KR20080106865A - 안과 장치 - Google Patents

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Abstract

과제
피검자 눈의 특성, 장치의 설치 환경 등에 구애받지 않고 피검자 눈에 대한 장치의 얼라인먼트를 용이하게 실시한다.
해결 수단
안과 장치는, 피검자 눈의 검사 또는 측정을 실시하기 위한 측정부와, 피검자 눈의 전안부에 소정 형상의 얼라인먼트 지표를 투영시키는 투영 광학계와, 투영된 얼라인먼트 지표 이미지를 포함하는 전안부 이미지를 이차원 촬상 소자로 촬상하는 촬상 광학계와, 촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하여 얼라인먼트 지표 이미지를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 피검자 눈에 대한 측정부의 얼라인먼트 상태를 검출하는 연산 제어부를 갖고, 연산 제어부는, 촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하는 화상에 있어서의 이차원적인 휘도 분포를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 얼라인먼트 지표를 검출할 수 있게 되도록, 얼라인먼트 지표의 투영 광량과 촬상 소자의 게인의 적어도 일방을 바꾼다.

Description

안과 장치 {OPHTHALMOLOGY APPARATUS}
본 발명은 피검자 눈의 검사 또는 측정을 실시하는 안과 장치에 관한 것이다.
안굴절력 측정 장치 (refractometer), 안압계 (tonometer), 안저 카메라 (fundus camera) 등의 피검자 눈의 검사 또는 측정을 실시하는 안과 장치에 있어서, 피검자 눈의 전안부 (각막) 에 투영된 스폿형, 링형 등의 얼라인먼트 지표 이미지를 전안부 이미지와 함께 이차원 촬상 소자로 촬상함으로써 피검자 눈에 대한 장치의 얼라인먼트 상태를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 피검자 눈에 대한 장치의 얼라인먼트를 자동적으로 실시하는 것이 알려져 있다.
이러한 장치에서는 얼라인먼트 지표의 광이 전안부 조명용 광으로서 겸용되고 있는 경우가 많다. 이 때문에, 전안부 이미지가 밝게 표시되거나 얼라인먼트 지표 이미지가 선명히 촬상되거나 하도록, 얼라인먼트 지표의 투영 광량 및/또는 얼라인먼트 지표 이미지를 포함하는 전안부 이미지를 촬상하는 이차원 촬상 소자의 게인이 조금 높게 설정된다. 그러나, 얼라인먼트 지표의 투영 광량 및/또는 촬상 소자의 게인이 조금 높게 설정되면, 피검자 눈의 특성, 장치의 설치 환 경 등에 따라서는 전안부로부터의 산란광 (노이즈광) 에 의해 얼라인먼트 지표 이미지를 검출할 수 없게 될 우려가 있다. 예를 들어, 피검자 눈이 작은 동공눈인 경우, 얼라인먼트 지표 (특히 링형 얼라인먼트 지표) 의 광이 피검자 눈의 홍채에서 반사되어 산란광으로 되어 촬상 소자에 입사하고, 얼라인먼트 지표 이미지의 검출에 악영향을 미칠 우려가 있다. 또, 장치가 설치된 방의 전등 (조명) 의 광 등의 외부 광의 광량이 강한 경우, 외부광이 전안부에서 반사되어 산란광으로 되고 촬상 소자에 입사되어, 얼라인먼트 지표 이미지의 검출에 악영향을 미칠 우려가 있다.
본 발명은 피검자 눈의 특성, 장치의 설치 환경 등에 구애받지 않고 피검자 눈에 대한 장치의 얼라인먼트를 용이하게 실시할 수 있는 안과 장치를 제공하는 것을 기술 과제로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은, 이하와 같은 구성을 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 안과 장치는, 피검자 눈의 검사 또는 측정을 실시하기 위한 측정부와, 피검자 눈의 전안부에 소정 형상의 얼라인먼트 지표를 투영시키는 투영 광학계와, 투영된 얼라인먼트 지표 이미지를 포함하는 전안부 이미지를 이차원 촬상 소자로 촬상하는 촬상 광학계와, 촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하여 얼라인먼트 지표 이미지를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 피검자 눈에 대한 측정부의 얼라인먼트 상태를 검출하는 연산 제어부를 갖고, 연산 제어부는, 촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하는 화상에 있어서의 이차원적인 휘도 분포를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 얼라인먼트 지표를 검출가능하도록, 얼라인먼트 지표의 투영 광량과 촬상 소자의 게인의 적어도 일방을 바꾼다.
이러한 안과 장치에 있어서, 연산 제어부는, 화상에 있어서의 각 화소 또는 각 영역의 휘도로부터 화상 전체의 이차원적인 휘도 분포를 검출하고, 검출된 휘도 분포에 있어서의 소정 임계값을 초과하는 휘도의 비율을 구하고, 얻어진 비율에 기 초하여 투영 광량 및 게인의 적어도 일방을 바꾼다.
이러한 안과 장치에 있어서, 임계값은, 얼라인먼트 지표 이미지의 휘도만이 초과하는 휘도값에 기초하여 결정되고 있다.
이러한 안과 장치에 있어서, 연산 제어부는, 촬상 소자의 촬상 레이트에 맞춰 투영 광량 및 게인의 적어도 일방을 단계적으로 낮춘다.
이러한 안과 장치에 있어서, 연산 제어부는, 얼라인먼트 지표 이미지의 사이즈를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 투영 광량 및 게인의 적어도 일방을 바꾼다.
이러한 안과 장치에 있어서, 투영 광학계가 갖는 얼라인먼트 지표 투영용의 광원은, 전안부 조명용의 광원을 겸한다.
본 발명의 일 실시양태를 도면에 기초하여 설명한다. 도 1 은 본 발명의 실시양태인 안과 장치의 개략 구성도이다. 안과 장치 (100) 는 거치형 안과 장치로서, 기대 (基臺) (1) 와, 기대 (1) 에 장착된 얼굴 (헤드부) 지지부 (2) 와, 기대 (1) 위에 이동할 수 있게 배치된 이동대 (3) 와, 이동대 (3) 상에 이동할 수 있게 배치된 측정부 (검사부) (4) 를 갖는다. 측정부 (4) 는 후술하는 광학계를 수납한다. 이동대 (3) 는, 조이스틱 (5) 의 경도 (傾倒) 조작에 의해, 기대 (1) 위를 피검자 눈 (E) 에 대해 좌우 방향 (이하, X 방향) 및 전후 방향 (작동 거리 방향, 이하, Z 방향) 으로 이동된다. 측정부 (4) 는 회전 노브 (5a) 의 회전 조작에 의해 이동대 (3) 위를 눈 (E) 에 대해 상하 방향 (이하, Y 방향) 으로 이동된다. 또, 측정부 (4) 는 이동대 (3) 에 형성된 이동 기구부 (6) 의 구동에 의해 이동대 (3) 상을 눈 (E) 에 대해 X, Y 및 Z 방향으로 이동된다. 조이스틱 (5) 의 꼭대기부에는 측정 개시 스위치 (5b) 가 형성되어 있다. 또, 이동대 (3) 에는 모니터 (디스플레이) (40) 가 형성되어 있다.
도 2 는, 안과 장치 (100) 의 광학계 및 제어계의 개략 구성도이다. 측정부 (4) (및 이동대 (3)) 의 이동에 의해 눈 (E) 의 전방에 배치되는 다이크로익 미러 (9) 의 투과 광로 (O1) 상에는 안굴절력 측정 광학계 (10) 가 배치되어 있다. 측정 광학계 (10) 는 눈 (E) 의 안저 (眼底) (Ef) 에 근적외의 측정 지표를 투영시키고, 투영된 측정 지표 이미지를 촬상 소자 (수광 소자) 로 촬상 (수광) 하는 광학계로서, 촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하여 눈 (E) 의 안굴절력이 구해진다.
다이크로익 미러 (9) 의 반사광로 (02) 상에는 대물렌즈 (11) 와, 다이크로익 미러 (12) 가 배치되어 있다. 다이크로익 미러 (12) 의 투과 광로 (O3) 상에는 전체 반사 미러 (13) 와, 눈 (E) 에 고시표 (固視標) 를 고시시키기 위한 도시하지 않은 고시표 투영 광학계가 배치되어 있다. 다이크로익 미러 (12) 의 반사광로 (O4) 상에는 결상 렌즈 (21) 와, 눈 (E) 의 전안부 부근과 거의 공액인 위치에 배치된 에어리어 CCD 등의 이차원 촬상 소자 (22) 를 갖는 관찰 광학계 (촬상 광학계) (20) 가 배치되어 있다.
또, 측정부 (4) (및 이동대 (3)) 의 이동에 의해 얼라인먼트 지표 투영 광학계 (30) 가 눈 (E) 의 전방에 배치된다. 투영 광학계 (30) 는 눈 (E) 의 각막 (Ec) 에 유한원 지표인 근적외 링형 얼라인먼트 지표를 투영시키는 투영 광학계 (31) 와, 각막 (Ec) 에 무한원 지표인 근적외 스폿형 얼라인먼트 지표를 투영시키는 투영 광학계 (32) 가 측정 광학계 (10) 의 측정 광축 (L1) 에 대해 좌우 대칭으로 배치되어 있다. 투영 광학계 (31) 는 전안부를 조명하는 광학계를 겸하고 있다. 또한, 본 실시양태에서는, 모니터 (40) 에 표시되는 전안부 이미지 (관찰 이미지) 를 전체적으로 밝게 비추어내도록, 투영 광학계 (30) 에 의한 얼라인먼트 지표의 투영 광량이 조금 높게 설정되어 있다.
또한, 다이크로익 미러 (9) 는 측정 광학계 (10) 가 갖는 측정 지표 투영용 광원으로부터의 근적외광을 투과시키고, 투영 광학계 (30) 가 갖는 얼라인먼트 지표 투영용 (전안부 조명용) 의 광원으로부터의 근적외광과 가시광 (고시표 광) 을 반사하는 파장 선택 특성을 갖는다. 또, 다이크로익 미러 (12) 는 가시광을 투과시키고 근적외광을 반사하는 파장 선택 특성을 갖는다.
투영 광학계 (30) 에 의해 투영된 얼라인먼트 지표 이미지를 포함하는 전안부 이미지는 촬상 소자 (22) 로 촬상된다.
연산 제어부 (70) 에는 각 광원, 측정 광학계 (10) 의 촬상 소자, 촬상 소자 (22), 화상 데이터, 측정 데이터 등을 기억하는 메모리 (71), 조이스틱 (5), 회전 노브 (5a), 측정 개시 스위치 (5b), 이동 기구부 (6), 모니터 (40), 스위치 (45) 등이 접속되어 있다. 연산 제어부 (70) 는, 측정 광학계 (10) 의 촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하여 눈 (E) 의 안굴절력을 구한다. 또, 연산 제어부 (70) 는 촬상 소자 (22) 로부터의 출력 신호에 기초하여 눈 (E) 의 전안부 이미지 를 모니터 (40) 에 표시시킨다.
이상과 같은 구성을 갖는 장치의 동작에 대해 설명한다. 피검자의 얼굴 (헤드부) 이 지지부 (2) 에 고정되어 눈 (E) 에서 고시표가 고시되면, 모니터 (40) 에 전안부 이미지가 표시되도록 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 얼라인먼트가 실시된다. 이로써, 모니터 (40) 에는 전안부 이미지 (F), 레티클 마크 (101), 투영 광학계 (31) 에 의해 투영된 링형 얼라인먼트 지표 이미지 (마이어링 이미지) (R), 투영 광학계 (32) 에 의해 투영된 스폿형 얼라인먼트 지표 이미지 (M), 표시 갯수의 변화에 의해 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 Z 방향의 얼라인먼트 상태를 나타내는 인디케이터 (G) 등이 표시된다 (도 3A 참조). 레티클 마크 (101) 및 인디케이터 (G) 는 연산 제어부 (70) 에 의해 형성되어 모니터 (40) 에 표시된다. 또한, 얼라인먼트 지표의 투영 광량은 촬상 소자 (22) 의 감도의 포화 레벨을 충분히 상회하도록 설정되어 있다.
연산 제어부 (70) 는, 촬상 소자 (22) 로부터의 출력 신호에 기초하여 지표 이미지 (R 및 M) 를 검출함으로써, 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 얼라인먼트 상태를 검출한다. 즉, 지표 이미지 (R) 의 중심 위치에 기초하여 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 X 및 Y 방향의 얼라인먼트 상태가 얻어진다. 또, 지표 이미지 (R) 의 간격과 지표 이미지 (M) 의 간격의 비교에 기초하여 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 Z 방향의 얼라인먼트 상태가 얻어진다 (상세하게는, US 5463430 (일본 공개특허공보 평6-46999호) 참조). 또한, 연산 제어부 (70) 는 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어진 화상 (전안부 이미지) 에 대해 패턴 매칭 등의 화상 처리를 실시함으 로써, 지표 이미지 (R 및 M) 의 유무를 판정하여 이들을 검출한다.
연산 제어부 (70) 는 얼라인먼트 상태의 검출 결과에 기초하여 이동 기구부 (6) 의 구동을 제어함으로써 측정부 (4) 를 이동시키고, 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 얼라인먼트를 자동적으로 실시한다. 그리고, 지표 이미지 (R) 가 레티클 마크 (101) 내로 들어와, 인디케이터 (G) 가 하나가 되어 얼라인먼트가 완료되면 (도 3B 참조), 연산 제어부 (70) 는 트리거 신호를 자동적으로 발하여 측정을 개시한다. 또한, 자동 얼라인먼트를 실시하는 경우, 연산 제어부 (70) 는 예를 들어 촬상 소자 (22) 의 촬상면과 측정 광축 (L1) 의 교점에 미리 정해진 얼라인먼트 기준 위치와 각막 (Ec) 의 중심 위치의 편차량을 구함으로써 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 얼라인먼트 편위량을 검출하고, 검출된 얼라인먼트 편위량이 소정의 허용 범위 내에 들어가도록 측정부 (4) 를 이동시킨다. 또한, 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 얼라인먼트는 수동으로 실시되는 것으로 되어, 연산 제어부 (70) 가 얼라인먼트 상태의 검출 결과에 기초하여 얼라인먼트의 완료를 판정하고, 그 판정 결과에 기초하여 측정 개시의 트리거 신호를 자동적으로 발하도록 해도 된다. 또, 얼라인먼트 상태의 검출 결과에 기초하여 모니터 (40) 에 얼라인먼트 정보를 표시시키도록 해도 된다.
이하에, 상기와 같은 얼라인먼트 상태의 검출이 전안부로부터의 산란광 (노이즈 광) 의 영향을 받는 경우의 동작에 대해서, 도 4 의 플로우 차트에 기초하여 설명한다. 예를 들어, 각막 (Ec) 에 투영된 지표 이미지 (R) 의 직경 (예를 들어, 2㎜) 보다 눈 (E) 의 동공의 직경 (예를 들어, 1.8㎜) 쪽이 작은 경우 (작은 동공눈인 경우) 이다.
상기와 같이 전안부 이미지 (F) 가 모니터 (40) 에 표시되도록 (촬상 소자 (22) 에 촬상됨) 얼라인먼트가 실시되면, 링형 얼라인먼트 지표의 일부 (또는 전부) 가 눈 (E) 의 홍채에서 반사되어 산란광으로 되어 촬상 소자 (22) 에 입사하는 경우가 있다 (도 5 참조).
도 6A 및 6B 는, 전안부 이미지 (F) 에서의 어느 수평 방향 화소의 각 휘도의 분포 (0 ∼ 255 계조) 의 예를 나타내는 도면이다. 지표 이미지 (R) 를 검출하기 위한 임계값 (S) 은 지표 이미지 (R) 주변의 휘도로서 전안부로부터의 산란광이 적은 경우에서의 휘도와, 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어지는 화상의 포화 레벨에 있어서의 휘도 (255) 의 중간 부근의 휘도값이 설정된다. 이로써, 고정밀도로 지표 이미지 (R) 를 검출할 수 있다. 도 5 와 같이 지표 이미지 (R) 가 홍채에 걸리는 경우, 홍채로부터의 산란광의 휘도가 지표 이미지 (R) 의 휘도와 동일한 정도의 휘도 (포화 레벨에서의 휘도) 또는 임계값 (S) 을 초과하는 휘도로 되어 버려, 지표 이미지 (R) 가 산란광에 의해 판별 불가능한 상태가 되고 (도 6A 참조), 연산 제어부 (70) 는 지표 이미지 (R) 를 검출할 수 없게 된다. 또, 검출할 수 있었다 하더라도 오검출할 우려가 있다.
그래서, 연산 제어부 (70) 는 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어진 화상 (전안부 이미지) 에 있어서의 이차원적인 휘도 분포를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 촬상 소자 (22) 의 게인 (촬상 소자 (22) 로부터의 출력 신호의 게인) 을 바꾼다.
연산 제어부 (70) 는, 촬상 소자 (22) 의 촬상 레이트 (프레임 레이트) 에 맞춰서 메모리 (71) 에 수시 기억되는 화상 데이터를 이차원적으로 주사함으로써, 화상에 있어서의 각 화소 (또는 각 영역) 의 휘도로부터 화상 전체의 휘도 분포를 검출한다. 이 경우, 소정의 휘도값을 임계값 (S) 로 하고, 검출된 휘도 분포에서의 임계값 (S) 을 초과하는 휘도의 비율을 구한다.
본 실시양태에서는 연산 제어부 (70) 는 화상 전체의 휘도 분포를 검출하고, 소정의 임계값 (S) (본 실시양태에서는 지표 이미지 (R) 를 검출하기 위한 임계값 (S) 과 동일) 을 초과하는 부분을 도출 (2 치화 처리) 하고, 임계값 (S) 을 초과하는 휘도의 화소수를 계측한다.
연산 제어부 (70) 는 화소의 계측수가 소정의 허용수 (허용 범위) 를 초과하고 있다고 판정된 경우에는 촬상 소자 (22) 의 게인을 소정량 낮춰 지표 이미지 (R) 의 검출을 실시한다. 또, 화소의 계측수가 허용수 내라고 판정된 경우에는 그대로 지표 이미지 (R) 의 검출을 실시한다. 예를 들어, 지표 이미지 (R 및 M) 의 휘도만이 임계값 (S) 을 초과하는 경우에서의 화소의 기준수가 미리 구해지고, 화소의 계측수가 화소의 기준수 부근인 경우나 화소의 기준수를 초과하고 있어도 얼라인먼트에 영향을 미치지 않는다고 여겨지는 경우 (화소의 기준수의 2 ∼ 4 배 정도의 경우) 에 허용수 내라고 판정된다. 또한, 각막 (Ec) 의 곡률, 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 Z 방향의 얼라인먼트 상태 등의 차이에 의한 지표 이미지 (R) 의 링폭의 변화의 영향을 억제하기 위해, 허용수 (허용 범위) 가 조금 높게 설정되어도 된다.
연산 제어부 (70) 는 지표 이미지 (R) 를 검출할 수 있는지 여부를 판정하 여, 지표 이미지 (R) 를 검출할 수 있으면 그 중심 위치를 검출하고 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 X 및 Y 방향의 얼라인먼트 상태를 검출하여 자동 얼라인먼트를 실시한다. 또, 지표 이미지 (R 및 M) 를 검출할 수 있으면, 지표 이미지 (R) 간격과 지표 이미지 (M) 간격을 검출하여 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 Z 방향의 얼라인먼트 상태를 검출하여 자동 얼라인먼트를 실시한다.
이상과 같이, 연산 제어부 (70) 는 측정이 완료될 때까지 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어지는 화상에 기초하여 상기와 같은 제어를 반복하여 실시한다. 이 경우, 연산 제어부 (70) 는 촬상 소자 (22) 의 촬상 레이트에 맞춰서 게인을 단계적으로 낮추고, 임계값 (S) 을 초과하는 휘도의 화소의 계측수가 허용수 내가 되면 게인 조정을 멈춘다. 이렇게 게인을 단계적으로 낮춤으로써, 모니터 (40) 에 표시되는 전안부 이미지의 전체적인 밝기의 급격한 변화가 억제된다. 또한, 게인을 최대한 낮춰도도 화소의 계측수가 허용수를 초과한 경우에는 연산 제어부 (70) 는 얼라인먼트 상태가 검출 불가능이라 간주하고, 예를 들어 수동 얼라인먼트를 추천하는 알림 (표시) 을 실시한다.
상기와 같이 하여 게인 조정이 이루어지면, 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어진 화상에 있어서, 지표 이미지 (R) 를 검출할 수 있게 된다 (도 6B 참조). 또한, 지표 이미지 (R) 의 휘도는 산란광 (노이즈 광) 의 휘도에 비해 매우 크기 때문에, 상기와 같이 게인이 낮추어져도 검출할 수 있다.
또한, 측정이 완료되어 측정 결과를 프린트 아웃하기 위한 프린트 스위치의 조작 신호 등의 소정의 측정 완료 신호가 입력되면, 연산 제어부 (70) 는 촬상 소 자 (22) 의 게인을 초기 상태로 되돌린다. 또, 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어진 화상에 있어서 임계값 (S) 을 초과하는 휘도의 화소를 계측할 수 없었던 경우에도 촬상 소자 (22) 의 게인이 초기 상태로 되돌려져도 된다.
이상와 같은 구성으로 하면, 눈 (E) 에 대한 측정부 (4) 의 얼라인먼트에 있어서, 얼라인먼트 지표의 투영 광량 및/또는 촬상 소자 (22) 의 게인이 조금 높게 설정되어 있어도 고정밀도로 얼라인먼트 상태를 검출할 수 있다.
또, 이상와 같은 구성은, 전안부에서 반사된 외부광이 산란광 (노이즈 광) 으로 되어 촬상 소자 (22) 에 입사하는 경우, 백내장 혼탁부에서 반사된 얼라인먼트 지표의 광이 산란광 (노이즈 광) 으로 되어 촬상 소자 (22) 에 입사하는 경우 등에서도 적용할 수 있다. 즉, 촬상 소자 (22) 에서 얻어진 화상의 이차원적인 휘도 분포의 검출에 기초하는 게인 조정에 의해 전안부 이미지 (F) 에 있어서의 지표 이미지 (R) 와 산란광 (노이즈 광) 성분을 분리할 수 있다.
또한, 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어진 화상의 이차원적인 휘도 분포를 검출하고, 검출 결과에 기초하여 게인을 조정하는지 여부를 판정하는 경우, 상기의 수법으로 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 촬상 소자 (22) 에 의해 얻어진 화상에서의 각 화소의 휘도의 적산치 (총합) 가 소정의 허용 범위 내인지 여부가 판정되도록 해도 되고, 각 화소의 휘도의 적산치를 화소수로 나눈 평균치가 소정의 허용 범위 내인지 여부가 판정되도록 해도 된다. 즉, 전안부 이미지 전체에서의 이차원적인 휘도 분포에 기초하여 전안부 이미지 (얼라인먼트용 화상) 이 얼라인먼트 상태의 검출에 영향을 미치는 정도의 노이즈 광을 포함하고 있는지 여부를 판정할 수 있으면 된다.
또, 이상의 설명에서는, 촬상 소자 (22) 의 게인이 조정되는 것으로 했지만, 투영 광학계 (30) (투영 광학계 (31 및/또는 32)) 에 의한 얼라인먼트 지표의 투영 광량이 조정되어도 된다. 단, 이 경우에는, 전안부에서 반사된 외부광에 의한 산란광의 영향은 억제할 수 없다.
또, 이상의 설명에서는 피검자 눈에 대한 장치 (측정부) 의 X 및 Y 방향의 얼라인먼트 상태를 검출하기 위해서, 링형 얼라인먼트 지표가 각막에 투영되는 것이었지만, 피검자 눈의 정면 방향에서 스폿형 얼라인먼트 지표가 각막에 투영되는 것 (예를 들어, 각막 정점에 휘점이 형성되는 것) 이어도 본 발명을 적용할 수 있다. 이 경우, 연산 제어부는, 얼라인먼트 지표 이미지의 사이즈를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 얼라인먼트 지표의 투영 광량 및/또는 촬상 소자의 게인을 바꿀 수도 있다. 즉, 소정의 임계값에 의해 2치화되었을 때의 얼라인먼트 지표 이미지의 사이즈가 소정의 허용 사이즈를 초과한 경우에는, 2치화되었을 때의 얼라인먼트 지표 이미지의 사이즈가 작아지도록, 촬상 소자의 게인을 낮출 수도 있다. 이로써, 피검자 눈의 동공 내에 혼탁이 있어 산란광이 발생하는 경우에도 얼라인먼트 지표 이미지의 검출 정밀도를 향상시킬 수 있다.
도 1 은 본 발명의 실시형태인 안과 장치의 개략 구성도이다.
도 2 는 안과 장치의 광학계 및 제어계의 개략 구성도이다.
도 3A 및 3B 는 모니터에 표시된 전안부 이미지 및 얼라인먼트 지표 이미지의 예를 나타내는 도면이다.
도 4 는 얼라인먼트 상태의 검출이 전안부로부터의 산란광의 영향을 받는 경우의 장치의 동작을 나타내는 플로우 차트이다.
도 5 는 모니터에 표시된 작은 동공눈의 전안부 이미지 및 얼라인먼트 지표 이미지의 예를 나타내는 도면이다.
도 6A 및 6B 는 이차원 촬상 소자에 의해 얻어진 화상의 휘도 분포의 예를 나타내는 도면이다.

Claims (6)

  1. 안과 장치는,
    피검자 눈의 검사 또는 측정을 실시하기 위한 측정부와,
    피검자 눈의 전안부에 소정 형상의 얼라인먼트 지표를 투영시키는 투영 광학계와,
    투영된 얼라인먼트 지표 이미지를 포함하는 전안부 이미지를 이차원 촬상 소자로 촬상하는 촬상 광학계와,
    촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하여 얼라인먼트 지표 이미지를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 피검자 눈에 대한 측정부의 얼라인먼트 상태를 검출하는 연산 제어부를 갖고,
    연산 제어부는, 촬상 소자로부터의 출력 신호에 기초하는 화상에 있어서의 이차원적인 휘도 분포를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 얼라인먼트 지표의 검출이 가능하도록, 얼라인먼트 지표의 투영 광량과 촬상 소자의 게인의 적어도 일방을 바꾸는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
  2. 제 1 항의 안과 장치에 있어서,
    연산 제어부는, 화상에 있어서의 각 화소 또는 각 영역의 휘도로부터 화상 전체의 이차원적인 휘도 분포를 검출하고, 검출된 휘도 분포에 있어서의 소정 임계값을 초과하는 휘도의 비율을 구하고, 얻어진 비율에 기초하여 투영 광량 및 게인 의 적어도 일방을 바꾸는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
  3. 제 2 항의 안과 장치에 있어서,
    임계값은, 얼라인먼트 지표 이미지의 휘도만이 초과하는 휘도값에 기초하여 결정되는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
  4. 제 1 항의 안과 장치에 있어서,
    연산 제어부는, 촬상 소자의 촬상 레이트에 맞춰 투영 광량 및 게인의 적어도 일방을 단계적으로 낮추는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
  5. 제 1 항의 안과 장치에 있어서,
    연산 제어부는, 얼라인먼트 지표 이미지의 사이즈를 검출하고, 그 검출 결과에 기초하여 투영 광량 및 게인의 적어도 일방을 바꾸는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
  6. 제 1 항의 안과 장치에 있어서,
    투영 광학계가 갖는 얼라인먼트 지표 투영용의 광원은, 전안부 조명용의 광원을 겸하는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
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