KR20090089371A - 시험장치 및 디바이스 인터페이스 - Google Patents

시험장치 및 디바이스 인터페이스 Download PDF

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KR20090089371A
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아츠노리 시부야
코이치 야츠카
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Abstract

복수의 피시험 디바이스를 시험하는 시험장치로서, 피시험 디바이스와의 사이에서 신호를 수수하는 복수의 시험모듈과, 복수의 시험모듈을 탑재하는 테스트 헤드와, 테스트 헤드와 복수의 시험모듈 사이에 설치되고 대응하는 피시험 디바이스에 접속되는 테스트 헤드 커넥터 및 시험모듈 간을 접속하는 배선과, 해당 디바이스 인터페이스부의 종류를 나타내는 식별정보를 출력하는 식별정보 출력부를 각각 가지며, 대응하는 피시험 디바이스 및 시험모듈에 따라 교환가능한 복수의 디바이스 인터페이스부와, 복수의 시험모듈에 접속되어, 시험모듈을 제어하는 제어장치를 구비하고, 각각의 시험모듈은 식별정보를 읽는 읽기부와 식별정보를 제어장치로 반송하는 코멘드처리부를 갖는 시험장치를 제공한다.

Description

시험장치 및 디바이스 인터페이스{TESTING APPARATUS AND DEVICE INTERFACE}
본 발명은 시험장치 및 디바이스 인터페이스에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 테스트 헤드 커넥터 및 시험모듈 간을 접속하는 디바이스 인터페이스부를 구비하는 시험장치에 관한 것이다. 문헌의 참조에 의한 조합이 인정되는 지정국에 대해서는 하기 출원에 기재된 내용을 참조해 본 출원에 조합하고 본 출원의 일부로 한다.
1. 일본특허출원 2006 - 327421 출원일 2006년 12월 4일
DUT(Device Under Test : 피시험 디바이스)를 시험하는 시험장치가 알려져 있다. 시험장치는 DUT와의 사이에서 신호를 입출력하는 시험모듈과, 시험모듈을 탑재하는 테스트 헤드와, 테스트 해드 커넥터와 시험모듈 간을 접속하는 디바이스 인터페이스부를 구비한다(특허문헌 1참조).
[특허문헌1] 일본특개 2006 - 275986호 공보
그러나 탑재하는 디바이스 인터페이스부의 종류를 교환할 수 있는 시험장치가 있다. 예를 들면, 시험모듈과 DUT 사이의 배선길이가 다른 복수의 디바이스 인터페이스부를 바꿔서 탑재할 수 있는 시험장치가 있다.
이와 같은 시험장치에서는 테스트 헤드에 탑재되는 디바이스 인터페이스부의 종류에 따라 제어프로그램(유저에 의해 제작된 시험 프로그램 및 해당 시험장치를 진단하는 진단프로그램)이 바뀐다. 예를 들면, 시험장치는 탑재된 디바이스 인터페이스부의 종류에 따라 시험신호의 출력명령이 발행된 후에 해당 시험파형이 DUT에 도달할 때까지의 지연 시간(시스템 지연 시간)의 설정이 다른 복수의 제어프로그램을 전환해서 실행한다. 이에 의해 시험장치는 최적의 파라미터로 설정된 제어프로그램을 실행해서 시험 및 조정을 할 수 있다.
하지만 이와 같은 시험장치는 디바이스 인터페이스부의 종류의 지정이 유저에 의해 행해지기 때문에 잘못된 제어프로그램이 실행될 가능성이 있었다.
여기서 본 발명의 하나의 측면에서는 상기의 과제를 해결할 수 있는 시험장치 및 디바이스 인터페이스를 제공하는 것을 목적으로 한다. 이 목적은 청구 범위의 독립항에 기재된 특징의 조합에 의해 달성된다. 또한 종속항은 본 발명의 다른 유리한 구체예를 규정한다.
즉, 본 발명의 제 1의 형태에 의하면 복수의 피시험 디바이스를 시험하는 시험장치로, 피시험 디바이스와의 사이에서 신호를 수수(授受)하는 복수의 시험모듈과, 복수의 시험모듈을 탑재하는 테스트 헤드와, 테스트 헤드와 복수의 시험모듈 사이에 설치되고 대응하는 피시험 디바이스에 접속되는 테스트 헤드 커넥터 및 시험모듈 간을 접속하는 배선과, 해당 디바이스 인터페이스부의 종류를 나타내는 식별정보를 출력하는 식별정보 출력부를 각각 가지며 대응하는 피시험 디바이스 및 시험모듈에 따라 교환가능한 복수의 디바이스 인터페이스부와, 복수의 시험모듈에 접속되고 시험모듈을 제어하는 제어장치를 구비하고 각각의 시험모듈은 대응하는 디바이스 인터페이스부에서 식별정보를 읽는 읽기부와, 제어장치에서 대응하는 디바이스 인터페이스부의 식별정보를 반송할 것을 요구하는 요구 코멘드를 제어장치에서 수신함에 따라 읽기부에 의해 읽어진 식별정보를 제어장치로 반송하는 코멘드처리부를 갖는 시험장치를 제공한다.
또한 상기 발명의 개요는 본 발명의 필요한 특징 모두를 열거한 것이 아니며 이들의 특징군의 서브컴비네이션도 발명이 될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시형태에 관한 시험장치의 구성을 DUT와 함께 나타낸다. (실시예 1)
도 2는 본 발명의 실시형태에 관한 시험모듈, 디바이스 인터페이스부 및 제어장치의 구성을 나타낸다.(실시예 1)
도 3은 본 발명의 실시형태의 제 1변형예에 관한 식별정보 출력부 및 읽기부의 구성을 나타낸다.(실시예 1의 제 1변형예)
도 4는 본 발명의 실시형태의 제 2변형예에 관한 시험모듈 및 디바이스 인터페이스부의 구성을 나타낸다.(실시예 1의 제 2변형예)
도 5는 본 발명의 실시형태의 제 3변형예에 관한 식별정보 출력부 및 읽기부의 구성을 나타낸다.(실시예 1의 제 3변형예)
도 6은 본 발명의 실시형태의 제 4변형예에 관한 시험모듈, 디바이스 인터페이스부 및 제어장치의 구성을 나타낸다.(실시예 1의 제 4변형예)
<부호의 설명>
10　시험장치 12　로드보드
14　시험모듈 16　테스트 헤드
18　디바이스 인터페이스부 20　제어장치
22　커넥터 32　배선
34　식별정보 출력부 2　신호입출력부
44　읽기부 46　코멘드처리부
52　시험부 54　진단부
56　코멘드송신부 58　판정부
62　메모리 64　전압원
66　그랜드 68　검출부
70　식별정보 레지스터 72　스위치부
74　ID기억부 76　풀업부
82　신호선 84　그랜드선
90　온오프 스위치 92　저항
94　기억장치 96　이상검출부
100　DUT
발명을 실시하기 위한 최선의 실시형태
이하, 발명의 실시형태를 통해 본 발명의 일측면을 설명하나 이하의 실시형 태는 청구범위에 관한 발명을 한정하는 것이 아니며, 또한, 실시형태에 설명되어 있는 특징의 조합 모두가 발명의 해결수단에 필수하다고는 한정되지 않는다.
도 1은 본 실시형태에 관한 시험장치(10)의 구성을 DUT(100)와 함께 나타낸다. 시험장치(10)는 복수의 DUT(100)(100 - 1, 100 - 2)(Device Under Test : 피시험 디바이스)를 시험한다. 보다 상세하게는, 시험장치(10)는 시험신호를 생성해서 각 DUT(100)에 공급하고 각 DUT(100)가 시험신호에 기초해 동작한 결과 출력하는 출력신호가 기대치와 일치 하는지 여부에 기초해서 각 DUT(100)의 양부를 판정한다.
시험장치(10)는 로드보드(12), 복수의 시험모듈(14)(14 - 1 ~ 14 - ｎ, …(n은 2이상의 정수)), 테스트 헤드(16), 복수의 디바이스 인터페이스부(18)(18 - 1, 18 - 2, …), 제어장치(20)를 구비한다. 로드보드(12)는 복수의 DUT(100)를 재치하고, 복수의 시험모듈(14)의 각각과 대응하는 DUT(100)와의 사이를 접속한다.
각 시험모듈(14)(14 - 1 ~ 14 - ｎ, …)은 예를 들면 제어장치(20)에서 부여받은 시험 프로그램 및 시험데이터에 기초해 대응하는 DUT(100)의 시험을 행하는 것을 목적으로, 대응하는 DUT(100)와의 사이에서 신호를 수수한다. 각 시험모듈(14)은 일 예로 시험 프로그램에 의해 정해진 시퀀스에 기초해 시험데이터에서 시험신호를 생성하고 대응하는 DUT(100)의 단자에 시험신호를 공급한다. 또한 시험모듈(14)은 대응하는 DUT(100)의 단자에서 해당 DUT(100)가 시험신호에 기초해 동작한 결과 출력하는 출력신호를 취득하고 기대치와 비교한다. 또한 시험모듈(14)은 출력신호와 기대치의 비교결과를 시험결과로 제어장치(20에 송신한다. 테스트 헤 드(16)는 복수의 시험모듈(14)을 탑재한다. 테스트 헤드(16)는 일 예로 케이스를 가지며 해당 케이스의 외측 상부에 로드보드(12)를 탑재하고 해당 케이스의 내부에 복수의 시험모듈(14)을 탑재한다.
각 디바이스 인터페이스부(18)는 테스트 헤드(16)와 복수의 시험모듈(14) 사이에 설치된다. 각 디바이스 인터페이스부(18)는 테스트 헤드(16)의 커넥터(22)와 시험모듈(14) 사이를 전기 배선을 통해 접속한다. 테스트 헤드(16)의 커넥터(22)는 로드보드(12)를 통해 DUT(100)의 단자와 전기적으로 접속되어 있다. 하나의 디바이스 인터페이스부(18)는 하나의 시험모듈(14)이 접속되어도 되고 2이상의 시험모듈(14)이 접속되어도 된다.
제어장치(20)는 복수의 시험모듈(14)에 접속되어 시험모듈(14)을 제어한다. 제어장치(20)는 일 예로 테스트 헤드(16)와 별개의 컴퓨터에 의해 실현되어도 된다.
제어장치(20)는 일 예로 DUT(100)의 시험에 사용되는 시험 프로그램 및 시험데이터를 시험모듈(14)에 격납한다. 다음으로, 제어장치(20)는 시험 프로그램 및 시험데이터에 기초한 시험의 개시를 시험모듈(14)에 지시하고, 해당 시험모듈(14)에 시험을 실행시킨다. 그리고, 제어장치(20)는 시험이 종료한 것을 나타내는 인터럽트 및 시험결과 등을 시험모듈(14)에서 수신하고 시험결과에 기초해 다음 시험을 시험모듈(14)에 행하게 한다. 또한, 제어장치(20)는 예를 들면 시험에 앞서서 진단프로그램을 실행함으로써 해당 시험모듈(14)이 정상적으로 동작하고 있는지를 진단해도 된다.
이상과 같은 구성의 시험장치(10)에 의하면 DUT(100)를 시험할 수 있다. 또한 시험장치(10)에 의하면, 예를 들면 시험에 앞서서 각 시험모듈(14)을 진단하고 진단결과에 따라 시험 프로그램을 선택해서 시험을 실행시킬 수 있다.
여기서, 시험장치(10)에는 대응하는 DUT(100) 및 시험모듈(14)에 따라 교환가능한 디바이스 인터페이스부(18)가 탑재된다. 시험장치(10)에는 일 예로 DUT(100)의 종류(예를 들면, 입출력신호의 종류, 핀배치, 신호처리 내용의 종류 등) 및 접속되는 시험모듈(14)의 종류(입력단자에 입력되는 신호의 종류, 출력단자에서 출력되는 신호의 종류, 단자배치 등)에 따라 배선길이 및 배선패턴 등이 다른 디바이스 인터페이스부(18)가 탑재되어도 된다. 이에 따라, 시험장치(10)에 의하면 DUT(100) 및 시험모듈(14)에 따른 최적의 배선길이 및 배선패턴을 갖는 디바이스 인터페이스부(18)를 탑재할 수 있다.
도 2는 본 실시형태에 관한 시험모듈(14), 디바이스 인터페이스부(18) 및 제어장치(20)의 구성을 나타낸다. 각 디바이스 인터페이스부(18)는 배선(32)과 식별정보 출력부(34)를 갖는다.
배선(32)은 대응하는 DUT(100)에 접속되는 테스트 헤드(16)의 커넥터(22) 및 시험모듈(14) 사이를 접속한다. 배선(32)은 일 예로 시험모듈(14)의 커넥터와 테스트 헤드(16)의 커넥터(22) 사이를 접속하는 동축 케이블 등이어도 된다. 이와 같은 배선(32)이 설치되어 있어서 신호 입출력부(42)는 대응하는 DUT(100)의 소정의 단자에 시험신호를 공급하며 또한, 대응하는 DUT(100)의 소정의 단자에서 출력된 출력신호를 입력할 수 있다.
식별정보 출력부(34)는 해당 디바이스 인터페이스부(18)의 종류를 나타내는 식별정보를 출력한다. 예를 들면, 해당 디바이스 인터페이스부(18)에서의 배선길이 및 배선패턴 등의 종류마다 고유하게 설정된 식별정보를 출력한다. 식별정보 출력부(34)는 일 예로 ROM 등의 메모리에 격납된 바이너리 데이터의 식별정보를, 예를 들면 병렬 버스, 직렬 버스, Ｉ2Ｃ버스 등을 통해 출력해도 된다.
각 시험모듈(14)은 신호 입출력부(42), 읽기부(44), 코멘드 처리부(46)를 갖는다. 또한 하나의 디바이스 인터페이스부(18)에 대해 2이상의 시험모듈(14)이 접속되어 있는 경우, 하나의 디바이스 인터페이스부(18)에 접속된 복수의 시험모듈(14) 중 적어도 하나의 대표가 되는 시험모듈(14)이 읽기부(44) 및 코멘드 처리부(46)를 갖는다. 즉 대표 이외의 시험모듈(14)은 읽기부(44) 및 코멘드 처리부(46)를 갖지 않는다. 또한 대표 시험모듈(14)은 본 발명에 관한 시험모듈의 일예이다.
신호 입출력부(42)는 디바이스 인터페이스부(18)의 배선(32)을 통해 대응하는 DUT(100)에 대해 시험신호를 출력한다. 또한 신호 입출력부(42)는 디바이스 인터페이스부(18)의 배선(32)을 통해 DUT(100)가 시험신호에 따라 출력하는 출력신호를 입력한다.
읽기부(44)는 대응하는 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보 출력부(34)에서 식별정보를 읽는다. 읽기부(44)는 일 예로 ROM 등의 메모리에 격납된 바이너리 데이터의 식별정보를, 버스 등을 통해 읽어도 된다.
코멘드 처리부(46)은 제어장치(20)에서 대응하는 디바이스 인터페이스부(18) 의 식별정보를 반송할 것을 요구하는 요구 코멘드를 제어장치(20)로부터 수신한다. 그리고 코멘드 처리부(46)은 요구 코멘드를 수신함에 따라 읽기부(44)에 의해 읽어진 식별정보를 제어장치(20)로 반송한다. 코멘드 처리부(46)은 일 예로 PCI 등의 버스를 통해 제어장치(20)와의 사이에서 코멘드를 주고 받아도 된다. 요구 코멘드를 제어장치(20)에서 수신하면 식별정보의 읽기 동작을 읽기부(44)에 실행시킨다. 또한, 코멘드 처리부(46)은 읽기부(44)가 읽기 동작을 실행한 결과 얻어진 식별정보를 취득하고 취득한 식별정보를 제어장치(20)에 반신해도 된다.
제어장치(20)는 시험부(52), 진단부(54), 코멘드 송신부(56), 판정부(58)를 갖는다. 시험부(52)는 DUT(100)를 시험하는 경우의 제어를 행한다. 제어장치(20)는 일 예로 해당 시험장치(10)의 유저가 제작한 시험 제어 프로그램을 해당 제어장치(20)의 CPU가 실행함으로써 시험부(52)로써 기능한다. 시험부(52)는 일 예로 DUT(100)의 시험에 사용되는 시험 프로그램 및 시험데이터를 시험모듈(14)에 격납하고 시험 프로그램 및 시험데이터에 기초하는 DUT(100)의 시험을 시험모듈(14)에 행하게 한다.
코멘드 송신부(56)는 접속되어 있는 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보를 반신할 것을 요구하는 요구 코멘드를 제어대상의 시험모듈(14)의 코멘드 처리부(46)에 송신한다. 코멘드 송신부(56)는 일 예로 시험에 앞서서 요구 코멘드를 제어대상의 시험모듈(14)에 송신해도 된다.
진단부(54)는 해당 시험장치(10)를 진단하는 경우의 제어를 행한다. 제어장치(20)는 일 예로 진단프로그램을 해당 제어장치(20)의 CPU가 실행함으로써 진단 부(54)로써 기능한다. 진단부(54)는 예를 들면 시험부(52)에 의해 시험에 앞서서 시험모듈(14)의 동작을 진단한다.
판정부(58)는 해당 시험장치(10)를 진단하는 경우에 디바이스 인터페이스부(18)의 종류의 판정을 행한다. 제어장치(20)는 일 예로 진단프로그램을 해당 제어장치(20)의 CPU가 실행함으로써 판정부(58)로써 기능한다. 판정부(58)는 제어대상의 시험모듈(14)의 코멘드 처리부(46)에서 반신된 식별정보를 취득한다. 판정부(58)는 제어대상의 시험모듈(14)에서 반송된 식별정보에 기초해 제어장치(20) 상에서 실행되어 제어대상의 시험모듈(14)을 제어하는 제어프로그램에 적합한 디바이스 인터페이스부(18)가 제어대상의 시험모듈(14)에 접속되어 있는지의 여부를 판정한다.
또한 시험부(52)는 일 예로 디바이스 인터페이스부(18)의 종류에 따른 복수의 시험제어프로그램을 미리 기억해도 된다. 또한, 시험부(52)는 시험시에 판정부(58)에 의해 행해진 판정의 결과에 따라 제어대상의 시험모듈(14)에서 반송된 식별정보에 대응되어진 하나의 시험제어프로그램을 선택해서 실행해도 된다. 또한 시험부(52)는 일 예로 시험모듈(14)에 실행시켜야 하는 시험 프로그램으로 디바이스 인터페이스부(18)의 종류에 따른 복수의 프로그램을 미리 기억해 두어도 된다. 그리고, 시험부(52)는 시험시에 판정부(58)에 의해 행해진 판정의 결과에 따라 제어대상의 시험모듈(14)에서 반송된 식별정보에 대응되어진 하나의 시험 프로그램을 선택해서 대응하는 시험모듈(14)에 공급해도 된다.
또한 진단부(54)는 일 예로 디바이스 인터페이스부(18)의 종류에 따른 복수 의 진단프로그램을 미리 기억해도 된다. 또한 진단부(54)는 진단시에 제어대상의 시험모듈(14)에서 반송된 식별정보에 대응되어진 진단프로그램을 선택해서 실행하고 식별정보에 의해 특정되는 디바이스 인터페이스부(18) 및 제어대상의 시험모듈(14)을 진단해도 된다.
이와 같은 구성의 시험장치(10)에 의하면, 해당 시험장치(10)에서 실행되는 제어프로그램(시험 프로그램 및 진단프로그램)에 적합한 종류의 디바이스 인터페이스부(18)가 테스트 헤드(16)에 접속되어 있는지의 여부를 판정할 수 있다. 이에 의해 시험장치(10)에 의하면, 잘못된 종류의 디바이스 인터페이스부(18)가 접속된 상태로 동작하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 시험장치(10)에 의하면 테스트 헤드(16)에 접속되어 있는 디바이스 인터페이스부(18)의 종류에 따른 제어 프로그램(시험 프로그램 및 진단 프로그램)를 선택해서 실행시킬 수 있다. 이에 의해 시험장치(10)에 의하면 테스트 헤드(16)에 접속되어 있는 디바이스 인터페이스부(18)에 적합한 시험을 할 수 있다.
도 3은 본 실시형태의 제 1변형예에 관한 식별정보 출력부(34) 및 읽기부(44)의 구성을 나타낸다. 본 변형예에 관한 시험장치(10)는 도 1에 나타낸 시험장치(10)과 거의 동일한 구성 및 기능을 한다. 이하, 도 1 및 도 2에 나타낸 부재와 거의 동일한 구성 및 기능을 하는 본 변형예에 관한 부재에 대해서는 이하, 동일한 부호를 사용하며 차이점 이외의 설명은 생략한다.
각각의 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보 출력부(34)는 식별정보를 기억한 ROM 등의 메모리(62)를 포함한다. 각각의 시험모듈(14)은 대응하는 디바이스 인터페이스부(18) 상의 메모리(62)를 동작시키는 동작전압을 공급한다.
각각의 시험모듈(14)의 읽기부(44)는 일 예로 전압원(64), 그랜드(66), 검출부(68)를 포함해도 된다. 전압원(64) 및 그랜드(66)는 대응하는 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보 출력부(34)에 포함되는 메모리(62)에 대해 동작전압을 공급한다. 검출부(68)는 동작전압이 공급된 메모리(62)에서 해당 메모리(62)에 기억된 식별정보를 읽는다.
이와 같은 시험장치(10)에 의하면 각각의 디바이스 인터페이스부(18)에서 식별정보를 출력시킬 수 있다. 또한 이와 같은 시험장치(10)에 의하면 디바이스 인터페이스부(18)가 전압원 등을 구비하지 않아도 되기 때문에 디바이스 인터페이스부(18)를 간단한 구성으로 할 수 있다.
도 4는 본 실시형태의 제 2변형예에 관한 시험모듈(14) 및 디바이스 인터페이스부(18)의 구성을 나타낸다. 본 변형예에 관한 시험장치(10)는 도 1에 나타낸 시험장치(10)와 거의 동일한 구성 및 기능을 한다. 이하, 도 1 및 도 2에 나타낸 부재와 거의 동일한 구성 및 기능을 하는 본 변형예에 관한 부재에 대해서는 이하, 동일한 부호를 사용하며, 차이점 이외의 설명은 생략한다.
각각의 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보 출력부(34)는 식별정보를 기억한 ROM 등의 메모리(62)를 포함한다. 메모리(62)는 제 1변형예에 관한 메모리(62)과 같이 동작전압이 대응하는 시험모듈(14)에서 공급되어도 된다.
각각의 시험모듈(14)은 식별정보 레지스터(70)와 스위치부(72)를 추가로 갖는다. 식별정보 레지스터(70)는 읽기부(44)가 읽은 식별정보를 기억한다.
스위치부(72)는 시험모듈(14)내의 적어도 하나의 신호 입출력부(42)에 대응해서 설치된다. 스위치부(72)는 대응하는 디바이스 인터페이스부(18)에서 식별정보를 읽는 경우에 적어도 하나의 신호 입출력부(42)를 메모리(62)에 접속하고 대응하는 DUT(100)를 시험하는 경우에 적어도 하나의 신호 입출력부(42)를 배선(32)을 통해 DUT(100)에 접속한다.
읽기부(44)는 식별정보를 반송할 것을 요구하는 요구 코멘드의 수신에 앞서서 스위치부(72)에 의해 적어도 하나의 신호 입출력부(42)를 메모리(62)에 접속해서 적어도 하나의 신호 입출력부(42)를 통해 식별정보를 읽는다. 그리고, 읽기부(44)는 읽은 식별정보를 식별정보 레지스터(70)에 격납한다. 코멘드 처리부(46)는 요구 코멘드를 제어장치(20)에서 수신함에 따라 식별정보 레지스터(70)에 격납된 식별정보를 제어장치(20)에 반송한다.
이와 같은 시험장치(10)에 의하면, 신호 입출력부(42)를 이용해 식별정보를 읽을 수 있기 때문에 읽기부(44)의 구성을 간단하게 할 수 있다. 또한, 시험장치(10)에 의하면 식별정보의 요구 코멘드의 수신에 앞서서 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보를 미리 읽어 두기 때문에 읽기부(44)가 신호 입출력부(42)에 의해 다시 읽기를 행히지 않아도 된다.
도 5는 본 실시형태의 제 3변형예에 관한 식별정보 출력부(34) 및 읽기부(44)의 구성을 나타낸다. 본 변형예에 관한 시험장치(10)는 제 1변형예에 관한 시험장치(10)와 거의 동일한 구성 및 기능을 한다. 이하, 도 1 ~ 도 3에 나타낸 부재와 거의 동일한 구성 및 기능을 하는 본 변형예에 관한 부재에 대해서는 이하, 동일한 부호를 사용하며, 차이점 이외의 설명은 생략한다.
각각의 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보 출력부(34)는 메모리(62) 대신 ID기억부(74)를 포함한다. ID기억부(74)는 식별정보의 각 비트(1 ~ ｍ)에 대응한 복수의 온오프 스위치(90)(90 - 1 ~ 90 - ｍ)를 포함한다. 각 온오프 스위치(90)는 식별정보의 대응하는 비트 값에 따라 양단자 간을 온(접속) 또는 오프(개방)된다. 각 온오프 스위치(90)는 일 예로 식별정보에서의 대응하는 비트가 1인 경우에 오프가 되고, 0인 경우에 온이 되도록 유저에 의해 설정되어도 된다.
각 온오프 스위치(90)의 한 쪽 단자는 식별정보의 각 비트치를 식별정보 출력부(34)에서 읽기부(44)로 병렬 전송하는 복수의 신호선(82)(82 - 1 ~ 82 - ｍ)에서의 대응하는 비트선에 접속한다. 또한 각 온오프 스위치(90)의 다른 쪽 단자는 그랜드(66)가 접속된 그랜드선(84)에 접속된다.
읽기부(44)는 풀업부(76)를 추가로 포함한다. 풀업부(76)는 식별정보의 각 비트(1 ~ ｍ)에 대응한 복수의 저항(92)(92 - 1 ~ 92 - ｍ)을 포함한다. 각 저항(92)의 한 쪽 단자는 복수의 신호선(82)(82 - 1 ~ 82 - ｍ)에서의 대응하는 비트선에 접속한다. 또한 각 저항(92)의 다른 쪽 단자는 전압원(64)에 접속된다. 이와 같은 풀업부(76)은 온오프 스위치(90)가 온(접속)되어 있는 신호선(82)을 그랜드전위로 하고, 온오프 스위치(90)가 오프(개방)되어 있는 신호선(82)을 전원전위로 할 수 있다.
검출부(68)는 복수의 신호선(82)(86 - 1 ~ 86 - ｍ)의 전위를 검출하고 검출한 전위에 따라 식별정보의 각 비트값을 판정한다. 검출부(68)는 일 예로 식별정보 의 각 비트에 대응하는 신호선(82)의 전위가 전원전위이면 해당 비트를 1로 판정하고 그랜드전위이면 해당 비트를 0으로 판정한다.
이와 같이 각각의 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보 출력부(34)에 포함되는 ID기억부(74)는 식별정보 출력부(34)와 읽기부(44)를 접속하는 복수의 신호선(82)의 각각의 전위를 식별정보의 각 비트 값에 따라 정한다. 이에 의해 시험장치(10)에 의하면 간단한 구성의 식별정보 출력부(34)에 의해 식별정보를 출력시킬 수 있다.
또한 풀업부(76)은 읽기부(44)에 포함되는 대신에 식별정보 출력부(34)에 포함되어도 된다. 또한, 도 4에 나타낸 시험장치(10)에서, 식별정보 출력부(34)는 메모리(62) 대신에 ID기억부(74)를 포함해도 된다. 도 4에 나타낸 시험장치(10)에서 식별정보 출력부(34)가 ID기억부(74)를 포함하는 경우 시험모듈(14) 또는 디바이스 인터페이스부(18)는 풀업부(76)을 추가로 포함한다.
도 6은 본 실시형태의 제 4변형예에 관한 시험모듈(14), 디바이스 인터페이스부(18) 및 제어장치(20)의 구성을 나타낸다. 본 변형예에 관한 시험장치(10)는 도 1에 나타낸 시험장치(10)과 거의 동일한 구성 및 기능을 한다. 이하, 도 1 및 도 2에 나타낸 부재와 거의 동일한 구성 및 기능을 하는 본 변형예에 관한 부재에 대해서는 이하, 동일한 부호를 사용하며, 차이점 이외의 설명은 생략한다.
제어장치(20)는 판정부(58) 대신에 기억장치(94) 및 이상검출부(96)를 추가로 갖는다. 기억장치(94)는 각각의 시험모듈(14)에 접속되어야 하는 디바이스 인터페이스부(18)를 나타내는 식별정보를 기억하는 설정파일을 격납한다. 기억장치(94) 는 일 예로 해당 시험장치(10)가 탑재해야 하는 시험모듈(14), 디바이스 인터페이스부(18) 및 그 외의 하드웨어 사이의 구성 및 접속 관계가 기술된 설정파일을 격납해도 된다.
이상검출부(96)는 제어대상의 시험모듈(14)에서 반신된 식별정보를 취득한다. 이상검출부(96)는 기억장치(94)에 격납된 설정파일을 검색해서 제어대상의 시험모듈(14)에 접속되어야 하는 디바이스 인터페이스부(18)의 식별정보를 취득한다. 그리고, 이상검출부(96)는 제어대상의 시험모듈(14)에서 반송된 식별정보가 설정파일에 격납된, 제어대상의 시험모듈(14)에 접속되어야 하는 디바이스 인터페이스부(18)를 나타내는 식별정보와 다를 경우에 잘못된 디바이스 인터페이스부(18)가 접속되어 있다는 내용의 이상을 검출한다. 이와 같은 시험장치(10)에 의하면 디바이스 인터페이스부(18)의 오접속을 검출할 수 있고 오접속을 한 상태에서의 시험 및 진단을 회피할 수 있다.
이상, 본 발명의 일측면을 실시형태를 이용해 설명했으나 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시형태에 기재된 범위에는 한정되지 않는다. 상기 실시형태에 다양한 변경 또는 개선을 할 수 있다. 이와 같은 변경 또는 개선을 한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있는 것이 청구범위의 기재로부터 분명하다.

Claims (12)

  1. 복수의 피시험 디바이스를 시험하는 시험장치에 있어서,
    상기 피시험 디바이스와의 사이에서 신호를 수수하는 시험모듈과,
    상기 피시험 디바이스에 접속되는 커넥터 및 상기 시험모듈 간을 접속하는 배선과, 해당 디바이스 인터페이스부의 종류를 나타내는 식별정보를 출력하는 식별정보 출력부를 가지는 교환가능한 디바이스 인터페이스부와,
    상기 시험모듈을 제어하는 제어장치를 구비하고,
    상기 시험모듈은
    대응하는 상기 디바이스 인터페이스부에서 상기 식별정보를 읽는 읽기부와,
    상기 읽기부에 의해 읽어진 상기 식별정보를 상기 제어장치로 반송하는 코멘드처리부를 갖는 시험장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    복수의 상기 시험모듈과,
    상기 복수의 시험모듈을 탑재하는 테스트 헤드와,
    복수의 상기 디바이스 인터페이스부를 추가로 구비하고,
    상기 디바이스 인터페이스부는 상기 테스트 헤드와 상기 복수의 시험모듈 사이에 설치되고 대응하는 상기 피시험 디바이스에 접속되는 상기 테스트 헤드 커넥터 및 상기 시험모듈 간을 접속하는 배선과, 해당 디바이스 인터페이스부의 종류를 나타내는 식별정보를 출력하는 식별정보 출력부를 각각 가지며 대응하는 상기 피시험 디바이스 및 상기 시험모듈에 따라 교환가능하며,
    상기 제어장치는 상기 복수의 시험모듈에 접속되어 상기 시험모듈을 제어하고,
    상기 코멘드처리부는 상기 제어장치에서 대응하는 상기 디바이스 인터페이스부의 상기 식별정보를 반송할 것을 요구하는 요구 코멘드를 상기 제어장치에서 수신함에 따라 상기 읽기부에 의해 읽어진 상기 식별정보를 상기 제어장치에 반송하는 시험장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    각각의 상기 디바이스 인터페이스부의 상기 식별정보 출력부는 상기 식별정보를 기억한 메모리를 포함하는 시험장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    각각의 상기 시험모듈은 대응하는 상기 디바이스 인터페이스부 상의 상기 메모리를 동작시키는 동작전압을 공급하는 시험장치.
  5. 제 4항에 있어서,
    각각의 상기 시험모듈은
    대응하는 상기 피시험 디바이스에 대해 시험신호를 출력하고, 상기 피시험 디바이스가 상기 시험신호에 따라 출력하는 출력신호를 입력하는 복수의 신호입출력부와,
    대응하는 상기 디바이스 인터페이스부에서 상기 식별정보를 읽는 경우에 적어도 하나의 상기 신호입출력부를 상기 메모리에 접속하고, 대응하는 상기 피시험 디바이스를 시험하는 경우에 상기 적어도 하나의 신호입출력부를 상기 피시험 디바이스에 접속하는 전환부를 추가로 갖는 시험장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    각각의 상기 시험모듈은
    상기 읽기부가 읽은 상기 식별정보를 기억하는 식별정보 레지스터를 추가로 가지며,
    상기 읽기부는 상기 식별정보를 반송할 것을 요구하는 상기 요구 코멘드의 수신에 앞서서 상기 전환부에 의해 상기 적어도 하나의 신호입출력부를 상기 메모리에 접속해서 상기 적어도 하나의 신호입출력부를 통해 상기 식별정보를 읽어 내 상기 식별정보 레지스터에 격납하고,
    상기 코멘드처리부는 상기 요구 코멘드를 상기 제어장치에서 수신함에 따라, 상기 식별정보 레지스터에 격납된 상기 식별정보를 상기 제어장치에 반송하는 시험장치.
  7. 제 2항에 있어서,
    각각의 상기 디바이스 인터페이스부의 상기 식별정보 출력부는 상기 식별정보 출력부와 상기 읽기부를 접속하는 복수의 신호선의 각각의 전위를 상기 식별정보의 각 비트 값에 따라 정하는 시험장치.
  8. 제 2항에 있어서,
    상기 제어장치는
    상기 요구 코멘드를 제어대상의 상기 시험모듈에 송신하는 코멘드송신부와,
    제어대상의 상기 시험모듈에서 반송된 상기 식별정보에 기초해 상기 제어장치 상에서 실행되어 제어대상의 상기 시험모듈을 제어하는 제어프로그램에 적합한 상기 디바이스 인터페이스부가 제어대상의 상기 시험모듈에 접속되어 있는지의 여부를 판정하는 판정부를 갖는 시험장치.
  9. 제 2항에 있어서,
    상기 제어장치는
    상기 요구 코멘드를 제어대상의 상기 시험모듈에 송신하는 코멘드송신부와,
    제어대상의 상기 시험모듈에서 반송된 상기 식별정보에 대응되어진 진단프로그램을 선택해서 실행하고, 상기 식별정보에 의해 특정되는 상기 디바이스 인터페이스부 및 제어대상의 상기 시험모듈을 진단하는 진단처리부를 갖는 시험장치.
  10. 제 2항에 있어서,
    상기 제어장치는
    각각의 상기 시험모듈에 접속되어야 하는 상기 디바이스 인터페이스부를 나타내는 식별정보를 기억하는 설정파일을 격납하는 기억장치와,
    상기 식별정보를 반송할 것을 요구하는 코멘드를 제어대상의 상기 시험모듈에 송신하는 코멘드송신부와,
    제어대상의 상기 시험모듈에서 반송된 상기 식별정보가 상기 설정파일에 격납된, 제어대상의 상기 시험모듈에 접속되어야 하는 상기 디바이스 인터페이스를 나타내는 상기 식별정보와 다를 경우에 잘못된 상기 디바이스 인터페이스부가 접속되어 있는 내용의 이상을 검출하는 이상검출부를 갖는 시험장치.
  11. 피시험 디바이스를 시험하는 시험장치에 이용되고, 상기 피시험 디바이스와의 사이에서 신호를 수수하는 시험모듈과, 상기 피시험 디바이스에 접속되는 커넥터와의 사이를 접속하는 배선을 갖는 디바이스 인터페이스로서,
    상기 디바이스 인터페이스의 종류를 식별하고, 상기 시험모듈에 의해 읽어진 식별정보를 출력하는 식별정보 출력부를 구비한 디바이스 인터페이스.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 시험모듈에서 공급되는 동작전압에 의해 동작하는 상기 식별정보를 기억한 메모리를 추가로 구비하는 디바이스 인터페이스.
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