CN111479494B - 眼屈光力测定装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种眼屈光力测定装置，其包括测定光学系统，所述测定光学系统用于将测定光投射到受检眼眼底并接收所述测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力，所述眼屈光力测定装置包括：照明光源，配置在相对于所述测定光学系统的测定光轴倾斜30°以上的位置，用于对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明；以及观察光学系统，由所述照明光源照明，观察所述佩戴眼镜状态的受检眼前眼部，所述眼屈光力测定装置能够客观地测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力。

Description

眼屈光力测定装置

技术领域

本发明涉及一种测定受检眼的眼屈光力的眼屈光力测定装置。

背景技术

作为测定受检眼的眼屈光力的眼屈光力装置，提出了一种设想在佩戴眼镜状态下测定眼屈光力的装置(例如参照专利文献1)。

专利文献1：日本专利公开公报特开2001-161644号

并且，在上述装置中记载了如下例子：在测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的情况下，为了避免眼镜片的反射光，仅将用于角膜测定的八个红外光源中的三个用于前眼部照明。

但是，由于眼镜片的曲线、眼镜架的装配状态(例如眼镜片相对于眼镜架的配置角度)存在个人差，所以在该结构的情况下，眼镜片的反射光有可能包含于前眼部像。此外，相比于使八个红外光源点亮的情况，前眼部照明的光量不足，所以有可能难以进行相对于受检眼的校准。此外，未佩戴眼镜状态与佩戴眼镜状态之间的设定变更比较繁琐。

发明内容

本发明的技术课题在于提供一种在佩戴眼镜状态的眼屈光力的测定时能够解决现有技术的至少一个问题点的眼屈光力测定装置。

为了解决上述课题，本发明的特征在于具备以下结构。

(1)一种眼屈光力测定装置，包括测定光学系统，所述测定光学系统用于通过将测定光投射到受检眼眼底并接收所述测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力，所述眼屈光力测定装置的特征在于，包括：照明光源，配置在相对于所述测定光学系统的测定光轴倾斜30°以上的位置，用于对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明；以及观察光学系统，由所述照明光源照明，观察所述佩戴眼镜状态的受检眼前眼部，所述眼屈光力测定装置能够客观地测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力。

(2)一种眼屈光力测定装置，包括测定光学系统，所述测定光学系统用于通过将测定光投射到受检眼眼底并接收所述测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力，所述眼屈光力测定装置的特征在于，包括：环投影光学系统，用于将环标志投影到受检眼角膜的中心区域；照明光源，配置在比所述环投影光学系统更远离所述测定光轴的位置，用于对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明；以及观察光学系统，由所述照明光源照明，观察所述佩戴眼镜状态的受检眼前眼部，所述眼屈光力测定装置能够客观地测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力。

(3)一种眼屈光力测定装置，包括测定光学系统，所述测定光学系统用于通过将测定光投射到受检眼眼底并接收所述测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力，所述眼屈光力测定装置的特征在于，包括：检测器，检测有无眼镜片佩戴于受检眼；以及模式切换部件，基于来自所述检测器的检测信号，切换用于测定未佩戴眼镜状态的眼屈光力的第一测定模式和用于测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的第二测定模式。

按照本发明，即使在佩戴眼镜状态下，也能够顺畅地进行相对于受检眼的校准。

具体实施方式

下面，对本发明的本实施方式进行说明。

本实施方式的眼屈光力测定装置可以是能够客观地测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力的眼屈光力测定装置。眼屈光力测定装置例如可以包括眼屈光力测定光学系统，该眼屈光力测定光学系统用于通过将测定光投射到受检眼眼底并接收该测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力。在这种情况下，例如眼屈光力测定光学系统可以包括将测定光投射到受检眼眼底的投光光学系统和接收测定光的眼底反射光的受光光学系统。

眼屈光力测定装置可以包括用于观察受检眼的前眼部正面像的观察光学系统，可以是能够观察佩戴眼镜状态的前眼部正面像的观察光学系统。在这种情况下，例如观察光学系统可以是用于拍摄由前眼部照明进行照明的前眼部像的摄像元件。

眼屈光力测定装置可以包括用于对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明的照明光源。该照明光源可以是专用的前眼部照明光源，或者也可以是兼用于其他用途的前眼部照明光源。

用于对佩戴眼镜状态的前眼部进行照明的照明光源例如可以配置在相对于眼屈光力测定光学系统的测定光轴倾斜30°以上的位置。由此，例如与眼镜片的曲线、眼镜架的装配状态无关，减轻来自眼镜片的反射光导致的伪影。照明光源的配置角度例如可以规定为将配置在适当动作距离的受检眼的角膜中心和投影光学系统连接的直线与测定光轴L₁之间的角度。

眼屈光力测定装置可以包括将环标志投影到受检眼角膜的中心区域的环标志投影光学系统。受检眼角膜的中心区域可以是与距受检眼的角膜中心3.5mm的区域相比更靠内侧的角膜区域。投影到受检眼角膜的中心区域的环标志例如可以是迈耶环(マイヤーリング：meyer ring)标志，可以用于通过检查者的目视来判断圆锥角膜等。此外，环标志也可以用于对受检眼进行校准。此外，环标志也可以用于测定角膜形状。另外，环标志的投影可以用于对前眼部进行照明。另外，环标志投影光学系统可以是用于上述用途的至少任意一种的结构，也可以是用于两种以上用途的结构。另外，投影到角膜的中心区域的环标志只要是环状的标志即可，可以是连续的环(例如圆)，也可以是断续的环(例如配置成圆周状的多个点(例如六个点)所形成的断续的环)。

另外，用于对佩戴眼镜状态的前眼部进行照明的照明光源例如可以配置在比环投影光学系统更远离测定光轴的位置。由此，能够从比环标志更靠外侧进行前眼部照明。

眼屈光力测定装置可以包括控制环标志投影光学系统的控制部。在这种情况下，控制部可以控制环标志投影光学系统的环标志的投影。例如，控制部可以在测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力的情况下限制环标志的投影。更具体地说，控制部可以在设定为用于测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的测定模式的情况下限制环标志的投影。另外，测定模式的设定并不是必须的。

在这种情况下，例如控制部可以在限制环标志投影光学系统的环标志的投影的状态下，通过用于对佩戴眼镜状态的前眼部进行照明的照明光源进行前眼部照明。此外，控制部可以利用测定光学系统来测定由该照明光源照明的佩戴眼镜时的受检眼的眼屈光力。更具体地说，控制部可以在限制环投影光学系统的环标志的投影的状态下，通过用于对佩戴眼镜状态的前眼部进行照明的照明光源进行前眼部照明，相对于被限制了环标志的投影的前眼部进行自动校准，在自动校准完成后，利用测定光学系统来测定佩戴眼镜时的受检眼的眼屈光力。当然不限于此，在手动校准中也能够应用本实施方式。

眼屈光力测定装置可以设置检测有无眼镜片佩戴于受检眼的检测器。检测器例如可以是观察光学系统的摄像元件，也可以是与观察光学系统独立设置的检测器。检测器可以是以光学方式检测有无的结构，也可以利用超声波或磁等其他方法检测有无佩戴。另外，通过使用观察光学系统的摄像元件，从而能够简化装置结构。此外，检测器例如可以通过检测来自眼镜片或眼镜架的反射来检测有无佩戴。

控制部可以基于来自检测有无佩戴的检测器的检测信号来切换测定模式。例如，控制部可以基于检测信号，切换用于测定未佩戴眼镜状态的眼屈光力的第一测定模式和用于测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的第二测定模式。另外，控制部可以在基于检测信号辨别为有佩戴的情况下设定为第二测定模式。由此，能够顺畅地进行测定模式的切换。

控制部可以基于来自检测有无佩戴的检测器的检测信号，控制环投影光学系统的环标志的投影。另外，控制部可以在基于检测信号辨别为有佩戴的情况下限制环标志的投影。

另外，用于对佩戴眼镜状态的前眼部进行照明的照明光源不限于配置在相对于眼屈光力测定光学系统的测定光轴倾斜30°以上的位置的情况，只要是配置在比环投影光学系统更远离测定光轴的位置的结构，就能够应用本实施方式，例如也能够使用如上所述的各种控制等。另外，通过使用点光源作为照明光源，从而与环标志的投影相比能够减轻眼镜片导致的伪影。

眼屈光力测定装置例如可以包括模式切换部，该模式切换部切换用于测定未佩戴眼镜状态的眼屈光力的第一测定模式和用于测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的第二测定模式。

控制部可以将有无佩戴眼镜与测定光学系统的测定结果相关联地输出。输出方法例如可以考虑文字、颜色、符号等，但是当然不限于此。在这种情况下，例如控制部可以根据测定模式辨别测定光学系统的测定结果并输出。由此，根据得到的测定结果，能够容易地辨别有无佩戴眼镜。

<实施例>

以下参照附图，对本发明实施方式的实施例进行说明。在以下的实施例中，作为一例举例说明了客观地测定受检眼E的眼屈光力的眼屈光力测定装置1。另外，眼屈光力测定装置例如包括自动验光仪、眼像差计等。

首先，参照图1，表示了眼屈光力测定装置1的外观结构的一例。图1所示的眼屈光力测定装置1是所谓的固定式装置。眼屈光力测定装置1主要具有测定部8。测定部8至少设置有测定眼特性时所利用的光学系统，详细情况如后所述。另外，眼屈光力测定装置1也可以是手持式装置。

此外，在图1的例子中，眼屈光力测定装置1还具有基台2、脸支承单元4、移动台6、驱动部7、操纵杆9和监视器70。

移动台6由基台2支承。利用操纵杆9的操作，使移动台6在基台2上沿着上下方向(Y方向)和前后方向(Z方向)移动。此外，在基台2固定有脸支承单元4。如图1所示，脸支承单元4用于在使受检眼E与测定部8相对的状态下支承受检者的脸。驱动部7使测定部8相对于受检眼E在左右方向(X方向)、上下方向(Y方向)和前后方向(Z方向)移动。通过由检查者使设置于操纵杆9的旋钮9a转动，从而利用驱动部7使测定部8在Y方向移动。此外，在操纵杆9的顶部设置有开关9b。监视器70显示在测定部8中拍摄的受检眼E的观察像和测定部8测定受检眼E的测定结果等各种信息。

接着，参照图2，说明眼屈光力测定装置1的测定部8所具有的光学系统。测定部8主要具有测定光学系统10和观察光学系统(摄像光学系统)50。此外，图2中的测定部8具有固定视标呈现光学系统30、环标志投影光学系统45、动作距离标志投影光学系统46和照明光源48。

图2所示的测定光学系统10用于测定受检眼的眼屈光力。在图2所示的测定光学系统10中，测定轴是L₁所示的光轴。图2所示的测定光学系统10具有投光光学系统10a和受光光学系统10b。投光光学系统10a将测定光束经由受检眼E的瞳孔投影到受检眼E的眼底E_r。此外，受光光学系统10b将测定光束的眼底反射光作为环状的眼底反射像并由二维摄像元件22(检测器的一例)进行拍摄。环像可以是连续的环像，也可以是断续的环像(例如多个点所形成的断续的环像)。

例如，投光光学系统10a包括测定光源11、中继透镜12、孔镜13和物镜14。受光光学系统10b与投光光学系统10a共用孔镜13和物镜14。此外，受光光学系统10b包括中继透镜16、全反射镜17、受光光圈18、准直透镜19、环透镜20和二维摄像元件22(以下称为“摄像元件22”)。这些测定光学系统10在图2的例子中设置在分色镜29的透射方向。

受光光学系统10b的环透镜20是用于将眼底反射光整形成环状的光学元件。环透镜20具有形成为环状的透镜部和在透镜部以外的区域实施了遮光用的涂布的遮光部。此外，环透镜20成为与受检眼E的瞳孔光学共轭的位置关系。经由环透镜20的环状的眼底反射光(即二维图案像)被摄像元件22接收。摄像元件22将接收到的二维图案像的图像信息输出到控制部80。由此，能够使监视器70显示二维图案像，或者基于二维图案像算出受检眼E的屈光力。另外，摄像元件22能够使用面阵CCD等受光元件。

另外，测定光学系统10不限于上述结构，用于客观地测定眼屈光力的结构可以使用各种公知的结构。此外，客观地测定眼屈光力的测定光学系统10也可以是能够测定包括受检眼的高阶像差的眼像差测定光学系统，例如可以是包括夏克-哈特曼传感器的结构。当然，也可以利用其他测定方式的装置(例如投影狭缝的相位差方式的装置)。

在物镜14与孔镜13之间配置有分束器29。分束器29将来自后述的固定视标呈现光学系统30的光束引导到受检眼E，并将来自受检眼E的前眼部E_c的反射光引导到观察光学系统50。此外，分束器29反射从光源11射出且被眼底E_r反射的眼底反射光的一部分并引导到观察光学系统50，并且透射其他的眼底反射光并引导到受光光学系统10b。

固定视标呈现光学系统30是用于使受检眼E固视的固视光学系统。固定视标呈现光学系统30包括可见光源31、固定视标板32、投光透镜33、分束器29和物镜14。通过点亮可见光源31，从而固定视标板32所具有的固定视标呈现于受检眼E。可见光源31和固定视标板32构成为利用未图示的滑动机构而能够在光轴L₃方向移动。通过使可见光源31和固定视标板32在光轴L₃方向移动，从而进行受检眼E的雾视。

图3是表示测定部8的受检者侧框体面的一例的概略图。在受检眼E的前眼部的前方配置有作为校准标志投影光学系统的一例的环标志投影光学系统45和动作距离标志投影光学系统46。环标志投影光学系统45用于将环标志投影到受检眼角膜的中心区域。环标志投影光学系统45例如可以是将迈耶环投影到受检眼的投影光学系统。

关于环标志投影光学系统45的配置角度，用于投影内侧的环标志的投影光学系统45a例如可以构成为将环标志R1投影到与受检眼的角膜中心相距第一距离的区域。在这种情况下，环标志投影光学系统45a例如可以是配置成相对于测定光轴L₁倾斜第一角度(例如16度)的结构。另外，第一距离例如可以设定在1.5mm～2.7mm之间。

用于投影外侧的环标志的投影光学系统45b例如可以构成为将环标志R2投影到与受检眼的角膜中心相距第二距离的区域。第二距离与第一距离不同。在这种情况下，环标志投影光学系统45a例如可以是配置成相对于测定光轴L₁倾斜与第一角度不同的第二角度(例如27度)的结构。另外，第二距离例如可以设定在2.8mm～3.5mm之间。

另外，在本实施例中，采用了投影同心圆状的两个环标志的光学系统(45a、45b)，但是并不限于此，环标志投影光学系统45也可以是投影单一的环标志的结构，还可以是投影同心圆状的三个以上的环标志的结构。此外，被投影环标志的角膜上的区域不限于上述区域。另外，倾斜角度根据受检眼与测定部8之间的预先设定的适当动作距离而变化，不限于上述倾斜角度。

在本实施例中，环标志投影光学系统45将红外光(例如近红外光)以环状投影到角膜E_c。其结果，如图4所示，环标志像形成在角膜E_c上。角膜顶点(大致角膜顶点)被检测为环像的中心位置。

投影到角膜的环标志例如可以用于由检查者的目视来判断圆锥角膜等。此外，环标志也可以用作对受检眼进行校准的校准标志。此外，环标志也可以用作角膜形状测定用的标志。另外，环投影光学系统45可以用作对受检眼E的前眼部进行照明的前眼部照明。

动作距离标志投影光学系统46例如用于投影进行动作距离方向的校准的标志。投影到角膜的校准标志用于相对于受检眼的位置对准(例如自动校准、校准检测、手动校准等)。投影光学系统46a是用于将有限远标志Y1、Y2投影到受检眼E的角膜E_c的光学系统，投影光学系统46b是用于将无限远标志M1、M2投影到受检眼E的角膜E_c的光学系统。动作距离标志投影光学系统46例如使用红外光(例如近红外光)。在本实施例中，动作距离标志投影光学系统46形成在离开环标志的位置，但是不限于此，例如也可以在环标志投影光学系统45的缝隙部分设置投影无限远标志的投影光学系统，并使用环标志和无限远标志进行动作距离方向的校准。

<用于佩戴眼镜状态的前眼部照明光源>

照明光源48例如可以用作对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明的光源。照明光源48配置在如下的位置：设定成能够避免由照明光引起的来自眼镜片的反射光包含于前眼部像。由此，即使在佩戴眼镜状态下，也能够顺畅地进行相对于受检眼的校准。照明光源48可以是红外光源，也可以是可见光源。

在这种情况下，例如照明光源48可以配置在相对于测定光学系统10的测定光轴L₁倾斜30°以上的位置。由此，由照明光源48引起的来自眼镜片的反射像形成在离开测定光轴L₁的位置，所以该反射像不包含于前眼部图像，或者即使包含于前眼部图像也形成在前眼部图像的周边部。其结果，减轻了对受检眼进行校准时的伪影。另外，在前眼部图像的周边部形成有伪影的情况下，伪影不包含于前眼部图像的中心部，容易进行向角膜中心、瞳孔中心等的校准。

另外，由于相对于眼镜片的入射角度变大，所以与眼镜片的曲线、眼镜架的装配状态无关，在使用观察光学系统50的校准中，不容易受到来自眼镜片的反射光的影响。另外，在减轻伪影的方面，更优选的是，照明光源48可以配置在相对于测定光学系统10的测定光轴L₁倾斜35°以上的位置。由此，成为来自眼镜片的反射像不包含于前眼部像的状态的可能性提高。

在本实施例中，例如照明光源48可以配置在比环标志投影光学系统45更远离测定光轴L₁的位置。投影光学系统45配置在接近测定光轴L₁的位置，由环标志投影光学系统45引起的来自眼镜片的反射光容易朝向检查窗，其结果，来自眼镜片的反射光容易包含于摄像元件52。对此，照明光源48比环标志投影光学系统45更远离测定光轴L₁，由照明光源48引起的来自眼镜片的反射光不容易朝向检查窗，其结果，来自眼镜片的反射光不容易包含于前眼部。照明光源48例如可以是相对于测定光轴L₁以比环标志投影光学系统45大的角度倾斜配置的结构(图2中设定为50度～60度)。在这种情况下，例示的配置角度仅为一例，可以考虑所设定的适当动作距离、由照明光源48引起的来自眼镜片的反射光的影响来适当设定。

另外，在本发明人的实验中，发现了如下情况(例如参照图6)：在通常用于眼屈光力测定装置的迈耶环投影光学系统的情况下，当在前眼部像中产生了由该投影光学系统引起的来自眼镜片的反射像时(例如参照图5)，熄灭迈耶环投影光学系统的环照明，将比迈耶环投影光学系统更靠外侧的照明光源配置为前眼部照明，由此能够减轻来自眼镜片的反射像的产生。

在上述结构中，在测定佩戴眼镜状态的受检眼的情况下，熄灭环标志投影光学系统45，并将照明光源48用作前眼部照明，由此能够对佩戴眼镜状态的受检眼顺畅地进行校准。此外，在测定未佩戴眼镜状态的受检眼的情况下，通过使用环标志投影光学系统45，从而能够进行使用环标志的校准、圆锥角膜等的确认等(照明光源48可以点亮)。

照明光源48例如可以是点光源。此外，照明光源48能够以测定光轴L₁为中心左右对称地配置点光源。利用点光源，能够减小反射像的面积，因此能够更可靠地减轻来自眼镜片的反射导致的伪影。当然，照明光源48并不限于点光源，也可以是环状的光源，还可以是线状的光源。

另外，照明光源48可以兼用作测量受检眼的角膜直径或瞳孔直径时对前眼部进行照明的前眼部照明。一般来说，测量角膜直径或瞳孔直径时使用的前眼部照明配置在距测定光轴L₁较远的位置，以在角膜与巩膜的边界、或瞳孔与虹膜的边界形成标志。因此，将测量角膜直径或瞳孔直径时使用的前眼部照明用作测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力时的前眼部照明，进行相对于受检眼前眼部的校准，由此能够减轻来自眼镜片的反射光，从而进行顺畅的校准。

观察光学系统(摄像光学系统)50具有拍摄受检眼E的前眼部的正面图像的摄像元件52。在本实施方式中，观察光学系统50与固定视标呈现光学系统30共用物镜14和分束器29。此外，观察光学系统50包括半透半反镜35、摄像透镜51和二维摄像元件52(以下称为“摄像元件52”)。摄像元件52是具有配置在与受检眼E的前眼部大致共轭的位置的摄像面的受光元件。由该摄像元件52拍摄受检眼E的前眼部的正面图像。来自摄像元件52的输出被输入到控制部80。其结果，由摄像元件52拍摄的正面图像的动态图像作为观察图像显示在监视器70上。另外，在本实施方式中，观察光学系统50兼用作检测由标志投影光学系统45、46形成于受检眼E的角膜E_c的校准标志像(在本实施方式中为环标志和无限远标志)的光学系统。基于摄像元件52拍摄校准标志像的摄像结果来检测校准标志像的位置。另外，观察光学系统50能够拍摄由照明光源48照明的佩戴眼镜状态的受检眼前眼部的正面像。

接着，参照图2，对眼屈光力测定装置1的控制系统进行说明。眼屈光力测定装置1由控制部80进行各部的控制。控制部80是具有进行各部的控制处理和运算处理的电子电路的处理装置(处理器)。控制部80由CPU(Central Processing Unit：中央处理器)和存储器等实现。控制部80分别与光源11、31、摄像元件22、52、移动台6和驱动部7、操纵杆9、监视器70、操作部90、以及存储器105电连接。

存储器105可以是能够重写的非易失性存储装置。在存储器105中可以至少存储用于使控制部80执行测定动作的程序。

控制部80基于从操作部90输出的操作信号，控制眼屈光力测定装置1的各部件。操作部90可以是触摸面板和鼠标等定点设备，也可以是键盘等。

在本实施例中，控制部80能够自动或手动地切换用于测定未佩戴眼镜状态的眼屈光力的第一测定模式和用于测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的第二测定模式。例如，控制部80可以基于来自操作部90的操作信号切换测定模式。

此外，控制部80可以根据所切换的模式来控制环标志投影光学系统45。例如，控制部80可以在设定为第一测定模式的情况下向受检眼投影环标志。例如，控制部80可以在设定为第二测定模式的情况下限制向受检眼投影环标志。

另外，在控制向受检眼投影环标志的情况下，例如可以控制环标志投影光学系统45的光源的点亮/熄灭，也可以控制配置在光源与受检眼之间的快门等的遮蔽/非遮蔽。此外，在限制环标志的投影的情况下，除了完全限制向受检眼的投影的结构以外，也包括以由环标志引起的来自眼镜片的反射光不影响校准的程度来减少环标志的投影光的结构。在这种情况下，可以限制环标志整体的投影，也可以限制环标志的一部分的投影。

在本实施例中，控制部80能够自动或手动地切换用于将测定部8相对于未佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行校准的第一校准模式和用于将测定部8相对于佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行校准的第二校准模式。例如，控制部80可以基于来自操作部90的操作信号来切换校准模式。

此外，控制部80可以根据所切换的模式，切换用于检测测定部8相对于受检眼的校准状态的校准检测方法。例如，控制部80可以在设定为第一校准模式的情况下，使用投影到受检眼前眼部的环标志来检测校准状态。例如，控制部80可以在设定为第二校准模式的情况下，使用由照明光源48照明的受检眼前眼部的特征部(例如瞳孔、虹膜等)来检测校准状态。此外，控制部80可以在设定为第二校准模式的情况下，使用由照明光源48形成在前眼部上的角膜亮点来检测校准状态。

另外，控制部80可以基于以上述方式检测到的校准状态的检测结果来控制驱动部7，由此进行测定部8相对于受检眼的自动校准。此外，控制部80可以向检查者通知以上述方式检测到的校准状态的检测结果(例如可以将检测结果以电子方式显示于监视器70)。

另外，关于模式设定，可以与向第一测定模式的切换联动而设定为第一校准模式，并且可以与向第二测定模式的切换联动而设定为第二校准模式。

此外，并不限于上述方式，在眼屈光力测定装置中，可以设定第一测定模式与第一校准模式一体化的第一模式，并且可以设定第二测定模式与第二校准模式一体化的第二模式。此外，也可以分别独立地设定第一测定模式、第一校准模式、第二测定模式、第二校准模式。

<装置的动作>

对具备上述结构的装置的动作的一例进行说明。图7是说明本实施例的装置的动作的流程图。在以下的说明中，说明测定未佩戴眼镜的受检眼亦即未佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力的情况和测定佩戴了眼镜的受检眼亦即佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力的情况。在此，佩戴眼镜状态的受检眼设想为借助眼镜架在眼前配置有眼镜片的状态的受检眼。

<第一测定模式>

在测定未佩戴眼镜状态的受检眼的情况下，检查者对操作部90进行操作，设定为第一测定模式。在第一测定模式下，例如环标志投影光学系统45的环标志和动作距离标志投影光学系统46的标志投影到受检眼。环标志用于前眼部照明、校准检测。

检查者将受检者的脸固定于脸支承单元4，并且指示受检者固视固定视标板32的固定视标。接着，进行测定部8相对于受检眼在X、Y、Z方向的校准。检查者观察监视器70并对操纵杆9和旋钮9a进行操作，进行粗略的校准。另外，关于粗略的校准，可以使用能够大范围地拍摄受检者的脸的照相机等进行自动校准。

控制部80使监视器70随时显示借助观察光学系统50拍摄的前眼部的观察图像(参照图4)。即，在监视器70上显示大致实时拍摄的前眼部的正面图像(动态图像)。另外，标线标记LT表示测定部8中的测定轴的位置(在本实施方式中为测定光学系统10的测定光轴L₁)。

如果进行粗略的校准而成为由摄像元件52拍摄环标志投影光学系统45的环标志像R1、R2、动作距离标志投影光学系统46的无限远标志M1、M2、有限远标志Y1、Y2的状态，则控制部90基于来自摄像元件52的摄像信号来控制驱动部7的驱动，由此使测定部8在XY方向或Z方向移动，进行测定部8相对于受检眼的详细的校准。

控制部80算出由摄像元件52检测出的环标志像R1、R2的中心位置的坐标，由此求出相对于受检眼在上下左右方向的校准状态。在这种情况下，可以使用环标志像R1、R2的中心位置的坐标中的至少任意一个。在使用环标志像R1、R2双方的情况下，可以使用平均位置。另外，通过检测环标志像的中心位置，从而能够求出角膜中心位置。

在测定部8相对于受检眼在Z(动作距离)方向偏移的情况下，控制部80利用无限远标志M1、M2的像间隔几乎不变化而有限远标志Y1、Y2的像间隔变化的特性，求出相对于受检眼在动作距离方向的校准状态(具体参照日本专利公开公报特开平6-46999号)。另外，用于Z方向的校准检测的结构和检测方法不限于上述结构和检测方法，例如也可以利用环标志像的散焦程度等。

<眼屈光力测定>

此后，如果校准完成，则进行反射测定。在这种情况下，来自测定光源11的测定光经由测定光学系统10投影到眼底，由测定光引起的眼底反射光经由测定光学系统10被摄像元件22接收。在这种情况下，首先进行眼屈光力的预备测定。并且，基于预备测定的结果，光源31和固定视标板32在光轴L₂方向移动，由此对受检眼实施雾视。此后，对实施了雾视的受检眼进行眼屈光力的测定。

在眼屈光力的测定(和预备测定)中，控制部80通过对来自摄像元件22的输出信号进行处理而得到眼屈光力。来自摄像元件22的输出信号作为图像数据(测定图像)存储于存储器105。此后，控制部80基于存储于存储器105的图像数据按照环的每条经线确定环像的位置。接着，控制部80基于确定的环像的像位置，使用最小二乘法等来近似椭圆。并且，控制部80根据近似的椭圆的形状来求出各经线方向的屈光误差，并且据此对受检眼E的眼屈光值(S(球面度数)、C(柱面度数)和A(散光轴角度))进行运算。并且，将测定结果显示于监视器70。此外，控制部80可以将眼屈光值等的测定结果存储于存储器105。在这种情况下，控制部80可以将表示测定了未佩戴眼镜状态的受检眼的辨别显示与测定结果一起显示。

另外，在测定未佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力时，控制部80还可以基于环标志测定受检眼的角膜形状，并且将角膜形状的测定结果显示于监视器70。

<第二测定模式>

在测定佩戴眼镜状态的受检眼的情况下，检查者对操作部90进行操作，设定为第二测定模式。在第二测定模式下，例如限制环标志投影光学系统45的环标志和动作距离标志投影光学系统46的标志的投影，向受检眼投射照明光源48的照明光。在这种情况下，可以仅限制环标志的投影。照明光源48的照明光例如用于前眼部像的观察，并使用前眼部像进行相对于受检眼的校准。另外，在以下的说明中，对与第一测定模式相同的部分省略特别的说明。

在这种情况下，通过限制环标志和无限远标志的投影，从而能够减轻由这些标志引起的来自眼镜片ML的反射光对前眼部观察像的影响，并且通过由照明光源48对前眼部进行照明，从而其结果是能够良好地观察前眼部观察像(例如参照图6)。

如果进行粗略的校准而成为由摄像元件52拍摄受检眼的瞳孔部P的状态，则控制部90基于来自摄像元件52的摄像信号来控制驱动部7的驱动，由此使测定部8在XY方向或Z方向移动，进行测定部8相对于受检眼的详细的校准。

控制部80利用图像处理对由摄像元件52拍摄的瞳孔部P进行解析，并且通过算出瞳孔部P的瞳孔中心坐标而求出相对于受检眼在上下左右方向的校准状态。并非必须算出瞳孔中心坐标，也能够以测定光学系统10的测定光束经过瞳孔区域的方式进行自动校准。

在测定部8相对于受检眼在Z(动作距离)方向偏移的情况下，控制部80可以利用前眼部图像(例如瞳孔部P)散焦这样的特性，求出测定部8相对于受检眼在动作距离方向的校准状态。例如，控制部80可以使测定部8在Z方向移动，并且在各Z位置取得前眼部图像的边缘(散焦程度)的评价值，将评价值高的位置作为适当位置而使测定部8移动。

<眼屈光力测定>

此后，如果校准完成，则进行反射测定。在这种情况下，来自测定光源11的测定光经由测定光学系统10和眼镜片ML投影到眼底，并且由测定光引起的眼底反射光经由眼镜片ML和测定光学系统10被摄像元件22接收。在这种情况下，进行眼屈光力的预备测定，此后，对实施了雾视的受检眼进行眼屈光力的测定。

控制部80基于摄像元件22的摄像结果对受检眼的眼屈光值进行运算，并将测定结果显示于监视器70。此外，控制部80可以将眼屈光值的测定结果存储于存储器105。在这种情况下，控制部80可以将表示测定了佩戴眼镜状态的受检眼的辨别显示与测定结果一起显示。

通过以上述方式测定佩戴眼镜状态的眼屈光力，从而能够测定由眼镜矫正后的状态下的眼屈光力。由此，例如能够评价是否由眼镜适当地矫正了受检眼。

另外，在测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力的情况下，可以认为一定程度矫正了受检眼的视度，来自受检眼的射出光束接近平行光束，具有不容易受到Z方向的校准偏移的影响的倾向。因此，在Z方向上，可以在一定程度上粗略地调整校准，或者与对未佩戴眼镜状态的受检眼进行自动校准相比，可以将校准容许范围设定得较宽。

另外，在上述说明中，照明光源48在第一测定模式下可以向受检眼投射光。在这种情况下，例如控制部80可以使第二测定模式下的照明光源48的照明光量比第一测定模式下的照明光量增加。由此，例如能够补偿环标志的限制导致的光量下降。

另外，在上述说明中，基于来自操作部90的操作信号切换测定模式，但是并不限于此，也可以自动切换测定模式。例如，控制部80可以基于从观察光学系统50输出的摄像信号来切换测定模式。在此，控制部80可以基于从观察光学系统50输出的摄像信号来辨别有无佩戴眼镜片，并且基于辨别结果切换测定模式。

在这种情况下，例如可以利用如下情况：在将来自环标志投影光学系统45的环标志投影到佩戴眼镜状态的受检眼时，来自眼镜片的反射光大量射入观察光学系统50的摄像元件52，与未佩戴眼镜状态相比，前眼部图像整体的亮度值变高。在此，控制部80可以在前眼部图像中超过预定阈值的像素的面积超出容许范围的情况下，辨别为有眼镜片并设定为第二测定模式，在前眼部图像中超过预定阈值的像素的面积在容许范围以下的情况下，辨别为无眼镜片并设定为第一测定模式。当然，有无佩戴眼镜片的辨别方法不限于此，例如控制部80可以在校准时利用图像处理辨别有无由摄像元件52拍摄的眼镜架，并且基于辨别结果切换测定模式。此外，控制部80可以辨别在由摄像元件52拍摄的摄像图像的中心区域有无镜片反射。

另外，在上述说明中，作为配置在比照明光源48更接近测定光轴L₁的位置的标志投影光学系统，例示了投影环标志的光学系统，但是并不限于此，在投影其他视标(例如点标志、线标志)的光学系统中，也能够应用本实施方式。

另外，在上述说明中，表示了在比照明光源48更接近测定光轴L₁的位置配置有环标志投影光学系统的结构，但是在比照明光源48更远离测定光轴L₁的位置追加地配置有环标志投影光学系统的结构中，也能够应用本实施方式。在这种情况下，可以是照明光源48兼用作环标志投影光学系统的结构。

另外，在上述说明中，照明光源48可以是相对于测定光轴L₁分别以不同的角度倾斜配置的多个照明光源。在这种情况下，可以选择性地点亮多个照明光源。例如，检查者可以在观察前眼部图像时，在来自眼镜片的反射亮点显示的情况下，对操作部90进行操作，熄灭与该反射亮点对应的角度的照明光源并点亮其他角度的照明光源。

<向其他装置的应用>

此外，在上述说明中，作为眼屈光力测定装置例示了客观地测定受检眼的眼屈光力的眼屈光力测定装置，但是并不限于此，在主观地测定受检眼的眼屈光力的眼屈光力测定装置中，也能够应用本实施方式。在这种情况下，例如可以考虑基于主观地测定眼屈光力时取得的前眼部像的主观检查机的自动校准、眼位检测等。

此外，在上述说明中，作为眼科装置例示了测定佩戴眼镜时的眼屈光力的眼屈光力测定装置，但是并不限于此，在检查佩戴眼镜时的受检眼的眼科检查装置中，也能够应用本实施方式。眼科检查装置例如可以包括用于检查受检眼的检查光学系统。检查光学系统经由眼镜片向受检眼E照射(投射)光，并且来自受检眼E的反射光经由眼镜片被检测器(例如受光元件、摄像元件等)接收。在这种情况下，眼科检查装置例如可以是非接触式眼轴长度测定装置、眼底摄影装置。

附图说明

图1是表示本实施例的眼屈光力测定装置的外观结构的一例的图。

图2是表示本实施例的眼屈光力测定装置的光学系统的一例的图。

图3是表示本实施例的测定部的受检者侧框体面的一例的概略图。

图4是表示本实施例的前眼部观察图像的一例的图。

图5是表示本实施例的前眼部观察画面的一例的图。

图6是表示本实施例的前眼部观察画面的一例的图。

图7是表示本实施例的眼屈光力测定装置的动作的一例的流程图。

附图标记说明

1 眼屈光力测定装置

45 环标志投影光学系统

48 照明光源

50 观察光学系统

80 控制部。

Claims (9)

1.一种眼屈光力测定装置，包括测定光学系统，所述测定光学系统用于通过将测定光投射到受检眼眼底并接收所述测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力，

所述眼屈光力测定装置的特征在于，包括：

照明光源，配置在相对于所述测定光学系统的测定光轴倾斜30°以上的位置，用于对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明；

观察光学系统，由所述照明光源照明，观察所述佩戴眼镜状态的受检眼前眼部；

环标志投影光学系统，将环标志投影到受检眼角膜的中心区域；

模式切换部件，切换用于测定未佩戴眼镜状态的眼屈光力的第一测定模式和用于测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的第二测定模式；以及

控制部件，根据由所述模式切换部件切换的测定模式，控制所述环标志投影光学系统，

所述眼屈光力测定装置能够客观地测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力，

所述控制部件在所述第二测定模式下限制所述环标志投影光学系统的所述环标志的投影，能够减轻由所述环标志引起的来自眼镜片的反射光对前眼部观察像的影响。

2.根据权利要求1所述的眼屈光力测定装置，其特征在于，

所述照明光源配置在比所述环标志投影光学系统更远离所述测定光轴的位置。

3.根据权利要求1所述的眼屈光力测定装置，其特征在于，

所述眼屈光力测定装置包括检测器，所述检测器检测有无眼镜片佩戴于受检眼，

基于来自所述检测器的检测信号切换所述测定模式。

4.根据权利要求1或2所述的眼屈光力测定装置，其特征在于，

所述眼屈光力测定装置包括校准模式切换部件，所述校准模式切换部件切换第一校准模式和第二校准模式，所述第一校准模式用于相对于未佩戴眼镜状态的受检眼前眼部校准包括所述测定光学系统的测定部，所述第二校准模式用于相对于佩戴眼镜状态的受检眼前眼部校准所述测定部，

在设定为所述第一校准模式的情况下，使用由所述环标志投影光学系统投影的所述环标志来检测校准状态，在设定为所述第二校准模式的情况下，使用由所述照明光源照明的受检眼前眼部的特征部来检测校准状态。

5.根据权利要求1或2所述的眼屈光力测定装置，其特征在于，所述照明光源兼用作测量受检眼的角膜直径或瞳孔直径时的前眼部照明。

6.根据权利要求1或2所述的眼屈光力测定装置，其特征在于，所述照明光源是点光源。

7.一种眼屈光力测定装置，包括测定光学系统，所述测定光学系统用于通过将测定光投射到受检眼眼底并接收所述测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力，

所述眼屈光力测定装置的特征在于，包括：

环标志投影光学系统，用于将环标志投影到受检眼角膜的中心区域；

照明光源，配置在比所述环标志投影光学系统更远离所述测定光轴的位置，用于对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明；

观察光学系统，由所述照明光源照明，观察所述佩戴眼镜状态的受检眼前眼部；

模式切换部件，切换用于测定未佩戴眼镜状态的眼屈光力的第一测定模式和用于测定佩戴眼镜状态的眼屈光力的第二测定模式；以及

控制部件，根据由所述模式切换部件切换的测定模式，控制所述环标志投影光学系统，

所述眼屈光力测定装置能够客观地测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力，

所述控制部件在所述第二测定模式下限制所述环标志投影光学系统的所述环标志的投影，能够减轻由所述环标志引起的来自眼镜片的反射光对前眼部观察像的影响。

8.根据权利要求7所述的眼屈光力测定装置，其特征在于，所述控制部件在限制所述环标志投影光学系统的所述环标志的投影的状态下，进行所述照明光源的前眼部照明，并且相对于被限制了所述环标志的投影的受检眼前眼部进行自动校准，在自动校准完成后，利用所述测定光学系统测定佩戴眼镜时的受检眼的眼屈光力。

9.根据权利要求7或8所述的眼屈光力测定装置，其特征在于，

所述眼屈光力测定装置包括检测器，所述检测器检测有无眼镜片佩戴于受检眼，

所述控制部件基于来自所述检测器的检测信号，控制所述环标志投影光学系统的所述环标志的投影。