기초로 하여 상기 수신된 조작에 대응하여 측정되고 상기 감도 조절기에 의해 조절되는 감도를 위해 절한 상기 수용된 광량을 기초로 하여 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 기준 수용된 광량을 결정한다.

상기 제2 측면에 따른 광전 센서에 있어서도, 상기 광전 센서의 각각의 의도하는 목적에서 정의되는 상기 복수 종류의 설정 처리들은 상기 사용자에 의해 수행되는 조작의 내용에 따라 구별된다. 상기 사용자가 상기 의도된 목적에 대응되는 설정 처리에서 정의되는 조작 순서를 따라 상기 수용된 광량을 측정하는 조작을 수행할 때, 상기 수용된 광량 데이터가 상기 조작에 대응하여 측정되고, 상기 감도가 상기 측정된 수용된 광량을 이용하여 상기 조작의 내용에 대응되는 설정 처리를 위해 정의되는 상기 규칙에 따라 조절되며, 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 기준 수용된 광량이 상기 조절된 감도를 위한 적절한 수용된 광량을 기초로 하여 선택된다. 상기 사용자가 상기 감도의 조절하는 필요성을 특별하게 알고 있지 못하더라도 상기 감도가 우수한 상태로 조절된 후에, 상기 기준 수용된 광량이 상기 후-조절 감도를 기초로 하여 선택된다. 이에 따라, 상기 감도 및 상기 한계값이 상기 검출 처리를 수행하도록 적절하게 설정될 수 있다.

상기 결정 기준은 상기 수용된 광량 결정 규칙에 의해 결정되는 상기 기준 수용 광량으로부터 상기 한계값을 결정하도록 각 종류의 설정 처리를 위해 정의되고, 상기 결정 기준은 상기 저장부에 저장된다. 그러므로, 상기 한계값이 상기 감도의 조절과 상기 기준 수용된 광량의 결정 후에 자동적으로 설정될 수 있다. 선택적으로, 이에 제한되는 것은 아니지만, 상기 기준 수용된 광량이 표시되고, 상기 사용자에 의한 상기 한계값의 수동 설정이 수신될 수 있다. 상기 한계값의 수동 설정은 또한 상기 제1 측면의 광전 센서에 적용될 수 있다.

상기 감도 조절 처리를 위한 프로그램으로서 통상적인 스레드(thread)가 상기 설정 처리의 종류들로 설정되는 경우, 감도를 조절하는 스레드 수행부가 후술하는 상기 목표값과 같은 변수들을 통지하는 점을 기술하는 프로그램이 상기 감도 조절 규칙으로 이용될 수 있다.

상기 광전 센서의 일 실시예에 있어서, 감도 조절 규칙이 상기 저장부에 저장되고, 상기 감도 조절 규칙은, 상기 조작에 대응하여 측정된 상기 수용된 광량이 소정의 목표값을 위해 적절하도록 설정 처리의 종류들의 적어도 하나에 대하여 상기 감도가 조절되는 점과 상기 조절 후에 측정된 수용된 광량이 상기 목표값보다 클 때, 상기 수용된 광량이 상기 목표값을 위해 적절한 목표값보다 크도록 상기 감도 조절 처리가 재시작되는 점을 정의한다.

상술한 실시예에 따르면, 최초의 감도 조절에 이용되는 상기 수용된 광량이 후속하는 수용된 광량들 보다 크더라도 후속하여 수득되는 상기 목표값보다 큰 수용된 광량에 의해 상기 감도가 다시 조절된다.

다른 실시예에 있어서, 감도 조절 규칙과 수용된 광량 결정 규칙이 상기 저장부에 저장되고, 상기 감도 조절 규칙은, 첫 번째 조작에 대응하여 측정되는 수용된 광량이 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리는 조작이 두 번 수행되는 상기 조작의 내용을 갖는 설정 처리에 대하여 소정의 목표값을 위해 적절하게 되도록 상기 감도가 조절되는 점, 두 번째 조작에 대응하여 측정되는 수용된 광량이 상기 감도 조절 처리에 이용되는 상기 목표값보다 클 때에 상기 목표값보다 큰 상기 수용된 광량이 상기 목표값을 위해 적절하도록 상기 감도 조절 처리가 재시작되는 점, 그리고 상기 첫 번째 조작에 대응하여 수행된 상기 감도 조절 처리에서 상기 목표값에 일치하도록 야기되는 상기 수용된 광량이 상기 감도 조절 처리의 재시작에 따라 재조절된 감도를 위한 적절한 값으로 수정되는 점을 정의하며, 상기 수용된 광량 결정 규칙은, 상기 첫 번째 조작 및 상기 두 번째 조작에 대응하여 측정되고 최후의 감도를 위해 적절한 한 쌍의 수용된 광량들이 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 기준 수용된 광량으로 설정되는 점을 정의한다.

상기 감도 조절 규칙과 상기 수용된 광량 결정 규칙이 적용되는 설정 처리에 있어서, 예를 들면, 상기 사용자는 상기 워크피스가 상기 검출 영역에 위치하는 동안 상기 첫 번째 조작을 수행하고, 상기 사용자는 상기 워크피스가 위치하지 않는 동안에 상기 두 번째 조작을 수행한다. 그러나, 상기 조작들의 순서는 반대가 될 수 있다. 상기 사용자가 임의의 순서로 상기 조작들을 수행하더라도, 상기 스위치 조작들에 대응하여 측정되는 상기 수용된 광량들의 보다 큰 하나가 상기 목표값에 일치하도록 야기되는 상기 감도 조절 처리가 수행되며, 상기 워크피스가 존재하는 경우에 조절된 감도로 수득되는 수용된 광량과 상기 워크피스가 존재하지 않을 경우에 조절된 감도로 수득되는 수용된 광량이 상기 기준 수용된 광량으로 설정된다. 그러므로, 상기 한계값이 적절하게 설정될 수 있다.

다른 실시예에 따른 광전 센서에 있어서, 감도 조절 규칙과 수용된 광량 결정 판단 규칙은 상기 저장부에 저장되고, 상기 감도 조절 규칙은, 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리는 상기 조작이 소정의 시간 동안 계속되는 상기 조작의 내용을 갖는 설정 처리에 대한 상기 조작 동안에 상기 수용된 광량이 측정되는 동안 측정된 수용된 광량들의 최대값과 최소값이 추출되는 점과 상기 수용된 광량들의 최소값이 매 시점에서 상기 조절된 감도를 위해 적절한 값으로 수정되는 동안 상기 설정 처리를 통해 상기 감도 조절 처리가 상기 최대값이 업 데이트되는 매 시간에 수행되는 점을 정의하며, 상기 수용된 광량 결정 규칙은 상기 수용된 광량들의 최대값과 최소값이 상기 조작이 종료되는 시점에서 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 기준 수용된 광량으로 설정되는 점을 정의한다.

상기 프로그램이 이용되는 설정 처리에 있어서, 상기 워크피스는 상기 검출 목표 위치를 통과하며, 상기 조작이 적어도 이러한 통과의 전과 후를 포함하는 시간 동안 계속됨으로써, 상기 감도가 조절되어 상기 시간 내에 얻어진 최대의 수용된 광량이 상기 목표값에 부합하도록 야기된다. 상기 최소의 수용된 광량이 상기 최대의 수용된 광량 전에 샘플링된 수용된 광량들 내에 존재할 때, 상기 최소의 수용된 광량은 상기 후-수정 감도를 위해 적절한 값으로 수정된다. 그러므로, 상기 최대의 수용된 광량과 상기 최소의 수용된 광량이 상기 워크피스가 통과하는 동안에 최적의 감도로 획득되며, 상기 최대의 수용된 광량과 상기 최소의 수용된 광량이 상기 기준 수용된 광량으로 설정되어 상기 한계값이 적절하게 설정될 수 있다.

상기 제1 및 제2 측면들에 따른 상기 광전 센서에 공통되는 세 실시예들을 설명한다. 제1 실시예에 따른 광전 센서는 상기 목표값이 저장되는 저장부와 상기 감도 조절 처리에서 사용되는 상기 목표값을 설정하기 위하여 상기 조작부에서 수행되는 조작에 따라 상기 저장부의 조작에 의해 설정되는 상기 목표값을 저장하는 목표값 설정부를 더 포함한다. 상기 구성에 따르면, 상기 감도는 상기 사용자가 생각하는 상기 최적으로 수용된 광량이 수득되도록 조절될 수 있다.

제2 실시예에 따른 광전 센서는, 상기 감도 조절기에 의해 조절되는 감도의 수용된 광량과 함께 상기 기준 수용된 광량을 기초로 하여 고정되는 표시부를 포함한다. 상기 표시부에 있어서, 상기 검출 처리 동안, 상기 사용자가 상기 수용된 광량을 상기 한계값과 비교하면서 검출 결과를 점검하며, 상기 사용자는 상기 감도와 상기 한계값이 상기 검출을 위해 적절한지를 결정할 수 있다.

제3 실시예에 따른 광전 센서는 상기 수용된 광량을 표시하는 표시부와 조절기를 더 포함하며, 상기 조절기는 상기 검출기가 검출 처리를 수행하는 동안 소정의 시간에서 상기 검출 처리에 이용되는 상기 수용된 광량에 대응하여 상기 감도 조절 처리를 통해 수행되는 조절을 위해 적절한 수신된 광량의 변화의 정도를 수득하고, 상기 변화의 정도에 따라 상기 저장된 한계값을 변화시키며, 상기 표시부 상에 표시되는 상기 수용된 광량을 실제 수용된 광량이 상기 변화의 정도에 따라 수정되는 값으로 변화시킨다.

이러한 실시예에 따르면, 상기 수용된 광량이 시간이 진행됨에 따라 변화될 때, 상기 한계값이 상기 변화의 정도에 따라 변화되기 때문에 상기 검출 처리가 안정적으로 수행될 수 있다. 상기 감도 또는 상기 한계값이 변하더라도, 최초의 감도 저절 처리를 위해 적절한 상기 수용된 광량에 가까운 상기 값이 표시되는 상태가 상기 표시부에 유지되며, 이에 따라 상기 사용자가 일정한 기준을 가지고 광-수용 상태를 점검할 수 있다.

본 발명에 따르면, 사용자가 상기 한계값을 설정하는 작업을 수행하고, 이에 따라 상기 한계값이 설정되기 전에 상기 감도가 자동적으로 조절된다. 따라서, 상기 한계값은 후 조절 감도를 위해 적절한 상기 수용된 광량을 기초로 하여 적절한 값으로 설정될 수 있다. 또한, 상기 광전 센서의 각각의 의도하는 목적에서 의도된 목적에 대응하는 조작에 의해 상기 감도의 조절과 상기 한계값의 설정이 용이하게 수행될 수 있으며, 이에 따라 유용성이 크게 향상된다.

도 1은 광섬유형 광전 센서의 외관을 나타내는 사시도이다.
도 2는 도 1의 광전 센서의 상부 커버가 개방된 상태를 나타내는 사시도이다.
도 3은 정면에서 상면을 바라보았을 때의 광전 센서의 조작부와 표시부를 포함하는 상면을 나타내는 도면이다.
도 4는 광전 선세의 전기적 구성을 나타내는 블록도이다.
도 5는 순서가 표시기의 표시 모드와 관련되는 동안의 튜닝의 진행의 개략적인 순서를 나타내는 흐름도이다.
도 6은 순서가 표시기의 표시 모드와 관련되는 동안의 2-포인트 튜닝의 순서를 나타내는 흐름도이다.
도 7은 순서가 표시기의 표시 모드와 관련되는 동안 이동 워크피스 튜닝의 순서를 나타내는 흐름도이다.
도 8a 내지 도 8c는 표시부 상의 표시가 감도의 조절에 사용되는 목표값을 변화시키도록 조작에 대응하여 전환되는 예를 나타내는 도면들이다.
도 9는 표시 수용된 광량과 내부의 수용된 광량 사이의 관계 및 디스플레이 한계값 및 내부의 한계값 사이의 관계를 요약한 그래프를 나타낸다.
도 10은 표시 수용된 광량과 내부의 한계값을 자동적으로 조절하는 기능의 사용 가능과 사용 불가능이 전환될 때에 표시 예를 나타내는 도면이다.
도 11은 자동 조절 처리의 순서를 나타내는 흐름도이다.

도 1 및 도 2는 본 발명이 적용되는 광섬유형 광전 센서의 외양을 나타내는 사시도들이다.

광전 센서(1)는 본체(10) 및 상기 본체(10)의 전면에 부착되는 한 쌍의 광섬유들(11, 12)을 구비한다. 상기 광섬유(11)는 광의 투사에 이용되며, 상기 광섬유(12)는 광의 수용에 이용된다. 렌즈들을 포함하는 헤드부들(11A, 11B)은 각기 상기 광섬유들(11, 12)의 전면 단부들에 부착된다. 실제의 광섬유들(11, 12)은 도 1에 도시한 상태에 비하여 길어질 수 있다.

상기 광섬유들(11, 12)은 각기 상기 본체(10)의 전면에서 삽입 포트들(11B, 12B)로 삽입된다. 상기 광 투사 광섬유(11)의 삽입 포트(11B) 부근에 광 투사부가 제공되며, 상기 광-수용 광섬유(12)의 삽입 포트(12B)에 인접하여 광-수용부가 제공된다. 연결 케이블(12)은 상기 본체(10)의 후면으로부터 인출된다.

상기 광전 센서(1)를 사용하는 동안에, 상기 광섬유들(11, 12)의 헤드부들(11A, 12A)은 소정의 거리로 서로 마주본다. 상기 광 투사부로부터의 광 출력은 상기 광섬유(11)를 통해 상기 헤드부(11A)로부터 출력되며, 상기 광-수용측 헤드부(12A)로 입사되는 광은 상기 광섬유(12)를 통해 상기 광-수용부에 도달된다. 물체가 상기 헤드부들(11A, 12A) 사이에 삽입될 때, 상기 헤드부(11A)로부터 상기 헤드부(12A)를 향해 진행되는 광이 방해받기 때문에 상기 광-수용부에 의해 수용되는 광량이 감소된다.

상기 광-수용부에 의해 생성된 수용된 광량 데이터는 컨트롤러(CPU)로 입력되어, 상기 수용된 광량 데이터와 미리 저장된 한계값(threshold)을 비교함에 의해 광 경로가 방해받는 지가 결정되며, 결정 결과가 출력된다.

도 1의 실시예에 있어서, 상기 광전 센서(1)는 투과형 센서로 기능하도록 설정되며, 상기 광-수용부가 상기 광 투사부로부터 투사되는 광을 수용하고 상기 광 경로가 "물체의 존재"로 방해받는 상태가 결정된다. 선택적으로, 통상적인 헤드부들이 상기 광섬유들(11, 12)의 선단들에 부착되고, 상기 광전 센서(1)는 상기 물체로부터 반사되는 광을 수용하는 반사형 광전 센서로 기능할 수 있다.

표시부(100) 및 복수의 푸시버튼 스위치들(SW1 내지 SW5)은 상기 본체(10)의 상면 상에 제공된다. 상기 상면은 사용하는 동안에 커버(13)로 덮인다. 설정하는 동안, 상기 커버(13)는 상기 푸시버튼 스위치들(SW1 내지 SW5)을 조작할 수 있도록 개방된다. 도 2는 상기 커버(13)가 개방된 상태의 상기 본체(10)를 나타내는 사시도이며, 도 3은 상기 상면을 전면측에서 바라볼 때의 상면을 나타내는 도면이다. 상기 투명한 커버(13)로 인하여, 상기 커버(13)가 부착되어 있더라도 상기 표시부(100)의 표시 내용이 상기 커버(13)를 통해 점검될 수 있다.

이하, 도 2 및 도 3을 참조하여 상기 상면의 구성을 설명한다.

상기 실시예에 있어서, 상기 푸시버튼 스위치(SW1)가 상기 본체(10)의 전면에 인접하는 위치에 배치되고, 상기 표시부(100)가 상기 푸시버튼 스위치(SW1)의 후방에 제공되며, 4개의 푸시버튼 스위치들(SW2, SW3, SW4, SW5)이 상기 표시부(100)의 후방에 배치된다. 비록 상기 푸시버튼 스위치들(SW2, SW3)의 버튼 부분들이 일체로 형성되지만, 상기 본체(10) 내의 스위치 몸체들(도시되지 않음)은 독립적으로 제공된다.

한 쌍의 표시기들(101, 102) 및 5개의 표시 램프들(111 내지 115)이 상기 표시부(100)에 제공된다. 각각의 상기 표시기들(101, 102)은 4개의 7-세그먼트 엘이디(LED)들로 구성되며, 4자리 또는 그 이하의 디지털 숫자들과 알파벳 문자열을 표시한다.

상기 전면 푸시버튼 스위치(SW1)는 후술하는 바와 같은 튜닝(tuning)에 사용된다. 이하, 상기 스위치(SW1)를 "튜닝 버튼(SW1)"으로 언급한다. 상기 표시부(100) 후방의 한 쌍의 푸시버튼 스위치들(SW2, SW3)은 상기 표시기들(101, 102) 상에 표시되는 메뉴들이나 숫자 값들의 변경에 사용된다.

상기 푸시버튼 스위치(SW4)는 측정 모드와 설정 모드 사이의 스위칭에 사용된다. 상기 설정 모드에서 일부 유형의 설정이 수행될 때, 설정 내용이 고정된다. 상기 푸시버튼 스위치(SW4)가 상기 설정 모드를 측정 모드로 전환될 때, 상기 설정 내용으로 측정이 시작된다.

상기 푸시버튼 스위치(SW5)는 상기 광전 센서(1)의 출력 형태의 스위칭에 사용된다. 특히, 상기 출력이 상기 수용된 광량이 상기 한계값보다 클 때의 상태로 입력되는 "점등(light-on) 모드"와 상기 출력이 상기 수용된 광량이 상기 한계값 보다 작을 때의 상태로 입력되는 "소등(dark-on) 모드" 중에서 하나가 선택된다. 일반적으로, 상기 소등 모드는 상기 투과형 광전 센서(1)가 사용되는 때에 선택되며, 상기 점등 모드는 상기 반사형 광전 센서(1)가 사용되는 때에 선택된다.

상기 지시 램프(111)는 상기 광전 센서(1)로부터의 검출 신호가 검출 처리 상태가 될 때에 켜진다. 상기 지시 램프(112)는 상기 점등 모드가 선택될 때에 켜지며, 상기 지시 램프(113)는 상기 소등 모드가 선택될 때에 켜진다.

상기 지시 램프(114)는 자동 조정 처리가 가능해질 때에 켜지며, 상기 지시 램프(115)는 상기 튜닝 동안 및 그 후에 켜진다.

도 4는 상기 광전 센서(1)의 전기적인 구성을 나타낸다.

상기 광전 센서(1)에 있어서, 상기 컨트롤러를 구성하는 중앙 처리 장치(CPU)(105)는 광 투사부(103), 광-수용부(104), 프로그램이 저장된 메모리(106), 표시부(100), 조작부(110), 외부-장치 인터페이스(107), 출력부(108) 및 전원(109)에 연결된다.

상기 표시부(100)는 상기 표시기들(101, 102)과 상기 표시 램프들(111 내지 115)을 포함하며, 상기 조작부(110)는 상기 푸시버튼 스위치들(SW1 내지 SW5)을 포함한다. 상기 광 투사부(103)는 엘이디(LED)(131) 및 엘이디 구동 회로(132)를 포함하고, 상기 광-수용부(104)는 포토다이오드(PD)(141), 증폭 회로(142) 및 A/D 변환 회로(143)를 포함한다. 상기 광 투사부(103)에 있어서, 구동 전류는 광 투사 처리를 수행하도록 상기 엘이디 구동 회로(132)로부터 상기 엘이디(131)로 흐른다. 상기 광-수용부(104)에 있어서, 상기 포토다이오드(141)로부터의 출력은 상기 수용된 광량을 나타내는 디지털 데이터(이하, "수용된 광량 데이터"라고 언급함)를 생성하도록 상기 증폭기 회로(142) 및 상기 A/D 변환 회로(143)에 의해 처리된다.

상기 메모리(106)에 저장된 프로그램에 따르면, 상기 중앙 처리 장치(105)는 상기 광 투사부(103)와 상기 광-수용부(104)의 동작들을 제어하는 한편 검출 처리를 수행하도록 상기 광-수용부(104)로부터 상기 수용된 광량 데이터를 입력한다. 검출 결과는 상기 출력부(108) 또는 상기 외부-장치 인터페이스(107)를 통해 출력된다.

도 2 및 도 3에서 상기 스위치(SW4)에 의해 상기 설정 모드가 선택될 때, 상기 표시부(100)의 표시기들(101, 102) 상에 선택 메뉴가 표시된다. 사용자는 상기 스위치들(SW2, SW3)을 이용하여 메뉴 표시를 스위칭하면서 소정의 설정을 수행한다.

상기 측정 모드에서 상기 튜닝 스위치(SW1)가 조작될 때, "튜닝"으로 일컬어지는 설정 처리가 수행된다. 상기 검출 처리를 위해 필요한 한계값 설정 처리 및 감도 조절 처리는 상기 튜닝에서 총괄적으로 수행된다. 상기 실시예에 있어서, 상기 광전 센서의 의도된 목적에 따라 4 종류의 튜닝 부분들이 마련된다.

상기 감도의 조절에 있어서, 고속에서 상기 수용된 광량이 샘플링되는 동안, 상기 광 투사부(103)를 통과하는 구동 전류의 강도 및 상기 광-수용부(104)의 증폭기 회로(142)의 이득이 상기 샘플링된 수용된 광량이 소정의 목표값이 될 때까지 변화된다. 상기 목표값 및 상기 조절의 한계값의 설정에 있어서, 기준은 상기 튜닝의 종류에 따라 달라진다. 상기 실시예에 있어서, 상기 감도 및 상기 한계값은 사용자의 의해 수행되는 쉬운 작업에 따라 자동적으로 감지할 수 있는 상태들로 설정될 수 있다.

다음 표에는 각각의 상기 4 종류의 튜닝에 있어서 의도된 목적, 사용자의 작업 내용, 감도 조절 방법 및 한계값 설정 방법이 요약되어 있다. 튜닝의 각 부분에서 처리의 개요를 다음 표 1을 참조하여 설명한다.

튜닝의 종류	목적	작업 내용들	감도 조절	한계값
2-포인트 튜닝	물체의 존재 또는 부존재를 검출	(1) 워크피스가 존재하지 않는 동안에 버튼을 조작함 (2) 워크피스가 존재하는 동안 버튼을 조작함 (2)→(1)도 수행될 수 있음	조작들 동안 수용된 광량들 증에서 보다 큰 하나를 표시 최대값으로 설정	첫 번째로 수용된 광량과 두 번째로 수용된 광량 사이의 중간값
이동 워크피스 튜닝	이동하는 물체를 검출	버튼이 적어도 7초 동안 눌려지는 동안 워크피스의 통과를 야기함	표시 최대값에 대한 조작 동안의 기간에 최대 광-수용 양을 설정	최대의 수용된 광량과 최소의 수용된 광량 사이의 중간값
위치 결정 튜닝	목표 위치에 위치하는 물체를 검출	(1) 워크피스가 존재하지 않는 동안에 버튼을 조작함 (2) 워크피스가 목표 위치에 위치하는 동안 적어도 3초 동안 버튼을 누름	표시 범위의 중간값에 대해 첫 번째로 조작하는 동안 수용된 광량을 설정	두 번째의 조작 이후에 3초가 경과한 시점에서 수용된 광량
최대 감도 튜닝	수용된 광량의 상대적으로 작은 변화로 스위치를 켜고 끔	투과형 워크피스가 존재하고 반사형 워크피스가 존재하지 않을 때 적어도 3초(7초 이하) 동안 버튼을 누름	감도가 최대로 설정되는 동안 표시된 수용된 광량이 0으로 설정됨	표시 범위의 10%이고 0 보다 큰 값

2-포인트 튜닝(two-point tuning)

상기 튜닝은 상기 물체의 존재 또는 부존재를 결정하는 처리를 수행하는 중에 수행된다. 상기 사용자는 상기 튜닝 버튼(SW1)을 두 번 조작하며, 조작들 중에서 하나는 검출 목표(이하, "워크피스(workpiece)"라고 언급함)가 검출 영역에 위치하는 동안 수행되고, 조작들 중에서 다른 하나는 상기 워크피스가 위치하지 않는 동안에 수행된다. 각각의 조작은 3초 내에 수행될 것이 요구되지만, 상기 워크피스가 위치하거나 위치하지 않거나 하는 순서에 대한 특별한 제한은 없다.

상기 감도 조절 처리에 있어서, 첫 번째의 조작 동안 수득되는 상기 수용된 광량(첫 번째로 수용된 광량) 및 두 번째의 조작 동안 수득되는 상기 수용된 광량(두 번째로 수용된 광량) 중에서 보다 큰 하나가 상기 목표값에 일치한다. 상기 목표값은 상기 표시기들(101, 102) 상에 표시될 수 있는 숫자값의 최대값(이하, "표시 최대값(display maximum value)"으로 언급하며, 상기 실시예에서 표시 최대값은 "9999"이다)으로 설정된다. 상기 한계값은 상기 감도 조절 처리 후에 상기 첫 번째로 수용된 광량 및 상기 두 번째로 수용된 광량 사이의 중간값으로 설정된다.

이동 워크피스 튜닝(Moving workpiece tuning)

상기 광전 센서(1)가 동작할 때에 상기 튜닝이 수행되어 상기 이동하는 워크피스가 상기 검출 목표에 대해 설정되어, 상기 센서로부터의 출력이 검출 상태로 입력되는 반면에 상기 워크피스가 상기 검출 영역을 통과하고, 이러한 통과가 완료되었을 때에 상기 출력은 비검출 상태로 입력된다. 상기 이동 워크피스 튜닝을 수행할 때, 상기 사용자는 상기 튜닝 버튼(SW1)을 적어도 7초 동안 계속적으로 누른다. 상기 워크피스는 상기 검출과 동일한 조건상에서 이동하며, 상기 튜닝 버튼(SW1)은 상기 워크피스가 검출 영역에 존재하는 상태와 상기 워크피스가 상기 검출 영역에 존재하지 않는 상태를 포함하는 기간 동안 계속하여 눌려진다.

상기 감도 조절 처리에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)이 조작되는 기간 동안 상기 최대의 수용된 광량이 상기 목표값에 부합하도록 생성된다. 이 경우에 있어서, 상기 목표값은 또한 상기 표시 최대값으로 설정된다. 상기 한계값은 상기 감도 조절 처리 후에 최대의 수용된 광량 및 최소의 수용된 광량 사이의 중간값으로 설정된다.

위치 결정 튜닝(Positioning tuning)

상기 광전 센서(1)가 동작할 때에 상기 튜닝이 수행되어 상기 검출 목표가 목표 위치에 도달할 때에 상기 출력이 상기 검출 상태로 입력되며, 상기 출력이 다른 경우들에서는 비검출 상태로 입력된다. 상기 사용자는 상기 2-포인트 튜닝과 유사하게 상기 튜닝 버튼(SW1)을 두 번 조작하며, 상기 사용자가 두 번째의 조작에서 적어도 3초 동안 계속하여 상기 튜닝 버튼(SW1)을 누를 것이 요구된다. 첫 번째의 조작은 상기 워크피스가 위치하지 않는 동안에 수행되며, 상기 워크피스는 상기 두 번째의 조작에서 상기 목표 위치에 위치한다.

상기 감도 조절 처리에 있어서, 상기 첫 번째의 조작에서 수득되는 수용된 광량은 상기 표시부(100) 상에 표시되는 수치적인 범위에서 중간값(상기 실시예에서는 5000)으로 된다. 상기 수용된 광량은 상기 두 번째의 조작 이후에 3초가 경과한 시점에서 상기 한계값으로 설정된다.

최대 감도 튜닝(Maximum sensitivity tuning)

상기 튜닝은, 상기 헤드부들(11A, 12A) 사이의 긴 거리와 상기 헤드부들(11A, 12A)에 티나 먼지가 부착되는 높은 가능성과 같은 상기 수용된 광량의 상대적으로 작은 변화로 상기 광전 센서(1)의 스위치를 켜고 끄는 것이 필요한 경우에 수행된다. 비록 상기 사용자가 상기 튜닝 버튼(SW1)을 적어도 3초 동안 계속하여 누를 수 있지만, 상기 이동 워크피스 튜닝과 최대 감도 튜닝이 구별되기 위해 상기 사용자가 상기 튜닝 버튼(SW1)을 7초 내에서 누르는 것이 필요하다. 상기 투과형 광전 센서(1)가 사용되는 경우에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)은 상기 워크피스가 상기 검출 영역에 위치하는 동안에 조작된다. 상기 반사형 광전 센서(1)가 사용되는 경우에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)은 상기 워크피스가 상기 검출 영역으로부터 배제되는 동안에 조작된다. 즉, 상기 투과형 및 반사형 광전 센서(1) 모두에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)은 광이 상기 광-수용부(104)에 거의 입사되지 않은 상태가 설정된 후에 조작된다. 상기 감도 조절 처리에 있어서, 상기 최대 감도는 상기 광 투사부(103)로부터 제공되는 상기 구동 전류 또는 상기 최대값에 대한 상기 광-수용부(104)의 이득을 설정함으로써 설정된다. 표시 상의 상기 수용된 광량이 조절되어 상기 최대 감도 조건 하에서 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작에 의해 측정되는 상기 수용된 광량은 상기 표시부(100) 상에 "0"으로 표시된다. 상기 한계값은 상기 표시부(100) 상에 표시되는 추기 범위의 약 10에 대응되는 값(999)으로 설정된다.

상기 사용자의 조작 모드로부터 전술한 방식으로 상기 감도 초절 및 상기 한계값의 설정을 위해 필요한 규칙이나 처리 순서가 상기 각각의 4 종류의 튜닝에 대하여 확인되는 프로그램은 도 4의 상기 메모리(106)에 저장된다. 상기 중앙 처리 장치(105)는 상기 튜닝 버튼(SW1) 또는 상기 조작 동안의 조작 횟수들의 숫자로부터의 조작 모드에 대응되는 상기 튜닝의 종류를 명시하며, 상기 명시된 튜닝을 위한 프로그램을 수행한다.

상기 사용자가 각각의 상기 튜닝의 종류에 다른 작업을 수행하는 것이 필요하다. 그러나, 상기 실시예의 2-포인트 튜닝에서 상기 워크피스가 위치하는 상태 또는 상기 워크피스가 위치하지 않은 상태에 우선 사항이 주어질 수 있으며, 상기 워크피스는 상기 이동 워크피스 튜닝에서 상기 작업의 시작으로부터 이동될 수 있다. 이에 따라, 상기 사용자의 부담이 상대적으로 가벼우며, 동작 오류가 거의 발생되지 않는다. 상기 사용자는 상기 한계값 설정의 목적을 위해 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리도록 상기 튜닝 버튼(SW1)을 조작한다. 반면에, 상기 광전 센서(1)에 있어서, 상기 조작에 대응하여 측정된 상기 수용된 광량을 기초로 하여 수행되는 상기 감도 조절 처리가 수행된 후에, 상기 한계값이 상기 조절된 감도에 적합한 상기 수용된 광량을 기초로 하여 설정된다.

다음에 설명하는 바와 같이, 상기 튜닝에 있어서, 수행된 튜닝의 종류와 처리 결과는 상기 표시기들(101, 102) 상에 표시된다. 그러므로, 상기 사용자는 상기 튜닝이 정확하게 선택되는 지와 상기 선택된 튜닝의 처리 결과를 쉽게 점검할 수 있다.

도 5는 흐름이 상기 표시기들(101, 102) 상에 표시되는 주요한 표시와 관련되는 동안의 사용자의 조작에 의한 튜닝의 진행의 흐름을 나타낸다. 도 5의 표시 예들 (a) 내지 (f)에 있어서, 좌측의 표시기(101) 상에 표시되는 "St"는 사용자를 위해 명명된 상기 튜닝의 "스마트 튜닝(Smart tuning)"의 약자이다. 상기 "St"의 표시는 상기 튜닝 동안에 실질적으로 상기 표시기(101) 상에 고정되며, 우측의 표시기(102) 상의 표시는 다양하게 전환된다.

이하, 상기 튜닝의 흐름을 도 5를 참조하여 설명한다. 비록 도 5에는 도시하지 않았지만, 상기 중앙 처리 장치(105)는 상기 튜닝 버튼(SW1)이 조작되는 동안 상기 수용된 광량을 샘플링하도록 실질적으로 일정한 시간 간격들에서 중단을 수행한다(상기 튜닝의 각각의 종류에서 서브루틴들(subroutines)을 위해 적용되는 동일한 유지들(단계들 S7, S8, S10 및 S11)).

상기 튜닝 버튼(SW1)이 최초로 조작될 때(단계 S1에서 "예"), 상기 중앙 처리 장치(105)는 상기 조작에 따라 상기 수용된 광량을 샘플링하는 동안에 상기 감도 조절 처리를 수행한다. 이러한 단계에 있어서, 상기 표시 최대값(9999)이 상기 목표값으로 설정되고, 상기 광-수용부의 광 투사 전류 및 이득이 상기 수용된 광량이 상기 목표값에 도달할 때까지 조절된다.

상기 튜닝 버튼(SW1)의 첫 번째 조작 시간이 3초 이하일 때(단계 S3에서 "아니오"), 문자열 "1st"("첫 번째"를 의미함)가 도 5의 (a) 부분에 도시된 바와 같이 상기 표시기(10) 상에 표시된다. 이와 같은 점에서, 상기 사용자가 상기 튜닝 버튼(SW1)의 상기 두 번째의 조작을 수행할 때(단계 S4에서 "예"), 상기 표시기(102) 상의 표시는 문자열 "2nd"("두 번째"를 의미함)가 도 5의 (b) 부분에 도시한 바와 같이 명멸되는(blinking) 방식으로 표시되는 상태로 전환된다. 상기 명멸하는 표시는 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작이 종료될 때까지 계속된다.

상기 튜닝 버튼(SW1)의 두 번째의 조작 시간이 3초 이하일 때(단계 S6에서 "아니오"), 상기 2-포인트 튜닝의 서브루틴(단계 S8)이 수행된다. 상기 표시기(102)의 명멸하는 표시는 상기 서브루틴의 수행에 대응하여 종료되며, 문자열 "2Pt"("2 포인트 튜닝"의 약자)가 도 5의 (c) 부분에 도시한 바와 같이 표시된다.

상기 튜닝 버튼(SW1)의 두 번째 조작 시간이 3초이거나 그 이상일 때(단계 S6에서 "예"), 상기 위치 결정 튜닝의 서브루틴(단계 S7)이 수행된다. 상기 서브루틴의 수행에 대응하여, 문자열 "POS"("위치"의 약자)이 도 5의 (d) 부분에 도시한 바와 같이 상기 표시기(102) 상에 표시된다.

상기 튜닝 버튼(SW1)의 첫 번째 조작이 3초이거나 그 이상일 때(단계 S3에서 "예") 및 상기 튜닝 버튼(SW1)의 첫 번째 조작이 7초가 경과하기 전에 종료될 때(단계 S9에서 "아니오"), 상기 최대 감도 튜닝의 서브루틴(단계 S11)이 수행된다. 상기 서브루틴의 수행에 대응하여, 상기 표시기(102)가 도 5의 (e) 부분에 도시한 바와 같이 문자열 "Full"을 표시하도록 전환된다.

상기 튜닝 버튼(SW1)의 첫 번째 조작이 7초이거나 그 이상일 때(단계들 S3 및 S9에서 모두 "예"), 상기 이동 워크피스 튜닝의 서브루틴(단계 S10)이 수행된다. 상기 서브루틴의 수행에 대응하여, 상기 표시기(102)는 도 5의 (f) 부분에 도시한 바와 같이 문자열 "Auto"를 표시하도록 전환된다.

전술한 바와 같이, 상기 실시예에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작 모드에 따라 상기 튜닝의 종류가 명시되고, 상기 명시된 튜닝이 수행되며, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작 횟수의 수와 상기 명시된 튜닝을 나타내는 상기 문자열이 상기 표시기(102) 상에 표시된다. 그러므로, 상기 사용자는 작업 흐름이나 사용자가 의도한 튜닝으로 전환되는 지를 용이하게 점검할 수 있다.

비록 도 5에 도시하지는 않았지만, 상기 튜닝 버튼(SW1)을 계속하여 3초 동안 눌려질 때, 상기 표시 램프(115)가 점등 상태로부터 상기 명멸 상태로 전환된다. 이에 따라, 상기 위치 결정 튜닝 또는 상기 최대 튜닝을 선택할 때, 명멸하는 표시 램프(115)에 의해 상기 사용자는 사용자의 손가락이 상기 튜닝 버튼(SW1)으로부터 떨어지는 지를 인식할 수 있다.

상기 실시예에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)이 최초에 조작되는 시점에서, 상기 튜닝의 종류가 명시되지 않을 수 있기 때문에 상기 감도 조절 처리는 상기 표시 최대값이 상기 목표값으로 설정되는 동안에 수행된다(단계들 S1 및 S2). 그러나, 상기 표시 최대값이 상기 포토다이오드(141)가 포화된 것을 나타내지는 않는다. 예를 들면, 상기 투과형 광전 센서(1)를 위하여, 상기 튜닝 버튼(SW1)이 상기 워크피스가 위치하는 동안에 조작될 때, 상당히 약한 광이 상기 포토다이오드(141)에 인사되는 동안에 상기 감도 조절 처리가 수행되기 때문에 약한 레벨이 상기 표시 최대값이 된다. 상기 조절 후에 상기 워크피스가 제거될 때, 상기 포토다이오드(141)에 강한 광이 입사되기 때문에, 상기 수용된 광량은 상기 표시 최대값보다 큰 레벨이 된다.

상기 2-포인트 튜닝 또는 상기 이동 워크피스 튜닝에 있어서, 상기 처리가 시작된 후에 상기 표시 최대값보다 큰 상기 수용된 광량이 획득될 때에 상술한 현상을 고려하여 상기 감도 조절 처리가 다시 수행된다. 상기 감도 조절 처리가 다시 시작될 때, 상기 다시 시작된 감도 조절 처리 전에 상기 한계값의 설정에 이용되는 기준값의 후보로서 획득된 상기 수용된 광량은 상기 재조절된 감도를 위한 적절한 값으로 수정된다.

도 6은 상기 2-포인트 튜닝의 상세한 순서를 나타내며, 도 7은 상기 이동 워크피스 튜닝의 상세한 순서를 나타낸다. 도 6 및 도 7에 있어서, 상기 표시기들(101, 102) 상의 상기 표시 모드는 상기 흐름도 내의 적절한 지점과 관련된다.

도 6의 상기 2-포인트 튜닝에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 첫 번째의 조작에 대응하여 샘플링된 수용된 광량(P1)(첫 번째로 수용된 광량)과 상기 튜닝 버튼(SW1)의 두 번째의 조작에 대응하여 샘플링된 수용된 광량(P2)(두 번째로 수용된 광량)이 단계 S101에서 비교된다. 이러한 지점에서, 상기 첫 번째로 수용된 광량이 도 5의 단계 S2에서 상기 감도 조절 처리가 종료되는 시점에서 수용된 광량이기 때문에 상기 첫 번째로 수용된 광량은 9999의 목표값과 일치한다. 상기 두 번째로 수용된 광량도 상기 감도 조절 처리 동안에 샘플링된 상기 수용된 광량이다.

상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)이 상기 두 번째로 수용된 광량(P2) 보다 클 때(단계 S101에서 "예"), 도 6의 (g) 부분에 도시한 바와 같이, 상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)이 상기 좌측의 표시기(101) 상에 표시되고, 상기 두 번째로 수용된 광량(P2)은 상기 우측의 표시기(102) 상에 표시된다. 이와 같은 지점에서, 상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)과 상기 두 번째로 수용된 광량(P2) 사이의 차이가 검출 오류에 대응하는 값(Hys)과 비교된다(단계 S105). 이들 양자의 차이가 상기 값(Hys) 보다 클 때, 상기 흐름은 단계 S106으로 진행하며, 상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)과 상기 두 번째로 수용된 광량(P2)의 평균값이 얻어지고 상기 한계값으로 설정된다.

상기 처리 결과는 단계 S107에서 표시된다. 예를 들면, 도 6의 (i) 부분에 도시한 바와 같이, 상기 최대의 수용된 광량(9999)은 상기 좌측의 표시기(101) 상에 표시되는 상기 감도 조절 처리를 통해 상기 목표값에 일치하게 생성되고, 상기 설정된 한계값이 상기 우측의 표시기(102) 상에 표시된다. 도 6의 (i) 부분에 도시된 표시는 소정의 시간이 경과한 후 또는 상기 사용자가 상기 스위치 조작을 수행할 때에 도 6의 (j) 부분에 도시한 설정 종료 표시로 전환된다.

상기 두 번째로 수용된 광량(P2)이 상기 첫 번째로 수용된 광량(P1) 보다 클 때(단계 S101에서 "아니오"), 상기 감도 조절 처리가 단계 S102에서 다시 수행된다. 이 경우에 있어서, 상기 광 투사부(103)의 구동 전류 또는 상기 광-수용부(104)의 이득이 감소하여 상기 표시 최대값보다 큰 현재에 샘플링된 수용된 광량이 상기 목표값(표시 최대값)이 된다.

상기 감도 조절 처리가 종료될 때, 상기 두 번째로 수용된 광량(P2)은 후조절(post-adjustment) 수용된 광량에 의해 업 데이트된다(단계 S103). 상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)은 상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)에 (후조절 배율(post-adjustment multiplying factor)/전조절 배율(pre-adjustment multiplying factor))을 곱하여 수정된다(단계 S104). 여기서 사용되는 바와 같이, 상기 배율은 상기 광 투사부(103)의 구동 전류 및 상기 광-수용부(104)의 이득과 같은 감도 변수들의 변화의 속도의 축적된 값을 의미한다. 이에 따라, 상기 구동 전류 또는 상기 이득이 상기 두 번째의 감도 조절 처리를 통해 감소될 때, 상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)이 단계 S104에서 상기 수정에 의해 감소된다.

단계 S104에서 수정이 종료될 때, 도 6의 (h) 부분에 도시한 바와 같이, 상기 후수정(post-correction)된 첫 번째로 수용된 광량(P1)이 상기 표시기(101) 상에 표시되며, 상기 재조절된 감도를 이용하여 수득되는 상기 두 번째로 수용된 광량(P2)(상기 목표값과 같이 9999가 되는)이 상기 표시기(102) 상에 표시된다.

이후에, 단계들 S105, S106 및 S107은 전술한 흐름과 유사하게 수행된다.

상기 첫 번째로 수용된 광량(P1)과 상기 두 번째로 수용된 광량(P2) 사이의 차이가 상기 값(Hys) 보다 작거나 같을 때, 상기 한계값이 계산되고, 그 결과가 표시된다(단계들 S106 및 S107). 그러나, 단계들 S106 및 S107 전에 상기 흐름은 단계 S108로 진행하며, 오류 표시가 도 6의 (k) 부분에 도시한 바와 같이 소정의 시간 동안 수행된다.

도 7의 상기 이동 워크피스 튜닝에 있어서, 도 5의 단계 S2에서 상기 감도 조절 처리를 위해 이용되는 상기 목표값이 초기 값들로서 최대의 수용된 광량(Pmax) 및 최소의 수용된 광량(Pmin)으로 설정된다(단계 S201).

단계 S202에서, 새롭게 샘플링된 수용된 광량(이하, "새로운 수용된 광량"으로 언급함)이 상기 최대의 수용된 광량(Pmax)과 비교된다. 상기 새로운 수용된 광량이 상기 최대의 수용된 광량(Pmax) 보다 작을 때(단계 S202에서 "아니오"), 상기 새로운 수용된 광량이 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)과 비교된다. 상기 새로운 수용된 광량이 상기 최소의 수용된 광량(Pmin) 보다 작을 때(단계 S205에서 "예"), 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)이 상기 새로운 수용된 광량으로 업 데이트된다(단계 S206).

이와는 달리, 상기 새로운 수용된 광량이 상기 최대의 수용된 광량(Pmax) 보다 클 때(단계 S202에서 "예"), 상기 감도 조절 처리는 단계 S203에서 수행된다. 이 경우에 있어서, 상기 표시 최대값이 상기 목표값으로 설정되며, 상기 광 투사부(103)의 구동 전류가 감소되어 상기 최대의 수용된 광량(Pmax) 보다 큰 상기 새로운 수용된 광량이 최대의 수용된 광량(Pmax)으로 된다.

단계 S204에서, 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)은 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)에 (후처리 배율/전처리 배율)을 곱하여 수정된다.

단계들 S202 내지 S206에서 처리의 부분들은 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작이 종료될 때까지 수행된다. 그 결과, 상기 튜닝 버튼(SW1)이 조작되는 동안, 상기 감도가 조절되어 상기 최대의 수용된 광량(Pmax)이 상기 표시 최대값이 되며, 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)이 상기 조절된 감도를 위한 적절한 값으로 수정된다. 이러한 시점에서, 도 7의 (m) 부분에 도시된 바와 같이, 상기 최대의 수용된 광량(Pmax)이 상기 표시기(101) 상에 표시되고, 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)이 상기 표시기(102) 상에 표시된다.

상기 최대의 수용된 광량(Pmax)과 상기 최소의 수용된 광량(Pmin) 사이의 차이가 상기 값(Hys) 보다 큰 지가 점검되면(단계 S208), 상기 최대의 수용된 광량(Pmax) 및 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)의 평균값이 수득되고 상기 한계값으로 설정되며(단계 S209), 그 결과가 표시된다(단계 S210). 상기 결과의 표시에 있어서, 도 6의 상기 2-포인트 튜닝과 유사하게, 상기 후수정 감도를 이용하여 업 데이트된 상기 최대의 수용된 광량이 상기 우측의 표시기(102) 상에 표시된다(도 7의 (n) 부분). 이후에, 상기 표시가 종료 표시로 전환된다(도 7의 (p) 부분).

상기 최대의 수용된 광량(Pmax)과 상기 최소의 수용된 광량(Pmin) 사이의 차이가 상기 값(Hys) 보다 작거나 같을 때, 단계 S211에서 도 7의 (q) 부분에 도시한 바와 같이 소정의 시간 동안 상기 오류 표시가 수행된 후에 단계들 S209 및 S210이 수행된다.

도 7의 처리에 있어서, 상기 감도는 상기 수용된 광량이 샘플링되는 동안 수정되며, 최종적으로 수득된 최대의 수용된 광량(Pmax) 및 최소의 수용된 광량(Pmin)이 상기 한계값을 설정하기 위하여 기준 수용된 광량들로서 이용된다. 그러나, 도 7의 처리를 수행하는 것이 항상 필요한 것은 아니다. 예를 들면, 상기 감도 조절 처리는 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작이 시작된 후에 즉시 한 번만 수행되고, 상기 최대의 수용된 광량(Pmax)과 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)이 명시되며, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작 후에 상기 감도가 조절되어, 상기 최대의 수용된 광량(Pmax)이 상기 표시 최대값이 되고, 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)이 상기 조절에 대응하여 수정될 수 있다.

상기 위치 결정 튜닝(도 5의 단계 S7)과 상기 최대 감도 튜닝(도 5의 단계 S11)을 흐름도 없이 간략하게 설명한다. 상기 위치 결정 튜닝 및 상기 최대 감도 튜닝에 있어서, 도 5의 단계 S2의 경우와 다른 상기 목표값을 이용하여 상기 감도 조절 처리를 수행할 필요가 있다. 그러므로, 상기 튜닝의 종류가 고정될 때, 상기 감도 조절 처리가 다시 수행된 후에 상기 한계값이 설정된다.

상기 위치 결정 튜닝에 있어서, 상기 두 번째의 버튼 조작 이후에 3초가 경과한 시점에서, 상기 감도가 다시 조절되어(상기 전조절 감도의 약 반으로 설정됨), 상기 첫 번째의 버튼 조작에 대응하여 상기 표시 최대값으로 설정된 상기 수용된 광량이 상기 목표값(상기 표시 범위의 중간값인 5000)이 된다. 상기 감도 조절 처리 후에 샘플링된 상기 수용된 광량이 상기 한계값으로 설정된다.

표 1에 나타낸 바와 같이, 상기 위치 결정 튜닝에 있어서, 상기 워크피스가 상기 첫 번째의 버튼 조작 동안에 위치하지 않지만, 상기 두 번째의 버튼 조작 동안에 상기 워크피스가 위치한다. 이에 따라, 상기 투과형 광전 센서(1)를 위하여, 상기 감도 조절 처리의 목표값보다 작은 상기 수용된 광량이 상기 한계값으로 설정된다. 상기 반사형 광전 센서(1)를 위하여, 상기 감도 조절 처리의 목표값보다 큰 상기 수용된 광량이 상기 한계값으로 설정된다.

상기 최대 감도 튜닝에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)이 7초 내에서 계속하여 눌려질 때, 상기 광 투사부(103)의 구동 전류와 상기 광-수용부(104)의 이득 모두가 최대 감도를 설정하도록 최대로 된다. 상기 표시 상의 수용된 광량이 조절되어 상기 튜닝 버튼(SW1)이 계속하여 눌려지는 동안 샘플링된 상기 수용된 광량의 최대값이 상기 표시부(100) 상에 0의 수용된 광량으로서 표시된다. 상기 표시 범위의 10에 대응되는 값이 상기 한계값으로 설정된다.

상기 표시 상에 0으로 설정된 상기 수용된 광량은 상기 최대값에 한정되는 것은 아니지만, 상기 튜닝 버튼(SW1)이 계속하여 눌려지는 동안 샘플링된 상기 수용된 광량들의 평균값 또는 최후의 샘플링된 값이 상기 표시 상에 0으로 설정된 상기 수용된 광량으로서 이용될 수 있다.

상기 각 종류의 튜닝에 있어서, 상기 튜닝의 각각의 종류를 위해 마련된 프로그램에 따라 상기 감도가 조절된 후에 상기 한계값이 설정되어 상기 샘플링된 수용된 광량이 의도한 목적을 위한 적절한 값이 된다. 이에 따라, 상기 사용자가 상기 감도를 조절할 필요를 특별히 알지 못하더라도 상기 광전 센서(1)의 의도한 목적을 위해 적절한 검출 처리가 안정적으로 수행되는 상태로 상기 한계값이 안전하게 설정될 수 있다.

도 5의 단계 S2, 도 6의 단계 S102 및 도 7의 단계 S203에서 상기 감도 조절에 통상적인 스레드(thread)가 수행된다. 상기 튜닝의 부분들에 있어서, 상기 감도 조절 처리를 위한 목표값이 상기 감도 조절 처리를 결정함에 의해 설정되며, 상기 감도 조절 처리가 상기 통상적이 스레드를 호출함에 의해 수행된다. 상기 실시예에 있어서, 상기 목표값은 상기 표시 최대값으로 설정된다. 그러나, 상기 목표값은 내정값(default value)이며, 상기 목표값은 상기 설정 모드에서 적절하게 변화될 수 있다.

도 8은 상기 튜닝 버튼(SW1)의 최초의 조작에 의해 수행되는 상기 감도 조절 처리(도 5의 단계 S2)와 상기 2-포인트 튜닝 및 상기 이동 워크피스 튜닝의 감도 조절 처리에서 이용되는 상기 목표값이 상기 사용자의 조작에 대응하여 변화될 때에 상기 표시기들(101, 102) 상에 표시되는 예를 나타낸다. 도 8a는 상기 설정 모드에서 도 2 및 도 3의 푸시버튼 스위치(SW4)의 조작에 의해 호출되는 최초의 표시를 나타낸다. 도 8a에 있어서, 설정 내용을 표시하는 기호 "P-Lu"가 상기 표시기(101) 상에 표시되고, 상기 내정 목표값(9999의 표시 최대값)이 상기 표시기(102) 상에 표시된다.

상기 사용자가 도 8a의 표시 상태에 신호 "-"를 추가하도록 상기 스위치(SW3)를 조작할 때, 상기 표시기(102)의 숫자값이 도 8b에 도시한 바와 같이 감소한다. When 상기 사용자가 신호 "+"를 추가하도록 상기 스위치(SW2)를 조작할 때, 도 8c에 도시한 바와 같이 상기 표시기(102)의 숫자값이 감소한다. 100 내지 9999의 숫자값들이 상기 표시기(102) 상에 하나로 표시될 수 있다.

상기 스위치들(SW2, SW3)의 조작들에 의해 상기 표시기(102)의 숫자값이 변화된 후에 상기 스위치(SW4)가 조작될 때, 상기 표시기들(101, 102)의 표시가 다른 설정 항목으로 변화되고, 상기 감도 조절 처리의 목표값이 상기 표시기(102) 상에 표시되는 최후의 숫자값을 이용하여 업 데이트된다. 상기 스위치(SW4)를 조작함에 의해 설정 메뉴가 순환될 때, 상기 설정 모드가 상기 측정 모드로 복귀한다.

상기 실시예에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작 횟수의 수 또는 조작 시간에 의해 상기 튜닝의 종류가 고정된 후에, 상기 고정된 종류의 튜닝에 대응되는 튜닝이 수행된다. 선택적으로, 이에 한정되는 것은 아니지만, 상기 튜닝은 상기 튜닝의 종류가 고정되지 않은 상태에서 수행될 수 있거나 튜닝의 복수의 종류들이 동시에 수행될 수 있다.

예를 들면, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 최초의 조작이 3초 내에 종료되는 경우에 있어서, 상기 2-포인트 튜닝이 상기 튜닝 버튼(SW1)의 두 번째의 조작에 대응하여 즉시 시작되며, 상기 두 번째의 조작이 3초 내에 종료될 때에 상기 2-포인트 튜닝 처리의 결과가 고정된다. 반면에, 상기 두 번째의 조작이 적어도 3초 동안 계속될 때, 상기 2-포인트 튜닝 처리의 결과는 상기 위치 결정 튜닝을 수행하도록 취소된다.

상기 이동 워크피스 튜닝을 위한 상기 수용된 광량의 샘플링은 상기 감도 조절 처리(단계 S2) 후에 즉시 시작되고, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 최초의 조작에 대응하여 수행되며, 상기 최대의 수용된 광량(Pmax)과 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)을 명시하는 처리만이 상기 감도의 재조절 없이 수행된다. 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작이 종료될 때에 상기 최종적인 수용된 광량(Pmax)이 상기 표시 최대값보다 큰 경우, 상기 감도는 초과 정도에 따라 조절되며, 상기 최소의 수용된 광량(Pmin)도 상기 후조절 감도를 위한 적절한 값이 되도록 수정된다.

상술한 처리에 따르면, 상기 튜닝 버튼(SW1)이 상기 이동 워크피스 튜닝을 수행하도록 적어도 7초 동안 계속하여 눌려질 때, 상기 감도의 조절과 상기 한계값의 설정이 상기 조작이 수행되는 전체적인 기간에서 상기 수용된 광량들을 기초로 하여 수행될 수 있다.

그러나, 상기 튜닝 버튼(SW1)의 조작 시간이 7초 내에 종료될 때, 상기 최대 감도 튜닝을 수행하도록 상기 위치 결정 튜닝이 포기된다. 전술한 처리에 있어서, 상기 감도가 최대로 설정되며, 상기 위치 결정 튜닝에서 샘플링된 수용된 광량의 최대값이 상기 최대 감도의 배율에 의해 상기 위치 결정 튜닝의 감도가 곱해지는 값으로 수정된다. 또한, 상기 표시 상의 수용된 광량이 수정되어 상기 후처리 수용된 광량이 상기 0의 수용된 광량으로서 표시된다.

전술한 바와 같이, 상기 실시예의 튜닝에 따르면, 상기 사용자가 상기 감도의 조절의 필요를 특별히 알고 있지 않더라도 상기 감도가 자동적으로 조절되며, 상기 광전 센서(1)의 의도하는 목적을 위한 적절한 한계값이 상기 조절된 감도에 의해 설정될 수 있다. 그러나, 상기 감도와 상기 한계값이 적절하게 조절되더라도 먼지 또는 상기 헤드부들(11A, 12A)의 위치 이동과 상기 엘이디(131)나 상기 포토다이오드(141)의 일시적인 변화로 인하여 때때로 상기 수용된 광량이 점차 감소된다. 상기 수용된 광량에서의 감소의 정도가 증가할 때, 상기 한계값을 위한 허용량이 S/N 비율로 감소된다. 상기 검출 처리 동안, 통상적으로 상기 검출에 이용되는 상기 수용된 광량 또는 상기 한계값이 상기 표시기들(101, 102) 상에 표시된다. 그러나, 상기 감소된 수용된 광량이 시작으로부터 표시될 때, 상기 사용자가 어떤 종류의 이상이 발생된 것으로 오해할 가능성이 있다.

전술한 문제점을 고려하여, 자동 조절 처리의 기능이 상기 실시예의 광전 센서(1)에 통합된다. 상기 자동 조절 처리에 있어서, 실제 수용된 광량이 변하더라도 상기 표시부(100) 상에 표시되는 상기 수용된 광량이 상기 튜닝을 통해 조절된 값에 가깝게 유지되며, 상기 검출 처리에 이용되는 한계값이 상기 수용된 광량에서의 감소에 따라 업 데이트된다.

도 9를 참조하면, 상기 광-수용부(104)로부터의 상기 수용된 광량 데이터 출력에 의해 표시되는 상기 실제 수용된 광량(초기의 수용된 광량) 및 상기 표시 상의 수용된 광량(표시 수용된 광량) 사이의 관계와 상기 검출에 이용되는 한계값(초기의 한계값) 및 상기 표시 상의 한계값(표시 한계값) 사이의 관계가 상기 한계값보다 큰 상기 수용된 광량에 대하여 하나의 그래프 내에 요약된다.

도 9의 그래프에서 나타낸 바와 같이, 최초에는 상기 내부의 수용된 광량 및 상기 표시 수용된 광량 모두가 상기 목표값에 일치하며, 상기 내부의 한계값 및 상기 표시 한계값 모두가 상기 튜닝에서 설정된 값에 일치한다. 이후에, 상기 내부의 수용된 광량은 시간 축에 따라 적당하게 감소된다. 그러나, 상기 실시예에 있어서, 상기 내부의 수용된 광량의 감쇠 정도는 소정의 시간 간격들에서 점검되며, 상기 표시 수용된 광량이 상기 감쇠 정도에 대응되는 배율이 곱해진 상기 내부의 수용된 광량을 곱한 상기 목표값에 가깝게 유지된다. 상기 표시 한계값은 상기 튜닝에서 설정된 값에서 유지되며, 상기 내부의 한계값은 상기 조절의 각 시간에서 상기 내부의 수용된 광량의 감쇠 정도에 대응하는 비율로 감소된다.

상술한 처리에 따르면, 상기 튜닝 후에 상기 표시가 즉시 유지되는 동안, 상기 한계값이 실제로 수득된 수용된 광량에 따라 검출 처리를 수행하도록 수정됨으로써, S/N 비율이 유지될 수 있다. 반면에, 상기 표시 상의 수용된 광량이 안정한 상태에 있음으로써, 사용자가 주어진 기준에 기초하여 상기 검출 동작을 점검할 수 있다.

상기 내부의 수용된 광량의 저하 정도가 상기 목표값의 내부의 수용된 광량을 이용하여 바람직하게 결정된다. 그러므로, 상기 실시예에 있어서, 상기 표시 수용된 광량 및 상기 내부의 한계값이 상기 튜닝에서 설정된 한계값보다 큰 값(Pok) 보다 크거나 같은 상기 내부의 수용된 광량을 이용하여 조절된다. 이하, 상기 값(Pok)을 "조절 가능한 범위의 하한(lower limit)"로 언급한다.

상기 실시예에 있어서, 많은 전문 지식을 가진 사용자는 상기 수용된 광량을 정확하게 인식하기를 원하기 때문에, 상기 설정 조작의 메뉴에서 상기 자동 조절 기능이 가능한 지가 선택될 수 있다. 도 10은 선택 조작 동안 상기 표시부의 표시 예를 나타낸다. 도 10에 있어서, 상기 자동 조절 기능을 표시하는 문자열 "dPc"(동적 출력 제어(dynamic power control)의 약자)는 좌측의 표시기(101) 상에 표시되고, 문자열 "on"은 상기 자동 조절 기능이 사용 가능할 때에 상기 우측의 표시기(102) 상에 표시되며, 문자열 "oFF"은 상기 자동 조절 기능이 사용 불가능할 때에 상기 우측의 표시기(102) 상에 표시된다. 상기 사용자는 상기 스위치들(SW2, SW3)을 사용하여 상기 문자열 "on"의 표시와 상기 문자열 "oFF"의 표시 중에서 하나를 선택하고, 선택이 고정되도록 상기 스위치(SW4)를 조작한다. 상기 자동 조절 기능이 사용 가능할 때, 상기 지시 램프(114)가 상기 검출 처리 동안 점등된다.

도 11은 상기 자동 조절 처리의 상세한 순서를 나타낸다. 상기 선택 조작에 의해 자동 조절 기능이 사용 가능할 때와 상기 튜닝의 4 종류들 중의 하나가 이미 수행될 때에 상기 자동 조절 처리가 시작된다. 상기 목표값, 상기 조절 가능한 범위의 하한(Pok) 및 상기 수용된 광량의 샘플링 시간과 같은 수행되는 튜닝에 대응되는 정보의 부분들은 단계 S301에서 획득된다. 상기 정보의 부분들은 튜닝의 다양한 부분들을 위한 프로그램과 번들(bundle)되는 동안 상기 메모리(106)에 저장된다. 선택적으로, 정의 정보는 상기 튜닝 결과로부터 상기 목표값을 제외한 변수들을 유도하기 위하여 저장되며, 상기 변수들은 상기 튜닝 후에 상기 정의 정보를 이용하여 얻어질 수 있다.

단계 S302에서, 상기 배율(D)이 최초의 값으로서 1.0으로 설정된다. 단계 S303에서, 계수기(NUM)가 샘플링 시간들의 수의 세도록 최초의 값으로서 0으로 설정된다. 그 후에, 상기 내부의 수용된 광량(상기 광-수용부(104)로부터의 상기 수용된 광량 데이터 입력)이 샘플링된다(단계 S304). 샘플링된 값이 상기 조절 가능한 범위의 하한(Pok) 보다 크거나 같을 때(단계 S305에서 "예"), 상기 계수기(NUM)가 증가하며, 상기 샘플링된 값이 저장된다(단계 S306). 상기 샘플링된 값이 상기 하한(Pok) 이하일 때, 단계 S306은 생략된다.

상기 계수기(NUM)가 소정의 값에 도달할 때(단계 S307에서 "예"), 상기 흐름은 저장된 계수기(NUM) 샘플링된 값의 평균값을 계산하도록 단계 S308로 진행된다. 단계 S309에서, 상기 목표값은 상기 평균값에 의해 분할되며, 상기 배율(D)이 분할 결과를 이용하여 업 데이트된다(단계 S309).

이 후에, 상기 흐름은 단계 S303으로 돌아가고, 상기 계수기(NUM)가 동일한 처리를 반복하도록 리셋된다. 그러나, 단계 S310에서, 상기 흐름이 단계 S303으로 복귀하기 전에 후에 업 데이트된 배율(D)이 소정의 허용 가능한 값 보다 큰 지가 점검된다. 상기 후에 업 데이트된 배율(D)이 상기 허용 가능한 값보다 클 때(단계 S310에서 "예"), 소정의 시간 동안 오류 표시가 수행된다(단계 S311).

전술한 처리 및 상기 검출 처리(도시되지 않음)와 동시에, 상기 중앙 처리 장치(105)가 단계 S304에서 샘플링된 상기 내부의 수용된 광량을 상기 배율(D)에 곱하여 상기 표시 수용된 광량을 유도하며, 상기 중앙 처리 장치(105)는 상기 표시 한계값과 함께 상기 표시부(100) 상에 상기 표시 수용된 광량을 표시한다. 상기 중앙 처리 장치(105)는 상기 표시 한계값을 상기 배율(D)의 역수(1/D)에 곱하여 상기 내부의 한계값을 얻으며, 상기 중앙 처리 장치(105)는 상기 내부의 한계값과 상기 내부의 수용된 광량을 비교하여 상기 검출 처리 동안에 물체가 존재하는 지를 판단한다.

상기 실시예에 있어서, 상기 튜닝 버튼(SW1)을 포함하는 조작부(110)가 상기 광전 센서(1)의 본체(10) 내에 제공된다. 선택적으로, 상기 조작부(10)가 이에 제한되지는 않으며 상기 광전 센서(1)의 독립적인 콘솔(console)이 조작부로 사용될 수 있다. 퍼스널 컴퓨터와 외부 제어 장치인 PLC와 같은 외부 장치들이 상기 광전 센서(1)에 연결될 수 있으며, 상기 외부의 장치 상에서 수행되는 조작의 신호가 상기 광전 센서(1)로 전송될 수 있다.

1：광전 센서 10：본체
11： 광섬유 11A, 11B：헤드부들
11B, 12b：삽입 포트들 13：커버
14：연결 케이블 100： 표시부
101, 102：표시기들 103：광 투사부
104：광-수용부 105：중앙 처리 장치
106：메모리 107：외부-장치 인터페이스
108：출력부 109：전원
110：조작부 111, 112, 113, 114, 115： 표시 램프들
131：엘이디 132：엘이디 구동 회로
141：포토다이오드 142：증폭기 회로
143：A/D 변환 회로
SW1. SW2, SW3, SW4, SW5：푸시버튼 스위치들

Claims

광전 센서(1)에 있어서,
검출을 위해 광을 투사하는 광 투사부(103);
광 투사 동작에 따라 광-수용 처리를 수행하는 광-수용부(104);
수용된 광량을 미리 저장된 한계값과 비교하여 물체 검출 처리를 수행하는 검출기;
설정 조작에 사용되는 조작부(110);
상기 광전 센서의 의도하는 각각의 목적에서의 조작의 변화하는 내용에 의해 각기 의도하는 목적으로 마련되는 복수의 종류들의 설정 처리의 하나에 대응되는 조작을 수신하는 조작 수신기를 포함하고, 상기 조작이 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리도록 수행되며;
상기 조작 수신기에 의해 수신된 조작의 내용에 의존하는 결정 기준에 따라 상기 수행된 조작에 대응하여 측정된 상기 수용된 광량을 기초로 하여 상기 한계값을 설정하는 데 이용되는 기준이 되는 기준 수용된 광량을 결정하는 기준 수용된 광량 결정부; 및
상기 기준 수용된 광량 결정부에 의해 상기 한계값의 설정을 위한 적절한 값으로 결정되는 상기 기준 수용된 광량을 설정하기 위해 감도 조절 처리를 수행하는 감도 조절기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 1 항에 있어서, 상기 조작 수신기에 의해 수신된 상기 조작의 내용을 변화시키는 상기 결정 기준에 따라 목표값을 위해 적절하도록 조절되는 상기 기준 수용된 광량을 기초로 하여 상기 수용된 광량을 상기 한계값으로 설정되게 결정하는 수용된 광량 결정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 2 항에 있어서,
목표값이 저장되는 저장부(106); 및
상기 조작부(110)에서 수행되는 조작에 따라 상기 감도 조절 처리에서 이용되는 상기 목표값을 설정하기 위하여 상기 저장부에서 조작에 의해 설정된 상기 목표값을 저장하는 목표값 설정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
광전 센서(1)에 있어서,
검출을 위해 광을 투사하는 광 투사부(103);
광 투사 동작에 따라 광-수용 처리를 수행하는 광-수용부(104);
상기 광-수용 처리를 통해 얻어진 수용된 광량을 미리 저장된 한계값과 비교하여 물체 검출 처리를 수행하는 검출기;
설정 조작에 이용되는 조작부(110);
감도 조절 규칙 및 수용된 광량 결정 규칙이 저장되는 저장부(106)를 포함하며, 상기 감도 조절 규칙은 복수의 종류들의 설정 처리에 대한 조작에 대응하여 측정된 수용된 광량을 이용하여 감도를 조절하는 처리를 정의하고, 상기 광전 센서의 각각의 의도하는 목적에서의 조작의 내용을 변화시켜 각각의 의도하는 목적으로 마련되며, 상기 수용된 광량 결정 규칙은 상기 조절된 감도의 수용된 광량을 기초로 하여 상기 한계값을 설정하든 데 이용되는 기준 수용된 광량을 고정하는 처리를 정의하며;
상기 조작부가 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리도록 상기 조작을 수신할 때, 상기 조작에 대응하여 상기 수용된 광량을 가지는 동안 상기 수신된 조작의 내용에 대응되는 상기 감도 조절 규칙에 따라 상기 감도를 조절하는 감도 조절기; 및
상기 수용된 광량을 기초로 하여 상기 한계값을 설정하는 데 이용되는 기준 수용된 광량을 결정하는 기준 수용된 광량 결정부를 포함하고, 상기 수용된 광량이 복수의 종류들의 설정 처리의 하나가 고정된 설정 처리에 대응되는 상기 수용된 광량 결정부에 따라 상기 수신된 조작에 의해 고정되는 사실을 기초로 하여 상기 수신된 조작에 대응하여 측정되고 상기 감도 조절기에 의해 조절된 상기 감도를 위해 적절한 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 4 항에 있어서, 상기 감도 조절 규칙은 상기 저장부에 저장되고, 상기 감도 조절 규칙이, 상기 조작에 대응하여 측정된 상기 수용된 광량이 소정의 목표값을 위해 적절하도록 상기 감도가 상기 종류들의 설정 처리의 하나에 대하여 조절되는 점과 상기 조절 후에 측정된 상기 수용된 광량이 상기 목표값보다 클 때에 상기 목표값보다 큰 상기 수용된 광량이 상기 목표값을 위해 적절하도록 상기 감도 조절 처리가 재시작되는 점을 정의하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 4 항에 있어서, 감도 조절 규칙과 수용된 광량 결정 규칙이 상기 저장부(106)에 저장되고, 상기 감도 조절 규칙은, 첫 번째 조작에 대응하여 측정되는 수용된 광량이 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리는 조작이 두 번 수행되는 상기 조작의 내용을 갖는 설정 처리에 대하여 소정의 목표값을 위해 적절하게 되도록 상기 감도가 조절되는 점, 두 번째 조작에 대응하여 측정되는 수용된 광량이 상기 감도 조절 처리에 이용되는 상기 목표값보다 클 때에 상기 목표값보다 큰 상기 수용된 광량이 상기 목표값을 위해 적절하도록 상기 감도 조절 처리가 재시작되는 점, 그리고 상기 첫 번째 조작에 대응하여 수행된 상기 감도 조절 처리에서 상기 목표값에 일치하도록 야기되는 상기 수용된 광량이 상기 감도 조절 처리의 재시작에 따라 재조절된 감도를 위한 적절한 값으로 수정되는 점을 정의하며, 상기 수용된 광량 결정 규칙은, 상기 첫 번째 조작 및 상기 두 번째 조작에 대응하여 측정되고 최후의 감도를 위해 적절한 한 쌍의 수용된 광량들이 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 기준 수용된 광량으로 설정되는 점을 정의하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 4 항에 있어서, 상기 감도 조절 규칙 및 수용된 광량 결정 규칙이 상기 저장부(106)에 저장되고, 상기 감도 조절 규칙은, 상기 수용된 광량을 측정하는 지시를 내리는 상기 조작이 소정의 시간 동안 계속되는 상기 조작의 내용을 갖는 설정 처리에 대한 상기 조작 동안에 상기 수용된 광량이 측정되는 동안 측정된 수용된 광량들의 최대값과 최소값이 추출되는 점과 상기 수용된 광량들의 최소값이 매 시점에서 상기 조절된 감도를 위해 적절한 값으로 수정되는 동안 상기 설정 처리를 통해 상기 감도 조절 처리가 상기 최대값이 업 데이트되는 매 시간에 수행되는 점을 정의하며, 상기 수용된 광량 결정 규칙은, 상기 수용된 광량들의 최대값과 최소값이 상기 조작이 종료되는 시점에서 상기 한계값의 설정에 이용되는 상기 기준 수용된 광량으로 설정되는 점을 정의하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 5 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 조작부에서 수행되는 조작에 따라 상기 감도 조절 처리에 이용되는 상기 목표값을 설정하기 위하여 상기 저장부에서 조작에 의해 설정된 상기 목표값을 저장하는 목표값 설정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 1 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 감도 조절기에 의해 조절된 감도의 상기 수용된 광량과 함께 상기 기준 수용된 광량을 기초로 하여 고정되는 상기 한계값을 표시하는 표시부(100)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).
제 1 항 또는 제 4 항에 있어서,
상기 수용된 광량을 표시하는 표시부(100); 및
상기 검출기가 검출 처리를 수행하는 동안 소정의 시간에서 상기 검출 처리에 이용되는 상기 수용된 광량에 대응하여 상기 감도 조절 처리를 통해 수행되는 조절을 위해 적절한 수신된 광량의 변화의 정도를 수득하고, 상기 변화의 정도에 따라 상기 저장된 한계값을 변화시키며, 상기 표시부 상에 표시되는 상기 수용된 광량을 실제 수용된 광량이 상기 변화의 정도에 따라 수정되는 값으로 변화시키는 조절기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 센서(1).