JP5067436B2 - 光電センサおよびしきい値の確認作業の支援方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 111
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 69
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 42
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F1/00—Apparatus which can be set and started to measure-off predetermined or adjustably-fixed time intervals without driving mechanisms, e.g. egg timers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/04—Systems determining the presence of a target
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
- G01V8/12—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
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Description
図中、P0はしきい値であり、受光量がP0を上回る期間がオン期間となり、受光量がP0を下回る期間がオフ期間となる。
この問題は、受光量の減少により物体を検出するタイプの光電センサを使用する場合にも、同様に発生する。
本発明は上記の問題に着目し、安定した検出を行うのに適したしきい値が設定されているかどうかを、ユーザが容易に確認できるようにすることを、課題とする。
この実施例の光電センサ1は、光ファイバ式の反射型のセンサであって、工場の生産ライン3を搬送されるワークW(たとえば電子部品)を検出する目的で、ライン3の近傍に設置される。
各押ボタンスイッチ14〜15のうちの中央のスイッチ14、および左端のスイッチ15は、それぞれ右向きおよび左向きの矢印を模した形状に形成され、設定モード時の表示器12A,12Bの表示を切り替えたり、設定値の値を変更する用途に用いられる。
スライドスイッチ17は、光電センサ1の動作モードとして、設定モードおよび計測モードのいずれか一方を選択する。他方のスライドスイッチ18は、光電センサ1からの出力の定義として、受光量がしきい値を超えたときに出力をオンにするモード(ライトオンモード)および受光量がしきい値を下回るときに出力をオンにするモード(ダークオンモード)のいずれか一方を選択する。
図中の表示部101には、図3に示したディジタル表示器12A,12Bや動作ランプ13A,13Bが含まれ、操作部102には、図3に示したスイッチ14〜18が含まれる。また図中の制御部100、投光部103、受光部104、出力部105、外部機器用インターフェース106、電源部107は、ケース体10の内部に収容される。
ユーザは、上記の表示から、しきい値が適切な値に設定されたと判断すると、スライドスイッチ17を計測モードに合わせる。この後、制御部100は、設定されたしきい値に基づく検出動作を開始する。
グラフの受光量の軸(縦軸)上のP0はしきい値である。また、時間軸(横軸)上のa点は、受光量がベースレベルからしきい値P0に近づく方向への変化を開始した時点を示し、d点は、上記の受光量の変化が収束して受光量がベースレベル付近に戻った時点を示す。また、時間軸上のb点およびc点は、しきい値P0に相当する受光量が得られる時点を示す。
なお、受光量の変化期間の長さを示す時間TPSは、センサ1の検知エリアをワークWが通過するのに要する時間にほぼ相当するので、以下、この時間TPSを「ワーク通過時間TPS」という。また、オン期間の長さTONを、以下では、「オン時間TON」という。
この処理は、しきい値の設定モードが開始されたとき、およびこの設定モードにおいてしきい値を変更する処理が行われたときに開始される。
さらに、図4に示した外部機器用インターフェース106に設定用機器を接続して、この機器からしきい値P0の設定値を入力する場合には、オン時間TONおよびワーク通過時間TPSの計測値を設定用機器に転送し、この機器の表示部に各計測値や比率Qなどを表示することが可能になる。
他方の計測モードは、受光量データのサンプリング速度をおとす代わりに、基本的な検出動作以外の処理を実行することが可能になる。たとえば、設定処理時と同様にオン時間TONやワーク通過時間TPSを計測して、これらを表示したり、オン期間中の受光量の平均値を求めたり、外部機器と通信を行って計測データを出力するなどの処理の中から、ユーザに選択された処理を実行することができる(以下、これらの処理を「オプション処理」という。)。
この図8の最初のステップS101では、先の図7のステップS1〜S11と同様の処理により、オン時間TONおよびワーク通過時間TPSを計測する。さらにS102では、これらの時間TON,TPSの比率Q(Q=TPS/TON)を算出し、このQの値がQa≦Q≦Qbの条件を満たすか否かをチェックする(ステップS103)。
一方、ステップS102で求めた比率Qが、その適正範囲の下限値Qaより小さい場合、または比率Qが適正範囲の上限値Qbより大きい場合(ステップS105が「NO」の 場合)には、制御部は、Qの値が(Qa+Qb)/2をほぼ満足する状態になるように、しきい値P0の値を調整し、その調整後のP0に基づきオン時間TONを再計測する(ステップS104)。そして、再計測後のTONを基準時間と比較し(ステップS105)、その結果に基づき、高速モードまたは標準モードを選択する(ステップS106,107)。
また、オン時間TONを再計測する処理(ステップS104)を実行する場合には、ステップS101で計測対象とした受光量データを再び処理すれば良いが、これに限らず、新たに受光量データを取得してオン時間TONを計測してもよい。
図8のステップS105〜107によれば、標準モードにすると安定した検出が保障されない状態になるときのみ高速モードが選択され、それ以外は標準モードが選択されるので、ワークWの移動に伴う受光量の変化に適合した計測モードを設定して、検出動作を安定して行わせることができる。また、従来は、ワークWが高速で移動するために、オプション処理の利用をあきらめて高速モードを設定していたケースでも、標準モードを選択してオプション処理を利用できる場合があることが判明し、利便性が高められる。
1 光電センサ
12A,12B ディジタル表示器
14〜16 押釦スイッチ
100 制御部
101 表示部
102 操作部
103 投光部
104 受光部
131 LED
132 LED駆動回路
141 フォトダイオード(PD)
142 受光量信号処理回路
Claims (6)
- 光を出射する投光部と、投光部から投光された光を受光して、その受光量を示す受光量データを生成する受光部と、検出対象物が検出されたことを示す検出信号を出力するための出力部と、前記受光部により生成された受光量データを入力して当該受光量データを対象にした計測処理を実行し、この処理により得た計測データをあらかじめ設定されたしきい値により照合して検出対象物の有無を判別し、その判別結果に応じて前記検出信号のオン/オフを切り替える信号処理部と、前記しきい値の設定値を入力するための入力部とを具備する光電センサにおいて、
前記信号処理部は、
前記検出信号がオフとなるレベルの計測データが前記しきい値に近づく方向への変化を開始してから計測データが変化開始時点のレベルに復帰するまでの期間を、計測データの変化期間としてその時間長さを計測する第1の時間計測手段と、
前記計測データの変化期間の中で前記検出信号がオンとなるレベルの計測データが得られている期間をオン期間として、その時間長さを計測する第2の時間計測手段と、
前記第1の時間計測手段および第2の時間計測手段による計測結果に基づき、前記オン期間の長さおよびオン期間に対する計測データの変化期間の余裕度を示す情報を、表示のために出力する出力手段とを、具備することを特徴とする光電センサ。 - 前記信号処理部は、前記計測データの変化期間の長さとオン期間の長さとの関係に基づき前記余裕度の適否を判別する判別手段をさらに具備し、
前記出力手段は、前記余裕度を示す情報と共に前記判別手段による判別結果を出力する、請求項1に記載された光電センサ。 - 前記信号処理部は、前記計測データの変化期間の長さとオン期間の長さとの関係に基づき前記余裕度の適否を判別する判別手段と、この判別手段により余裕度が適切ではないと判別されたとき、計測データの変化期間の長さとオン期間の長さとの関係があらかじめ定めた規準の関係を満たすようにしきい値の値を調整するしきい値調整手段とを、さらに具備する、請求項1に記載された光電センサ。
- 前記信号処理部には、処理速度が異なる複数の計測モードが設定されると共に、前記判別手段によりしきい値が適切であると判別されていることを条件に、前記複数の計測モードの中から前記オン期間の間に所定回数以上の計測を実行することが可能な計測モードを選択するモード選択手段が、さらに設けられる、請求項2または3に記載された光電センサ。
- 前記信号処理部は、前記計測データの変化期間のうち、当該期間が開始されてから計測データが前記しきい値に達するまでの時間の長さを計測する第3の時間計測手段と、この手段により計測された時間の長さを示すデータを出力する計測時間出力手段とを、さらに具備する、請求項1〜4のいずれかに記載された光電センサ。
- 光を出射する投光部と、投光部から投光された光を受光して、その受光量を示す受光量データを生成する受光部と、検出対象物が検出されたことを示す検出信号を出力するための出力部と、前記受光部により生成された受光量データを入力して当該受光量データを対象にした計測処理を実行し、この処理により得た計測データをあらかじめ設定されたしきい値により照合して検出対象物の有無を判別し、その判別結果に応じて前記検出信号のオン/オフを切り替える信号処理部と、前記しきい値の設定値を入力するための入力部とを具備する光電センサを対象として、当該光電センサに設定されたしきい値の適否を確認する作業を支援する方法であって、
前記光電センサにおいて、前記検出信号がオフとなるレベルの計測データが前記しきい値に近づく方向への変化を開始してから計測データが変化開始時点のレベルに復帰するまでの期間を、計測データの変化期間としてその時間長さを計測すると共に、前記計測データの変化期間の中で前記検出信号がオンとなるレベルの計測データが得られている期間をオン期間として、その時間長さを計測し、
前記計測データの変化期間の長さとオン期間の長さとの関係に基づき、前記光電センサに一体に設けられた表示部または光電センサの外部に設けられた表示装置に前記オン期間の長さおよびオン期間に対する計測データの変化期間の余裕度を示す情報を表示する、
ことを特徴とするしきい値の確認作業の支援方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010049721A JP5067436B2 (ja) | 2010-03-05 | 2010-03-05 | 光電センサおよびしきい値の確認作業の支援方法 |
KR1020110006152A KR101267161B1 (ko) | 2010-03-05 | 2011-01-21 | 광전 센서 및 임계치의 확인 작업의 지원 방법 |
EP11152949.1A EP2363736B1 (en) | 2010-03-05 | 2011-02-01 | Photoelectric sensor and method for aiding checking of threshold |
US13/023,219 US8583404B2 (en) | 2010-03-05 | 2011-02-08 | Photoelectric sensor and method for aiding checking of threshold |
CN201110037712.7A CN102193111B (zh) | 2010-03-05 | 2011-02-10 | 光电传感器及阈值的确认作业的支援方法 |
BRPI1101315A BRPI1101315B1 (pt) | 2010-03-05 | 2011-03-03 | sensor fotoelétrico e método para ajudar a verificar se um limite definido para um sensor fotoelétrico é apropriado |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010049721A JP5067436B2 (ja) | 2010-03-05 | 2010-03-05 | 光電センサおよびしきい値の確認作業の支援方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011188131A JP2011188131A (ja) | 2011-09-22 |
JP5067436B2 true JP5067436B2 (ja) | 2012-11-07 |
Family
ID=44140736
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010049721A Active JP5067436B2 (ja) | 2010-03-05 | 2010-03-05 | 光電センサおよびしきい値の確認作業の支援方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8583404B2 (ja) |
EP (1) | EP2363736B1 (ja) |
JP (1) | JP5067436B2 (ja) |
KR (1) | KR101267161B1 (ja) |
CN (1) | CN102193111B (ja) |
BR (1) | BRPI1101315B1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5182307B2 (ja) * | 2010-03-05 | 2013-04-17 | オムロン株式会社 | 光電センサおよび光電センサの動作確認作業の支援方法 |
JP6020033B2 (ja) * | 2012-10-23 | 2016-11-02 | オムロン株式会社 | 光電センサ |
JP6135090B2 (ja) * | 2012-10-23 | 2017-05-31 | オムロン株式会社 | 光電センサ |
JP6631048B2 (ja) * | 2015-06-23 | 2020-01-15 | セイコーエプソン株式会社 | 分光測定装置、画像形成装置、及び分光測定方法 |
CN105005091A (zh) * | 2015-07-10 | 2015-10-28 | 安徽巨一自动化装备有限公司 | 用于检测轴承漏装的工装 |
JP6969104B2 (ja) * | 2017-01-24 | 2021-11-24 | オムロン株式会社 | センサ、およびセンサのしきい値設定方法 |
JP6956618B2 (ja) * | 2017-12-13 | 2021-11-02 | アズビル株式会社 | 調整支援装置 |
JP2019105566A (ja) * | 2017-12-13 | 2019-06-27 | アズビル株式会社 | 調整支援装置 |
CN112229373B (zh) * | 2019-07-15 | 2022-12-02 | 中国石油天然气集团有限公司 | 组合高差的测量装置及方法 |
CN110926508B (zh) * | 2019-11-28 | 2021-11-19 | 北京大学深圳研究生院 | 一种主动驱动式光电传感器、前端电路及驱动方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3476938A (en) * | 1967-09-20 | 1969-11-04 | Barnes Eng Co | Gun-flash detector |
US4931632A (en) * | 1988-10-07 | 1990-06-05 | Brandt Manufacturing Systems, Inc. | Variable parameter optical bottle checker |
JPH0936725A (ja) * | 1995-07-18 | 1997-02-07 | Omron Corp | 光電センサ |
JPH09238064A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Omron Corp | 検出スイッチ |
GB2314410A (en) * | 1996-06-18 | 1997-12-24 | Siemens Plc | Passive Infra-Red Detection System suitable for Traffic Control Systems |
JP3454360B2 (ja) * | 2001-05-02 | 2003-10-06 | オムロン株式会社 | 光電センサ |
JP4855623B2 (ja) * | 2002-09-06 | 2012-01-18 | オムロン株式会社 | センサ |
JP2009033764A (ja) * | 2002-10-31 | 2009-02-12 | Omron Corp | ファイバ型光電センサ |
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JP4311088B2 (ja) * | 2003-06-09 | 2009-08-12 | オムロン株式会社 | 高周波発振型近接スイッチ |
JP4241450B2 (ja) * | 2004-03-15 | 2009-03-18 | オムロン株式会社 | 物体検出器 |
JP2007093464A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Keyence Corp | 光電センサ |
JP4559334B2 (ja) * | 2005-09-30 | 2010-10-06 | サンクス株式会社 | 検出センサ及びセンサシステム |
JP4428416B2 (ja) * | 2007-07-18 | 2010-03-10 | オムロン株式会社 | 光電センサ |
US8422629B2 (en) * | 2009-03-27 | 2013-04-16 | Weyerhaeuser Nr Company | Seedling counter |
-
2010
- 2010-03-05 JP JP2010049721A patent/JP5067436B2/ja active Active
-
2011
- 2011-01-21 KR KR1020110006152A patent/KR101267161B1/ko active IP Right Grant
- 2011-02-01 EP EP11152949.1A patent/EP2363736B1/en active Active
- 2011-02-08 US US13/023,219 patent/US8583404B2/en active Active
- 2011-02-10 CN CN201110037712.7A patent/CN102193111B/zh active Active
- 2011-03-03 BR BRPI1101315A patent/BRPI1101315B1/pt active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BRPI1101315B1 (pt) | 2020-02-04 |
US20110218766A1 (en) | 2011-09-08 |
CN102193111A (zh) | 2011-09-21 |
EP2363736B1 (en) | 2013-12-11 |
EP2363736A3 (en) | 2013-01-09 |
CN102193111B (zh) | 2014-06-25 |
JP2011188131A (ja) | 2011-09-22 |
KR20110101043A (ko) | 2011-09-15 |
KR101267161B1 (ko) | 2013-05-27 |
BRPI1101315A2 (pt) | 2012-12-04 |
US8583404B2 (en) | 2013-11-12 |
EP2363736A2 (en) | 2011-09-07 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A977 | Report on retrieval |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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