JP2007324915A - 検出センサ - Google Patents

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Abstract

【課題】しきい値レベルを再設定する作業効率の向上を図ることが可能な検出センサを提供する。
【解決手段】CPU25はメモリ26を備え、設定モード時に被検出物の検出状態又は非検出状態における検出信号レベルを元に演算条件に従って演算処理してしきい値レベルを設定し、再設定モード時にメモリ26に記憶された検出信号レベルを元に演算条件に従って演算処理してしきい値レベルを設定する。
【選択図】図2

Description

本発明は、被検出体を検出する検出センサに関するものである。
従来、工場における生産ライン等の物体移送装置で移送される移動体の有無判断には、被検出体を検出する光電センサ等の検出センサが用いられている。検出センサは、受光量としきい値レベルとを比較して物体の有無を検出する。しきい値レベルの設定は、例えば、図7(a)に示すように、しきい値レベル演算の条件を設定し(ステップ71)、実際にワーク(被検出体)を流し(ステップ72)、ワークが無いときの受光量とワークが有るときの受光量とを測定する(ステップ73)。そして、それら測定値に基づき所定のしきい値レベル演算によって算出し(ステップ74)、その算出したしきい値レベルを設定する。
上記のしきい値レベルを設定する演算条件によっては、埃など外的要因により誤検出が発生する場合がある。このような場合にしきい値レベルを再設定する必要がある。
前記物体移送装置に取り付けられた検出センサは、センサの故障、信号送受信部に付着する埃の影響等の外的要因が加わることで、時間の経過とともに検出信号レベルが低下する。そのため、センサにおける検出信号レベルの低下に伴い、検出状態又は非検出状態を判断するしきい値レベルを補正する必要がある。しきい値レベルの再設定は、図7(a)に示す順序と同様に、図7(b)に示すように、しきい値レベル演算の条件を変更し(ステップ75)、再度ワークを流し(ステップ76)、ワークが無いときの受光量とワークが有るときの受光量を測定する(ステップ77)。そして、これら測定値に基づき所定のしきい値レベル演算によって算出し(ステップ78)、その算出したしきい値レベルを設定する。
別のしきい値レベルの再設定方法として、例えば、特許文献1には、設定されたしきい値レベルを、アップダウンスイッチの操作に従って再設定する検出器が開示されている。
特開平9−252242号公報
ところで、図7(a)(b)に示すしきい値レベルの設定方法では、しきい値レベル演算条件(シフト率)を変更(ステップ75)した後に、実際にワークを流さなければならないため、しきい値レベルを再度設定する毎にワークを流さなければならず、当装置を利用する作業者(ユーザ)の作業効率が悪くなるという問題があった。前記特許文献1のしきい値レベル決定方法においても、被検出体に対する検出結果からしきい値レベルを算出するための演算条件と、しきい値レベルを変更するときの条件とを管理することになるため、管理構造が複雑であった。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、しきい値レベルを再設定する作業効率の向上を図ることが可能な検出センサを提供することにある。
上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、被検出物を検出するための物理量に応じた検出信号レベルを得る物理量検出手段と、前記検出信号レベルとしきい値レベルとの比較に基づいて被検出物の検出を行う被検出物検出手段と、しきい値レベルを設定する設定モードとしきい値レベルを再設定する再設定モードとを切替え可能な切替え手段と、前記検出信号レベルを記憶する記憶手段と、前記設定モード時に前記被検出物の検出状態又は非検出状態における検出信号レベルを読み込み前記記憶手段に記憶させる処理手段と、
前記設定モード時に前記処理手段にて前記記憶手段に記憶させた検出信号レベルを元に所定の演算条件に従って演算処理してしきい値レベルを設定し、前記再設定モード時に前記記憶手段に記憶された検出信号レベルを元に前記演算条件に従って演算処理してしきい値レベルを設定するしきい値レベル設定手段と、を備えた。この構成により、検出用しきい値レベルを再設定する毎にワークを流す必要が無いため、作業者の作業を軽減し、作業効率が向上する。
請求項2によれば、請求項1に記載の検出センサにおいて、前記演算条件はシフト率であり、前記しきい値レベル設定手段は前記検出信号レベルに対して前記演算条件として予め定めたシフト率に応じたレベル分シフトして得られる値を新たなしきい値レベルとして設定するため、個人判断に一任されない、検出された信号レベルに対し客観的なしきい値レベルの決定を行うことができる。
請求項3によれば、請求項1又は2に記載の検出センサにおいて、前記演算条件を表示する表示手段と、前記演算条件を可変可能な可変設定手段と、を備えた。この構成により、演算条件の設定や表示による作業支持を行うことができる。
請求項4によれば、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の検出センサにおいて、前記しきい値レベルの設定モード時に検出信号レベルを前記記憶手段に記憶し、次回以降の設定モード時に前記記憶手段の検出信号レベルを、その時にしきい値レベルを算出した検出信号レベルに更新するため、作業環境に応じたしきい値をその都度得ることができる。
請求項5によれば、請求項1乃至4に記載の検出センサにおいて、前記再設定モード選択時に前記記憶手段に検出信号レベルが記憶されていない時にエラー出力を行うエラー出力手段を備えた。この構成により、誤作動の防止を図ることができる。
本発明によれば、しきい値レベルを再設定する作業効率の向上を図ることが可能な検出センサを提供することができる。
以下、本発明を具体化した一実施の形態を図1〜図6に従って説明する。
図1は、本実施形態のファイバセンサ10の平面図である。ファイバセンサ10のセンサ本体11は、略直方体に形成されるとともに、その上面には、例えば8桁表示可能な表示部としてデジタル表示部12が設置され、デジタル表示部12の一側(図1において左側)に、例えばLED(発光ダイオード)からなる動作表示灯13が設置されている。なお、デジタル表示部12には、ファイバセンサ10の備える複数の機能(例えば、検出用しきい値レベルの設定や微調整)が表示される。デジタル表示部12は、4桁を表示するための4つの7セグメントLED14a〜14dからなる第1表示部14と、4桁を表示するための4つの7セグメントLED15a〜15dからなる第2表示部15とが一列に接続される態様で構成されている。
また、センサ本体11の上面にはデジタル表示部12の他側(図1において右側)に一対の三角形状の選択スイッチ16,17が設置されるとともに、選択スイッチ17の他側(図1において右側)に四角形状の決定スイッチ18が設置されている。選択スイッチ16,17は、それぞれの押圧操作によりデジタル表示部12に表示される機能等を互いに逆方向の順序で切替えるためのものであり、決定スイッチ18は、その押圧操作によりデジタル表示部12に表示される現在の機能等を決定するためのものである。作業者により操作されるこれら選択スイッチ16,17及び決定スイッチ18は、切替え手段及び設定手段を構成する。
図2はファイバセンサのブロック図である。ファイバセンサ10は、投光素子21を備える投光回路22と、受光素子23を備える受光回路24と、CPU25とを備えて構成される。CPU25内にはメモリ26が備えられ、このCPU25は信号レベルを読み込み、メモリ26に記憶させる処理手段、演算手段、しきい値レベル設定手段、及びエラー出力手段を構成し、メモリ26は記憶手段を構成する。投光回路22はCPU25からの出力信号を受けて投光素子21を発光させる。前記発光された光は受光素子23によって光電変換され受光回路24で増幅されて、受光素子23での受光量に応じたレベルの出力信号をCPU25に出力する。
本実施形態では、図1に示すセンサ本体11に接続された投光用ファイバ及び受光用ファイバ(図示略)の先端が順次搬送されるワークWの搬送経路(図2の白抜き矢印の方向)の両側に配置されるとともに、該搬送経路と垂直方向に沿って対向するように設置されている。そして、両ファイバを介して形成される投光素子21及び受光素子23間の光路(検出領域)内へのワークWの進入量に応じたレベルの検出信号(アナログ信号)が、受光回路24からCPU25へ出力されるように構成されている。CPU25は、この出力信号のレベルをサンプリングした測定値と所定の検出用しきい値レベルとの大小を比較し、比較結果に応じて反転する検出信号を出力回路27に出力するとともに、動作表示灯13を、例えば赤色に点灯させる。
CPU25は、表示回路28を介してデジタル表示部12の7セグメントLED14a〜14d,15a〜15dを駆動しデジタル表示部12に文字、数字、記号を表示するとともに、スイッチ入力回路29を選択スイッチ16,17及び決定スイッチ18の操作を介して検出する。CPU25は、選択スイッチ16,17及び決定スイッチ18の操作に応じて、デジタル表示部12の表示(切替え表示)を制御する表示制御手段を構成する。
本実施形態では、デジタル表示部12に表示される各機能は、関連するもの同士がまとめられて上層(上位階層)、中層(中位階層)、下層(下位階層)の3層の段階構造に分類されており、選択スイッチ16,17及び決定スイッチ18の操作によって各階層の機能を表示させ、その表示された機能を実行することができる。
具体的には、図3に示すように、上層には、「RUN(ワークWの検出動作を実行する通常検出状態)」31、「TEACH(検出用しきい値レベルの設定)」32、「L/D ON(入光時ON/非入光時ONの設定)」33、「TIMER(タイマ動作の設定)」34、「CUST(カスタム設定の内容表示)」35、「PRO(詳細設定)」36の各機能が分類されている。中層には、「Pro1」〜「Pro5」の各機能が分類されている。また、下層には、「Pro1」〜「Pro5」に対応する各機能が分類されている。
上記構成においてワークWの通過を判断する検出用しきい値レベルの設定について説明する。選択スイッチ16,17を用いて、図3に示される複数個用意されたモード31〜36よりティーチングモード32を選択し、決定スイッチ18を操作することにより、下位モードにおいてしきい値レベル演算条件と、しきい値レベル演算方法の設定が可能となる。さらに、選択スイッチ16,17を操作することにより、検出用しきい値レベルの設定モードと再設定モードのいずれか一方を選択し、決定スイッチ18を操作することにより選択したモード(設定モード又は再設定モード)を実行することができる。このとき、予め設定モードを利用し信号レベルの記憶がメモリになされたことをCPU25が確認してから再設定モードが利用できるようになる。設定モードを実行せずに再設定モードを実行した場合には、CPU25はエラー出力をデジタル表示部12の第1表示部14、第2表示部15を介してERR(エラー)と作業者に警告する。
これより、設定モードにおける処理を図4(a)に従って説明する。図4(a)のステップ41において、CPU25は、予め設定されたシフト率をデジタル表示部12に表示させ、選択スイッチ16,17の操作に従ってシフト率を増減する。そして、決定スイッチ18を操作することで決定されたシフト率を、演算条件としてメモリ26に記憶する。次に、ワークWを搬送し(ステップ42)、物体検出時に得られる信号レベルを用いて最初のしきい値レベルをCPU25内で算出し設定する(ステップ43)。このときに得られた信号レベルはメモリ26に保存される。最初のしきい値レベルと、ステップ41で設定されたシフト率をCPU25内で演算し、検出用しきい値レベルを決定する(ステップ44)。
次に、再設定モードにおける処理を図4(b)に従って説明する。図4(b)のステップ45において、上記ステップ41と同様に、検出用しきい値レベルの演算条件となるシフト率を決定する。シフト率を決定すると、CPU25は、メモリ26に記憶された信号レベルを読み出す。次に、メモリ26から読み出した信号レベルに基づいてしきい値レベルを算出し(ステップ46)、そのしきい値レベルとシフト率に基づいて検出用しきい値レベルを決定する(ステップ47)。
ここで、上記ステップ43,46における信号レベルに基づく検出用しきい値レベルの演算方法について説明する。本実施形態では、検出用しきい値レベルを算出するティーチングとして、リミットティーチングとフルオートティーチングが設定されており、いずれか一方のティーチングにより検出用しきい値レベルを算出する。
図5は、リミットティーチングの説明図である。リミットティーチングは、ワークWの無い状態(非検出状態)における信号レベルに基づいて検出用しきい値レベルを設定する方法である。
詳述すると、CPU25は、設定モードにおいて、つまり、図5(a)における左側の矢印に示すように、ワークWが無いときの検出信号レベルX(例えば検出信号レベルの最大値)に基づき、該検出信号レベルXに対してシフト率を考慮して検出用しきい値レベルを設定する。さらに、CPU25は、再設定モードにおいて、図5(a)における右側の矢印に示すように、検出信号レベルXに対して変更されたシフト率を考慮して検出用しきい値レベルを用いて算出された値としてCPU25は再設定する。検出用しきい値レベルの算出は、図5(b)に示すように、検出信号レベル0と検出信号レベルXとの差と、その差を先に検出信号レベルXに対して作業者が選択スイッチ16,17により選択、決定スイッチ18により設定されたシフト率を乗算し、その結果を検出信号レベルXに加算して検出用しきい値レベルを算出する。
図6は、フルオートティーチングの説明図である。フルオートティーチングは、ワークWが有る状態(検出状態)における信号レベルと、ワークWが無い状態(非検出状態)における信号レベルと、に基づいて検出用しきい値レベルを設定する方法である。
詳述すると、CPU25は、設定モードにおいて、図6(a)における左側の矢印に示すように、ワークWが無いときの検出信号レベルX(例えば検出信号レベルの最大値)とワークWが有るときの検出信号レベルY(例えば検出信号レベルの最小値)とに対してシフト率を考慮して検出用しきい値レベルを設定する。さらに、CPU25は、再設定モードにおいて、図6(a)における右側の矢印に示すように、検出信号レベルX,Yに対して変更されたシフト率を考慮して検出用しきい値レベルを再設定する。検出用しきい値レベルの算出は、図6(b)に示すように、検出信号レベルXと検出信号レベルYとの差分に対してシフト率を乗算し、その結果を検出信号レベルYに加算して検出用しきい値レベルを算出する。
なお、リミットティーチングとフルオートティーチングに用いられるシフト率は、それぞれのティーチング方法に対応して設定されメモリ26に記憶されている。CPU25は、メモリ26からそれぞれのティーチング方法に応じたシフト率を読み出し、そのシフト率の変更、検出用しきい値レベルの算出を行うように構成されている。
検出用しきい値レベルを設定/再設定する方法として、信号レベルに基づき所定の条件に従って検出用しきい値レベルを設定し、その検出用しきい値レベルを所定の条件に従って再設定する方法がある。この方法では、検出用しきい値レベルの設定時と再設定時とで条件が異なるため、それぞれの条件を管理しておく必要がある。この構成に対し、本実施形態では、信号レベルに対してシフト率を演算して検出用しきい値レベルを設定/再設定し、シフト率を変更することで検出用しきい値レベルを変更している。従って、検出用しきい値レベルの設定時と再設定時とで一つの条件(シフト率)の値変更するため、1つの条件を管理しておけばよく、管理が簡略化されている。
以上記述したように、本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)検出用しきい値レベルの設定モードのときに、ワークWを流して得た信号レベルをメモリ26に記憶し、再設定モードのときにメモリ26から読み出した信号レベルに基づいて検出用しきい値レベルの再設定を行うようにした。その結果、検出用しきい値レベルを再設定する毎にワークWを流す必要が無いため、作業者の作業を軽減し、作業効率を向上することができる。
(2)検出用しきい値レベルの再設定モードの時に、メモリ26から読み出した信号レベルに基づいて検出用しきい値レベルの再設定を行うようにした。その結果、検出用しきい値レベルを再設定する際に、間違ったワークWを流したり、ワークWを流すときに信号レベルにノイズが重畳したりして検出用しきい値レベルが誤設定されることを防止することができる。
(3)検出信号レベルに対してシフト率を演算して検出用しきい値を設定/再設定し、シフト率を変更することで検出用しきい値レベルを変更するようにした。従って、検出用しきい値レベルを設定する条件と再設定する条件が異なる構成に対し、本実施形態は、検出用しきい値レベルの設定時と再設定時とで1つの条件(シフト率)を用いているため1つの条件を管理しておけばよく、条件管理を簡略化することができる。
(4)本実施形態では、CPU25で算出されたしきい値レベルを新たに選択スイッチ16,17により選択し、決定スイッチ18で決定するなど、直接手動で調整するのではなく、予め前記選択装置により定められたシフト率を用いてCPU25で演算処理され、検出用しきい値レベルとして設定されている。故に、作業者毎による調整値のばらつきが無くなり、客観的に検出用しきい値レベルを得ることができる。
尚、上記実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
・物体の検出に用いる物理量として、光以外に、磁気、熱、長音波、圧力などを採用することもできる。
・選択スイッチ16,17として、一対の三角形状の選択スイッチ以外に切替えレバー、ロータリースイッチ、ダイヤル式調整ねじなどを採用することもできる。
・選択スイッチ16,17、及び決定スイッチ18は、その設置場所をデジタル表示部12の右側以外に、左側、ファイバセンサ自体の他面などとすることもできる。
・ワークWが無いときの検出信号レベルX及びワークWが有るときの検出信号レベルY、又はワークWが無いときの検出信号レベルXのみに基づいて検出用しきい値レベルを設定するようにしたが、ワークWが有るときの検出信号レベルYのみに基づいて検出用しきい値レベルを設定するようにしてもよい。
・ワークWが無いときの検出信号レベルX及びワークWが有るときの検出信号レベルYは、それぞれ検出された信号レベルの最大値最小値に基づいたが、作業者が任意に設定するレベルをメモリ26に記憶し、それに基づいてもしきい値レベルを算出してもよい。
・メモリ26に演算条件を記憶するタイミングは、作業者が入力してからでも、予め初期値が与えられていてもよい。
エラーメッセージはデジタル表示部12の第1表示部14、第2表示部15にERR(エラー)表示される以外に、動作表示灯13を点滅表示、ブザーなどの音を発する手段を採用することもできる。
一実施形態の検出センサを示す平面図。 検出センサの電気的構成を示すブロック図。 検出センサの機能を示す説明図。 (a)(b)はしきい値レベル決定方法を示すフローチャート。 (a)(b)は信号レベルに基づく検出用しきい値レベル設定の説明図。 (a)(b)は信号レベルに基づく検出用しきい値レベル設定の説明図。 (a)(b)は従来のしきい値レベル決定方法を示すフローチャート。
符号の説明
10…ファイバセンサ、12…表示手段としてのデジタル表示部、16,17…切替え手段及び可変設定手段を構成する選択スイッチ、18…切替え手段を構成する決定スイッチ、23…物理量検出手段を構成する受光素子、24…物理量検出手段を構成する受光回路、25…被検出物検出手段、しきい値レベル設定手段、可変設定手段、処理手段、エラー出力手段を構成するCPU、26…記憶手段を構成するメモリ。

Claims (5)

  1. 被検出物を検出するための物理量に応じた検出信号レベルを得る物理量検出手段と、
    前記検出信号レベルとしきい値レベルとの比較に基づいて被検出物の検出を行う被検出物検出手段と、
    しきい値レベルを設定する設定モードとしきい値レベルを再設定する再設定モードとを切替え可能な切替え手段と、
    前記検出信号レベルを記憶する記憶手段と、
    前記設定モード時に前記被検出物の検出状態又は非検出状態における検出信号レベルを読み込み前記記憶手段に記憶させる処理手段と、
    前記設定モード時に前記処理手段にて前記記憶手段に記憶させた検出信号レベルを元に所定の演算条件に従って演算処理してしきい値レベルを設定し、前記再設定モード時に前記記憶手段に記憶された検出信号レベルを元に前記演算条件に従って演算処理してしきい値レベルを設定するしきい値レベル設定手段と、
    を備えたことを特徴とする検出センサ。
  2. 請求項1に記載の検出センサにおいて、
    前記演算条件はシフト率であり、
    前記しきい値レベル設定手段は前記検出信号レベルに対して前記演算条件として予め定めたシフト率に応じたレベル分シフトして得られる値を新たなしきい値レベルとして設定することを特徴とする検出センサ。
  3. 請求項1又は2に記載の検出センサにおいて、
    前記演算条件を表示する表示手段と、
    前記演算条件を可変可能な可変設定手段と、
    を備えたことを特徴とする検出センサ。
  4. 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の検出センサにおいて、
    前記しきい値レベルの設定モード時に検出信号レベルを前記記憶手段に記憶し、次回以降の設定モード時に前記記憶手段の検出信号レベルを、その時にしきい値レベルを算出した検出信号レベルに更新する、ことを特徴とする検出センサ。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の検出センサにおいて、
    前記再設定モード選択時に前記記憶手段に検出信号レベルが記憶されていない時にエラー出力を行うエラー出力手段を備えたことを特徴とする検出センサ。
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