JP6853496B2 - 検眼装置及び検眼プログラム - Google Patents

Description

本開示は、被検眼の光学特性を測定する検眼装置及び検眼プログラムに関する。

従来、検眼装置としては、自覚的に光学特性を測定する自覚式検眼装置と、他覚的に光学特性を測定する他覚式検眼装置が知られている。従来、自覚式検眼装置としては、例えば、屈折度の矯正が可能な矯正光学系を被検者の眼前に個別に配置し、矯正光学系を介して検査視標を被検眼の眼底へ投光するものが知られている（特許文献１参照）。検者は、被検者の応答を受けその視標が被検者に適正に見えるまで矯正光学系の調節を行って矯正値を求め、この矯正値に基づいて被検眼の屈折力を測定する。また、例えば、自覚式検眼装置としては、矯正光学系を介した検査視標画像を被検者の眼前に形成し、矯正光学系を眼前に配置することなく、被検眼の屈折力を測定するものが知られている（特許文献２）。

これらの自覚式検眼装置による屈折力検査は、左右の眼を個別に検査する場合と、両方の眼を同時に検査する場合とがある。例えば、左右の眼を個別に検査場合、検査する方の眼（以下、測定眼という）には検査視標を観察させる。検査しない方の眼（以下、非測定眼という）には、遮蔽部材を配置して、検査視標が見えないようにしている。

また、これらの他覚式検眼装置による屈折力検査は、左右の眼を個別に検査する。例えば、他覚式検眼装置では、左右の一方の眼に測定光学系の光軸があわせられて、一方の眼の測定が行われている。このとき、他方の眼は、装置の本体部分が眼前に配置され、遮蔽された状態とされている。すなわち、装置本体が遮蔽部材となって、他方の眼が遮蔽された状態となっている。

被検者眼の光学特性を測定する際に、非測定眼側に遮蔽部材を配置した場合には、遮蔽部材に対して、被検者眼の調整が働いてしまい、測定精度が低下する場合がある。このため、被検者眼の光学特性を測定する場合には、被検者が日常生活でものを見ているような、自然な状態（開放状態）下で、自覚式測定による光学特性及び他覚式測定による光学特性を測定することが好ましいとされている。開放状態下での検査方法としては、非測定眼側に遮蔽板を配置せずにプラス球面度数を負荷して片眼に雲霧をかけた両眼開放下での検査を行う方法も知られている。また、非測定眼側に遮蔽板を配置せずに偏光板を配置して、片眼に検査視標が見えないようにして、両眼開放下での検査を行う方法も知られている。

特開平５−１７６８９３号公報 米国特許第３８７４７７４号公報

ところで、両眼開放状態での検査を行う際に、測定中における被検眼の融像状態を確認することができなかった。このため、両眼開放状態での検査を行った場合に、融像が良好にできておらず、精度よく測定結果を得ることができないことがあった。

本開示は、上記問題点を鑑み、両眼開放状態での検査を行う際に容易に融像状態を確認することができ、精度よく測定を行うことができる検眼装置及び検眼プログラムを提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１） 本開示の第１態様に係る検眼装置は、左右の被検眼に視標を投影して、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定する光学特性測定手段を備える検眼装置であって、前記光学特性測定手段によって、両眼開放状態にて被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得する前眼部取得手段と、前記前眼部取得手段によって取得された前記前眼部画像を解析処理して、前記視標に対する両眼融像状態を示す両眼開放状態情報を取得する解析手段と、前記解析手段によって取得された前記両眼開放状態情報の良否を判定して、被検眼の融像状態の良否を示す判定情報を取得する判定手段と、前記判定手段によって取得された前記判定情報を出力する出力手段と、を備えることを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る検眼プログラムは、左右の被検眼に視標を投影して、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定する光学特性測定手段を備える検眼装置において用いられる検眼プログラムであって、前記検眼装置のプロセッサによって実行されることで、前記光学特性測定手段によって、両眼開放状態にて被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得する前眼部取得ステップと、前記前眼部取得ステップによって取得された前記前眼部画像を解析処理して、前記視標に対する両眼融像状態を示す両眼開放状態情報を取得する解析ステップと、前記解析ステップによって取得された前記両眼開放状態情報の良否を判定して、被検眼の融像状態の良否を示す判定情報を取得する判定ステップと、前記判定ステップによって取得された前記判定情報を出力する出力ステップと、を前記検眼装置に実行させることを特徴とする。

自覚式検眼装置の外観図である。 測定手段の構成について説明する図である。 自覚式検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。 制御動作の流れについて説明するフローチャートである。 右の被検眼の測定時における左右の被検眼に呈示される視標について説明する図である。 左の被検眼の測定時における左右の被検眼に呈示される視標について説明する図である。 右の被検眼の前眼部画像を示す図である。

以下、典型的な実施形態の１つについて、図面を参照して説明する。図１〜図９は本実施形態に係る検眼装置及び検眼プログラムについて説明するための図である。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立又は関連して利用されうる。

なお、本開示においては、本実施形態に記載した装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体等を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出し、実行することも可能である。

なお、以下の説明においては、検眼装置の奥行き方向（被検者の測定の際の被検者の前後方向）をＺ方向、奥行き方向に垂直（被検者の測定の際の被検者の左右方向）な平面上の水平方向をＸ方向、鉛直方向（被検者の測定の際の被検者の上下方向）をＹ方向として説明する。なお、以下符号に付されるＲ、Ｌはそれぞれ右眼用、左眼用を示すものとする。

＜概要＞
例えば、本実施形態における検眼装置（例えば、自覚式検眼装置１）は、光学特性測定手段（例えば、投光光学系３０、矯正光学系６０、自覚式測定光学系２５、他覚式測定光学系１０）を備える。また、例えば、前眼部取得手段（例えば、制御部７０、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、観察光学系５０）を備える。また、例えば、検眼装置は、解析手段（例えば、制御部７０）を備える。また、例えば、検眼装置は、判定手段（例えば、制御部７０）を備える。また、例えば、検眼装置は、出力手段（例えば、制御部７０）を備える。

なお、本実施形態において、解析手段（解析制御手段）、判定手段（判定制御手段）、出力手段（出力制御手段）と、が兼用された構成であってもよい。また、例えば、解析手段と、判定手段と、出力手段と、が別途それぞれ設けられている構成であってもよい。もちろん、上記各制御手段は、複数の制御手段によって構成されてもよい。

例えば、光学特性測定手段は、左右の被検眼に視標を投影して、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定してもよい。なお、例えば、両眼開放状態とは、左右の被検眼が遮蔽部材によって遮蔽されていない状態（視標の光束を遮られること無く確認できる状態）であってもよい。例えば、前眼部取得手段は、光学特性測定手段によって、両眼開放状態にて被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得してもよい。例えば、解析手段は、前眼部取得手段によって取得された前記前眼部画像を解析処理して、両眼開放状態情報を取得してもよい。例えば、判定手段は、解析手段によって取得された前記両眼開放状態情報の良否を判定して判定情報を取得してもよい。例えば、出力手段は、判定手段によって取得された判定情報を出力するようにしてもよい。

例えば、本実施形態における検眼装置は、両眼開放状態にて被検眼の光学特性に測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得し、取得した前眼部画像を解析処理して、両眼開放状態情報を取得する構成を備える。また、取得した両眼開放状態情報に基づいて良否を判定し、判定結果を出力する構成を備える。これによって、測定中における被検眼の融像状態の良否を容易に確認することができ、融像状態が良好である状態下での測定結果を取得することができる。これによって、精度の良い測定結果を得ることができる。
例えば、両眼開放状態情報は、光学特性測定手段による光学特性の測定中に取得する構成であってもよい。例えば、検眼装置は、前眼部取得手段による左右の被検眼の前眼部画像の取得を開始するための開始トリガ信号を送信する送信手段と、開始トリガ信号を受信する受信手段を備えてもよい。例えば、送信手段によって、開始トリガ信号が送信され、受信手段によって、開始トリガ信号が受信されると、前眼部取得手段は、両眼開放状態にて被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得する。解析手段は、取得された前眼部画像を解析処理することによって、両眼開放状態情報を取得する。これによって、光学特性測定手段による光学特性の測定中における両眼開放状態情報を取得することができる。例えば、前眼部取得手段による前眼部画像の取得の開始は、手動によって実施されてもよいし、自動によって実施されてもよい。

例えば、前眼部画像の取得の開始を手動で実施する構成の場合、前眼部画像の取得を開始するための開始トリガ信号を検眼装置に送信する送信手段として開始スイッチを設ける。例えば、検者によって開始スイッチが選択されることによって、開始トリガ信号が送信される。例えば、受信手段によって開始トリガ信号が受信されると、前眼部取得手段が前眼部画像の取得を開始するようにしてもよい。

例えば、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、両眼開放状態情報を取得する構成としては、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、少なくとも１回の両眼開放状態情報が実施されるようにすればよい。すなわち、例えば、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、両眼開放状態情報を取得する構成としては、最少の取得回数として、１回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよいし、最大の測定回数として、常時（リアルタイムに）の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。

例えば、両眼開放状態情報の取得を１回実施したい場合には、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、検者が開始スイッチを１回選択することで、前眼部画像が取得され、両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。

また、例えば、両眼開放状態情報の取得を複数回実施したい場合には、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、検者が開始スイッチを複数回選択することで、複数回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。また、例えば、両眼開放状態情報の取得を複数回実施したい場合には、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、検者が開始スイッチを１回選択することで、複数回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。

なお、例えば、１回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施される場合、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、検者が開始スイッチを１回選択することで、予め設定された回数の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。また、例えば、１回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施される場合、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、検者が開始スイッチを１回選択することで、予め設定されたタイミングで両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。また、例えば、１回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施される場合、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、検者が開始スイッチを１回選択することで、常時、両眼開放状態情報の取得を実施して、リアルタイムに両眼開放状態情報の取得を実施されていくようにしてもよい。

例えば、前眼部画像の取得の開始を自動で実施する構成の場合、光学特性測定手段による光学特性の測定が開始された後、制御手段（例えば、制御部７０）が送信手段を制御して、予め設定されたタイミングで開始トリガ信号を送信する。例えば、受信手段によって、開始トリガ信号が受信されると、前眼部取得手段が前眼部画像の取得を開始するようにしてもよい。なお、本実施形態においては、送信手段の制御は、制御手段によって実施されているがこれに限定されない。例えば、制御手段とは異なる制御手段が別途設けられることによって実施されてもよい。

例えば、予め設定されたタイミングとしては、光学特性測定手段による光学特性の測定開始時（例えば、視標の投影を開始した状態、検査プログラムを開始した状態、検査装置の操作部の操作を開始した状態、矯正光学系の駆動を開始した状態等）、予め設定された時間の経過時（例えば、光学特性測定手段による光学特性の測定の開始から所定時間経過時等）、視標の切り換え時、被検者が自覚検査における回答をした時（検者が被検者回答に基づく操作を行った時）等の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、上記記載以外のタイミングで、開始トリガ信号が出力されるようにしてもよい。

例えば、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、両眼開放状態情報を取得する構成としては、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、少なくとも１回の両眼開放状態情報が実施されるようにすればよい。すなわち、例えば、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、両眼開放状態情報を取得する構成としては、最少の取得回数として、１回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよいし、最大の測定回数として、常時（リアルタイムに）の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。

例えば、両眼開放状態情報の取得を１回実施したい場合には、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、予め設定されたタイミングで開始トリガが出力されるようにし、前眼部画像が取得され、両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。

また、例えば、両眼開放状態情報の取得を複数回実施したい場合には、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、予め設定されたタイミングで開始トリガが出力されるようにし、複数回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。この場合、例えば、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、複数回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。この場合、例えば、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、１回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。

なお、例えば、１回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施される場合、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、１回の開始トリガが出力されることで、予め設定された回数の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。また、例えば、１回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施される場合、光学特性測定手段による光学特性の測定中に、１回の開始トリガが出力されることで、予め設定されたタイミングで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施されるようにしてもよい。また、例えば、１回の開始トリガ信号が出力されることで複数回の両眼開放状態情報の取得が実施される場合、常時測定を実施して、リアルタイムに両眼開放状態情報の取得が実施されていくようにしてもよい。

＜光学特性測定手段＞
例えば、被検眼の光学特性を測定する場合に、被検眼に視標を投影し、被検者に視標を観察させた状態で測定を行ってもよい。例えば、両眼開放状態で光学特性を行う場合に、左右の被検眼のそれぞれに対して視標を投影する構成としてもよい。

例えば、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定する構成としては、左右に被検眼のそれぞれに視標を呈示し、両眼での光学特性を測定する構成であってもよい。この場合、例えば、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定する構成としては、左右に被検眼のそれぞれに視標を呈示した状態で測定を行う構成であってもよい。

また、例えば、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定する構成としては、左右に被検眼のそれぞれに視標を呈示し、片眼での測定を行う構成であってもよい。例えば、片眼での測定を行う構成の場合に、一方の被検眼に対して光学特性を測定するための視標を投影し、他方の被検眼に対して視標を投影するとともに他方の被検眼に対して投影される視標の光束が完全に遮られない構成を設けて測定が行われる。

例えば、両眼開放状態にて片眼の光学特性を測定する構成としては、一方の被検眼に対して光学特性を測定するための検査視標（例えば、検査視標２０１、検査視標２３１）及び背景視標（例えば、第１背景視標２０２、第３背景視標２３２）を有する視標（例えば、第１視標２００、第３視標２３０）が投影され、他方の被検眼に対して背景視標（例えば、第２背景視標２１２、第４背景視標２４２）を有する視標（例えば、第２視標２１０、第４視標２４０）が投影される構成であってもよい。また、例えば、両眼開放状態にて片眼の光学特性を測定する構成としては、一方の被検眼に対して光学特性を測定するための検査視標を投影し、他方の被検眼に対して視標を投影するとともに他方の被検眼に遮蔽板を配置せずにプラス球面度数を負荷して雲霧をかける構成であってもよい。また、例えば、両眼開放状態にて片眼の光学特性を測定する構成としては、一方の被検眼に対して光学特性を測定するための検査視標を投影し、他方の被検眼に対して視標を投影するとともに他方の被検眼に遮蔽板を配置せずに偏光板を配置して視標を構成としてもよい。

＜自覚式測定手段＞
例えば、光学特性測定手段は、自覚式測定手段を備えてもよい。この場合、例えば、光学特性測定手段は、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系（例えば、投光光学系３０）の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系（例えば、矯正光学系６０、自覚式測定光学系２５）と、を有し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段を備えるようにしてもよい。なお、例えば、投光光学系については、検眼装置において、一体的に設けられている必要は無く、別途、投光光学系を備える装置が設けられる構成であってもよい。すなわち、検眼装置としては、少なくとも矯正光学系を備える構成であってもよい。

例えば、自覚式測定手段は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。例えば、自覚的に測定される被検眼の光学特性としては、眼屈折力（例えば、球面度数、乱視度数、乱視軸角度等）、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能等）等が挙げられる。

＜投光光学系＞
例えば、投光光学系は、視標光束を照射する光源を有する。また、例えば、投光光学系は、視標光束を投影する光源から投影された視標光束を被検眼に向けて導光する少なくとも１つ以上の光学部材等を有してもよい。

例えば、視標光束を投影する光源としては、ディスプレイ（例えば、ディスプレイ３１）を用いる構成であってもよい。例えば、ディスプレイとしては、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）や有機ＥＬ（Electro Luminescence）等が用いられる。例えば、ディスプレイには、ランドルト環視標等の検査視標等が表示される。

例えば、視標光束を投影する光源としては、ＤＭＤ（Digital Micromirror Device）を用いてもよい。一般的にＤＭＤは反射率が高く、明るい。そのため、偏光を用いる液晶ディスプレイを用いた場合と比べ、視標光束の光量を維持できる。

例えば、視標光束を投影する光源としては、視標呈示用可視光源と、視標板と、を有する構成であってもよい。この場合、例えば、視標板は、回転可能なディスク板であり、複数の視標を持つ。複数の視標は、例えば、自覚測定時に使用される視力検査用視標、等を含んでいる。例えば、視力検査用視標は、視力値毎の視標（視力値０．１、０．３、・・・、１．５）が用意されている。例えば、視標板はモータ等によって回転され、視標は、被検眼に視標光束が導光される光路上で切換え配置される。もちろん、視標光束を投影する光源としては、上記構成以外の光源を用いてもよい。

例えば、本実施形態において、投光光学系は、左右一対に設けられた右眼用投光光学系と左眼用投光光学系を有するようにしてもよい。例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とが、同一の部材によって構成されていてもよい。また、例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とで少なくとも一部の部材が異なる部材によって構成されていてもよい。例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とで少なくとも一部の部材が兼用されている構成であってもよい。また、例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とが、別途それぞれ設けられている構成であってもよい。

＜矯正光学系＞
例えば、矯正光学系は、視標光束の光学特性（例えば、球面度数、円柱度数、円柱軸、偏光特性、及び収差量、等の少なくともいずれか）を変更する構成であればよい。例えば、視標光束の光学特性を変更する構成として、光学素子を制御する構成であってもよい。例えば、光学素子としては、球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリープリズム、波面変調素子等の少なくともいずれかを用いる構成であってもよい。もちろん、例えば、光学素子としては、上記記載の光学素子とは異なる光学素子を用いるようにしてもよい。

例えば、矯正光学系は、被検者眼に対する視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変えられることにより、被検眼の球面度数が矯正される構成であってもよい。この場合、例えば、視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変更する構成としては、光源（例えば、ディスプレイ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。また、この場合、例えば、光路中に配置された光学素子（例えば、球面レンズ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。もちろん、矯正光学系は、光学素子を制御する構成と光路中に配置された光学素子を光軸方向に移動させる構成と組み合わせた構成であってもよい。

例えば、矯正光学系としては、被検眼の眼前に配置される光学素子を切り換えて配置する検眼ユニット（フォロプタ）であってもよい。例えば、検眼ユニットは、複数の光学素子が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるための駆動手段と、を有し、駆動手段（例えば、モータ）の駆動により光学素子を電気的に切り換える構成であってもよい。

例えば、矯正光学系としては、投光光学系から視標光束を被検眼に向けて導光するための光学部材と、投光光学系の光源と、間に光学素子を配置して、光学素子を制御することによって、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正手段としては、ファントムレンズ屈折計（ファントム矯正光学系）の構成であってもよい。この場合、例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束が光学部材を介して被検眼に導光される。

例えば、本実施形態において、矯正光学系は、左右一対に設けられた右眼用矯正光学系と左眼用矯正光学系を有する。例えば、右眼用矯正光学系と左眼用矯正光学系は、右眼用矯正光学系を構成する部材と左眼用矯正光学系を構成する部材とが、同一の部材によって構成されていてもよい。また、例えば、右眼用矯正光学系と左眼用矯正光学系は、右眼用矯正光学系を構成する部材と左眼用矯正光学系を構成する部材とで少なくとも一部の部材が異なる部材によって構成されていてもよい。例えば、右眼用矯正光学系と左眼用矯正光学系は、右眼用矯正光学系を構成する部材と左眼用矯正光学系を構成する部材とで少なくとも一部の部材が兼用されている構成であってもよい。また、例えば、右眼用矯正光学系と左眼用矯正光学系は、右眼用矯正光学系を構成する部材と左眼用矯正光学系を構成する部材とが、別途それぞれ設けられている構成であってもよい。

＜他覚式測定手段＞
例えば、光学特性測定手段は、他覚式測定手段を備えてもよい。例えば、他覚式測定手段は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する。なお、他覚的測定手段によって測定を行う場合、視標を被検眼に投影して、被検者に視標を観察させた状態にて測定を行ってもよい。すなわち、他覚的測定手段によって測定を行う場合、被検眼の視線方向を誘導するため固視標を投影して、被検者に固視標を観察させた状態にて測定を行ってもよい。

例えば、他覚的に測定される被検眼の光学特性としては、眼屈折力（例えば、球面度数、乱視度数、乱視軸角度等）、偏光特性、水晶体の厚み情報等が挙げられる。なお、本実施形態においては、被検眼の眼屈折力を測定する他覚式測定手段を例に挙げて説明する。なお、例えば、他覚式測定手段は、被検眼の眼底に測定光を出射し、その反射光を受光する測定光学系（例えば、他覚式測定光学系１０）を備える。例えば、他覚的に測定される被検眼の光学特性としては、他覚式測定手段によって撮像された撮像結果（撮像画像）及び撮像結果を解析処理することによって取得されるパラメータの少なくともいずれかであってもよい。すなわち、他覚的に測定される被検眼の光学特性としては、他覚式測定手段によって撮像される撮像結果に基づくものであればよい
例えば、他覚式測定手段は、左右一対に設けられた右被検眼用測定光学系と左被検眼用測定光学系を有するようにしてもよい。この場合、例えば、右被検眼用測定光学系と左被検眼用測定光学系左右の測定を略同時に実行するようにしてもよい。また、この場合、例えば、右被検眼用測定光学系と左被検眼用測定光学系左右の測定を異なるタイミングで実施するようにしてもよい。例えば、異なるタイミングは、右被検眼用測定光学系と左被検眼用測定光学系の一方の測定光学系の測定が完了したタイミングであってもよい。また、例えば、異なるタイミングは、右被検眼用測定光学系と左被検眼用測定光学系の一方の測定光学系の測定を実施している間であってもよい。

また、例えば、他覚式測定手段は、１つの測定光学系によって、左右被検眼の測定が行われるようにしてもよい。この場合、例えば、一方の被検眼の眼底に測定光を出射して被検眼の測定を行うとともに、一方の眼の測定が完了した場合に、他方の被検眼の眼底に測定光が出射できるように調整を行い、他方の被検眼の測定を行う構成としてもよい。

＜測定光学系＞
例えば、測定光学系は、被検者眼眼底に向けて光源から測定光を投光する投光光学系と、測定光の眼底での反射によって取得される反射光を撮像素子で撮像する撮像光学系と、を有する。例えば、測定光学系は、被検眼の眼屈折力を測定する光学系であってもよい。この場合、例えば、測定光学系としては、被検眼の瞳孔中心部を介して被検眼の眼底にスポット状の測定指標を投影し、眼底から反射された眼底反射光を瞳孔周辺部を介させてリング状に取り出し、撮像素子にリング状の眼底反射像を撮像させる構成が挙げられる。また、この場合、例えば、測定光学系としては、瞳孔周辺部から眼底にリング状の測定指標を投影し、瞳孔中心部から眼底反射光を取り出し、撮像素子にリング状の眼底反射像を撮像させる構成が挙げられる。また、この場合、例えば、測定光学系は、シャックハルトマンセンサーを備えた構成であってもよい。また、この場合、例えば、測定光学系は、被検眼にスリットを投影する位相差方式を有する構成であってもよい。

＜前眼部取得手段＞
例えば、前眼部取得手段は、検眼装置に備えられた前眼部撮像光学系によって前眼部を撮影することによって、前眼部を取得する構成であってもよい。また、例えば、前眼部取得手段は、検眼装置とは別途、異なる装置の前眼部撮像光学系によって撮影された前眼部画像を、受信することによって取得する構成であってもよい。

なお、例えば、左右の被検眼の前眼部画像としては、左右の被検眼における黒目部分（例えば、瞳孔部分及び虹彩部分）を含む構成であってもよい。また、例えば、左右の被検眼の前眼部画像としては、左右の被検眼の瞳孔部分を含む構成であってもよい。また、例えば、左右の被検眼の前眼部画像としては、左右の被検眼全体を含む構成であってもよい。

例えば、前眼部撮像光学系として、前眼部を照明するため照明光学系（例えば、第２指標投影光学系４６）と、照明光学系によって照明された前眼部を撮像する撮像光学系（例えば、観察光学系５０）と、を有する構成であってもよい。例えば、照明光学系は、他の光学系の光源が兼用される構成であってもよい。また、例えば、照明光学系は、別途、前眼部を照明するための専用の光源が設けられる構成であってもよい。例えば、撮像光学系は、他の光学系の撮像素子が兼用される構成であってもよい。また、例えば、撮像光学系は、別途、前眼部を撮像するための専用の撮像素子（例えば、二次元撮像素子５２）が設けられる構成であってもよい。

例えば、左右の被検眼の前眼部画像を取得する構成として、前眼部取得手段は、１つの前眼部画像に左右の被検眼の前眼部が含まれるように前眼部画像を取得する構成であってもよい。この場合、例えば、左右の前眼部を撮影範囲に含める範囲で撮影できる前眼部撮影光学系を用いて、前眼部の撮影を行うようにしてもよい。

また、例えば、左右の被検眼の前眼部画像を取得する構成として、同時に取得された複数の前眼部画像に左右の被検眼の前眼部が含まれるような前眼部画像を取得する構成であってもよい。例えば、左右の被検眼それぞれで１つずつ前眼部画像を取得する構成であってもよい。この場合、例えば、左右の被検眼をそれぞれ撮影するために設けられた前眼部撮像光学系をそれぞれ設け、左右それぞれの前眼部撮像光学系によって左右の前眼部をそれぞれ撮影する構成であってもよい。また、この場合、例えば、１つの前眼部撮像光学系が左右の被検眼をそれぞれ撮影できる位置に移動して左右の前眼部画像を撮影する構成であってもよい。

なお、例えば、光学特性測定手段によって両眼開放状態にて被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得する構成としては、左右の被検眼に対して視標が投影されて測定が実施されている構成であってもよい。

＜解析手段＞
例えば、解析手段は、前眼部画像を解析処理して、両眼開放状態情報を取得してもよい。例えば、解析処理としては、各部位（例えば、黒目部分、虹彩部分、瞳孔部分、強膜部分（白目部分）等）を検出する処理であってもよい。また、例えば、解析処理としては、被検眼の角膜に指標を投影し、被検眼の角膜に形成される指標像を検出する処理であってもよい。もちろん、解析処理としては、各部位又は指標像とは異なる部位を検出する処理であってもよい。

例えば、解析処理によって、各部位又は指標像を検出する処理としては、エッジ検出を行う処理であってもよい。この場合、例えば、エッジ検出としては、輝度の立ち上がり、立ち下がりを検出する構成であってもよい。もちろん、解析処理としては、各部位又は指標像を画像処理によって検出できる処理であればよい。

例えば、両眼開放状態情報としては、視標に対する両眼融像状態を示す情報であってもよい。例えば、両眼開放状態情報としては、左右の被検眼の検出結果から取得される構成としてもよい。この場合、例えば、左右の被検眼のそれぞれの検出結果を取得し、取得されたそれぞれの検出結果に基づいて、両眼開放状態情報が取得してもよい。また、例えば、両眼開放状態情報としては、左右の被検眼の一方の被検眼から取得される構成としてもよい。また、この場合、例えば、左右の被検眼の少なくとも一方の被検眼の検出結果に基づいて、両眼開放状態情報が取得される。

例えば、解析手段は、解析処理によって各部位又は指標像を検出し、検出結果に基づいて、両眼開放状態情報が取得されてもよい。例えば、両眼開放状態情報は、瞳孔情報、角膜頂点情報、等の少なくともいずれかであってもよい。なお、両眼開放状態情報とは、上記構成に限定されない。例えば、両眼開放状態情報とは、被検眼の視線位置（視軸位置）が取得できる情報であってもよい。

例えば、両眼開放状態情報として瞳孔情報を取得する場合、解析手段は、前眼部画像を解析処理することによって、左右の被検眼の瞳孔位置を検出し、検出した瞳孔位置に基づいて両眼開放状態情報を取得する。例えば、本実施形態における検眼装置は、左右の被検眼の瞳孔位置を検出し、検出した瞳孔位置に基づいて両眼開放状態情報を取得する構成を備える。これによって、簡易的な構成で容易に両眼開放状態情報を取得することができる。例えば、瞳孔情報は、瞳孔間距離情報、瞳孔位置情報、瞳孔位置ずれ情報、等の少なくともいずれかであってもよい。なお、例えば、瞳孔位置とは、瞳孔部位のいずれかの部分の位置であってもよい。また、例えば、瞳孔位置とは、瞳孔の中心位置であってもよい。もちろん、瞳孔位置情報は、上記情報とは、異なる情報であってもよい。例えば、瞳孔位置に基づいて算出される情報であればよい。すなわち、瞳孔位置が特定できる情報であればよい。

例えば、両眼開放状態情報として角膜頂点情報を取得する場合、解析手段は、前眼部画像を解析処理することによって、左右の被検眼の角膜に投影された指標像を検出し、検出した指標像の位置に基づいて両眼開放状態情報を取得する。例えば、角膜頂点情報は、角膜頂点位置情報、角膜頂点間距離情報、角膜頂点ずれ情報、等の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、角膜頂点情報は、上記情報とは、異なる情報であってもよい。例えば、指標像位置に基づいて算出される情報であればよい。すなわち、角膜頂点位置が特定できる情報であればよい。

例えば、両眼開放状態情報は、瞳孔位置情報及び角膜頂点位置情報から算出される情報であってよい。例えば、瞳孔位置情報及び角膜頂点位置情報から算出される情報としては、瞳孔位置と角膜頂点位置とのずれ情報であってもよい。なお、例えば、瞳孔位置とは、瞳孔部位のいずれかの部分の位置であってもよい。また、例えば、瞳孔位置とは、瞳孔の中心位置であってもよい。もちろん、瞳孔位置情報及び角膜頂点位置情報から算出される情報は、上記情報とは、異なる情報であってもよい。例えば、瞳孔位置及び指標像位置から算出される情報に基づいて算出される情報であればよい。すなわち、瞳孔位置及び角膜頂点位置が特定できる情報であればよい。なお、角膜頂点情報は、指標像を用いることなく、前眼部画像から角膜位置を検出することによって、取得する構成であってもよい。

なお、例えば、瞳孔位置ずれ情報は、基準となる基準瞳孔位置情報に対する測定中に取得された瞳孔位置情報の移動量を算出することによって、取得することができる。例えば、基準瞳孔位置情報は、人の平均的な瞳孔間距離に基づいた瞳孔位置（人の平均的な瞳孔位置）で設定されていてもよい。また、例えば、予め、測定を行う被検者の両眼開放状態が良好である状態での瞳孔位置を検出して瞳孔位置情報を取得しておき、予め取得した瞳孔位置情報を基準位置情報として設定する構成としてもよい。

例えば、予め瞳孔位置を取得する構成として、前眼部取得手段は、被検眼の光学特性の測定中において両眼開放状態の良否を判定する以前に、予め、第１前眼部画像を取得する。例えば、解析手段は、取得した第１前眼部画像より瞳孔位置を検出し、第１瞳孔位置情報を取得する。また、被検眼の光学特性の測定中の両眼開放状態の良否を判定する時において、前眼部取得手段は、第２前眼部画像を取得する。解析手段は、取得した第２前眼部画像より瞳孔位置を検出し、第２瞳孔位置情報を取得する。解析手段は、第１瞳孔位置情報と第２瞳孔位置情報と移動量を算出することによって、瞳孔位置ずれ情報を取得することができる。なお、例えば、第１前眼部画像は、被検眼の光学特性の測定を開始した後、第２前眼部画像を取得する以前に、取得される構成としてもよい。また、例えば、第１前眼部画像は、測定の開始前に予め、両眼融像状態を再現して撮影をしておくことで取得される構成としてもよい。なお、例えば、第１前眼部画像を取得する場合に、一方の被検眼を開放状態（視標を観察させた状態）として、他方の被検眼を遮蔽した状態で、第１前眼部画像を取得するようにしてもよい。また、例えば、第２前眼部画像を取得する場合に、一方の被検眼を開放状態（視標を観察させた状態）として、他方の被検眼を遮蔽した状態で、第２前眼部画像を取得するようにしてもよい。

なお、例えば、解析手段は、少なくとも１つ以上の左右の被検眼の前眼部画像に基づいて、両眼開放状態情報を取得するようにしてもよい。例えば、複数の左右の被検眼の前眼部画像を平均処理した前眼部画像を取得し、取得した前眼部画像を解析処理することによって、両眼開放状態情報を取得するようにしてもよい。また、例えば、複数の左右の被検眼の前眼部画像から両眼開放状態情報をそれぞれ取得し、取得された複数の両眼開放状態情報を平均処理することによって、両眼開放状態情報を取得するようにしてもよい。

＜判定手段＞
例えば、判定手段は、解析手段によって取得された両眼開放状態情報の良否を判定して判定情報を取得してもよい。例えば、判定手段は、両眼開放状態情報が良否を判定する場合に、取得した両眼開放状態情報と基準データとを比較をすることによって、両眼開放状態情報の良否を判定してもよい。この場合、例えば、判定手段は、取得した両眼開放状態情報が基準データを超えるか否かに基づいて良否を判定してもよい。また、この場合、判定手段は、取得した両眼開放状態情報が基準データと同一であるか否かに基づいて良否を判定してもよい。なお、本実施例において、同一とは、略同一を含みうる。

例えば、基準データは、メモリ（例えば、メモリ７２）に記憶されてもよい。この場合、例えば、判定手段は、判定処理を行う際に基準データをメモリより呼び出し、設定するようにしてもよい。

例えば、基準データとしては、予め設定された閾値であってもよい。例えば、基準データは、予め、シミュレーションや実験等によって両眼開放状態が良好であると判定される基準データが設定されるようにしてもよい。例えば、基準データは、検者が任意に設定できる構成としてもよい。

例えば、基準データは、瞳孔情報に対する基準データであってもよい。この場合、例えば、基準データは、瞳孔間距離情報、瞳孔位置情報、瞳孔位置ずれ情報、等の少なくともいずれかに対する基準データが設定されてもよい。また、例えば、基準データは、角膜頂点情報に対する基準データであってもよい。この場合、例えば、基準データは、角膜頂点位置情報、角膜頂点間距離情報、角膜頂点ずれ情報、等の少なくともいずれかに対する基準データが設定されてもよい。

例えば、判定情報は、判定結果（両眼開放状態の良否を示す結果）であってもよい。また、例えば、判定情報は、判定結果に基づくガイド情報（例えば、両眼開放状態ができていないことを示す警告情報、両眼開放状態の確認を促す情報、両眼開放状態の調整を促す情報等）であってもよい。もちろん、判定情報としては、上記構成に限定されず、両眼開放状態の良否を識別できる情報あればよい。

なお、例えば、判定手段は、両眼融像状態が安定しているか否かを判定するようにしてもよい。この場合、例えば、前眼部画像取得手段は、光学特性の測定中において、複数の前眼部画像を取得する。例えば、解析手段は、取得される前眼部画像を解析処理し、複数の両眼開放状態情報を取得する。例えば、判定手段は、取得した複数の両眼開放状態情報を順に判定処理し、各両眼開放状態情報が、基準データを超えるか否かに基づいて判定を行う。例えば、判定手段が、複数の両眼開放状態情報の内、所定の数の両眼開放状態情報が良好でないと判定された場合に、両眼開放状態情報が安定していないと判定してもよい。もちろん、安定性の判定は上記構成に限定されない。例えば、判定手段は、良好でないと判定された両眼開放状態情報が連続して続いた場合に、両眼開放状態情報が安定していないと判定してもよい。なお、判定処理手段によって取得された安定性情報は、出力手段によって、出力されるようにしてもよい。

＜出力手段＞
例えば、出力手段は、判定手段によって取得された判定情報を出力するようにしてもよい。例えば、出力手段は、判定情報をディスプレイに表示する構成であってもよい。また、例えば、出力手段は、判定情報を印刷する構成であってもよい。例えば、出力手段は、判定情報を他の装置（他の制御手段）に向けて送信する構成であってもよい。この場合、例えば、他の装置は、判定情報を受信し、受信した調節情報に基づいて各種制御が行われるようにしてもよい。

＜距離変更手段＞
例えば、検眼装置は、距離変更手段（例えば、制御部７０、投光光学系３０）を備えてもよい。例えば、距離変更手段は、光学特性測定手段による左右の被検眼への視標の呈示距離を変更してもよい。例えば、呈示距離が変更された場合、前眼部取得手段は、距離変更手段によって呈示距離を変更した場合に、変更された呈示距離における両眼開放状態での被検眼の光学特性の測定中において、前眼部画像を取得してもよい。例えば、解析手段は、変更された呈示距離における前眼部画像を解析処理し、変更された呈示距離における両眼開放状態情報を取得してもよい。

例えば、本実施形態における検眼装置は、左右の被検眼への視標の呈示距離を変更し、呈示距離を変更した場合に、変更された呈示距離における両眼開放状態での被検眼の光学特性の測定中において、前眼部画像を取得する構成を備える。これによって、変更した呈示距離で被検者が融像できるか否かを確認することができる。すなわち、被検者が融像できない呈示距離で測定が実施されることを抑制でき、精度の良い測定結果を得ることができる。

例えば、呈示距離変更手段は、視標を照射する光源の位置を変更する構成であってもよい。この場合、例えば、視標を照射する光源が光軸方向に移動されることによって、呈示距離が変更される構成であってもよい。また、例えば、呈示距離変更手段は、視標を被検眼に投影する光路中に配置された光学部材を駆動することによって、呈示距離を変更する構成であってもよい。この場合、例えば、光学部材を駆動する構成としては、光学部材が光軸方向に移動される構成であってもよい。また、この場合、例えば、光学部材を駆動する構成としては、光学部材が光軸に挿脱される構成であってもよい。また、この場合、例えば、光学部材を駆動する構成としては、光学部材が移動する（例えば、直線移動、回転移動等の少なくともいずれか）構成であってもよい。また、この場合、例えば、光学部材を駆動する構成としては、光学部材が変更される（複数の光学部材の中から光軸に配置される光学部材が選択される）構成であってもよい。なお、例えば、光学部材としては、ミラー、プリズム、レンズ、等の少なくともいずれかであってよい。もちろん、光学部材としては、上記構成に限定されない。

例えば、呈示距離の変更としては、少なくとも１つ以上の呈示距離に変更する構成であってもよい。例えば、少なくとも１つ以上の呈示距離に変更する構成としては、１つの呈示距離に変更される構成であってもよい。例えば、１つの呈示距離に変更される構成としては、検者が任意に設定した呈示距離に設定される構成であってもよい。例えば、１つの呈示距離に変更される構成としては、予め設定された呈示距離に設定される構成であってもよい。

例えば、検者が任意に設定した呈示距離に設定される構成としては、検者によって操作部が操作され、任意の呈示距離が設定されるようにしてもよい。例えば、呈示距離変更手段は、視標の呈示距離を検者によって設定された呈示距離に変更するようにしてもよい。

例えば、少なくとも１つ以上の呈示距離に変更する構成としては、視標の呈示距離を複数の呈示距離に変更する構成であってもよい。この場合、例えば、距離変更手段は、視標の呈示距離を複数の呈示距離に変更するようにしてもよい。例えば、前眼部取得手段は、距離変更手段によって、複数の呈示距離に変更が行われる際に、呈示距離が変更された位置毎に両眼開放状態での被検眼の光学特性の測定中における前眼部画像を取得してもよい。例えば、解析手段は、前眼部画像を解析処理し、呈示距離が変更された位置毎の両眼開放状態情報を取得するようにしてもよい。例えば、本実施形態における検眼装置は、複数の呈示距離に変更し、呈示距離が変更された位置毎に両眼開放状態での被検眼の光学特性の測定中における前眼部画像を取得する。これによって、被検者が融像できなくなった呈示距離を確認することができ、被検者が融像できなくなる位置までの呈示距離の範囲内で測定を行うことができる。これによって、精度の良い測定結果を得ることができる。

例えば、視標の呈示距離を複数の呈示距離に変更する構成としては、初期の呈示距離から複数の呈示距離に変更できる構成であってもよい。例えば、初期の呈示距離とは、予め所定の呈示距離（例えば、遠用検査用の呈示距離（例えば、５ｍ等））が設定されていてもよい。また、例えば、初期の呈示距離とは、検者によって任意の呈示距離が設定できるようにしてもよい。

例えば、初期の呈示距離から複数の呈示距離に変更できる構成としては、初期の呈示距離から１つの呈示距離にのみ変更できる構成であってもよい。例えば、初期の呈示距離から１つの呈示距離にのみ変更できる構成の場合、２つの呈示距離間で変更される構成であってもよい。例えば、２つの呈示距離としては、遠用検査用の呈示距離（例えば、５ｍ等）と、近用検査用の呈示距離（例えば、４０ｃｍ、３０ｃｍ等）と、であってもよい。もちろん、異なる呈示距離が設定される構成であってもよい。すなわち、例えば、呈示距離変更手段は、遠用検査用の呈示距離（遠用呈示距離）と、近用検査用の呈示距離（近用呈示距離）と、で呈示距離が変更する。例えば、前眼部取得手段は、遠用呈示距離、近用呈示距離の少なくともいずれかで前眼部画像を取得する。例えば、解析手段は、取得された前眼部画像を解析処理し、両眼開放状態情報を取得することができる。これによって、遠用検査距離と、近用呈示距離と、のそれぞれで被検者の両眼開放状態情報を取得することができる。すなわち、遠用検査距離と、近用呈示距離と、のそれぞれで被検者が両眼での融像ができるか否かを確認することができる。

例えば、初期の呈示距離から複数の呈示距離に変更できる構成としては、初期の呈示距離の他に、変更できる呈示距離が複数設定されている構成であってもよい。例えば、複数の呈示距離は、検者によって任意に設定される構成であってもよい。また、例えば、複数の呈示距離は、予め設定されている構成であってもよい。この場合、例えば、複数の呈示距離は、所定の距離間隔毎に設定されている構成であってもよい。また、この場合、例えば、複数の呈示距離は、各種測定（例えば、遠用検査距離での測定、中用検査距離での測定、近用検査距離での測定等）に応じて設定されている構成であってもよい。なお、例えば、予め複数の呈示距離が設定されている場合に、予め設定された複数の呈示距離の中から、測定を行う複数の呈示距離が選択できる構成としてもよい。

例えば、複数の呈示距離に変更して測定を行っていく場合、検者が操作部を操作することによって、次の呈示距離に変更が行われる構成としてもよい。また、例えば、測定が完了したことを検出することによって、自動的に次の呈示距離に変更が行われる構成としてもよい。

なお、例えば、呈示距離の変更時において、呈示距離が変更されるまでの間に両眼開放状態情報を取得するようにしてもよい。この場合、例えば、前眼部取得手段は、呈示距離変更手段による呈示距離の変更中において、少なくとも１つ以上の前眼部画像を取得するようにしてもよい。例えば、取得された前眼部画像が適宜解析処理されることによって両眼開放状態情報が取得されるようにしてもよい。

なお、例えば、判定手段は、呈示距離変更手段によって、視標の呈示距離が変更された場合に、基準データを変更して判定処理を行うようにしてもよい。この場合、例えば、判定手段は、両眼開放状態情報の良否を判定するための基準データを呈示距離に応じて変更するようにしてもよい。例えば、遠方視に対して、近方視の場合には、被検眼に近い位置の物体を確認することになるため、左右の瞳孔間距離が短くなる。この状態で、遠方視の状態で融像が良好であるか否かを判定するための基準データを用いると、判定基準が異なるために、近方視での融像ができているにもかかわらず、良好でない判定がでることがある。例えば、本実施形態における検眼装置は、両眼開放状態情報の良否を判定するための基準データを呈示距離が変更された位置に応じて変更する構成を備える。例えば、呈示距離によって被検者が融像をした際の被検眼の前眼部の位置が変化する。これによって、判定をするのに適切な基準データが設定されるため、精度よく判定を行うことができる。

例えば、基準データの変更は、基準データの補正量が設定されている構成であってもよい。この場合、例えば、被検者に応じて初期の呈示距離が設定され、初期の呈示距離の基準データに対して、呈示距離の変化距離（変化量）に応じた補正を行う構成としてもよい。例えば、変更する呈示距離が設定されると、判定手段は、メモリから呈示距離に応じた補正量を呼び出し、基準データを補正するようにしてもよい。なお、基準データの補正量は、予め、シミュレーションや実験等によって両眼開放状態が良好であると判定される補正量が設定されるようにしてもよい。例えば、基準データの補正量は、検者が任意に設定される構成としてもよい。また、例えば、基準データの補正量は、被検者の測定を開始する前に事前に複数の呈示距離における両眼開放状態が良好であると判定される補正量が設定される構成としてもよい。

例えば、基準データの変更は、呈示距離に応じた基準データが設定されている構成であってもよい。例えば、呈示距離に応じた基準データは、被検者の測定を開始する前に事前に複数の呈示距離における両眼開放状態が良好であると判定される基準データが設定される構成としてもよい。また、例えば、呈示距離に応じた基準データは、予め、シミュレーションや実験等によって、呈示距離に応じて両眼開放状態が良好であると判定される基準データが設定されるようにしてもよい。

＜実施例＞
以下、本実施例の検眼装置について説明する。例えば、検眼装置としては、自覚式検眼装置であってもよい。例えば、自覚式検眼装置としては、自覚式測定手段を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置としては、他覚式測定手段を備えていてもよい。また、例えば、検眼装置としては、他覚式検眼装置であってもよい。また、例えば、他覚式検眼装置としては、他覚式測定手段を備えていてもよい。また、例えば、他覚式検眼装置としては、自覚式測定手段を備えていてもよい。なお、以下の説明においては、検眼装置として、自覚式検眼装置を例に挙げて説明する。

以下、本実施例の自覚式検眼装置について説明する。例えば、図１は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の外観図である。例えば、本実施例における自覚式検眼装置１は、筐体２、呈示窓３、操作部（モニタ）４、顎台５、基台６、撮像光学系１００等を備える。例えば、筐体２は、内部に部材を収納する。例えば、筐体２の内部には、測定手段（図１の点線部）７を備える（詳細は後述する）。例えば、測定手段７は、右眼用測定手段（右眼用測定手段）７Ｒと左眼用測定手段（左眼用測定手段）７Ｌを備える。本実施例においては、右眼用測定手段７Ｒと左眼用測定手段７Ｌは、同一の部材を備えている。すなわち、自覚式検眼装置１は、左右一対の自覚式測定手段と、左右一対の他覚式測定手段と、有する。もちろん、右眼用測定手段７Ｒと左眼用測定手段７Ｌは、部材の少なくとも一部が異なる構成であってもよい。また、例えば、自覚式検眼装置１は、自覚式測定手段のみを備える構成であってもよい。

例えば、呈示窓３は、被検者に視標を呈示するために用いられる。例えば、右目用測定手段７Ｒと左目用測定手段７Ｌからの視標光束が呈示窓３を介して被検眼Ｅに投影される。

例えば、モニタ（ディスプレイ）４は、タッチパネルである。すなわち、本実施例において、モニタ４が操作部（コントローラ）として機能する。モニタ４は、入力された操作指示に応じた信号を後述する制御部７０に出力する。もちろん、モニタ４と操作部が別に設けられた構成であってもよい。例えば、操作部には、マウス、ジョイスティック、キーボード等の操作手段の少なくともいずれかを用いる構成が挙げられる。

例えば、モニタ４は、自覚式検眼装置１の本体に搭載されたディスプレイであってもよいし、自覚式検眼装置１の本体に接続されたディスプレイであってもよい。もちろん、タッチパネル式でなくともよい。例えば、パーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）のディスプレイを用いてもよい。また、例えば、複数のディスプレイが併用されてもよい。例えば、モニタ４には、測定結果が表示される。

例えば、顎台５は、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つため、又は顔の大きいブレを抑えるため、に用いられる。例えば、基台６には、顎台５と、筐体２が固定されている。なお、本実施例においては、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つために顎台５を用いているがこれに限定されない。被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つための構成であればよい。例えば、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つための構成としては、額当て、顔当て等を用いる構成が挙げられる。

例えば、撮像光学系１００は、図示無き撮像素子とレンズによって構成される。例えば、撮像光学系は、被検眼の顔を撮影するために用いられる。

＜測定手段＞
図２は、測定手段７の構成について説明する図である。本実施例においては、左眼用測定手段７Ｌを例に挙げて説明する。本実施例において、右眼用測定手段７Ｒは、左眼用測定手段７Ｌと同様の構成であるため、説明は省略する。例えば、左眼用測定手段７Ｌは、自覚式測定光学系２５と、他覚式測定光学系１０と、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、観察光学系５０を備える。

＜自覚式光学系＞
例えば、自覚測定光学系２５は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼の光学特性としては、眼屈折力、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能等）等が挙げられる。なお、本実施例においては、被検眼の眼屈折力を測定する自覚式測定手段を例に挙げて説明する。例えば、自覚式測定光学系２５は、投光光学系（視標投光系）３０と、矯正光学系６０、補正光学系９０、で構成される。

例えば、投光光学系３０は、視標光束を被検眼Ｅに向けて投影する。例えば、投光光学系３０は、ディスプレイ３１、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、を備える。例えば、ディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４の順で光学部材を経由して被検眼Ｅに投影される。

例えば、ディスプレイ３１には、ランドルト環視標等の検査視標、被検眼Ｅを固視させるための固視標（後述する他覚測定時等に用いられる）等が表示される。例えば、ディスプレイ３１からの視標光束が被検眼Ｅに向けて投影される。本実施例においては、ディスプレイ３１として、ＬＣＤを用いた場合を例に挙げて、以下の説明を行う。

例えば、矯正光学系６０は、乱視矯正光学系６３、駆動機構３９を備える。

例えば、乱視矯正光学系６３は、投光レンズ３４と投光レンズ３３との間に配置されている。例えば、乱視矯正光学系６３は、被検眼の円柱度数、円柱軸等を矯正するために用いられる。例えば、乱視矯正光学系６３は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ６１ａ，６１ｂから構成される。円柱レンズ６１ａ，６１ｂは、それぞれ回転機構６２ａ、６２ｂの駆動により、光軸Ｌ２を中心に各々独立して回転される。なお、本実施例においては、乱視矯正光学系６３は、２枚の正の円柱レンズ６１ａ，６１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。乱視矯正光学系６３は、円柱度数、円柱軸等を矯正できる構成であればよい。例えば、矯正レンズを投光光学系３０の光路に出し入れする構成でも良い。

例えば、ディスプレイ３１は、モータ及びスライド機構からなる駆動機構３９により光軸Ｌ２の方向に一体的に移動される。例えば、自覚測定時において、ディスプレイ３１が移動されることにより、被検者眼に対する視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変えられることにより、被検眼の球面屈折力が矯正される。すなわち、ディスプレイ３１の移動により、球面度数の矯正光学系が構成される。また、例えば、他覚測定時において、ディスプレイ３１が移動されることにより、被験者眼Ｅに雲霧が掛けられる。なお、球面度数の矯正光学系としては、これに限定されない。例えば、球面度数の矯正光学系は、多数の光学素子を有し、光路中に光学素子が配置されることによって矯正を行う構成であってもよい。また、例えば、光路中に配置されたレンズを光軸方向に移動させる構成であってもよい。

なお、本実施例においては、球面度数、円柱度数、円柱軸を矯正する矯正光学系を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。例えば、プリズム値が矯正される矯正光学系を設けてもよい。プリズム値の矯正光学系を設けることによって、被検者が斜位眼であっても、視標光束が被検眼に投影されるように、矯正することができる。

なお、本実施例においては、円柱度数及び円柱軸の乱視矯正光学系６３と、球面度数の矯正光学系（例えば、駆動手段３９）と、が別途設けられている構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系として、球面度数、円柱度、円柱軸とが矯正される矯正光学系を備える構成であればよい。例えば、矯正光学系が波面を変調させる光学系であってもよい。また、例えば、矯正光学系が、球面度数、円柱度数、円柱軸等を矯正する光学系であってもよい。この場合、例えば、矯正光学系は、多数の光学素子（球面レンズ、円柱レンズ、分散プリズム、等）が同一円周上に配置されているレンズディスクを備える構成が挙げられる。レンズディスクが駆動部（アクチュエータ等）によって回転制御されることにより、検者が所望する光学素子が光軸Ｌ２に配置される。

また、光軸Ｌ２に配置された光学素子（例えば、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム等）が駆動部によって回転制御されることにより、検者が所望する回転角度にて光学素子が光軸Ｌ２に配置される。光軸Ｌ２に配置される光学素子の切換え等は、モニタ４などの入力手段（操作手段）の操作によって行われてもよい。

レンズディスクは、１つのレンズディスク、又は複数のレンズディスクからなる。複数のレンズディスクが配置された場合、各レンズディスクに対応する駆動部がそれぞれ設けられる。例えば、レンズディスク群として、各レンズディスクが開口（又は０Ｄのレンズ）及び複数の光学素子を備える。各レンズディスクの種類としては、度数の異なる複数の球面レンズを有する球面レンズディスク、度数の異なる複数の円柱レンズを有する円柱レンズディスク、複数種類の補助レンズを有する補助レンズディスクが代表的である。補助レンズディスクには、赤フィルタ／緑フィルタ、プリズム、クロスシリンダレンズ、偏光板、マドックスレンズ、オートクロスシリンダレンズの少なくともいずれかが配置される。また、円柱レンズは、駆動部により光軸Ｌ２を中心に回転可能に配置され、ロータリプリズム及びクロスシリンダレンズは、駆動部により各光軸を中心に回転可能に配置されてもよい。

例えば、補正光学系９０は、対物レンズ１４と後述する偏向ミラー８１の間に配置される。例えば、補正光学系９０は、自覚式測定手段にて生じる光学収差を補正するために用いられる。例えば、補正光学系９０は、光学収差における非点収差を補正するために用いられる。例えば、補正光学系９０は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ９１ａ，９１ｂから構成される。例えば、補正光学系９０は、円柱度数と、円柱軸を調整することによって、非点収差を補正する。円柱レンズ９１ａ，９１ｂは、それぞれ回転機構９２ａ、９２ｂの駆動により、光軸Ｌ３を中心に各々独立して回転される。なお、本実施例においては、補正光学系９０は、２枚の正の円柱レンズ９１ａ，９１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。補正光学系９０は、非点収差を矯正できる構成であればよい。例えば、補正レンズを光軸Ｌ３に出し入れする構成でも良い。なお、本実施例においては、別途、補正光学系９０を配置する構成を例に挙げているがこれに限定されない。矯正光学系６０が補正光学系９０を兼用する構成であってもよい。この場合、被検眼の円柱度数、円柱軸を、非点収差量に応じて、補正する。すなわち、非点収差量を考慮した（補正した）円柱度数、円柱軸を矯正するように、矯正光学系６０を駆動させる。このように、矯正光学系６０が補正光学系９０を兼用することで、例えば、複雑な制御や、別途、光学収差用の補正光学系を必要としないため、簡易的な構成で光学収差を補正することができる。

＜他覚式光学系＞
例えば、他覚式測定光学系１０は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼の光学特性としては、眼屈折力、眼軸長、角膜形状等が挙げられる。なお、本実施例においては、被検眼の眼屈折力を測定する他覚式測定手段を例に挙げて説明する。

例えば、他覚式測定光学系１０は、投影光学系１０ａ、受光光学系１０ｂ、補正光学系９０、で構成される。例えば、投影光学系（投光光学系）１０ａは、被検眼Ｅの瞳孔中心部を介して被検眼Ｅの眼底にスポット状の測定指標を投影する。例えば、受光光学系１０ｂは、眼底から反射された眼底反射光を瞳孔周辺部を介してリング状に取り出し、二次元撮像素子にリング状の眼底反射像を撮像させる。

例えば、投影光学系１０ａは、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１上に配置された，測定光源１１、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、駆動部（モータ）２３、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、及び対物レンズ１４を含む。例えば、プリズム１５は、光束偏向部材である。例えば、駆動部２３は、プリズム１５を光軸Ｌ１を中心に回転駆動させる回転手段である。例えば、光源１１は被検眼眼底と共役な関係となっており、ホールミラー１３のホール部は瞳孔と共役な関係となっている。例えば、プリズム１５は被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置から外れた位置に配置されており、通過する光束を光軸Ｌ１に対して偏心させる。なお、プリズム１５に代えて光束偏向部材として平行平面板を光軸Ｌ１上に斜めに配置する構成でも良い。

例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光路と、他覚式測定光学系１０の光路と、共通にする。すなわち、例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１と、を同軸にする。例えば、光路分岐部材であるビームスプリッタ２９は、自覚測定光学系２５による光束及び投影光学系１０ａによる測定光を反射し、被検眼に導く。

例えば、受光光学系１０ｂは、投影光学系１０ａの対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５及びホールミラー１３を共用し、ホールミラー１３の反射方向の光路に配置されたリレーレンズ１６、ミラー１７、ミラー１７の反射方向の光路に配置された受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、ＣＣＤ等の二次元撮像素子２２（以下、撮像素子２２と記載する）を備える。例えば、受光絞り１８及び撮像素子２２は、被検眼眼底と共役な関係となっている。例えば、リングレンズ２０は、リング状に形成されたレンズ部と、レンズ部以外の領域に遮光用のコーティングを施した遮光部と、から構成され、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。例えば、撮像素子２２からの出力は、演算制御部７０（以下、制御部７０）に入力される。

例えば、ダイクロイックミラー２９は、被検眼眼底による投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０に向けて反射する。また、例えば、ダイクロイックミラー２９は、前眼部観察光及びアライメント光を透過し、観察光学系５０に導く。また、例えば、ダイクロイックミラー３５は、被検眼眼底による投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０に向けて反射する。

なお、他覚式測定光学系１０は上記のものに限らず、瞳孔周辺部から眼底にリング状の測定指標を投影し、瞳孔中心部から眼底反射光を取り出し、二次元撮像素子にリング状の眼底反射像を受光させる構成等、周知のものが使用できる。

なお、他覚式測定光学系１０は上記のものに限らず、被検者眼眼底に向けて測定光を投光する投光光学系と，測定光の眼底での反射によって取得される反射光を受光素子によって受光する受光光学系と，を有する測定光学系であればよい。例えば、眼屈折力測定光学系は、シャックハルトマンセンサーを備えた構成であってもよい。もちろん、他の測定方式の装置が利用されてもよい（例えば、スリットを投影する位相差方式の装置）。

例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２は、光軸方向に一体的に移動可能となっている。本実施例において、例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２は、ディスプレイ３１を駆動させる駆動機構３９により光軸Ｌ１の方向に一体的に移動される。すなわち、ディスプレイ３１、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２は、駆動ユニット９５として同期して一体的移動する。もちろん、別途、それぞれが駆動される構成としてもよい。
例えば、駆動ユニット９５は、外側のリング光束が各経線方向に関して撮像素子２２上に入射されるように他覚式測定光学系１０の一部を光軸方向に移動させる。すなわち、他覚式測定光学系１０の一部を被検眼の球面屈折誤差（球面屈折力）に応じて光軸Ｌ１方向に移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼眼底に対して光源１１、受光絞り１８及び撮像素子２２が光学的に共役になるようにする。駆動機構３９の移動位置は、図示無きポテンショメータにより検出される。なお、ホールミラー１３とリングレンズ２０は、可動ユニット２５の移動量に拘わらず、被検眼の瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。

上記構成において、光源１１から出射された測定光は、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ビームスプリッタ２９、対物レンズ１４、を経て、被検眼の眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５により、ホールミラー１３のホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は、高速に偏心回転される。眼底に投影された点光源像は反射・散乱されて被検眼を射出し、対物レンズ１４によって集光され、ビームスプリッタ２９、ダイクロイックミラー３５、高速回転するプリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７を介して受光絞り１８の位置に再び集光され、コリメータレンズ１９とリングレンズ２０とによって撮像素子２２にリング状の像が結像する。

例えば、プリズム１５は、投影光学系１０ａと受光光学系１０ｂと共通光路に配置されている。このため、眼底からの反射光束は、投影光学系１０ａと同じプリズム１５を通過するため、それ以降の光学系ではあたかも瞳孔上における投影光束・反射光束（受光光束）の偏心が無かったかのように逆走査される。

例えば、補正光学系９０は、自覚式測定光学系２５と兼用される。もちろん、別途、他覚式測定光学系１０で用いる補正光学系を設ける構成としてもよい。

＜第１指標投影光学系及び第２指標投影光学系＞
本実施例において、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６は、補正光学系９０と、偏向ミラー８１との間に配置される。もちろん、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の配置位置は、これに限定されない。

第１指標投影光学系４５は、光軸Ｌ３を中心として同心円上に４５度間隔で赤外光源が複数個配置されており、光軸Ｌ３を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置されている。第１指標投影光学系４５は、被検眼の角膜にアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。第２指標投影光学系４６は、第１指標投影光学系４５とは異なる位置に配置され６つの赤外光源を備える。この場合、第１指標投影光学系４５は、被検者眼Ｅの角膜に無限遠の指標を左右方向から投影し、第２指標投影光学系４６は被検者眼Ｅの角膜に有限遠の指標を上下方向もしくは斜め方向から投影する構成となっている。なお、図２の本図には、便宜上、第１指標投影光学系４５と、第２指標投影光学系４６の一部のみが図示されている。なお、第２指標投影光学系４６は、被検眼の前眼部を照明する前眼部照明としても用いられる。また、角膜形状測定用の指標としても利用できる。また、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６は、点状光源に限定されない。例えば、リング状光源、ライン状の光源、であってもよい。

＜観察光学系＞
観察光学系（撮像光学系）５０は、自覚式測定光学系２５及び他覚式測定光学系１０における、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９が共用され、撮像レンズ５１、及び二次元撮像素子５２を備える。例えば、撮像素子５２は、被検眼前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ。例えば、撮像素子５２からの出力は、制御部７０に入力される。これにより、被検眼の前眼部像は二次元撮像素子５２により撮像され、モニタ４上に表示される。なお、この観察光学系５０は、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６によって、被検眼の角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、制御部７０によりアライメント指標像の位置が検出される。

＜自覚式検眼装置内部構成＞
以下、自覚式検眼装置１の内部構成について説明する。図３は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を正面方向（図１のＡ方向）から見た概略構成図である。図４は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を側面方向（図１のＢ方向）から見た概略構成図である。図５は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を上面方向（図１のＣ方向）から見た概略構成図である。なお、図３では、説明の便宜上、ハーフミラー８４の反射を示す光軸について省略している。なお、図４では、説明の便宜上、左眼用測定手段７Ｌの光軸のみを示している。なお、図５では、説明の便宜上、左眼用測定手段７Ｌの光軸のみを示している。

例えば、自覚式検眼装置１は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、を備える。例えば、自覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、駆動手段８３、駆動手段８２、ハーフミラー８４、凹面ミラー８５、で構成される。もちろん、自覚式測定手段は、この構成に限定されない。例えば、他覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、ハーフミラー８４、凹面ミラー８５、で構成される。もちろん、他覚式測定手段は、この構成に限定されない。

なお、自覚式検眼装置１は、右眼用駆動手段９Ｒ、左眼用駆動手段９Ｌを有し、右眼用測定手段７Ｒ及び左眼用測定手段７ＬをそれぞれＸ方向に移動できる。例えば、右眼用測定手段７Ｒ及び左眼用測定手段７Ｌが移動されることによって、偏向ミラー８１と測定手段７との間の距離が変更され、Ｚ方向における視標光束の呈示位置が変更される。これによって、矯正光学系６０によって矯正された視標光束を被検眼に導光し、矯正光学系６０によって矯正された視標光束の像が被検眼の眼底に形成されるようにＺ方向における調整することができる。

例えば、偏向ミラー８１は、左右一対にそれぞれ設けられた右眼用の偏向ミラー８１Ｒ、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを有する。例えば、偏向ミラー８１は、矯正光学系６０と、被検眼と間に配置される。すなわち、矯正光学系６０は、左右一対に設けられた右眼用矯正光学系と左眼用矯正光学系を有しており、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右眼用矯正光学系と右眼ＥＲの間に配置され、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左眼用矯正光学系と左眼ＥＲの間に配置される。例えば、偏向ミラー８１は、瞳共役位置に配置されることが好ましい。

例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右眼用測定手段７Ｒから投影される光束を反射し、右眼ＥＲに導光する。また、例えば、右眼ＥＲで反射された反射光を反射し、右眼用測定手段７Ｒに導光する。例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左眼用測定手段７Ｌから投影される光束を反射し、左眼ＥＬに導光する。また、例えば、左眼ＥＬで反射された反射光を反射し、左眼用測定手段７Ｌに導光する。なお、本実施例においては、測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材として、偏向ミラー８１を用いる構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材であればよい。例えば、偏向部材としては、プリズム、レンズ等が挙げられる。

例えば、駆動手段８３は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動手段８３は、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動手段８３Ｒ、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動手段８３Ｌを有する。例えば、駆動手段８３の駆動によって、偏向ミラー８１は、Ｘ方向に移動できる。例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒ及び左眼用の偏向ミラー８１Ｌが移動されることによって、右眼用の偏向ミラー８１Ｒ及び左眼用の偏向ミラー８１Ｌとの間の距離が変更され、被検眼の瞳孔間距離にあわせて右眼用光路と左眼用光路との間のＸ方向における距離を変更することができる。

例えば、駆動手段８２は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動手段８２は、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動手段８２Ｒ、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動手段８２Ｌを有する。例えば、駆動手段８２の駆動によって、偏向ミラー８１は、回転移動する。例えば、駆動手段８２は、水平方向（Ｘ方向）の回転軸、及び鉛直方向（Ｙ方向）の回転軸に対して偏向ミラー８１を回転させる。すなわち、駆動手段８２は偏向ミラー８１をＸＹ方向に回転させる。なお、偏向ミラー８１の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。なお、右眼用光路と左眼用光路とでそれぞれ、偏向ミラーが複数設けられた構成であってもよい。例えば、右眼用光路と左眼用光路とで、２つの偏向ミラーがそれぞれ設けられる（例えば、右眼用光路で２つの偏向ミラー等）構成が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがＸ方向に回転され、他方の偏向ミラーがＹ方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー８１が回転移動されることによって、矯正光学系６０の像を被検眼の眼前に形成されるためのみかけの光束を偏向させることにより像の形成位置を光学的に補正することができる。

例えば、凹面ミラー８５は、右眼用測定手段７Ｒと左眼用測定手段７Ｌとで共有される。例えば、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー８５は、共有される構成でなくてもよい。右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、でそれぞれ凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー８５は、矯正光学系を通過した視標光束を被検眼に導光し、矯正光学系を通過した視標光束の像を被検眼の眼前に形成する。なお、本実施例においては、凹面ミラー８５を用いる構成を例に挙げているがこれに限定されない。種々の光学部材を用いることができる。例えば、光学部材としては、レンズ、平面ミラー等を用いることができる。

例えば、凹面ミラー８５は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、で兼用される。例えば、自覚測定光学系２５から投影された視標光束は、凹面ミラー８５を介して、被検眼に投影される。また、例えば、他覚測定光学系１０から投影された測定光は、凹面ミラー８５を介して、被検眼に投影される。また、例えば、他覚測定光学系１０から投影された測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される。なお、本実施例においては、他覚測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される構成を例に挙げているがこれに限定されない。他覚測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介さない構成であってもよい。

より詳細には、例えば、本実施例において、自覚式測定手段における、凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、他覚式測定手段における、凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、が少なくとも同軸で構成されている。なお、本実施例においては、ダイクロイックミラー３５によって、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１とが合成され、同軸となっている。

以下、自覚測定手段の光路について説明する。例えば、自覚測定手段は、矯正光学系６０を通過した視標光束を凹面ミラー８５によって、被検眼方向に反射することで被検眼に視標光束を導光し、矯正光学系６０を通過した視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼の眼前に形成する。すなわち、凹面ミラー８５は、視標光束を略平行光束にするように反射する。このため、被検者から見た視標像は、被検眼Ｅからディスプレイ３１までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。すなわち、凹面ミラー８５を用いることで、所定の検査距離の位置に視標光束の像が見えるように、被検者に視標像を呈示することができる。

より詳細に説明する。なお、以下の説明においては、左眼用光路を例に挙げて説明する。右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の自覚測定手段において、左眼用測定手段７Ｌのディスプレイ１３から投影された視標光束は、投光レンズ３３を介して、乱視矯正光学系６３に入射する。乱視矯正光学系６３を通過した視標光束は、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４を経由して、補正光学系９０に入射される。補正光学系９０を通過した視標光束は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された視標光束は、ハーフミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された視標光束は、ハーフミラー８４を透過して、左眼ＥＬに到達する。

これによって、左眼ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点から１２ｍｍ程度）を基準として矯正光学系６０によって矯正された視標像が左眼ＥＬの眼底上に形成される。従って、乱視矯正光学系６３があたかも眼前に配置されたこと、及び、球面度数の矯正光学系（本実施例においては、駆動機構３９の駆動）による球面度数の調整が眼前で行われたこと、と等価になっており、被検者は凹面ミラー８５を介して自然の状態で視標の像を視準することができる。なお、本実施例においては、右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成であり、両被検眼ＥＲ，ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点から１２ｍｍ程度）を基準として、左右一対の矯正光学系６０によって矯正された視標像が両被検眼の眼底上に形成されるようになっている。このようにして、被検者は自然視の状態で視標を直視しつつ検者に対する応答を行い、検査視標が適正に見えるまで矯正光学系６０による矯正を図り、その矯正値に基づいて自覚的に被検眼の光学特性の測定を行う。

次いで、他覚測定手段の光路について説明する。なお、以下の説明においては、左眼用光路を例に挙げて説明する。右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の他覚測定手段において、他覚式測定光学系１０における投影光学系１０ａの光源１１から出射された測定光は、リレーレンズ１２から対物レンズ１４までを介して、補正光学系９０に入射される。補正光学系９０を通過した測定光は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された測定光は、ハーフミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された測定光は、ハーフミラー８４を透過して、左眼ＥＬに到達し、左眼ＥＬの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５により、ホールミラー１３のホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は、高速に偏心回転される。

左眼ＥＬの眼底上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Ｅを射出し、測定光が通過した光路を経由して対物レンズ１４によって集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７までを介する。ミラー１７までを介した反射光は、受光絞り１８の開口上で再び集光され、コリメータレンズ１９にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２０によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子２２に受光される。受光したリング像を解析することによって、他覚的に被検眼の光学特性を測定することができる。

＜制御部＞
例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備える。例えば、制御部７０のＣＰＵは、自覚式検眼装置１の各部材の制御を司る。例えば、ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、自覚式検眼装置１の動作を制御するための各種プログラム、各種検査のための視標データ、初期値等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

例えば、制御部７０には、不揮発性メモリ（記憶部）７２、及びモニタ（本実施例においては、操作部を兼ねる）４、各種部材等が電気的に接続されている。不揮発性メモリ（以下、メモリと記載）７２は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、ＯＣＴデバイス１、及び、自覚式検眼装置１に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等を不揮発性メモリ７２として使用することができる。例えば、メモリ７２には、自覚式測定手段及び他覚式測定手段を制御するための制御プログラムが記憶されている。

＜制御動作＞
以下、自覚式検眼装置１の制御動作について説明する。図６は、本実施例における制御動作の流れについて説明するフローチャートである。検者は、顎台５に被検者の顎を当てさせ、呈示窓３を観察するように指示する。検者は、被検者にディスプレイ３１に表示された固視標を固視するよう指示した後、被検眼に対するアライメントを行う。

＜アライメント動作（Ｓ１）＞
検者によって、アライメント開始スイッチが選択されると、制御部７０は、自動アライメント（Ｓ１）を開始する。なお、本実施例においては、遠用時における被検眼の光学特性を測定する場合を例に挙げて説明する。近用時においても遠用時と同様にして被検眼の光学特性を測定することができる。

例えば、制御部７０は、撮像光学系１００によって撮像された顔画像から左右の被検眼の瞳孔位置を検出する。例えば、瞳孔位置が検出されると、制御部７０は、前眼部像がモニタ４に表示されるように自覚式検眼装置１を制御する。例えば、制御部７０は、右眼用の偏向ミラー８１Ｒ，左眼用の偏向ミラー８１Ｌ、それぞれ駆動させ、ＸＹ方向に回転させる。また、例えば、瞳孔位置が検出されると、制御部７０は、右眼用測定手段７Ｒ及び左眼用測定手段７ＬをそれぞれＸ方向に移動できる。すなわち、制御部７０は、偏向ミラー８１を駆動させることよってＸＹ方向のアライメントを行い、測定手段７を駆動させることによってＺ方向のアライメントを行う。

なお、本実施例においては、偏向ミラー８１と、測定手段７と、の駆動によってＸＹＺ方向のアライメントを調整する構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。被検眼と、自覚式測定手段及び他覚式測定手段と、の位置関係を調整できる構成であればよい。すなわち、矯正光学系６０によって矯正された像が被検眼の眼底上に形成されるようにＸＹＺ方向を調整できる構成であればよい。例えば、顎台６に対して、自覚式検眼装置１をＸＹＺ方向に移動可能な構成を設けて、自覚式検眼装置１を移動させる構成であってもよい。また、例えば、偏向ミラー８１と測定ユニットを一体的にＸＹＺ方向に移動可能な構成として、ＸＹＺ方向の調整を行える構成としてもよい。また、例えば、偏向ミラー８１のみによってＸＹＺ方向の調整を行える構成としてもよい。この場合、例えば、偏向ミラー８１は、回転駆動するとともに、測定ユニットとの間の距離が変更するように、偏向ミラー８１がＺ方向移動する構成が挙げられる。なお、例えば、アライメント制御においては、両被検眼がモニタ４上に表示され、同一画面上で、両被検眼のアライメント制御が行われてもよい。また、例えば、アライメント制御においては、モニタ４上に一方の被検眼が表示され、一方の被検眼のアライメント制御が完了した後、他方の被検眼がモニタ４上に表示され、他方の被検眼のアライメント制御が行われるようにしてもよい。また、例えば、一方の被検眼のアライメント制御結果に基づいて、他方の被検眼のアライメント制御が行われる構成としてもよい。

例えば、制御部７０は、被検眼に対する矯正光学系６０の像の位置ずれを検出する。例えば、制御部７０は、検出された検出結果に基づいて、駆動手段を制御し、矯正光学系６０の像を被検眼に導光するためのみかけの光束を偏向させることにより像の形成位置を光学的に補正する。このように、本実施例における自覚式検眼装置１は、被検眼と矯正光学系との位置ずれを検出し、像の形成位置を光学的に補正する構成を備える。これによって、被検眼と矯正光学系との位置ずれを補正することによって、適正な位置で装置の使用が可能となり、精度よく測定を行うことができる。

＜他覚式測定（Ｓ２）＞
制御部７０は、アライメント完了信号の出力に基づいて、他覚式測定（他覚測定）（Ｓ２）を開始するための他覚測定開始トリガ信号（以下、トリガ信号と記載）が発する。他覚測定を開始するためのトリガ信号が発せられると、制御部７０は、他覚式測定光学系１０から測定光束を出射する。この場合、各測定光束は、偏向ミラー８１Ｒ、８１Ｌを介して凹面ミラー８５によって反射された後、被検眼の眼底に投影される。眼底から反射された測定光は、凹面ミラー８５を介して、偏向ミラー８１Ｒ（８１Ｌ）によって反射された後、撮像素子２２によって測定画像が撮像される。

例えば、他覚眼屈折力の測定においては、はじめに眼屈折力の予備測定が行われ、予備測定の結果に基づいてディスプレイ３１が光軸Ｌ２方向に移動されることにより、被検眼Ｅに対して雲霧がかけられてもよい。すなわち、ディスプレイ３１が被検眼Ｅに対して、一度ピントが合う位置に移動されてもよい。その後、雲霧がかけられた被検眼に対して眼屈折力の本測定が行われてもよい。本測定では、測定画像は撮像素子２２に撮像され、撮像素子２２からの出力信号は、メモリ７２に画像データ（測定画像）として記憶される。その後、制御部７０は、メモリ７２に記憶されたリング像を画像解析して各経線方向の屈折力の値を求める。制御部７０は、この屈折力に所定の処理を施すことによって遠用時での被検者眼のＳ（球面度数）、Ｃ（乱視度数）、Ａ（乱視軸角度）の他覚眼屈折力（他覚値）を得る。得られた遠用時での他覚値はメモリ７２に記憶される。

上記他覚眼屈折力の測定において、制御部７０は、補正光学系９０を制御し、他覚式測定光学系１０の光路にて生じる光学収差を補正してもよい。この場合、他覚式測定光学系１０によって測定された屈折度数に応じた補正量をメモリ７２から取得し、取得された収差補正量に基づいて補正光学系９０を制御する。

より具体的には、予備測定で得られた眼屈折力に応じて補正量が設定され、設定された補正量に基づいて補正光学系９０が駆動される。これによって、本測定は、他覚式測定光学系１０の光路にて生じる収差が補正された状態において本測定が行われるので、他覚眼屈折力を精度よく測定できる。なお、眼屈折力を連続的に測定する場合（例えば、本測定を複数行う）、各測定結果に基づいて補正光学系９０が制御されてもよい。

なお、上記説明においては、遠用での他覚眼屈折力が測定されたが、これに限定されず、近用距離にて視標が呈示された状態での眼屈折力である近用での他覚眼屈折力が測定されてもよい。なお、他覚眼屈折力測定は、左右眼同時に実行されてもよいし、左右眼別々のタイミングにて実施されてもよい。

＜自覚式測定（Ｓ３）＞
次いで、自覚式測定（Ｓ３）が行われる。他覚屈折力測定が完了し、モニタ（本実施例においては、操作部を兼ねる）４が操作されると、自覚の遠用視力測定モード（自覚屈折力測定）モードに切り換えられる。

例えば、制御部７０は、ディスプレイ３１を制御し、光軸Ｌ２上に所要の視力値視標を表示してもよい（例えば、視力値０．８の視標）。被検眼に初期呈示視標が呈示されたら、検者は、被検者の遠用視力測定を行う。モニタ４の所定のスイッチが押されると、呈示される視力値視標が切換えられる。

例えば、検者は、被検者の回答が正答の場合には、１段階高い視力値の視標に切換える。一方、被検者の回答が誤答の場合には１段階低い視力値の視標に切換える。つまり、制御部７０は、モニタ４からの視力値変更の信号に基づいて視標を切換えてもよい。

また、検者は、モニタ４を用いて、矯正光学系６０の矯正度数を変更し、被検眼の遠用自覚値（球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、乱視軸角度Ａ）を求めてもよい。なお、矯正光学系６０の矯正度数は、左右眼別々の度数に設定されてもよいし、左右眼での同一の度数に設定されてもよい。

以下、両眼開放状態にて、自覚式測定を行う場合について説明する。例えば、検者によって自覚の遠用視力測定モードにおいて、操作部４が操作され、図示無き片眼検査モードが選択されると、制御部７０は、右眼用測定手段７Ｒは、左眼用測定手段７Ｌのそれぞれを制御する。例えば、片眼検査モードにおいて、検者は、操作部４を操作して、左右の被検眼の内、初めに測定する側の被検眼を選択する。例えば、測定する被検眼が選択されると、制御部７０は、右眼用測定手段７Ｒ及び左眼用測定手段７Ｌにおけるそれぞれの投光光学系３０の制御を開始する。例えば、右眼用測定手段７Ｒ及び左眼用測定手段７Ｌにおけるそれぞれのディスプレイ３１を制御し、左右の被検眼のそれぞれに対して視標を投影し、片眼検査を開始する。なお、片眼検査としては、左右の被検眼の内、どちらの被検眼から測定を開始してもよい。本実施例においては、右の被検眼から測定を行う場合を例に挙げて説明する。

例えば、制御部７０は、右眼用の投光光学系３０から視標光束を照射し、右の被検眼に検査視標及び第１背景視標を含む第１視標を投影する。また、例えば、制御部７０は、左眼用の投光光学系３０から視標光束を照射し、左の被検眼に第１背景視標と同一パターンの第２背景視標を含む第２視標を投影する。

例えば、制御部７０は、第１視標及び第２視標を表示する場合に、それぞれ所要の視力値視標を表示してもよい。もちろん、第１視標及び第２視標の少なくとも一方を所要の視力値視標で表示するようにしてもよい。例えば、所要の視力値視標は、他覚式測定によって測定された測定結果に基づいて設定されてもよい。また、例えば、所要の視力値視標は、検者によって任意の視力値視標が設定されてもよい。また、例えば、所要の視力値視標は、予め設定された視力値視標が設定されてもよい。

図７は、右の被検眼の測定時における左右の被検眼に呈示される視標について説明する図である。図７（ａ）は、左の被検眼に投影される視標を示している。図７（ｂ）は、右の被検眼に投影される視標を示している。例えば、本実施例において、測定を実施する方の眼に対して、検査視標が投影される。例えば、右の被検眼には、第１視標２００が投影される。例えば、左の被検眼には、第２視標２１０が投影される。

例えば、本実施例において、第１視標２００としては、検査視標２０１、第１背景視標２０２、第１融像視標２０３が表示される。例えば、被検者の回答に基づいて、検査視標２０１が切換えられることで、右の被検眼に関する自覚式測定が行われる。例えば、本実施例において、第２視標２１０としては、第２背景視標２１２、第２融像視標２１３が表示される。

例えば、本実施例において、検査視標２０１は、ランドルト環視標である。もちろん、検査視標２０１としては、ランドルト環視標に限定されず、異なる検査視標であってもよい。

例えば、第１背景視標２０２及び第２背景視標２１２は、白地の背景視標が用いられる。もちろん、第１背景視標２０２及び第２背景視標２１２は、白地の背景視標に限定されず、異なる背景視標であってもよい。例えば、第１背景視標２０２と第２背景視標２１２は、同一のパターンの背景視標である。

例えば、第１融像視標２０３及び第２融像視標２１３は、黒色の枠形状の視標である。例えば、第１融像視標２０３は、検査視標２０１を囲むように表示される。例えば、第１融像視標２０３と第２融像視標２１３は、同一パターンの融像視標である。例えば、第１融像視標２０３及び第２融像視標２１３は、被検者の融像を補助するために用いられる。なお、本実施例において、第１融像視標２０３及び第２融像視標２１３は、黒色の枠形状の視標を用いる構成を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、第１融像視標及び第２融像視標は、種々のパターンの視標を用いてもよい。例えば、種々のパターンの視標としては、形状、サイズ、色、模様、輝度値、コントラスト等の少なくともいずれかにおいて種々の視標を用いてもよい。なお、本実施例においては、第１融像視標２０３及び第２融像視標２１３を表示する構成としたが、第１融像視標２０３及び第２融像視標２１３が表示されない構成であってもよい。

例えば、右の被検眼には検査視標２０１、第１背景視標２０２、第１融像視標２０３が呈示された状態となる。すなわち、例えば、右の被検眼には、検査視標２０１が呈示された第１背景視標２０２が呈示された状態となる。例えば、左の被検眼には、第２背景視標２１２、第２融像視標２１３が呈示された状態となる。すなわち、例えば、左の被検眼には、検査視標が呈示されていない第２背景視標２１２が呈示された状態となる。これによって、測定を行う右の被検眼には検査視標２０１が観察できる状態となり、測定を行わない左の被検眼には検査視標が見えない状態となる。すなわち、測定を行わない左の被検眼に対して遮蔽を行うことなく開放された状態で、右の被検眼の測定を行うことができる。つまり、両眼開放状態において、右の被検眼の測定（片眼測定）を行うことができる。

例えば、検者は、被検者の回答に基づいて、操作部４を操作して検査視標２０１を切換えて右の被検眼に関する自覚式測定を行い、右の被検眼に対する測定が完了すると、検者は操作部４を操作して、左の被検眼の測定を開始する。もちろん、一方の被検眼の測定を完了したことを検知し、自動的に他方の被検眼の測定を開始する構成としてもよい。

例えば、左の被検眼の測定において、制御部７０は、右眼用の投光光学系３０から視標光束を照射し、左の被検眼に、検査視標及び第３背景視標を含む第３視標（例えば、右の被検眼の測定時における第１視標２００に相当）を投影する。例えば、制御部７０は、右眼用の投光光学系３０から視標光束を照射し、右の被検眼に第３背景視標と同一パターンの第４背景視標を含む第４視標（例えば、右の被検眼の測定時における第２視標２１０に相当）を投影する。

図８は、左の被検眼の測定時における左右の被検眼に呈示される視標について説明する図である。図８（ａ）は、左の被検眼に投影される視標を示している。図８（ｂ）は、右の被検眼に投影される視標を示している。例えば、右の被検眼には、第４視標２４０が投影される。例えば、左の被検眼には、第３視標２３０が投影される。

例えば、本実施例において、第３視標２３０としては、検査視標２３１、第３背景視標２３２、第３融像視標２３３が表示される。例えば、被検者の回答に基づいて、検査視標２３１が切換えられることで、左の被検眼に関する自覚式測定が行われる。例えば、本実施例において、第４視標２４０としては、第４背景視標２４２、第４融像視標２４３が表示される。なお、第３視標２３０及び第４視標２４０における説明は、第１視標２００及び第２視標２１０と同様の構成であるため、説明は省略する。このようにして、測定を行わない右の被検眼に対して遮蔽を行うことなく開放された状態で、左の被検眼の測定を行うことができる。つまり、両眼開放状態において、左の被検眼の測定（片眼測定）を行うことができる。

以上のように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、左右の被検眼の一方の被検眼に検査視標及び背景視標を含む視標を投影するとともに、左右の被検眼の他方の被検眼に一方の被検眼に投影した背景視標と同一パターンの背景視標を含む視標を投影する。このような構成によって、両眼開放状態での片眼検査を行う際に、両眼開放状態を再現するための、部材、複雑な制御等を必要しない。このため、容易に自然な状態下での自覚式測定を可能とし、精度よく測定を行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、左右の被検眼の一方の被検眼に融像視標を投影するとともに、一方の被検眼に投影した融像視標と同一パターンの融像視標他方の被検眼に投影する。これによって、両眼開放状態で検査を行った場合であっても両眼での融像をしやすくすることができ、精度よく測定を行うことができる。なお、特に、被検眼に投影される視標が検査視標が有していない場合には有用となる。例えば、検査視標が表示されている側の被検眼は、検査視標を目標として融像がしやすい状態となる。しかしながら、片眼に検査視標が表示されていない場合には、目標となる検査視標がないために、融像がしづらくなる。例えば、被検眼に投影される視標が検査視標が有していない場合であっても、背景視標に、融像視標が呈示されることで、融像視標を目標として融像がしやすくなり、両眼での融像をしやすくすることができる。

また、例えば、融像視標が検査視標を囲むように枠形状で構成されていることによって、融像視標が検査視標より大きい状態となるため、検査視標への融像作用がより効果的になる。これによって、より精度よい測定結果を取得することができる。

以上、遠用での自覚値が求められた後、自覚の近用視力測定モードに切り換えられてもよい。近用測定モードに設定されると、制御部７０は、投光光学系３０を制御し、偏向ミラー８１による輻輳角を変更し、近用位置に視標を呈示してもよい。なお、近用検査での視標の呈示距離は、操作部４からの操作信号に基づいて任意に変更されてもよい。その結果、視標の呈示距離が遠用位置から近用位置に変更される。なお、近用検査においては、近用位置において視標の呈示距離を変更することによって、加入度・調節力を自覚的に求めるようにしてもよい。

この場合、例えば、制御部７０は、視標の呈示距離に応じた収差補正量をメモリ７２から取得し、取得された収差補正量に基づいて補正光学系９０を制御してもよい。また、視標の呈示距離が変更される場合、制御部７０は、変更される視標呈示距離に応じて、補正光学系９０による収差補正量を変更してもよい。これによって、視標呈示距離に変更があった場合であっても、収差が軽減された視標が呈示される。この場合、制御部７０は、視標の呈示距離が付加された矯正度数に応じて収差補正量を変化させてもよい。

さらに、制御部７０は、視標の呈示位置の変更に応じて、光偏向部材を制御し、左右の視標光束の輻輳角度を変更してもよい。この場合、例えば、制御部７０は、輻輳角度に対応する光偏向部材の偏向角度に応じた収差補正量をメモリ７２から取得し、取得された収差補正量に基づいて補正光学系９０を制御してもよい。また、視標光束の輻輳角度が変更される場合、制御部７０は、変更される輻輳角度に応じて、補正光学系９０による収差補正量を変更してもよい。これによって、輻輳角度に変更があった場合であっても、収差が軽減された視標が呈示される。

近用検査においては、遠用検査と同様、例えば、検者は、操作部４の所定のスイッチを用いて矯正光学系６０の矯正度数を変更し、近用視標が呈示された状態での自覚的眼屈折力（近用自覚値）を測定してもよい。近用検査において、制御部７０は、矯正度数の変更に応じて補正光学系９０の収差補正量を変更してもよい。

＜融像状態の判定（Ｓ５）＞
例えば、本実施例において、両眼開放状態での自覚式測定において、測定中に左右の被検眼による両眼融像が良好に行われているかを判定する構成を備える。なお、本実施例においては、自覚式測定時において、両眼融像が良好に行われているか判定を行う（Ｓ５）。もちろん、他覚式測定時において、両眼融像が良好に行われているか判定を行う構成としてもよい。なお、本実施例においては、自覚の遠用視力測定モードでの測定を例に挙げて説明する。

例えば、本実施例において、自覚式測定（Ｓ３）において、被検眼の右の被検眼の測定時における両眼融像が良好にできているか否かを判定する場合を例に挙げて説明する。もちろん、左の被検眼の測定時、又は、両眼での測定時においても、本件開示の技術を用いることはできる。なお、例えば、融像状態の判定に関する技術は、自覚式測定のみの適用に限定されない。例えば、融像状態の判定に関する技術は、他覚式測定（Ｓ２）において、適用してもよい。

例えば、自覚式測定において、制御部７０は、右眼用の投光光学系３０から視標光束を照射し、右の被検眼に検査視標及び第１背景視標を含む第１視標を投影する。また、例えば、制御部７０は、左眼用の投光光学系３０から視標光束を照射し、左の被検眼に第１背景視標と同一パターンの第２背景視標を含む第２視標を投影する。例えば、本実施例において、右の被検眼には、第１視標２００が投影される。例えば、左の被検眼には、第２視標２１０が投影される。例えば、被検者の回答に基づいて、検査視標２０１が切換えられることで、右の被検眼に関する自覚式測定が行われる。

ここで、例えば、制御部７０は、右の被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得する。例えば、制御部７０は、右眼用測定手段７Ｒと左眼用測定手段７Ｌのそれぞれに設けられた第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の光源を点灯する。そして、所定のトリガ信号が発せられると、制御部７０は、左右の被検眼それぞれの前眼部画像を撮影する。

本実施例においては、左の眼の前眼部画像と、右の眼の前眼部画像と、がそれぞれ取得される。図８は、右の被検眼の前眼部画像を示す図である。例えば、取得された前眼部画像１３０には、第１指標投影光学系４５の光源によるリング指標Ｒ１と、リング指標Ｒ１の内側には、第２指標投影光学系４６によるリング指標Ｒ２と、が表示される。また、前眼部画像１３０には、瞳孔Ｐが表示される。

例えば、制御部７０は、取得された前眼部画像１３０を解析処理して、両眼開放状態情報を取得する。例えば、本実施例において、制御部７０は、瞳孔Ｐ及び指標像（例えば、リング指標Ｒ２）を解析処理によって検出し、瞳孔中心位置（瞳孔中心位置情報）ＰＣと角膜頂点位置（角膜頂点位置情報）Ｃを取得する。例えば、瞳孔中心位置ＰＣは、瞳孔Ｐの位置を検出し、その中心位置を求めることによって取得することができる。例えば、角膜頂点位置Ｃは、指標像（リング像Ｒ２）を検出し、その中心位置を求めることによって取得できる。もちろん、角膜頂点位置Ｃは、リング像Ｒ１から求めてもよいし、リング像Ｒ１とリング像Ｒ２の双方から求めてもよい。

例えば、制御部７０は、前眼部画像１３０より瞳孔Ｐのエッジ位置を求める。例えば、制御部７０は、輝度値の立ち上がり、立ち下がりを検出することによって、瞳孔Ｐのエッジ位置を検出し、瞳孔Ｐの輪郭情報を取得する。これによって、制御部７０は、瞳孔Ｐの位置を検出することができる。なお、例えば、制御部７０は、瞳孔Ｐの輪郭情報に基づいて、瞳孔中心位置ＰＣを検出する。

例えば、制御部７０は、前眼部画像１３０より指標像のエッジ位置を求める。例えば、制御部７０は、輝度値の立ち上がり、立ち下がりを検出することによって、指標像のエッジ位置を検出し、指標像の輪郭情報を取得する。これによって、制御部７０は、指標像の位置を検出することができる。なお、例えば、制御部７０は、指標像の輪郭情報に基づいて、指標像の中心位置を検出する。例えば、制御部７０は、指標像の中心位置を検出することによって、角膜頂点位置Ｃを検出することができる。

例えば、制御部７０は、瞳孔中心位置ＰＣと角膜頂点位置Ｃとのずれ量ΔＸを算出することによって、両眼開放状態情報を取得する。すなわち、被検眼の位置がずれる場合に、視線方向が変化するため、瞳孔中心位置ＰＣと角膜頂点位置Ｃとのずれ量が大きくなる。なお、本実施例においては、両眼開放状態情報として、瞳孔中心位置ＰＣと角膜頂点位置Ｃとのずれ量を算出する場合を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、両眼開放状態情報は、瞳孔情報、角膜頂点情報、等の少なくともいずれかであってもよい。例えば、瞳孔情報は、瞳孔間距離情報、瞳孔位置情報、瞳孔位置ずれ情報、等の少なくともいずれかであってもよい。例えば、角膜頂点情報は、角膜頂点位置情報、角膜頂点間距離情報、角膜頂点ずれ情報、等の少なくともいずれかであってもよい。例えば、両眼開放状態情報は、瞳孔位置情報及び角膜頂点位置情報から算出される情報であってもよい。

次いで、例えば、制御部７０は、取得した両眼開放状態情報の良否を判定して判定情報を取得する。本実施例において、例えば、制御部７０は、ずれ量ΔＸが基準データを超えるか否かを判定することによって、判定情報を取得する。例えば、基準データとしては、予め設定された閾値が用いられてもよい。例えば、制御部７０は、ずれ量ΔＸが閾値を超える場合には、両眼開放状態が良好でないと判定する。一方、例えば、制御部７０は、ずれ量ΔＸが閾値以下である場合に、両眼開放状態が良好であると判定する。

例えば、制御部７０は、判定処理を行うことによって、判定結果の良否を示す判定情報を取得する。例えば、制御部７０は、左右の被検眼の両眼開放状態をそれぞれ取得し、判定処理を行う。これによって、制御部７０は、左右の被検眼の判定情報を取得することができる。なお、例えば、制御部７０は、左右の被検眼の判定情報として、ぞれぞれの判定情報を取得するようにしてもよい。また、例えば、制御部７０は、左右の被検眼の判定情報として、左右の被検眼のそれぞれの判定情報に基づいて、統合的な判定情報を取得してもよい。なお、本実施例においては、統合的な判定情報を取得する場合を例に挙げて説明する。

例えば、制御部７０は、左右の被検眼の判定情報をそれぞれ取得する。次いで、制御部７０は、左右の被検眼のそれぞれの判定情報に基づいて、統合的な判定情報を取得する。例えば、制御部７０は、左右の被検眼のそれぞれの判定情報がともに良好であるとの判定情報であった場合に、両眼開放状態情報が良好であるという判定をし、その判定結果に基づく判定情報を取得する。一方、制御部７０は、左右の被検眼のそれぞれの判定情報の内、少なくとも一方が良好でないとの判定情報であった場合に、両眼開放状態情報が良好でないという判定をし、その判定結果に基づく判定情報を取得する。

例えば、制御部７０は、取得した判定情報を出力する。例えば、本実施例において、制御部７０は、判定情報をモニタ４に表示する。もちろん、制御部７０は、判定情報を印刷する構成としてもよい。

以上のように、例えば、本実施形態における検眼装置は、両眼開放状態にて被検眼の光学特性に測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得し、取得した前眼部画像を解析処理して、両眼開放状態情報を取得する構成を備える。また、取得した両眼開放状態情報に基づいて良否を判定し、判定結果を出力する構成を備える。これによって、測定中における被検眼の融像状態の良否を容易に確認することができ、融像状態が良好である状態下での測定結果を取得することができる。これによって、精度の良い測定結果を得ることができる。

なお、本実施例において、呈示距離を変更した際に、両眼開放状態情報を取得するようにしてもよい。本実施例において、例えば、呈示距離を変更する場合、制御部７０は、投光光学系３０のディスプレイ３１を制御して呈示距離を変更する。また、例えば、制御部７０は、呈示距離に応じて、偏向ミラー８１Ｒ、８１Ｌの角度を変更して、輻輳角度を変更してもよい。なお、例えば、制御部７０は、呈示距離を変更した後、測定を開始し、両眼開放状態の判定情報を取得するようにしてもよい。なお、例えば、制御部７０は、呈示距離を変更している間においても、両眼開放状態の判定情報を取得するようにしてもよい。

１ 自覚式検眼装置
２ 筐体
３ 呈示窓
４ モニタ
５ 顎台
６ 基台
７ 測定手段
１０ 他覚式測定光学系
２５ 自覚式測定光学系
３０ 投光光学系
４５ 第１指標投影光学系
４６ 第２指標投影光学系
５０ 観察光学系
６０ 矯正光学系
７０ 制御部
７２ メモリ
８１ 偏向ミラー
８４ ハーフミラー
８５ 凹面ミラー
９０ 補正光学系
１００ 撮像光学系

Claims (5)

1. 左右の被検眼に視標を投影して、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定する光学特性測定手段を備える検眼装置であって、
   前記光学特性測定手段によって、両眼開放状態にて被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得する前眼部取得手段と、
   前記前眼部取得手段によって取得された前記前眼部画像を解析処理して、前記視標に対する両眼融像状態を示す両眼開放状態情報を取得する解析手段と、
   前記解析手段によって取得された前記両眼開放状態情報の良否を判定して、被検眼の融像状態の良否を示す判定情報を取得する判定手段と、
   前記判定手段によって取得された前記判定情報を出力する出力手段と、
   を備えることを特徴とする検眼装置。
2. 請求項１の検眼装置であって、
   前記解析手段は、前記前眼部画像を解析処理することによって、左右の被検眼の瞳孔位置を検出し、前記瞳孔位置に基づいて前記両眼開放状態情報を取得することを特徴とする検眼装置。
3. 請求項１又は２の検眼装置であって、
   前記光学特性測定手段による左右の被検眼への視標の呈示距離を変更する距離変更手段を備え、
   前記前眼部取得手段は、前記距離変更手段によって呈示距離を変更した場合に、変更された呈示距離における両眼開放状態での被検眼の光学特性の測定中において、前記前眼部画像を取得し、
   前記解析手段は、変更された呈示距離における前記前眼部画像を解析処理し、変更された呈示距離における前記両眼開放状態情報を取得することを特徴とする検眼装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの検眼装置であって、
   前記判定手段は、前記両眼開放状態情報の良否を判定するための基準データを呈示距離に応じて変更することを特徴とする検眼装置。
5. 左右の被検眼に視標を投影して、両眼開放状態にて被検眼の光学特性を測定する光学特性測定手段を備える検眼装置において用いられる検眼プログラムであって、前記検眼装置のプロセッサによって実行されることで、
   前記光学特性測定手段によって、両眼開放状態にて被検眼の光学特性の測定中において、左右の被検眼の前眼部画像を取得する前眼部取得ステップと、
   前記前眼部取得ステップによって取得された前記前眼部画像を解析処理して、前記視標に対する両眼融像状態を示す両眼開放状態情報を取得する解析ステップと、
   前記解析ステップによって取得された前記両眼開放状態情報の良否を判定して、被検眼の融像状態の良否を示す判定情報を取得する判定ステップと、
   前記判定ステップによって取得された前記判定情報を出力する出力ステップと、
   を前記検眼装置に実行させることを特徴とする検眼プログラム。

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