KR101267161B1 - 광전 센서 및 임계치의 확인 작업의 지원 방법 - Google Patents

광전 센서 및 임계치의 확인 작업의 지원 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101267161B1
KR101267161B1 KR1020110006152A KR20110006152A KR101267161B1 KR 101267161 B1 KR101267161 B1 KR 101267161B1 KR 1020110006152 A KR1020110006152 A KR 1020110006152A KR 20110006152 A KR20110006152 A KR 20110006152A KR 101267161 B1 KR101267161 B1 KR 101267161B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
period
time
light
length
measurement data
Prior art date
Application number
KR1020110006152A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20110101043A (ko
Inventor
히데요시 나카무라
아츠시 이와모토
코지 코사카
스스무 미즈하라
Original Assignee
오므론 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 오므론 가부시키가이샤 filed Critical 오므론 가부시키가이샤
Publication of KR20110101043A publication Critical patent/KR20110101043A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101267161B1 publication Critical patent/KR101267161B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04FTIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F1/00Apparatus which can be set and started to measure-off predetermined or adjustably-fixed time intervals without driving mechanisms, e.g. egg timers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/04Systems determining the presence of a target
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00Prospecting or detecting by optical means
    • G01V8/10Detecting, e.g. by using light barriers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/78Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used using opto-electronic devices, i.e. light-emitting and photoelectric devices electrically- or optically-coupled
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00Prospecting or detecting by optical means
    • G01V8/10Detecting, e.g. by using light barriers
    • G01V8/12Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
    • G01V8/16Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver using optical fibres

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은, 안정된 검출을 행하는데 적합한 임계치가 설정되어 있는지의 여부를, 유저가 용이하게 확인할 수 있도록 하는 것을 과제로 한다. 본 발명의 한 실시 형태에 의한 광전 센서에서는, 제어부에서, 수광부로부터 입력된 수광량 데이터를 대상으로 한 계측 처리를 실행하고, 수광량이 베이스 레벨로부터 임계치(P0)에 근접하는 방향으로의 변화를 시작하고 나서 수광량이 베이스 레벨로 복귀하기까지의 기간(a점부터 d점까지)의 시간 길이(TPS)와, 수광량이 임계치(P0)를 상회하고 있는 기간(b점부터 c점까지)의 시간 길이(TON)를 계측한다. 그리고, 각 계측치(TON, TPS)를, 광전 센서의 표시부 또는 외부 기기에 표시를 위해 출력한다.

Description

광전 센서 및 임계치의 확인 작업의 지원 방법{PHOTOELECTRIC SENSOR AND SUPPORTING METHOD OF CONFIRMING WORK OF THRESHOLD}
본 발명은, 이동하는 물체가 목표 위치를 통과한 것을 검출하거나, 물체의 자세의 변화를 검출하는 목적 등에 사용되는 광전 센서에 관한 것이다. 또한, 본 발명은, 상기의 검출을 위해 광전 센서에 설정되는 임계치의 적부(適否)를 확인하는 작업을 지원하는 방법에 관한 것이다.
광전 센서에는, 투광부로부터 출사되어 검출 대상물의 검지 에어리어를 통과한 광을 수광하는 타입(투과형)과, 투광부로부터 출사된 후에 검출 대상물에 의해 반사한 광을 수광하는 타입(반사형)이 있다. 어느 타입의 센서라도, 수광부로부터 출력된 수광량 신호를 디지털 데이터로 변환하고, 변환 후의 데이터(이하, 「수광량 데이터」라고 한다)를 마이크로 프로세서를 포함하는 처리 회로에 입력하고, 수광량 데이터의 값을 미리 설정된 임계치와 대조함에 의해 검출 대상물의 유무를 판별하고, 검출 대상물 있음으로 판별한 때에 온 상태가 된 검출 신호를 출력한다. 또한, 센서의 사용 목적에 의해서는, 수광량의 변화량이나 이동평균치 등을 계측하고, 이 계측에 의해 얻은 값을 임계치와 대조함에 의해 물체의 유무를 판별하는 경우도 있다.
이런 종류의 광전 센서로 검출 대상물을 안정하게 검출하는데는, 검출 대상물에 의해 변화하기 전의 계측 데이터의 레벨(이하, 이것을 「오프 레벨」이라고 한다)이나 계측 데이터 중에서 가장 크게 변화한 부분(이하, 「피크 레벨」이라고 한다)의 쌍방에 대해 충분한 여유도(餘裕度)를 갖는 임계치를 설정할 필요가 있다. 오프 레벨에 가까운 값이 임계치로 설정되면, 노이즈의 영향을 받기 쉬워지기 때문이다. 또한, 일반적으로, 임계치가 피크 레벨에 근접할수록, 계측 데이터가 임계치를 초과하는 기간이 짧아지고, 그에 응하여 임계치를 초과하는 계측 데이터의 수도 감소하기 때문에, 검출의 안정도가 저하된다.
이와 같은 점 대문에 적절한 임계치를 설정하는데에는, 검출 대상물의 움직임에 수반하여 계측 데이터가 어떻게 변화하는지를 확인하여, 임계치의 적정치를 특정하는 것이 바람직하지만, 검출 대상물이 고속으로 움직이는 경우에는, 수광량 신호나 앞으로 얻어지는 계측 데이터의 변화도 매우 빨라지기 때문에, 그 변화를 확인하는 것은 곤란하다.
상기한 문제점에 관해, 종래의 광전 센서에는, 검출 신호가 오프 상태가 되는 기간(이하, 「오프 기간」이라고 한다)의 길이와, 상기한 온 기간의 길이를 각각 계측하고, 이들의 기간의 길이를 병렬 표시함에 의해, 유저에게 센서의 동작의 안정성을 나타내도록 한 것이 있다(예를 들면 특허 문헌 1을 참조).
특허 문헌 1 : 일본 특개2007-93464호 공보
상기한 특허 문헌 1에 기재된 발명에서는, 표시되는 온 기간과 오프 기간의 길이의 관계로부터 광전 센서의 동작의 안정 정도를 판단할 수가 있다고 생각하고 있지만, 반드시, 그 판단이 용이하다고는 할 수 없다. 구체적인 예를, 도 10을 이용하여 설명한다.
도 10에서는, 수광량의 증가에 의해 물체를 검출하는 타입의 광전 센서에서의 수광량 신호의 변화 곡선을 이용하여, 온 기간 및 오프 기간과 임계치와의 관계를 도시한다. 또한, 수광량 신호에서 계측 대상이 되는 수광량을, 변화 곡선상의 도트에 의해 나타낸다. 도면 중, P0은 임계치이고, 수광량이 P0을 상회하는 기간이 온 기간이 되고, 수광량이 P0을 하회하는 기간이 오프 기간이 된다.
이동하는 검출 대상물을 이 광전 센서에 의해 안정하게 검출하는데에는, 임계치를 상회하는 수광량이 어느 정도의 회수, 연속하여 계측되도록, 임계치(P0)의 값을 설정할 필요가 있다. 도 10의 각 그래프의 온 기간의 길이와 온 기간 중의 도트의 수의 차이에 의해 나타내는 바와 같이, 베이스 레벨에 대한 여유도를 확보한 상태로 임계치(P0)를 내릴 수 있으면, 임계치(P0)를 상회하는 수광량 데이터의 계측 회수를 늘려서 검출의 안정도를 높일 수 있다. 그러나, 현실에서는, 오프 기간 중의 각 시점(時點)에서의 수광량의 상태가 불명(不明)하기 때문에, 유저는, 임계치의 내림 폭을 용이하게 판단할 수가 없다. 이 문제는, 수광량의 감소에 의해 물체를 검출한 타입의 광전 센서를 사용하는 경우에도, 마찬가지로 발생한다.
이와 같은 이유 때문에, 현장의 유저는 시행착오로 임계치를 설정하고 있고, 설정 작업을 행하는 유저의 부담이 큰 것으로 되고 있다.
본 발명은 상기한 문제에 착안하여, 안정된 검출을 행하는데 적합한 임계치가 설정되어 있는지의 여부를, 유저가 용이하게 확인할 수 있도록 하는 것을, 과제로 한다.
본 발명이 적용되는 광전 센서는, 광을 출사하는 투광부와, 투광부로부터 투광된 광을 수광하여, 그 수광량을 나타내는 수광량 데이터를 생성하는 수광부와, 검출 대상물이 검출된 것을 나타내는 검출 신호를 출력하기 위한 출력부와, 수광부에 의해 생성된 수광량 데이터를 입력하여 당해 수광량 데이터를 대상으로 한 계측 처리를 실행하고, 이 처리에 의해 얻은 계측 데이터를 미리 설정된 임계치에 의해 대조하여 검출 대상물의 유무를 판별하고, 그 판별 결과에 응하여 검출 신호의 온/오프를 전환하는 신호 처리부와, 임계치의 설정치를 입력하기 위한 입력부를 구비한다.
상기한 구성에 있어서, 수광부에 의한 수광은, 투광부로부터의 출사광을 직접 수광하는 경우(투과형의 사양)와, 출사광에 대한 물체로부터의 반사광을 수광하는 경우(반사형의 사양)의 쌍방을 포함한다. 또한 신호 처리부에서는, 계측 처리로서, 예를 들면, 수광부로부터 입력한 수광량 데이터를, 매회 또는 일정 시간마다 계측하는 처리를 실행한다. 또한, 이 계측에 의해 얻은 수광량 데이터를 미분(微分)하여 단위 시간당의 수광량의 변화량을 구하는 처리나, 수광량 데이터의 이동평균치를 구하는 처리 등을 행하는 경우도 있다.
본 발명에 의한 광전 센서에서는, 상기한 과제를 해결하기 위해, 신호 처리부에, 검출 신호가 오프가 되는 레벨의 계측 데이터가 임계치에 근접하는 방향으로의 변화를 시작하고 나서 계측 데이터가 변화 시작 시점의 레벨로 복귀하기까지의 기간을, 계측 데이터의 변화 기간으로서 그 시간 길이를 계측하는 제 1의 시간 계측 수단과, 계측 데이터의 변화 기간 중에서 검출 신호가 온이 되는 레벨의 계측 데이터가 얻어져 있는 기간을 온 기간으로서, 그 시간 길이를 계측하는 제 2의 시간 계측 수단과, 제 1의 시간 계측 수단 및 제 2의 시간 계측 수단에 의한 계측 결과에 의거하여, 온 기간의 길이 및 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도를 나타내는 정보를, 표시를 위해 출력하는 출력 수단을, 마련한다.
상기한 구성의 광전 센서에 표시부가 마련되어 있는 경우에는, 출력 수단은, 당해 표시부에 여유도를 나타내는 정보를 출력할 수 있다. 또한, 이 광전 센서가 표시 기능을 갖는 외부 기기와의 통신이 가능하게 설정되어 있는 경우에는, 출력 수단을, 이 외부 기기에 여유도를 나타내는 정보를 송신하는 수단으로서 구성하여도 좋다.
상기한 「온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도」란, 계측 데이터의 변화 기간에 있어서 온 기간을 어느 정도 길게 하는 여유가 있는지를 나타내는 것이다. 이 여유도를 나타내는 정보로서는, 예를 들면, 계측 데이터의 변화 기간의 길이 그 자체를 표시하여도 좋지만, 2개의 기간의 길이의 비율 또는 길이의 차를 표시하여도 좋다. 또는, 상기한 비율이나 차를 나타내는 수치를, 복수단계의 레벨 중의 해당하는 레벨로 치환하여 표시하여도 좋다.
상기한 표시에 의하면, 유저는, 표시된 정보에 의해, 현재의 임계치에 의한 온 기간의 길이와, 그 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도를 확인할 수 있다. 따라서, 유저는, 표시된 온 기간의 길이가 안정된 검출에 필요한 길이에 못 미친다고 판단한 경우에는, 여유도를 나타내는 표시에 의거하여, 베이스 레벨에 너무 가까워지지 않을 정도로, 임계치의 설정치를 베이스 레벨 가까이로 이동시킬 수 있다. 또한, 표시가 나타내는 여유도가 너무 작다고 유저가 판단한 경우에는, 여유도가 극단적으로 커지지 않을 정도로, 임계치의 설정치를 피크 레벨 가까이로 이동시킬 수 있다. 이와 같이, 2종류의 표시에 의거하여, 임계치를 적절한 값으로 설정하는 작업을 용이하게 행하는 것이 가능해진다.
바람직한 한 실시 양태에 의한 광전 센서에서는, 신호 처리부에, 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계에 의거하여 상기 여유도의 적부를 판별하는 판별 수단이, 또한 마련된다. 또한, 출력 수단은, 여유도를 나타내는 정보와 함께 판별 수단에 의한 판별 결과를 출력한다.
상기한 실시 양태에 의하면, 유저는, 표시된 판별 결과에 의해, 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도가 적절한 범위에 있는지의 여부를, 용이하게 판단하는 것이 가능해진다.
다른 바람직한 실시 양태에 의한 광전 센서에는, 신호 처리부에, 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계에 의거하여 여유도의 적부를 판별하는 판별 수단과, 이 판별 수단에 의해 여유도가 적절하지 않다고 판별된 때, 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계가 미리 정한 규준의 관계를 충족시키도록 임계치의 값을 조정한 임계치 조정 수단을, 또한 구비한다.
상기한 구성에 의하면, 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도가 극단적으로 큰 경우나, 여유도가 너무 작는 경우에는, 이 여유도가 적절하게 되는 임계치가 자동적으로 설정된다. 따라서, 임계치의 설정에 걸리는 유저의 부담이 대폭적으로 경감된다.
더욱 바람직한 실시형태에 의한 광전 센서에서는, 신호 처리부에, 처리 속도가 다른 복수의 계측 모드가 설정됨과 함께, 판별 수단에 의해 임계치가 적절하다고 판별되어 있는 것을 조건으로, 복수의 계측 모드 중에서 온 기간의 동안에 소정 회수 이상의 계측을 실행하는 것이 가능한 계측 모드를 선택하는 모드 선택 수단이, 또한 마련된다.
상기한 구성에 의하면, 안정된 검출을 행하는데 적합한 임계치가 설정된 것을 조건으로, 그 임계치에 의해 검출 대상물이 검출된 시간 내에 소정 회수 이상의 계측을 행하는 것이 가능한 계측 모드가 자동 설정된다. 이에 의해, 검출 신호를 안정하게 온으로 설정하는데 필요한 수의 계측 데이터가 확보되고, 안정된 검출이 가능해진다.
본 발명에 의한 광전 센서의 다른 바람직한 실시 양태에서는, 신호 처리부에, 계측 데이터의 변화 기간 중, 당해 기간이 시작되고 나서 계측 데이터가 임계치에 달할 때까지의 시간의 길이를 계측하는 제 3의 시간 계측 수단과, 이 수단에 의해 계측된 시간의 길이를 나타내는 데이터를 출력하는 계측 시간 출력 수단을, 마련할 수 있다. 또한, 계측 시간 출력 수단도, 표시를 위한 데이터를 출력한 수단으로서 구성할 수 있지만, 이것으로 한정되는 것이 아니고, 예를 들면, 계측된 시간의 길이를 나타내는 데이터를 연산용의 데이터로서 외부의 장치에 송신하여도 좋다.
상기한 실시 양태에 의한 광전 센서는, 예를 들면, 일정한 속도로 이동하는 물체를 소정의 위치에서 정지시키는 것을 목적으로, 그 정지 위치의 그 전에서 물체를 검출하는 용도에 이용할 수 있다. 이 경우, 제 3의 시간 계측 수단에 의해 계측되고, 계측 시간 출력 수단에 의해 출력된 시간을, 검출 대상물이 센서의 검지 에어리어에 도달하고 나서 검출 신호가 온이 되기까지의 시간으로서 인식할 수 있기 때문에, 이 시간이나 검출 대상물의 이동 속도를 고려하여, 검출 대상물의 이동을 정지시키는 타이밍을 정할 수 있다. 따라서, 물체의 위치 결정 제어를 정밀도 좋게 행하는 것이 가능해진다.
또한, 본 발명은, 광을 출사하는 투광부와, 투광부로부터 투광된 광을 수광하여, 그 수광량을 나타내는 수광량 데이터를 생성하는 수광부와, 검출 대상물이 검출된 것을 나타내는 검출 신호를 출력하기 위한 출력부와, 수광부에 의해 생성된 수광량 데이터를 입력하여 당해 수광량 데이터를 대상으로 한 계측 처리를 실행하고, 이 처리에 의해 얻은 계측 데이터를 미리 설정된 임계치에 의해 대조하여 검출 대상물의 유무를 판별하고, 그 판별 결과에 응하여 상기 검출 신호의 온/오프를 전환하는 신호 처리부와, 임계치의 설정치를 입력하기 위한 입력부를 구비하는 광전 센서를 대상으로 하여, 당해 광전 센서에 설정된 임계치의 적부를 확인하는 작업을 지원하는 방법에 적용된다.
이 방법에서는, 우선 광전 센서에서, 검출 신호가 오프가 되는 레벨의 계측 데이터가 임계치에 근접하는 방향으로의 변화를 시작하고 나서 계측 데이터가 변화 시작 시점의 레벨로 복귀하기까지의 기간을, 계측 데이터의 변화 기간으로서 그 시간 길이를 계측함과 함께, 계측 데이터의 변화 기간 중에서 검출 신호가 온이 되는 레벨의 계측 데이터가 얻어져 있는 기간을 온 기간으로서, 그 시간 길이를 계측한다. 그리고, 상기 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계에 의거하여, 광전 센서에 일체로 마련된 표시부 또는 광전 센서의 외부에 마련된 표시 장치에 온 기간의 길이 및 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도를 나타내는 정보를 표시한다.
상기한 방법에 의하면, 유저는, 표시된 정보로부터, 온 기간의 시간 길이의 적부나, 온 기간을 길게 하는 방향으로의 임계치의 조정, 또는 온 시간을 짧게 하는 방향으로의 임계치의 조정이 필요한지의 여부, 및 이들의 조정이 가능한지의 여부를, 용이하게 판단할 수 있다. 이에 의해 임계치의 설정에 필요로 하는 노력이 대폭적으로 경감된다.
본 발명에 의하면, 설정되어 있는 임계치에 의한 온 기간의 길이와 함께, 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도를 나타내는 정보가 표시되기 때문에, 유저는, 이들의 정보에 의거하여, 온 기간의 시간 길이의 적부나, 온 기간을 길게 하는 방향으로의 임계치의 조정, 또는 온 시간을 짧게 하는 방향으로의 임계치의 조정이 필요한지의 여부, 및 이들의 조정이 가능한지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다. 따라서, 검출 대상물을 안정하게 검출하는데 적합한 임계치를 용이하게 설정하는 것이 가능해지고, 임계치의 설정에 종사하는 유저의 부하를 경감할 수 있다.
도 1은 본 발명이 적용되는 광전 센서의 사용례를 도시하는 설명도.
도 2는 광전 센서의 외관을 도시하는 사시도.
도 3은 광전 센서의 케이스체의 윗면을 정면에서 본 도면.
도 4는 광전 센서의 회로 구성을 도시하는 블록도.
도 5는 수광량 데이터를 모식화한 그래프를 이용하여, 수광량의 변화 기간 및 온 기간의 관계를 설명하는 도면.
도 6은 온 시간 및 워크 통과 시간의 표시예를 도시하는 도면.
도 7은 도 6에 도시하는 표시를 위한 처리의 순서를 도시하는 플로우 차트.
도 8은 계측 모드를 선택하는 처리의 순서를 도시하는 플로우 차트.
도 9는 계측 모드의 선택 결과를 온 시간과 함께 표시한 예를 도시하는 도면.
도 10은 임계치의 설정치 및 온/오프 기간, 및 온 기간 중의 계측치의 수의 관계를 설명하는 도면.
도 1은, 본 발명이 적용되는 광전 센서의 사용례를 도시한다.
이 실시예의 광전 센서(1)는, 광파이버식의 반사형의 센서이고, 공장의 생산 라인(3)을 반송되는 워커(W)(예를 들면, 전자 부품)를 검출하는 목적으로, 라인(3)의 부근에 마련된다.
워크(W)를 검출하기 위해, 광전 센서(1)의 본체로부터는, 투광용의 광파이버(21)와 수광용의 광파이버(22)가 인출된다. 이들의 광파이버(21, 22)의 선단은, 공통의 헤드부(20)에 연결되어 있다. 또한, 광전 센서(1)의 본체 내의 각 파이버(21, 22)의 삽입구의 부근에는, 각각, 도 4에 도시하는 LED(131), 포토 다이오드(PD)(141)가 배열 구비되어 있다. LED(131)로부터 출사된 광은, 투광용 파이버(21)을 통하여 헤드부(20)로부터 출사된다. 또한, 이 출사광에 대한 워크(W)로부터의 반사광이 헤드부(20)에 입사하면, 그 입사광은 수광용 파이버(22)를 통하여 포토 다이오드(141)에 유도되고, 이에 의해 포토 다이오드(141)의 수광량이 증가한다.
광전 센서(1) 내의 처리 회로에서는, 상기한 수광량의 증가를 검출하고, 워크(W)에 대한 처리를 행하는 장치(예를 들면, 워크를 검사하는 시각(視覺) 센서(1))에, 그 검출 결과를 나타내는 신호(검출 신호)를 출력한다.
도 2는, 상기한 광전 센서(1)의 본체의 외관을 도시한 것이다. 이 광전 센서(1)의 본체는, 윗면에 덮개부(11)를 갖는 케이스체(10)에 의해 구성된다. 케이스체(10)의 앞면으로부터는, 광파이버(21, 22)가 인출되고, 배면으로부터는, 도시하지 않은 코드 선이 인출되어 있다. 케이스체(10)의 윗면에는, 표시부(101) 및 조작부(102)가 마련되어 있지만, 이들은, 센서(1)의 사용시에는 덮개부(11)에 의해 덮여진다.
도 3은, 표시부(101) 및 조작부(102)를 정면으로 본 구성을 도시한다. 표시부(101)에는, 각각 4 자릿수의 숫자를 표시하는 2개의 디지털 표시기(12A, 12B)가 마련되고, 각 디지털 표시기(12A, 12B)의 왼쪽에, 각각 동작 램프(13A, 13B)가 마련되어 있다. 또한, 디지털 표시기(12A, 12B)에는, 숫자 외에, 알파벳에 의한 문자열이 표시되는 경우가 있다.
조작부(102)에는, 3개의 푸시버튼 스위치(14, 15, 16) 및 2개의 슬라이드 스위치(17, 18)가 마련된다.
각 푸시버튼 스위치(14 내지 15) 중의 중앙의 스위치(14), 및 좌단의 스위치(15)는, 각각 오른쪽 방향 및 왼쪽 방향의 화살표를 모방한 형상으로 형성되고, 설정 모드시의 표시기(12A, 12B)의 표시를 전환하거나, 설정치의 값을 변경하는 용도에 사용된다.
우단의 푸시버튼 스위치(16)는, 표시부(12A, 12B)에 표시된 수치를 확정하거나, 스위치(14, 15)에 의해 호출된 기능을 선택하는 목적 등에 사용된다.
슬라이드 스위치(17)는, 광전 센서(1)의 동작 모드로서, 설정 모드 및 계측 모드의 어느 한쪽을 선택한다. 다른 쪽의 슬라이드 스위치(18)은, 광전 센서(1)로부터의 출력의 정의(定義)로서, 수광량이 임계치를 초과한 때에 출력을 온으로 하는 모드(라이트 온 모드) 및 수광량이 임계치를 하회하는 때에 출력을 온으로 하는 모드(다크 온 모드)의 어느 한쪽을 선택한다.
도 4는, 상기한 광전 센서(1)의 회로 구성을 도시한다.
도면 중의 표시부(101)에는, 도 3에 도시한 디지털 표시기(12A, 12B)나 동작 램프(13A, 13B)가 포함되고, 조작부(102)에는, 도 3에 도시한 스위치(14 내지 18)가 포함된다. 또한 도면 중의 제어부(100), 투광부(103), 수광부(104), 출력부(105), 외부 기기용 인터페이스(106), 전원부(107)는, 케이스체(10)의 내부에 수용된다.
투광부(103)에는, LED(131) 및 그 구동 회로(LED 구동 회로)(132)가 포함된다. 수광부(104)에는, 포토 다이오드(PD)(141) 외에, 포토 다이오드로부터 출력된 수광량 신호를 처리하는 회로(수광량 처리 회로(142))가 포함된다. 수광량 처리 회로(142)에는, 증폭 회로나 A/D 변환 회로 등이 포함되어 있고, 이들의 회로에 의해, 수광량 신호를 0 내지 4000의 범위의 수치로 변환하여 출력한다.
제어부(100)는, 마이크로 프로세서에 의해 이루어지는 것으로, CPU 및 불휘발성의 메모리가 포함되어 있다. 메모리에는, 프로그램이 격납되는 외에, 유저에 의해 설정된 임계치 등의 파라미터가 등록된다. CPU는, 이들의 프로그램이나 파라미터에 의거하여, 투광부(103)의 발광 동작을 제어하면서, 수광량 처리 회로(142)에 의한 변환 처리에 의해 생성된 디지털 데이터(이하, 「수광량 데이터」라고 한다)를 입력하고, 이 입력 데이터가 나타내는 수광량을 일정 기간마다 계측하여 그 계측치를 임계치와 대조하고, 검출 대상물의 유무를 판별한다.
출력부(105)는, 상기한 판별 결과를 나타내는 신호(검출 신호)를 외부에 출력하기 위한 것이다. 외부 기기용 인터페이스(106)는, 도시하지 않은 설정용 기기와 정보를 교환하기 위한 것이다.
전원부(107)는, 도시하지 않은 외부 전원에 접속되어 있고, 이 외부 전원으로부터 공급된 전원을 이용하여, 각 부분에 구동용의 전원을 공급한다.
상기 구성의 광전 센서(1)를 유저가 사용하는데에는, 우선, 슬라이드 스위치(17)를 설정 모드로 맞춘 상태로 하여, 시험적으로 워크(W)를 이동시키면서 광전 센서(1)를 동작시킨다. 이때, 광전 센서(1)의 제어부(100)는, 수광량 처리 회로(142)로부터 입력되는 수광량 데이터를 일정한 간격으로 계측하는 샘플링 처리를 실행함과 함께, 매회의 계측치를 디폴트의 임계치와 대조하여 검출 대상물의 유무를 판별하고, 그 판별 결과에 의거하여 검출 신호를 온 또는 오프로 설정한다. 또한, 제어부(100)는, 워크(W)의 움직임에 응하여 수광량이 변화하는 기간의 길이와, 이 기간 내에서 임계치를 초과하는 수광량이 얻어져 있는 기간(온 기간)의 길이를 계측하고, 이들의 시간 길이를, 임계치의 설정치의 적부를 판단하는 지표로서 표시부(101)에 표시한다.
유저는, 상기한 표시로부터, 임계치가 적절하지 않다고 판단한 경우에는, 조작 스위치(14 내지 16)를 이용하여 임계치의 값을 조정할 수 있다. 이 조정이 행하여진 경우에도, 상기한 2개의 기간의 길이를 계측하는 처리가 실시되고, 그 계측 결과에 의해 표시부(101)의 표시가 갱신된다. 이후에도, 임계치의 조정이 행하여질 때마다, 각 기간의 길이를 계측하는 처리가 실시되고, 표시부(101)의 표시가 갱신된다.
유저는, 상기한 표시로부터, 임계치가 적절한 값으로 설정되었다고 판단하면, 슬라이드 스위치(17)를 계측 모드에 맞춘다. 이 후, 제어부(100)는, 설정된 임계치에 의거한 검출 동작을 시작한다.
도 5는, 워크(W)의 이동에 수반하여 상기한 광전 센서(1)에서 생기는 수광량 데이터의 변화를 모식적에 도시한 그래프를 이용하여, 계측 대상의 기간을 나타낸 것이다.
그래프의 수광량의 축(종축) 상의 P0은 임계치이다. 또한, 시간축(횡축) 상의 a점은, 수광량이 베이스 레벨로부터 임계치(P0)에 근접하는 방향으로의 변화를 시작한 시점을 나타내고, d점은, 상기한 수광량의 변화가 수속하여 수광량이 베이스 레벨 부근으로 되돌아온 시점을 나타낸다. 또한, 시간축 상의 b점 및 c점은, 임계치(P0)에 상당한 수광량이 얻어지는 시점을 나타낸다.
상기에 의하면, a점부터 d점까지의 기간이 수광량의 변화 기간에 상당하고, b점부터 c점까지의 기간이 온 기간에 상당한다. 표시부(101)에 표시되는 것은, 이들의 기간의 길이(TPS, TON)이다.
또한, 수광량의 변화 기간의 길이를 나타내는 시간(TPS)은, 센서(1)의 검지 에어리어를 워크(W)가 통과하는데 필요로 하는 시간에 거의 상당하기 때문에, 이하, 이 시간(TPS)을 「워크 통과 시간(TPS)」이라고 한다. 또한, 온 기간의 길이(TON)를, 이하에서는, 「온 시간(TON)」이라고 한다.
이 실시예의 제어부(100)는, 상기한 수광량 데이터를 일정한 간격으로 받아들여서 그 값을 계측하면서, 상기한 a점, b점, c점, d점을 판별하여, 각 점 사이의 시간 길이(T1, TON, T2)을 계측한다. 또한, T1, TON, T2의 총합을 취함에 의해 워크 통과 시간(TPS)을 도출하고, TON 및 TPS의 각 값을 표시부(101)의 표시기(12A, 12B)에 병렬 표시한다.
도 6은, 상기한 온 시간(TON) 및 워크 통과 시간(TPS)의 표시예를 도시한다. 이 실시예에서는, 표시부(101)의 2개의 디지털 표시기(12A, 12B) 중의 좌측의 표시기(12A)에 온 시간(TON)이 표시되고, 우측의 표시기(12B)에 워크 통과 시간(TPS)이 표시되어 있다. 또한, 이 실시예에서는, 이들의 시간의 비율(Q)(Q=TPS/TON)이 미리 정한 기준치(Qa, Qb)(Qa<Qb)가 나타내는 수치 범위에 포함되는 상태를 양자의 양호한 관계를 나타내는 조건으로 하고 있다. 그리고, 표시기(12A, 12B)에 표시된 각 수치가 이 조건을 충족시는 때는, 도 6(1)에 도시하는 바와 같이, 표시등(13A, 13B)을 점등하고, 비율(Q)이 상기한 조건을 충족시키지 않는 경우에는, 도 6(2)에 도시하는 바와 같이, 표시등(13A, 13B)을 소등하도록 하고 있다.
표시기(12A)에 표시되는 온 시간(TON)은, 유저에 있어서, 워크(W)의 이동에 수반하는 수광량의 변화를 충분히 검출할 수 있는지의 여부를 판단하기 위한 지표가 된다. 또한, 이 온 시간(TON)과 표시기(12B)에 표시되는 워크 통과 시간(TPS)을 비교함에 의해, 온 시간(TON)을 보다 길게 하는 임계치(P0)의 조정(임계치(P0)를 내리는 조정)이나, 온 시간(TON)이 현재치보다 짧게 되는 임계치(P0)의 조정(임계치(P0)를 올리는 조정)이 가능한지의 여부를 판단할 수 있다.
예를 들면, 유저는, 표시등(13A, 13B)이 소등하고 있음에 의해, 임계치의 설정이 적절하지 않다고 판단하여, 각 표시기(12A, 12B)에 표시되어 있는 TON, TPS의 값을 비교하고, TPS의 값에 대해 TON가 너무 길다고 판단한 경우에는 임계치(P0)를 올리고, 너무 짧다고 판단한 경우에는 임계치(P0)를 내리는 조정을 행할 수가 있다. 또한, 표시등(13A, 13B)이 점등하고 있는 경우에도, 그 점등 상태가 유지되는 범위 내에서, 상기한 바와 같은 판단에 의해, 임계치(P0)의 값을 조정하는 것이 가능해진다.
종래의 온 기간 및 오프 기간의 길이를 표시하는 방법에서는, 온 기간에 어느 정도의 길이가 확보되어 있어도, 그 기간이 노이즈의 영향을 받지 않는 범위에 대응하고 있다고는 할 수가 없고, 또한 오프 기간 내에 온 기간에 편입할 수 있는 범위가 어느 정도 포함되어 있는지를 판단하는 것도 곤란하였었다. 이에 대해, 상기한 표시에 의하면, 온 기간의 길이(TON)을 확인할 수 있을 뿐만 아니라, 온 시간(TON)과 워크 통과 시간(TPS) 의 관계에 의해 온 기간에서의 검출의 안정도를 판단하여, 임계치(P0)를 조정할 수 있다. 예를 들면, 온 시간(TON)의 값 자체는 적절하다고 생각되는 경우에도, 온 시간(TON) 에 대한 워크 통과 시간(TPS)의 여유도가 너무 작는 경우에는, 검출의 안정도가 낮고, 임계치(P0)를 올리는 조정이 필요하다고 판단할 수 있다. 또한, 온 시간(TON)의 길이가 충분하지 않은 경우에는, TPS의 여유도가 확보되는 범위에서 임계치(P0)를 내리는 조정을 행할 수가 있다. 따라서, 임계치를 적절한 값으로 조정하는 작업을 용이하게 행하는 것이 가능해진다.
도 7은, 상기한 표시를 실시하기 위해 제어부(100)에서 실행되는 처리의 순서를 도시한다. 이하, 이 플로우 차트를 참조하여 설명한다.
이 처리는, 임계치의 설정 모드가 시작된 때, 및 이 설정 모드에서 임계치를 변경하는 처리가 행하여진 때에 시작된다.
이 처리에서는, 수광부(104)로부터의 수광량 데이터를 일정한 간격으로 샘플링하여 그 값을 계측하고, 매회의 계측치(수광량)를 1단계 전의 수광량과 비교함에 의해, 수광량이 증가의 방향으로 변화할 때까지 대기한다(스텝 S1). 또한, 수광량이 변화하였는지 여부의 판단은, 1단계 전에 대한 수광량의 변화량을, 상정된 노이즈 레벨에 의거하여 설정된 판정 기준치와 대조함에 의해 행하지만, 이것으로 한하지 않고, 수광량이 노이즈 레벨 상당한 기준치와 비교하고, 수광량이 기준치를 상회할 때에, 수광량이 증가하였다고 간주하여도 좋다.
상기한 처리에 의해 수광량이 증가하였다고 판단하면(스텝 S1이 」YES」인 경우), 제어부(100)는, 상승 시간(T1)(도 5의 a점부터 b점까지의 시간)의 계시(計時)를 시작한다(스텝 S2). 이 계시는 수광량이 임계치(P0)에 달할 때까지(스텝 S5가 「YES」가 될 때까지) 실시된다. 단, 한 번 올라간 수광량이 임계치(P0)에 도달하지 않고서 베이스 레벨 근처까지 감소한 경우(스텝 S3이 「YES」인 경우)에는, 상승 시간(T1)을 클리어하고(스텝 S4), 수광량의 증가를 체크하는 처리(스텝 S1)로 되돌아온다.
수광량이 순조롭게 증가하여 임계치(P0)에 달한 경우(스텝 S5가 「YES」인 경우)에는, 상승 시간(T1)의 계시를 종료하고, 온 시간(TON)의 계시를 시작한다(스텝 S6). 수광량이 임계치(P0)를 하회하는 상태가 되면(스텝 S7이 「YES」인 경우), 온 시간(TON)의 계시를 종료하고, 하강시간(T2)(도 5의 c점부터 d점까지의 기간)의 계시를 시작한다(스텝 S8).
이후, 수광량이 베이스 레벨로 되돌아오면(스텝 S9가 「YES」), 하강시간(T2)의 계시를 종료한다(스텝 S10). 그리고, 여기까지의 처리에 의해 얻은 상승 시간(T1), 온 시간(TON), 및 하강시간(T2)의 총합을 구하고, 이 총합을 워크 통과 시간(TPS)으로 설정한다(스텝 S11). 또한, 다음의 스텝 S12에서, 워크 통과 시간(TPS)과 온 시간(TON)과의 비율(Q)(Q=TPS/TON)을 산출한다.
이후, 제어부(100)는, 온 시간(TON) 및 워크 통과 시간(TPS)을, 표시부(101)의 표시기(12A, 12B)에 표시한다(스텝 S13). 또한, 상기한 비율(Q)이 Qa≤Q≤Qb의 조건을 충족시키는지의 여부를 체크하고, 이 조건을 충족시키는 경우에는, 표시등(13A, 13B)을 점등한다(스텝 S14, 15).
표시기(12A, 12B)의 표시나 표시등(13A, 13B)의 점등은, 유저에 의한 클리어 조작이 행하여질 때까지 유지된다. 따라서, 표시부(101)의 표시는, 설정 모드가 시작된 직후나, 임계치(P0)의 조정이 행하여진 직후에, 검지 에어리어를 최초에 통과한 워크(W)의 움직임에 보다 생긴 수광량의 변화에 의한 것이 된다. 단, 이것으로 한하지 않고, 도 7의 스텝 S1부터 스텝 S11까지의 처리를 복수 사이클 실행함에 의해, 복수의 워크마다 온 시간(TON) 및 워크 통과 시간(TPS)을 구하고, 이들의 평균치를 표시하여도 좋다. 이 경우의 비율(Q)은, 양자의 평균치를 이용하여 구할 수 있다.
또한 TON, TPS의 각 값을 병렬 표시하는 것은 필수가 아니고, 예를 들면, 표시부(101)에 디지털 표시기가 하나밖에 없는 경우에는, 유저의 전환 조작에 응하여, TON과 TPS를 교대로 표시하도록 하여도 좋다. 또한, 이들의 표시는 디지털 표시로 한하지 않고, 예를 들면, 표시부(101)를, 미소한 LED를 집합시킨 구성으로 하여, 이들의 LED를 이용하여 TON 및 TPS를 바 그래프로 하여 나타낼 수도 있다.
또한, 도 4에 도시한 외부 기기용 인터페이스(106)에 설정용 기기를 접속하고, 이 기기로부터 임계치(P0)의 설정치를 입력하는 경우에는, 온 시간(TON) 및 워크 통과 시간(TPS)의 계측치를 설정용 기기에 전송하고, 이 기기의 표시부에 각 계측치나 비율(Q) 등을 표시하는 것이 가능해진다.
또한, 상기한 실시예에서는, 워크 통과 시간(TPS)을 온 시간(TON)과 함께 표시함에 의해, 온 시간(TON)에 대한 워크 통과 시간(TPS)의 여유도를 나타냈지만, TPS에 대신하여, 여유도를 구체적으로 나타내는 수치(앞에 나온 비율(Q)이나, TPS와 TON의 차의 값 등)를 표시하여도 좋다.
또한, 상기 구성의 광전 센서에서, 수광량의 계측치를 임계치와 비교하는 처리에 대신하여, 매회의 수광량의 계측치를 다시 처리하여 이용하여 어떠한 연산(예를 들면 미분 처리)을 실행하고, 그 연산 결과를 임계치와 비교하는 방법에 의해 검출 대상물의 유무를 판별하는 경우도 있다. 이와 같은 경우에도, 임계치와의 대조 대상이 되는 데이터를 이용하여 온 시간(TON) 및 워크 통과 시간(TPS)을 산출하고, 이들을 표시부(101)에 표시하는 것이 가능하다.
다음에, 본 발명의 제 2 실시예로서, 처리 속도가 다른 2종류의 계측 모드가 준비되고, 이들의 한쪽을 선택하여 설정한 타입의 광전 센서(1)를 설명한다. 또한, 이 광전 센서(1)의 외관이나 회로 구성은, 도 2 내지 4에 도시한 것과 마찬가지이기 때문에, 각 구성에 관해서는, 계속해서, 도 2 내지 4의 부호를 인용한다.
2종류의 계측 모드중의 한쪽은, 수광량의 계측 처리를 고속으로 행함으로써, 예를 들면 50마이크로초 간격으로 수광량 데이터를 샘플링하도록 설정된다. 이하, 이 계측 모드를 「고속 모드」라고 한다.
다른 쪽의 계측 모드는, 수광량 데이터의 샘플링 속도를 내리는 대신에, 기본적인 검출 동작 이외의 처리를 실행하는 것이 가능해진다. 예를 들면, 설정 처리시와 마찬가지로 온 시간(TON)이나 워크 통과 시간(TPS)을 계측하여, 이들을 표시하거나, 온 기간 중의 수광량의 평균치를 구하거나, 외부 기기와 통신을 행하여 계측 데이터를 출력하는 등의 처리중에서, 유저에게 선택된 처리를 실행할 수 있다(이하, 이들의 처리를 「옵션 처리」라고 한다).
종래에도, 처리 속도가 다른 복수 종의 계측 모드나 옵션 처리의 기능을 갖는 광전 센서는 존재하지만, 계측 모드의 선택은, 유저의 판단에 의해 행하여지기 때문에, 반드시 적절한 계측 모드가 선택되어 있다고는 말할 수가 없다. 이 점에 관해, 본 실시예에서는, 온 시간(TON)에 대한 워크 통과 시간(TPS)의 여유도에 의거하여 임계치(P0)를 적절한 값으로 조정한 후에, 그 조정에 의한 온 시간(TON)의 길이에 의거하여, 계측 모드를 선택하도록 하고 있다.
도 8은, 이 계측 모드의 선택에 관한 처리의 순서를 도시한다.
이 도 8의 최초의 스텝 S101에서는, 앞의 도 7의 스텝 S1 내지 S11과 같은 처리에 의해, 온 시간(TON) 및 워크 통과 시간(TPS)을 계측한다. 또한 S102에서는, 이들의 시간(TON, TPS)의 비율(Q)(Q=TPS /TON)을 산출하고, 이 Q의 값이 Qa≤Q≤Qb의 조건을 충족시키는지의 여부를 체크한다(스텝 S103).
여기서 비율(Q)이 상기한 조건을 충족시키는 경우(스텝 S103이 「YES」인 경우)에는, 온 시간(TON)을 미리 정한 기준 시간과 비교한다(스텝 S105). 그리고 온 시간(TON)이 기준 시간보다 짧은 경우(스텝 S105가 「YES」인 경우)에는 고속 모드를 선택하고(스텝 S106), 온 시간(TON)이 기준 시간 이상이면(스텝 S105가 「NO」인 경우), 표준 모드를 선택한다(스텝 S107).
한편, 스텝 S102에서 구한 비율(Q)이, 그 적정 범위의 하한치(Qa보다 작은 경우, 또는 비율(Q)이 적정 범위의 상한치(Qb)보다 큰 경우(스텝 S105가 「NO」인 경우)에는, 제어부는, Q의 값이 (Qa+Qb)/2를 거의 만족하는 상태가 되도록, 임계치(P0)의 값을 조정하고, 그 조정 후의 P0에 의거하여 온 시간(TON)을 재계측한다(스텝 S104). 그리고, 재계측 후의 TON을 기준 시간과 비교하고(스텝 S105), 그 결과에 의거하여, 고속 모드 또는 표준 모드를 선택한다(스텝 S106, 107).
또한, 스텝 S105에서 TON과 비교되는 기준 시간으로서, 이 실시예에서는, 워크(W)를 안정하게 검출하기 위해 필요한 최소 한도의 계측 회수로서 미리 정한 회수(n)와 표준 모드의 샘플링 간격(△T)을 승산한 값을 설정한다. 이에 의해, 표준 모드에 의해 안정된 검출을 행하는데 필요한 최소 한도의 온 시간이 기준 시간으로 설정된다.
또한, 온 시간(TON)을 재계측하는 처리(스텝 S104)를 실행하는 경우에는, 스텝 S101에서 계측 대상으로 한 수광량 데이터를 재차 처리하면 좋지만, 이것으로 한하지 않고, 새롭게 수광량 데이터를 취득하여 온 시간(TON)을 계측하여도 좋다.
상기한 스텝 S105 내지 S107에 의해, 고속 모드 또는 표준 모드가 선택되면, 스텝 S108에서는, 선택한 모드를 나타내는 기호를 온 시간(TON)과 함께 표시부(101)에 표시하고, 처리를 종료한다.
도 9는, 스텝 S108의 처리에 의한 표시예를 도시한다. 이 실시예에서도, 제 1의 실시예와 마찬가지로, 표시기(12A)를 온 시간의 표시에 사용하고, 여유도(Q)가 Qa≤Q≤Qb의 조건을 충족시키는 경우에는, 표시등(13A, 13B)을 점등하도록 하고 있다.
표시기(12B)는, 선택한 계측 모드의 표시에 이용된다. 이 실시예에서는, 표준 모드가 선택되어 있는 경우는, 도 9(1)에 도시하는 바와 같이, 표시기(12B)에 「L」의 문자를 표시하고, 고속 모드가 선택되어 있는 경우에는, 도 9(2)에 도시하는 바와 같이, 표시기(12B)에 「H」의 문자가 표시된다.
이와 같이, 제 2 실시예에서는, 임계치(P0)가 적절한 값으로 자동 설정됨과 함께, 그 설정에 수반하는 온 시간(TON)의 길이에 응하여, 계측 모드가 자동 설정된다.
도 8의 스텝 S105 내지 107에 의하면, 표준 모드에 하면 안정된 검출이 보장되지 않는 상태가 될 때만 고속 모드가 선택되고, 그 이외는 표준 모드가 선택되기 때문에, 워크(W)의 이동에 수반하는 수광량의 변화에 적합한 계측 모드를 설정하여, 검출 동작을 안정하게 행하게 할 수 있다. 또한, 종래에는, 워크(W)가 고속으로 이동하기 때문에, 옵션 처리의 이용을 단념하고 고속 모드를 설정하고 있던 케이스에서도, 표준 모드를 선택하여 옵션 처리를 이용할 수 있는 경우가 있음이 판명되고, 편리성이 높아진다.
또한, 상기한 실시예에서는, 워크 통과 시간(TPS)과 온 시간(TON)과의 비율(Q)에 의거한 임계치(P0)의 값을 자동 조정하였지만, 이것으로 한하지 않고, 우선, 제 1 실시예와 마찬가지로, 각 시간(TON, TPS)을 표시하여 임계치(P0)를 수동으로 조정한 후에, 그 조정 종료 후의 온 시간(TON)의 길이에 의거하여 계측 모드를 선택하여도 좋다.
다음에, 제 1, 제 2의 각 실시예에 의한 광전 센서(1)는, 워크(W)를 특정한 위치에 정지시키는 용도에 이용하는 것이 가능하다. 이 경우에는, 임계치(P0)의 설정이 종료된 후에, 그 임계치(P0)에 의거한 상승 시간(T1)을 계측하고, 계측된 T1의 길이를, 표시부(101)의 표시기(13A 또는 13B)에 표시하면 좋다. 이 경우의 상승 시간(T1)은, 워크(W)가 광전 센서(1)의 검지 에어리어에 도달하고 나서 검출되기 까지의 타임 래그를 나타내는 것이 되기 때문에, 유저는, 표시된 값에 의해, 워크(W)가 검출될 때까지의 사이에 진행하는 거리를 특정할 수 있다. 따라서, 목표의 위치에서 워크(W)를 정지시키는 제어를 보다 용이하게 행하는 것이 가능해진다.
또한, 이와 같이 워크(W)를 소정 위치에서 정지시키는 목적에 광전 센서(1)를 사용하는 경우에는, 상승 시간(T1)의 계측치를 외부의 컴퓨터에 송신하고, 이 컴퓨터에서, T1의 값, 워크(W)의 이동 속도, 및 광전 센서(1)의 설치 위치와 워크(W)의 정지 위치 사이의 거리 등을 이용하여, 광전 센서(1)로부터의 출력이 온이 되고 나서 워크(W)를 정지시킬 때까지의 시간을 구하는 연산을 실시하는 것도 가능하다.
W : 워크
1 : 광전 센서
12A, 12B : 디지털 표시기
14 내지 16 : 누름버튼 스위치
100 : 제어부
101 : 표시부
102 : 조작부
103 : 투광부
104 : 수광부
131 : LED
132 : LED 구동 회로
141 : 포토 다이오드(PD)
142 : 수광량 신호 처리 회로

Claims (6)

  1. 광을 출사하는 투광부와, 투광부로부터 투광된 광을 수광하여, 그 수광량을 나타내는 수광량 데이터를 생성하는 수광부와, 검출 대상물이 검출된 것을 나타내는 검출 신호를 출력하기 위한 출력부와, 상기 수광부에 의해 생성된 수광량 데이터를 입력하여 당해 수광량 데이터를 대상으로 한 계측 처리를 실행하고, 이 처리에 의해 얻은 계측 데이터를 미리 설정된 임계치에 의해 대조하여 검출 대상물의 유무를 판별하고, 그 판별 결과에 응하여 상기 검출 신호의 온/오프를 전환하는 신호 처리부와, 상기 임계치의 설정치를 입력하기 위한 입력부를 구비하는 광전 센서에 있어서,
    상기 신호 처리부는,
    상기 검출 신호가 오프가 되는 레벨의 계측 데이터가 상기 임계치에 근접하는 방향으로의 변화를 시작하고 나서 계측 데이터가 변화 시작 시점의 레벨로 복귀하기까지의 기간을, 계측 데이터의 변화 기간으로서 그 시간 길이를 계측하는 제 1의 시간 계측 수단과,
    상기 계측 데이터의 변화 기간 중에서 상기 검출 신호가 온이 되는 레벨의 계측 데이터가 얻어져 있는 기간을 온 기간으로서, 그 시간 길이를 계측하는 제 2의 시간 계측 수단과,
    상기 제 1의 시간 계측 수단 및 제 2의 시간 계측 수단에 의한 계측 결과에 의거하여, 상기 온 기간의 길이와 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도를 나타내는 정보를, 병렬 표시 또는 교대로 표시하기 위해 출력하는 출력 수단을, 구비하는 것을 특징으로 하는 광전 센서.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 신호 처리부는, 상기 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계에 의거하여 상기 여유도의 적부를 판별하는 판별 수단을 또한 구비하고,
    상기 출력 수단은, 상기 여유도를 나타내는 정보와 함께 상기 판별 수단에 의한 판별 결과를 출력하는 것을 특징으로 하는 광전 센서.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 신호 처리부는, 상기 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계에 의거하여 상기 여유도의 적부를 판별하는 판별 수단과, 이 판별 수단에 의해 여유도가 적절하지 않다고 판별된 때, 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계가 미리 정한 규준의 관계를 충족시키도록 임계치의 값을 조정하는 임계치 조정 수단을, 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광전 센서.
  4. 제 2항 또는 제 3항에 있어서,
    상기 신호 처리부에는, 처리 속도가 다른 복수의 계측 모드가 설정됨과 함께, 상기 판별 수단에 의해 임계치가 적절하다고 판별되어 있는 것을 조건으로, 상기 복수의 계측 모드 중에서 상기 온 기간의 동안에 소정 회수 이상의 계측을 실행하는 것이 가능한 계측 모드를 선택하는 모드 선택 수단이, 더 마련되는 것을 특징으로 하는 광전 센서.
  5. 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 신호 처리부는, 상기 계측 데이터의 변화 기간 중, 당해 기간이 시작되고 나서 계측 데이터가 상기 임계치에 달할 때까지의 시간의 길이를 계측하는 제 3의 시간 계측 수단과, 이 수단에 의해 계측된 시간의 길이를 나타내는 데이터를 출력하는 계측 시간 출력 수단을, 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 광전 센서.
  6. 광을 출사하는 투광부와, 투광부로부터 투광된 광을 수광하여, 그 수광량을 나타내는 수광량 데이터를 생성하는 수광부와, 검출 대상물이 검출된 것을 나타내는 검출 신호를 출력하기 위한 출력부와, 상기 수광부에 의해 생성된 수광량 데이터를 입력하여 당해 수광량 데이터를 대상으로 한 계측 처리를 실행하고, 이 처리에 의해 얻은 계측 데이터를 미리 설정된 임계치에 의해 대조하여 검출 대상물의 유무를 판별하고, 그 판별 결과에 응하여 상기 검출 신호의 온/오프를 전환하는 신호 처리부와, 상기 임계치의 설정치를 입력하기 위한 입력부를 구비하는 광전 센서를 대상으로 하여, 당해 광전 센서에 설정된 임계치의 적부를 확인하는 작업을 지원하는 방법으로서,
    상기 광전 센서에서, 상기 검출 신호가 오프가 되는 레벨의 계측 데이터가 상기 임계치에 근접하는 방향으로의 변화를 시작하고 나서 계측 데이터가 변화 시작 시점의 레벨로 복귀하기까지의 기간을, 계측 데이터의 변화 기간으로서 그 시간 길이를 계측함과 함께, 상기 계측 데이터의 변화 기간 중에서 상기 검출 신호가 온이 되는 레벨의 계측 데이터가 얻어져 있는 기간을 온 기간으로서, 그 시간 길이를 계측하고,
    상기 계측 데이터의 변화 기간의 길이와 온 기간의 길이와의 관계에 의거하여, 상기 광전 센서에 일체로 마련된 표시부 또는 광전 센서의 외부에 마련된 표시 장치에 상기 온 기간의 길이 및 온 기간에 대한 계측 데이터의 변화 기간의 여유도를 나타내는 정보를 표시하는 것을 특징으로 하는 임계치의 확인 작업의 지원 방법.
KR1020110006152A 2010-03-05 2011-01-21 광전 센서 및 임계치의 확인 작업의 지원 방법 KR101267161B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2010-049721 2010-03-05
JP2010049721A JP5067436B2 (ja) 2010-03-05 2010-03-05 光電センサおよびしきい値の確認作業の支援方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110101043A KR20110101043A (ko) 2011-09-15
KR101267161B1 true KR101267161B1 (ko) 2013-05-27

Family

ID=44140736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110006152A KR101267161B1 (ko) 2010-03-05 2011-01-21 광전 센서 및 임계치의 확인 작업의 지원 방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8583404B2 (ko)
EP (1) EP2363736B1 (ko)
JP (1) JP5067436B2 (ko)
KR (1) KR101267161B1 (ko)
CN (1) CN102193111B (ko)
BR (1) BRPI1101315B1 (ko)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5182307B2 (ja) * 2010-03-05 2013-04-17 オムロン株式会社 光電センサおよび光電センサの動作確認作業の支援方法
JP6020033B2 (ja) * 2012-10-23 2016-11-02 オムロン株式会社 光電センサ
JP6135090B2 (ja) * 2012-10-23 2017-05-31 オムロン株式会社 光電センサ
JP6631048B2 (ja) * 2015-06-23 2020-01-15 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置、画像形成装置、及び分光測定方法
CN105005091A (zh) * 2015-07-10 2015-10-28 安徽巨一自动化装备有限公司 用于检测轴承漏装的工装
JP6969104B2 (ja) * 2017-01-24 2021-11-24 オムロン株式会社 センサ、およびセンサのしきい値設定方法
JP6956618B2 (ja) * 2017-12-13 2021-11-02 アズビル株式会社 調整支援装置
JP2019105566A (ja) * 2017-12-13 2019-06-27 アズビル株式会社 調整支援装置
CN112229373B (zh) * 2019-07-15 2022-12-02 中国石油天然气集团有限公司 组合高差的测量装置及方法
CN110926508B (zh) * 2019-11-28 2021-11-19 北京大学深圳研究生院 一种主动驱动式光电传感器、前端电路及驱动方法
CN110849473B (zh) * 2019-12-09 2024-06-21 孝感华工高理电子有限公司 一种阳光传感器环境光测试系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004205363A (ja) * 2002-12-25 2004-07-22 Sunx Ltd 光電センサ
JP2009033764A (ja) * 2002-10-31 2009-02-12 Omron Corp ファイバ型光電センサ

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3476938A (en) * 1967-09-20 1969-11-04 Barnes Eng Co Gun-flash detector
US4931632A (en) * 1988-10-07 1990-06-05 Brandt Manufacturing Systems, Inc. Variable parameter optical bottle checker
JPH0936725A (ja) * 1995-07-18 1997-02-07 Omron Corp 光電センサ
JPH09238064A (ja) * 1996-02-29 1997-09-09 Omron Corp 検出スイッチ
GB2314410A (en) * 1996-06-18 1997-12-24 Siemens Plc Passive Infra-Red Detection System suitable for Traffic Control Systems
JP3454360B2 (ja) * 2001-05-02 2003-10-06 オムロン株式会社 光電センサ
JP4855623B2 (ja) * 2002-09-06 2012-01-18 オムロン株式会社 センサ
JP3561914B2 (ja) 2002-10-31 2004-09-08 オムロン株式会社 ファイバ型光電センサ
JP4311088B2 (ja) * 2003-06-09 2009-08-12 オムロン株式会社 高周波発振型近接スイッチ
JP4241450B2 (ja) * 2004-03-15 2009-03-18 オムロン株式会社 物体検出器
JP2007093464A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Keyence Corp 光電センサ
JP4559334B2 (ja) * 2005-09-30 2010-10-06 サンクス株式会社 検出センサ及びセンサシステム
JP4428416B2 (ja) * 2007-07-18 2010-03-10 オムロン株式会社 光電センサ
US8422629B2 (en) * 2009-03-27 2013-04-16 Weyerhaeuser Nr Company Seedling counter

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009033764A (ja) * 2002-10-31 2009-02-12 Omron Corp ファイバ型光電センサ
JP2004205363A (ja) * 2002-12-25 2004-07-22 Sunx Ltd 光電センサ

Also Published As

Publication number Publication date
BRPI1101315B1 (pt) 2020-02-04
US20110218766A1 (en) 2011-09-08
EP2363736A3 (en) 2013-01-09
BRPI1101315A2 (pt) 2012-12-04
CN102193111B (zh) 2014-06-25
CN102193111A (zh) 2011-09-21
KR20110101043A (ko) 2011-09-15
JP5067436B2 (ja) 2012-11-07
EP2363736B1 (en) 2013-12-11
JP2011188131A (ja) 2011-09-22
US8583404B2 (en) 2013-11-12
EP2363736A2 (en) 2011-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101267161B1 (ko) 광전 센서 및 임계치의 확인 작업의 지원 방법
KR20120053276A (ko) 적외선 센서 모듈
JP4901128B2 (ja) 距離測定装置、及び距離測定方法
KR100622959B1 (ko) 분리형 광전 스위치
KR101291834B1 (ko) 광전 센서 및 광전 센서의 동작 확인 작업의 지원 방법
CN102866404B (zh) 距离测定装置
EP2581766B1 (en) Photoelectric sensor
US8344895B2 (en) Photoelectric sensor and photoelectric sensor system
KR101016565B1 (ko) 거리 측정 장치 및 방법
JP4983407B2 (ja) 光電センサ
EP2808706A1 (en) Transceiver element for an optical unit of a photoelectric barrier and photoelectric light curtain
JP5507895B2 (ja) 透過型寸法測定装置
EP2712088B1 (en) Sensitivity adjustment device
JP5679427B2 (ja) 光学式変位センサ及び該光学式変位センサにおける段差検出方法
JP2551732B2 (ja) 光電子制御ユニットおよびその最適利得自動設定方法
CN108169094A (zh) 滤网洁净度检测方法、传感器和空气处理设备
JP2015079416A (ja) 光電センサ
JP4266182B2 (ja) 光電スイッチ
JP5152397B1 (ja) 光電センサおよび光電センサの受光状態を確認する作業の支援方法
JP6158678B2 (ja) 光電センサ
JP2000111315A (ja) 光電センサおよびその製造方法
JP2005071657A (ja) 多光軸光電センサ
JP5069016B2 (ja) 光学式変位センサ
JP2007139495A (ja) 光電センサ
CN102480286A (zh) 光电开关

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160418

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170421

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180503

Year of fee payment: 6